DE19949993C1 - Verfahren zur Oberflächenstrukturierung - Google Patents

Verfahren zur Oberflächenstrukturierung

Info

Publication number
DE19949993C1
DE19949993C1 DE1999149993 DE19949993A DE19949993C1 DE 19949993 C1 DE19949993 C1 DE 19949993C1 DE 1999149993 DE1999149993 DE 1999149993 DE 19949993 A DE19949993 A DE 19949993A DE 19949993 C1 DE19949993 C1 DE 19949993C1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
stamp
silane
structured
structuring
molecules
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE1999149993
Other languages
English (en)
Inventor
Peter Barth
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Barth Peter 88471 Laupheim De
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to DE1999149993 priority Critical patent/DE19949993C1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE19949993C1 publication Critical patent/DE19949993C1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/027Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
    • H01L21/0271Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers
    • H01L21/0273Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers characterised by the treatment of photoresist layers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41CPROCESSES FOR THE MANUFACTURE OR REPRODUCTION OF PRINTING SURFACES
    • B41C1/00Forme preparation
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41MPRINTING, DUPLICATING, MARKING, OR COPYING PROCESSES; COLOUR PRINTING
    • B41M3/00Printing processes to produce particular kinds of printed work, e.g. patterns
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/31Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
    • H01L21/3105After-treatment
    • H01L21/311Etching the insulating layers by chemical or physical means
    • H01L21/31144Etching the insulating layers by chemical or physical means using masks

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Shaping Of Tube Ends By Bending Or Straightening (AREA)

Abstract

Es wird ein Mikrodruckverfahren zur Strukturierung oxidierter Oberflächen (18) mittels eines Stempels (14) beschrieben, dessen Oberfläche (16) die zur Strukturierung erforderlichen Strukturinformationen umfaßt und mit Silan- oder Thiolmolekülen benetzt wird, die durch Inkontaktbringen der Stempeloberfläche (16) mit einer zu strukturierenden Oberfläche (18) ("Stempeln") auf diese übertragen werden. Erfindungsgemäß werden hierbei zumindest zwei über schwache Wechselwirkungen miteinander verbundene Monolagen Silan- bzw. Thiolmoleküle (10a, 10b) orientiert auf die Stempeloberfläche (16) aufgebracht, die vorher vorzugsweise einer Plasmaoxidation unterworfen wird. Beim Stempeln wird vorzugsweise lediglich eine einzige Monolage (10b) übertragen, wobei homogene, planare Molekülstrukturen im Nanometerbereich mit einer definierten lateralen Strukturabgrenzung entstehen. Zudem wird ein insbesondere zur Strukturierung einer Stempeloberfläche (16) geeignetes Oberflächenstrukturierungsverfahren beschrieben, bei dem Strukturinformationen im Nanometerbereich durch ein Plasmaoxidationsverfahren übertragen werden. Die zu übertragenden Strukturinformationen sind hierbei vorzugsweise in einer geeignet strukturierten Goldfolie oder einer sonstigen Metallfolie gespeichert.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Mikrokontaktdruckverfahren gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1, und ein Oberflächenstrukturierungsverfahren für einen Mikrokontaktdruckstempel.
Die Erzeugung kleiner Strukturen ist von grundlegender Bedeutung für die moderne Wissenschaft und Technik. Dies gilt insbesondere für die Mikroelektronik, in der die Verringerung der Strukturgröße gleichbedeutend ist mit besser, schneller, kostengünstiger, mehr Komponenten pro Chips, höhere Leistungsfähigkeit und geringerer Energieverbrauch.
Kleine Strukturen werden heute üblicherweise durch photolithographische- Verfahren erzeugt, deren Anwendung jedoch bei Strukturgrößen von weniger als etwa 100 nm infolge der auftretenden Beugungseffekte und der Adsorption durch das Linsen- und Maskenträgermaterial mit erheblichen Problemen verbunden ist. Photolithographische-Verfahren sind finanziell und arbeitstechnisch relativ aufwendig, können auf unebenen Oberflächen nicht angewendet werden und sind zudem im Größenbereich von µm nicht die einzige und beste Methode, so daß ein großer Bedarf an neuen, einfacheren und kostengünstigeren Verfahren zur Realisierung kleinerer Strukturgrößen besteht.
Eine andere Möglichkeit zur Erzeugung kleiner Strukturen bietet die Mikrokontaktdruck-Technik, die von Whitesides et al. Anfang der 90er Jahre entwickelt wurde und es auch auf gekrümmten Oberflächen ermöglicht, innerhalb weniger Minuten äußerst kostengünstig Strukturen mit unterschiedlichen chemischen Eigenschaften per Hand herzustellen. Bei diesem Verfahren wird üblicherweise zunächst durch Auftragung einer flüssigen Silikonmasse (Polydimethylsiloxan = PDMS) ein Negativreplikat einer zu vervielfältigenden Strukturvorlage, wie beispielsweise ein Wafer, hergestellt. Durch anschließendes Verfestigenlassen oder Aushärten dieser Masse erhält man einen PDMS-Stempel, der entweder durch Eintauchen in eine Silanlösung oder durch Bedampfen (Gasphasensilanisation) mit Silanmolekülen benetzt wird. Diese werden dann durch ein einfaches Inkontaktbringen mit einer zu strukturierenden oxidierten Oberfläche, insbesondere eine oxidierte Siliziumoberfläche, (durch "Stempeln") übertragen, wobei je nach Restgruppe der verwendeten Silanmoleküle polare oder unpolare Strukturen entstehen. Die Ätzbeständigkeit der Silane erlaubt auch eine direkte Strukturübertragung in Silizium. Zur Herstellung von Biosensoren, Kopplern usw. können die Zwischenräume mit anderen Molekülen aufgefüllt werden, um so Muster mit wechselnder polarer/unpolarer Oberfläche zu erhalten. Die vorstehend beschriebene Vorgehensweise ist auch in der US 5 512 131 und der WO 96/29629 A2 offenbart. Eine andere Strukturierungsmöglichkeit besteht in der Verwendung von Alkanthiolen auf Gold- oder Kupferoberflächen, wobei die zu strukturierende Oberfläche jedoch zuvor erst entsprechend beschichtet werden muß.
Die Mikrokontaktdruck-Technik ist im Vergleich zu Lithographie-Verfahren mit folgenden Vorteilen verbunden:
  • - Durch Anpassung der elastischen PDMS-Stempel an die zu strukturierende Oberfläche lassen sich auch unebene Oberflächen strukturieren.
  • - Strukturen im Nanometerbereich können sehr einfach und billig und ohne großen technischen Aufwand per Hand hergestellt werden.
  • - Von einer Strukturvorlage lassen sich beliebig viele Stempel herstellen.
  • - Ein Stempel ist ohne merklichen Qualitätsverlust bis zu 100 mal wiederverwendbar.
Mit der Mikrolithographie-Technik lassen sich bis jetzt jedoch lediglich Strukturen mit einer lateralen Breite ≧ 100 nm erzeugen, wobei durch die Übertragung unorientierter inhomogener Silanschichten und der Bildung unterschiedlicher Polymerisationsgrade zudem keine scharfe Strukturabgrenzung vorhanden ist.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht daher in der Schaffung eines Mikrokontaktdruckverfahrens, mit dem sich Strukturgrößen im Nanometerbereich mit möglichst kleiner lateraler Strukturbreite und scharfen Strukturgrenzen herstellen lassen. Eine weitere Aufgabe besteht in der Schaffung eines zur Oberflächenstrukturierung von Mikrokontaktdruckstempeln im Mikro- oder Nanometerbereich geeigneten kostengünstigen und schnell durchführbaren Oberflächenstrukturierungsverfahrens.
Der erste Teil der Aufgabe wird bei einem gattungsgemäßen Mikrokontaktdruckverfahren erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß zumindest zwei über schwache Wechselwirkungen oder Bindungen, wie zum Beispiel Wasserstoffbrückenbindungen oder dergleichen, miteinander verbundene Monolagen Silan- bzw. Thiolmoleküle orientiert auf die Stempeloberfläche aufgebracht werden, wobei sich die unterste Monolage durch Chemiesorption oder dergleichen über eine kovalente Bindung chemisch "fest" mit der Stempeloberfläche verbindet. Der Begriff "Monolage" steht hierbei für einen sich selbstorganisierenden Film oder eine sich selbstorganisierende Monolage (Self-Assembled Monolayer = SAM) aus aufgebrachten Silan- bzw. Thiolmolekülen, wie sie sich spontan bildet, wenn Moleküle aus organischen Lösungen oder aus der Gasphase auf geeigneten Strukturoberflächen adsorbieren. Bei Bildung einer Aminosilanschicht besitzt die "Monolage" beispielsweise eine Dicke von etwa 2 nm. Die Anlagerung der Moleküle und damit auch die Dicke der entstehenden Schicht läßt sich durch die Silan- bzw. Thiolkonzentration steuern. Bei einer Gasphasensilanisation ist die Schichtdicke auch eine Funktion des angelegten Drucks oder der Gasphasensilanisationszeit. Der selbstorganisierende Film oder die "Monolage" kann daher je nach Herstellungsbedingungen auch mehrere Moleküllagen oder Molekülschichten umfassen.
Beim Ablösen des Stempels von einer zu strukturierenden oxidierten Oberfläche, insbesondere einer hydratisierten Silizium-Oberfläche, brechen diese schwachen Wechselwirkungen auf, während die oberste Monolage mittels Chemiesorption fest an die oxidierte bzw. hydratisierte Oberfläche gebunden wird. Die Struktur wird somit vorzugsweise durch eine, gegebenenfalls aber auch mehrere Monolagen orientiert übertragen. Die Übertragung der Moleküle bzw. Monolagen wird hierbei vorzugsweise durch die Silan- bzw. Thiolkonzentration und die Auflagezeit des Stempels auf der zu strukturierenden Oberfläche gesteuert. Durch dieses Verfahren lassen sich homogene, planare Silan- bzw. Thiolstrukturen im Nanometerbereich mit einer definierten lateralen Strukturabgrenzung erzeugen. Bei Verwendung von Silanmolekülen sind hierdurch Strukturgrößen ≦ 30 nm herstellbar, wobei sich insbesondere 3-Aminopropyltriethoxysilan oder ein anderes Aminosilan eignen. Bei Verwendung von Thiolmolekülen muß die zu strukturierende Oberfläche zunächst geeignet beschichtet werden, das heißt, daß üblicherweise zunächst eine Goldschicht oder dergleichen aufgebracht wird.
Die Stempeloberfläche wird vor dem Aufbringen der Silanmoleküle vorzugsweise einer Plasmaoxidation unterworfen, um auch auf der Stempeloberfläche eine Oxidschicht zu erzeugen, die vergleichbar zu der auf der zu strukturierenden Oberfläche vorhandenen Oxidschicht ist und die die Bildung einer homogenen, planaren und orientierten Molekülschicht durch Chemiesorption der Moleküle an der Oberfläche fördert oder ermöglicht. Diese Plasmaoxidation einer PDMS- Oberfläche und die orientierte Anbindung von Silanen durch Chemiesorption wurde zwar bereits 1993 von Ferguson et al. beschrieben (G. S. Ferguson, M. K. Chandhury, H. A. Biebuyck and G. M. Whitesides Macromolecules 26, 5872, 1993), es erfolgte jedoch keinerlei Anregung im Hinblick auf die erfindungsgemäße Lehre der Anlagerung zumindest einer weiteren über schwache Wechselwirkungen mit den bereits abgelagerten orientierten Silanmolekülen bzw. untereinander verbundener Monolagen und deren orientierte Übertragung auf eine zu strukturierende Oberfläche durch ein Mikrokontaktdruckverfahren.
Der zweite Teil der Aufgabe wird durch ein Oberflächenstrukturierungsverfahren für einen Mikrokontaktdruck-Stempel gelöst, bei dem die in einer Maske gespeicherten Strukturinformationen durch ein Plasmaoxidationsverfahren auf eine PDMS-Oberfläche, die Oberfläche eines anderen kautschukartigen Polysiloxans oder eine andere Elastomeroberfläche, übertragen werden, wobei die Strukturhöhe H vorzugsweise durch die Plasmazeit, den Plasmadruck und/oder die angelegte Leistung gesteuert wird. Als Maske mit den gespeicherten und zu übertragenden Strukturinformationen wird hierbei vorzugsweise eine geeignet strukturierte Goldfolie oder eine sonstige Metallfolie verwendet. Durch dieses, zur Strukturierung von Mikrokontaktdruck- Stempeln geeignete Verfahren, das auf einer Oberflächenveränderung, insbesondere einer Volumenvergrößerung durch die Plasmaoxidation beruht, lassen sich auch unabhängig von einer Wafervorlage sehr kleine Strukturen im Mikro- und Nanometerbereich erzeugen und übertragen, wobei die erforderliche Maske oder Maskenfolie sehr einfach, schnell und billig herzustellen und immer wieder zur Strukturierung verwendbar ist.
Weitere Einzelheiten, Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung ergeben sich nicht nur aus den zugehörigen Ansprüchen - für sich und/oder in Kombination - sondern auch aus der nachfolgenden Beschreibung bevorzugter Ausführungsbeispiele in Verbindung mit den zugehörigen Zeichnungen.
In den Zeichnungen, in denen gleiche Bauteile mit gleichen Bezugszeichen versehen sind, zeigen in teilweiser schematischer Darstellung:
Fig. 1 die Silanisierung eines PDMS-Stempels mittels einer Plasmaoxidation;
Fig. 2 die erfindungsgemäße Übertragung einer Silan-Monolage von einem silanisierten PDMS-Stempel auf eine zu strukturierende oxidierte Siliziumoberfläche;
Fig. 3a eine durch das Strukturierungsverfahren gemäß Fig. 2 strukturierte Siliziumoberfläche;
Fig. 3b und 3c die Höhe bzw. die Adhäsion als Funktion der Strukturbreite an der mit Quer 1 bezeichneten Stelle in Fig. 3a;
Fig. 3d und 3e die Höhe bzw. die Adhäsion als Funktion der Strukturbreite an der mit Quer 2 bezeichneten Stelle in Fig. 3a;
Fig. 4a eine durch das Strukturierungsverfahren gemäß Fig. 2 strukturierte Siliziumoberfläche;
Fig. 4b und 4c die Höhe bzw. die Adhäsion als Funktion der Strukturbreite an der mit Quer bezeichneten Stelle in Fig. 4a;
Fig. 5a die erfindungsgemäße Strukturierung einer PDMS-Oberfläche durch ein Plasmaoxidationsverfahren;
Fig. 5b eine dreidimensionale Darstellung der durch das Verfahren gemäß Fig. 5a erzeugten Gitterstruktur;
Fig. 5c bis 5e die Topographie, die Adhäsion und die Steifigkeit der gemäß Fig. 5a plasmabehandelten PDMS-Oberfläche.
Fig. 1 veranschaulicht die Erzeugung einer selbstorganisierenden orientierten Silanschicht 10 auf der Oberfläche 12 eines PDMS-Stempels 14 mittels einer Plasmaoxidation. Die Stempeloberfläche 12 wird hierbei zunächst durch ein Sauerstoffplasma oxidiert, so daß eine äquivalente Oxidschicht 16 analog zu der Oxidschicht auf einer zu strukturierenden nicht dargestellten Siliziumoberfläche entsteht. Bei der eigentlichen Silanisierung wird diese Oxidschicht 16 anschließend durch Eintauchen in eine geeignete Silanlösung oder durch Bedampfen (das heißt durch eine Gasphasensilanisation) mit Silanmolekülen benetzt, die durch Chemiesorption eine feste chemische Bindung mit der Stempeloberfläche eingehen, so daß dort eine homogene, planare und orientierte Silan-Monolage oder Silanschicht 10 gebildet wird. Die Anbindung erfolgt hierbei über eine Hydrolyse und eine Kettenbildung über Wasserstoffbrückenbindungen mit der Oberfläche und den nächsten Nachbarn. Dieser instabile Zustand führt durch Abspaltung von Wasser zu einem stabilen Netzwerk, in dem jede Kette mit der Oberfläche und den anderen Ketten verbunden ist. Bei der Anlagerung werden die Kopfgruppen der Silan-Moleküle hierbei durch starke Molekül-Substrat- Wechselwirkungen orientiert, wobei die Moleküls aufgrund der exothermen Wechselwirkung bestrebt sind, alle verfügbaren Bindungsplätze zu besetzen. Bereits angebundene Moleküle werden durch neu adsorbierende verschoben bzw. zusammengedrückt, so daß schließlich ein sehr dicht gepackter Film entsteht. Nachdem die Moleküls an der Oberfläche adsorbiert haben und sich an ihrem endgültigen Ort befinden, sorgen schließlich van-der-Waals-Kräfte in der Größenordnung von wenigen 10 kcal/mol zwischen benachbarten Alkylketten für deren Ausrichtung und Orientierung.
Fig. 2 zeigt einen mit zwei Monolagen 3-Aminopropyltriethoxysilan 10a und 10b silanisierten PDMS-Stempel 14, wobei das Symbol zur Vereinfachung für das Aminosilanmolekül verwendet wird. Die Pfeilspitze symbolisiert die Methoxygruppe OCH3, der Kreis die Aminogruppe NH2 und das R den Rest der Kette (-Si-Ch2-CH2-CH2-). Durch gezielte Einstellung der Silanisierungsparameter, wie zum Beispiel Veränderung der Silankonzentration und/oder des Druckes bei einer Gasphasensilanisation, können gegebenenfalls aber auch mehrere Monolagen angelagert werden, die jeweils durch Wasserstoffbrückenbindungen miteinander verbunden sind.
Die unterste oder erste Monolage 10a ist auf die oben beschriebene Art und Weise über Methoxygruppen mittels Chemiesorption fest an die Oxidschicht 16 auf der Stempel-Oberfläche gebunden, während die zweite Monolage 10b nur sehr schwach über Wasserstoffbrückenbindungen zwischen den Aminogruppen mit der untersten Monolage 10a verbunden ist.
Beim Inkontaktbringen des silanisierten PDMS-Stempels 14 mit einer ebenfalls oxidierten bzw. hydratisierten Siliziumoberfläche 18 eines Siliziumsubstrats 20 ("Stempeln") bindet die oberste Monolage 10b (im dargestellten Fall die zweite Monolage) über endständige Methoxygruppen mittels Chemiesorption fest an die Siliziumoberfläche 18 an. Beim Ablösen des Stempels 14 von der Siliziumoberfläche 18 brechen die schwachen Wasserstoffbrückenbindungen zwischen den Monolagen 10a und 10b auf, so daß die Struktur oder Strukturinformation im vorliegenden Idealfall durch eine gegebenenfalls aber auch durch mehrere Aminosilan-Monolagen 10b übertragen wird. Dieser Vorgang kann durch die Silankonzentration und die Auflagezeit des Stempels 14 geteilt gesteuert werden. Das erfindungsgemäße Verfahren ermöglicht somit eine orientierte Strukturübertragung im Nanometerbereich durch Erzeugung einer entsprechend strukturierten orientierten, homogenen planaren Silanschicht auf einer zu strukturierenden Oberfläche 16 mit einer genau definierten lateralen Strukturabgrenzung.
Die Fig. 3a und 4a zeigen Siliziumoberflächen, die durch das oben beschriebene erfindungsgemäße Verfahren unter Verwendung von 3- Aminopropyltriethoxysilan strukturiert wurden. Die Leistungsfähigkeit des vorgestellten Verfahrens ist insbesondere den zugehörigen Fig. 3b bis 3e bzw. 4b bis 4c zu entnehmen, in denen die Topographie und die Adhäsion an den mit Quer 1 und Quer 2 bzw. mit Quer bezeichneten Stellen in Fig. 3a bzw. Fig. 4a dargestellt sind. Es sind Strukturbreiten von 160 nm bis 25 nm zu erkennen. Diese Werte liegen weit unterhalb der mit herkömmlichen Mikrokontaktdruckverfahren erreichbaren Strukturbreiten.
Fig. 5a veranschaulicht die direkte erfindungsgemäße Strukturierung der Oberfläche 12 eines PDMS-Stempels 14 mittels einer Plasmaoxidation, die einen Volumenzuwachs der in Kontakt mit dem Sauerstoffplasma stehenden Stellen der Stempeloberfläche 12 bewirkt. Die zu übertragenden Strukturinformationen sind dabei in einem direkt auf der PDMS-Oberfläche 12 aufliegenden Goldgitter 22 mit einem Gitterabstand von 9 µm gespeichert. Die dreidimensionale Darstellung der sich durch die Plasmaoxidation ergebenden Topographie in Fig. 5b zeigt, daß sich durch dieses Verfahren eine gute Strukturqualität erzielen läßt. Eine qualitative Auswertung der oxidierten PDMS-Oberfläche ergibt eine Strukturerhöhung um 38 nm, eine Adhäsionsverkleinerung um den Faktor 3, 4 und eine Steifigkeitserhöhung um den Faktor 3, wie den entsprechenden Darstellungen der Topographie, der Adhäsion und der Steifigkeit in den Fig. 5c bis 5e zu entnehmen ist. Die unteren Diagramme zeigen hierbei jeweils einen zwischen zwei Gitterebenen verlaufenden Querschnitt durch den PDMS-Stempel 14.
Durch dieses erfindungsgemäße direkte Strukturierungsverfahren lassen sich somit unabhängig von einer Wafervorlage sehr einfach, schnell und kostengünstig kleinste Strukturen erzeugen und übertragen, wobei die zur Strukturübertragung erforderlichen Masken 22 in Form einer Gold- oder Metallfolie zudem auch noch sehr häufig wiederzuverwenden sind.

Claims (14)

1. Mikrokontaktdruckverfahren zur Strukturierung oxidierter Oberflächen (18) mittels eines Stempels (14), dessen Oberfläche (12) die zur Strukturierung erforderlichen Strukturinformationen umfaßt und mit Silan- oder Thiolmolekülen benetzt wird, die durch Inkontaktbringen der Stempeloberfläche (12) mit einer zu strukturierenden Oberfläche (18) auf diese übertragen werden, dadurch gekennzeichnet, daß zumindest zwei über schwache Wechselwirkungen miteinander verbundene Monolagen Silan- bzw. Thiolmoleküle (10a, 10b) orientiert auf die Stempeloberfläche (12) aufgebracht werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Stempeloberfläche (12) vor dem Aufbringen der Silanmoleküle (10b) einer Plasmaoxidation unterworfen wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zumindest eine Monolage Silan- bzw. Thiolmoleküle (10b) auf die zu strukturierende Oberfläche (18) übertragen wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Übertragung der Silan- oder Thiolmoleküle (10b) durch die Silan- bzw. Thiolkonzentration und die Auflagezeit des Stempels (14) auf der zu strukturierenden Oberfläche (18) gesteuert wird.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zur Strukturierung 3-Aminopropyltriethoxysilan oder ein anderes Aminosilan verwendet wird.
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine hydratisierte Silizium-Oberfläche (18) strukturiert wird.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die zu strukturierende Oberfläche (18) bei Verwendung von Thiolmolekülen zunächst mit Gold beschichtet wird.
8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß ein Stempel (14) verwendet wird, der Polydimethylsiloxan (PDMS), ein anderes kautschukartiges Polysiloxan oder ein anderes Elastomer umfaßt.
9. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß relativ kleine durch einen großen Strukturabstand voneinander getrennte Strukturen hergestellt werden.
10. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß Strukturbreiten im Nanometerbereich erzeugt werden.
11. Oberflächenstrukturierungsverfahren für einen Mikrokontaktdruck-Stempel (14) mit folgenden Verfahrensschritten:
  • - Bereitstellung eines Mikrokontaktdruck-Stempels (14) mit einer Polydimethylsiloxan (PDMS)-Oberfläche (12) oder einer ein anderes kautschukartiges Polysiloxan oder ein anderes Elastomer umfassenden Oberfläche (12);
  • - Maskieren der Stempeloberfläche (12) mit einer die gewünschten Strukturinformationen umfassenden Maske (22); und
  • - Übertragung der Strukturinformationen auf die Stempeloberfläche (12) durch Einwirkenlassen eines Sauerstoffplasmas, das eine Oberflächenveränderung der in Kontakt mit ihm gelangenden nicht maskierten Bereiche der Stempeloberfläche (12) bewirkt.
12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Oberflächenveränderung einen Volumenzuwachs umfaßt und daß die Höhe der gebildeten Struktur durch die Plasmazeit, den Plasmadruck und/oder die angelegte Leistung gesteuert wird.
13. Verfahren nach Anspruch 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet, daß als Maske (22) eine geeignet strukturierte Goldfolie oder eine sonstige Metallfolie verwendet wird.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß Strukturen S im Nanometerbereich erzeugt werden.
DE1999149993 1999-10-15 1999-10-15 Verfahren zur Oberflächenstrukturierung Expired - Fee Related DE19949993C1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1999149993 DE19949993C1 (de) 1999-10-15 1999-10-15 Verfahren zur Oberflächenstrukturierung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1999149993 DE19949993C1 (de) 1999-10-15 1999-10-15 Verfahren zur Oberflächenstrukturierung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE19949993C1 true DE19949993C1 (de) 2001-05-03

Family

ID=7925936

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1999149993 Expired - Fee Related DE19949993C1 (de) 1999-10-15 1999-10-15 Verfahren zur Oberflächenstrukturierung

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE19949993C1 (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004005082A1 (de) * 2004-02-02 2005-08-18 Infineon Technologies Ag Kondensator mit einem Dielektrikum aus einer selbstorganisierten Monoschicht einer organischen Verbindung
DE102012112030A1 (de) * 2012-12-10 2014-06-12 Ev Group E. Thallner Gmbh Verfahren zum Mikrokontaktprägen
WO2014094992A1 (de) 2012-12-18 2014-06-26 Karlsruher Institut für Technologie Verfahren zum übertragen einer transferflüssigkeit von einer vorlagefläche in eine mehrzahl von diskreten kompartimenten auf einer zielfläche und transferfläche zur durchführung des verfahrens

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5512131A (en) * 1993-10-04 1996-04-30 President And Fellows Of Harvard College Formation of microstamped patterns on surfaces and derivative articles
WO1996029629A2 (en) * 1995-03-01 1996-09-26 President And Fellows Of Harvard College Microcontact printing on surfaces and derivative articles

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5512131A (en) * 1993-10-04 1996-04-30 President And Fellows Of Harvard College Formation of microstamped patterns on surfaces and derivative articles
WO1996029629A2 (en) * 1995-03-01 1996-09-26 President And Fellows Of Harvard College Microcontact printing on surfaces and derivative articles

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
FERGUSON, G.S. et. al.: Monolayers on Disordered Substrates: Self Assembly of..., In: Macromole- cules, 1993, Vol. 26, pp. 5870-6 *

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004005082A1 (de) * 2004-02-02 2005-08-18 Infineon Technologies Ag Kondensator mit einem Dielektrikum aus einer selbstorganisierten Monoschicht einer organischen Verbindung
DE102004005082B4 (de) * 2004-02-02 2006-03-02 Infineon Technologies Ag Kondensator mit einem Dielektrikum aus einer selbstorganisierten Monoschicht einer organischen Verbindung und Verfahren zu dessen Herstellung
US7202547B2 (en) 2004-02-02 2007-04-10 Infineon Technologies, Ag Capacitor with a dielectric including a self-organized monolayer of an organic compound
DE102012112030A1 (de) * 2012-12-10 2014-06-12 Ev Group E. Thallner Gmbh Verfahren zum Mikrokontaktprägen
US9323144B2 (en) 2012-12-10 2016-04-26 Ev Group E. Thallner Gmbh Method for microcontact printing
WO2014094992A1 (de) 2012-12-18 2014-06-26 Karlsruher Institut für Technologie Verfahren zum übertragen einer transferflüssigkeit von einer vorlagefläche in eine mehrzahl von diskreten kompartimenten auf einer zielfläche und transferfläche zur durchführung des verfahrens
DE102012112494A1 (de) 2012-12-18 2014-07-03 Karlsruher Institut für Technologie Verfahren zum Übertragen einer Transferflüssigkeit von einer Vorlagefläche in eine Mehrzahl von diskreten Kompartimenten auf einer Zielfläche und Transferfläche zur Durchführung des Verfahrens

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2144711B1 (de) Verfahren zum übertragen einer nanoschicht
DE60029445T2 (de) Verfahren zur strukturierung von polymerschichten, und anwendung der verfahren
EP2150854B1 (de) Stempel für das mikrokontaktdrucken und verfahren zu seiner herstellung
DE102006036863B4 (de) Mechanisch stabile poröse Membran, Verfahren zu ihrer Herstellung und ihre Verwendung
EP0969918B1 (de) Verfahren zur herstellung von strukturierten, selbstorganisierten molekularen monolagen einzelner molekularer spezies, insbesondere von substanzbibliotheken
DE10217362B4 (de) Gezielte Abscheidung von Nanoröhren
DE102008060644B4 (de) Verfahren zur Herstellung einer Graphennanostruktur
DE69524247T2 (de) Stempel für lithographie-verfahren
DE112012004791B4 (de) Bilden von mit einem Muster versehenen Graphen-Schichten
DE602004013338T2 (de) Stempel für die sanfte Lithographie, insbesondere für das Mikro-Kontaktdruckverfahren und Verfahren zu seiner Herstellung
DE60024046T2 (de) Verfahren zum drucken eines katalysators für die stromlose plattierung
DE69624934T2 (de) Verfahren zur gerichteten abscheidung chemisch definierter körper
DE112008000635T5 (de) Verfahren zum Bilden eines Mikromusters, Form gebildet durch dieses Verfahren zum Bilden eines Mikromusters, Transferverfahren und Mikromuster-Bildungsverfahren unter Verwendung dieser Form
DE112005002186T5 (de) Nanoimprint-Form, Verfahren zum Bilden einer Nanoschablone sowie ein aus Harz gegossenes Produkt
DE60118843T2 (de) Stempel für ein lithographisches verfahren, methode zur stempelherstellung und methode zur herstellung einer gemusterten schicht auf einem substrat
US20080283405A1 (en) Method for Producing Patterned Structures by Printing a Surfactant Resist on a Substrate for Electrodeposition
EP1244938B1 (de) Verfahren zur herstellung von im nanometerbereich oberflächendekorierten substraten
DE19949993C1 (de) Verfahren zur Oberflächenstrukturierung
WO2005076679A2 (de) Verfahren zum anordnen einer leitungsstruktur auf einem substrat und substrat mit der leitungsstruktur
DE102016125690A1 (de) Verfahren zur Herstellung von Mikrostrukturen
DE60307516T2 (de) Lithografieverfahren durch pressen eines substrats in einem nanoimprint-prozess
AT405690B (de) Verfahren zur herstellung einer strukturierten schicht
DE102008051159B4 (de) Herstellung von Kreuzstrukturen von Nanostrukturen
EP1359388A1 (de) SPM-Sensor und Verfahren zu dessen Herstellung
DE102009006064B4 (de) Verfahren zur Herstellung eines mikrostrukturierten Films

Legal Events

Date Code Title Description
8100 Publication of the examined application without publication of unexamined application
D1 Grant (no unexamined application published) patent law 81
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: BARTH, PETER, 88471 LAUPHEIM, DE

8370 Indication of lapse of patent is to be deleted
8339 Ceased/non-payment of the annual fee