DE19911822C1 - Verfahren zur Korrektur von Interpolationsfehlern beim Ablesen von Inkrementalmaßstäben durch einen Positionsgeber - Google Patents
Verfahren zur Korrektur von Interpolationsfehlern beim Ablesen von Inkrementalmaßstäben durch einen PositionsgeberInfo
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Abstract
Verfahren zur Korrektur von Interpolationsfehlern beim Ablesen von Inkrementalmaßstäben durch einen Positionsgeber, wobei die Absolutposition des Positionsgebers innerhalb eines Teilungsintervalls des Inkrementalmaßstabes bestimmt wird, wobei die Teilungsintervalle periodisch von Teilungsmarken auf einem Träger gebildet sind, mit zwei gegenüber dem Träger ortsfest angeordneten und auf die Teilungsmarken ansprechenden Abtastelementen, die in einem derartigen auf die Länge des Teilungsintervalls bezogenen Abstand voneinander angeordnet sind, daß sie jeweils ein sinusartiges und ein cosinusartiges Meßsignal (SS und CC) ausgeben, die zur Ermittlung der Absolutposition auf der Basis der Arcustangens-Funktion ausgewertet werden, wobei zur Korrektur der Auswertung gegenüber Störungen und Ungenauigkeiten im Positionsgeber ein Korrekturmodell verwendet wird, und dass als mathematisches Korrekturmodell eine Ellipsengleichung verwendet wird. Zur Korrektur der Auswertung gegenüber Störungen und Ungenauigkeiten im Positionsgeber wird ein Korrekturmodell mit fünf Parametern (a, b, c, d, delta) verwendet, wobei die Berechnung der fünf Parameter aus den Ergebnissen des unmittelbar vorhergehenden Teilungsintervalls erfolgt, und dass zur Ermittlung der Parameter (a, b, c, d) ausschließlich die Maxima und Minima der Signalamplitude des unmittelbar vorhergehenden Teilungsintervalls verwendet werden.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Korrektur von
Interpolationsfehlern beim Ablesen von Inkrementalmaßstäben
durch Positionsgeber innerhalb eines Teilungsintervalles
des Inkrementalmaßstabes, wobei die Teilungsintervalle
periodisch von Teilungsmarken auf dem Inkrementalmaßstab
gebildet sind.
Zum Stand der Technik (DE 43 31 151 C2) gehört ein
Verfahren zur Messung der Absolutposition des beweglichen
zyklischen Teilungsmarkenträgers eines inkrementalen Posi
tionsgebers innerhalb eines seiner Teilungssegmente, die
periodisch von den Teilungsmarken auf dem Träger gebildet
sind, wobei die Messung mit zwei gegenüber dem Träger orts
fest angeordneten und auf die Teilungsmarken ansprechenden
Abtastelementen erfolgt, die in einem derartigen auf die
Länge des Segmentes bezogenen Abstand voneinander angeord
net sind, daß sie zwei sinus- und cosinusartige Meßsignale
ausgeben, die zur Ermittlung der Absolutposition auf der
Basis der Arcustangens-Funktion ausgewertet werden. Gemäß
dieser Druckschrift ist ein Algorithmus zur Korrektur von
Interpolationsfehlern bei diesen Inkrementalmaßstäben oder
inkrementalen Winkelschrittgebern angegeben. Als Ausgangs
signal liefern diese zwei um 90° phasenverschobene, wenig
stens annähernd sinusförmige periodische elektrische
Signale. Dabei werden diese Signale als X- und Y-Koordina
ten einer geschlossenen Kurve aufgefaßt, die im ungestörten
fehlerfreien Falle einen Kreis mit dem Mittelpunkt von Null
Volt ergäben. Durch Unzulänglichkeiten in der Mechanik und
der elektronischen Aufbereitung der Signale entstehen
Abweichungen von der Kreisform und eine Verschiebung des
Mittelpunktes.
Gemäß dem Stand der Technik werden diese Abweichungen
durch Vergleich mit einer allgemeinen Ellipse korrigiert,
wobei die Güte des elliptischen Modells laufend an die tat
sächlichen Gegebenheiten angepaßt wird.
Dieses Verfahren hat den Nachteil, daß die Adaption
des Modells so rechenaufwendig ist, daß sie in einem lang
samen Hintergrundprozeß ausgeführt werden muß
(DE 43 31 151 C2, Seite 4, Zeilen 56 ff.). Das zum Stand
der Technik gehörende Verfahren geht dabei von der allge
meinen Ellipsengleichung aus, die in der komplexen Schreib
weise
Z(ϕ) = Z0 + Z1 . ei ϕ + Z2 . e-i ϕ
sechs unabhängige Parameter besitzt (jeweils Real- und Ima
ginärteil der komplexen Zahlen Z0, Z1 und Z2). Diese sechs
Parameter werden in einem langsamen Integrationsprozeß den
tatsächlichen Gegebenheiten angepaßt.
Zum Stand der Technik (DE 35 09 682 C2) gehört weiter
hin eine Meßeinrichtung mit einer Fehlererkennungseinrich
tung zum Ablesen von Inkrementalmaßstäben durch einen Posi
tionsgeber. Diese Druckschrift betrifft eine Meßeinrichtung
zur Messung der Relativlage zweier Objekte mittels elektri
scher Abtastsignale. Mit dieser zum Stand der Technik gehö
renden Meßeinrichtung ist eine einfache Überprüfung sämtli
cher Signalparameter (Amplitudenhöhen, Symmetrie, Amplitu
denhöhengleichheit und/oder gegenseitige Phasenlage) von
Abtastsignalen auf fehlerhafte Zustände möglich. Eine der
artige Überprüfung der Signalparameter von Abtastsignalen
ist beispielsweise bei hochauflösenden Meßeinrichtungen von
Bedeutung, bei denen eine Signalvervielfachung durch eine
bekannte Interpolation bewirkt werden soll. Voraussetzung
für eine einwandfreie Signalvervielfachung sind nicht nur
bestimmte gleichbleibende Amplitudenhöhen und Symmetrie,
sondern auch Amplitudenhöhengleichheit und gleichbleibende
gegenseitige Phasenlagen der Abtastsignale.
Diese Druckschrift zeigt lediglich die Überprüfung der
Signalparameter. Ein Verfahren zur Korrektur von Interpola
tionsfehlern mit einem geringen Rechenaufwand ist dieser
Druckschrift nicht zu entnehmen.
Das der Erfindung zugrunde liegende technische Problem
besteht darin, ein Verfahren zur Korrektur kurzperiodischer
Interpolationsfehler bei Inkrementalgebern anzugeben, bei
dem der Rechenaufwand so weit reduziert ist, daß eine
Online-Adaption von Gitterabstand zu Gitterabstand möglich
ist.
Dieses technische Problem wird durch die Merkmale des
Anspruches 1 gelöst.
Dadurch, daß nur fünf Parameter im Interpolator ver
rechnet werden und dadurch, daß die fünf Parameter
ausschließlich aus den leicht zu ermittelnden Maxima und
Minima der Signalamplituden des unmittelbar vorhergehenden
Teilungsintervalles berechnet werden, wird der Rechenauf
wand erheblich reduziert.
Im Gegensatz zu dem Stand der Technik reagiert das
erfindungsgemäße Verfahren unmittelbar auf Änderungen der
Interpolationsabweichungen, weil es zur Korrektur der aktu
ellen Meßwerte die Ergebnisse aus dem vorhergehenden
Interpolationsintervall zugrunde legt.
Das erste Intervall, bei dem noch keine Meßwerte eines
vorhergehenden Intervalles vorhanden sind, wird mit einer
vereinfachten Interpolation durchgeführt.
Die Inkrementalgeber liefern zwei Signale SS und CC,
die umgangssprachlich "Sinus" und "Cosinus" der Position
genannt werden. Bei guten Gebersystemen stimmt dies auch in
erster Näherung. Bisher verwendete Verfahren berechnen die
aktuelle Position einfach als
Einfachere Geber sind üblicherweise mit größeren Feh
lern behaftet. Sie lassen sich als mathematisches Modell
besser darstellen durch:
SS = a . sin (ϕ) + b
CC = c . cos (ϕ + δ) + d
mit der elektrischen Bedeutung der Variablen
a = Amplitude von SS,
b = Offset von SS,
C = Amplitude von CC,
d = Offset von CC,
ϕ = Phasenwinkel,
δ = Phasenfehler.
b = Offset von SS,
C = Amplitude von CC,
d = Offset von CC,
ϕ = Phasenwinkel,
δ = Phasenfehler.
Eine vereinfachte Interpolation der Position ist ohne
Interpolationsfehler nur für den Sonderfall
b = 0
d = 0
δ = 0 und
a = c
d = 0
δ = 0 und
a = c
möglich.
Mit diesem Sonderfall werden auch die Meßwerte des
ersten Intervalles bestimmt.
Bei den darauffolgenden Intervallen gehen gemäß der
Erfindung die Parameter aus den Ergebnissen des unmittelbar
vorhergehenden Teilungsintervalles mit ein.
Es werden zur Berechnung der Parameter ausschließlich
die Maxima und Minima der Signalamplituden verwendet.
Der bei der vereinfachten Interpolation beschriebene
Sonderfall stellt einen Kreis dar, bei dem die Absolutposi
tion A als
abgelesen werden kann.
Da aber üblicherweise Fehler auftreten, wird im über
wiegenden Fall eine Ellipse dargestellt, die koordinaten
mäßig verschoben ist.
Es treten hierbei folgende Fehler auf:
- 1. Ein Offset, der dadurch verursacht wird, daß die Nullage der beiden Spannungen (Sinus und Cosinus) nicht exakt ist.
- 2. Durch unterschiedliche Amplituden der beiden Signale (Sinus und Cosinus) erhält man die Exzen trizität der Ellipse.
- 3. Die Achsenlage der Ellipse wird bestimmt durch die Phasenverschiebung, wenn die beiden Spannungen (Sinus und Cosinus) nicht genau um 90° phasenver schoben sind.
Wird nun der Arcustangens bestimmt, tritt ein
Gesamtfehler auf, der sich aus den drei obengenannten Feh
lern zusammensetzt. Dieser Fehler wird gemäß der Erfindung
beseitigt.
Weitere Einzelheiten der Erfindung können den Unteran
sprüchen entnommen werden.
Auf der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel der
Erfindung dargestellt, und zwar zeigt
die Figur eine schematische Darstellung einer
Vorrichtung zur Durchführung des
erfindungsgemäßen Verfahrens.
Die Figur zeigt einen Inkrementalmaßstab (1) mit Teil
strichen (2), zwischen denen Teilungsintervalle (3) vorhan
den sind.
Zwei Abtastköpfe (4, 5) tasten die Teilstriche (2) ab.
Die Abtastköpfe (4, 5) sind derart angeordnet, daß sich an
deren Ausgängen Meßsignale (Sinus (SS) und Cosinus (CC))
ergeben, die zueinander, je nach Genauigkeit der Teilung
auf dem Inkrementalmaßstab (1) und/oder des Abstandes der
Abtastköpfe (4, 5) voneinander, in sinus-/cosinusartiger
Phasenbeziehung stehen.
In einer Auswerteeinheit (6) werden die Signale (SS
und CC) weiterverarbeitet.
Durch die üblicherweise auftretenden Fehler lassen
sich die Signale (SS und CC) folgendermaßen darstellen:
SS = a . sin (ϕ) + b
CC = c . cos (ϕ + δ) + d
mit
a = Amplitude von SS,
b = Offset von SS,
C = Amplitude von CC,
d = Offset von CC,
ϕ = Phasenwinkel,
δ = Phasenfehler.
b = Offset von SS,
C = Amplitude von CC,
d = Offset von CC,
ϕ = Phasenwinkel,
δ = Phasenfehler.
Die Absolutposition des Inkrementalgebers bestimmt
sich aus Arcustangens SS/CC, das heißt, die Absolutposition
(A) bestimmt sich folgendermaßen:
Eine fehlerfreie Berechnung der Position wird
erreicht, wenn a, b, c, d und δ im Interpolator mit ver
rechnet werden. Die Werte werden immer aus der letzten
Signalperiode gewonnen mit:
Damit läßt sich die richtige Position (A) folgender
maßen bestimmen:
1
Inkrementalmaßstab
2
Teilstriche
3
Teilungsintervalle
4
,
5
Abtastköpfe (Inkrementalgeber)
6
Auswerteeinheit
Claims (3)
1. Verfahren zur Korrektur von Interpolationsfehlern
beim Ablesen von Inkrementalmaßstäben durch einen Positi
onsgeber, wobei die Absolutposition des Positionsgebers
innerhalb eines Teilungsintervalles des Inkrementalmaßsta
bes bestimmt wird, wobei die Teilungsintervalle periodisch
von Teilungsmarken auf einem Träger gebildet sind, mit zwei
gegenüber dem Träger ortsfest angeordneten und auf die Tei
lungsmarken ansprechenden Abtastelementen, die in einem
derartigen auf die Länge des Teilungsintervalles bezogenen
Abstand voneinander angeordnet sind, daß sie jeweils ein
sinusartiges und ein cosinusartiges Meßsignal (SS und CC)
ausgeben, die zur Ermittlung der Absolutposition auf der
Basis der Arcustangens-Funktion ausgewertet werden, wobei
zur Korrektur der Auswertung gegenüber Störungen und Unge
nauigkeiten im Positionsgeber ein Korrekturmodell verwendet
wird, und daß als mathematisches Korrekturmodell eine
Ellipsengleichung verwendet wird,
dadurch gekennzeichnet, daß zur
Korrektur der Auswertung gegenüber Störungen und Ungenauig
keiten im Positionsgeber (4, 5) ein Korrekturmodell mit
fünf Parametern (a, b, c, d, δ) verwendet wird, wobei die
Berechnung der fünf Parameter aus den Ergebnissen des
unmittelbar vorhergehenden Teilungsintervalles (3) erfolgt,
und daß zur Ermittlung der Parameter (a, b, c, d)
ausschließlich die Maxima und Minima der Signalamplituden
des unmittelbar vorhergehenden Teilungsintervalles
verwendet werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die fünf Parameter folgendermaßen bestimmt werden:
mit
a = Amplitude von SS
b = Offset von SS
c = Amplitude von CC
d = Offset von CC
δ = Phasenfehler
und mit
wobei
A = Position des Positionsgebers,
SS = a . sin (ϕ) + b
und
CC = c . cos (ϕ + δ) + d
ist.
mit
a = Amplitude von SS
b = Offset von SS
c = Amplitude von CC
d = Offset von CC
δ = Phasenfehler
und mit
wobei
A = Position des Positionsgebers,
SS = a . sin (ϕ) + b
und
CC = c . cos (ϕ + δ) + d
ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß beim ersten Intervall eine vereinfachte Interpolation
mit
b = 0
d = 0
δ = o
a = c
durchgeführt wird.
b = 0
d = 0
δ = o
a = c
durchgeführt wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1999111822 DE19911822C1 (de) | 1999-03-17 | 1999-03-17 | Verfahren zur Korrektur von Interpolationsfehlern beim Ablesen von Inkrementalmaßstäben durch einen Positionsgeber |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1999111822 DE19911822C1 (de) | 1999-03-17 | 1999-03-17 | Verfahren zur Korrektur von Interpolationsfehlern beim Ablesen von Inkrementalmaßstäben durch einen Positionsgeber |
Publications (1)
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---|---|
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Family
ID=7901250
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
DE1999111822 Expired - Lifetime DE19911822C1 (de) | 1999-03-17 | 1999-03-17 | Verfahren zur Korrektur von Interpolationsfehlern beim Ablesen von Inkrementalmaßstäben durch einen Positionsgeber |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19911822C1 (de) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1245931A1 (de) * | 2001-03-31 | 2002-10-02 | Leica Geosystems AG | Verfahren zur Kalibrierung eines Messinstrumentes |
DE10208915A1 (de) * | 2002-01-11 | 2003-07-24 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Verfahren zur Interpolation mindestens zweier positionsabhängiger, periodischer, zueinander phasenverschobener Analogsignale |
WO2005124286A1 (de) * | 2004-06-19 | 2005-12-29 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und anordnung zur korrektur eines winkel- und/oder abstandsmessenden sensorsystems |
DE102004062118B3 (de) * | 2004-12-23 | 2006-01-12 | Aradex Ag | Verfahren zur Verbesserung der Signalqualität von sinusförmigen Spursignalen |
EP1632753A2 (de) | 2004-09-06 | 2006-03-08 | Lenord, Bauer & Co. GmbH | Verfahren zur elektronischen Kalibrierung mechanischer Fertigungstoleranzen von Positionssensoren |
DE102007002221A1 (de) * | 2007-01-10 | 2008-07-17 | Paragon Ag | Wegsensoreinrichtung zur Erfassung des Weges bzw. der Position eines verstellbaren Bauteils und entsprechende Verfahren zur Weg- bzw. Positionserfassung |
US8311131B2 (en) | 2002-01-11 | 2012-11-13 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Method for interpolating at least two position-dependent, periodic analog signals that are dephased relative each other |
DE102020114717A1 (de) | 2020-06-03 | 2021-12-09 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zur Korrektur einer von einem Inkrementalgeber gemessenen und ausgegebenen Koordinate eines von einem motorischen Trieb bewegbaren Körpers sowie eine entsprechende Korrekturvorrichtung |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3509682C2 (de) * | 1985-03-18 | 1989-03-09 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut, De | |
DE4331151C2 (de) * | 1993-09-14 | 1997-05-22 | Baumueller Nuernberg Gmbh | System zur Messung der Absolutposition des beweglichen, zyklischen Teilungsmarken-Trägers eines inkrementalen Positionsgebers |
-
1999
- 1999-03-17 DE DE1999111822 patent/DE19911822C1/de not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3509682C2 (de) * | 1985-03-18 | 1989-03-09 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut, De | |
DE4331151C2 (de) * | 1993-09-14 | 1997-05-22 | Baumueller Nuernberg Gmbh | System zur Messung der Absolutposition des beweglichen, zyklischen Teilungsmarken-Trägers eines inkrementalen Positionsgebers |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002079730A1 (de) * | 2001-03-31 | 2002-10-10 | Leica Geosystems Ag | Verfahren zur kalibrierung eines messinstrumentes |
EP1245931A1 (de) * | 2001-03-31 | 2002-10-02 | Leica Geosystems AG | Verfahren zur Kalibrierung eines Messinstrumentes |
AU2002242739B2 (en) * | 2001-03-31 | 2007-03-22 | Leica Geosystems Ag | Method for calibrating a measuring instrument |
US7239761B2 (en) | 2001-03-31 | 2007-07-03 | Leica Geosystems Ag | Method for calibrating a measuring instrument |
DE10208915A1 (de) * | 2002-01-11 | 2003-07-24 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Verfahren zur Interpolation mindestens zweier positionsabhängiger, periodischer, zueinander phasenverschobener Analogsignale |
US8311131B2 (en) | 2002-01-11 | 2012-11-13 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Method for interpolating at least two position-dependent, periodic analog signals that are dephased relative each other |
US7620514B2 (en) | 2004-06-19 | 2009-11-17 | Robert Bosch Gmbh | Method and arrangement for correcting an angle-measuring and/or distance-measuring sensor system |
WO2005124286A1 (de) * | 2004-06-19 | 2005-12-29 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und anordnung zur korrektur eines winkel- und/oder abstandsmessenden sensorsystems |
AU2005255137B2 (en) * | 2004-06-19 | 2010-06-17 | Robert Bosch Gmbh | Method and arrangement for correcting an angle-measuring and/or distance-measuring sensor system |
DE102004043448A1 (de) * | 2004-09-06 | 2006-03-23 | Lenord, Bauer & Co. Gmbh | Verfahren zur elektronischen Kalibrierung mechanischer Fertigungstoleranzen von Positionssensoren |
EP1632753A2 (de) | 2004-09-06 | 2006-03-08 | Lenord, Bauer & Co. GmbH | Verfahren zur elektronischen Kalibrierung mechanischer Fertigungstoleranzen von Positionssensoren |
DE102004062118B3 (de) * | 2004-12-23 | 2006-01-12 | Aradex Ag | Verfahren zur Verbesserung der Signalqualität von sinusförmigen Spursignalen |
DE102007002221A1 (de) * | 2007-01-10 | 2008-07-17 | Paragon Ag | Wegsensoreinrichtung zur Erfassung des Weges bzw. der Position eines verstellbaren Bauteils und entsprechende Verfahren zur Weg- bzw. Positionserfassung |
DE102020114717A1 (de) | 2020-06-03 | 2021-12-09 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zur Korrektur einer von einem Inkrementalgeber gemessenen und ausgegebenen Koordinate eines von einem motorischen Trieb bewegbaren Körpers sowie eine entsprechende Korrekturvorrichtung |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8100 | Publication of the examined application without publication of unexamined application | ||
D1 | Grant (no unexamined application published) patent law 81 | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: LEITZ MESSTECHNIK GMBH, 35578 WETZLAR, DE |
|
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: HEXAGON METROLOGY GMBH, 35578 WETZLAR, DE |
|
R071 | Expiry of right |