DE19907326B4 - Winkelmeßsystem - Google Patents

Winkelmeßsystem Download PDF

Info

Publication number
DE19907326B4
DE19907326B4 DE19907326A DE19907326A DE19907326B4 DE 19907326 B4 DE19907326 B4 DE 19907326B4 DE 19907326 A DE19907326 A DE 19907326A DE 19907326 A DE19907326 A DE 19907326A DE 19907326 B4 DE19907326 B4 DE 19907326B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
measuring system
angle measuring
scanning
units
graduation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE19907326A
Other languages
German (de)
English (en)
Other versions
DE19907326A1 (de
Inventor
Dipl.-Ing. Feichtinger Kurt
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dr Johannes Heidenhain GmbH
Original Assignee
Dr Johannes Heidenhain GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dr Johannes Heidenhain GmbH filed Critical Dr Johannes Heidenhain GmbH
Priority to DE19907326A priority Critical patent/DE19907326B4/de
Priority to JP2000039433A priority patent/JP4580054B2/ja
Priority to US09/506,752 priority patent/US6410910B1/en
Publication of DE19907326A1 publication Critical patent/DE19907326A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE19907326B4 publication Critical patent/DE19907326B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/347Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using displacement encoding scales
    • G01D5/3473Circular or rotary encoders

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
DE19907326A 1999-02-20 1999-02-20 Winkelmeßsystem Expired - Fee Related DE19907326B4 (de)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19907326A DE19907326B4 (de) 1999-02-20 1999-02-20 Winkelmeßsystem
JP2000039433A JP4580054B2 (ja) 1999-02-20 2000-02-17 測角システム
US09/506,752 US6410910B1 (en) 1999-02-20 2000-02-18 Angle measuring system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19907326A DE19907326B4 (de) 1999-02-20 1999-02-20 Winkelmeßsystem

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19907326A1 DE19907326A1 (de) 2000-08-24
DE19907326B4 true DE19907326B4 (de) 2013-04-04

Family

ID=7898275

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19907326A Expired - Fee Related DE19907326B4 (de) 1999-02-20 1999-02-20 Winkelmeßsystem

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6410910B1 (enExample)
JP (1) JP4580054B2 (enExample)
DE (1) DE19907326B4 (enExample)

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4664491B2 (ja) * 2000-12-25 2011-04-06 ハイデンハイン株式会社 エンコーダ、およびエンコーダの取り付け方法
DE10137014B4 (de) * 2001-07-30 2010-04-08 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Positionsmesseinrichtung
US7881896B2 (en) 2002-02-14 2011-02-01 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner
JP4343556B2 (ja) * 2003-03-05 2009-10-14 キヤノン株式会社 光学式エンコーダ
DE10339732A1 (de) * 2003-08-28 2004-11-18 Siemens Ag Messeinrichtung zur Ermittlung von rotierenden Bewegungsanteilen einer sich bewegenden Last
EP1744126A1 (de) * 2005-07-14 2007-01-17 Carl Freudenberg KG Winkelmesseinrichtung
EP1944582A1 (de) * 2007-01-09 2008-07-16 Leica Geosystems AG Verfahren zur bestimmuing einer einflussgrosse auf die exzentrizitat in einem wineklmesser
JP4995605B2 (ja) 2007-03-16 2012-08-08 オークマ株式会社 回転型アブソリュートエンコーダの異常検出装置
DE102007020760B4 (de) * 2007-05-03 2009-04-16 Siemens Ag Messanordnung mit einem Datenkanal zur Datenübertragung eines Messsignals und eines Kontrollsignals
EP2163859A1 (de) * 2008-09-12 2010-03-17 Leica Geosystems AG Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen von Positionen
EP2372302A1 (de) 2010-03-26 2011-10-05 Leica Geosystems AG Messverfahren für eine oberflächenvermessende Messmaschine
DE102010046251A1 (de) * 2010-09-22 2012-03-22 Leopold Kostal Gmbh & Co. Kg Drehstellungsmessvorrichtung
US9091569B2 (en) * 2011-04-19 2015-07-28 Caterpillar Inc. Opacity-based rotary position sensor and method
EP2729768B1 (de) * 2011-07-08 2017-05-17 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH Kalibrierung und betrieb von drehvorrichtungen, insbesondere zum drehen von tastköpfen und/oder tastern von koordinatenmessgeräten
CN107255462B (zh) 2011-07-08 2019-07-23 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 在测量工件的坐标时的误差修正和/或避免
DE102011079961A1 (de) 2011-07-28 2013-01-31 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Winkelmessung
DE102013216093B4 (de) 2013-08-14 2016-06-02 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Reduzieren von Fehlern einer Drehvorrichtung, insbesondere für die Bestimmung von Koordinaten eines Werkstücks oder die Bearbeitung eines Werkstücks
DE102016205592A1 (de) 2016-04-05 2017-10-05 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Vorrichtung und verfahren zur winkelmessung
WO2023026732A1 (ja) * 2021-08-24 2023-03-02 パナソニックIpマネジメント株式会社 エンコーダおよびそれを備えたモータ
CN114093280B (zh) * 2021-11-22 2024-01-09 马努(上海)艺术设计有限公司 角度校正方法、角度限位器、显示单元和显示系统
CN114294997B (zh) * 2022-01-05 2023-10-24 武汉华中天勤防务技术有限公司 武器站底座及武器站运载设备

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH426285A (de) * 1964-03-16 1966-12-15 Contraves Ag Digitale Winkelmesseinrichtung
JPS5567608A (en) * 1978-11-17 1980-05-21 Nippon Kogaku Kk <Nikon> Measurement unit for rotary angle
DE3228507A1 (de) * 1982-07-30 1984-02-02 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Winkelmesseinrichtung
DE3445617C2 (de) * 1984-07-13 1987-04-16 Max Stegmann GmbH, Uhren- und Elektroapparatefabrik, 7710 Donaueschingen Anordnung zur seriellen Übertragung der Meßwerte wenigstens eines Meßwertwandlers
EP0325924A1 (de) * 1988-01-20 1989-08-02 Dr. Johannes Heidenhain GmbH Rundheitsnormal
US5004915A (en) * 1988-08-12 1991-04-02 Kabushiki Kaisha Tokai Rika Denki Seisakusho Steering angle sensor apparatus
US5202842A (en) * 1989-11-29 1993-04-13 Kabushiki Kaisha Okuma Tekkosho Rotational position detecting device which compensates for eccentricity of rotating object
EP0412481B1 (de) * 1989-08-08 1993-11-03 Dr. Johannes Heidenhain GmbH Längen- oder Winkelmesseinrichtung
DE19727352A1 (de) * 1996-07-10 1998-01-15 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Verfahren zur Positionsbestimmung und hierzu geeignetes Meßsystem

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2841501B2 (de) 1978-09-23 1980-12-18 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Gekapselte Winkelmefieinrichtung
DE3301205C2 (de) * 1982-02-26 1985-10-03 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Winkelmeßeinrichtung
DE3234471C1 (de) 1982-09-17 1983-08-25 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Mehrkoordinaten-Tastkopf
DE3340866A1 (de) 1983-03-26 1985-05-23 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Wegmesseinrichtung
DE3311204A1 (de) 1983-03-26 1984-10-04 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Inkrementale laengen- oder winkelmesseinrichtung
DE3412063A1 (de) 1984-03-31 1985-11-28 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Positionsmesseinrichtung
DE3429648A1 (de) 1984-08-11 1986-02-13 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Lagemesseinrichtung
DE3527546C1 (de) 1985-08-01 1986-10-02 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Vorrichtung zum Verbinden einer Positionsmesseinrichtung mit zwei relativ zueinander beweglichen Objekten
JP2582103Y2 (ja) * 1993-01-14 1998-09-30 多摩川精機株式会社 中空軸形エンコーダカバー構造
JP3046469B2 (ja) * 1993-03-09 2000-05-29 株式会社三協精機製作所 多回転アブソリュートエンコーダ
US5981940A (en) 1997-09-15 1999-11-09 Renco Encoders, Inc. Angle measuring system with a clampable shaft

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH426285A (de) * 1964-03-16 1966-12-15 Contraves Ag Digitale Winkelmesseinrichtung
JPS5567608A (en) * 1978-11-17 1980-05-21 Nippon Kogaku Kk <Nikon> Measurement unit for rotary angle
DE3228507A1 (de) * 1982-07-30 1984-02-02 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Winkelmesseinrichtung
DE3445617C2 (de) * 1984-07-13 1987-04-16 Max Stegmann GmbH, Uhren- und Elektroapparatefabrik, 7710 Donaueschingen Anordnung zur seriellen Übertragung der Meßwerte wenigstens eines Meßwertwandlers
EP0325924A1 (de) * 1988-01-20 1989-08-02 Dr. Johannes Heidenhain GmbH Rundheitsnormal
US5004915A (en) * 1988-08-12 1991-04-02 Kabushiki Kaisha Tokai Rika Denki Seisakusho Steering angle sensor apparatus
EP0412481B1 (de) * 1989-08-08 1993-11-03 Dr. Johannes Heidenhain GmbH Längen- oder Winkelmesseinrichtung
US5202842A (en) * 1989-11-29 1993-04-13 Kabushiki Kaisha Okuma Tekkosho Rotational position detecting device which compensates for eccentricity of rotating object
DE19727352A1 (de) * 1996-07-10 1998-01-15 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Verfahren zur Positionsbestimmung und hierzu geeignetes Meßsystem

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000241157A (ja) 2000-09-08
US6410910B1 (en) 2002-06-25
JP4580054B2 (ja) 2010-11-10
DE19907326A1 (de) 2000-08-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19907326B4 (de) Winkelmeßsystem
DE102008043556B4 (de) Positionsmesseinrichtung
DE3711062C2 (enExample)
EP0575843B1 (de) Drehwinkelmesssystem
EP0914590B1 (de) Vorrichtung zur ermittlung der position rotierender wellen
EP1577043B1 (de) Vorrichtung, CNC-Messgerät und Verfahren zum Vermessen eines rotationssymmetrischen Präzisionsteiles
EP2551645B1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Winkelmessung
EP3764064B1 (de) Optische positionsmesseinrichtung
EP0171612A1 (de) Lagemesseinrichtung
DE102011083042A1 (de) Überwachungseinheit und Verfahren zur Überwachung von Positionssignalen inkrementaler Positionsmesseinrichtungen
EP1089053B1 (de) Winkelmesseinrichtung und Verwendung dieser Winkelmesseinrichtung in einer Spindelanordnung
WO2002025220A1 (de) Vorrichtung und verfahren zur erfassung der rotationsbewegung eines um eine achse drehbar gelagerten elementes
EP3228994B1 (de) Vorrichtung und verfahren zur winkelmessung
EP0395936A1 (de) Positionsmesseinrichtung mit mehreren Abtastsstellen
DE102004001570B4 (de) Messverfahren sowie Messvorrichtung zum Durchführen des Messverfahrens
DE8717718U1 (de) Inkrementale Längen- oder Winkelmeßeinrichtung
DE3901546A1 (de) Positionsmesseinrichtung mit mehreren abtaststellen
EP1050742B1 (de) Abtasteinheit für eine optische Positionsmesseinrichtung
DE10149174A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Positionsbestimmung
EP3913349A1 (de) Verfahren zur ermittlung der belastung einer antriebswelle
EP1452836B1 (de) Vorrichtung zum Messen des Drehwinkels
DE102019209866A1 (de) Winkelmesseinrichtung und Verfahren zum Betrieb einer Winkelmesseinrichtung
EP0385386B1 (de) Verfahren zur Messung eines Drehwinkels und Drehwinkelmesser
EP1224511B1 (de) System und verfahren zur steuerung einer positioniereinrichtung, insbesondere von stellantrieben bei werkzeugmaschinen, sowie phasenmischvorrichtung
DE102017205267A1 (de) Positionsmesseinrichtung und Verfahren zum Betreiben einer Positionsmesseinrichtung

Legal Events

Date Code Title Description
OM8 Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
8110 Request for examination paragraph 44
R018 Grant decision by examination section/examining division
R020 Patent grant now final

Effective date: 20130705

R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee