DE19854838A1 - Gerichtet erstarrtes multikristallines Silicium sowie Verfahren zu dessen Herstellung - Google Patents
Gerichtet erstarrtes multikristallines Silicium sowie Verfahren zu dessen HerstellungInfo
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Abstract
Gerichtet erstarrtes multikristallines Silicium für photovoltaische Anwendungen, bei welchem die maximale Korngröße nicht mehr als 200 mm·2· beträgt. Das erfindungsgemäße Silicium kann mit einer höheren Kristallisationsgeschwindigkeit als konventionelles Silicium hergestellt werden und erreicht Solarzellen-Wirkungsgrade von über 13-16%.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft gerichtet erstarrtes multikristallines Silicium
sowie ein Verfahren zu dessen Herstellung.
Multikristallines Silicium für die Weiterverarbeitung zu Solarzellen wird üblicher
weise nach dem Aufschmelzen durch gerichtete Kristallisation, z. B. nach dem
SOPLIN-Verfahren (Solidification by Planar Interface) in großformatige Blöcke
überführt. Die multikristalline Struktur des Materials entsteht dabei durch Kristallite
(Körner) unterschiedlicher Orientierung, die durch innere Grenzflächen (sog. Korn
grenzen) voneinander getrennt sind. Das kristallisierte Blockmaterial wird nach Zer
teilung zu Säulen mit unterschiedlichen Querschnittsflächen durch Innenlochsägen
oder multiple Drahtsägen zu Scheiben mit ca. 200-400 µm Dicke aufgesägt. Die so
erhaltenen multikristallinen Siliciumwafer können anschließend zu Solarzellen
weiterverarbeitet werden.
Um hohe Solarzellen-Wirkungsgrade zu erreichen, werden an das verwendete
multikristalline Silicium hohe Anforderungen bzgl. Reinheit und Kristallperfektion
gestellt. Üblicherweise müssen kristallographische Defekte wie Korngrenzen und
Versetzungen in ihrer Dichte und ihrer für den Wirkungsgrad der Solarzelle schäd
lichen elektrischen Aktivität minimiert werden. Korngrenzen sind beispielsweise oft
durch Anlagerungen von Fremdatomen, z. B. Metallen, elektrisch positiv geladen und
wirken als Senken für durch Lichteinfall erzeugte Elektronen in dem üblicherweise
p-leitenden für die Photovoltaik eingesetzten Silicium. Über die an den Korngrenzen
vorliegenden Grenzflächenzustände können die Elektronen rekombinieren und gehen
damit für die Stromausbeute der Solarzelle verloren, wodurch der Wirkungsgrad der
Zelle reduziert wird. Entsprechende Forschungsarbeiten (siehe z. B. M. Böhm et al.,
Proceedings of the 4th Photovoltaic Solar Energy Conference, Stresa, Italy, 516
(1982) oder S. C. Bhatnagar et al., Indian Joumal of Pure & Applied Physics, Vol. 35,
338 (1997)) kommen stets zu dem Ergebnis, daß mit einem Anstieg der
Korngröße auch eine Erhöhung des Wirkungsgrads verbunden ist.
Aus diesem Grunde wird bei der Kristallherstellung von multikristallinem Silicium
für die Photovoltaik großer Wert auf die Erzeugung großer einkristalliner Bereiche
(Körner) mit möglichst wenig Korngrenzen gelegt, was durch ein sehr langsames
Kristallwachstum mit entsprechend niedrigen Kristallisationsgeschwindigkeiten (im
Bereich 1 cm pro Stunde oder darunter) erreicht wird. Die einkristallinen Bereiche
gängiger multikristalliner Materialien erreichen durch diese Verfahren teilweise
Größen bis zu 500 mm2.
Die bisherige Forderung, für hohe Wirkungsgrade multikristallines Silicium mit
hohen Korngrößen zu erzeugen, ist wegen der geringen Kristallisationsgeschwindig
keit und dem damit verbundenen langen Verweilen des multikristallinen Blockes in
Bereichen hoher Temperaturen bis weit über 1000°C allerdings durch einen erhöhten
Energieeinsatz und lange Prozeßzeiten gekennzeichnet, die der Forderung einer
kostengünstigen Herstellung von Silicium für die Photovoltaik entgegenlaufen.
Aufgabe der Erfindung war daher die Bereitstellung von kostengünstigem, mit
reduzierten Prozeßzeiten herstellbarem gerichtet erstarrtem multikristallinen Silicium
mit im Vergleich zu langsamer kristallisiertem Material gleichwertigen oder sogar
verbesserten Solarzellen-Wirkungsgraden.
Diese Aufgabe wird durch gerichtet erstarrtes multikristallines Silicium erfüllt, bei
dem die maximale Korngröße nicht mehr als 200 mm2 beträgt. Als Korngröße wird
dabei die sich in einem (ebenen) Schnitt durch das Silicium darstellende Schnitt
fläche eines Korns bezeichnet. Daß die maximale Korngröße weniger als 200 mm2
betragen soll ist angesichts unvermeidlicher statistischer Schwankungen so zu ver
stehen, daß im Mittel jedenfalls weniger als 5% der gesamten Schnittfläche von
Körnern ≧ 200 mm2 ausgefüllt sein soll.
Angesichts der oben dargelegten Forschungsergebnisse war es überraschend zu
finden, daß gerichtet erstarrtes multikristallines Silicium, das mit höherer Kristalli
sationsgeschwindigkeit kristallisiert wird und eine deutlich verringerte Korngröße
aufweist, das verlangte Anforderungsprofil erfüllt.
Vorzugsweise weist bei dem erfindungsgemäßen Silicium ein Flächenanteil des
Materials von mindestens 60% der Gesamtfläche eine Kornfläche kleiner als
50 mm2, besonders bevorzugt kleiner als 25 mm2, auf.
Weiterhin kann erfindungsgemäßes Silicium auch dadurch charakterisiert werden,
daß ein Flächenanteil des Materials von mindestens 90% eine Kornfläche zwischen
200 mm2 und 1 mm2 aufweist. Bevorzugte Unterbereiche der Kornfläche sind
zwischen 200 mm2 und 5 mm2, zwischen 150 mm2 und 5 mm2 und zwischen 100 mm2
und 5 mm2.
Die quantitative Analyse der Korngröße wird mit Hilfe einer Versuchsanordnung
durchgeführt, bei der durch Beleuchtung einer Scheibe aus multikristallinem Silicium
aus acht verschiedenen Richtungen jeweils ein digitales Bild (ca. 500 × 500 Pixel)
eines 10 × 10 cm2 großen Ausschnitts der Scheibe aufgenommen wird. Die Lampen
(Leistung 50 W) sind dabei äquidistant auf einem Lampenring (Durchmesser 50 cm,
Höhe über der Scheibe 30 cm) angebracht. Durch Hochpassfilterung der Kamera
bilder mittels computergesteuertem Bildanalysesystem werden Hell-Dunkel-Über
gänge, die durch die unterschiedliche Reflektivität der Körner entstehen, als
Korngrenzen sichtbar gemacht. Eine Überlagerung der acht Einzelbilder ergibt die
Gesamtkornstruktur der Scheibe, die Größe der einzelnen Körner wird durch die
computergesteuerte Bestimmung der im Korn enthaltenen Pixel realisiert.
Das erfindungsgemäße Silicium erreichte in einem bei H. Lautenschlager et al.
(Proceedings of the 14th European Photovoltaic Solar Energy Conference,
Barcelona, Spain, 1997, Seiten 1358 bis 1360) beschriebenen Solarzellenher
stellungsprozeß (dort als Prozeßvariante 2 beschrieben) im Vergleich zu multi
kristallinem Silcium ähnlichen spezifischen Widerstands, aber mit deutlich größeren
Körnern einen sogar um ca. 1% absolut verbesserten Wirkungsgrad von über 16%,
d. h. die Vorteile verkürzter Prozeßzeiten sind in dem erfindungsgemäßen multi
kristallinen Silicium sogar mit einem deutlichen Anstieg des Wirkungsgrads verbun
den, der nach allen bisherigen experimentellen und theoretischen Forschungsarbeiten
nicht zu erwarten war. Der genannte Solarzellenherstellungsprozeß verwendet mittels
gerichteter Kristallisation und anschließendem Sägeprozeß hergestellte Silicium-
Scheiben mit einem spezifischen Widerstand von ca. 1 Ω cm. Nach Ätzen und Säu
berung wurde auf die Rückseite der Scheiben eine 1 µm dicke Al-Schicht aufge
dampft, bevor die Phosphordiffusion aus einer POCl3 Quelle vorgenommen wurde.
Beide Oberflächen der Scheiben wurden nicht passiviert. Während des gesamten
Prozesses wurde die Temperatur so gering wie möglich gehalten, sie stieg nicht über
820°C. Als Antireflektionsschicht wurde eine Doppelschicht aus TiO2 und MgF2
eingesetzt.
Das erfindungsgemäße Silicium weist vorzugsweise einen freien Sauerstoffgehalt
zwischen 1 × 1016 und 2 × 1018 cm-3, bevorzugt im Bereich von 5 × 1016 bis 8 × 1017,
auf.
In einer bevorzugten Ausführungsform zeichnet das erfindungsgemäße multi
kristalline Silicium durch einen spezifischen elektrischen Widerstand im Bereich
zwischen 0.1 und 10 Ω cm aus.
Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist zudem ein Verfahren zur Herstellung des
erfindungsgemäßen Siliciums, wonach mono- oder multikristallines Silicium aufge
schmolzen und im inneren Temperaturgradientenfeld gerichtet kristallisiert wird.
Nach Aufschmelzen des vorzugsweise mono- oder multikristallinen Siliciums wird
die Schmelze entweder direkt im Tiegel oder nach dem Abguß in Kokillen zu
Blöcken kristallisiert und anschließend in einer dem Fachmann geläufigen Weise
durch Grobzerteilung, sowie Draht oder Innenlochsägen in Siliciumscheiben
aufgesägt. Die so erhaltenen Scheiben haben vorzugsweise eine Schichtdicke von
200-400 µm.
In einer bevorzugten Ausführungsform des Verfahrens zur Herstellung des erfin
dungsgemäßen Siliciums beträgt die Kristallisationsgeschwindigkeit während der
Erstarrung mehr als 1.5 cm pro Stunde.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines Ausführungsbeispiels und einer Figur,
die den kumulierten Flächenanteil in Abhängigkeit von der Korngröße zeigt, näher
erläutert.
Die Figur zeigt als Ergebnis aus einer repräsentativen Messung den kumulierten
Flächenanteil (in %, Ordinate) in Abhängigkeit von der Korngröße (in mm2,
Abszisse) für konventionelles (Kurve 1) und für erfindungsgemäßes Silicium
(Kurve 2). Die Kurven geben demnach an, wieviel Prozent der Gesamtfläche von
Körnern unterhalb einer bestimmten Korngröße belegt werden. Die Korngrößen
wurden an typischen Scheiben (Fläche 10 × 10 cm2) der beiden Materialien nach dem
oben beschriebenen Verfahren mittels Bildanalyse quantitativ bestimmt.
Der Kurvenverlauf spiegelt die deutlich reduzierten Korngrößen des erfindungs
gemäßen Siliciums wieder. Während bei konventionellem multikristallinem Silicium
mehr als 40% der gesamten Scheibenfläche von Körnern mit Flächen über 50 mm2
bedeckt sind und immerhin noch ca. 10% der Scheibenfläche von großen Körner mit
mehr als 200 mm2 Fläche eingenommen werden, setzt sich eine typische Scheibe des
erfindungsgemäßen Siliciums zu fast 90% aus Körnern mit einer Fläche von weniger
als 50 mm2 zusammen, Körner mit Flächen über 200 mm2 treten gar nicht auf. Beim
erfindungsgemäßen Silicium hat ein Flächenanteil des Materials von über 90% eine
Kornfläche zwischen 200 mm2 und 1 mm2 bzw. sogar zwischen 75 mm2 und 5 mm2.
Die Figur gibt quantitativ die Verhältnisse wieder, die sich anschaulich auf einer
typischen Scheibe multikristallinen Siliciums zeigen. Bei Silicium, wie es derzeit zur
Herstellung von Solarzellen eingesetzt wird, treten sehr große einkristalline Bereiche
mit Flächen bis über 5 cm2 auf. Demgegenüber ist auf einer Scheibe des erfin
dungsgemäßen Siliciums eine deutlich reduzierte Korngröße zu sehen. Körner mit
Flächen über 2 cm2 sind in diesem Falle praktisch nicht vorhanden. Trotzdem wurden
an Scheiben mit entsprechender Kornstruktur Solarzellen-Wirkungsgrade von über
16% erreicht, während konventionelles multikristallines Silicium bei identischem
Solarzellen-Herstellprozeß trotz größerer Körner einen Wirkungsgrad von nur etwa
15% aufwies (Literaturangabe zum Solarzellenprozeß siehe oben).
Claims (11)
1. Gerichtet erstarrtes multikristallines Silicium für photovoltaische Anwen
dungen, dadurch gekennzeichnet, daß die maximale Korngröße nicht mehr als
200 mm2 beträgt.
2. Silicium nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Flächenanteil des
Materials von mindestens 60% eine Kornfläche kleiner 50 mm2, vorzugs
weise kleiner 25 mm2, aufweist.
3. Silicium nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein Flächen
anteil des Materials von mindestens 90% eine Kornfläche zwischen 200 mm2
und 1 mm2, vorzugsweise zwischen 150 mm2 und 5 mm2, ganz besonders
bevorzugt zwischen 100 mm2 und 5 mm2 aufweist.
4. Silicium nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß
dieses einen Sauerstoffgehalt zwischen 1 × 1016 und 2 × 1018 cm-3 aufweist.
5. Silicium nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der
spezifische elektrische Widerstand im Bereich zwischen 0.1 und 10 Ω cm
liegt.
6. Solarzelle enthaltend einen multikristallinen Siliciumwafer, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Siliciumwafer aus Silicium nach einem der Ansprüche 1 bis
5 besteht.
7. Solarzelle nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß mit ihr ein
Wirkungsgrad von mehr als 13%, vorzugsweise mehr als 14%, erzielt
werden kann.
8. Verfahren zur Herstellung von gerichtet erstarrtem multikristallinen Silicium
nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß mono- oder
multikristallines Silicium aufgeschmolzen und im inneren Temperatur
gradientenfeld gerichtet kristallisiert wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß während der
Erstarrung Kristallisationsgeschwindigkeiten von mehr als 1.5 cm pro Stunde
eingehalten werden.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, daß
das Silicium nach der Erstarrung in Scheibenform zerteilt wird, vorzugsweise
mit einer Schichtdicke von 200-400 µm.
11. Verwendung von multikristallinem Silicium nach einem der Ansprüche 1 bis
5 zur Herstellung von Solarzellen, vorzugsweise solchen mit Wirkungsgraden
größer als 13%, besonders bevorzugt 14%.
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- 1999-11-15 AU AU15534/00A patent/AU1553400A/en not_active Abandoned
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