DE19838759C2 - Verfahren und Photoionisationsdetektor zur Spurengasanalyse mit Matrixkompensation - Google Patents
Verfahren und Photoionisationsdetektor zur Spurengasanalyse mit MatrixkompensationInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und einen Photoionisationsdetektor (PID), die die Störeinflüsse aus Matrixeffekten, z.B. aus Wasserdampf im Gasgemisch kompensieren können. Sie kann in der Spurengasanalyse, insbesondere im ppb-Bereich eingesetzt werden. DOLLAR A Um die durch Matrixsubstanzen im Gasgemisch verursachte Schwächung der Ionisationsfähigkeit der UV-Strahlung im PID zu berücksichtigen und zu kompensieren, werden die erzeugten Ionen in mindestens zwei Bereichen des Ionisationsraumes, die sich in einer unterschiedlichen effektiven Entfernung von der UV-Quelle befinden, gemessen und aus den unterschiedlichen Ionisationsströmen Rückschlüsse auf die Matrix gezogen.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und einen Photoionisationsdetektor (PID), die
die Störeinflüsse aus Matrixeffekten, z. B. aus Wasserdampf im Gasgemisch
kompensieren können. Die Erfindung kann in der Spurengasanalyse, insbesondere
im ppb-Bereich eingesetzt werden.
Innerhalb der Ionisationskammer eines PID's wird die UV Strahlung durch
Absorption abgeschwächt. Zur Absorption tragen einerseits das zu messende Gas
und andererseits die Matrix bei. Die Absorption des zu messenden Gases kann
dabei im Allgemeinen vernachlässigt werden, da es meistens in sehr geringen
Konzentrationen nachgewiesen werden soll (ppb-Bereich). Die Matrix spielt also die
Hauptrolle bei der Abschwächung. Die Zusammensetzung der Matrix ist im
Allgemeinen nicht konstant. So besteht die Matrix zum Beispiel in vielen Fällen aus
Luft mit einer Veränderlichen Konzentration von Wasserdampf (Luftfeuchtigkeit). Da
der Wasserdampf eine erheblich höhere Absorption als trockene Luft aufweist,
vermindert seine Anwesenheit die Intensität und damit die Ionisationsfähigkeit der
UV Strahlung in der Ionisationskammer erheblich. Auch andere Matrixgase, wie z. B.
Spuren von Methan könnenden gleichen Effekt wie Wasserdampf haben. PID's, die
bei verschiedenen Luftfeuchtigkeiten zuverlässige Meßwerte liefern sollen, müssen
demzufolge für derartige unterschiedlich starke Abschwächungseffekte kompensiert
werden.
Aus der DE-PS 43 20 607 ist eine Anordnung zur Spurengasanalyse mit einer UV-
Lichtquelle bekannt, die dadurch gekennzeichnet ist, daß zum Zwecke der
Erhöhung der Anzahl der ionisierten Ladungsträger die Ionisationskammer als
Strömungskanal ausgebildet wird und Anode und Kathode langgestreckte
Elektroden darstellen, wobei die Ionisationsquelle vorzugsweise quer zur
Strömungsrichtung strahlt. Dadurch kann bei gleichbleibendem Elektrodenabstand
der Ionisationsraum innerhalb gewisser Grenzen vergrößert werden, was eine
Erhöhung des absoluten Meßsignales ergibt. Nachteilig ist hierbei, daß es nicht
möglich ist, Störeinflüsse, die aus UV-aktiven Matrixsubstanzen, z. B. Wasserdampf,
im Gasstrom resultieren, auszuschließen oder zu kompensieren.
Aus der DE-PS 195 35 216 ist eine Meßkammeranordnung für einen
Photoionisationsdetektor bekannt, bei der das angeregte Volumen bautechnisch auf
eine Vielzahl von Teilvolumina verteilt ist, wobei die Kathode von der UV-Quelle
abgeschirmt ist. Nachteilig ist bei dieser Anordnung insbesondere, daß Matrixeffekte
das Meßsignal stark verfälschen und auch nicht kompensiert werden können.
Gemäß DE-OS 38 18 784 wird zur Kompensation des Einflusses der Luftfeuchtigkeit
auf das Meßergebnis der Photoionisations-Gasanalyse vorgeschlagen, zusätzliche
Sensoren für Temperatur und Luftfeuchtigkeit anzuordnen, aus deren Meßwerten
ein Korrekturfaktor für das Meßsignal des Photoionisations-Gasdetektors ermittelt
wird, der die Abnahme der Empfindlichkeit des PID bei zunehmender
Luftfeuchtigkeit berücksichtigt. Nachteilig ist hierbei, daß es sich um ein indirektes
Verfahren handelt, d. h. aus der Luftfeuchtigkeit wird auf die Absorptionskonstante
der Luft geschlossen. Sollten sich andere Matrixkomponenten mit starker UV-
Absorption als Wasserdampf im Gasstrom befinden, versagt diese Technik. Auch
bei höheren Luftfeuchtigkeiten ist mit erheblichen Fehlern zu rechen.
In der DE-PS 195 09 146 wird zum selektiven Nachweis von nur einer Komponente
aus einem Gasgemisch vorgeschlagen, mindestens ein selektives Vorfilter einem
Photoionisationsdetektor vorzuschalten. Dieses Filter soll die störenden
Komponenten wie Toluol und Xylol beim Benzolnachweis, oder die das PID-Signal
stark abschwächenden Substanzen wie Methan oder Wasser aus dem zu
analysierenden Gasstrom entfernen.
Nachteilig ist hierbei, daß die Filter nur speziell auf eine Matrixsubstanz/
substanzgruppe wirken und daß die Filter in Abhängigkeit von der Betriebszeit
zunehmend beladen werden.
Damit wird einerseits ihre Wirksamkeit verändert und damit auch des Meßsignal,
andererseits macht sich dadurch eine regelmäßige Auswechslung der Filter
erforderlich.
Es war also Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren und eine Vorrichtung zu
beschreiben, die die matrixbedingte Abschwächung der Ionisationsfähigkeit der UV-
Strahlung in PID's berücksichtigen. Der so gewonnene Abschwächungsparameter
sollte zur präzisen Kompensation von Matrixeffekten eingesetzt werden.
Erfindungsgemäß wurden dazu ein Verfahren und eine Photoionisationsdetektoran
ordnung geschaffen, bei der die erzeugten Ionen in örtlich verschieden Bereichen
der Ionisationskammer gemessen werden. Dabei kann ein Bereich durchaus
Teilbereich eines anderen Bereiches sein. Entscheidend ist, daß die Bereiche nicht
identisch sind. In Abhängigkeit von der mittleren Distanz zur UV-Quelle (effektive
Entfernung) hängt die Ionenerzeugung in jedem Bereich in unterschiedlicher Weise
von der Matrixabsorption ab. Daher können aus den entsprechend
unterschiedlichen Ionisationsströmen der jeweiligen Bereiche Rückschlüsse auf die
Abschwächung der Ionisationsfähigkeit der UV-Strahlung gemacht werden. Damit
wird eine direkte Matrixkompensation des Meßsignals ausgeführt.
Nachfolgend soll die Erfindung anhand einiger Ausführungsbeispiele näher
beschrieben werden.
Fig. 1: Photoionisationsdetektoranordnung mit radialem Feld.
Fig. 2: Photoionisationsdetektoranordnung mit vertikalem Feld.
Fig. 3: Vereinfachte Photoionisationsdetektoranordnung mit vertikalem Feld.
In einer Anordnung gemäß Fig. 1 kann die Abschwächung der Ionisierungsfähigkeit
der UV Strahlung aus den unterschiedlich hohen Ionisationsströmen I1, I2 und I3
abgelesen werden, die von den Kathoden 101, 102 und 103 entsprechend
aufgefangen werden. So wird I1 am wenigsten und I3 am meisten durch
matrixbedingte UV Absorption gemindert. Die Hochspannung 105 ist an die
gemeinsame Anode 106 angeschlossen. Die UV Lampe ist mit 104 bezeichnet.
In einer Anordnung gemäß Fig. 2 wird die Hochspannungsquelle 205 abwechselnd
an Gitter 201, 202 und 203 geschaltet. Der dabei an der Kathode 206 gemessene
Ionisationsstrom I reflektiert die Ionisation die zwischen dem jeweiligen Gitter und
der Gegenelektrode erfolgt. Wird z. B. die Hochspannung am Gitter 201 angelegt,
wird die Ionisation im gesamten Gasraum gemessen. Wird die Hochspannung
jedoch an Gitter 202 oder 203 angelegt, wird nur die Ionisation im Teilbereich
zwischen dem jeweiligen Gitter und der Gegenelektrode gemessen. Der effektive
Ionisationsraum ist in diesen Fällen kleiner und im Mittel weiter von der < Elektrode
entfernt. Die Potentiale der jeweils nicht geschalteten Gitter sind dabei so
eingestellt, daß sie den Durchtritt der Ionen erlauben. Dafür sorgen die Widerstände
207-210 die die entsprechenden Gitterpotentiale einstellen um den jeweiligen
Driftstrom weiterzuleiten. Die UV Lampe ist mit 204 bezeichnet.
Die in Abb. 1 und 2 beschriebenen Detektoranordnungen liefern zwei oder mehr
Ionisationssignale. Die anschließende analoge oder digitale Meßwertverarbeitung
kann das am wenigsten beeinflußte Ionisationssignal korrigieren, so daß eine
nahezu matrixunabhängige Konzentration des zu messenden Gases bestimmt wird.
Dazu muß erst ein Abschwächungsparameter A mittels Verrechnung der
verschieden abgeschwächten Signale gebildet werden, wobei
A = f(I1, I2, . . .),
mit f einer Funktion, die die Detektorbauweise/-geometrie berücksichtigt.
Anschließend muß der von den Matrixeffekten am geringsten beeinflußte
Ionisationsstrom mittels einer durch Kalibrierung oder empirisch ermittelten Funktion
e(A) korrigiert werden:
Ikorrigiert = I1 e(A)
Der so gefundene korrigierte Ionisationsstrom ist weitgehend unempfindlich gegen
Matrixeffekte.
In Abb. 3 ist eine vereinfachte Variante des in Abb. 2 vorgestellten Detektortypes
gezeigt.
Sie besteht im einzelnen aus einer UV Lampe 301 abgedichtet mit einem O-Ring
303 innerhalb eines Gehäuses 304. Das Anodengitter 309 ist mittels eines
Edelstahlringes 307 und einer Schraube 306 an einen elektrischen Draht 308
angeschlossen. Zur Vermeidung von Störeffekten wird die Kathode 315 mittels einer
Edelstahlröhre 314 und dem Schirmgitter 311 abgeschirmt. Ein Teflonstopfen 312
trägt die Kathode 315 und den Gaseinlaß 313. Der Gasauslaß 305 ist so
positioniert, das das Gas die gesamte Zelle durchfließt. Mittels eines O-Ringes 303
und eines Spannringes 302 ist die Zelle abgedichtet.
Im Betrieb wird an das Schirmgitter 311 eine positive Spannung gegenüber der
Kathode 315 angelegt. An das Anodengitter 309 wird eine Wechselspannung
gegenüber dem Schirmgitter 311 angelegt. Der Abstand zwischen dem Anoden-
und dem Schirmgitter ist gering im Vergleich zur Reichweite der UV-Strahlung
innerhalb der Zelle. Während der positiven Phase dieser Wechselspannung
werden die Ionen, die zwischen dem Schirm- und dem Anodengitter entstehen,
durch das Schirmgitter in den Teil des Ionisationsraumes gedrückt, der zwischen
Schirmgitter und Kathode liegt. Zu dieser Zeit spiegelt der Ionisationsstrom die
Ionisation der gesamten Kammer wieder. Während der negativen Phase der
Wechselspannung werden die Ionen, die zwischen dem Schirm- und dem
Anodengitter liegen, zurück zur Anode gezogen. Zu dieser Zeit spiegelt der
Ionisationsstrom nur die Ionisation zwischen Schirmgitter und Kathode wieder.
Die einfachste Verarbeitung dieser beiden Signale ist ihre Differenzbildung.
Dadurch wird nur die Ionisation gemessen, die zwischen Anode und Schirmgitter
erzeugt wird. Da diese in unmittelbarer Nähe der Lampe liegt, ist sie weitgehend frei
von Matrixeffekten. Die Differenzbildung läßt sich elektronisch durch eine reine
Wechselspannungsverstärkung, zum Beispiel Lock-In-Verstärkung, durchführen.
Die Erfindung hat gegenüber bekannten Photoionisationsdetektoren folgende
Vorteile:
Die Erfindung erlaubt eine Korrektur von Meßfehlern, die durch Veränderungen in
der Zusammensetzung der Matrix hervorgerufen werden. Die dazu verwendete
direkte Bestimmung der matrixbedingten Verringerung der Ionisierungsfähigkeit der
UV Strahlung bietet weniger Fehlermöglichkeiten als die herkömmlichen Verfahren.
101
Kathode
1
102
Kathode
2
103
Kathode
3
104
UV Lampe
105
Hochspannungsquelle
106
gemeinsame Anode
201
Gitter
1
202
Gitter
2
203
Gitter
3
204
UV-Lampe
205
Hochspannungsquelle
206
Kathode
207
Widerstand
208
Widerstand
209
Widerstand
210
Widerstand
301
UV Lampe
302
Spannring
303
O-Ring
304
PEK Gehäuse
305
Gasauslaß
306
Kontaktschraube
307
Edelstahllring
308
Draht zur Steuerung des Annodengitters
309
Annodengitter
310
Edelstahllring
311
Schirmgitter
312
Teflon Stopfen
313
Gaseinlaß
314
Schirm: Edelstahlröhre
315
Kathode
Claims (10)
1. Verfahren zur Spurenanalyse in einem Meßgas unter Verwendung eines
Photoionisationsdetektors mit einer UV-Quelle und mit einem Ionisationsraum,
dadurch gekennzeichnet, daß mindestens zwei Ionisationsströme in jeweils
einem Teilvolumen des Ionisationsraumes, die sich in einer unterschiedlichen
effektiven Entfernung von der UV-Quelle befinden, gemessen werden und daß
diese Ionisationsströme unter Berücksichtigung der unterschiedlichen
Wegstrecken der UV-Strahlung durch den Meßgasstrom zum Zwecke der
Kompensation der Matrixeffekte ausgewertet werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Ionisationsstrom
an verschiedenen Orten im Ionisationsraum gleichzeitig gemessen wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Ionisationsstrom
an verschiedenen Orten im Ionisationsraum abwechselnd gemessen wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1-3, dadurch gekennzeichnet, daß die Selektion des
jeweils zu messenden Teilvolumens mittels eines elektrischen Feldes erfolgt.
5. Verfahren nach Anspruch 1-3, dadurch gekennzeichnet, daß die Selektion des
jeweils zu messenden Teilvolumens durch Wahl verschiedener
Ionenstromkreise erfolgt.
6. Photoionisationsdetektor mit einer UV-Quelle und mit einem Ionisationsraum zur
Spurenanalyse in einem Meßgas dadurch gekennzeichnet, daß mindestens
zwei in unterschiedlicher effektiver Entfernung von der UV-Quelle angeordnete
Orte im Ionisationsraum vorhanden sind und daß an die Ionisationsstrecken
der unterschiedlichen Orte eine Auswertungsvorrichtung zum Zwecke der
Matrixkompensation angeschlossen ist.
7. Photoionisationsdetektor nach Anspruch 6 dadurch gekennzeichnet, daß eine
Anode angeordnet ist und zwei oder mehrere Kathoden in
Ausbreitungsrichtung der UV-Strahlung den Ionisationsraum des Detektors in
zwei oder mehrere Zonen aufteilen.
8. Photoionisationsdetektor nach Anspruch 6 dadurch gekennzeichnet, daß eine
Kathode angeordnet ist und zwei oder mehrere Anoden in
Ausbreitungsrichtung der UV-Strahlung den Ionisationsraum des Detektors in
zwei oder mehrere Zonen aufteilen.
9. Photoionisationsdetektor nach Anspruch 6-8, dadurch gekennzeichnet, daß
nichtüberlappende Teilvolumen in verschiedener Entfernung von der UV-
Quelle angeordnet sind.
10. Photoionisationsdetektor nach Anspruch 6-8, dadurch gekennzeichnet, daß
Teilvolumen sich bereichsweise überlappen oder ein Teilvolumen Teil eines
anderen ist.
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