DE19830808A1 - Wellenlängenüberwachungsvorrichtung für optische Signale - Google Patents
Wellenlängenüberwachungsvorrichtung für optische SignaleInfo
- Publication number
- DE19830808A1 DE19830808A1 DE19830808A DE19830808A DE19830808A1 DE 19830808 A1 DE19830808 A1 DE 19830808A1 DE 19830808 A DE19830808 A DE 19830808A DE 19830808 A DE19830808 A DE 19830808A DE 19830808 A1 DE19830808 A1 DE 19830808A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- wavelength
- signal
- predetermined
- channel
- predefined
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 76
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 title claims description 16
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 14
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 238000013507 mapping Methods 0.000 claims description 6
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 claims 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N erbium Chemical compound [Er] UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/30—Measuring the intensity of spectral lines directly on the spectrum itself
- G01J3/36—Investigating two or more bands of a spectrum by separate detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/50—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
- G01J3/51—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors using colour filters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf die Wellenlängen-
Überwachung von Mehrwellenlängen-Lichtsignalen bei optischen
Telekommunikationssystemen.
Bei optischen Telekommunikationssystemen werden hohe Daten
raten unter Verwendung von DWDM-Signalen (DWDM = dense wave
length division multiplexed = Wellenlängendichte-Divisions
multiplex) erreicht. DWDM-Signale sind Mehrwellenlängen-
Lichtsignale, die Mehrkanalsignale jeweils bei einer vorde
finierten Kanalwellenlänge enthalten. Bei einem typischen
optischen Telekommunikationssystem werden die Kanalsignale
durch eine Reihe von modulierten Sendern erzeugt, wobei die
Kanalsignale in dem Wellenlängenbereich von 1.528 bis 1.565
Nanometern, der durch die flache Verstärkungsregion von Er
bium-dotierten Faserverstärkern (EDFA; EDFA = erbium doped
fiber amplifier), einer kritischen Komponente moderner op
tischer Telekommunikationssysteme, definiert ist, um 25 Gi
gahertz bis 200 Gigahertz getrennt sein können. Das Verhal
ten eines optischen Telekommunikationssystems kann durch ei
ne Überwachung der Wellenlänge, der Leistung und des
Signal/Rausch-Verhältnisses von jedem der DWDM-Kanalsignale
verifiziert werden. Eine Wellenlängenüberwachung der Kanal
signale stellt sicher, daß Abweichungen von den vordefinier
ten Kanalwellenlängen aufgrund von Drifts oder Instabilitä
ten der Sender erfaßt werden. Die Wellenlängenüberwachung
verifiziert ferner, daß Kanalsignale, die nachfolgend zu dem
Mehrwellenlängen-Lichtsignal addiert werden, innerhalb spe
zifizierter Wellenlängenabweichungen von den vordefinierten
Kanalwellenlängen der Kanalsignale liegen. Obwohl eine Wel
lenlängenüberwachung unter Verwendung optischer Spektrumana
lysatoren (OSA) durchgeführt werden kann, ist es möglich,
daß OSAs, die Motoren, um optische Gitter oder optische Fil
terelemente zu drehen, aufweisen, zu groß sein können, um in
ein optisches Telekommunikationssystem integriert zu sein.
OSAs, die auf InGaAs/Inp-Photodetektorarrays basieren, be
sitzen eine kleine physikalische Größe, jedoch können die
selben aufwendig herzustellen sein, was es ökonomisch un
tragbar macht, diesen OSA-Typ in ein optisches Telekommuni
kationssystem einzubauen. Weitere optische Meßgeräte, bei
spielsweise Mehr-Wellenlängen-Messer, können verwendet wer
den, um die Wellenlänge von Kanalsignalen zu Überwachen, wo
bei diese Gerätetypen jedoch physikalisch groß und aufwendig
herzustellen sind. In der US-5,583,683 ist eine kostengün
stige, physikalisch kompakte optische Multiplexvorrichtung
zur Überwachung der Leistung von DWDM-Kanalsignalen offen
bart, wobei die Vorrichtung jedoch keine Wellenlängenüber
wachung der Kanalsignale liefert.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine
physikalisch kompakte Wellenlängenüberwachungsvorrichtung
zur Überwachung der Wellenlänge von Kanalsignalen in einem
Mehrwellenlängen-Lichtsignal zu schaffen, die kostengünstig
herzustellen ist.
Diese Aufgabe wird gemäß Anspruch 1 gelöst.
Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht dar
in, eine Verfahren zur Überwachung der Wellenlänge von Ka
nalsignalen in einem Mehrwellenlängen-Lichtsignal zu schaf
fen, das mit einer physikalisch kompakten und kostengünsti
gen Ausrüstung durchgeführt werden kann.
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren gemäß Anspruch 6 ge
löst.
Eine Wellenlängenüberwachungsvorrichtung, die gemäß bevor
zugten Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung auf
gebaut ist, weist eine kompakte Größe auf und ist kostengün
stig herzustellen. Die Wellenlängenüberwachungsvorrichtung
kann ohne weiteres in optische Telekommunikationssysteme in
tegriert werden, um Wellenlängenabweichungen der Komponen
tenkanalsignale in einem Mehrwellenlängen-Lichtsignal, bei
spielsweise einem Wellenlängendichte-Divisionsmultiplex-Signal
(DWDM-Signal), zu Überwachen. Die Wellenlängenüberwa
chungsvorrichtung empfängt das Mehrwellenlängen-Lichtsignal
und kaskadiert das Signal entlang eines Mehrpunkt-Ausbrei
tungswegs. In dem Ausbreitungsweg fallen die Komponentenka
nalsignale auf eine Reihe von Wellenlängendiskriminatoren,
die auf einem optisch durchlässigen Bauglied angeordnet
sind. Jeder Wellenlängendiskriminator läßt selektiv ein vor
bestimmtes der Kanalsignale durch und reflektiert die übri
gen Komponentenkanalsignale des Mehrwellenlängen-Lichtsi
gnals. Gemäß einem ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung umfaßt die Wellenlängenüberwa
chungsvorrichtung Wellenlängendiskriminatoren, die jeweils
eine optische Transmission aufweisen, die monoton entspre
chend den Wellenlängenabweichungen eines Komponentenkanal
signals variiert. Jedes selektiv durchgelassene Kanalsignal
wird durch einen Detektor aufgefangen, der ansprechend auf
die Stärke des aufgefangenen Signals einen Ausgangsstrom er
zeugt. Der Ausgangsstrom wird auf entsprechende Signalwel
lenlängen abgebildet und wird verwendet, um die Wellenlänge
der Komponentenkanalsignale zu Überwachen. Gemäß einem zwei
ten bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfin
dung umfaßt jeder Wellenlängendiskriminator in der Wellen
längenüberwachungsvorrichtung ein dispersives Element, das
die Wellenlänge eines zugeführten Kanalsignals auf einen
entsprechenden räumlichen Ort auf einem Schlitzdetektor
abbildet. Der Schlitzdetektor erzeugt Ausgangsströme, die
verwendet werden, um Wellenlängenabweichungen des Kompo
nentenkanalsignals von der vordefinierten Kanalwellenlänge
zu Überwachen.
Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung
werden nachfolgend bezugnehmend auf die beiliegenden Zeich
nungen näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine bekannte optische Multiplexvorrichtung;
Fig. 2 eine optische Wellenlängenüberwachungsvorrichtung,
die gemäß den bevorzugten Ausführungsbeispielen der
vorliegenden Erfindung aufgebaut ist;
Fig. 3 eine optische Übertragung über der Wellenlänge für
einen ersten Wellenlängendiskriminator, der in der
optischen Wellenlängenüberwachungsvorrichtung von
Fig. 2 enthalten ist und gemäß einem ersten bevor
zugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfin
dung aufgebaut ist;
Fig. 4 eine optische Übertragung über der Wellenlänge für
einen zweiten Wellenlängendiskriminator, der in der
optischen Wellenlängenüberwachungsvorrichtung von
Fig. 2 enthalten und gemäß einem zweiten bevorzug
ten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung
aufgebaut ist; und
Fig. 5 einen Schlitzdetektor, der in der optischen Wellen
längenüberwachungsvorrichtung von Fig. 2 enthalten
ist und gemäß dem zweiten bevorzugten Ausführungs
beispiel der vorliegenden Erfindung aufgebaut ist.
Fig. 1 zeigt eine bekannte optische Multiplexvorrichtung 10,
die in der US-5,583,683 offenbart ist. Ein einfallendes op
tisches Mehrwellenlängensignal 11 wird entlang eines Aus
breitungswegs in einem Zick-Zack-Muster kaskadiert und fällt
auf mehrere Tore 12a bis 12h der optischen Multiplexvorrich
tung 10. Jedes der Mehrzahl von Toren 12a bis 12h ist für
ein Wellenlängenband, das eines der optischen Signale in dem
optischen Mehrwellenlängensignal 11 enthält, transparent,
und ist für die anderen optischen Signale in dem optischen
Mehrwellenlängensignal 11 reflektierend. Die optische Durch
lässigkeit der Tore 12a bis 12h ermöglicht, daß jedes opti
sche Komponentensignal des optischen Mehrwellenlängensignals
11 an einem getrennten der Tore 12a bis 12h isoliert wird.
Sobald jedes Kanalsignal 13a bis 13h isoliert ist, können
Leistungsmessungen von jedem der optischen Signale 13a bis
13h ohne weiteres unter Verwendung eines Detektors oder ei
nes optischen Leistungsmessers erhalten werden. Während die
optische Multiplexvorrichtung 10, die in der US-5,583,683
offenbart ist, Leistungsmessungen der optischen Komponenten
signale 13a bis 13h liefert, liefert die Vorrichtung 10 kei
ne Überwachung der Wellenlänge der Komponentenkanalsignale
13a bis 13h des optischen Mehrwellenlängensignals 11. Ein
alternativer Typ eines optischen Demultiplexers, der in der
US-4,244,045 gelehrt wird, kaskadiert ebenfalls Licht mit
mehreren Wellenlängen in einem Zick-Zack-Muster zwischen
mehreren Toren.
Fig. 2 zeigt eine optische Wellenlängenüberwachungsvorrich
tung 20, die gemäß dem bevorzugten Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung aufgebaut ist. Ein einfallendes Mehr
wellenlängen-Lichtsignal 21, beispielsweise ein DWDM-Signal,
wird entlang eines Mehrpunkt-Ausbreitungswegs in einem
Zick-Zack-Muster durch ein optisch durchlässiges Bauglied 26
kaskadiert. Komponentenlichtsignale oder Kanalsignale 23a
bis 23h des Mehrwellenlängensignals 21 fallen auf eine Reihe
von Wellenlängendiskriminatoren 22a bis 22h, die auf dem op
tisch durchlässigen Bauglied 26 angeordnet sind. Wie gezeigt
ist, ist das optisch durchlässige Bauglied 26 ein Block. Al
ternativ ist das optisch durchlässige Bauglied 26 ein Befe
stigungsrahmen, der die Wellenlängendiskriminatoren 22a bis
22h derart positioniert, daß sich das Mehrwellenlängen-
Lichtsignal 21 durch die Luft oder ein anderes Umgebungsme
dium zwischen aufeinanderfolgenden Wellenlängendiskrimina
toren 22a bis 22h ausbreitet. Jeder Wellenlängendiskrimina
tor 22a bis 22h ist nicht optisch transparent, sondern ist
vielmehr selektiv durchlässig für Lichtsignale in einem vor
bestimmten Wellenlängenbereich, der ein vorbestimmtes der
Kanalsignale 23x enthält, während derselbe für die verblei
benden Komponentenkanalsignale in dem Mehrwellenlängen-
Lichtsignal 21 reflektierend ist.
Fig. 3 zeigt die optische Übertragung über der Wellenlänge
für einen ersten Typ eines Wellenlängendiskriminators, der
in der optischen Wellenlängenüberwachungsvorrichtung 20, die
gemäß einem ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel der vor
liegenden Erfindung aufgebaut ist, enthalten ist. Die ge
zeigte optische Übertragungscharakteristik stellt eine sol
che eines typischen der Wellenlängendiskriminatoren 22a bis
22h bei diesem bevorzugten Ausführungsbeispiel dar. Die
optische Transmission und die optische Reflexion jedes Wel
lenlängendiskriminators 22a bis 22h hängt von der Wellenlän
ge λ des Komponentenkanalsignals 23x ab. Die Komponentenka
nalsignale, die Wellenlängen aufweisen, die außerhalb eines
vorbestimmten Wellenlängenbereichs λSUBx des speziellen Wel
lenlängendiskriminators liegen, werden durch den Wellenlän
gendiskriminator reflektiert und werden zu weiteren Wellen
längendiskriminatoren in der Reihe geleitet. Jeder Wellen
längendiskriminator 22a bis 22h weist einen vorbestimmten
Wellenlängenbereich λSUBx auf, der die vordefinierte Kanal
wellenlänge λx des Komponentenkanalsignals 23x, die durch
den Wellenlängendiskriminator selektiv durchgelassen werden
soll, einschließt. Das spezielle Kanalsignal 23x (das ein
typisches der Komponentenkanalsignale 23a bis 23h dar
stellt), das innerhalb des vorbestimmten Wellenlängenbe
reichs λSUBx liegt, wird durch den Wellenlängendiskriminator
selektiv transmittiert, mit einer optischen Transmission,
die von der Wellenlängenabweichung Δλ des Kanalsignals 23x
von der vordefinierten Kanalwellenlänge λx abhängt.
Der Wellenlängendiskriminator erzeugt eine Änderung der op
tischen Transmission ΔT, die der Wellenlängenabweichung Δλ
entspricht. Der Wellenlängendiskriminator, der in Fig. 3 ge
zeigt ist, weist eine optische Transmission auf, die monoton
abnimmt, wenn die Wellenlänge des Kanalsignals 23x zunimmt.
Alternativ ist der Wellenlängendiskriminator aufgebaut, um
eine optische Transmission zu liefern, die monoton zunimmt,
wenn die Wellenlänge des Kanalsignals 23x zunimmt.
Das Komponentenkanalsignal 23x, das innerhalb des vorbe
stimmten Wellenlängenbereichs λSUBx liegt, wird selektiv
durch einen der Wellenlängendiskriminatoren 22a bis 22h
transmittiert, die jeweils eines der selektiv transmittier
ten Kanalsignale 25a bis 25h erzeugen. Die selektiv trans
mittierten Kanalsignale 25a bis 25h werden jeweils durch
einen der zugeordneten Detektoren 24a bis 24h aufgenommen.
Ein Rahmen 28 richtet die Detektoren 24a bis 24h mit den
selektiv transmittierten Kanalsignalen 25a bis 25h aus. Je
der Detektor erzeugt einen Ausgangsstrom Ix (der einen der
Ausgangsströme Ia bis Ih darstellt), der auf die Stärke des
selektiv transmittierten Kanalsignals, das auf den Detektor
einfällt, anspricht. Da die Stärke der selektiv transmit
tierten Kanalsignale 25a bis 25h durch Wellenlängenabwei
chungen Δλ der Kanalsignale 23a bis 23h und durch Leistungs
schwankungen der Kanalsignale beeinflußt wird, werden die
Ausgangsströme Ia bis Ih auf die Leistung der Komponentenka
nalsignale 23a bis 23h normiert, um zu ermöglichen, daß Wel
lenlängenabweichungen Δλ des Kanalsignals 23x von Leistungs
schwankungen des Kanalsignals 23x unterschieden werden. Die
normierten Ausgangssignale Ia bis Ih von jedem der Detekto
ren 24a bis 24h werden auf die entsprechenden Signalwellen
längen in dem Wellenlängenbereich λSUBx von jedem der Wel
lenlängendiskriminatoren 22a bis 22h abgebildet.
Die Normierung wird durchgeführt, indem ein Kalibrierungssignal
von einem abstimmbaren Laser oder einer anderen Licht
quelle (nicht gezeigt) zu jedem der Wellenlängendiskrimina
toren 22a bis 22h zugeführt wird. Die Wellenlänge des Kali
brierungssignals wird innerhalb jedes der vordefinierten
Wellenlängenbereiche λSUBx konstant gehalten, während die
Leistung des Kalibrierungssignals über einen vordefinierten
Leistungsbereich variiert wird. Der Ausgangsstrom, der jedem
Leistungspegel in dem vordefinierten Leistungsbereich ent
spricht, wird aufgezeichnet.
Die Abbildung wird durchgeführt, indem ein Kalibrierungs
signal jedem der Wellenlängendiskriminatoren 22a bis 22h
zugeführt wird. Während die Leistung des Kalibrierungssi
gnals konstant gehalten wird, wird die Wellenlänge λ des
Kalibrierungssignals innerhalb des vorbestimmten Wellenlän
genbereichs λSUBx des Wellenlängendiskriminators gewobbelt,
während der Ausgangsstrom bei jeder speziellen Wellenlänge λ
des Signals aufgezeichnet wird. Die Abbildung und die Nor
mierung werden für jeden der Wellenlängendiskriminatoren 22a
bis 22h und die zugeordneten Detektoren 24a bis 24h durchge
führt. Die Wellenlängenüberwachung wird durch das Messen der
Ausgangsströme Ia bis Ih, das Überwachen der Leistung von
jedem der Kanalsignale 23a bis 23h, die Normierung der Aus
gangsströme Ia bis Ih entsprechend der Leistung des Kanalsi
gnals 23x durch Skalieren der Ausgangsströme Ia bis Ih durch
den Strom, der der überwachten Leistung jedes Kanalsignals
23a bis 23h entspricht, und durch die Verwendung der Abbil
dung zwischen dem Ausgangsstrom Ix und der Wellenlänge λ, um
die Wellenlängenabweichung Δλ zwischen der tatsächlichen
Wellenlänge λ des Kanalsignals 23x und der vordefinierten
Kanalwellenlänge λx anzuzeigen, durchgeführt.
Die Wellenlängendiskriminatoren 22a bis 22h, die gemäß dem
ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Er
findung gebildet sind, sind Filtereinfassungen von Fabry-Pe
rot-Filtern oder anderen Filtertypen, die unter Verwendung
bekannter Techniken aufgebaut sind. Beispielsweise umfaßt
der Wellenlängendiskriminator eine geschichtete Struktur,
die auf ein poliertes Glassubstrat aufgebracht ist, oder die
direkt auf das optisch durchlässige Bauglied 26 aufgebracht
ist. Die Struktur umfaßt eine Reihe von wechselnden Dünn
filmschichten eines Materials mit hohem Brechungsindex, bei
spielsweise Titandioxid (TiO2) mit einem Brechungsindex von
2,235, und eines Materials mit einem geringen Brechungsin
dex, beispielsweise Siliziumdioxid (SiO2) mit einem Bre
chungsindex von 1,44. Die erste Schicht, die Dünnfilmschicht
benachbart zu dem Glassubstrat, besteht aus dem Material mit
dem hohen Brechungsindex, wobei eine Gesamtzahl von 70
Schichten existiert. Jede Schicht mit Ausnahme der Schicht
18 und der Schicht 53 weisen bei der vordefinierten Kanal
wellenlänge λx eine optische Viertelwellendicke auf. Die
Schicht 18 besitzt eine optische Dicke von 0,4998 bei der
vordefinierten Kanalwellenlänge λx, während die Schicht 53
eine optische Dicke der Hälfte der Wellenlänge der vordefi
nierten Kanalwellenlänge λx aufweist.
Ein Filtertyp wird als ein Beispiel der Wellenlängendiskri
minatoren 22a bis 22h, die bei der Wellenlängenüberwachungs
vorrichtung 20 verwendet sind, beschrieben. Andere Filter
typen oder optische Elemente können aufgebaut sein, um eine
selektive optische Transmission für Komponentenkanalsignale
innerhalb jedes vorbestimmten Wellenlängenbereichs λSUBx zu
liefern und die optischen Signale außerhalb des vorbestimm
ten Wellenlängenbereichs λSUBx zu reflektieren.
Fig. 4 zeigt die optische Transmission über der Wellenlänge
für einen zweiten Typ eines Wellenlängendiskriminators, ein
dispersives Element, das bei der optischen Wellenlängenüber
wachungsvorrichtung 20 gemäß einem zweiten bevorzugten Aus
führungsbeispiel der vorliegenden Erfindung verwendet ist.
Bei diesem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist jeder der
Wellenlängendiskriminatoren 22a bis 22h mittels eines dis
persiven Elements implementiert, das in Verbindung mit einem
Schlitzdetektor 34x (der in Fig. 5 gezeigt ist) verwendet
ist. Bei diesem bevorzugten Ausführungsbeispiel stellt der
Schlitzdetektor 34x einen typischen der Detektoren 24a bis
24h, die in Fig. 2 gezeigt sind, dar. Die selektiv transmit
tierten Kanalsignale, die durch die dispersiven Elemente er
zeugt werden, sind dispergierte Signale. Jedes dispersive
Element bildet ein zugeführtes Kanalsignal 23x innerhalb
eines vorbestimmten Wellenlängenbereichs λSUBx auf einen
räumlichen Ort in der physikalischen Punktgröße des opti
schen Strahls des dispergierten Signals entsprechend der
Wellenlänge λ des Kanalsignals 23x ab. Kanalsignale, die
Wellenlängen λ außerhalb des vorbestimmten Wellenlängenbe
reichs λSUBx aufweisen, werden durch das dispersive Element
reflektiert und zu den anderen dispersiven Elementen gelei
tet, die die Reihe von Wellenlängendiskriminatoren 22a bis
22h bilden. Das dispergierte Signal 25x von jedem dispersi
ven Element fällt auf den Schlitzdetektor 34x, der dem spe
ziellen dispersiven Element zugeordnet ist, ein. Die Fig. 4
und 5 zeigen die Entsprechung zwischen der Wellenlänge λ des
Komponentenkanalsignals 23x, die dem dispersiven Element zu
geführt wird, und dem räumlichen Ort auf dem zugeordneten
Schlitzdetektor 34x. Wellenlängenabweichungen Δλ des einfal
lenden Kanalsignals 23x von der vordefinierten Kanalwellen
länge λx werden aus dem Verhältnis der Ausgangsströme Ixa,
Ixb, die durch jede Hälfte des Schlitzdetektors 34x erzeugt
werden, erfaßt.
Die kombinierte Übertragungsfunktion des dispersiven Ele
ments und des zugeordneten Schlitzdetektors 34x ist kali
briert, um eine entsprechende Signalwellenlänge λ innerhalb
des Wellenlängenbereichs λSUBx auf ein Verhältnis der Aus
gangsströme Ixa, Ixb abzubilden. Die Abbildung wird durchge
führt, indem zuerst ein Kalibrierungssignal von einem ab
stimmbaren Laser oder einer anderen Lichtquelle (nicht ge
zeigt) zu jedem der dispersiven Elemente geleitet wird. Die
Wellenlänge λ des Kalibrierungssignals wird dann innerhalb
des vorbestimmten Wellenlängenbereiche λSUBx gewobbelt, wäh
rend das Verhältnis der Ausgangsströme Ixa, Ixb bei jeder
speziellen Wellenlänge des Kalibrierungssignals aufgezeich
net wird. Die Abbildung zwischen dem Verhältnis der Aus
gangsströme Ixa, Ixb und der Signalwellenlänge ermöglicht,
daß die Wellenlänge λ des zugeführten Kanalsignals 23x über
wacht wird. Die Abbildung wird für jedes der dispersiven
Elemente, die die Reihe von Wellenlängendiskriminatoren 22a
bis 22h bilden, und jeden der zugeordneten Schlitzdetektoren
durchgeführt.
Die dispersiven Elemente, die verwendet sind, um die Wellen
längendiskriminatoren 22a bis 22h gemäß dem zweiten bevor
zugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zu
bilden, sind Fabry-Perot-Filter oder andere Filtertypen, die
unter Verwendung bekannter Techniken aufgebaut sind. Bei
spielsweise umfaßt das dispersive Element eine Schichtstruk
tur mit einer Reihe von wechselnden Dünnfilmschichten aus
einem Material mit einem hohem Brechungsindex, beispielswei
se Titandioxid (TiO2) mit einem Brechungsindex von 2,235,
und aus einem Material mit einem geringen Brechungsindex,
beispielsweise Siliziumdioxid (SiO2) mit einem Brechungs
index von 1,44, die auf ein poliertes Glassubstrat aufge
bracht sind, oder auf das optisch durchlässige Bauglied 26
aufgebracht sind. Die erste Schicht, die Dünnfilmschicht be
nachbart zu dem Glassubstrat, besteht aus dem Material mit
dem hohen Brechungsindex, wobei eine Gesamtzahl von 70
Schichten existiert. Jede der Schichten besitzt eine ver
jüngte Dicke, die sich von einer Kante zu der anderen Kante
des dispersiven Elements ändert. Die dünne Kante von jeder
der wechselnden Schichten fällt mit einer gemeinsamen Kante
des dispersiven Elements zusammen, so daß der Querschnitt
der wechselnden Schichten keilförmig ist. An der Position
des dispersiven Elements, wo die physikalische Mitte des
optischen Strahls des zugeführten Kanalsignals einfällt, be
sitzt jede Schicht eine optische Viertelwellendicke bei der
vordefinierten Kanalwellenlänge λx mit Ausnahme der Schicht
18 und der Schicht 53, die bei der vordefinierten Kanalwel
lenlänge λx jeweils eine optische Halbwellendicke aufweisen.
Als ein Beispiel liefert ein typisches optisches Kommunika
tionssystem der Wellenlängenüberwachungseinrichtung 20 ein
Mehrwellenlängen-Lichtsignal, das einen optischen Strahl
durchmesser von einem Millimeter und einen Komponentenkanal
abstand von 100 Gigahertz aufweist. Der vorbestimmte Wellen
längenbereich λSUBx kann gewählt sein, um 0,4 Nanometer zu
betragen. Relativ zu der nominellen optischen Dicke jeder
Schicht des dispersiven Elements an der physikalischen Mitte
des einfallenden optischen Strahls ändert sich die optische
Dicke über die Breite des Strahls. Bei einem Versatz von 0,5
mm in einer Richtung von der Mitte des optischen Strahls ist
die optische Dicke jeder Schicht in dem dispersiven Element
eine Viertelwelle bei einer mittleren Wellenlänge, die
gleich der vordefinierten Kanalwellenlänge λx ist, plus 0,2
nm, mit Ausnahme der Schichten 18 und 53, die jeweils eine
optische Halbwellendicke bei einer mittleren Wellenlänge,
die gleich der vordefinierten Kanalwellenlänge λx ist, plus
0,2 nm aufweisen. Bei einem Versatz von 0,5 mm in der entge
gengesetzten Richtung von der Mitte des optischen Strahls
beträgt die optische Dicke jeder Schicht eine Viertelwelle
bei einer mittleren Wellenlänge, die gleich der vordefi
nierten Kanalwellenlänge λx ist, minus 0,2 nm, mit Ausnahme
der Schichten 18 und 53, die jeweils eine optische Halbwel
lendicke bei einer mittleren Wellenlänge, die gleich der
vordefinierten Kanalwellenlänge λx ist, minus 0,2 nm aufwei
sen.
Diese Filterbeschreibung zeigt ein Beispiel eines dispersi
ven Elements, das bei der Wellenlängenüberwachungsvorrich
tung 20 verwendet ist. Andere Filtertypen oder optische Ele
mente können aufgebaut sein, um selektiv optische Signale
innerhalb eines vorbestimmten Wellenlängenbereichs λSUBx zu
transmittieren und optische Signale außerhalb des vorbe
stimmten Wellenlängenbereichs λSUBx zu reflektieren.
Claims (10)
1. Wellenlängenüberwachungsvorrichtung (20) für Kanalsi
gnale (23a bis 23h) mit vordefinierten Kanalwellenlän
gen in einem Mehrwellenlängen-Lichtsignal, mit folgen
den Merkmalen:
einem optisch durchlässigen Bauglied (26), das das Mehrwellenlängen-Lichtsignal (21) empfängt;
einer Reihe von Wellenlängendiskriminatoren (22a bis 22h), wobei jeder Wellenlängendiskriminator in der Rei he entsprechend der Wellenlängenabweichung des vorbe stimmten Kanalsignals von der vordefinierten Kanalwel lenlänge des vorbestimmten Kanalsignals ein vorbestimm tes der Kanalsignale (23a bis 23h) selektiv transmit tiert, um ein selektiv transmittiertes Signal (25a bis 25h) zu erzeugen, und die anderen der Kanalsignale re flektiert, wobei die Reihe von Wellenlängendiskrimina toren (23a bis 23h) auf dem optisch durchlässigen Bau glied (26) angeordnet ist, um die reflektierten Kanal signale zu aufeinanderfolgenden Wellenlängendiskrimi natoren (22a bis 22h) in der Reihe zu kaskadieren; und
einer Reihe von Detektoren (24a bis 24h), wobei jeder Detektor in der Reihe das selektiv transmittierte Signal von einem entsprechenden der Wellenlängendiskrimi natoren empfängt und ansprechend auf die Stärke des se lektiv transmittierten Signals ein Ausgangssignal (Ia bis Ih) erzeugt, wobei das Ausgangssignal kalibriert ist, um die Wellenlängenabweichung des vorbestimmten Kanalsignals von der vordefinierten Wellenlänge des vorbestimmten Kanalsignals (23a bis 23h) anzuzeigen.
einem optisch durchlässigen Bauglied (26), das das Mehrwellenlängen-Lichtsignal (21) empfängt;
einer Reihe von Wellenlängendiskriminatoren (22a bis 22h), wobei jeder Wellenlängendiskriminator in der Rei he entsprechend der Wellenlängenabweichung des vorbe stimmten Kanalsignals von der vordefinierten Kanalwel lenlänge des vorbestimmten Kanalsignals ein vorbestimm tes der Kanalsignale (23a bis 23h) selektiv transmit tiert, um ein selektiv transmittiertes Signal (25a bis 25h) zu erzeugen, und die anderen der Kanalsignale re flektiert, wobei die Reihe von Wellenlängendiskrimina toren (23a bis 23h) auf dem optisch durchlässigen Bau glied (26) angeordnet ist, um die reflektierten Kanal signale zu aufeinanderfolgenden Wellenlängendiskrimi natoren (22a bis 22h) in der Reihe zu kaskadieren; und
einer Reihe von Detektoren (24a bis 24h), wobei jeder Detektor in der Reihe das selektiv transmittierte Signal von einem entsprechenden der Wellenlängendiskrimi natoren empfängt und ansprechend auf die Stärke des se lektiv transmittierten Signals ein Ausgangssignal (Ia bis Ih) erzeugt, wobei das Ausgangssignal kalibriert ist, um die Wellenlängenabweichung des vorbestimmten Kanalsignals von der vordefinierten Wellenlänge des vorbestimmten Kanalsignals (23a bis 23h) anzuzeigen.
2. Wellenlängenüberwachungsvorrichtung (20) gemäß Anspruch 1,
bei der jeder Wellenlängendiskriminator (22a bis
22h) ein optisches Filter aufweist, das eine optische
Transmission besitzt, die sich entsprechend einer Wel
lenlängenabweichung (Δλ) eines vorbestimmten Kanal
signals (23a bis 23h) von der vordefinierten Wellenlän
ge (λ) des vorbestimmten Kanalsignals (23x) innerhalb
eines vorbestimmten Wellenlängenbereichs (λSUBx) mono
ton ändert.
3. Wellenlängenüberwachungsvorrichtung (20) gemäß Anspruch
1, bei der jeder Wellenlängendiskriminator in der Reihe
von Wellenlängendiskriminatoren (22a bis 22h) ein dis
persives Element aufweist, und bei der jeder Detektor
in der Reihe von Detektoren (24a bis 24h) einen
Schlitzdetektor (34) aufweist, wobei jedes dispersive
Element eine räumliche Position des Schlitzdetektors
(34) entsprechend der Wellenlängenabweichung des vorbe
stimmten Kanalsignals (23x) von der vordefinierten Wel
lenlänge des vorbestimmten Kanalsignals innerhalb eines
vorbestimmten Wellenlängenbereichs (λSUBx) beleuchtet.
4. Wellenlängenüberwachungsvorrichtung (20) gemäß Anspruch
3, bei der jeder Schlitzdetektor (34) zwei Hälften auf
weist, wobei jede der Hälften durch das empfangene se
lektiv transmittierte Signal gleich beleuchtet wird,
wenn die Wellenlänge des vorbestimmten Kanalsignals
(23x) gleich der vordefinierten Wellenlänge ist.
5. Wellenlängenüberwachungsvorrichtung (20) gemäß Anspruch
4, bei der die zwei Hälften ungleich beleuchtet werden,
wenn die Wellenlänge des Komponentensignals von der
vordefinierten Wellenlänge (λ) abweicht.
6. Verfahren zur Wellenlängenüberwachung für Kanalsignale
(23a bis 23h) in einem Mehrwellenlängen-Lichtsignal
(21), wobei jedes Kanalsignal eine vordefinierte Kanal
wellenlänge (λ) und eine zugeordnete Leistung aufweist,
wobei das Verfahren folgende Schritte aufweist:
Empfangen des Mehrwellenlängen-Lichtsignals (21);
Kaskadieren des Mehrwellenlängen-Lichtsignals (21) zwi schen einer Reihe von Wellenlängendiskriminatoren (22a bis 22h);
selektives Transmittieren eines vorbestimmten der Ka nalsignale (23a bis 23h) entsprechend der Wellenlängen abweichung (Δλ) des vorbestimmten Kanalsignals (23x) von der vordefinierten Wellenlänge des vorbestimmten Kanalsignals (23x) an einem entsprechenden der Wellen längendiskriminatoren (22a bis 22h) in der Reihe;
Reflektieren der anderen Kanalsignale an dem entspre chenden der Wellenlängendiskriminatoren (22a bis 22h);
Erfassen des selektiv transmittierten Kanalsignals (23x) und Erzeugen eines Ausgangssignals (Ia bis Ih) ansprechend auf das selektiv transmittierte Signal;
Normieren des Ausgangssignals entsprechend der Leistung des vorbestimmten Kanalsignals (23x); und
Abbilden des normierten Ausgangssignals auf Wellenlän genabweichungen (Δλ) des vorbestimmten Kanalsignals (23x) von der vordefinierten Wellenlänge (λx).
Empfangen des Mehrwellenlängen-Lichtsignals (21);
Kaskadieren des Mehrwellenlängen-Lichtsignals (21) zwi schen einer Reihe von Wellenlängendiskriminatoren (22a bis 22h);
selektives Transmittieren eines vorbestimmten der Ka nalsignale (23a bis 23h) entsprechend der Wellenlängen abweichung (Δλ) des vorbestimmten Kanalsignals (23x) von der vordefinierten Wellenlänge des vorbestimmten Kanalsignals (23x) an einem entsprechenden der Wellen längendiskriminatoren (22a bis 22h) in der Reihe;
Reflektieren der anderen Kanalsignale an dem entspre chenden der Wellenlängendiskriminatoren (22a bis 22h);
Erfassen des selektiv transmittierten Kanalsignals (23x) und Erzeugen eines Ausgangssignals (Ia bis Ih) ansprechend auf das selektiv transmittierte Signal;
Normieren des Ausgangssignals entsprechend der Leistung des vorbestimmten Kanalsignals (23x); und
Abbilden des normierten Ausgangssignals auf Wellenlän genabweichungen (Δλ) des vorbestimmten Kanalsignals (23x) von der vordefinierten Wellenlänge (λx).
7. Verfahren gemäß Anspruch 6, bei dem der Schritt des se
lektiven Transmittierens eines vorbestimmten der Kanal
signale (23a bis 23h) das monotone Variieren der opti
schen Transmission des vorbestimmten Kanalsignals ent
sprechend der Wellenlängenabweichung (Δλ) des vorbe
stimmten Kanalsignals (23x) von der vordefinierten Wel
lenlänge (λ) des vorbestimmten Kanalsignals umfaßt, und
bei dem das Ausgangssignal auf die Stärke des selektiv
transmittierten Kanalsignals (23x) anspricht.
8. verfahren gemäß Anspruch 7, bei dem der Schritt des Ab
bildens des normierten Ausgangssignals das Zuführen ei
nes Kalibrierungssignals zu jedem Wellenlängendiskrimi
nator (22a bis 22h) in der Reihe, das Wobbeln der Wel
lenlänge des Kalibrierungssignals innerhalb eines vor
bestimmten Wellenlängenbereichs (λSUBx) und das -Auf
zeichnen des Ausgangssignals (Ix) bei mehreren Wellen
längen des Kalibrierungssignals umfaßt.
9. Verfahren gemäß Anspruch 6, bei dem der Schritt des se
lektiven Transmittierens eines vorbestimmten der Kanal
signale (23x) das Dispergieren des vorbestimmten der
Kanalsignale (23x) auf einen räumlichen Ort entspre
chend der Wellenlängenabweichung (Δλ) des vorbestimmten
Kanalsignals (23x) von der vordefinierten Wellenlänge
(λ) des vorbestimmten Kanalsignals (23x) umfaßt.
10. Verfahren gemäß Anspruch 9, bei dem das Ausgangssignal
(Ix) auf den räumlichen Ort des dispergierten Signals
anspricht.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/969,812 US5850292A (en) | 1997-11-13 | 1997-11-13 | Wavelength monitor for optical signals |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19830808A1 true DE19830808A1 (de) | 1999-06-02 |
DE19830808C2 DE19830808C2 (de) | 2001-02-08 |
Family
ID=25516031
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19830808A Expired - Fee Related DE19830808C2 (de) | 1997-11-13 | 1998-07-09 | Wellenlängenüberwachungsvorrichtung für optische Signale |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5850292A (de) |
JP (1) | JPH11264763A (de) |
DE (1) | DE19830808C2 (de) |
GB (1) | GB2333409B (de) |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5995255A (en) * | 1997-10-28 | 1999-11-30 | Lucent Technologies Inc. | Concatenated fiber grating optical monitor |
US6075632A (en) * | 1997-11-26 | 2000-06-13 | Hewlett-Packard Company | Optical noise monitor |
KR100322124B1 (ko) | 1999-01-14 | 2002-02-04 | 윤종용 | 광신호 모니터링 장치 및 방법 |
US6486984B1 (en) | 1999-06-07 | 2002-11-26 | Agilent Technologies, Inc. | Wavelength monitor using hybrid approach |
US6362888B1 (en) * | 1999-12-23 | 2002-03-26 | Lj Laboratories, L.L.C. | Spectrometer assembly |
US6577399B1 (en) | 2000-03-24 | 2003-06-10 | Triquing Technology Holding Co. | Optical waveguide based power and wavelength monitor |
US6377730B1 (en) | 2000-03-24 | 2002-04-23 | Agere Systems Guardian Corp. | Waveguide based component optical signal power and wavelength detector |
US6618129B2 (en) | 2000-04-07 | 2003-09-09 | Finisar Corporation | Technique for combined spectral, power, and polarization monitoring |
US6738140B2 (en) | 2000-09-19 | 2004-05-18 | Lambda Control, Inc. | Wavelength detector and method of detecting wavelength of an optical signal |
US6486950B1 (en) | 2000-12-05 | 2002-11-26 | Jds Uniphase Corporation | Multi-channel wavelength monitor |
US6603781B1 (en) * | 2001-01-19 | 2003-08-05 | Siros Technologies, Inc. | Multi-wavelength transmitter |
US6628696B2 (en) | 2001-01-19 | 2003-09-30 | Siros Technologies, Inc. | Multi-channel DWDM transmitter based on a vertical cavity surface emitting laser |
US6570894B2 (en) | 2001-01-30 | 2003-05-27 | Tektronix, Inc. | Real-time wavelength calibration for swept lasers |
US6785002B2 (en) * | 2001-03-16 | 2004-08-31 | Optical Coating Laboratory, Inc. | Variable filter-based optical spectrometer |
GB2382244A (en) * | 2001-11-15 | 2003-05-21 | Marconi Optical Components Ltd | Add-drop multiplexer with MEMs (Micro-Electro-Mechanical) tunable filters |
US7603045B2 (en) * | 2003-08-28 | 2009-10-13 | Fujitsu Limited | Method and system for automatic feedback control for fine tuning a delay interferometer |
US7619727B2 (en) * | 2006-06-07 | 2009-11-17 | Raybit Systems Inc. | Apparatus for detecting wavelength and measuring optical power |
US8447182B2 (en) * | 2010-09-30 | 2013-05-21 | Fujitsu Limited | Multi-wavelength transponder with wavelength division multiplexing modules |
US9746412B2 (en) | 2012-05-30 | 2017-08-29 | Iris International, Inc. | Flow cytometer |
US9692522B2 (en) * | 2015-04-15 | 2017-06-27 | Cisco Technology, Inc. | Multi-channel optical receiver or transmitter with a ball lens |
CN105717585A (zh) * | 2016-03-31 | 2016-06-29 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 一种树形结构光接收组件 |
KR102364854B1 (ko) * | 2017-07-26 | 2022-02-18 | 삼성전자주식회사 | 광 필터를 포함하는 광 분광기 |
CA3107172C (en) | 2020-01-30 | 2024-02-13 | Thorlabs Quantum Electronics, Inc. | Tunable laser assembly |
CA3111302A1 (en) | 2020-03-09 | 2021-09-09 | Thorlabs Quantum Electronics, Inc. | Tunable laser assembly and method of control |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54103055A (en) * | 1978-01-31 | 1979-08-14 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Spectrometer |
IT1109751B (it) * | 1978-01-31 | 1985-12-23 | Nippon Telegraph & Telephone | Moltiplatore e demultiplatore ottico |
IT1178484B (it) * | 1984-06-07 | 1987-09-09 | Italtel Spa | Demultiplatore (multiplatore) per sistemi trasmissivi in fibra ottica |
US4768849A (en) * | 1986-09-15 | 1988-09-06 | Hicks Jr John W | Filter tap for optical communications systems |
JPH02277008A (ja) * | 1989-04-19 | 1990-11-13 | Fujitsu Ltd | 波長多重光伝送装置 |
US5144498A (en) * | 1990-02-14 | 1992-09-01 | Hewlett-Packard Company | Variable wavelength light filter and sensor system |
JP3284659B2 (ja) * | 1993-04-09 | 2002-05-20 | 株式会社フジクラ | 波長多重光通信用光スイッチング装置 |
US5617234A (en) * | 1994-09-26 | 1997-04-01 | Nippon Telegraph & Telephone Corporation | Multiwavelength simultaneous monitoring circuit employing arrayed-waveguide grating |
US5583683A (en) * | 1995-06-15 | 1996-12-10 | Optical Corporation Of America | Optical multiplexing device |
-
1997
- 1997-11-13 US US08/969,812 patent/US5850292A/en not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-07-09 DE DE19830808A patent/DE19830808C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1998-11-03 GB GB9824036A patent/GB2333409B/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-11-12 JP JP10338445A patent/JPH11264763A/ja not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH11264763A (ja) | 1999-09-28 |
GB2333409B (en) | 2002-10-23 |
GB2333409A (en) | 1999-07-21 |
DE19830808C2 (de) | 2001-02-08 |
US5850292A (en) | 1998-12-15 |
GB9824036D0 (en) | 1998-12-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19830808C2 (de) | Wellenlängenüberwachungsvorrichtung für optische Signale | |
DE19754910C2 (de) | Wellenlängendetektion an Faser-Bragg-Gitter-Sensoren | |
DE69937014T2 (de) | Lichtwellenleiterverzweigung mit Reflektor | |
DE60103482T2 (de) | Lichtinterferenz | |
DE69833232T2 (de) | Vorrichtung zur Erzeugung optischer Pakete mit scheibenförmigem abstimmbarem optischem Filter | |
DE69732745T2 (de) | Wellenleiter-Schaltkreis mit einer die optischen Eigenschaften kontrollierenden Platte, Herstellungsverfahren dafür, und Gerät zum Herstellen der die optischen Eigenschaften kontrollierenden Platte | |
DE60124834T2 (de) | Licht emittierendes modul | |
DE60133603T2 (de) | Planares Wellenleiterbauelement mit flachem Durchlassbereich und steilen Flanken | |
DE69628624T2 (de) | OTDR-Gerät | |
DE3017509C2 (de) | Halbleiterlaservorrichtung | |
DE602004007432T2 (de) | Halbleiterlaser mit externem Resonator enthaltend ein Etalon und Verfahren zur Herstellung desselben | |
DE3409207A1 (de) | Optischer sensor | |
EP0970550B1 (de) | Lasermodul mit wellenlängenstabilisierung | |
EP1017990A2 (de) | Analyseverfahren unter verwendung von porösem silicium zur erfassung einer substanz oder der konzentration einer substanz in lösungen sowie eine analyseeinrichtung für ein solches verfahren | |
DE60309783T2 (de) | Abstimmungsmethode für optischen Schaltkreis mit kaskadierten Mach-Zehnder-Interferometern | |
DE60033874T2 (de) | Verfahren zur Erzeugung von Licht und Lichtquelle | |
EP1995576B1 (de) | Anordnung für die Detektion von Stoffen und/oder Stoffkonzentrationen mit durchstimmbarem Fabry-Perot-Interferometer | |
DE60012704T2 (de) | Abstimmbarer laser mit einer integrierten vorrichtung zur wellenlängenüberwachung und zugehöriges betriebsverfahren | |
DE102007033567A1 (de) | Phasenschiebe-Einrichtung und Laserresonator zur Erzeugung radial oder azimutal polarisierter Laserstrahlung | |
EP0101078A2 (de) | Sende- und Empfangseinrichtung für ein faseroptisches Sensorsystem | |
JP3177635B2 (ja) | 周波数標準器および選択標準周波数生成方法 | |
DE10257648A1 (de) | Abstimmbarer Filter für die Anwendung in optischen Netzwerken | |
EP0930485A2 (de) | Vorrichtung zur Erfassung oder Erzeugung optischer Signale | |
DE102008058017A1 (de) | Wellenlängenmesser und zugehöriges Verfahren | |
EP3414804B1 (de) | Laseranordnung, verfahren zum steuern eines lasers und messverfahren |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: H04B 10/08 |
|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: AGILENT TECHNOLOGIES, INC. (N.D.GES.D.STAATES DELA |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |