DE19821128C1 - Kontaktelement - Google Patents

Kontaktelement

Info

Publication number
DE19821128C1
DE19821128C1 DE1998121128 DE19821128A DE19821128C1 DE 19821128 C1 DE19821128 C1 DE 19821128C1 DE 1998121128 DE1998121128 DE 1998121128 DE 19821128 A DE19821128 A DE 19821128A DE 19821128 C1 DE19821128 C1 DE 19821128C1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
contact
forming
contact element
spring
current path
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE1998121128
Other languages
English (en)
Inventor
Roland Stoehr
Michael Elsaesser
Ladislaus Ruppert
Rainer Schmid
Klaus Giringer
Ulrich Gauss
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Feinmetall GmbH
Original Assignee
Feinmetall GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Feinmetall GmbH filed Critical Feinmetall GmbH
Priority to DE1998121128 priority Critical patent/DE19821128C1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE19821128C1 publication Critical patent/DE19821128C1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic

Description

Die Erfindung betrifft ein Kontaktelement nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Ein solches Kontaktelement ist aus DE-GM 76 37 762 bekannt. Bei diesem bekannten Kontaktelement ist ein den Stromweg bildendes Teil von einer Schraubenfeder rings umgeben, die eine dem Kontaktierungsdruck entgegenwirkende Kraft auf eine radiale Schulter des den Stromweg bildenden Teils ausübt.
Das Kontaktelement ist daher in radialer Richtung weit ausladend.
Zum Testen von Mikrochips auf deren Funktionstauglichkeit werden als Sonden ausgebildete Kontaktelemente eingesetzt, beispielsweise bei sogenannten Nadelkarten oder Knickdrahtkarten. Diese Karten halten eine Vielzahl von Kontaktelementen in einer gewünschten Anordnung derart, daß sie auf einen Prüfling, beispielsweise auf die Anschlußstellen eines Mikrochips, aufgedrückt werden können. Die jeweilige Federeinrichtung der Kontaktelemente sorgt dafür, daß zur Anschlußstelle ein sicherer Berührungskontakt erfolgt. Das hintere Ende jedes Kontaktelements ist mit einer Testeinrichtung, bei­ spielsweise über flexible Anschlußleitungen oder über eine Adapterkarte verbunden, so daß mittels der Testeinrichtung Prüfströme über die Kontaktele­ mente dem Prüfling zugeführt werden können. Hier­ durch läßt sich testen, ob der Prüfling elektrisch einwandfrei ist, das heißt, keine Kurzschlüsse aufweist oder Leitungsunterbrechungen.
Den Kontaktelementen kommt eine immer wichtiger werdende Rolle zu, da die sich schnell verändernden Mikrochips immer höhere Herausforderungen an die Testkontaktierung stellen. Dies liegt im wesentli­ chen daran, daß die Abstände zwischen den Anschluß­ punkten des Prüflings immer kleiner werden (bis 0,05 mm), so daß entsprechend geringe Dimensionen der Kontaktelemente erforderlich sind. Derartig kleine Abmessungen sind mit dem aus DE-GM 76 37 762 bekannten Meßspitzenhalter nur schwerlich zu realisieren. Es besteht ferner immer mehr die Tendenz, mehrere Prüflinge, also zum Beispiel mehrere Chips gleichzeitig, zu testen, so daß die Anzahl der gleichzeitig zum Einsatz kommenden Kontaktelemente entsprechend steigt, wodurch dann aber auch die Anforderungen hinsichtlich der Zuverlässigkeit und Reparaturfähigkeit der Kontaktelemente wesentlich höher angesetzt werden. Schließlich besteht eine weitere Herausforderung darin, Chips bei erhöhten Temperaturen (bis 150°C) zu testen, das heißt, auch die Kontaktelemente müs­ sen diese Temperatur problemlos bestehen.
Bekannt ist es bei Nadelkarten beziehungsweise Knickdrahtkarten, wie zum Beispiel in DE 90 04 562 U1 gezeigt, Kontaktelemente einzusetzen, die aus einem elektrisch leitfähigen Werkstoff bestehen. Dieser Werkstoff besitzt gleichzeitig Federeigenschaften, so daß er zur Kontaktierung des Prüflings durch eine Spannplatte seitlich ausgelenkt werden kann und bei Freigabe der Spannplatte in dem Bestreben, sich geradezurichten, an Kontakte eines Prüflings drückt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Kon­ taktelement der eingangs genannten Art zu schaffen, das mit kleinen seitlichen Abmessungen einfach herstellbar ist, und das für eine zuverlässige und sichere Kontaktierung verbesserte Eigenschaften aufweist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Kontaktelement nach Anspruch 1 gelöst.
Aufgrund der Wahl zweier unterschiedlicher Werkstoffe für ein Kontaktelement erfolgt eine "Arbeitsteilung" derart, daß einer dieser Werkstoffe so gewählt ist, daß er mit sehr guten elektrischen Eigenschaften den Stromweg durch das Kontaktelement bildet und daß der andere Werkstoff die Federeinrichtung bildet, also dazu dient, die Kontaktkraft aufzunehmen. Das erfindungsgemäße Kontaktelement geht hinsichtlich seiner Eigenschaften elektrische Leitfähigkeit und Federwirkung somit keine Kompromisse ein, da für jede dieser beiden Parameter ein optimaler Werkstoff gewählt werden kann. Demgemäß ist es bei­ spielsweise möglich, für den Stromweg den Werkstoff Silber und/oder Kupfer zu wählen und zur Realisie­ rung der Federeigenschaften Federstahl, Wolfram oder Glasfaser einzusetzen.
Die Teile, die die Federeinrichtung und den Stromweg bilden, sind an mindestens einer Stelle miteinander verbunden. Die Verbindung kann insbesondere durch Schweißung, Lötung, Klebung und/oder durch eine mechanische Halterung aneinander gebildet sein.
Das die Federeinrichtung bildende Teil kann quer zur Längsrichtung aufgrund von seitlicher Durchbiegung ausfedern.
Die den Stromweg beziehungsweise die Federeinrichtung bildenden Teile werden als Leitsonde beziehungsweise Federsonde bezeichnet.
Vorzugsweise ist die Anordnung derart gewählt, daß ein nicht der Verbindung angehörender Bereich der Federsonde die Federeinrichtung bildet. Durch die nicht bestehende Verbindung zur Leitsonde kann so­ mit die Federsonde einen entsprechenden Federweg realisieren, also elastisch verformt werden. Diese elastische Verformung findet nicht beim Leitelement statt.
Es ist vorteilhaft, wenn ein Ende der Leitsonde ein Kontaktelement, insbesondere eine Kontaktspitze, zur Durchführung des Berührungskontakts bildet. In einem solchen Falle wird somit das elektrisch hoch­ leitfähige Material auch für das Aufsetzen auf den Prüfling verwendet. Je nach gewähltem Material kann dies jedoch zu Abnutzungserscheinungen führen. In einem solchen Falle ist vorgesehen, daß an einem Ende der Leitsonde ein separates Kontaktelement aus einem elektrisch leitfähigen, mechanisch wider­ standsfähigen Material elektrisch leitend befestigt ist. Mit diesem separaten, elektrisch aber mit der Leitsonde verbundenen Kontaktelement wird dann der Berührungskontakt zum Prüfling hergestellt. Vor­ zugsweise handelt es sich bei dem Kontaktelement nur um ein an das vordere Ende der Leitsonde ange­ setztes kurzes Bauteil, beispielsweise eine Spitze oder dergleichen.
Sofern die Federsonde elektrisch leitfähig ist, ist es möglich, daß diese die Kontaktspitze bildet und mit der Leitsonde elektrisch leitend verbunden ist. Bei einer derartigen Ausgestaltung ragt somit die Federsonde in Richtung auf den Prüfling über die Leitsonde hinaus und übernimmt den Berührungskon­ takt zum Prüfling. Gleich anschließend an diese Be­ rührungskontaktspitze befindet sich die elektrisch leitfähige Verbindung zur Leitsonde, um einen mög­ lichst geringen elektrischen Widerstand zu erhal­ ten. Ein vom Prüfling kommender Prüfstrom durch­ setzt daher zunächst einen sehr kurzen Abschnitt der Federsonde, wechselt dann über die Verbindungs­ stelle zur Leitsonde über und wird mittels der Leitsonde und geeigneten weiteren Verbindungsein­ richtungen der Prüfeinrichtung zugeführt.
Insbesondere ist vorgesehen, daß in an das Kontakt­ element anschließenden Bereich die Verbindung zwi­ schen Leitsonde und Federsonde über eine Teillänge der Länge der Federsonde ausgebildet ist. Die üb­ rige Länge der Federsonde ist "frei", das heißt nicht mit der Leitsonde verbunden, um die Federein­ richtung realisieren zu können.
Schließlich ist es vorteilhaft, wenn das Kontakte­ lement in einem Aufnahmeschacht eines Isolierkör­ pers oder dergleichen angeordnet ist, wobei im Be­ reich der Verbindung der Aufnahmeschacht eine Quer­ schnittskonfiguration aufweist, die sowohl die Leitsonde als auch die Federsonde aufnimmt und im anschließenden Bereich eine Querschnittskonfigura­ tion aufweist, die die Leitsonde und die Feder­ sonde, letztere mit seitlichem Auslenkspiel, auf­ nimmt sowie mit in diesem anschließenden Bereich eine Stützfläche für eine Abstützung des entspre­ chenden Endes der Federsonde aufweist und wobei in sich daran anschließenden Bereich eine Quer­ schnittskonfiguration besitzt, die die Leitsonde aufnimmt. Auf diese Art und Weise ist das Kontakte­ lement längsverschieblich innerhalb des Aufnahme­ schachtes gelagert, so daß es aufgrund des elektri­ schen Berührungskontakts mit dem Prüfling zurück­ weichen kann. Mithin wird bei einem solchen Zurück­ weichen die Leitsonde innerhalb des Aufnahme­ schachtes verlagert, während sich die Federsonde mit ihrem dem Prüfling abgewandten Ende an der Stützfläche abstützt und auf diese Art und Weise seitlich auslenkt und dadurch die Federkraft der sie bildenden Federeinrichtung entfaltet.
Die Zeichnung veranschaulicht die Erfindung anhand eines Ausführungsbeispiels. Gezeigt wird ein aus einer Vielzahl von Platten bestehender Isolierkör­ per mit einem Aufnahmeschacht, in dem ein Kontakte­ lement angeordnet ist, das einen Prüfling kontak­ tiert.
Die Zeichnung veranschaulicht einen Ausschnitt aus einem Prüfkopf 1, einer nicht näher dargestellten Prüfeinrichtung zum elektronischen Prüfen von Prüf­ lingen, wie beispielsweise Mikrochips. Der Prüfkopf 1 weist mehrere, aufeinanderliegende, aus elektri­ schem Isoliermaterial bestehende Lagerplatten 2 auf, die jeweils von einem Durchbruch 3 durchsetzt sind. Die Durchbrüche 3 bilden gemeinsam einen Auf­ nahmeschacht 4 aus, der längsverschieblich ein Kon­ taktelement 5 aufnimmt. Das Kontaktelement 5 dient der Kontaktierung eines Prüflings 6, der beispiels­ weise als Mikrochip 7 ausgebildet ist und elektri­ sche Kontaktflächen 8 aufweist. Zur elektrischen Prüfung dieses Prüflings 6 wird der Prüfkopf 1 in Richtung auf den Prüfling 6 abgesenkt, wodurch das Kontaktelement 5 mit seiner ein Kontaktteil 9 bil­ denden Kontaktspitze 10 auf die Kontaktfläche 8 des Prüflings 6 aufsetzt und auf diese Art und Weise ein Berührungskontakt hergestellt wird. Hierdurch ist es möglich, mittels einer an der Kontaktspitze 10 gegenüberliegenden Ende 11 des Kontaktelements 5 angeschlossenen, nicht dargestellten Prüfeinrich­ tung einen Prüfstrom dem Prüfling 6 zuzuführen, um diesen auf elektrische Funktionsfähigkeit zu prü­ fen. Der Einfachheit halber ist in der Figur ledig­ lich ein einziges Kontaktelement 5 dargestellt. In der Praxis liegen diese Kontaktelemente dicht an dicht, um eine Vielzahl von Kontaktflächen 8 gleichzeitig prüfen zu können. Je nach Prüfling 6 können die Abstände der einzelnen Kontaktflächen bis minimal 0,05 mm betragen.
Zwischen der - von unten her gesehen - zweiten und dritten Lagerplatte 2 ist ein Luftspalt 21 der Dicke e ausgebildet. Der Luftspalt 21 ermöglicht beim Kontaktieren, daß die unteren beiden Lager­ platten 2 - unter Verringerung des Luftspaltes 21 - durch Beaufschlagung des Prüflings 6 angehoben wer­ den. Hierzu sind die beiden unteren Lagerplatten 2 gegenüber den übrigen Lagerplatten 2 verschieblich mittels nicht näher dargestellter Mittel geführt. Die unteren beiden Lagerplatten 2 bewirken durch die Führung des Kontaktelements 5 in ihren Durch­ brüchen 3, daß auch bei leichten Querbewegungen des Prüflings das Kontaktteil 9 nicht mit Querkräften beaufschlagt wird, die zu Verbiegungen führen könn­ ten.
Das Kontaktelement 5 weist im einzelnen folgenden Aufbau auf. Es besteht aus einer, einen elektri­ schen Stromweg 12 bildenden, Leitsonde 13 sowie aus einer eine Federeinrichtung 14 bildenden Federsonde 15. Leitsonde 13 und Federsonde 15 verlaufen im we­ sentlichen parallel zueinander, wobei die Feder­ sonde 15 eine geringere Länge als die Leitsonde 13 aufweist. Mithin überragt das Kontaktteil 9 das entsprechende Ende 16 der Federsonde 15 und auch das Ende 11 des Kontaktelements 5, das von der Leitsonde 13 gebildet wird, überragt das zugehörige Ende 17 der Federsonde 15.
Die Leitsonde 13 besteht aus einem Werkstoff sehr guter elektrischer Leitfähigkeit, um einen mög­ lichst niederohmigen Stromweg zu bilden. Aus der Figur ist ersichtlich, daß das Kontaktteil 9, das als Kontaktspitze 10 ausgebildet ist, Teil der Leitsonde 13 ist, somit aus dem gleichen Material wie die Leitsonde 13 besteht, das heißt, es liegt eine einstückige Bauweise vor. Das Ende 16 der Fe­ dersonde 15 erstreckt sich nicht bis zur vorderen Spitze des Kontaktteils 9, sondern hält einen ge­ ringen Abstand s ein, wodurch sichergestellt ist, daß der Berührungskontakt mit dem Prüfling 6 nur mit der Leitsonde 13 erfolgt. Die Federsonde 15 be­ steht aus einem Werkstoff mit sehr guten Federei­ genschaften, um die Federeinrichtung 14 bilden zu können. Es ist möglich, ein Material zu wählen, das neben den guten mechanischen Federeigenschaften auch eine hinreichende elektrische Leitfähigkeit besitzt oder aber einen Nichtleiter darstellt. Eine eher geringe elektrische Leitfähigkeit liegt vor, wenn als Werkstoff Federstahl gewählt wird. Wird Wolfram eingesetzt, so liegen gegenüber Federstahl bessere elektrische Werte vor. Wird als Material Glasfaser gewählt, so liegt ein Nichtleiter vor, der jedoch ausgezeichnete mechanische Federeigen­ schaften aufweist.
Leitsonde 13 und Federsonde 15 sind im Bereich ei­ ner Verbindung 18 mechanisch miteinander gekoppelt. Diese Verbindung kann durch Schweißung, Lötung und/oder durch mechanische Halterung erzeugt sein. Aus der Figur ist zu entnehmen, daß diese Verbin­ dung 18 sich über eine Teillänge t erstreckt, wobei diese Teillänge t am Ende 16 der Federsonde 15 be­ ginnt. Im Anschluß an die Verbindung 18 folgt ein Abschnitt a des Kontaktelements 5, in dem keine me­ chanische Verbindung zwischen der Leitsonde 13 und der Federsonde 15 besteht. Im Abschnitt a kann - zur Realisierung der Federeinrichtung 14 - die Feder­ sonde 15 seitlich aufgrund der Kontaktierungskraft zum Prüfling 6 ausweichen, so daß sie - wie der Fi­ gur zu entnehmen ist - wellenförmig gestaucht wird.
Die Durchbrüche 3 der einzelnen Lagerplatten 2 sind hinsichtlich ihrer Querschnittskonfigurationen der­ art gestaltet, daß zur Aufnahme der Verbindung 18 sowie des Kontaktteils 9 ein Querschnitt zur Verfü­ gung steht, in dem sowohl die Leitsonde 13 als auch die Federsonde 15 mit geringem seitlichen Spiel Platz findet. Daran schließt sich ein Bereich an, der dem bereits genannten Abschnitt a entspricht, in dem die Durchbrüche 3 eine Querschnittskonfigu­ ration besitzen, um sowohl die Leitsonde 13 als auch die Federsonde 15 aufzunehmen, letztere jedoch mit einem erheblichen Spiel, das heißt, die Breite b der für die Aufnahme der Federsonde 15 vorgese­ henen Zone ist erheblich größer als die Dicke d der Federsonde 15. Hierdurch ist es möglich, daß die Federsonde 15 bei einem Kontaktierungsvorgang wel­ lenförmig seitlich ausweichen kann. Im Bereich des Endes 11 ist mindestens eine Lagerplatte 2 vorgese­ hen, die eine Querschnittskonfiguration ihres Durchbruchs 3 derart aufweist, daß dort die Leit­ sonde 13 nur mit plan anliegender Federsonde 15 passieren kann. Hierdurch ist es möglich, beim Be­ stücken des Prüfkopfs 1 mit dem Kontaktelement 5 dieses in den entsprechend ausgebildeten Durchbruch 3 der oberen Lagerplatte 2 einzuschieben. Die Fe­ dersonde 15 ist derart im Bereich ihres Endes 17 vorgespannt, daß in der Endstellung der Einschubbe­ wegung ihre Tendenz besteht, sich von der Leitsonde 13 wegzubiegen. Da der Durchbruch 3 in der oberen Lagerplatte 2 insofern eine kleinere Querschnitts­ konfiguration aufweist als die Durchbrüche 3 der übrigen Lagerplatten 2, wird an der Unterseite der oberen Lagerplatte 2 eine Stützfläche 19 ausgebil­ dete, an der sich - nach dem Einschubvorgang - das obere Ende 17 der Federsonde 15 abstützt. Die er­ wähnte Vorspannung der Federsonde 15 verhindert, daß beim Kontaktieren des Prüflings 6 die Feder­ sonde 15 in den Durchbruch 3 der oberen Lagerplatte 2 eintritt. Mithin stellt die Stützfläche 19 ein Widerlager dar, das dafür sorgt, daß das Kontakt­ element 5 durch die Federeinrichtung 14 in Richtung des Pfeiles 20 vorgespannt ist, sobald die Feder­ einrichtung 14 Wirkung entfaltet.
Alternativ zu dem in den Querschnittskonfiguratio­ nen kleineren Durchbruch 3 der oberen Lagerplatte 2 kann auch vorgesehen sein, daß die obere Lager­ platte 2 einen Durchbruch aufweist, der ebenso groß oder sogar größer ist als die Durchbrüche 3 der üb­ rigen Lagerplatten 2, wobei die obere Lagerplatte 2 jedoch quer zur Längserstreckung des Kontaktele­ ments 5 verschiebbar gelagert ist. Diese Verschieb­ barkeit ist mit dem Doppelpfeil 22 angedeutet. Zum Bestücken wird der Durchbruch 3 der oberen Lager­ platte 2 fluchtend zu den Durchbrüchen 3 der übri­ gen Lagerplatten 2 ausgerichtet. Ist das Kontakt­ element 5 von oben her in den Prüfkopf 1 einge­ setzt, so wird die obere Lagerplatte 2 nach rechts derart verschoben, daß sich die Stützfläche 19 für das Ende 17 der Federsonde 15 ausbildet. Zwar wird durch diese Maßnahme die Leitsonde 13 im Durchbruch 3 der oberen Lagerplatte 2 dann nicht mehr allsei­ tig optimal geführt, jedoch ist dieses unerheblich, da alle übrigen Lagerplatten 2 eine präzise Führung vornehmen.
Nach einem nicht dargestellten Ausführungsbeispiel der Erfindung kann auch vorgesehen sein, daß das Ende 16 der Federsonde 15 die Leitsonde 13 im Be­ reich der Kontaktierungszone überragt. In einem solchen Falle bildet demgemäß die Federsonde 15 die Kontaktspitze 10. Voraussetzung ist, daß ein Werk­ stoff für die Federsonde 15 gewählt wird, der neben seinen Federeigenschaften auch eine hinreichend elektrische Leitfähigkeit besitzt.
Es ist jedoch auch möglich, eine Anordnung gemäß der Figur vorzusehen, das heißt, die Kontaktierung des Prüflings 6 erfolgt mittels der Leitsonde 13. Die Leitsonde 13 ist jedoch nicht homogen aus einem elektrisch sehr gut leitfähigen Material erstellt, sondern weist im Bereich der Kontaktierungszone ein weiteres Material auf, das zwar elektrisch leitfä­ hig ist, jedoch hinreichende mechanische Abriebfe­ stigkeiten besitzt, so daß eine Vielzahl von Kon­ taktierungen des Prüflings 6 möglich ist, ohne daß Abnutzungen auftreten.
Die Querschnittskonfigurationen von Leitsonde 13 und Federsonde 15 sind in ihrer Formgebung dem je­ weiligen Einsatzgebiet anzupassen. So ist es bei­ spielsweise möglich, eine entsprechend große Längs­ ausdehnung aber nur eine kleine Querausdehnung hin­ sichtlich des Querschnittes vorzusehen, um geringe Kontaktabstände realisieren zu können, gleichzeitig jedoch eine hohe elektrische Stromtragfähigkeit zu erzielen. Der elektrische Leiter, also die Leit­ sonde 13, sollte eine möglichst hohe Strombelast­ barkeit aufweisen, so daß die Querschnittskonfigu­ ration nur nach diesem Parameter ausgewählt werden kann. Bevorzugt wird ein rechteckiger Querschnitt gewählt, das heißt die Leitsonde 13 besteht aus ei­ nem Flachband. Entsprechendes gilt bei der Auswahl der Form der Federkomponente, also der Federsonde 15. Leitfähigkeitsgesichtspunkte müssen nicht be­ rücksichtigt werden, so daß man die für eine Feder günstigste Form, zum Beispiel einen Runddraht wäh­ len kann.
Es ist festzuhalten, daß sowohl die Formgebung als auch die Wahl der Materialien beider Komponenten nicht auf das Ausführungsbeispiel beschränkt ist. So können auch andere, hier nicht erwähnte Materia­ lien zum Einsatz kommen. Von grundlegender Bedeu­ tung ist jedoch, daß das Kontaktelement 5 zwei Kom­ ponenten mit unterschiedlichen Materialeigenschaf­ ten in sich vereint und auf diese Art und Weise ideal die gestellten Anforderungen erfüllt.

Claims (8)

1. Kontaktelement für den elektrischen Berührungskontakt eines Prüflings, das zwei verschiedene Werkstoffe aufweist, von denen der eine eine hohe elektrische Leitfähigkeit besitzt und den Stromweg (12) durch das Kontaktelement (5) bildet und von denen der andere aufgrund seiner guten mechanischen Federeigenschaften eine der Kontaktierungskraft entgegenwirkende Feder­ einrichtung (14) bildet, wobei ein den Stromweg (12) bildendes Teil (13) und ein die Federeinrichtung (14) bildendes Teil (15) an mindestens einer Stelle eine Verbindung (18) miteinander aufweisen, dadurch gekennzeichnet, daß im Anschluß an die Verbindung (18) das die Federeinrichtung (14) bildende Teil (15) quer zur Längserstreckung aufgrund von seitlicher Durchbiegung ausfedern kann.
2. Kontaktelement nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Verbindung (18) durch Schweißung, Lötung, Klebung und/oder mechanische Halterung ge­ bildet ist.
3. Kontaktelement nach einem der vorhergehenden An­ sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß ein nicht der Verbindung (18) angehörender Bereich (Abschnitt a) des Teils (15) die Federeinrichtung (14) bildet.
4. Kontaktelement nach einem der vorhergehenden An­ sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß ein Ende des den Stromweg (12) bildenden Teils (13) ein Kontaktteil (9), insbesondere eine Kontaktspitze (10), zur Durchführung des Berührungskontakts bildet.
5. Kontaktelement nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß an einem Ende des den Stromweg (12) bildenden Teils (13) ein separates Kontaktteil (9) aus einem elektrisch leitfähigen, mechanisch widerstandsfähigen Material elektrisch leitend befestigt ist.
6. Kontaktelement nach einem der vorhergehenden An­ sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der die Federeinrichtung (14) bildende Teil (15) elektrisch leitfähig ist, ein Kontaktteil (9) bildet und mit dem Stromweg (12) elektrisch leitend verbunden ist.
7. Kontaktelement nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß in einem an das Kon­ taktteil (9) anschließenden Bereich die Verbindung (18) zwischen dem den Stromweg (12) bildenden Teil und dem die Federeinrichtung (14) bildenden Teil über eine Teillänge (t) der Länge der des die Federeinrichtung (14) bildenden Teils (15) ausgebildet ist.
8. Kontaktelement nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch die Anordnung in einem Aufnahmeschacht (4) eines Isolierkörpers, wo­ bei im Bereich der Verbindung (18) der Aufnahme­ schacht (4) eine Querschnittskonfiguration auf­ weist, die sowohl das den Stromweg (12) bildende Teil (13) als auch das die Federeinrichtung (14) bildende Teil (15) mit geringem Spiel aufnimmt und im anschließenden Bereich (Abschnitt a) eine Quer­ schnittskonfiguration aufweist, die das den Stromweg (12) bildende Teil (13) und das die Federeinrichtung (14) bildende Teil (15), letzteres mit seitlichem Auslenkspiel, aufnimmt sowie in diesem anschließenden Bereich eine Stützfläche (19) für eine Abstützung des entsprechenden Endes des die Federeinrichtung (14) bildenden Teils (15) aufweist.
DE1998121128 1998-05-12 1998-05-12 Kontaktelement Expired - Fee Related DE19821128C1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1998121128 DE19821128C1 (de) 1998-05-12 1998-05-12 Kontaktelement

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1998121128 DE19821128C1 (de) 1998-05-12 1998-05-12 Kontaktelement

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE19821128C1 true DE19821128C1 (de) 1999-09-09

Family

ID=7867453

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1998121128 Expired - Fee Related DE19821128C1 (de) 1998-05-12 1998-05-12 Kontaktelement

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE19821128C1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19932849A1 (de) * 1999-07-14 2001-02-08 Herbert Amrhein Kontaktiereinrichtung zum Herstellen einer elektrisch leitfähigen Verbindung

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE7637762U1 (de) * 1976-12-02 1977-03-24 Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt Meßspitzenhalter für ein elektrisches Meßinstrument
DE9004562U1 (de) * 1989-04-26 1990-07-19 Atg Electronic Gmbh, 6980 Wertheim, De

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE7637762U1 (de) * 1976-12-02 1977-03-24 Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt Meßspitzenhalter für ein elektrisches Meßinstrument
DE9004562U1 (de) * 1989-04-26 1990-07-19 Atg Electronic Gmbh, 6980 Wertheim, De

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19932849A1 (de) * 1999-07-14 2001-02-08 Herbert Amrhein Kontaktiereinrichtung zum Herstellen einer elektrisch leitfähigen Verbindung
DE19932849C2 (de) * 1999-07-14 2003-07-03 Herbert Amrhein Kontaktiereinrichtung zum Herstellen einer elektrisch leitfähigen Verbindung

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102008023761B4 (de) Elektrisches Kontaktelement zum Berührungskontaktieren von elektrischen Prüflingen sowie entsprechende Kontaktieranordnung
DE3522708C2 (de)
DE10327581B4 (de) Konstruktion zum Montieren eines Aschlusses, ein Leiterplattenverbinder und Verfahren zum Montieren desselben
EP0915342B1 (de) Prüfkopf für Mikrostrukturen mit Schnittstelle
DE7733553U1 (de) AnschluBvorrichtung für ein vieladriges Flachkabel
DE2525166A1 (de) Kontakt-sondenvorrichtung
DE3909284A1 (de) Steckkontaktanordnung
DE102005053146A1 (de) Messspitze zur Hochfrequenzmessung
DE3008841A1 (de) Elektrischer verbinder
DE112005003743T5 (de) Elektrische Verbindungsvorrichtung
DE3337915A1 (de) Kontaktiervorrichtung
CH667925A5 (de) Federkontaktstift fuer pruefadapter zum kontaktieren von prueflingen zwecks pruefung auf deren elektrische fehlerfreiheit.
EP0150327B1 (de) Kontaktiervorrichtung
DE2456976A1 (de) Loetfreier anschluss
DE19748823B4 (de) Servicefreundliche Kontaktiervorrichtung
DE19821128C1 (de) Kontaktelement
DE2906031A1 (de) Selbstkontaktierende elektrische anschlussvorrichtung
DE19945176A1 (de) Anordnung von Federkontakten in einem vorbestimmten Raster
DE3507464A1 (de) Federkontaktstift
DE3832410C2 (de) Kontaktvorrichtung
DE102018207824B3 (de) Kontaktiervorrichtung zum Kontaktieren von Zellterminals einer prismatischen Batteriezelle sowie Prüfstandaufbau
DE3533218C2 (de)
DE3908361A1 (de) Pruefvorrichtung
DE19847244B4 (de) Prüfkopf für Mikrostrukturen mit Schnittstelle
EP0265767B1 (de) Nadelkarte

Legal Events

Date Code Title Description
8100 Publication of the examined application without publication of unexamined application
D1 Grant (no unexamined application published) patent law 81
8364 No opposition during term of opposition
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee