DE19807086A1 - Atmospheric pressure plasma deposition for adhesion promoting, corrosion protective, surface energy modification or mechanical, electrical or optical layers - Google Patents

Atmospheric pressure plasma deposition for adhesion promoting, corrosion protective, surface energy modification or mechanical, electrical or optical layers

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Abstract

An atmospheric pressure plasma deposition process comprises introducing a precursor, aerosol and/or solid powder containing gas phase (2) into a cold plasma jet (30). An atmospheric pressure plasma coating process comprises introducing a gas phase (2), containing one or more precursors, an aerosol and/or a solid powder, into a plasma jet (30) to form particle species which are entrained by the plasma jet for forming a layer (72) on a substrate (70). Independent claims are also included for the following: (i) an apparatus for carrying out the above process, comprising a hollow body (10) for supplying a first gas phase (1), electrodes (40), an electric field generator (50) and a system (20, 21) for supplying a second gas phase (2); (ii) a layer system produced by the above process or the above apparatus and comprising one or more of silicon, carbon, hydrogen, oxygen, nitrogen, phosphorus, boron, selenium, tin, aluminum, titanium and zinc; and (iii) a substrate coated with the above layer system with a layer thickness 0.001-10 mu m.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Beschichten von Oberflächen eines Substrates in einem plasma-aktivierten Prozeß bei Atmosphärendruck, eine Vor­ richtung zur Durchführung des Verfahrens sowie ein nach dem Verfahren ins­ besondere in der Vorrichtung hergestelltes Schichtsystem sowie ein damit be­ schichtetes Substrat.The invention relates to a method for coating surfaces of a Substrates in a plasma-activated process at atmospheric pressure, a pre direction to carry out the procedure and a procedure according to the special layer system produced in the device as well as a be layered substrate.

Eine plasma-aktivierte Abscheidung von Schichten ist bekannt. Sie ermöglicht bei niedrigen Temperaturen die Beschichtung mit Materialien, die sich ohne Plasma, d. h. rein thermisch, nur bei hoher Temperatur insbesondere in einem CVD-Verfahren (Chemical Vapor Deposition-Verfahren) oder überhaupt nicht abscheiden lassen. Beispiel für eine Abscheidung im CVD-Verfahren ist Silici­ umoxid, Beispiel für eine ohne Plasma nicht mögliche Abscheidung ist ein Plasmapolymer (R. A. Haefer, Oberflächen- und Dünnschichttechnologie, Sprin­ ger-Verlag, 1987). Überwiegend wird dabei ein Gleichstrom-(DC), Hoch­ frequenz-(HF) oder ein Mikrowellenplasma (MW) verwendet. Diese Plasmen sind als sogenannte kalte Plasmen nur bei niedrigen Drücken zu betreiben.Plasma-activated deposition of layers is known. It enables at low temperatures the coating with materials that can be done without Plasma, d. H. purely thermal, only at high temperature, especially in one CVD (Chemical Vapor Deposition) process or not at all let it separate. Silici is an example of a deposition in the CVD process umoxid, an example of a deposition not possible without plasma is a Plasma polymer (R. A. Haefer, surface and thin film technology, Sprin ger publishing house, 1987). Mostly a direct current (DC), high frequency (HF) or a microwave plasma (MW) is used. These plasmas are to be operated as so-called cold plasmas only at low pressures.

Bekannt sind auch Verfahren, bei denen ein sog. thermisches Plasma verwen­ det und unter Atmosphärendruck beschichtet wird. Diese Verfahren werden als Plasmaspritz-Verfahren bezeichnet. Dabei wird das Gas in einer Bogenentla­ dung hoher Leistung auf eine hohe Temperatur gebracht, um Metall- oder Ke­ ramikteilchen, die in die Entladung gebracht werden, aufzuschmelzen und die Schmelztropfen im heißen Gasstrom auf Geschwindigkeiten von über 100 m/sec zu beschleunigen. Unter einer hohen Leistung werden hierbei 5 bis 100 kW und unter einer hohen Temperatur 4000 bis einige 10.000 K verstanden. Die heißen Schmelztropfen erstarren beim Aufprall auf der zu beschichtenden Fläche und bilden dort die gewünschte Schicht.Methods are also known in which a so-called thermal plasma is used det and coated under atmospheric pressure. These procedures are called Plasma spraying process called. The gas is discharged in an arc high power to a high temperature to metal or Ke melting ceramic particles that are brought into the discharge and the Melt drops in a hot gas stream at speeds of over 100 m / sec to accelerate. 5 to 100 kW and a high temperature means 4000 to a few 10,000 K. They are called  Melt drops solidify on impact on the surface to be coated and form the desired layer there.

Es ist weiterhin eine plasma-aktivierte Abscheidung von Schichten in den soge­ nannten Barriere- oder Coronaentladungen bei Atmosphärendruck bekannt, DE 195 05 449 C2. Es ist ebenfalls bekannt, in einer Entladung zwischen zwei durch zumindest eine dielektrische Barriere getrennte Elektroden beim Anlegen einer Wechselspannung hinreichender Amplitude aus Acetylen oder anderen eingebrachten Gasen Schichten auf den Elektroden abzuscheiden (Salge, Proceedings der EMRS 1995, Strasbourg, France). Mittels eines solchen Verfahrens können auch Bahnen aus Kunststoffen oder Metalle, welche durch die Entladung geführt werden, beschichtet werden. Die zu beschichtenden Substrate (Bahnen oder Bauteile) liegen während des Beschichtungsprozesses zumeist auf Masse und sind somit Teil der Gegenelektrode. Die Hochspannungselektrode ist in einem Abstand von insbesondere 1 bis 2 mm über dem zu beschichtenden Substrat angeordnet. Während des Beschichtungsprozesses ergibt sich eine Beschichtung beider Elektrodenoberflächen. Die Beschichtung der Gegenelektrode oder der zu beschichtenden Substratoberfläche ist gewollt, wohingegen die Beschichtung der Hochspannungselektrode störend wirkt. Durch die parasitäre Beschichtung der Hochspannungselektrode wird der Beschichtungsprozeß in der Gestalt be­ einflußt, daß ein mit der Prozeßzeit sich änderndes Beschichtungsergebnis er­ zielt wird. Im Extremfall kann dies zu einem Zusetzen des Entladungsspaltes führen. Darüber hinaus ergeben sich durch von der Hochspannungselektrode abgeplatzte Schichtteile auch Störungen auf dem zu beschichtenden Substrat.It is also a plasma-activated deposition of layers in the so-called known barrier or corona discharges at atmospheric pressure, DE 195 05 449 C2. It is also known to discharge between two electrodes separated by at least one dielectric barrier when applied an alternating voltage of sufficient amplitude from acetylene or others deposited layers of gas deposited on the electrodes (algae, Proceedings of EMRS 1995, Strasbourg, France). By means of one Processes can also be made of plastics or metals the discharge can be carried out, coated. The ones to be coated Substrates (webs or components) lie during the coating process mostly to ground and are therefore part of the counter electrode. The High-voltage electrode is at a distance of in particular 1 to 2 mm arranged over the substrate to be coated. During the Coating process results in a coating of both Electrode surfaces. The coating of the counter electrode or the to Coating substrate surface is wanted, whereas the coating the high-voltage electrode is disruptive. Due to the parasitic coating the high voltage electrode is the coating process in the shape influences that a coating result that changes with the process time is aimed. In extreme cases, this can clog the discharge gap to lead. In addition, result from the high voltage electrode flaked layer parts also faults on the substrate to be coated.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Beschichten von Oberflächen eines Substrates in einem kalten plasma-aktivierten Prozeß mit Temperaturen unter T = 1000 K und bei Atmosphärendruck sowie eine Vor­ richtung zur Durchführung des Verfahrens zu schaffen, mittels dessen bzw. derer eine Störung des Abscheidungsprozesses durch parasitäre Deposition, also unerwünschte Abscheidung von Material auf Elektroden o. ä. vermieden wird. Die Schicht soll dabei aus einem oder mehreren gasförmigen Prekursoren und/oder einem Aerosol und/oder einem pulverförmigen Feststoff auf dem Substrat abgeschieden werden. Das Substrat soll dadurch fehlerfrei ohne Störungsstellen oder -flächen beschichtet werden.The invention has for its object a method for coating Surfaces of a substrate in a cold plasma-activated process Temperatures below T = 1000 K and at atmospheric pressure as well as a pre to create direction for performing the method by means of which or a disturbance of the deposition process due to parasitic deposition, So unwanted deposition of material on electrodes or the like avoided becomes. The layer should consist of one or more gaseous precursors  and / or an aerosol and / or a powdery solid on the Substrate are deposited. The substrate is said to be error-free without Fault spots or surfaces are coated.

Die Aufgabe wird mit einem Verfahren nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 dadurch gelöst, daß eine erste Gasphase mittels eines elektrischen Feldes in den Plasmazustand versetzt wird. Die plasma-aktivierte erste Gasphase bildet einen Plasmastrahl. In den Plasmastrahl wird eine zweite Gasphase einge­ bracht, welche einen oder mehrere Prekursoren und/oder ein Aerosol und/oder einen pulverförmigen Feststoff enthält. Durch physikalisch-chemische Reak­ tionen zwischen der plasma-aktivierten ersten Gasphase und der zugemischten zweiten Gasphase werden zur Schichtabscheidung geeignete Teilchen-Spezies gebildet. Die zur Schichtabscheidung geeigneten Teilchen-Spezies werden mit dem Plasmastrahl auf das zu beschichtende Substrat transportiert und bilden auf diesem eine Schicht. Mittels einer Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß ein Hohlkörper zum Zuleiten einer ersten Gasphase, Elektroden, ein zum Erzeugen eines elektrischen Feldes geeigneter Generator und ein oder mehrere Mittel zum Zuleiten einer zweiten Gasphase vorgesehen sind. Bei einem Schichtsystem wird sie dadurch gelöst, daß das auf dem Substrat abgeschiedene Schichtsystem Silicium und/oder Kohlenstoff und/oder Wasserstoff und/oder Sauerstoff und/oder Stickstoff und/oder Phosphor und/oder Bor und/oder Selen und/der Zinn und/oder Aluminium und/oder Titan und/oder Zink aufweist. Die Aufgabe wird bei einem Substrat, welches mit dem Schichtsystem beschichtet ist, dadurch gelöst, daß die Schichtdicke des abgeschiedenen Schichtsystemes bei 0,001 bis 10 µm liegt. Weiterbildungen der Erfindung sind in den jeweiligen abhängigen An­ sprüchen definiert.The object is achieved with a method according to the preamble of claim 1 solved in that a first gas phase by means of an electric field in the plasma state is shifted. The plasma-activated first gas phase forms a plasma jet. A second gas phase is introduced into the plasma jet brings which one or more precursors and / or an aerosol and / or contains a powdery solid. Through physico-chemical reac ions between the plasma-activated first gas phase and the admixed second gas phase are suitable particle species for layer deposition educated. The particle species suitable for layer deposition are included transported and formed by the plasma jet onto the substrate to be coated on this one layer. By means of a device for performing the The method solves the problem in that a hollow body for supply a first gas phase, electrodes, one for generating an electric field suitable generator and one or more means for supplying a second Gas phase are provided. In a layer system, it is solved that the layer system deposited on the substrate silicon and / or Carbon and / or hydrogen and / or oxygen and / or nitrogen and / or phosphorus and / or boron and / or selenium and / the tin and / or Has aluminum and / or titanium and / or zinc. The task is with one Substrate, which is coated with the layer system, solved in that the layer thickness of the deposited layer system at 0.001 to 10 µm lies. Developments of the invention are in the respective dependent An sayings defined.

Dadurch wird ein Verfahren zum Beschichten von Oberflächen eines Substrates in einem plasma-aktivierten Prozeß bei Atmosphärendruck geschaffen, welches plasma-aktivierte Prozesse auch bei Atmosphärendruck betreiben kann, wobei vorteilhafterweise Investitionskosten für Rezipienten und Pumpen sowie Be­ triebskosten im Vergleich zum Stand der Technik gespart werden, da vor einer Batch-Beschichtung kein Zeitraum des Abpumpens mehr erforderlich ist. Vor­ teilhaft wird die Hochspannungselektrode während des Beschichtungs­ prozesses nicht mehr mitbeschichtet, weswegen auch bei längerer Betriebszeit keine Beeinträchtigung des Beschichtungsprozesses bzw. kein Zusetzen des Spaltes zwischen den Elektroden bzw. kein Abplatzen der aufgebrachten Schicht auftritt.This provides a method for coating surfaces of a substrate created in a plasma-activated process at atmospheric pressure, which can also operate plasma-activated processes at atmospheric pressure, whereby advantageously investment costs for recipients and pumps and Be drive costs can be saved compared to the prior art, because before one  Batch coating no more pumping period is required. Before the high-voltage electrode becomes partial during the coating process no longer co-coated, which is why even with longer operating times no impairment of the coating process or clogging of the Gap between the electrodes or no flaking of the applied Layer occurs.

Vorzugsweise kann mit Strömungsgeschwindigkeiten im Bereich von 0,01 bis 10 m/s gearbeitet werden. Vorteilhaft können mittels des erfindungs­ gemäßen Verfahrens erheblich dünnere Schichtdicken erzeugt werden als mit dem Plasmaspritz-Verfahren. Dort beträgt die Schichtdicke 100 µm bis zu einigen Millimetern, da die zur Herstellung verwendeten Pulverteilchen eine Größe von 5 bis 10 µm aufweisen. Erfindungsgemäß werden Schichtdicken zwischen 1 nm und 10 µm erzeugt, was mit dem Plasmaspritz-Verfahren systembedingt nicht möglich ist.Preferably, flow rates in the range of 0.01 up to 10 m / s. Can advantageously by means of the Invention according to the method, significantly thinner layer thicknesses are produced than with the plasma spraying process. There the layer thickness is up to 100 µm a few millimeters, since the powder particles used in the production are a Have size of 5 to 10 microns. Layer thicknesses are according to the invention generated between 1 nm and 10 µm, what with the plasma spray process is not possible due to the system.

Vorteilhaft kann erfindungsgemäß auch mit gasförmigen Prekursoren, d. h. chemischen Ausgangsverbindungen, und/oder Aerosolen und/oder festen pul­ verförmigen Partikeln beschichtet werden. Hierdurch ergeben sich größere Variationsmöglichkeiten für das erfindungsgemäße Beschichtungsverfahren.According to the invention, it is also advantageous to use gaseous precursors, ie. H. chemical starting compounds, and / or aerosols and / or solid pul deformed particles are coated. This results in larger ones Possibilities of variation for the coating method according to the invention.

Vorzugsweise wird eine erste Gasphase während des Durchströmens des Hohl­ körpers in den Plasmazustand verwandelt. Am Ende des Hohlkörpers tritt dabei ein Plasmastrahl aktiviert aus. Besonders bevorzugt wird die erste Gasphase in dem Hohlkörper durch darin vorgesehene Elektroden in das Plasma verwandelt. Eine der Elektroden kann dabei vorzugsweise die elektrisch leitfähige Wandung des Hohlkörpers selbst darstellen. Der die Elektroden speisende Generator gibt dabei vorzugsweise eine Wechselspannung mit einer vorbestimmten geeigneten Amplitude ab. Es kann aber auch Gleichspannung zum Erzeugen eines Gleichfeldes vorgehalten werden. Der Verlauf der Wechselspannung ist vorzugsweise sinusförmig oder kann auch komplizierter gestaltet sein. Bei­ spielsweise kann auch eine gepulste Gleichspannung oder eine gepulste Sinus­ spannung vorgesehen werden. A first gas phase is preferred during the flow through the hollow transformed into the plasma state. At the end of the hollow body occurs a plasma jet activates off. The first gas phase is particularly preferred in the hollow body is transformed into the plasma by electrodes provided therein. One of the electrodes can preferably be the electrically conductive wall of the hollow body itself. The generator feeding the electrodes gives preferably an AC voltage with a predetermined one suitable amplitude. But it can also generate DC voltage of a constant field. The course of the AC voltage is preferably sinusoidal or can also be more complicated. At for example, a pulsed DC voltage or a pulsed sine voltage can be provided.  

Die Ausbildung einer ungewollten heißen Entladung oder Bogenentladung zwi­ schen den Elektroden, wie sie beim Stand der Technik bekannt ist und zur Zer­ störung der Elektroden bzw. des zu beschichtenden Substrates oder der abge­ schiedenen Schicht führt, wird vorteilhaft dadurch vermieden, daß die Gas­ strömung zusammen mit der zeitlich variablen Spannung an den Elektroden vorgesehen ist. Dabei können auch ein Dielektrikum oder mehrere Dielektrika zwischen den Elektroden und dem Plasma zusätzlich vorgesehen werden.The formation of an unwanted hot discharge or arc discharge between the electrodes as known in the prior art and for Zer disruption of the electrodes or the substrate to be coated or the abge leads different layer is advantageously avoided in that the gas flow together with the time-variable voltage at the electrodes is provided. One or more dielectrics can also be used be additionally provided between the electrodes and the plasma.

Vorzugsweise ist die Geschwindigkeit des Plasmastrahls nach dem Mischen der ersten und zweiten Gasphase größer als eine kritische Geschwindigkeit. Be­ sonders bevorzugt liegt die Geschwindigkeit des Plasmastrahls nach dem Mi­ schen über etwa 5 cm/s.Preferably the speed of the plasma jet after mixing is first and second gas phase greater than a critical speed. Be the velocity of the plasma jet is particularly preferably after the Mi. over about 5 cm / s.

Vorzugsweise werden als erste Gasphase Gase oder Gasgemische zugeführt, welche keine Depositionen von Schichten mit Dicken von mehr als 10 nm er­ möglichen oder aber solche, welche gar keine Schichtdeposition auf den Elek­ troden oder den Hohlkörperwänden verursachen können. Daher eignen sich besonders Edelgase wie Argon oder aber Sauerstoff, Stickstoff, Wasserstoff, Distickstoffmonoxid, Tetrafluormethan, Kohlendioxid, Kohlenmonoxid, Schwe­ felhexafluorid oder geeignete Gemische dieser Gase.Gases or gas mixtures are preferably supplied as the first gas phase. which has no deposition of layers with a thickness of more than 10 nm possible or those that have no shift deposition on the elec tread or cause the hollow body walls. Therefore are suitable especially noble gases such as argon or oxygen, nitrogen, hydrogen, Nitrous oxide, tetrafluoromethane, carbon dioxide, carbon monoxide, welding rock hexafluoride or suitable mixtures of these gases.

Besonders bevorzugt sind ein oder mehrere seitlich des Hohlkörpers angeord­ nete mischungsfördernde Mittel vorgesehen, durch welche die zweite Gasphase in das am Ende des Hohlkörpers als Strahl austretende Plasma der ersten Gas­ phase einströmt. Die zweite Gasphase enthält vorzugsweise einen oder mehrere für die Abscheidung geeigneten Prekursor oder Prekursoren und/oder bei Verwendung eines Aerosols feine Tröpfchen einer flüssigen Phase und/oder das Pulver einer festen Phase. Die zweite Gasphase wird durch den aus­ tretenden Plasmastrahl der ersten Gasphase aktiviert, um die gewünschten chemischen Substanzen dadurch zur Abscheidung einer Schicht anzuregen. Der Aktivierungsprozeß kann dabei ein Energieübertrag aus dem Plasmastrahl, eine Oxidation oder ein anderer physikalisch-chemischer Prozeß sein. One or more are particularly preferably arranged on the side of the hollow body Nete mixture-promoting means are provided, through which the second gas phase into the plasma of the first gas emerging as a beam at the end of the hollow body phase flows in. The second gas phase preferably contains one or several precursors or precursors suitable for the deposition and / or when using an aerosol, fine droplets of a liquid phase and / or the powder of a solid phase. The second gas phase is made by the entering plasma jet of the first gas phase activated to the desired thereby stimulating chemical substances to deposit a layer. The activation process can transfer energy from the plasma beam, an oxidation or other physico-chemical process.  

Diese physikalisch-chemische Reaktion findet hinter den zur Zufuhr der ersten und zweiten Gasphase verwendeten mischungsfördernden Mittel, insbesondere in der Ausformung als Düsen, im freien Raum statt. Dadurch wird erreicht, daß sich die zur Deposition geeigneten, durch die physikalisch-chemische Reaktion gebildeten Produkte nicht mehr auf den Elektroden oder in den mischungs­ fördernden Mitteln niederschlagen können, sondern wunschgemäß auf dem zu beschichtenden Material. Um dies störungsfrei erreichen zu können, wird die Geschwindigkeit des Plasmastrahls nach dem Zusammentreffen der ersten und zweiten Gasphase größer gewählt als eine kritische Geschwindigkeit, welche bei Atmosphärendruck und einem Abstand zwischen der Mischstelle und dem Ende des mischungsfördernden Mittels von einem bevorzugten Wert von 1 cm bei etwa 5 cm/s liegt. Bei Wahl eines anderen Abstandes zwischen Mischstelle und diesem Ende können sich dabei andere kritische Geschwindigkeiten ergeben.This physico-chemical reaction takes place behind that for supplying the first and second gas phase used mixture-promoting agents, in particular in the form of nozzles, in free space. This ensures that suitable for deposition through the physico-chemical reaction Products formed no longer on the electrodes or in the mixture support funds, but as desired on the coating material. To achieve this without problems, the Speed of the plasma jet after the first and selected second gas phase larger than a critical speed, which at Atmospheric pressure and a distance between the mixing point and the end of the mixture-promoting agent with a preferred value of 1 cm is about 5 cm / s. When choosing a different distance between the mixing point and other critical speeds may result at this end.

Zum Abscheiden von oxidischen Schichten wird der Abscheideprozeß vorzugs­ weise bei normaler Luftumgebung betrieben. Zum Abscheiden nicht-oxidischer Schichten, beispielsweise von Plasmapolymeren, wird die Umgebung inert gegenüber der sich ausbildenden Schicht gehalten. Vorzugsweise wird mit einer Mantelströmung aus Stickstoff oder aber in einer mit Stickstoff gespülten geschlossenen Atmosphäre, insbesondere in einem geschlossenen Container, gearbeitet.The deposition process is preferred for the deposition of oxide layers operated in a normal air environment. For depositing non-oxide Layers, for example of plasma polymers, the environment becomes inert held against the layer being formed. Preferably with a Sheath flow made of nitrogen or in a nitrogen purge closed atmosphere, especially in a closed container, worked.

Besonders bevorzugt enthält die zweite Gasphase Kohlenwasserstoff und/oder eine siliciumorganische Verbindung und/oder metallorganische Verbindung und/oder bor-, phosphor- oder selenorganische Verbindungen. Vorzugsweise ist eine zinn- und/oder titan- und/oder aluminium- und/oder zinkorganische Ver­ bindung als metallorganische Verbindung vorgesehen.The second gas phase particularly preferably contains hydrocarbon and / or an organosilicon compound and / or organometallic compound and / or organic boron, phosphorus or selenium compounds. Preferably a tin and / or titanium and / or aluminum and / or organic zinc Ver bond provided as an organometallic compound.

Vorzugsweise wird auf dem Substrat ein Schichtsystem bestehend aus Silici­ umoxid oder einer Kohlenwasserstoffverbindung oder einer Verbindung aus Silicium, Kohlenstoff und Wasserstoff oder einer Verbindung aus Silicium, Koh­ lenstoff, Sauerstoff und Wasserstoff oder einer Verbindung aus Silicium, Koh­ lenstoff, Stickstoff und Wasserstoff abgeschieden. Alternativ oder zusätzlich kann eine beliebig gestaltete Verbindung aus Metallen, wie Zinn, Titan, Aluminium, Zink und/oder aus Selen, Bor, Phosphor abgeschieden sein. Die Schichtdicke liegt dabei vorzugsweise bei 0,001 bis 10 µm. Eine solche Schicht wird als haftvermittelnde Schicht oder als Korrosionsschutzschicht oder zur Modifizierung der Oberflächenenergie des Substrates verwendet. Die Schicht kann auch eine mechanische, elektrische oder optische Funktion aufweisen.A layer system consisting of silicon is preferably provided on the substrate oxide or a hydrocarbon compound or a compound Silicon, carbon and hydrogen or a compound of silicon, Koh lenstoff, oxygen and hydrogen or a compound of silicon, Koh  Oil, nitrogen and hydrogen separated. Alternatively or additionally can be any combination of metals, such as tin, titanium, Aluminum, zinc and / or be deposited from selenium, boron, phosphorus. The The layer thickness is preferably 0.001 to 10 μm. Such a layer is used as an adhesion-promoting layer or as a corrosion protection layer or Modification of the surface energy of the substrate used. The layer can also have a mechanical, electrical or optical function.

Zur näheren Erläuterung der Erfindung werden im folgenden Ausführungsbei­ spiele anhand der Zeichnungen beschrieben. Diese zeigen in:In order to explain the invention in more detail, the following are examples games described using the drawings. These show in:

Fig. 1 eine Prinzipskizze der erfindungsgemäßen Vorrichtung zum Be­ schichten mit einem Plasmastrahl und Fig. 1 is a schematic diagram of the inventive device for loading layers with a plasma jet and

Fig. 2 eine Prinzipskizze einer zweiten Ausführungsform einer erfindungs­ gemäßen Vorrichtung zum Beschichten mit einem Plasmastrahl. Fig. 2 is a schematic diagram of a second embodiment of an inventive device for coating with a plasma jet.

Fig. 1 beschreibt eine Prinzipskizze einer ersten Ausführungsform einer erfin­ dungsgemäßen Vorrichtung zum Beschichten eines Substrates 70. Die Vor­ richtung weist hierzu einen Hohlkörper 10 auf. Der Hohlkörper kann einen be­ liebig geformten Querschnitt aufweisen. Vorzugsweise ist er im Querschnitt rund, quadratisch oder rechteckig. Fig. 1 describes a schematic diagram of a first embodiment of an inventive device for coating a substrate 70th For this purpose, the device has a hollow body 10 . The hollow body can have an arbitrarily shaped cross section. It is preferably round, square or rectangular in cross section.

Die Wandung 11 des Hohlkörper 10 begrenzt einen Innenraum 12. In diesem Innenraum des Hohlkörper sind zwei Elektroden 40 angeordnet. Vorzugsweise liegt eine Elektrode auf Massepotential. Sie werden über Leitungen 41 mit einem Generator 50 verbunden. Dieser speist die Elektroden mit einer Wechsel­ spannung geeigneter Amplitude. Der Spannungsverlauf kann sinusförmig oder auch komplizierter gebildet sein.The wall 11 of the hollow body 10 delimits an interior 12 . Two electrodes 40 are arranged in this interior of the hollow body. An electrode is preferably at ground potential. They are connected to a generator 50 via lines 41 . This feeds the electrodes with an alternating voltage of suitable amplitude. The voltage curve can be sinusoidal or more complicated.

Neben dem Hohlkörper 10 sind in einem Winkel zu diesem angeordnet auf zwei Seiten mischungsfördernde Mittel 20, 21 vorgesehen. Diese sind vorzugsweise zylinder- oder rohrförmig. Sie weisen jeweils eine Wandung 22, 23 auf, welche einen jeweiligen Innenraum 24, 25 begrenzt.In addition to the hollow body 10 are arranged at an angle to this on two sides mixture-promoting means 20 , 21 are provided. These are preferably cylindrical or tubular. They each have a wall 22 , 23 , which delimits a respective interior 24 , 25 .

Das Substrat 70 ist in einem vorbestimmten Abstand zum Hohlkörper 10, im we­ sentlichen senkrecht zu diesem angeordnet. Vorzugsweise wird es mit einer konstanten Geschwindigkeit an diesem vorbei bewegt.The substrate 70 is arranged at a predetermined distance from the hollow body 10 , substantially perpendicular to it. It is preferably moved past it at a constant speed.

Für den Beschichtungsvorgang wird eine erste Gasphase 1 in den Innen­ raum 12 des Hohlkörper 10 von dessen hinterem Ende 14 eingeleitet. Die erste Gasphase 1 durchströmt den Hohlkörper mit einer vorgegebenen Geschwindig­ keit. Durch die an den Elektroden 40 anliegende Wechselspannung wird eine Aktivierung der ersten Gasphase hervorgerufen, wodurch sich der gewünschte Plasmastrahl 30 ausbildet. Dieser strömt in Richtung zum vorderen Ende 13 des Hohlkörpers 10. Dort tritt er aus dem Hohlkörper 10 aus. Die in dem Hohlkörper angeordnete Elektrode 40 ist von einem Dielektrikum 44 umgeben.For the coating process, a first gas phase 1 is introduced into the interior 12 of the hollow body 10 from its rear end 14 . The first gas phase 1 flows through the hollow body at a predetermined speed. Activation of the first gas phase is brought about by the alternating voltage applied to the electrodes 40 , as a result of which the desired plasma jet 30 is formed. This flows in the direction of the front end 13 of the hollow body 10 . There it emerges from the hollow body 10 . The electrode 40 arranged in the hollow body is surrounded by a dielectric 44 .

Durch die beiden mischungsfördernden Mittel 20, 21 wird von deren hinteren Enden 28, 29 eine zweite Gasphase 2 eingeleitet. Die Mittel 20, 21 sind vor­ zugsweise Düsen. Die zweite Gasphase 2 durchströmt mit einer vorgegebenen Geschwindigkeit die beiden Mittel 20, 21 und tritt an deren jeweiligem vorderen Ende 26, 27 aus. Die zweiten Gasphasen 2 treffen dabei in den Plasmastrahl 30 im Bereich einer Mischstelle 60. Hier tritt eine physikalisch-chemische Reaktion auf, welche zur Beschichtung der Oberfläche 71 des Substrates 70 führt. Auf dem Substrat 70 bildet sich auf dessen Oberfläche die gewünschte Schicht 72 aus.A second gas phase 2 is introduced from the rear ends 28 , 29 by the two mixture-promoting means 20 , 21 . The means 20 , 21 are preferably nozzles. The second gas phase 2 flows through the two means 20 , 21 at a predetermined speed and exits at their respective front ends 26 , 27 . The second gas phases 2 hit the plasma jet 30 in the region of a mixing point 60 . A physical-chemical reaction occurs here, which leads to the coating of the surface 71 of the substrate 70 . The desired layer 72 is formed on the surface of the substrate 70 .

In Fig. 2 ist eine zweite Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrich­ tung zum Beschichten eines Substrates 70 mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens dargestellt. In diesem Fall wird die Beschichtungsvorrichtung an dem zu beschichtenden ruhenden Substrat vorbeibewegt, in Richtung des Pfeiles. Beispielsweise dient diese Vorrichtung gemäß Fig. 2 zum Abscheiden von Siliciumoxid. Anstelle des Hohlkörpers 10 mit gleichmäßigem Durchmesser, wie er in Fig. 1 dargestellt ist, wird gemäß der zweiten Ausführungsform nach Fig. 2 ein im wesentlichen zylindrisches Rohr 15 mit einem verjüngten vorderen Ende 16 vorgesehen. Das vordere Ende 16 bildet eine vordere Öffnung 17. Das zylindrische Rohr 15 bildet die eine erforderliche Gegenelektrode und liegt auf Massepotential. Es ist daher über die Leitung 41 mit dem das elektrische Feld erzeugenden Generator 50 verbunden.In FIG. 2 a second embodiment is a Vorrich tung invention for coating a substrate 70 illustrated by the inventive method. In this case, the coating device is moved past the resting substrate to be coated, in the direction of the arrow. For example, this device according to FIG. 2 serves for the deposition of silicon oxide. Instead of the hollow body 10 with a uniform diameter, as shown in FIG. 1, an essentially cylindrical tube 15 with a tapered front end 16 is provided according to the second embodiment according to FIG. 2. The front end 16 forms a front opening 17 . The cylindrical tube 15 forms the required counter electrode and is at ground potential. It is therefore connected via line 41 to generator 50 generating the electric field.

Die Hochspannungselektrode wird durch ein stiftförmiges Element 42 gebildet, welches im wesentlichen zentral in dem zylindrischen Rohr 15 vorgesehen und über die Leitung 41 mit dem Hochspannungsausgang des Generators 50 ver­ bunden ist. Die Hochspannungselektrode selbst ist von dem Dielektrikum 44 umgeben, welches dünn, insbesondere 1 bis 2 mm dick ist. Hochspannungs­ elektrode und Dielektrikum werden von dem gebildeten Plasma umgeben. Der Abstand zwischen dem Dielektrium der Hochspannungselektrode und der Innenwandung 19 des zylindrischen Rohres 15 liegt im Millimeterbereich.The high-voltage electrode is formed by a pin-shaped element 42 which is provided substantially centrally in the cylindrical tube 15 and is connected via the line 41 to the high-voltage output of the generator 50 . The high-voltage electrode itself is surrounded by the dielectric 44 , which is thin, in particular 1 to 2 mm thick. The high-voltage electrode and dielectric are surrounded by the plasma formed. The distance between the dielectric of the high-voltage electrode and the inner wall 19 of the cylindrical tube 15 is in the millimeter range.

Die beiden seitlich mit einem Abstand von der zentralen vorderen Öffnung 17 des zylindrischen Rohres 15 angeordneten mischungsfördernden Mittel 20, 21 weisen einen besonders kleinen Durchmesser auf. Durch sie wird wiederum die zweite Gasphase in den sich innerhalb des zylindrischen Rohres 15 ausbilden­ den Plasmastrahl eingeblasen.The two mixture-promoting means 20 , 21 arranged laterally at a distance from the central front opening 17 of the cylindrical tube 15 have a particularly small diameter. It in turn blows the second gas phase into the plasma jet that is formed within the cylindrical tube 15 .

Beispielsweise kann das zylindrische Rohr 15 aus Edelstahl bestehen und einen Durchmesser von 1,2 cm aufweisen. Das vordere Ende verjüngt sich dabei beispielsweise auf einen Durchmesser der vorderen Öffnung 17 von 0,8 cm. Die Elektrode 42 kann beispielsweise ein Stift mit einer Länge von 2 cm und einem Durchmesser von 4 mm sein. Die Dicke des Dielektrikums beträgt 1 mm. An dem zylindrischen Rohr 15 kann zum Betrieb der Entladung eine Sinuswechselspannung von 12 kV (Spitzen-Spannung) und einer Frequenz von 20 kHz angelegt werden. Die erste Gasphase 1 kann beispielsweise Luft mit einem Volumenstrom von 12 Litern pro Minute sein. Dieser strömt durch das zylindrische Rohr 15 dabei dann mit einer Gasgeschwindigkeit von etwa 400 cm/s im Bereich der vorderen Öffnung 17 des Rohres. Die beiden mischungsfördernden Mittel 20, 21 sind beispielsweise in einem Abstand von 1 cm von der vorderen Öffnung 17 des zylindrischen Rohres 15 angeordnet. Sie weisen beispielsweise einen Durchmesser von 1 mm auf und werden von einer zweiten Gasphase in Form eines etwa mit 1 Volumenprozent HMDSO (Hexamethyldisiloxan) beladenen Stickstoffstromes von beispielsweise 0,8 l/min (insgesamt) durchströmt. Die Gasgeschwindigkeit beträgt dabei etwa 850 cm/s. Das Substrat 70 weist beispielsweise einen Abstand von 2 cm von der vorderen Öffnung 17 des zylindrischen Rohres 15 auf. Es besteht vorzugsweise aus Metall, insbesondere aus Aluminium. Die von dem Plasmastrahl erfaßte Fläche beträgt dabei dann etwa 2 cm2. Auf einer Fläche dieser Größe kann sich bei alternativ gewähltem stationären Betrieb bei einer Kontaktzeit von etwa 1 s eine Siliciumdioxid-Schicht von etwa 0,4 µm Dicke abscheiden. For example, the cylindrical tube 15 can be made of stainless steel and have a diameter of 1.2 cm. The front end tapers, for example, to a diameter of the front opening 17 of 0.8 cm. The electrode 42 can be, for example, a pin with a length of 2 cm and a diameter of 4 mm. The thickness of the dielectric is 1 mm. An ac sine voltage of 12 kV (peak voltage) and a frequency of 20 kHz can be applied to the cylindrical tube 15 to operate the discharge. The first gas phase 1 can be, for example, air with a volume flow of 12 liters per minute. This then flows through the cylindrical tube 15 at a gas velocity of approximately 400 cm / s in the region of the front opening 17 of the tube. The two mixture-promoting means 20 , 21 are arranged, for example, at a distance of 1 cm from the front opening 17 of the cylindrical tube 15 . They have a diameter of 1 mm, for example, and a second gas phase in the form of a nitrogen stream loaded with about 1 volume percent HMDSO (hexamethyldisiloxane) of, for example, 0.8 l / min (total) flows through them. The gas velocity is about 850 cm / s. The substrate 70 is , for example, a distance of 2 cm from the front opening 17 of the cylindrical tube 15 . It is preferably made of metal, in particular aluminum. The area covered by the plasma beam is then about 2 cm 2 . A silicon dioxide layer of about 0.4 μm thick can be deposited on an area of this size with alternatively selected stationary operation with a contact time of about 1 s.

BezugszeichenlisteReference list

11

erste Gasphase
first gas phase

22nd

zweite Gasphase
second gas phase

1010th

Hohlkörper
Hollow body

1111

Wandung
Wall

1212th

Innenraum
inner space

1313

vorderes Ende
front end

1414

hinteres Ende
rear end

1515

zylindrisches Rohr
cylindrical tube

1616

verjüngtes Ende
tapered end

1717th

vordere Öffnung
front opening

1919th

Innenwandung
Inner wall

2020th

mischungsförderndes Mittel
mixture-promoting agent

2121

mischungsförderndes Mittel
mixture-promoting agent

2222

Wandung
Wall

2323

Wandung
Wall

2424th

Innenraum
inner space

2525th

Innenraum
inner space

2626

vorderes Ende
front end

2727

vorderes Ende
front end

2828

hinteres Ende
rear end

2929

hinteres Ende
rear end

3030th

Plasmastrahl
Plasma beam

4040

Elektroden
Electrodes

4141

Leitungen
cables

4242

Elektrode/Stift
Electrode / pin

4444

Dielektrikum
dielectric

5050

Generator
generator

6060

Mischstelle
Mixing point

7070

Substrat
Substrate

7171

Oberfläche
surface

7272

Schicht
layer

Claims (24)

1. Verfahren zum Beschichten von Oberflächen eines Substrates in einem plasma-aktivierten Prozeß bei Atmosphärendruck, dadurch gekennzeichnet,
daß eine erste Gasphase (1) mittels eines elektrischen Feldes in den Plas­ mazustand versetzt wird,
daß die plasma-aktivierte erste Gasphase (1) einen Plasmastrahl (30) bildet,
daß in den Plasmastrahl (30) eine zweite Gasphase (2) eingebracht wird, welche einen oder mehrere Prekursoren und/oder ein Aerosol und/oder einen pulverförmigen Feststoff enthält,
daß durch physikalisch-chemische Reaktionen zwischen der plasma-akti­ vierten ersten Gasphase (1) und der zugemischten zweiten Gasphase (2) zur Schichtabscheidung geeignete Teilchen-Spezies gebildet werden, und
daß die zur Schichtabscheidung geeigneten Teilchen-Spezies mit dem Plas­ mastrahl (30) auf das zu beschichtende Substrat (70) transportiert werden und auf diesem eine Schicht (72) bilden.
1. A method for coating surfaces of a substrate in a plasma-activated process at atmospheric pressure, characterized in that
that a first gas phase ( 1 ) is brought into the plasma state by means of an electric field,
that the plasma-activated first gas phase ( 1 ) forms a plasma jet ( 30 ),
that a second gas phase ( 2 ) is introduced into the plasma jet ( 30 ) and contains one or more precursors and / or an aerosol and / or a powdery solid,
that suitable particle species are formed by physico-chemical reactions between the plasma-acti fourth first gas phase ( 1 ) and the admixed second gas phase ( 2 ), and
that the particle species suitable for layer deposition are transported with the plasma jet ( 30 ) onto the substrate ( 70 ) to be coated and form a layer ( 72 ) thereon.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die erste Gasphase (1) einen Hohlkörper (10, 15) durchströmt, welcher Elektroden (40, 41, 19) zum Erzeugen des elektrischen Feldes aufweist, und
daß der Plasmastrahl (30) beim Ausströmen aus dem Elektrodenbereich gebildet wird.
2. The method according to claim 1, characterized in that
that the first gas phase ( 1 ) flows through a hollow body ( 10 , 15 ) which has electrodes ( 40 , 41 , 19 ) for generating the electric field, and
that the plasma jet ( 30 ) is formed when flowing out of the electrode area.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein elektrisches Wechselfeld zum Erzeugen des Plasmazustandes vor­ gesehen wird, wobei das Wechselfeld durch mit Wechselspannung beauf­ schlagte Elektroden (40, 42, 19) erzeugt wird. 3. The method according to claim 1 or 2, characterized in that an alternating electric field for generating the plasma state is seen before, the alternating field being generated by electrodes charged with alternating voltage ( 40 , 42 , 19 ). 4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß das elektrische Wechselfeld durch sinusförmigen Spannungsverlauf oder gepulsten Gleichspannungsverlauf oder gepulsten Sinusspannungsver­ lauf erzeugt wird.4. The method according to claim 3, characterized, that the alternating electrical field due to sinusoidal voltage curve or pulsed DC voltage curve or pulsed sine voltage ver run is generated. 5. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Plasma durch Gase oder Gasgemische erzeugt wird, die keine De­ position von Schichten mit Dicken von mehr als 10 nm oder die gar keine Schichtdeposition auf den Elektroden und/oder Hohlkörperwänden (11, 19) verursachen.5. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that the plasma is generated by gases or gas mixtures, the no deposition of layers with thicknesses of more than 10 nm or the no layer deposition on the electrodes and / or hollow body walls ( 11 , 19 ) cause. 6. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Plasma aus einem der Stoffe Edelgas, Wasserstoff, Stickstoff, Sau­ erstoff, Distickstoffmonoxid, Tetrafluormethan, Kohlendioxid, Kohlenmonoxid, Schwefelhexafluorid allein oder einem Gemisch aus zumindest zwei der Gase erzeugt wird.6. The method according to any one of the preceding claims, characterized, that the plasma from one of the substances noble gas, hydrogen, nitrogen, sow erstoff, nitrous oxide, tetrafluoromethane, carbon dioxide, carbon monoxide, Sulfur hexafluoride alone or a mixture of at least two of the Gases is generated. 7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß zum Abscheiden oxidischer Schichten der Prozeß in normaler Luftum­ gebung betrieben wird.7. The method according to claim 6, characterized, that for the deposition of oxide layers the process in normal air is operated. 8. Verfahren nach einem der Ansprüche 5 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß zum Abscheiden nicht-oxidischer Schichten der Prozeß in gegenüber der sich ausbildenden Schicht inerter Umgebung betrieben wird, insbeson­ dere mit einer Mantelströmung aus Stickstoff oder in einer mit Stickstoff ge­ spülten geschlossenen Umgebung. 8. The method according to any one of claims 5 to 7, characterized, that to deposit non-oxide layers the process in opposite the layer being formed is operated in an inert environment, in particular those with a jacket flow of nitrogen or in a ge with nitrogen flushed closed environment.   9. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß für den Plasmastrahl eine Strömungsgeschwindigkeit von 0,01 bis 100 m/s, insbesondere von 0,2 bis 10 m/s, vorgesehen ist.9. The method according to any one of the preceding claims, characterized, that a flow velocity of 0.01 to 100 for the plasma jet m / s, in particular from 0.2 to 10 m / s, is provided. 10. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Strömungsgeschwindigkeit der zweiten Gasphase größer eingestellt wird als die Strömungsgeschwindigkeit der plasma-aktivierten ersten Gas­ phase.10. The method according to any one of the preceding claims, characterized, that the flow rate of the second gas phase is set larger is called the flow rate of the plasma-activated first gas phase. 11. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine zweite Gasphase zugeführt wird, die Kohlenwasserstoff und/oder eine siliciumorganische Verbindung und/oder eine metallorganische Verbin­ dung und/oder eine bor-, phosphor- oder selenorganische Verbindung ent­ hält.11. The method according to any one of the preceding claims, characterized, that a second gas phase is supplied, the hydrocarbon and / or an organosilicon compound and / or an organometallic compound dung and / or an organic boron, phosphorus or selenium compound ent holds. 12. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite Gasphase eine zinn- und/oder titan- und/oder aluminium- und/oder zinkorganische Verbindung enthält.12. The method according to claim 12, characterized, that the second gas phase is a tin and / or titanium and / or aluminum and / or organic zinc compound. 13. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß ein Hohlkörper (10, 15) zum Zuleiten einer ersten Gasphase (1), Elek­ troden (40, 42, 19), ein zum Erzeugen eines elektrischen Feldes geeigneter Generator (50) und ein oder mehrere Mittel (20, 21) zum Zuleiten einer zwei­ ten Gasphase (2) vorgesehen sind. 13. Device for performing the method according to one of claims 1 to 12, characterized in that a hollow body ( 10 , 15 ) for supplying a first gas phase ( 1 ), electrodes ( 40 , 42 , 19 ), one for generating an electrical Field suitable generator ( 50 ) and one or more means ( 20 , 21 ) for supplying a two-th gas phase ( 2 ) are provided. 14. Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß die ein oder mehreren Elektroden (19, 40, 42) innerhalb oder außerhalb des Hohlkörpers (10, 15) angeordnet und/oder Teil des Hohlkörpers sind.14. The apparatus according to claim 13, characterized in that the one or more electrodes ( 19 , 40 , 42 ) are arranged inside or outside the hollow body ( 10 , 15 ) and / or are part of the hollow body. 15. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß eine der Elektroden eine elektrisch leitfähige Wandung (19) des Hohl­ körpers ist.15. The apparatus according to claim 14, characterized in that one of the electrodes is an electrically conductive wall ( 19 ) of the hollow body. 16. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 13 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß der Hohlkörper (15) rohrförmig und sich an dem vorderen Ende (16) ver­ jüngend gebildet ist und einen eckigen, runden, elliptischen oder ungleich­ mäßig geformten Querschnitt aufweist.16. The device according to one of claims 13 to 15, characterized in that the hollow body ( 15 ) is tubular and is tapered ver at the front end ( 16 ) and has an angular, round, elliptical or unevenly shaped cross section. 17. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 13 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß zumindest eine der Elektroden ein Dielektrikum (44) als Isolierung ge­ genüber dem Plasma aufweist.17. Device according to one of claims 13 to 16, characterized in that at least one of the electrodes has a dielectric ( 44 ) as insulation ge compared to the plasma. 18. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 13 bis 17, dadurch gekennzeichnet, daß eine oder mehrere mischungsfördernde Mittel (20, 21) als Mittel zum Zu leiten der zweiten Gasphase vorgesehen sind, die insbesondere seitlich des Hohlkörpers (10, 15) angeordnet sind.18. Device according to one of claims 13 to 17, characterized in that one or more mixture-promoting means ( 20 , 21 ) are provided as means for directing the second gas phase, which are arranged in particular laterally of the hollow body ( 10 , 15 ). 19. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 13 bis 18, dadurch gekennzeichnet, daß Mittel vorgesehen sind zum Anordnen eines zu beschichtenden Substrates in einem vorbestimmbaren Abstand vom Hohlkörperaustritt des Plasmastrahles, von insbesondere 0,1 bis 100 cm. 19. Device according to one of claims 13 to 18, characterized, that means are provided for arranging one to be coated Substrate at a predetermined distance from the hollow body exit of the Plasma jets, in particular 0.1 to 100 cm.   20. Vorrichtung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß der Abstand 0,5 bis 10 cm beträgt.20. The apparatus according to claim 19, characterized, that the distance is 0.5 to 10 cm. 21. Schichtsystem, hergestellt mittels eines Verfahrens nach einem der vorste­ henden Ansprüche 1 bis 12 und/oder mittels einer Vorrichtung nach einem der Ansprüche 13 bis 20, dadurch gekennzeichnet, daß das auf einem Substrat abgeschiedene Schichtsystem Silicium und/oder Kohlenstoff und/oder Wasserstoff und/oder Sauerstoff und/oder Stickstoff und/oder Phosphor und/oder Bor und/oder Selen und/oder Zinn und/oder Aluminium und/oder Titan und/oder Zink aufweist.21. Layer system produced by a method according to one of the first existing claims 1 to 12 and / or by means of a device according to a of claims 13 to 20, characterized, that the layer system deposited on a substrate silicon and / or Carbon and / or hydrogen and / or oxygen and / or nitrogen and / or phosphorus and / or boron and / or selenium and / or tin and / or Has aluminum and / or titanium and / or zinc. 22. Substrat, beschichtet mit einem Schichtsystem nach Anspruch 21 und/oder mittels eines Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 12 und/oder in ei­ ner Vorrichtung nach einem der Ansprüche 13 bis 20, dadurch gekennzeichnet, daß die Schichtdicke des abgeschiedenen Schichtsystems bei 0,001 bis 10 µm liegt.22. Substrate coated with a layer system according to claim 21 and / or by means of a method according to one of claims 1 to 12 and / or in egg ner device according to one of claims 13 to 20, characterized, that the layer thickness of the deposited layer system at 0.001 to Is 10 µm. 23. Substrat nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, daß das Schichtsystem als haftvermittelnde Schicht oder als Korrosions­ schutzschicht oder zur Modifikation der Oberflächenenergie verwendet wird.23. The substrate according to claim 22, characterized, that the layer system as an adhesion-promoting layer or as a corrosion protective layer or used to modify the surface energy. 24. Substrat nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß das Schichtsystem als mechanische oder elektrische oder optische Funktionsschicht verwendet wird.24. The substrate according to claim 23, characterized, that the layer system as mechanical or electrical or optical Functional layer is used.
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