DE19750651A1 - Vorrichtung zur Messung von Eigenspannungen in dünnen Schichten - Google Patents
Vorrichtung zur Messung von Eigenspannungen in dünnen SchichtenInfo
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Description
Es ist bekannt, daß metallische und nichtmetallische Schichten auf festen
Substraten mit inneren Spannungen behaftet sein können.
So können galvanisch oder chemisch abgeschiedene Schichten auf metalli
schen Substraten Druck- oder Zugspannungen besitzen. Derartige Spannun
gen werden Eigenspannungen genannt.
Der Spannungszustand wird auf das Substrat übertragen und kann z. B. bei
Blechen zur Verformung bzw. Maßveränderungen führen.
Es ist deshalb von großem Interesse, die Eigenspannungen von dünnen
Schichten zu kennen, um konstruktive Maßnahmen bei den Substraten vor
nehmen zu können oder die Herstellung der Schichten in geeigneter Weise
anzupassen. Ferner ist es von technologischem Interesse, die Spannungsart
und den Spannungsgrad in Abhängigkeit von der Schichtstärke zu kennen.
Für die Messung und Beurteilung von Eigenspannungen sind seit langem Vor
richtungen vor allem für galvanisch oder chemisch abgeschiedene Schichten
bekannt.
Bei Streifenmeßvorrichtungen die einen Meßstreifen und einen Rahmen zur
Aufnahme der Meßvorrichtung benutzen, bestehen die Rahmenteile aus Me
tallen oder aus Metallen die mit Kunststoffen umhüllten sind. Beide Werkstof
fe besitzen wesentliche Nachteile bei der Anwendung in der Galvanik oder bei
der chemischen Abscheidung von metallischen Schichten.
Die Nachteile sind starke Korrosionsanfälligkeit durch den Elektrolyten und
die thermische Ausdehnung, die bei Metallen relativ groß und bei Kunststoffen
besonders groß ist. Die thermische Ausdehnung erzwingt lange Wartezeiten, bis
das Meßsystem im Elektrolyten mit Temperaturen von 30 bis 90°C in ein thermi
sches Gleichgewicht gelangt, d. h. bis die Ausdehnung der verschiedenen Bautei
le keine Längen bzw. Volumenänderungen erfahren. Die Zeit dafür beträgt bis zu
einer Stunde bei einer Elektrolyttemperatur von beispielsweise 60°C. Das ist ein
vielfaches der eigentlichen Abscheidezeit.
Um diese beiden Nachteile zu überwinden, wird erfindungsgemäß vorgeschlagen,
daß der Meßstreifen senkrecht zwischen einem feststehenden und einem beweg
lichen Halter (Gleitbolzen) kraftschlüssig eingespannt ist, wobei der bewegliche
Halter zur Messung der Längenänderung des Meßstreifens dient und beide Halter
aus Materialen bestehen, die einen kleinen und/oder extrem kleinen thermischen
Ausdehnungskoeffizienten besitzen. Als Materialien dafür wird Quarzglas, Quarzgut
bzw. metallische Werkstoffe mit extrem kleiner thermischer Ausdehnung vorge
schlagen.
Quarzglas bzw. Quarzgut haben den Vorteil im Temperaturbereich bis 100°C
praktisch keine thermische Ausdehnung zu zeigen. Der Ausdehnungskoeffizient
von Quarzglas liegt im Bereich von 5.10-7 (1/K), der von Legierungen bei 10.10-6
(1/K) und der von Kunststoffen bei ca. 60.10-6 (1/K) und größer.
Ein weiterer Vorteil von Quarzglas bzw. Quarzgut ist die immense Korrosionsbe
ständigkeit gegenüber Elektrolyten. Keine der heute bekannten Elektrolyten der
Galvanik korrodiert erkennbar Quarzglas.
Als metallische Werkstoffe werden Eisen-Nickel-Legierungen eingesetzt, deren
thermischer Ausdehnungskoeffizient im Bereich von 1.10-6 (1/K) liegt und eine ho
he Korrosionsfestigkeit besitzen.
In der nachfolgenden Skizze wird die Verwendung von Quarzglas in der Form ei
nes Quarzglasstabes bzw. eines Quarzglasrohres als feststehender Halter näher
beschrieben.
In dem horizontalen, kreisförmigen Podest aus einer Eisen-Nickel-Legierung (1)
(vgl. Skizze a) mit extrem kleiner thermischer Ausdehnung befindet sich in der
Verschraubung (2) der feststehende Halter in der Form eines ca. 10 mm starken
Quarzglasstabs (3), der unten rechtwinkelig abgebogen ist und einen Axialschlitz
(4) sowie eine radiale Bohrung (5) mit ca. 3 mm besitzt.
In dem Podest (1) befindet sich der leicht gleitende bewegliche Halter (6) (Gleit
bolzen) in einer PTFE-Buchse; er besteht aus einer Eisen-Nickel-Legierung mit
extrem kleinem thermischen Ausdehnungskoeffizienten und einem Durchmesser
von ca. 5 mm und trägt am oberen Teil einen Ring (7). Zwischen Podest (1) und
Ring (7) befindet sich eine Spiralfeder (8) aus Federstahl. Im unteren Ende besitzt
der bewegliche Halter (6) einen axialen Schlitz (9) und eine radiale Bohrung (10).
In den Schlitz (9) wird der Meßstreifen (11) eingelegt und mit einem Stift aus
VA-Material oder Silber via Bohrung (10) befestigt.
Das andere Ende des Meßstreifens (11) wird in den Schlitz (4) des Quarzglashal
ters eingelegt und durch Ziehen nach unten um ca. 4 mm mit einem Quarzglas
stift via Bohrung (5) justiert. Auf der oberen Stirnfläche des Rings (7) liegt einge
tieft eine Scheibe (∅ 10× ca. 1,5 mm) aus Quarzglas (12) (vgl. Skizze b). Auf
der Quarzglasscheibe steht der senkrecht bewegliche Meßfühler (13) einer Län
genmeßvorrichtung, z. B. einer digitalen Meßuhr (14).
Die Meßuhr (14) ist via Halter (15) an dem feststehenden Halter (3) (Quarzglas
stab) festgeklemmt.
Wenn stark schäumende Elektrolyte benutzt werden, ist es notwendig den Gleit
bolzen im Gleitbereich zu schützen. Dazu wird ein Spritzschutz (17) unterschied
licher Stärke, z. B. 2 cm, auf der Unterseite des Podestes (1) angeschraubt.
Die Meßvorrichtung wird in den auf 60°C vorgewärmten Elektrolyten getaucht,
bis der Elektrolyt ca. 1 cm unterhalb des beweglichen Halters (6) steht. Bereits
nach fünf bis sieben Minuten ist die Anlage im thermischen Gleichgewicht. Das
ist erkennbar an der unveränderten Anzeige der Meßuhr. Bereits nach fünf Minu
ten kann mit der galvanischen Abscheidung begonnen werden.
Vergleichsweise dazu benötigt eine Vorrichtung mit einem kunststoffumhüllten
Metallhalter etwa 30 bis 40 Minuten.
Der extrem rasche thermische Ausgleich ist die Folge der erfindungsgemäßen
Maßnahmen:
- 1. Der feststehende Halter und die Auflage des Meßfühlers der Meßuhr bestehen aus Quarzglas.
- 2. Der bewegliche Halter (Gleitbolzen) besteht aus einer Legierung mit extrem kleinem thermischen Ausdehnungskoeffizienten.
- 3. Die Meßuhr ist am feststehenden Halter fixiert.
- 4. Das Podest besteht ebenfalls aus einer Legierung mit extrem kleinem thermi schen Ausdehnungskoeffizienten.
Unter "extrem kleinem thermischen Ausdehnungskoeffizienten" ist ein Wert von
(≦ 5.10-6 (1/K) zu verstehen.
Die Längenänderung am Meßstreifen wird von der digitalen Meßuhr registriert
und via einer RS 232 Schnittstelle in einem angeschlossenen Computer verar
beitet, d. h. die zeitliche Längenänderung am Meßstreifen wird am Monitor in der
Form eines Plots Längenänderung vers. Zeit dargestellt. Auch die zeitliche Än
derung der Eigenspannung in dem Maß N/mm2 oder MPa kann so als Graph
dargestellt werden.
Diese Arbeitsweise ist mit der geschilderten Vorrichtung von besonderer Bedeu
tung bei der chemischen bzw. stromlosen Abscheidung von Nickel, Gold und
anderen Metallen, da die Abscheidung nach Eintauchen der Anlage in den Elek
trolyten sofort am Meßstreifen beginnt. In diesem Fall ist es unzulässig, eine län
gere Zeit zu warten, bis das System in das thermische Gleichgewicht gelangt.
Wird in diesem Fall die Meßvorrichtung auf 5 bis 10°C über die Elektrolyttempe
ratur außerhalb des eigentlichen Elektrolyten vorgeheizt, z. B. in destilliertem
Wasser und dann innerhalb von 5 bis 10 Sekunden in den Elektrolyten getaucht,
so ist die Verfälschung der Messung durch Temperaturausgleich zu vernachläs
sigen.
Im Fall der chemischen Abscheidung von Metallen zeigt Quarzglas einen weite
ren Vorteil. Die Oberfläche von Quarzglasstäben und Quarzglasrohren ist extrem
glatt und praktisch "keimfrei". Eine derartige keimfreie Oberfläche führt zu keiner
parasitären Metallabscheidung. Die parasitäre Metallabscheidung ist von Nachteil
für die Messung, da Metallflitter in den Elektrolyten und schließlich an den Meß
streifen gelangen und dort die Schichtdicke, die nach der Abscheidung gemessen
wird, verfälschen.
An Stelle des Quarzglasstabes (3) kann vorteilhafterweise auch ein entsprechend
geformtes Quarzglasrohr benutzt werden.
Da der Elektrolyt in das Quarzglasrohr eindringt, kann das Quarzglasrohr zur Auf
nahme eines Temperaturfühlers oder pH-Meters verwendet werden. Dazu ist es
sinnvoll, das Quarzglasrohr mit seitlichen Bohrungen zu versehen, um einen ra
schen Elektrolytaustausch zu gewährleisten.
Das ist von Vorteil, wenn nur geringe Elektrolytmengen von ca. 250 ml zur Verfü
gung stehen.
Die Form des feststehenden Halters kann auch U-förmig sein. Die beiden Enden
des Quarzglasstabes oder Quarzglasrohres können in dem Podest (1) verschraubt
oder mit einem Hochtemperaturkitt befestigt sein. Die Befestigung via Verschrau
bung hat den Vorteil, schnell und sicher ohne besondere Justierung die L- und
U-förmigen Quarzglashalter austauschen zu können.
Bei der Verschraubung zeigt sich Quarzglas in der Form von Stäben und Rohren
ebenfalls von besonderem Vorteil, da es relativ große Druckkräfte aufnehmen kann.
Dazu ist es vorteilhaft, für die anpressenden Teile (Konen) in der Verschraubung
weiches Aluminium, Messing und/oder Kunststoff, z. B. TEFLON, zu verwenden.
Bei der galvanischen Metallabscheidung wird das Podest (1) via Buchse (16) an die
Kathode angeklemmt. Der Gleichstrom fließt vom Podest (1) via Feder (8) und be
weglichem Halter (6) zum Meßstreifen (11), auf dem die Metallabscheidung erfolgt.
Der Kathodenstrom kann auch direkt dem beweglichen Halter (6) oder dem Meß
streifen (11) mit einem weichen Leitungsband aus Kupfer oder Silber von der Buch
se (16) oder dem Podest (1) aus zugeführt werden. In beiden Fällen kann dann der
bewegliche Halter aus Quarzglas bestehen.
Die Vorrichtung ist auch geeignet, die Eigenspannungen von aufgedampften, auf
gesprühten oder aufgestrichenen Schichten zu ermitteln. Dazu werden beide Seiten
des Meßstreifens beschichtet.
Soll beispielsweise die Eigenspannung einer Lackschicht auf einer Acetatfolie be
stimmt werden, ist es vorteilhaft - da hierbei keine Korrosion auftreten kann - den
feststehenden Halter aus einer Eisen-Nickel-Legierung mit einem thermischen Aus
dehnungskoeffizienten von ca. 3.10-6 (1/K) zu benutzen. Die Acetatfolie, die zwi
schen feststehendem und beweglichen Halter eingespannt ist, wird besprüht und
die Längenänderung beim Trocknen bzw. Aushärten der Lackschicht gemessen.
Soll die Längenänderung des Meßstreifens bei erhöhter Aushärtetemperatur ver
folgt werden, wird die besprühte Folie in die auf Aushärtetemperatur erwärmte Vor
richtung eingespannt und anschließend die Längenänderung verfolgt, z. B. mit ei
ner digitalen Meßuhr, die an einen Computer angeschlossen ist und die zeitliche
Änderung des Meßstreifens aufzeichnet. Auf diese Weise kann die optimale Aus
härtezeit und Aushärtetemperatur bestimmt werden.
Als Meßstreifen eignen sich Streifen aus Messing, Aluminium, legiertem und unle
giertem Stahl, Kunststoff-Folien oder Papier.
Wenn an Teilen aus der Produktion die Eigenspannung der Schichten gemessen
werden soll, können auch anders geformte Teile eingesetzt werden, z. B. Rohre
oder Drähte. In diesen Fällen eignet sich eine Vorrichtung, bei der der feststehen
de Halter U-förmig ausgebildet ist und im Falle der galvanischen oder stromlosen
Beschichtung aus Quarzstäben mit ∅ bis zu 30 mm beträgt, um Teile bis zu einer
Länge von ca. 1 m prüfen zu können.
In gleicher Weise und mit vergleichbar schnellem thermischen Ausgleich funktio
niert die Meßeinrichtung, wenn Halter und Gleitbolzen aus einer Eisen-Nickel-Le
gierung gefertigt werden, deren thermischer Ausdehnungskoeffizient bei 1 bis
5.10-6 (1/K) liegt. Um eine Metallabscheidung beim Einsatz in der Galvanik zu ver
hindern, wird der metallische Halter mit einer Lackschicht umhüllt. Der hauptsäch
liche Einsatz einer derartigen Meßvorrichtung liegt jedoch außerhalb der Galvanik,
z. B. bei der Beschichtung von Kunststoffen mit Aluminium, Gold oder anderen
Metallen. Ferner bei der Beschichtung von Metall-Folien mit Sputterschichten wie
Titancarbonitrid oder Titannidrid.
Bei Einbau der Meßvorrichtung in Sputter-Rezipienten ist es vorteilhaft, eine hori
zontale und axialdrehbare Anordnung zu wählen, um eine gleichmäßige Beschich
tung des Meßstreifens zu gewährleisten.
Die vorgeschlagene Meßvorrichtung eignet sich für dilatometrische Messungen, z. B.
zur Bestimmung des thermischen Ausdehnungsverhaltens von beschichteten
Materialien wie beschichtetem Papier, mehrlagigen Schichtwerkstoffen oder
Schrumpfwerkstoffen. Dazu werden die entsprechenden Teile wie Streifen,
Schläuche etc. an die Stelle des Meßstreifens eingespannt und einer Temperatur
rampe unterworfen, wobei gleichzeitig die zeitliche Längenänderung gemessen
wird.
Claims (15)
1. Vorrichtung zum Messen von Eigenspannungen in metallischen oder nichtme
tallischen, festen, dünnen Schichten durch Messen der Längenänderung eines
Meßstreifens, auf den die zu vermessende Schicht abgeschieden wird,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Meßstreifen senkrecht zwischen einem feststehenden und einem be
weglichen Halter (Gleitbolzen) kraftschlüssig eingespannt ist, wobei der bewegli
che Halter zur Messung der Längenänderung des Meßstreifens dient und beide
Halter aus Materialen bestehen, die einen kleinen und/oder extrem kleinen ther
mischen Ausdehnungskoeffizienten besitzen.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß der feststehende Halter aus einem oder mehreren Quarzglas- und/oder
Quarzgutstäben mit einem Durchmesser von 3 bis ca. 30 mm besteht.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß der feststehende Halter aus einem oder mehreren Quarzglas- und/oder
Quarzgutrohren mit einem Außendurchmesser von 3 bis 30 mm besteht.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß der feststehende Halter aus einem oder mehreren metallischen Stäben
und/oder Rohren besteht, die einen thermischen Ausdehnungskoeffizienten von
≦5.5.10-6 (1/K) und einen Durchmesser bzw. Außendurchmesser von 5 bis 30
mm besitzen.
5. Vorrichtung nach Anspruch 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß der feststehende, nichtmetallische Halter in einer Metallklemmverschrau
bung befestigt und die Klemmverschraubung in einem Podest verschraubt oder
eingeschweißt ist.
6. Vorrichtung nach Anspruch 1 und 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß der feststehende metallische Halter in einem Podest verschraubt ist.
7. Vorrichtung nach Anspruch 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet,
daß der feststehende Halter im Podest in Längsrichtung und/oder um seine
Längsachse verstellbar ist, um unterschiedlich lange Meßstreifen einspannen zu
können.
8. Vorrichtung nach Anspruch 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß der feststehende Halter L-förmig, U-förmig bzw. zweckdienlich geformt ist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß der bewegliche Halter (Gleitbolzen) stab- oder rohrförmig ausgebildet ist
und aus Quarzglas oder einem metallischen Werkstoff mit extrem kleinem ther
mischen Ausdehnungskoeffizienten besteht und im Podest senkrecht gleiten
kann.
10. Vorrichtung nach Anspruch 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Podest aus einem metallischen Werkstoff mit kleinem thermischen Aus
dehnungskoeffizienten besteht.
11. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Meßvorrichtung für die zeitliche Längenänderung des Meßstreifen in
der Art einer Meßuhr oder eines kapazitiven oder induktiven Wegaufnehmers am
beweglichen Halter befestigt ist und die Längenänderung über den beweglichen
Halter (Gleitbolzen) an die Meßvorrichtung übermittelt resp. transferiert wird.
12. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Meßvorrichtung für die zeitliche Längenänderung des Meßstreifen in
der Art einer Meßuhr, eines kapazitiven oder induktiven Wegaufnehmers auf
dem Podest mit einem Halter aus einer Legierung mit extrem kleinem thermi
schen Ausdehnungskoeffizienten befestigt ist und die Längenänderung über den
beweglichen Halter an die Meßvorrichtung übermittelt resp. transferiert wird.
13. Vorrichtung nach Anspruch 1, 10 und 11,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Meßfühler der Meßvorrichtung für die zeitliche Längenänderung am
Meßstreifen auf einer Scheibe aus Quarzglas aufliegt, die sich am oberen Ende
des beweglichen Halters befindet.
14. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß für die zeitliche Längenänderung des Meßstreifens Meßvorrichtungen be
nutzt werden, die eine online Verarbeitung der Meßsignale via Computer ermög
lichen.
15. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Meßvorrichtung horizontal angeordnet benutzt wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1997150651 DE19750651C2 (de) | 1997-11-14 | 1997-11-14 | Vorrichtung zur Messung von Eigenspannungen in dünnen Schichten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE1997150651 DE19750651C2 (de) | 1997-11-14 | 1997-11-14 | Vorrichtung zur Messung von Eigenspannungen in dünnen Schichten |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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DE19750651A1 true DE19750651A1 (de) | 1999-06-10 |
DE19750651C2 DE19750651C2 (de) | 2001-09-20 |
Family
ID=7848833
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE1997150651 Expired - Fee Related DE19750651C2 (de) | 1997-11-14 | 1997-11-14 | Vorrichtung zur Messung von Eigenspannungen in dünnen Schichten |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19750651C2 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN105181738A (zh) * | 2015-09-16 | 2015-12-23 | 河南科技大学 | 一种防蠕变膨胀仪 |
CN112763318A (zh) * | 2020-12-29 | 2021-05-07 | 中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所 | 一种金属材料残余应力模拟试验装置及方法 |
Families Citing this family (1)
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1573486C3 (de) * | 1964-02-05 | 1975-09-11 | Fuji Electronic Industrial Co. Ltd. | Einrichtung zur Durchführung metallkundlicher Untersuchungen |
SU1678917A1 (ru) * | 1989-02-20 | 1991-09-23 | Московский вечерний металлургический институт | Способ определени модул упругости гальванических покрытий |
EP0539932A1 (de) * | 1991-10-30 | 1993-05-05 | Akihiro Moriyoshi | Vorrichtung und Verfahren zur Prüfung der mechanischen Beansprachbarkeit eines Materials |
-
1997
- 1997-11-14 DE DE1997150651 patent/DE19750651C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1573486C3 (de) * | 1964-02-05 | 1975-09-11 | Fuji Electronic Industrial Co. Ltd. | Einrichtung zur Durchführung metallkundlicher Untersuchungen |
SU1678917A1 (ru) * | 1989-02-20 | 1991-09-23 | Московский вечерний металлургический институт | Способ определени модул упругости гальванических покрытий |
EP0539932A1 (de) * | 1991-10-30 | 1993-05-05 | Akihiro Moriyoshi | Vorrichtung und Verfahren zur Prüfung der mechanischen Beansprachbarkeit eines Materials |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
KARPATI, K.K. u,a.: "Weathering Rack for Sealants" * |
Rev.Sci.Instr., Vol. 36, Nr. 4, (1992), S. 2305-2309, F.Y. von Preissig, "A new furnace for thin-film stress experiments" * |
SU 1678917 A1, Abstr., Bul. 35/23.9.91, Derwent Datenbank Journ. of Coatings Techn., Vol. 49, Nr. 626 (1977), S. 44-47 * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105181738A (zh) * | 2015-09-16 | 2015-12-23 | 河南科技大学 | 一种防蠕变膨胀仪 |
CN105181738B (zh) * | 2015-09-16 | 2018-03-27 | 河南科技大学 | 一种防蠕变膨胀仪 |
CN112763318A (zh) * | 2020-12-29 | 2021-05-07 | 中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所 | 一种金属材料残余应力模拟试验装置及方法 |
CN112763318B (zh) * | 2020-12-29 | 2024-04-09 | 中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所 | 一种金属材料残余应力模拟试验装置及方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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DE19750651C2 (de) | 2001-09-20 |
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