DE19739999A1 - Ansteuerschaltung für ein Feldeffekt gesteuertes Leistungs-Halbleiterbauelement - Google Patents
Ansteuerschaltung für ein Feldeffekt gesteuertes Leistungs-HalbleiterbauelementInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Ansteuerschaltung für ein Feldef
fekt gesteuertes Leistungs-Halbleiterbauelement gemäß der
deutschen Patentanmeldung 196 3 1362.7.
Prinzip dieser Ansteuerschaltung ist es, daß als Serienwider
stand ein Steuerwiderstand eingesetzt wird, welcher in Abhän
gigkeit vom Zustand der Schutzschaltung (aktiv oder inaktiv)
hochohmig oder niederohmig geschaltet wird. Im Kurzschlußfall
wird der Steuerwiderstand hochohmig geschaltet, wodurch die
Gate-Source-Spannung am Leistungs-Halbleiterbauelement über
ein geeignetes Schaltmittel reduziert werden kann und somit
der Kurzschlußstrom begrenzt wird. Vorzugsweise kann der
steuerbare Widerstand nur dann niederohmig geschaltet werden,
wenn ein entsprechendes Ansteuersignal vorliegt. Eine beson
ders einfache Realisierung ergibt sich durch eine Schaltdi
ode, welche in Flußrichtung das Gate eines Depletion-MOSFET
ansteuert, dessen Laststrecke den steuerbaren Widerstand bil
det.
Bei der in der deutschen Patentanmeldung 196 31 362.7 be
schriebenen Ansteuerschaltung ist der steuerbare Widerstand,
der bei Aktivierung der Schutzschaltung hochohmig geschaltet
und bei Deaktivierung der Schutzschaltung niederohmig ge
schaltet wird, ein Depletion-MOSFET. Dieser Depletion-MOSFET
verfügt über eine interne Gate-Source-Kapazität, die sich bei
einem positiven Ansteuersignal an der Steuereingangsklemme
auf die Ansteuerspannung der Eingangsklemme auflädt und somit
den Steuerwiderstand, also den Depletion-MOSFET, niederohmig
schaltet. Solange die Schaltung normal arbeitet und kein
Überstrom vorliegt, bleibt dieser Zustand erhalten. Im Kurz
schlußfall wird eine Überstrombegrenzungsschaltung aktiviert,
welche die interne Gate-Source-Kapazität des Depletion-MOSFET
entlädt.
Eine solche Ansteuerschaltung zeichnet sich durch eine im
Vergleich zu anderen Schaltungsanordnungen verkürzte Ein
schaltzeit im Normalfall und eine Begrenzung der Gate-Source-
Spannung des Leistungs-Halbleiterbauelementes im Kurzschluß
fall ermöglicht aus.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, die in der deut
schen Patentanmeldung 196 31 362.7 beschriebene Ansteuer
schaltung weiterzubilden.
Diese Aufgabe wird durch die Merkmale der Ansprüche 1, 2 oder
3 gelöst.
Zusätzliche Weiterbildungen sind Gegenstand der Unteransprü
che.
Bei der Erfindung wird das Prinzip der in deutschen Patentan
meldung 196 31 362.7 beibehalten. Allerdings wird als Steuer
widerstand jetzt ein Enhancement-MOSFET eingesetzt. Es kann
parallel zur Gate-Source-Kapazität des durch einen MOSFET ge
bildeten Steuerwiderstandes auch eine externe Kapazität ge
schaltet sein. Schließlich kann parallel zu der Drain-Source-
Strecke des Steuerwiderstandes ein ohmscher Widerstand paral
lel geschaltet sein.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand von drei Figuren näher
erläutert: Es zeigen:
Fig. 1 ein erstes Ausführungsbeispiel einer erfindungsge
mäßen Anordnung,
Fig. 2 ein zweites Ausführungsbeispiel der erfindungsgemä
ßen Anordnung, bei welcher nur die relevanten Schal
telemente dargestellt sind, und
Fig. 3 den zeitlichen Verlauf der an der Eingangsklemme 1
anliegenden Steuersignals sowie der Gate-Source
spannung mit und ohne der erfindungsgemäßen Anord
nung.
In Fig. 1 ist mit 1 eine Eingangsklemme bezeichnet, an wel
che das Ansteuersignal anlegbar ist. Diese Klemme 1 ist über
die Laststrecke eines Enhancement-MOSFET 4 mit dem Gate eines
Leistungs-MOSFET 9 verbunden. Des weiteren ist die Eingangs
klemme 1 über einen Widerstand 2 und eine in Flußrichtung ge
schaltete Diode 3 mit dem Gate des Enhancement-MOSFET 4 ver
schaltet. Das Gate des Enhancement-MOSFET 4 ist über die
Laststrecke eines Enhancement-MOSFET 6 mit Masse verbunden.
Der Substratanschluß des Enhancement-MOSFET 4 ist ebenso mit
Masse verschaltet. Mit 5' ist gestrichelt die Gate-Source Ka
pazität des Enhancement-MOSFET 4 dargestellt. Das Bezugszei
chen 5 steht für eine externe, parallel zur Gate-Source Kapa
zität 5' geschaltete Kapazität. Eine Schutzschaltung 8 ist
vorgesehen, welche die Spannung zwischen Drain und Source des
Leistungs-MOSFET 9 abgreift. Die Schutzschaltung 8 erzeugt
ein Ausgangssignal, das einerseits dem Gate des MOSFET 6 so
wie andererseits dem Gate eines weiteren Enhancement-MOSFET 7
zugeführt wird. Die Laststrecke des MOSFET 7 ist zwischen Ga
teanschluß des Leistungs-MOSFET 9 und Masse geschaltet. Im
vorliegenden Ausführungsbeispiel ist der Leistungs-MOSFET 9
ein Low-Side-Schalter, dessen Drainanschluß mit einer An
schlußklemme 10 und dessen Sourceanschluß mit Masse verbunden
ist. Zwischen Source und Drain des Enhancement-MOSFET 4 ist
zusätzlich ein Widerstand geschaltet.
Im Normalfall wird durch ein positives Ansteuersignal an der
Eingangsklemme 1 sowohl die Gatekapazität 5' des Enhancement-
MOSFET 4 als auch die externe Kapazität 5 durch die Diode 3
auf eben diese Ansteuerspannung aufgeladen und steuert somit
den Enhancement-MOSFET 4 niederohmig. So lange die Schaltung
normal arbeitet und kein Überstrom vorliegt, bleibt dieser
Zustand erhalten.
Im Kurzschlußfall wird die Überstrombegrenzungsschaltung 8
aktiviert und steuert sowohl den MOSFET 6 wie auch den MOSFET
7 an. Dadurch wird der MOSFET 6 leitend geschaltet und ent
lädt die Gatekapazität 5 des Enhancement-MOSFET 4. Durch die
se Maßnahme erhöht sich der Widerstand der Laststrecke des
Enhancement-MOSFET 4 und die Strombegrenzung des Leistungs-
MOSFET 9 wird nun dadurch aktiviert, daß der MOSFET 7 leitend
geschaltet wird und die Gate-Sourcespannung des Leistungs-
MOSFET 9 verringert.
Fig. 2 zeigt ein Ausführungsbeispiel für den Widerstand 2
und die Diode 3 gemäß Fig. 1. Alle übrigen Bauelemente ent
sprechen denen gemäß Fig. 1, wobei die Elemente 8, 9 und 10
in Fig. 2 nicht dargestellt sind. Der Widerstand 2 und die
Diode 3 werden gemäß Fig. 2 durch einen Enhancement-MOSFET
11 realisiert. Dessen Laststrecke ist zwischen Versorgungs
spannungsklemme und Gateanschluß des Enhancement-MOSFET 4 ge
schaltet. Der Gateanschluß des MOSFET 11 ist ebenfalls mit
der Eingangsklemme 1 verbunden. Der Substratanschluß des
MOSFET 11 ist mit Masse verschaltet.
Gemäß Fig. 3 ist zu sehen, welche Auswirkungen eine erfin
dungsgemäße Anordnung auf das Schaltverhalten des Leistungs-
MOSFET hat. Zum Zeitpunkt t0 wird das Ansteuersignal UIN an
die Anschlußklemme 1 angelegt. Bei einer Schaltungsanordnung
gemäß dem Stand der Technik ist der Verlauf der Gate-Source
spannung am Leistungs-MOSFET 9 durch den Verlauf der Kurve
UGSIST dargestellt. Die Spannung steigt zuerst auf einen mitt
leren Wert U1 an und beginnt zum Zeitpunkt t2 sich mit einem
E-funktionsförmigen Verlauf der Spannung U2, welche im we
sentlichen der Eingangsspannung UIN entspricht, zu nähern.
UGSSOLL stellt den Verlauf der Gate-Sourcespannung am Lei
stungs-MOSFET beim Einsatz einer erfindungsgemäßen Anordnung
dar. Im Gegensatz zum bisherigen Verlauf steigt nun die Gate-
Sourcespannung am Leistungs-MOSFET 9 bereits zu einem Zeit
punkt t1, der zwischen dem Zeitpunkt t0 und dem Zeitpunkt t2
liegt, rasch an und nähert sich so erheblich früher dem ei
gentlichen Endwert U2.
Die Erfindung ist sowohl bei Low-Side-Schaltern, gemäß Fig.
1 bzw. Fig. 2, wie auch bei High-Side-Schaltern anwendbar.
Wesentlich ist, daß durch die Erfindung erreicht wird, daß
der Gatewiderstand des Leistungs-MOSFET, d. h. die Laststrecke
des Enhancement-MOSFET 4, im Normalbetrieb klein und im Kurz
schlußfall groß ist. Die Erfindung kann in allen bekannten
Technologien in integrierter Form ausgeführt werden.
1
Eingangsklemme
2
Widerstand
3
Diode
4
steuerbarer Widerstand, Enhancement-MOSFET
5
externe Kapazität
5
' Gate-Source-Kapazität
6
MOSFET
7
MOSFET
8
Schutzschaltung
9
Leistungs-MOSFET
10
Anschlußklemme
11
MOSFET
12
Widerstand
UIN
UIN
Ansteuersignal, Eingangsspannung
UGSSOLL
UGSSOLL
Gate-Sourcespannung am Leistungs-MOSFET
9
beim
Stand der Technik
UGSIST
UGSIST
Gate-Sourcespannung gemäß Erfindung
U1
U1
, U2
Spannungswerte
t0
t0
, t1
, t2
Zeitpunkte
Claims (7)
1. Ansteuerschaltung für ein Feldeffekt gesteuertes Lei
stungs-Halbleiterbauelement mit einem Widerstand, über den
ein Ansteuersignal dem Gate des Leistungs-Halbleiterbauele
ments zugeführt wird, mit steuerbaren Mitteln zum Begrenzen
der Gatespannung des Leistungs-Halbleiterbauelements, die
zwischen Gate und Sourceanschluß des Leistungs-Halbleiter
bauelements geschaltet sind, mit einer Schutzschaltung, die
die steuerbaren Mitteln ansteuert, wobei der Widerstand ein
steuerbarer Widerstand ist, der bei Aktivierung der Schutz
schaltung hochohmig geschaltet wird und bei Deaktivierung der
Schutzschaltung niederohmig geschaltet wird, gemäß
P 196 31 362.7,
dadurch gekennzeichnet,
daß der steuerbare Widerstand die Laststrecke eines Enhance
ment-MOSFET (4) ist.
2. Ansteuerschaltung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß der steuerbare Widerstand die Laststrecke eines MOSFET
(4) ist mit einer internen Gate-Source-Kapazität (5'), der
eine externe Kapazität (5) parallel geschaltet ist.
3. Ansteuerschaltung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß der steuerbare Widerstand die Laststrecke eines MOSFET
(4) ist, welcher ein ohmscher Widerstand (12) parallel ge
schaltet ist.
4. Ansteuerschaltung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß Schaltmittel vorgesehen sind, die in Abhängigkeit des An
steuersignals den als MOSFET (4) ausgebildeten, steuerbaren
Widerstand niederohmig schalten.
5. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprü
che,
dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen dem Gateanschluß des den steuerbaren Widerstand
bildenden MOSFET (4) und Masse die Laststrecke eines Enhance
ment-MOSFET (6) geschaltet ist, der durch die Schutzschaltung
angesteuert wird.
6. Ansteuerschaltung nach Anspruch 4 oder 5,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Schaltmittel ein Widerstand (2) und eine Diode (3)
sind, die in Reihe zwischen Eingangsklemme (1) und Gate des
Depletion-MOSFET (4) geschaltet sind.
7. Ansteuerschaltung nach einem der Ansprüche 4 oder 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die
Schaltmittel ein Enhancement-MOSFET (11) sind, dessen Last
strecke zwischen Eingangsklemme (1) und Gate des Depletion-
MOSFET (4) geschaltet sind und dessen Gateanschluß mit der
Eingangsklemme (1) verbunden ist.
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