DE19732912C2 - Kaskoden-MOS-Thyristor - Google Patents
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft einen Kaskoden-MOS-Thyri
stor, bei dem ein IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor) in
einer ersten Zelle und ein Thyristor mit einer Basiszone (3)
und einer Emitterzone (9) in einer Hauptzelle so zusammenge
schaltet sind, daß die erste Zelle und die Hauptzelle einen
Lateral-FET mit einem Kanal des ersten Leitfähigkeitstyps
bilden.
Ein derartiger Kaskoden-MOS-Thyristor wurde bereits vor vie
len Jahren vorgeschlagen (DE 30 24 015 A1) und ist in letzter
Zeit erneut als "MCCT" (MOS Controlled Cascode Thyristor) zur
Diskussion gestellt worden (vgl. den Bericht "1200 V MCCT: A
New Concept Three Terminal MOS-Gated Thyristor" von N. Iwamu
ro, T. Iwaana, Y. Harada und Y. Seki auf der Konferenz ISPSD
97, S. 245 ff). Ein solcher Kaskoden-MOS-Thyristor ist wie
MOS-gesteuerte Bipolarstrukturen allgemein, z. B. wie IGBTs
und MCTs (MOS Controlled Thyristor), infolge seines relativ
kleinen Einschaltwiderstandes gegenüber MOSFETs bevorzugt.
Bekanntlich sollen Schalter ganz allgemein eine möglichst ho
he Spannung sperren, jedoch dann, wenn sie eingeschaltet bzw.
leitend sind, einen möglichst geringen Widerstand aufweisen.
In der DE 38 42 468 C2 ist ein Thyristor mit statischer In
duktion vorgeschlagen, der innerhalb seiner Anodenzone eine
Gitterdefektzone aufweist. Die Gitterdefektzone befindet sich
dabei nahe einer Zone von hohem spezifischen Widerstand.
Hierdurch wird eine Verkürzung der Abschaltzeit besonders bei
hohen Temperaturen im Bereich von 100°C und darüber erreicht.
Es ist nun Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einen Kasko
den-MOS-Thyristor zu schaffen, der sich durch einen besonders
niedrigen Einschaltwiderstand auszeichnet.
Diese Aufgabe wird bei einem Kaskoden-MOS-Thyristor der ein
gangs genannten Art erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß auf
der von der Basiszone (3) abgewandten Seite der Emitterzone
des Thyristors eine die Ladungsträger-Rekombination erhöhende
und die Emitterzone zumindest teilweise
bedeckende Schicht eingebettet ist. Diese Schicht besteht aus einem Me
tall oder Silizid (wie beispielsweise Aluminium, Titansilizid
usw.).
Außerdem kann mit der Hauptzelle noch eine zweite Zelle mit
einem MOS-Schalter verbunden sein, die mit der Hauptzelle ei
nen FET mit einem Kanal des zweiten Leitfähigkeitstyps bil
det.
Bei positiver Gatespannung ist die Thyristorkathode geerdet,
so daß der Durchlaßwiderstand extrem klein ist. Liegen 0 V
oder eine negative Gatespannung an, so ist die erste Zelle
als Lateral- und Vertikal-FET (Feldeffekttransistor) abge
schaltet, während die zweite Zeile als beispielsweise p-
Kanal-FET leitet und kein Strom fließt.
Die einzelnen Zellen können beispielsweise streifenförmig ne
beneinander angeordnet sein. Auch ist es möglich, die erste
Zelle und die zweite Zelle konzentrisch um die Hauptzelle an
zuordnen. Die Abmessungen für die Zellen sind beliebig wähl
bar, wobei auch nur die erste Zelle zusammen mit der
Hauptzelle vorgesehen werden kann.
Unter der ersten Zelle und der zweiten Zelle kann gegebenen
falls eine Isolatorschicht angeordnet werden, was für eine
bessere Überflutung der insbesondere n-leitenden Basiszone
mit Ladungsträgern und dadurch für einen noch kleineren Ein
schaltwiderstand sorgt. Diese Isolatorschicht kann gegebenen
falls teilweise bis zu der p-leitenden Basiszone des Thyri
stors bzw. der Hauptzelle reichen. In diesem Fall, wenn die
Isolatorschicht die p-leitende Basiszone erreicht, sollte in
dieser eine Öffnung vorhanden sein, um die Wirkung des IGBT
zu steigern.
Der erfindungsgemäße Kaskoden-MOS-Thyristor ist mit üblichen
Verfahrensschritten einfach herstellbar und hinsichtlich sei
ner Leitfähigkeit den ohnehin schwieriger herstellbaren Gra
ben-IGBTs überlegen.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Zeichnungen näher
erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 einen Schnitt durch ein erstes Ausführungs
beispiel des erfindungsgemäßen Kaskoden-MOS-
Thyristors,
Fig. 2 einen Schnitt durch ein zweites Ausführungs
beispiel des erfindungsgemäßen Kaskoden-MOS-
Thyristors,
Fig. 3 ein Ersatzschaltbild zu dem Kaskoden-MOS-
Thyristor,
Fig. 4 einen Schnitt durch ein drittes Ausführungs
beispiel des erfindungsgemäßen Kaskoden-MOS-
Thyristors,
Fig. 5 einen Schnitt durch ein viertes Ausführungs
beispiel des erfindungsgemäßen Kaskoden-MOS-
Thyristors und
Fig. 6 einen Schnitt durch einen herkömmlichen Kas
koden-MOS-Thyristor.
In den Figuren werden für einander entsprechende Bauteile die
gleichen Bezugszeichen verwendet.
Zunächst wird anhand der Fig. 6 der eingangs erwähnte her
kömmliche Kaskoden-MOS-Thyristor beschrieben.
Fig. 6 zeigt einen Kaskoden-MOS-Thyristor als Stand der Tech
nik mit einer Hauptzelle A, einer ersten Zelle B und einer
zweiten Zelle C, wobei die Zellen B und C streifenförmig auf
den beiden Seiten der Zelle A angeordnet sind. Die Hauptzelle
A besteht insbesondere aus einer Anodenelektrode 1, einer p-
(oder p+-)leitenden Zone 2, einer n-leitenden Basiszone 3,
einer p-leitenden Basiszone 5 und einer n-leitenden Emitter
zone 9. Auf der Emitterzone 9 ist eine Isolatorschicht 8 aus
beispielsweise Siliziumdioxid angeordnet.
Die erste Zelle B weist einen Gatekontakt 10 aus Polysilizi
um, eine n+-leitende Zone 11, eine p-leitende Zone 6 und ei
nen Kontakt 12 auf und bildet einen ersten IGBT.
Die zweite Zelle C weist einen Gatekontakt 13 aus polykristalli
nem Silizium, eine n+-dotierte Zone 14, eine p-dotierte Zone
4 und einen Kontakt 7 aus beispielsweise Aluminium auf und
bildet einen zweiten IGBT.
Bei diesem Kaskoden-MOS-Thyristor sind also die IGBTs mit der
Kathodenelektrode kontaktiert, während der Thyristor eine Ka
nalzone aufweist, jedoch keinen Kathodenkontakt hat. Der
Strom wird durch Anlegen einer Gatespannung an den Kontakt 10
bzw. 13 gesteuert, um so sowohl die Kanalzone des Thyristors
als auch die Kanalzone der IGBTs zu öffnen. Der Einschaltwi
derstand dieses Kaskoden-MOS-Thyristors ist relativ niedrig,
während er nach Abschalten der Gate-Spannung eine hohe Span
nung zu sperren vermag.
Fig. 1 zeigt nun ein erstes Ausführungsbeispiel der vorlie
genden Erfindung mit einem Kaskoden-MOS-Thyristor, der einen
noch kleineren Einschaltwiderstand besitzt. Hierzu ist in der
n-leitenden Emitterzone 9 eine die Ladungsträger-Rekombina
tion erhöhende Schicht 15 aus einem Metall oder Silizid, wie
beispielsweise Aluminium oder Titansilizid, angeordnet. Gege
benenfalls können hierfür auch andere Silizide oder allgemein
Materialien gewählt werden, die die Rekombinationsrate der
Ladungsträger erhöhen.
Im übrigen ist der Kaskoden-MOS-Thyristor in ähnlicher Weise
aufgebaut wie der Thyristor von Fig. 6, wobei allerdings der
IGBT in der zweiten Zelle C keine n+-dotierte Zone 14 hat.
Die Zelle B ist also eine normale IGBT-Source-Zelle mit der
n+-dotierten Zone 11 in der eine Wanne bildenden p-dotierten
Zone 6. Die zweite Zelle C weist, wie bereits erläutert, in
der p-dotierten Zone 4 keine n+-dotierte Zone auf.
Die erste Zelle B und die Hauptzelle A bilden somit einen
n-Kanal-Lateral-FET, während die zweite Zelle C und die.
Hauptzelle A einen p-Kanal-FET darstellen.
Die epitaktisch aufgewachsene n-leitende Basiszone 3 kann
ganz oder teilweise mit einem Lebensdauer-Killer, wie Gold,
Platin oder durch Bestrahlung erzeugten Kristallfehlern, do
tiert sein.
In einem anderen Ausführungsbeispiel der Erfindung kann un
terhalb der beiden Zellen B und C, also unterhalb der p-
leitenden Zonen 6 bzw. 4 noch eine Isolatorschicht 16 vorge
sehen sein, die aber nicht bis zu der p-leitenden Basiszone 5
reicht, wie dies in Figur. 2 dargestellt ist. Diese Isolator
schicht 16 sorgt für eine noch bessere "Überflutung" der
n-leitenden Zone 3 mit Ladungsträger, was den Einschaltwider
stand weiter erniedrigt.
In einem weiteren Ausführungsbeispiel der Erfindung, das in
Fig. 4 gezeigt ist, können die Isolatorschichten 16 bis zu
der p-leitenden Basiszone 5 reichen und diese teilweise sogar
überdecken. In diesem Fall sollte aber in der p-Basiszone 5
eine Öffnung 17 vorhanden sein, um die IGBT-Wirkung der
Hauptzelle A zu erreichen. Sogenannte Zwischenzonen 19 sind
relativ schwach dotiert und entweder n- oder p-leitend.
Fig. 5 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel des erfindungs
gemäßen Kaskoden-MOS-Thyristors, bei dem eine Metallschicht
18 oberhalb der n+-leitenden Emitterzone 9 auf der Schicht 15
vorgesehen ist.
Ein Ersatzschaltbild für den Kaskoden-MOS-Thyristor der obi
gen Ausführungsbeispiele ist in Fig. 3 dargestellt. Bei posi
tiver Gatespannung an Gate G ist die Thyristorkathode geer
det, so daß der Durchlaßwiderstand niedrig ist. Liegen aber
0 V oder eine negative Spannung an Gate G so ist die erste
Zelle B als Lateral- und Vertikal-FET abgeschaltet, während
die zweite Zelle C als p-Kanal-FET leitet und kein Strom
fließt.
Die Erfindung ermöglicht also einen Kaskoden-MOS-Thyristor,
der einen extrem niedrigen Einschaltwiderstand besitzt und
dennoch hohe Spannungen zu sperren vermag.
1
Anode
2
Zone
3
Zone
4
Zone
5
Basiszone
6
Zone
7
Kontakt
8
Isolierschicht
9
Zone
10
Polysiliziumschicht
11
Zone
12
Kontakt
13
Polysiliziumschicht
14
Zone
15
Schicht
16
Isolierschicht
17
Öffnung
18
Metallschicht
19
Zwischenzone
A Hauptzelle
B Erste Zelle
C Zweite Zelle
G Gate-Elektrode
D Drain-Elektrode
V-FET Vertikal-FET
A Hauptzelle
B Erste Zelle
C Zweite Zelle
G Gate-Elektrode
D Drain-Elektrode
V-FET Vertikal-FET
Claims (8)
1. Kaskoden-MOS-Thyristor, bei dem ein IGBT in einer ersten
Zelle (B) und ein Thyristor mit einer Basiszone (3) und einer
Emitterzone (9) in einer Hauptzelle (A) so zusammengeschaltet
sind, daß die erste Zelle (B) und die Hauptzelle (A) einen
Lateral-FET mit einem Kanal eines ersten Leitfähigkeitstyps
bilden,
dadurch gekennzeichnet,
daß auf der von der Basiszone (3) abgewandten Seite der Emit
terzone (9) des Thyristors eine die Ladungsträger-
Rekombination erhöhende und die Emitterzone (9) zumindest teil
weise bedeckende Schicht (15) aus Metall oder Silizid aufge
bracht ist.
2. Kaskoden-MOS-Thyristor nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß mit der Hauptzelle (A) noch eine zweite Zelle (C) mit ei
nem MOS-Schalter verbunden ist, die mit der Hauptzelle (A)
einen FET mit einem Kanal eines zweiten Leitfähigkeitstyps bil
det.
3. Kaskoden-MOS-Thyristor nach einem der Ansprüche 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß unter wenigstens einer Zelle aus der ersten und der zwei
ten Zelle (B, C) eine mit der Basiszone (3) in Verbindung
stehende Isolatorschicht (16) angeordnet ist.
4. Kaskoden-MOS-Thyristor nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet, daß sich die
Isolatorschicht (16) lateral in die Hauptzelle (A) hinein
erstreckt.
5. Kaskoden-MOS-Thyristor nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die Iso
latorschicht (16) mit der Basisschicht (5) der Hauptzelle (A)
teilweise überdeckend in Verbindung steht.
6. Kaskoden-MOS-Thyristor nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Ba
sisschicht (5) mit einer Öffnung (17) versehen ist.
7. Kaskoden-MOS-Thyristor nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Basiszone (3) epitaktisch aufgewachsen, n-leitend und
mit einem Lebensdauer-Killer dotiert ist.
8. Kaskoden-MOS-Thyristor nach Anspruch 7,
da durch gekennzeichnet,
daß ein Teil der n-leitenden Basiszone (3) mit dem Lebensdau
er-Killer, insbesondere Gold, Platin oder durch mit Bestrah
lung erzeugten Kristallfehlern, dotiert ist.
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US4982258A (en) * | 1988-05-02 | 1991-01-01 | General Electric Company | Metal oxide semiconductor gated turn-off thyristor including a low lifetime region |
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---|---|---|---|---|
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