DE19728698A1 - Verfahren zur Detektion eines Elementes in einer Probe - Google Patents
Verfahren zur Detektion eines Elementes in einer ProbeInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Detektion eines Elementes in einer
Probe, bei dem mit einem Transmissionselektronenmikroskop ein erstes Bild der
Intensitäten der Probe in einem Energieverlustbereich vor der Elementkante
und ein zweites Bild der Intensitäten der Probe bei einem Energieverlust im
Bereich der Elementkante gemessen wird.
Dieses Verfahren wird auch als 2-Fenster-Differenzmethode bezeichnet. Die
Schwierigkeit bei dieser Methode liegt darin, daß die Intensität des Untergrundes
eine Funktion des Energieverlustes ist und somit innerhalb des Energiefensters
verschiedene Untergrundintensitäten festzustellen sind. Die Untergrundintensität
hängt im wesentlichen von der Dicke der Probenstelle ab und nimmt zu höherem
Energieverlust hin ab. Um das reine elementspezifische Signal, d. h. die element
spezifische Intensität zu ermitteln, wird zunächst in dem für das zu detektierende
Element spezifischen Energieverlustbereich die Intensität gemessen und von
diesen gemessenen Werten ein Untergrundwert im Energieverlustbereich
subtrahiert, wobei der Untergrund im elementspezifischen Energiefenster eine
Funktion des Untergrunds außerhalb des elementspezifischen Energiefensters ist.
Bei der bekannten Methode wird davon ausgegangen, daß die Intensität des
Untergrunds im Bereich des Energiefensters eine lineare Funktion der Intensität
vor dem Energiefenster ist.
Für viele Anwendungen ist die Annahme näherungsweise gerechtfertigt. Es ist
jedoch einerseits im Stand der Technik nicht befriedigend beschrieben, wie die
Parameter der linearen Funktion zu berechnen sind, und andererseits ist davon
auszugehen, daß in vielen Fällen eine lineare Funktion den natürlichen
Gegebenheiten nicht entspricht.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein gattungsgemäßes Verfahren
so weiterzuentwickeln, daß die beschriebene Funktion reproduzierbar bestimmbar
ist, um ein genaueres Bild der elementspezifischen Intensitäten zu berechnen.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, daß an einer Vergleichsprobe, die das
Element nicht enthält, für verschiedene Punkte die elementunspezifischen
Intensitäten I1 bei einem Energieverlust vor der Elementkante ermittelt wer
den, die elementunspezifischen Intensitäten I2 bei
einem Energieverlust im Bereich der Elementkante ermittelt werden, aus diesen
Werten eine Näherungsfunktion I2 (I1) berechnet wird und ein drittes Bild der
elementspezifischen Intensitäten IE berechnet wird, indem für jeden Punkt des
ersten Bildes mit der Intensität I1P mit der Näherungsfunktion die entsprechende
Intensität I2P berechnet wird und für den entsprechenden Punkt des zweiten Bildes
die Differenz aus gemessener Intensität I2'P und berechneter Intensität I2P als
elementspezifische Intensität IE ermittelt wird.
Das erfindungsgemäße Verfahren erlaubt es, experimentell die Funktion I2 (I1) zu
bestimmen und mittels dieser experimentell bestimmten Funktion das gemessene
Bild der Intensitäten bei einem Energieverlust im Bereich der Elementkante vom
elementunspezifischen Untergrund zu bereinigen. Dadurch wird der systematische
Fehler deutlich verfingert und der Untergrundabzug kann für jede Probe und für
alle variablen Parameter, die am Mikroskop eingestellt werden können, angepaßt
werden.
Die Intensitätspaare I1/I2 können graphisch dargestellt werden, so daß auch
optisch leicht zu erkennen ist, ob die berechnete Näherungsfunktion den
gemessenen Werten entspricht.
Vorteilhaft ist es, wenn die Vergleichsprobe einen Verlauf mit unterschiedlichen
Probedicken aufweist. Da die Probendicke am stärksten das Untergrundsignal
beeinflußt, ermöglicht ein Verlauf mit unterschiedlichen Probedicken die Messung
verschiedener Untergrundsignale und somit die Ermittlung verschiedener
Intensitätspaare I1/I2.
Dieser Verlauf sollte möglichst keine Stufen aufweisen und hat vorzugsweise die
Form einer Rampe.
Vorzugsweise weist die Vergleichsprobe mindestens die Dicke der Probe auf.
Dadurch wird sichergestellt, daß für alle im Bereich der Probe auftretenden
Untergrundsignale ein entsprechendes Untergrundsignal an der Vergleichsprobe
zu ermitteln ist.
Besonders bewährt haben sich Vergleichsproben, die aus reinem Kohlenstoff
bestehen. Derartige Vergleichsproben lassen sich in allen
elektronenmikroskopisch orientierten Labors ohne Probleme herstellen und eignen
sich vorallem für biologische Proben, sofern sie nicht nachträglich mit
Schwermetallen behandelt wurden.
Um das Rauschen in den von den Bildern abgeleiteten Graphen zu reduzie
ren, wird vorgeschlagen, daß die Intensität eines jeden Punktes als Mittel
wert seiner Umgebung gemessen wird. Bspw. kann jedes der Bilder aus
1014×1024 Bildpunkten bestehen, wobei der Intensitätswert jedes Bild
punktes durch den Mittelwert aus der Umgebung von 10×10 Bildpunkten
ersetzt wird. Nach Erhalt der errechneten Funktion wird jedoch mit den
Originalbildern weitergearbeitet.
Um die Güte der Näherungsfunktion zu bestimmen und ggfls. die
Näherungsfunktion durch eine weiter angenäherte Funktion zu ersetzen, wird
vorgeschlagen, daß die Güte der Funktion I2 (I1) durch statistische Funktionen
bestimmt wird. Dies ermöglicht es, auch den Fehler des Verfahrens
reproduzierbar zu bestimmen.
Das erfindungsgemäße Verfahren wurde mit großem Erfolg am Element
Phosphor erprobt. Dieses Verfahren kann aber auch für die Detektion anderer
Elemente wie bspw. Eisen angewandt werden. Da DNA Phosphor enthält, erlaubt
das erfindungsgemäße Verfahren den Verlauf der DNA z. B. in Viren oder
anderen DNA-Protein-Komplexen nachzuweisen.
Im folgenden wird das erfindungsgemäße Verfahren anhand eines
Ausführungsbeispiels näher beschrieben.
Es zeigt
Fig. 1 die Intensität I des Elektronenstrahls über dem
Energieverlust E an einer dicken Probenstelle,
Fig. 2 die Intensität I über dem Energieverlust E an einer
dünnen Probenstelle,
Fig. 3 einen Querschnitt durch ein Präparat mit einer Probe
und einer Vergleichsprobe und
Fig. 4 eine graphische Darstellung der Intensität I2 bei einem
Energieverlust im Bereich der Elementkante über der
Intensität I1 bei einem Energieverlust vor der
Elementkante für verschiedene Punkte der
Vergleichsprobe,
Fig. 5 Aufnahme von Bildern, eines bei E1 = 115 eV, also vor der Phosphor
kante und eines bei E2 = 160 eV, beim Maximum der Phosphorkante
(Abb. 5a/b). Jedes der Bilder besteht aus 1024×1024 Bildpunkten.
Für jedes Element des Periodensystems gibt es charakteristische
Energieverlustbereiche, in denen die Intensität des Elektronenstrahls erhöht ist,
wenn dieses Element in der Probe vorhanden ist. Die Fig. 1 und 2 zeigen die
Intensität des Elektronenstrahls in Abhängigkeit vom Energieverlust modellhaft
für zwei verschieden dicke Probenstellen, in denen sich das gesuchte Zielelement
befindet. In diesem Fall ist das Zielelement Phosphor. In beiden Figuren lassen
sich zwei verschiedene Signalarten unterscheiden: ein elementunspezifischer
Untergrund 1 bzw. 1', der zu höherem Energieverlust hin abnimmt und ein
elementspezifisches Signal 2 bzw. 2', das ab einer für das Element typischen
Energie auftritt. Für Phosphor tritt dieses Signal am EP = 130 eV auf und
erreicht das Maximum bei E2 = 160 eV. Wegen der Form des
elementspezifischen Signals wird auch von einer "Elementkante" gesprochen. Die
Lage dieser Elementkante ist für jedes Element spezifisch.
Im vorliegenden Fall soll Phosphor nachgewiesen werden und daher werden die
Elektronen herausgefiltert, die 160 eV (E2) verloren haben. Der Bereich um 160
eV unterhalb des elementspezifischen Signals 2 beschreibt eine Fläche 3, die der
Intensität I2'P der Probe bei einem Energieverlust im Bereich der Elementkante
entspricht. Dieser Intensitätsbereich 3 bzw. 3' besteht aus dem Anteil 4 bzw. 4'
des reinen Elementsignals und dem Anteil 5 bzw. 5' des Untergrunds. Um das
reine Elementsignal 4 bzw. 4' zu erhalten, muß dieser Untergrund 5 bzw. 5'
herausgerechnet werden. Im Stand der Technik wird dieser Untergrund aus
Bildern vor der Kante unter Verwendung eines vorbestimmten Rechenalgorithmus
berechnet. Diese Algorithmen heißen beispielsweise "power-law, exponential-law,
two-windows-differential-law". Das vorliegende Verfahren basiert auf der
2-Fenster-Differenzmethode und zur Berechnung des Untergrundes wird zunächst
für einen Energieverlust E1 = 115 eV vor der Kante der Intensitätbereich 6
gemessen. Da das Verhältnis zwischen dem Intensitätsbereich 5 auf der Kante
und dem Intensitätsbereich 6 vor der Kante vor allem von der Schichtdicke der
Probenstelle abhängt, aber auch von den gewählten Energieverlustbereichen, wird
zunächst eine Vergleichsstruktur untersucht, um für bestimmte Energieverluste
E1 vor der Kante und E2 auf der Kante die Funktion zwischen der Intensität auf
der Kante und der Intensität vor der Kante zu ermitteln.
Als Vergleichsstruktur oder Vergleichsprobe dient ein Präparat oder ein Teil der
zu untersuchenden Probe, bei dem das zu detektierende Element mit Sicherheit
nicht enthalten ist. Die Vergleichsprobe kann somit ein Teil der zu
untersuchenden Präparate sein, in dem das zu untersuchende Element nicht
vorhanden ist. Vorzugsweise wird jedoch auf dem Objektträger neben der zu
untersuchenden Probe als Extrapräparat eine Vergleichsstruktur erzeugt, von der
bekannt ist, daß diese die gleichen Eigenschaften bezüglich des Untergrundsignals
hat, wie die zu untersuchende Probe. Die Vergleichsstruktur enthält das gesuchte
Element nicht.
Für die Untersuchung von Makromolekülen wird das zu untersuchende Material
auf eine Kohlenstoffolie aufgebracht, weiche auf einem Kupfernetz liegt. Dieses
Verfahren ist allgemein etabliert und wurde so modifiziert, daß auf die
Trägerfolie zusätzlich mindestens eine Kohlenstofframpe aufgedampft wird. Diese
Rampe wird auch als Massendickemarker bezeichnet, da sie verschiedene Dicken
aufweist. Erst dann wurde das zu untersuchende Material aufgebracht.
Fig. 3 zeigt die Trägerfolie 7 aus Kohlenstoff, auf die als Massendickemarker
eine Kohlenstofframpe 8 zusätzlich aufgebracht wurde. Neben der Kohlen
stofframpe 8 ist auf die Trägerfolie 7 das zu untersuchende Material 9
aufgebracht. Beim Aufbringen des Massendickemarkers 8 wurde darauf geachtet,
daß eine Rampe und keine Stufe entsteht, so daß der Untergrund für alle Dicken
zwischen dem Minimum (der Trägerfolie) und dem Maximum des Massendicke
markers ermittelt werden kann. Die maximale Dicke des Markers wurde so
gewählt, daß mindestens die Dicke der zu untersuchenden Struktur erreicht wird.
Als Testpräparat wurde im vorliegenden Fall der Turnip Yellow Mosaic Viruses
(TYMV) benutzt.
Von dem Testpräparat mit Virus und Kohlenstofframpe wurden Bilder mit 1024
mal 1024 Bildpunkten aufgenommen. Für das erste Bild wurde ein
Elektronenstrahl mit einem Energieverlust E1 = 115 eV, also vor der
Phosphorkante verwendet und für das zweite Bild wurde ein Elektronenstrahl mit
einem Energieverlust E2 = 160 eV beim Maximum der Phosphorkante genutzt.
Um das Rauschen in den von den Bildern abgeleiteten Graphen zu reduzie
ren, wurde der Intensitätswert jedes Bildpunktes durch den Mittelwert
seiner Umgebung, bestehend aus 10×10 Bildpunkten ersetzt, wobei da
nach mit den Originalbildern weitergearbeitet wird.
Anschließend wird ein Bereich ausgewählt, von dem
ausgegangen werden kann, daß dieser kein Phosphor enthält. Innerhalb dieses
Bereiches wird für viele Bildpunkte die Intensität vor und auf der Kante
gemessen, so daß eine Tabelle aus Wertepaaren I1 (vor der Kante) zu I2 (auf der
Kante) entstand. Diese Wertepaare werden in einem Graphen aufgetragen, in dem
die Intensität I2 (auf der Kante) über der Intensität I1 (vor der Kante) für einzelne
Bildpunkte dargestellt ist. Bei der Auswahl der Wertepaare wurde darauf
geachtet, daß sich die Punkte im Graphen gleichmäßig über den ganzen
Intensitätsbereich verteilen, so daß sich eine lückenlose Darstellung ergibt.
Durch die Punkte wird eine Kurve gefittet. Im vorliegenden Fall hat sich ein
Polynom dritter Ordnung als gute Näherungsfunktion 10 ergeben. Die Güte der
Näherungsfunktion 10 läßt sich aufgrund statistischer Kriterien überprüfen. Diese
Funktion ergibt für den untersuchten Bereich des Massendickenmarkers 8 das
Verhältnis von I2 zu I1 für den elementunspezifischen Untergrund.
Vom zuvor erzeugten Bild auf der Kante bei einem Energieverlust E2 von 160 eV
wird nun mit Hilfe der errechneten Funktion und dem Bild vor der Kante der
Untergrund subtrahiert, so daß nur das reine Elementsignal übrigbleibt. Dabei
entsteht ein drittes Bild, das nur die elementspezifischen Intensitäten IE angibt.
Hierzu wird zunächst für jeden Punkt des ersten Bildes mit der Intensität I1P mit
der Näherungsfunktion die entsprechende Intensität I2P berechnet und für den
entsprechenden Punkt des zweiten Bildes wird die Differenz aus der gemessenen
Intensität I2'P und der berechneten Intensität I2P als elementspezifische Intensität
IE ermittelt.
Claims (10)
1. Verfahren zur Detektion eines Elementes in einer Probe, bei dem mit einem
Transmissionselektronenmikroskop ein erstes Bild der Intensitäten I1P der
Probe bei einem Energieverlust vor der Elementkante gemessen wird und
ein zweites Bild der Intensitäten I2P bei einem Energieverlust im Bereich der
Elementkante gemessen wird, dadurch gekennzeichnet, daß an einer Ver
gleichsprobenstelle, die das Element nicht enthält, für verschiedene Punkte
die elementunspezifischen Intensitäten I1 bei einem Energieverlust vor der
Elementkante ermittelt werden, die elementunspezifischen Intensitäten I2 bei
einem Energieverlust im Bereich der Elementkante ermittelt werden, aus
diesen Werten eine Näherungsfunktion I2 (I1) berechnet wird und ein drittes
Bild der elementspezifischen Intensitäten IE berechnet wird, indem für jeden
Punkt des ersten Bildes mit der Intensität I1P mit der Näherungsfunktion die
entsprechende Intensität I2P berechnet wird und für den entsprechenden
Punkt des zweiten Bildes die Differenz aus gemessener Intensität I2'P und
berechneter Intensität I2P als elementspezifische Intensität IE ermittelt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergleichs
probe einen Verlauf mit unterschiedlichen Probedicken aufweist.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Verlauf die
Form einer Rampe hat.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Vergleichsprobe mindestens die Dicke der Probe aufweist.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Vergleichsprobe den Hauptbestandteil der Probe enthält.
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Vergleichsprobe aus reinem Kohlenstoff oder Silizium
besteht.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Intensität eines jeden Punktes als Mittelwert seiner Umge
bung angegeben wird.
8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Güte der Näherungsfunktion I2 (I1) durch statische Funktio
nen bestimmt wird.
9. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekenn
zeichnet, daß das detektierte Element eine Energieverlustkante zwischen 40
und 300 eV hat.
10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß das detektierte
Element Phosphor oder Eisen ist.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19728698A DE19728698A1 (de) | 1997-07-04 | 1997-07-04 | Verfahren zur Detektion eines Elementes in einer Probe |
PCT/DE1998/001865 WO1999001753A2 (de) | 1997-07-04 | 1998-07-06 | Verfahren zur detektion eines elementes in einer probe |
DE59806059T DE59806059D1 (de) | 1997-07-04 | 1998-07-06 | Verfahren zur detektion eines elementes in einer probe |
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US09/476,514 US6586735B1 (en) | 1997-07-04 | 2000-01-03 | Method for detecting an element in a sample |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19728698A DE19728698A1 (de) | 1997-07-04 | 1997-07-04 | Verfahren zur Detektion eines Elementes in einer Probe |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19728698A1 true DE19728698A1 (de) | 1999-02-04 |
Family
ID=7834709
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19728698A Withdrawn DE19728698A1 (de) | 1997-07-04 | 1997-07-04 | Verfahren zur Detektion eines Elementes in einer Probe |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19728698A1 (de) |
Citations (4)
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- 1997-07-04 DE DE19728698A patent/DE19728698A1/de not_active Withdrawn
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SCHMIDT, H.U. Meßelektronik in der Kernphysik, B.G. Teubner, Stuttgart 1986, S. 191-194 * |
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