DE19727956C1 - Optisches Endstück und Verfahren zum Prüfen der Kopplungsfläche eines optischen Endstücks - Google Patents

Optisches Endstück und Verfahren zum Prüfen der Kopplungsfläche eines optischen Endstücks

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Description

Die Erfindung liegt auf dem Gebiet ein- oder mehrkanaliger optischer Verbindungen, bei deren Realisierung optische End­ stücke zum kopplungsfähigen Anschluß eines oder mehrerer Lichtwellenleiterenden zum Einsatz kommen. Im Rahmen der vor­ liegenden Erfindung ist unter einem Lichtwellenleiter ein zur Führung und Weiterleitung eines optischen Signals geeigneter Leiter zu verstehen, wie z. B. konfektionierte Lichtwellen­ leiter, Lichtwellenleiterbänder oder auf einem Substrat aus­ gebildete optische Leiter (sog. wafe guides).

Die Erfindung betrifft ein optisches Endstück zum endseitigen Anschluß eines oder mehrerer Lichtwellenleiter mit einer Kopplungsfläche, an der der oder die Lichtwellenleiter en­ det/enden.

Ein derartiges, aus der EP 0 712 015 A2 bekanntes Endstück nimmt mehrere in einer gemeinsamen Ebene parallel angeordnete Lichtwellenleiterenden auf. Die zur optischen Ankopplung die­ nenden Endflächen der Lichtwellenleiter liegen in einer ge­ meinsamen Kopplungsfläche des auch als Kopplungskörper oder Ferrule bezeichneten Endstücks. Über die Endfläche können in den jeweiligen Lichtwellenleiter optische Signale eines Kopp­ lungspartners eingespeist bzw. in dem jeweiligen Lichtwel­ lenleiter geführte optische Signale an einen Kopplungspartner ausgespeist werden. Wegen der vergleichsweise kleinen Dimen­ sionen der lichtleitenden Kernquerschnitte bei Lichtwellen­ leitern kommt es für geringe Kopplungsverluste - d. h. für einen hohen sog. Kopplungswirkungsgrad - auf eine optimale Ausrichtung der Kopplungspartner zueinander an. Gemäß der EP 0 712 015 A2 ist insbesondere bei der optischen Kopplung zweier gleichartiger Endstücke mit jeweils mehreren Lichtwel­ lenleiterenden ein fluchtender, unmittelbarer Körperkontakt der kopplungspartnerseitigen Lichtwellenleiterendflächen wün­ schenswert. Dazu werden u. a. speziell geformte (z. B. ge­ wölbte) Kopplungsflächen und die Aufbringung ausreichender axialer Druckkräfte vorgeschlagen.

Damit noch ungelöst ist jedoch die bei Endstücken sowohl für ein einziges Lichtwellenleiterende als auch für mehrere Lichtwellenleiterenden (auch als Mehrfachsteckverbinder oder MT-Ferrulen bezeichnet) auftretende Problematik der relativ zu den Lichtwellenleiterenden und der Endstückgeometrie - insbesondere der Ausrichtmittel oder -flächen des Endstücks - exakten winkelgerechten Ausbildung der Kopplungsfläche. Wäh­ rend bei kreiszylindrischen Steckverbindern mit nur einem Lichtwellenleiterende und damit einem punktuellen, zentri­ schen Kopplungskontakt zur Umgehung dieser Problematik die Steckerstiftstirnfläche (Kopplungsfläche) ballig geschliffen werden kann, muß bei einer langgestreckten Kopplungsfläche besonders dafür gesorgt sein, daß die Kopplungsfläche win­ kelgetreu in der nach Bearbeitung der Kopplungsfläche ge­ wünschten Soll-Fläche oder bei ebenen Kopplungsflächen in der Soll-Ebene liegt. Entsteht nämlich nach stirnseitiger Präpa­ ration des Endstücks die Kopplungsfläche "windschief", d. h. nicht zumindest parallel zu der Soll-Fläche, wird der Kopp­ lungswirkungsgrad erheblich verschlechtert oder gar eine optische Übertragung unmöglich. So kann beispielsweise bei einem gewünschten direkten Kontakt der kopplungspartnersei­ tigen Kopplungsflächen aufgrund einer winkelfehlerbehafteten Kopplungsfläche eines der Kopplungspartner neben einem teilweisen Kontakt ein unerwünschter Luftspalt im übrigen Be­ reich zwischen den beiden Kopplungsflächen entstehen.

Die Aufgabe der Erfindung besteht daher in der Schaffung ei­ nes optischen Endstücks und eines Verfahrens zum Prüfen der Kopplungsfläche eines optischen Endstücks, wobei durch einfa­ che Maßnahmen während und nach der Bildung und/oder Behand­ lung der Kopplungsfläche (Kopplungsflächenpräparation) eine Abweichung (Fehlwinkel) der entstehenden Kopplungsfläche von einer vorgegebenen Soll-Fläche erkennbar ist.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß bei einem Endstück der eingangs genannten Art dadurch gelöst, daß das Endstück zu­ mindest eine Prüfstruktur mit zumindest zwei Flächenab­ schnitten aufweist, daß beide Flächenabschnitte in einem dem Betrage nach gleichen, von 90° verschiedenen Winkel zu einer Soll-Fläche stehen, wobei bei winkelfehlerfreier Ausbildung die Kopplungsfläche zumindest parallel zu der Soll-Fläche entsteht, und daß die Flächenabschnitte bei winkelfehlerhaf­ ter Ausbildung der Kopplungsfläche unterschiedlich sind. Vorzugsweise werden bereits bei der Herstellung des bevorzugt als Präzisionskunststoffteil ausgebildeten Endstücks die Prüfstrukturen im Bereich der Kopplungsfläche formtechnisch ausgebildet. Dies ermöglicht, die Prüfstruktur in bezug auf die Achsen der Lichtwellenleiterenden bzw. auf die Flächen­ normale der Soll-Fläche äußerst präzise und reproduzierbar auszubilden. Nach dem anschließenden Einbringen und Fixieren der Lichtwellenleiterenden wird die Kopplungsfläche bei­ spielsweise durch Trennverfahren, Polieren und/oder andere oder ergänzende z. B. auch microspanabhebende Verfahren der­ art erzeugt oder präpariert, daß zumindest der kopplungsrele­ vante, die Lichtwellenleiterendflächen einschließende Bereich in der für die Kopplung optimalen Soll-Fläche oder zumindest parallel zu dieser liegt.

Infolge fehlerhafter Präparation auftretende Fehlwinkel füh­ ren jedoch zu einer von der Soll-Lage abweichenden Ist-Lage der in diesem Fall auch als windschief bezeichneten Kopp­ lungsfläche. Die fehlerhafte Präparation beeinflußt auch die an der Kopplungsfläche endende Prüfstruktur, so daß eine leicht erkennbare unterschiedliche Bearbeitung zumindest von den auszuwertenden Flächenabschnitten der Prüfstruktur er­ folgt.

Ein wesentlicher Vorteil des erfindungsgemäßen Endstücks be­ steht damit darin, daß bereits während der Präparation (beispielsweise während des Polierprozesses) eine sich ab­ zeichnende Fehlstellung der Kopplungsfläche erkennbar und ggf. korrigierbar ist. Vorteilhafterweise ermöglicht die Prüfstruktur eine einfache Auswertung sowohl mit bloßem Auge als auch meßtechnisch, so daß unmittelbar sowohl eine quali­ tative Aussage - dahingend, ob die Kopplungsfläche in der oder außerhalb der Soll-Fläche liegt als - auch bedarfsweise ein Ermitteln der auftretenden Fehlwinkel ermöglicht ist.

Eine Ausgestaltungsmöglichkeit des erfindungsgemäßen End­ stücks besteht darin, die Prüfstruktur als Kegel oder Kegel­ stumpf auszubilden. Bei einer fehlerhaften Präparation der Kopplungsfläche würden dann die die Gerade mit dem größten Fehlwinkel schneidenden Flächenabschnitte der Kegelform am unterschiedlichsten berarbeitet. Dabei ergibt sich nämlich anstelle der - bei fehlerfreier Bearbeitung - keisrunden Kopf- oder Fußfläche des Kegelstumpfes eine elliptische Flä­ che, deren längere Hauptachse einen Rückschluß auf den größ­ ten Fehlwinkel zuläßt.

Eine besonders gute Erkennbarkeit einer fehlerhaft bearbeite­ ten Kopplungsfläche ist nach einer bevorzugten Fortbildung der Erfindung dadurch erreichbar, daß die Prüfstruktur zwei Teilstrukturen umfaßt; diese sind nach einer weiteren vor­ teilhaften Ausbildung der Erfindung symmetrisch zur Längssym­ metrieebene der Soll-Fläche ausgebildet.

Eine vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, daß die Prüfstruktur oder die Teilstrukturen Ausnehmungen sind.

Eine alternative bevorzugte Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, daß die Prüfstruktur oder die Teilstrukturen Erhebungen sind. Bei dieser Ausgestaltung können die Prüfstruktur bzw. die Teilstrukturen weitestgehend unabhängig von der weiteren Beschaffenheit des die Kopplungsfläche umgebenden Stirnbe­ reichs des Endstücks ausgebildet werden.

Im Hinblick auf die leichte Erkennbarkeit einer windschief ausgebildeten Kopplungsfläche haben sich Prüfstrukturen oder Teilstrukturen als besonders günstig erwiesen, die eine pyra­ miden- oder pyramidenstumpfförmige oder eine kegel- oder ke­ gelstumpfförmige Gestalt haben.

Konstruktiv bevorzugt ist eine Ausgestaltung der Erfindung derart, daß die Ausnehmungen oder Erhebungen zur Aufnahme von Zentriermitteln ausgebildet sind. Die Ausnehmungen können da­ bei Zentriermittel fixieren oder beim Kopplungsvorgang mit Zentriermitteln eines Kopplungspartners zusammenwirken.

Unter Anwendung des der Erfindung zugrundeliegenden Prinzips sieht ein Verfahren zum Prüfen der Kopplungsfläche eines op­ tischen Endstücks zum endseitigen Anschluß eines oder mehre­ rer Lichtwellenleiter auf winkelkorrekte Ausbildung in bezug auf eine Soll-Fläche erfindungsgemäß vor, daß das Endstück mit zumindest einer Prüfstruktur versehen wird und daß zumin­ dest zwei Flächenabschnitte der Prüfstruktur bei der Bear­ beitung oder Erzeugung der Kopplungsfläche mitbearbeitet wer­ den, wobei die Flächenabschnitte derart gestaltet werden, daß bei winkelfehlerhafter Abweichung der erzeugten Kopplungs­ fläche von der Soll-Fläche durch die Prüfstruktur eine op­ tisch erkennbare Fehlanzeige bewirkt wird.

Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachfolgend anhand einer Zeichnung näher erläutert; dabei zeigen:

Fig. 1A, 1B und 1C ein erfindungsgemäßes Endstück mit feh­ lerhaft ausgebildeter Kopplungsfläche in perspektivischer An­ sicht, im Längsschnitt und in stirnseitiger Ansicht,

Fig. 2A, 2B und 2C ein gleichartiges Endstück mit winkel­ fehlerfrei ausgebildeter Kopplungsfläche,

Fig. 3 ein weiteres Endstück,

Fig. 4 ein Endstück mit einer erhabenen Prüfstruktur,

Fig. 5 eine weitere Variante eines Endstücks mit einer al­ ternativen Prüfstruktur,

Fig. 6A, 6B und 6C ein Endstück mit kegelstumpfförmiger Prüfstruktur

Fig. 7A und 7B das Endstück nach den Fig. 6A bis 6C nach (fehlerhafter) Endflächenbearbeitung und

Fig. 8A bis 8C eine weitere Ausführungsform eines End­ stücks nach der Stirnflächenpräparation.

Das in den Fig. 1A bis 1C gezeigte Endstück umfaßt einen Kopplungskörper 1, der ein im Präzisionsspritzguß hergestell­ ter Kunststoffkörper mit einer Vielzahl in Richtung seiner Längsachse 2 durchgehenden parallelen Bohrungen 3 zur Auf­ nahme einer gleichen oder geringeren Anzahl von Lichtwellen­ leitern 4 ist. Die Lichtwellenleiter 4 treten aus dem rück­ wärtigen Ende 1a des Endstücks 1 aus und verlaufen beispiels­ weise in einem gemeinsamen Lichtwellenleiterband 5. Die von dem Endstück 1 aufgenommenen Lichtwellenleiter 4 enden mit ihren kopplungsseitigen Stirnflächen 4a an einer Kopplungs­ fläche 1b des Endstücks 1. Die Kopplungsfläche 1b kann in ih­ rer Struktur zum unmittelbaren körperlichen Kontakt mit einem nicht dargestellten Kopplungspartner ausgebildet sein, wie beispielsweise in der EP 0 712 015 A2 ausführlich beschrie­ ben. Für eine hochwertige optische Kopplung ist jedoch Vor­ aussetzung, daß die Kopplungsfläche 1b zumindest entlang ei­ ner die Stirnflächenzentren der Lichtwellenleiter durchzie­ henden Linie 6 bzw. in dem die Stirnflächen umfassenden Kopplungsflächenbereich 7 in Körperkontakt mit der entspre­ chenden Kopplungsfläche des Kopplungspartners gelangt. Dies ist nur gewährleistet, wenn die Kopplungsfläche vorgabengemäß - d. h. in einer Soll-Fläche oder Soll-Ebene - entsteht oder zumindest parallel, aber nicht winkelschief zu dieser ausge­ bildet wird.

Zur näheren Erläuterung der der Erfindung zugrundeliegenden Problematik ist zunächst in den Fig. 1A bis 1C ein End­ stück mit einer fehlerhaft präparierten Kopplungsfläche 1b dargestellt. Wie besonders deutlich aus Fig. 1B hervorgeht, ist zwischen der ausgebildeten Kopplungsfläche 1b und der Soll-Fläche SF (Fläche bzw. Ebene, in der idealerweise die gewünschte Kopplungsfläche liegen sollte) ein Winkel α ≠ 0 eingeschlossen. Im vorliegenden Fall wird die Kopplungsfläche 1b daher auch als windschief bezeichnet. Aufgrund der in der optischen Verbindungstechnik üblicherweise sehr geringen Di­ mensionen ist eine solche winkelfehlerhafte Ausbildung der Kopplungsfläche nicht ohne weiteres erkennbar, sondern macht sich ungünstigstenfalls erst bei Abschlußprüfungen oder im Betrieb durch schlechte Kopplungswirkungsgrade bemerkbar.

Erfindungsgemäß weist das Endstück eine Prüfstruktur 12 auf, die im ersten Ausführungsbeispiel zwei symmetrisch zur Längs­ symmetrieebene L der Soll-Fläche SF angeordnete pyramiden­ stumpfförmige Vertiefungen (Teilstrukturen) 14a, 14b umfaßt. Die Längssymmetrieebene L steht senkrecht zur Soll-Fläche SF. Jede Teilstruktur 14a, 14b umfaßt einen Flächenabschnitt 15a, 15b; beide Flächenabschnitte weisen eine zur Längssymme­ trieebene L entgegengesetzt spiegelsymmetrische Orientierung auf. Die Flächenabschnitte 15a, 15b schließen dadurch jeweils den nach dem Betrage nach gleichen von 90° verschiedenen Win­ kel mit der Soll-Fläche SF ein. Die schrägen Flächenab­ schnitte 15a, 15b erfahren bei einer fehlerhaften Präparation der Kopplungsfläche 1b einen unterschiedlich starken Abtrag. Wie insbesondere aus den Fig. 1A und 1C in der stirnseitigen Ansicht deutlich wird, ergeben sich damit aus den ursprünglich gleichartigen Teilstrukturen unterschiedlich tief reichende Flächenabschnitte 15a, 15b. Dadurch stellt sich die jeweilige Fußfläche der pyramidenstumpffartigen Vertiefung 14a, 15b verzerrt und erkennbar unterschiedlich dar. Auf diese Weise ist bereits während des Präparationspro­ zesses eine fehlerhafte Bearbeitung erkennbar.

Die Fig. 2A bis 2C zeigen ein Endstück, das konzeptionell mit dem in den Fig. 1A bis 1C dargestellten Endstück über­ einstimmt; hier ist die Koppelfläche jedoch fehlerfrei bear­ beitet worden. Daher liegt die gewünschte Kopplungsfläche 1b' in der Soll-Fläche SF (Soll-Ebene), so daß die Endflächen 4a der Lichtwellenleiter 4 tatsächlich alle in der "idealen" Kopplungsfläche liegen. Die Prüfstruktur 12' mit symmetrisch zur Längssymmetrieebene L ausgebildeten pyramidenstumpfförmi­ gen Teilstrukturen 14a', 14b' ist in vorbeschriebener Weise ausgebildet. Bei der fehlerfreien Endflächenpräparation sind die schrägen Flächen 15a', 15b' gleichstark abgetragen (verkürzt) worden, so daß sich das z. B. in Fig. 2C erkenn­ bare symmetrische stirnseitige Bild des Endstückes ergibt. Mit bloßem Auge ist die gleichartige Geometrie der verbliebe­ nen Teilstrukturen 14a', 14b' und insbesondere deren Fußflä­ chen 16a, 16b erkennbar, so daß zumindest qualitativ unmit­ telbar auf eine winkelkorrekte Ausbildung der Kopplungsfläche 1b' geschlossen werden kann. Zur meßtechnischen Ableitung der Fehlerhaftigkeit können die in Fig. 1C mit 17a und 17b bemaßten Grenzlinien der Fußflächen 16a, 16b der Teilstruktu­ ren 14a, 14b herangezogen werden. Daraus läßt sich in Kennt­ nis der ursprünglichen Teilstrukturengeometrie der Winkelfeh­ ler bestimmen.

Fig. 3 zeigt eine Abwandlung des zuvor beschriebenen Aus­ führungsbeispiels dahingehend, daß nach Präparation der Kopp­ lungsfläche 1b'' in die Teilstrukturen 14a'' und 14b'' in nicht mehr erkennbare Bohrungen unmittelbar Ausrichtmittel in Form von Zentrierstiften 18, 19 eingesetzt sind. Vorteilhafter­ weise dienen die Teilstrukturen damit als Einfädelhilfe für die Ausrichtmittel; durch die Prüfstruktur ist kein zusätz­ licher Platzbedarf im Stirnbereich des Endstücks erforder­ lich.

Während bei den vorbeschriebenen Ausführungsbeispielen die Prüfstruktur als Vertiefungen ausgebildet sind, deren Fuß­ flächen an der Kopplungsfläche enden, zeigt Fig. 4 ein al­ ternatives Ausführungsbeispiel, bei dem die Prüfstruktur als Erhebung 20 ausgebildet ist. Beiderseits einer Linie 21, auf der die Lichtwellenleiterendflächen 22 liegen, sind Zentrier­ mittel 23, 24 (nach Bearbeitung der Kopplungsfläche 25) ein­ gesetzt. Die Erhebung 20 weist zumindest an zwei gegenüber­ liegenden Seiten zwei Flächenabschnitte 20a, 20b auf, die ei­ nen dem Betrage nach gleichen Winkel mit der Soll-Fläche SF' für die Kopplungsfläche 25 einschließen. Auch hier kommt bei einer fehlerhaften Kopplungsflächenpräparation das der Erfin­ dung übergeordnete Prinzip einer ungleichmäßigen Endform der Prüfstruktur bzw. der Flächenabschnitte 20a bzw. 20b zum Tra­ gen. Im Falle einer (wie in der Fig. 1A bis 1C dargestell­ ten) zur Soll-Fläche SF' schiefwinkligen Ausbildung der Kopp­ lungsfläche 25 würden beispielsweise die Begrenzungslinien 27, 28 des Flächenabschnittes 20b enger zusammenrücken als die entsprechenden Begrenzungslinien 29, 30 des Flächenab­ schnittes 20a. Dies ist bei stirnseitiger Betrachtung des Endstückes leicht erkennbar. Für den Fall, daß auch eine Ver­ kippung der Kopplungsfläche 25 um eine Horizontalachse H zu befürchten ist, kann die Prüfstruktur 20 auch entsprechende Flächenabschnitte 32, 33 aufweisen. Bei einer windschiefen Bearbeitung um die Achse H würden entsprechend die Begren­ zungslinien der Flächenabschnitte 32 und 33 unterschiedlich dicht zusammenrücken.

Fig. 5 zeigt eine Ausgestaltung eines erfindungsgemäßen End­ stückes, bei dem die Prüfstruktur zur Erzielung einer beson­ ders feinen Auflösung aus zwei langgestreckten wannenartigen Vertiefungen 40, 41 gebildet ist, die jeweils spiegelsymme­ trisch aufeinanderzulaufende schräge Flächenabschnitte, z. B. 40a, 41a; 40b, 41b, aufweisen.

Als sehr geeignet erweisen sich Prüfstrukturen mit einer ke­ gel- oder kegelstumpfförmigen Gestalt, deren Längsachse senk­ recht auf der gewünschten Soll-Fläche steht. Die Prüfstruktur kann auch von einer einzigen Erhebung oder Vertiefung mit ke­ gel- oder kegelstumpfförmiger Gestalt gebildet sein. Wie die Fig. 6A bis 6C dazu schematisch zeigen, sind kegel­ stumpfförmige Erhebungen 50a, 50b vorgesehen, die - wie durch die Linie 51 in Fig. 6B angedeutet - in einem nachfolgenden Poliervorgang der Kopplungsfläche 52 mitbearbeitet werden. Bei fehlerfreier Präparation wären zwei gleiche kreisrunde Deckflächen erkennbar, die parallel zu den ursprünglichen Oberseiten 53a, 53b der Kegelstümpfe 50a, 50b entstehen wür­ den.

Die Fig. 7A und 7B zeigen das vorbeschriebene Endstück mit den Prüfstrukturen 50a, 50b nach einer fehlerhaften Stirnflä­ chenbearbeitung. Man erkennt aufgrund der schiefwinkligen Be­ arbeitung (entlang der in Fig. 6B gestrichelt dargestellten Linie 51') jeweils unterschiedlich starke Materialabträge, die zu unterschiedlich großen Deckflächen 53a' und 53b' füh­ ren. Dies läßt leicht auf eine fehlerhafte Kopplungsflächen­ präparation schließen. In entsprechender Weise würde bei ei­ ner als Vertiefung ausgebildeten kegelförmigen oder kegel­ stumpfförmigen Prüfstruktur die Fußfläche des Kegelstumpfes bei fehlerhafter Präparation unterschiedliche Größe annehmen.

Die Fig. 8A bis 8C zeigen eine weitere Variante, bei der zwei angefaste zylindrische Zapfen 60, 61 mit je einer schie­ fen längsspiegelsymmetrischen Anfasung als Prüfstruktur vor­ gesehen sind. In den Figuren sind die beiden Flächenab­ schnitte (Anfasungen), die mit der Soll-Fläche den jeweils gleichen Winkel einschließen, mit 62a, 62b bezeichnet. Bei fehlerhafter Bearbeitung (wie dargestellt) der Kopplungsflä­ che 63 nehmen die Teilstrukturen 60, 61 die in Fig. 8B dar­ gestellte Gestalt an. Bei symmetrischer Anordnung zur Längs­ symmetrieebene L und gleicher Ausgestaltung der Teilstruktu­ ren 60, 61 weisen beide Flächen 61a, 61b die gleiche Form nur bei fehlerfreier Bearbeitung der Kopplungsfläche 63 auf. Auch dies ist einfach feststellbar.

Bei der Herstellung eines optischen Endstücks und der Prüfung von dessen Kopplungsfläche, beispielsweise gemäß den Fig. 2A bis 2C, wird zunächst das Endstück 1 im Präzisionsspritz­ gußverfahren aus Kunststoff hergestellt. Zum leichteren Ein­ bringen der Lichtwellenleiter 4 (Fig. 2B) kann das Endstück mehrteilig sein. Die in paralleler Anordnung gehaltenen Lichtwellenleiterenden werden soweit eingebracht und fixiert, daß ihre Endflächen mit der Kopplungsfläche des Endstücks ab­ schließen oder aus dieser heraustreten. Anschließend wird die Kopplungsfläche beispielsweise durch Polieren derart behan­ delt, daß die Lichtwellenleiter-Endflächen in der gewünschten Soll-Fläche liegen. Dabei wird die im Bereich der Kopplungs­ fläche vorgesehene Prüfstruktur zwangsweise mitbearbeitet, wobei zumindest die beiden Flächenabschnitte bei fehlerhafter Präparation - d. h. einer Ausbildung der Kopplungsfläche windschief zu der gewünschten Soll-Fläche - eine unterschied­ liche Gestalt aufweisen. Daraus ergibt sich unmittelbar eine die Fehlpräparation anzeigende Prüfstruktur.

Claims (9)

1. Optisches Endstück (1) zum endseitigen Anschluß eines oder mehrerer Lichtwellenleiter (4) mit einer Kopplungsfläche (1b), an der der oder die Lichtwellenleiter (4) endet/enden, dadurch gekennzeichnet, daß das Endstück (1) zumindest eine Prüfstruktur (12) mit zumindest zwei Flächenabschnitten (15a, 15b) aufweist, daß beide Flächenabschnitte (15a, 15b) in einem dem Betrage nach gleichen, von 90° verschiedenen Winkel zu einer Soll-Fläche (SF) stehen, wobei bei winkelfehlerfreier Ausbildung die Kopplungsfläche (1b) zumindest parallel zu der Soll-Fläche (SF) entsteht, und daß die Flächenabschnitte (15a, 15b) bei winkelfehlerhafter Ausbildung der Kopplungsfläche (1b) unterschiedlich sind.
2. Endstück nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfstruktur (12) zwei Teilstrukturen (14a, 14b) umfaßt.
3. Endstück nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Teilstrukturen (14a, 14b) symmetrisch zur Längssymme­ trieebene (L) der Soll-Fläche (SF) ausgebildet sind.
4. Endstück nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfstruktur (12) oder die Teilstrukturen (14a, 14b) Aus­ nehmungen sind.
5. Endstück nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfstruktur oder die Teilstrukturen Erhebungen (20) sind.
6. Endstück nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfstruktur (12) oder die Teilstrukturen (14, 14b) eine pyramiden- oder pyramidenstumpfförmige Gestalt haben.
7. Endstück nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfstruktur (50a, 50b) oder die Teilstrukturen eine kegel- oder kegelstumpfförmige Gestalt haben.
8. Endstück nach einem der Ansprüche 4 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausnehmungen oder Erhebungen zur Aufnahme von Zentriermitteln (18, 19) ausgebildet sind.
9. Verfahren zum Prüfen der Kopplungsfläche eines optischen Endstücks zum endseitigen Anschluß eines oder mehrerer Lichtwellenleiter (4) auf winkelkorrekte Ausbildung in bezug auf eine Soll-Fläche (SF),
  • 1. bei dem das Endstück (1) mit zumindest einer Prüfstruktur (12) versehen wird und
  • 2. bei dem zumindest zwei Flächenabschnitte (15a, 15b) der Prüfstruktur (12) bei der Bearbeitung oder Erzeugung der Kopplungsfläche (1b) mitbearbeitet werden, wobei die Flächenabschnitte (15a, 15b) derart gestaltet werden,
  • 3. daß bei winkelfehlerhafter Abweichung der erzeugten Kopp­ lungsfläche (1b) von der Soll-Fläche (SF) durch die Prüfstruktur (12) eine optisch erkennbare Fehlanzeige bewirkt wird.
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