DE19721257B4 - Anordnung zur Strahlformung und räumlich selektiven Detektion mit nicht-sphärischen Mikrolinsen - Google Patents

Anordnung zur Strahlformung und räumlich selektiven Detektion mit nicht-sphärischen Mikrolinsen Download PDF

Info

Publication number
DE19721257B4
DE19721257B4 DE1997121257 DE19721257A DE19721257B4 DE 19721257 B4 DE19721257 B4 DE 19721257B4 DE 1997121257 DE1997121257 DE 1997121257 DE 19721257 A DE19721257 A DE 19721257A DE 19721257 B4 DE19721257 B4 DE 19721257B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
arrangement according
microlenses
matrix
arrangement
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE1997121257
Other languages
English (en)
Other versions
DE19721257A1 (de
Inventor
Rüdiger Dr. Grunwald
Uwe Neumann
Siegfried Woggon
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
GRUNWALD, RUEDIGER, DR., 13187 BERLIN, DE
NEUMANN, UWE, 10243 BERLIN, DE
Original Assignee
Forschungsverbund Berlin FVB eV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Forschungsverbund Berlin FVB eV filed Critical Forschungsverbund Berlin FVB eV
Priority to DE1997121257 priority Critical patent/DE19721257B4/de
Publication of DE19721257A1 publication Critical patent/DE19721257A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE19721257B4 publication Critical patent/DE19721257B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/14External cavity lasers
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/0006Arrays
    • G02B3/0012Arrays characterised by the manufacturing method
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/0006Arrays
    • G02B3/0037Arrays characterized by the distribution or form of lenses
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/02Simple or compound lenses with non-spherical faces
    • G02B3/04Simple or compound lenses with non-spherical faces with continuous faces that are rotationally symmetrical but deviate from a true sphere, e.g. so called "aspheric" lenses
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/42Coupling light guides with opto-electronic elements
    • G02B6/4201Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
    • G02B6/4204Packages, e.g. shape, construction, internal or external details the coupling comprising intermediate optical elements, e.g. lenses, holograms
    • G02B6/4206Optical features
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/42Coupling light guides with opto-electronic elements
    • G02B6/4201Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
    • G02B6/4249Packages, e.g. shape, construction, internal or external details comprising arrays of active devices and fibres
    • G02B6/425Optical features
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4025Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

Anordnung zur Formung von Lichtverteilungen, insbesondere zur Kollimation, Rückkopplung oder Detektion einer emittierten oder zu detektierenden Strahlung, dadurch gekennzeichnet, daß eine einzelne Mikrolinse oder mehrere matrixförmig angeordnete Mikrolinsen vor einzelnen oder mehreren matrixförmig angeordneten Licht abgebenden oder aufnehmenden Flächen oder Ein- oder Austrittsfenstern zu Licht abgebenden oder aufnehmenden Elementen positioniert werden, wobei das Phasenprofil der Mikrolinsen eine nicht-sphärische Kontur aufweist, die sich aus mindestens zwei ausgedehnten Bereichen unterschiedlichen Krümmungsverlaufs zusammensetzt.

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Anordnung zur Kollimation, Rückkopplung und Fokussierung in emittierenden und detektierenden aktiven und passiven Systemen. Spezielle Anwendungen sind die Kollimation von Lichtquellen (Lichtleitfasern, Lichtleiterbündel, integrierte Wellenleiter, Bildleiter, Wellenleiterlaser, Faserlaser, Faserbündellaser, Laser mit Talbot-Resonatoren, Diodenlaser und Diodenlaser-Arrays), die Rückkopplung von Lasern (Wellenleiterlaser, Mikrolaser, Faserlaser, Faserbündellaser, Laser mit Talbot-Resonatoren, Diodenlaser und Diodenlaser-Arrays), die Rückkopplung in aktiven und passiven faseroptischen Sensoren (Lichtleitfasern, Lichtleiterbündel, integrierte Wellenleiter, Bildleiter, Wellenleiterlaser, Faserlaser, Faserbündellaser) sowie die Detektion von Lichtverteilungen (Lichtsensorik mit Einzelfasern und Bündeln aus Sensorfasern, Bildsensorik mit lichtempfindlichen Detektorarrays, wie z.B. CMOS oder CCD). Wegen der spezifischen Vorteile ist die vorgeschlagene Anordnung für Anwendungen in Umgebungen mit Vibrationen oder turbulenten Medien sowie für schnell bewegte und extrem miniaturisierte Systeme von besonderem Interesse. Ferner lassen sich damit Anwendungen vorteilhaft realisieren, bei denen ausgedehnte Zonen homogener Intensität benötigt werden.
  • Bekannt sind unterschiedliche technische Lösungen zur Kombination mikrooptischer Komponenten mit Fasern oder Laser-Arrays zum Zwecke der Einkopplung, Kopplung oder Kollimation. Publiziert wurden Verfahren und Anordnungen zur Herstellung separater oder auf Fasern integrierter sphärischer und hyperbolischer Mikrolinsen und Mikrolinsen-Arrays unterschiedlicher Randformen. Verfahren und Vorrichtung zur zerstörfreien Einkopplung von Laserstrahlung in ein Faserbündel durch Erzeugung einer Ebene weicher Fokussierung und Plazierung des Faserbündels in derselben wurden patentiert (K. P. Grace u.a., US 93-55348 ). Nachteilig sind dabei die hohen Verluste durch Fehlanpassung (Füllfaktor). Die Einkopplung von Laserdioden-Strahlung in Monomode-Fasern mittels hyperbolischer Linsen wurde theoretisch untersucht (S. Gangopadhyay u.a., Opt. Commun. 132, 1996, 55–60). Refraktive Mikrolinsen direkt am Faserende wurden durch Eintauchen von mit Laserlicht durchstrahlten Fasern in Negativ-Fotoresist hergestellt und zur Verringerung der Divergenz des emittierten Strahls verwendet (P. D. Bear, Proc. Soc. Photo-Opt. Instrum. Eng., USA, Vol. 239, 1980, 98–103). Zylindrische, ringförmige und elliptische Mikrolinsen mit hyperbolischen Profilen wurden durch einen Trocken-Resist-Prozeß auf Monomode-Fasern aufgebracht (S. Babin u.a., J. Vac. Sci. Technol. B, Microelectron. Nanometer Struct., USA, Vol.14, 1996, 4076–9). Mikrolinsen wurden in Substrate gepreßt (L. Klipper u.a., DE 4414552 ). Neben sphärischen Profilen können mit dieser Methode auch spezielle nicht-sphärische Formen direkt an Faserenden erzielt werden (parabolisch, hyperbolisch). Polyimid-Mikrolinsen-Arrays zur Kollimation von oberflächen-emittierenden Lasern mit aufrecht stehenden Resonatoren (VCSEL) wurden durch Fotoresisttechniken hergestellt (O. Blum, CLEO '95, Baltimore, USA, 1996, Techn. Digest Series Vol.8, 1995, 455). Selbstabbildung arrayförmiger Objekte bei kohärenter Bestrahlung (Talbot-Effekt) kann zur Kopplung von Lasern mittels Mikrolinsen ausgenutzt werden (J. R. Leger u.a., US 88-154898 ). Faserlinsen mit sphärischen oder hyperbolischen Profilen zur Kollimation von Laserdioden lassen sich durch Ziehen von Preforms erzeugen (J. J. Snyder u.a., US 90-591462 ). Mittels Mikrobearbeitung durch Präzisionsschleifen sind einzelne, senkrecht stehende Mikrolinsen zur Kollimation von Fasern hergestellt worden (C. R. King u.a., CLEO '96, Anaheim, USA, 1996, Techn. Digest Series Vol.9, 1996, 459–60). Derartige Verfahren sind recht aufwendig. Mit der mehrstufigen LIGA-Technik wurden sphärische Mikrolinsen gefertigt, die einzeln vor Bildleiter geklebt wurden (J. Göttert u.a., Microlens Arrays, EOS Topical Meeting, NPL Teddington 1995, Digest, 21–5). Mikrolinsen-Arrays in Kombination mit Halbleiter-Bildsensoren, z.B. für Scanner, arbeiten bisher mit sphärischen oder parabolischen Mikrolinsen, um hohe Auflösung zu erzielen (C. van Berkel u.a., Pure Appl. Opt. 3, 1994, 177–82). Mit abgeflacht hyperbolischen Elementen, sogenannten Winston-Kollektoren (Laser Focus World, Mai 1991, 53–6) werden mikrooptische Arrays in der Bildsensorik eingesetzt, um höhere Füllfaktoren zu erreichen. Derartige Komponenten eignen sich ausschließlich zur schwachen Lichtkonzentration vor den einzelnen Pixels von Sensor-Arrays, nicht jedoch zur Kollimation für Freiraumkopplung und nicht zur Fokussierung. Nachteilig bei allen bekannten Anordnungen mit sphärischen, parabolischen oder hyperbolischen Mikrolinsen sind die starke Winkelabhängigkeit und geringe Toleranz gegen axiale Dejustierung, was bei Systemen in realen industriellen Umgebungen, z.B. mit Vibration oder Temperaturschwankungen, zu erheblichen Fehlern führen kann.
  • Bekannt sind asphärische Mikrolinsen, die in Resisttechnik produziert wurden, und für bestimmte Einfallswinkel optimiert sind (C. D. Carey u.a., Microlens Arrays, EOS Topical Meeting, NPL Teddington 1993, Digest, 65–8). Sie sind jedoch nicht bezüglich dieser Winkeländerungen tolerant.
  • Ausgedehnte Fokuszonen, insbesondere sogenannte diffraktionsfreie Besselstrahlen und Bessel-Gauß-Strahlen, lassen sich mit speziell geformten Optiken (Axicons) erzeugen (J. H. McLeod, J. Opt. Soc. Am. 44, 1954, 592–7). Soche Optiken finden Anwendung u.a. im Zusammenhang mit speziellen Teleskop- und Projektoranordnungen, mit Autokollimation, bei Streulichtmessungen, bei nichtlinear-optischen Wechselwirkungen wie der Cerenkov-SHG in optischen Kristallen (M. K. Pandit u.a., Optical and Quantum Electronics 29, 1997, 35–51) oder Multiphotonenprozessen. Ein weiteres potentielles Anwendungsgebiet für speziell geformte Foki ist die Materialbearbeitung (Bohren ausgedehnter Löcher). Makroskopische refraktive und diffraktive Varianten von Axicons sind bekannt. Diffraktionsfreie Strahlen lassen sich mit holografisch-optischen Elementen generieren (J. Turunen u.a., Appl. Opt. 19, 1988, 3959–62). Es ist jedoch sehr kompliziert und aufwendig, sie mit der erforderlichen Genauigkeit zu designen und herzustellen. Makroskopische refraktive monolithische Einzel-Komponenten zur Formung diffraktionsfreier Strahlen weisen zumeist komplizierte Formen auf (K. Thewes u.a., Opt. Laser Technol. 23, 1991, 105–8). Werden sie aus mehreren Teilen zusammengesetzt (K.M. Iftekharuddin u.a., Appl. Opt. 32, 1993, 2252–6), erhöhen sich die Zahl reflektierender Teilflächen und damit die optischen Verluste. Die Herstellung von Arrays mikro-miniaturisierter Elemente vergleichbarer Struktur mit klassischen Verfahren der Linsenfertigung (z.B. Schleifen) ist bearbeitungstechnisch problematisch.
  • Grundsätzlich lassen sich Mikrolinsen mit starken Abweichungen von der sphärischen Form mit unterschiedlichen, etwa den oben mitgenannten Technologien realisieren. Jedoch beeinflußt auch die Herstellungstechnologie bestimmte Eigenschaften der Mikrolinsen. GRIN-Linsen mit nahezu gaußförmigen Phasenprofilen können durch Ionenaustausch in Gläsern erzeugt werden (J. Bähr u.a., Microlens Arrays, EOS Topical Meeting, NPL Teddington 1995, Digest, 121–4; M. Testorf u.a., Appl. Opt. 28. 1995, 6431–7). Die Prozeßoptimierung ist jedoch aufwendig. Eher ringförmige Phasenprofile treten unter bestimmten Bedingungen bei der Herstellung von Resistlinsen mit Schmelzprozessen auf (M. u. S. Kufner, Micro-Optics and Lithography, VUBPRESS, Brüssel 1997, 118.
  • Eine Alternative zu den bisher genannten Herstellungstechnologien stellen Dünnschicht-Technologien dar, die eine Strukturierung in Kombination mit Resistverfahren (J. Jahns u.a., Appl. Opt. 29, 1990, 931–936; E. Pawlowski u.a., Opt. Eng. 33, 1994, 647–52) oder Deposition mit abschattenden Masken erreichen (Sputtern mit verteilter Quelle zur Herstellung einzelner Luneburg-Linsen: S. K. Yao, Apl. Phys. Lett. 33, 1978, 307–9; Vakuumbedampfung mit Elektronenstrahlverdampfer als Punktquelle im rotierenden System zur Herstellung von dickenmodulierten makroskopischen Einzelkomponenten: R. Grunwald u.a., DD C 23 C 14 /332 071 5). Vakuumbedampfung mit Lochmaskenabschattung wurde ferner zur Herstellung von refraktiv-reflektiven Mikrolinsen-Arrays benutzt (R. Grunwald u.a., SPIE Vol. 1983, 1993, 49–50). Durch gekreuztes Aufdampfen mit Schlitzmaskenabschattung lassen sich anamorphotische Dünnschicht-Mikrolinsen in matrixförmiger Anordnung (Array) mit hohem Füllfaktor fertigen (R. Grunwald u.a., Patentanmeldung DE 19613745.4 , 1996). Die Dünnschicht-Technologie weist insbesondere Vorteile für Mikrolinsen mit geringen Querabmessungen auf, eine vergleichsweise einfache Herstellbarkeit auch in Einschrittverfahren, kompakte Bauweise beispielsweise durch direktes Ausbringen auf Fasern oder Wellenleitern, die Möglichkeit der Integration zusätzlicher spektraler Eigenschaften durch Benutzung von Mehrschichtsystemen, Flexibilität bei Ausbringen auf biegsamen Substraten (z.B. Polymerfolien: R. Grunwald u.a., Micro System Technologies, VDE-Verlag GmbH, Berlin 1996, 793–795) sowie eine große Vielfalt realisierbarer Phasenfunktionen inklusive nicht-sphärischer Profile. Refraktive, diffraktive und hybride Varianten können damit hergestellt werden.
  • Ziel der Erfindung ist eine geeignete Anordnung für Kollimation, Rückkopplung und räumlich selektive Detektion in optischen, insbesondere mikrooptischen Systemen mit einzelnen oder matrixförmig angeordneten optischen Fasern, Emittern oder Sensoren mit einer verbesserten Stabilität, insbesondere einer erhöhten Toleranz gegenüber Verkippung und Axialposition, bei möglichst kompaktem Aufbau oder solchen mikrooptischen Systemen, bei denen ausgedehnte Zonen homogener Intensität benötigt werden oder definiert oszillierende axiale oder räumliche Intensitätsverteilungen.
  • Dieses Ziel wird erreicht durch die Anordnung einer stark nichtsphärischen Mikrolinse (3) vor der Fläche, die in zu fördernder Weise Licht ausstrahlt oder empfangen soll, bzw. vor dem Fenster, durch das Licht in zu fördernder Weise austritt bzw. eintreten soll (2). Insbesondere kann es sich hierbei um einen Lichtwellenleiter oder ein optisch aktives Element, beispielsweise eine optisch verstärkende Faser, handeln (1), oder um die lichtempfindliche Fläche eines photoelektronischen Wandlers, beispielsweise eines Halbleitersensors, oder um die matrixförmige Anordnung (Array) mehrerer entsprechender Mikrolinsen und Licht ausstrahlender oder empfangender Flächen oder Lichtdurchtrittsfenster, beispielsweise die lichtempfindliche Matrix (9) eines Halbleitersensors. Dabei zeichnet sich die Phasengeometrie der einzelnen Mikrolinsen durch eine mindestens zweifach unterteilte Kontur aus. Die Teilbereiche besitzen einen zueinander unterschiedlichen Krümmungsverlauf, der axiale Symmetrie, beispielsweise Rotationssymmetrie, elliptische Symmetrie, polygonale Symmetrie, oder Spiegelsymmetrie aufweisen kann, wobei die Spiegelebene so liegt, daß ihre Flächennormale im wesentlichen senkrecht zur Ausbreitungsrichtung des Lichts steht (Die Erfindung ermöglicht große Toleranzen der Abweichung von dieser Senkrechten). Insbesondere kann die Phasengeometrie in einem inneren Bereich eine konvexe und in einem äußeren Bereich eine konkave Krümmung (4) oder umgekehrt aufweisen, oder in einem inneren und einem äußeren Bereich durch jeweils einen Kegelschnitt unterschiedlicher Parameter beschreibbar sein (5).
  • Das Wirkprinzip der beschriebenen nicht-sphärischen Mikrolinsen besteht darin, daß entweder eine einfallende ebene Lichtwelle in einem relativ ausgedehnten Bereich längs der optischen Achse konzentriert wird, oder umgekehrt Licht aus einem relativ ausgedehnten Bereich längs der optischen Achse in dieselbe Zone geringer Raumwinkeldivergenz abgebildet wird, und zwar in beiden Fällen auch dann, wenn die Linsenachse gegenüber der optischen Achse verkippt wird. Durch das örtlich definierte Aufbringen zusätzlicher optisch wirksamer Einzel- oder Mehrfachschichten bzw. Mehrschichtsysteme kann eine spektrale Abhängigkeit der räumlichen Verteilungsfunktion der Lichtkopplung beeinflußt oder gezielt hervorgerufen werden. Räumlich spektrale Übertragungsfunktio nen lassen sich auch durch diffraktive Strukturen, die auf den Mikrolinsen aufgebracht werden, hervorrufen oder modifizieren.
  • Für die Herstellung der erfindungsgemäßen nicht-sphärischen Mikrolinsen erweisen sich Dünnschicht-Technologien als besonders vorteilhaft, da sie in einem Verfahren unterschiedliche Schichtaufbauten zulassen, sich ohne wesentlichen zusätzlichen Aufwand matrixförmige Anordnungen realisieren lassen, eine große Vielfalt von Phasengeometrien erzeugt werden kann, sie mit anderen Herstellungsverfahren kombinierbar sind. In Dünnschicht-Technologie gefertigte Mikrolinsen sind in der Regel fest oder auch ablösbar auf einem Substrat (4) aufgebracht, das seinerseits vorteilhaft zur Linsenhalterung dient oder spezielle optische Eigenschaften aufweisen kann.
  • Es besteht auch die Möglichkeit, die erfindungsgemäßen Mikrolinsen mit nicht-sphärischen Phasengeometrien durch diffraktive Strukturen zu erstellen oder durch Aufbringen zusätzlicher diffraktiver Strukturen auf Mikrolinsen zu modifizieren.
  • Erfindungsgemäße Varianten der Anordnung ergeben sich einerseits durch die Distanz zwischen der beschriebenen nicht-sphärischen Mikrolinse zu der Fläche, die in zu fördernder Weise Licht ausstrahlt oder empfangen soll, bzw. zu dem Fenster, durch das Licht in zu fördernder Weise austritt bzw. eintreten soll (2), oder deren jeweiliger matrixförmiger Mehrfachanordnung, anderseits durch den Charakter dieser Flächen oder Fenster hinsichtlich der Wirkungsrichtung des Lichts.
  • In der ersten Variante werden eine beschriebene nicht-sphärischen Mikrolinse (3) einzeln oder mehrere derer matrixförmig angeordnet zu der Fläche, die in zu fördernder Weise Licht ausstrahlt oder empfangen soll, bzw. zu dem Fenster, durch das Licht in zu fördernder Weise austritt bzw. eintreten soll (2), oder eine matrixförmige Anordnung mehrerer derer in einem Abstand zueinander positioniert, der der Distanz eines lokalen Maximums der axialen Lichtverteilung vom Linsenscheitel entspricht, die sich bei der Fokussierung einer ebenen Welle mit dieser Mikrolinse ausbildet.
  • Handelt es sich zugleich um die emittierenden Endflächen von Lichtwellenleitern, integrierten Lichtwellenleitern, Mikrolasern außerhalb des Resonators oder ähnliche Lichtquellen, so läßt sich diese Anordnung vorteilhaft als Kollimator einsetzen oder in solchen optischen oder integriert-optischen Systemen, die Lichtkollimation verwenden, beispielsweise in der Meß- und Sicherheitstechnik, bei der Bildübertragung, als Freiraum koppler, Faser-in-Faser-Koppler, Integiriert-Optik-in-Faser-Koppler, speziell bei Einmoden-Lichtwellenleitern.
  • Handelt es sich umgekehrt um Licht aufnehmende Endflächen von Lichtwellenleitern, integrierten Lichtwellenleitern, optischen Verstärkerelementen, oder lichtempfindlichen Sensorelementen, insbesondere auch in matrixförmiger Anordnung (9), so eignet sich diese Anordnung insbesondere für Senoren mit großer Arbeitsdistanz, entsprechend kleinem Akzenptanzwinkel bzw. hoher Raumwinkelauflösung, speziell in der Spektroskopie, Bildübertragung und -sensorik, in Lidar-Anwendungen, in der Meß- und Sicherheitstechnik.
  • Handelt es sich dagegen bei der angeordneten Flächen bzw. dem Fenstern um sowohl um ein Licht abgebendes als auch aufnehmendes Element, beispielsweise die Endfläche eines optischen bzw. mikrooptischen Verstärkerelements, speziell eines Lasers bzw. Mikrolasers, so läßt sich die erfindungsgemäße Anordnung vorteilhaft innerhalb des Resonators für die Rückkopplung (7) durch einen Rückkoppelspiegel (6) einsetzen (2). Das gilt insbesondere auch für den Fall, daß es sich um eine matrixförmige Anordnung mehrerer derartiger Verstärkerelemente handelt. Durch die Kollimationsstrecke (5) wird ein freier Raum geschaffen für die Anordnung optisch wirksamer Elementen wie SHG, Q-switch, Umlenk- und Teilereinrichtungen (Mikroprismen). In Variation kann die Oberfläche der Mikrolinse selbst mit einer spiegelnden und bzw. oder spektral selektierenden Beschichtung versehen werden und als Resonatorspiegel dienen.
  • In der zweiten Grundvariante werden eine beschriebene nicht-sphärischen Mikrolinse einzeln oder mehrere derer matrixförmig angeordnet direkt auf der Fläche, die in zu fördernder Weise Licht ausstrahlt oder empfangen soll, bzw. vor dem Fenster, durch das Licht in zu fördernder Weise austritt bzw. eintreten soll, oder eine jeweils matrixförmige Anordnung derselben, positioniert. In Abhängigkeit von der Phasengeometrie und Linsendicke können unterschiedliche räumliche Verteilungsfunktionen der Lichtkopplung erreicht werden, insbesondere auch axial oder räumlich oszillierende Intensitätsverteilungen.
  • Handelt es sich zugleich um die emittierenden Endflächen von Lichtwellenleitern, integrierten Lichtwellenleitern, Lasern oder Mikrolasern außerhalb des Resonators oder andere Lichtquellen, bzw. um eine matrixförmige Anordnung mehrerer derselben, so kann mit Hilfe der Anordnung eine räumliche Intensitätsverteilung erreicht werden, die sich beispielsweise durch oszillierende oder längs einer Achse ausgedehnte Zonen hoher Intensität auszeichnet. Anwendungen ergeben sich beispielsweise in der Meß- und Sicherheitstechnik, in der Spektroskopie.
  • Handelt es sich dagegen um die Licht aufnehmende Endfläche eines Lichtwellenleiters, integrierten Lichtwellenleiters, die lichtempfindlichen Fläche eines Sensorelements, bzw. um eine matrixförmige Anordnung mehrerer derselben, so kann mit Hilfe der Anordnung eine räumliche Empfindlichkeitsverteilung erreicht werden, die sich beispielsweise durch oszillierende oder längs einer Achse ausgedehnte Zonen hoher Empfindlichkeit auszeichnet. Anwendungen ergeben sich beispielsweise in der Meß- und Sicherheitstechnik, in der Spektroskopie, in besonderer Weise für die Bildsensorik.
  • Die Erfindung soll nachstehend an drei Ausführungsbeispielen näher erläutert werden. Es zeigen
  • 1 eine ausgeführte Einzelanordnung in der Funktion als Kollimator,
  • 2 eine ausgeführte Einzelanordnung in der Funktion innerhalb eines Laserresonators,
  • 3 eine ausgeführte Matrixanordnung in der Funktion als Bildsensor,
  • 4 und 5 je ein Ausführungsbeispiel für das Phasenprofil der eingesetzten Mikrolinsen.
  • Das erste Ausführungsbeispiel (1) betrifft eine erfindungsgemäß ausgebildete einfache Anordnung zur Kollimation der Ausgangsstrahlung einer Faser. Die Strahlung einer Laserdiode (635 nm) wird in eine Monomode-LWL-Faser (1) eingekoppelt. Hinter dem Faserende (2) wird eine nicht-sphärische Mikrolinse (3) positioniert (Linsenscheitel zum Faserende), deren Entfernung zum Faserende geäridert werden kann. Als Mikrolinse dient eine dünne, durch Vakuumbedampfung mit Maskenabschattung im rotierenden System hergestellte SiO2-Schicht auf einem Polycarbonat-Substrat (4), deren Phasenverteilung als Funktion der radialen Koordinate r durch ein Gaußprofil beschrieben wird. In 4 ist die relative Dickenverteilung h/hmax aufgetragen, wobei h die Schichtdicke kennzeichnet. Die maximale absolute Dicke beträgt ca. 4,5 μm. In Abhängigkeit vom Abstand Faser-Linse sowie von der numerischen Apertur der Faser kommt es zu Anpassungsproblemen. Nur im Nahbereich wird die Linse von der Strahlung vollständig durchsetzt. Die radiale Aufweitung Δd in Abhängigkeit von der axialen Position z und dem Halbwinkel der Abstrahlungskeule θ1/2 ergibt sich zu: Δd(z) = z tan θ1/2
  • Der Strahldurchmesser d in der Entfernung z beträgt: d(z) = dKern + 2Δd(dKern = Kerndurchmesser der Faser). Für den Akzeptanzwinkel θ1/2 gilt ferner: θ1/2 = arcsin(NA/n)(NA = numerische Apertur der Faser, n = Brechungsindex des Faserkerns).
  • Damit erhält man für einen gegebenen Linsendurchmesser dL die minimal mögliche Distanz zmin für Einzellinsen-Durchsatz: zmin = Δd/tan θ1/2 = [dL – dKern]/[2tan[arcsin(NA/n)]
  • Für f > zmin kommt es zur Verringerung der Effizienz durch rein geometrische Verluste und bei Arrays zur Durchstrahlung mehrerer Mikrolinsen im Array (mehrere kollimierte Teilstrahlen). Für die verwendete Mikrolinse existiert bei Fokussierung einer ebenen Welle anstelle des bei sphärischen Mikrolinsen auftretenden Fokus geringer Fokustiefe ein vergleichsweise ausgedehnter, oszillierender Bereich hoher Intensität in Axialrichtung. In der vorliegenden Anordnung wird die beste Kollimation, d.h. die geringste Divergenz, bei einer derartigen Wahl des Abstandes Faser-Linse erreicht, daß sich das Faserende bei Umkehr der Strahlrichtung in der genannten Zone befände. Die Ausdehnung des Bereiches optimaler Kollimation vergrößert sich gegenüber sphärischen Mikrolinsen gleichen Durchmessers und annähernd gleicher Brennweite um ca. einen Faktor 2 und beträgt mehrere mm (Halbwertsbreite). Die Toleranz gegenüber Verkippung bezüglich der Achse verbessert sich ebenfalls drastisch. Gegenüber einer vergleichbaren sphärischen Mikrolinse, bei der eine signifikante Abweichung von der Kreisform des kollimierten Strahls bereits bei einem Kippwinkel von 10° auftritt, kann die Mikrolinse mit Gaußprofil bis zu mehr als 20° Verkippung tolerieren. Die Anordnung ist somit wesentlich robuster als Anordnungen mit sphärischen Mikrolinsen. Die erreichte Divergenz (halber Divergenzwinkel) beträgt ca. 1 mrad bei einem Abstand von 2,25 mm zwischen Faserende und Linsenscheitel.
  • Das zweite Ausführungsbeispiel beschreibt als eine weitere erfindungsgemäße Anordnung die Rückkopplung in einem Laserresonator (2). Die aus einem aktiven (seltenerdendotierten) Wellenleiterlasermedium (1) an dessen Facette (2) austretende Strahlung wird zunächst mit Hilfe einer auf einem Quarz-Substrat (4) aufgedampften Dünnschicht-Mikrolinse (3) kollimiert (5) (in Variation des Ausführungsbeispiels 1) und ein definierter Teil dieser Strahlung nach Reflexion am teildurchlässigen Auskoppelspiegel (6) reflektiert. Dabei wird die Linsenanordnung nochmals in umgekehrter Richtung (7) durchlaufen und fokussiert, wodurch sie wieder in das Lasermedium eingekoppelt wird. Durch Veränderung des Abstandes zwischen Laserfacette (2) und Mikrolinse (3) kann der Rückkoppelgrad zusätzlich beeinflußt (und im Falle eines Lasers mit Array-Geometrie auch die Kopplung mit Nachbarn eingestellt) werden. Als Mikrolinse wird die im ersten Ausführungsbeispiel beschriebene und in 4 dargestellte Variante mit Gaußprofil verwendet. Die Anordnung ist gegenüber einer vergleichbaren Anordnung mit sphärischer Mikrolinse wesentlich toleranter gegenüber axialer Translation und Verkippung und entspricht diesbezüglich der in Ausführungsbeispiel 1 beschriebenen Variante. Die wegen der Axialtoleranz und der ausgedehnten Fokuszone erreichbare große Distanz zwischen Mikrolinse und Laserfacette gestattet das Einbringen zusätzlicher optischer bzw. nichtlinear optischer Elemente in diesem Bereich hoher Intensität (z.B. SHG-Kristalle und Güteschalter, nicht eingezeichnet). In einer erfindungsgemäßen Variante wird das Phasenprofil der Mikrolinse zusätzlich durch eine Multilayer-Beschichtung mit radial variabler Dicke des Schichtsystems modifiziert.
  • Das dritte Ausführungsbeispiel (3) beinhaltet einen Bildsensor, bestehend aus einer lichtempfindlichen Matrix (9) und einem vorgeschalteten Array aus nicht-sphärischen SiO2-Dünnschicht-Mikrolinsen (3), die auf einem dünnen transmittierenden, breitbandig entspiegelten Substrat aufgebracht sind. Verwendung findet ein spezielles Linsenprofil mit zwei unterschiedlichen parabolischen Anteilen (5). Die Mikrolinsen sind orthogonal angeordnet und von quadratischem Umriß. Der Füllfaktor ist nahezu 1. Die Linsen konzentrieren das aus dem Unendlichen nahezu parallel einfallende Licht (8) in tief ausgedehnte Bereiche. Die Anordnung ist gegenüber einer vergleichbaren Anordnung mit sphärischen Mikrolinsen (analog zu den in den Ausführungsbeispielen 1 und 2 beschriebenen charakteristischen Eigenschaften) toleranter gegenüber axialer Dejustierung und Verkippung. Die Ausdehnung der Fokuszone ist im Vergleich zu Mikrolinsen mit Gaußprofil entsprechend 4 wesentlich größer.

Claims (23)

  1. Anordnung zur Formung von Lichtverteilungen, insbesondere zur Kollimation, Rückkopplung oder Detektion einer emittierten oder zu detektierenden Strahlung, dadurch gekennzeichnet, daß eine einzelne Mikrolinse oder mehrere matrixförmig angeordnete Mikrolinsen vor einzelnen oder mehreren matrixförmig angeordneten Licht abgebenden oder aufnehmenden Flächen oder Ein- oder Austrittsfenstern zu Licht abgebenden oder aufnehmenden Elementen positioniert werden, wobei das Phasenprofil der Mikrolinsen eine nicht-sphärische Kontur aufweist, die sich aus mindestens zwei ausgedehnten Bereichen unterschiedlichen Krümmungsverlaufs zusammensetzt.
  2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Phasenprofil der Mikrolinsen axiale Symmetrie aufweist.
  3. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Phasenprofil der Mikrolinsen Spiegelsymmetrie aufweist, wobei die Flächennormale der Symmetrieebene im wesentlichen senkrecht zur Ausbreitungsrichtung des Lichtes liegt.
  4. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Phasenprofil der einzelnen Mikrolinsen in wenigstens einer halben Schnittebene durch eine Gauß-Funktion beschrieben wird.
  5. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Phasenprofil der einzelnen Mikrolinsen in wenigstens einer halben Schnittebene durch zwei unterschiedliche parabolische Funktionen für Zentrum und Randbereich beschrieben wird.
  6. Anordnung nach Anspruch 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß als Mikrolinsen Dünnschicht-Relieflinsen oder mehrere derer matrixförmig angeordnet verwendet werden.
  7. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Phasenprofil durch eine Kombination einzelner oder matrixförmig angeordneter Elemente aus Gradientenindex-Linsen und Dünnschicht-Relieflinsen erzeugt wird.
  8. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Phasenprofil der Mikrolinsen durch einen Mehrschichtaufbau erreicht oder durch Aufbringen zusätzlicher optisch wirksamer Mehrschichtsysteme modifiziert wird.
  9. Anordnung nach den Ansprüchen l bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß das Phasenprofil der Mikrolinsen durch eine diffraktive Struktur erzeugt oder durch Aufbringen zusätzlicher diffraktiver Strukturen modifiziert wird.
  10. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß durch zusätzliche reflektierende oder teilreflektierende Elemente, vorzugsweise Mikroprismen, eine seitliche Auskopplung der kollimierten Strahlung erfolgt.
  11. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Licht abgebenden oder aufnehmenden Elemente Lichtwellenleiter sind.
  12. Anordnung nach Ansprüchen 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtwellenleiter Einmoden-Lichtwellenleiter sind.
  13. Anordnung nach Ansprüchen 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtwellenleiter rechteckigen Querschnitt aufweisen.
  14. Anordnung nach Ansprüchen 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtwellenleiter integrierte Wellenleiter in einem mikrooptischen Bauteil sind.
  15. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß das räumlich zu- oder fortgeführte Licht durch eine Endfläche bzw. mehrere matrixförmig angeordnete Endflächen von Einmoden-Lichtwellenleiterfasern hindurchtritt.
  16. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 10 und 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Licht abgebenden oder aufnehmenden Elemente einzeln oder in matrixförmiger Anordnung optisch verstärkende Eigenschaften besitzen.
  17. Anordnung nach Anspruch 1 bis 10, 15 und 16, dadurch gekennzeichnet, daß die Licht abgebenden oder aufnehmenden Elemente einzeln oder in matrixförmiger Anordnung Laser-Eigenschaften besitzen.
  18. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 10 und 15 bis 17, dadurch gekennzeichnet, daß die nicht-sphärischen Mikrolinsen außerhalb des Resonators zum optischen Verstärkerelement angebracht sind.
  19. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 10 und 15 bis 17, dadurch gekennzeichnet, daß die nicht-sphärischen Mikrolinsen innerhalb des Resonators zum optischen Verstärkerelement angebracht sind.
  20. Anordnung nach den Ansprüchen 18 und 19, dadurch gekennzeichnet, daß ein oder mehrere Resonatorspiegel durch eine nicht-sphärische Mikrolinse mit einem Phasenprofil nach Ansprüchen 1 bis 10, auf die eine reflektierende Schicht aufgebracht wurde, oder eine matrixförmige Anordnung derartiger Mikrolinsen gebildet werden.
  21. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Licht aufnehmenden Flächen oder Elemente lichtempfindliche Bezirke von Halbleitersensoren in einzelner oder mehrfacher, matrixförmiger Anordnung sind.
  22. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 21, dadurch gekennzeichnet, daß sich die Mikrolinsen in einer Entfernung zu den einzelnen oder matrixförmig angeordneten Licht abgebenden oder aufnehmenden Flächen oder Ein- oder Austrittsfenstern befinden, die der Distanz eines lokalen Maximums der axialen Lichtverteilung vom Linsenscheitel entspricht, die sich bei der Fokussierung einer ebenen Welle mit dieser Linse ausbildet.
  23. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 21, dadurch gekennzeichnet, daß die Mikrolinsen direkt auf den einzelnen oder matrixförmig angeordneten Licht abgebenden oder aufnehmenden Flächen oder Ein- oder Austrittsfenstern angebracht sind.
DE1997121257 1997-05-15 1997-05-15 Anordnung zur Strahlformung und räumlich selektiven Detektion mit nicht-sphärischen Mikrolinsen Expired - Fee Related DE19721257B4 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1997121257 DE19721257B4 (de) 1997-05-15 1997-05-15 Anordnung zur Strahlformung und räumlich selektiven Detektion mit nicht-sphärischen Mikrolinsen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1997121257 DE19721257B4 (de) 1997-05-15 1997-05-15 Anordnung zur Strahlformung und räumlich selektiven Detektion mit nicht-sphärischen Mikrolinsen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19721257A1 DE19721257A1 (de) 1998-11-19
DE19721257B4 true DE19721257B4 (de) 2005-01-27

Family

ID=7830088

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1997121257 Expired - Fee Related DE19721257B4 (de) 1997-05-15 1997-05-15 Anordnung zur Strahlformung und räumlich selektiven Detektion mit nicht-sphärischen Mikrolinsen

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE19721257B4 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005017014A1 (de) 2005-04-13 2006-10-19 Carl Zeiss Meditec Ag Verfahren zur Formung eines Beleuchtungslaserstrahls und Beleuchtungseinrichtung mit einem Laser
DE102014000073A1 (de) * 2014-01-09 2015-07-09 Hella Kgaa Hueck & Co. Sensorvorrichtung, insbesondere zur Erfassung von Umgebungsbedingungen eines Kraftfahrzeuges

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10102592A1 (de) * 2001-01-20 2002-07-25 Deutsche Telekom Ag Optik zur Einkopplung von Licht aus einer Lichtquelle in ein Medium
DE10238078C1 (de) * 2002-08-21 2003-12-24 Forschungsverbund Berlin Ev Verfahren und Anordnung zur orts- und winkelaufgelösten Reflexionsmessung
JP3960295B2 (ja) 2003-10-31 2007-08-15 住友電気工業株式会社 チルト誤差低減非球面ホモジナイザー
DE102007004632A1 (de) 2007-01-30 2008-07-31 Sick Ag Verfahren zur Erfassung eines Gegenstands und optoelektronische Vorrichtung

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4414552A1 (de) * 1994-04-26 1995-11-02 Kuepper Lukas Dipl Phys Verfahren zur Herstellung von mikrooptischen Elementen oder eines Faserendes in Form eines mikrooptischen Elements und Verwendung solcher Elemente
DE19613745A1 (de) * 1996-04-01 1997-10-02 Gos Ges Zur Foerderung Angewan Verfahren zur Herstellung anamorphotischer mikrooptischer Arrays und damit ausgestattete Faserlinse

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4414552A1 (de) * 1994-04-26 1995-11-02 Kuepper Lukas Dipl Phys Verfahren zur Herstellung von mikrooptischen Elementen oder eines Faserendes in Form eines mikrooptischen Elements und Verwendung solcher Elemente
DE19613745A1 (de) * 1996-04-01 1997-10-02 Gos Ges Zur Foerderung Angewan Verfahren zur Herstellung anamorphotischer mikrooptischer Arrays und damit ausgestattete Faserlinse

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005017014A1 (de) 2005-04-13 2006-10-19 Carl Zeiss Meditec Ag Verfahren zur Formung eines Beleuchtungslaserstrahls und Beleuchtungseinrichtung mit einem Laser
DE102005017014B4 (de) 2005-04-13 2018-09-20 Carl Zeiss Meditec Ag Verfahren zur Formung eines Beleuchtungslaserstrahls und Beleuchtungseinrichtung mit einem Laser
DE102014000073A1 (de) * 2014-01-09 2015-07-09 Hella Kgaa Hueck & Co. Sensorvorrichtung, insbesondere zur Erfassung von Umgebungsbedingungen eines Kraftfahrzeuges
DE102014000073B4 (de) 2014-01-09 2023-03-16 HELLA GmbH & Co. KGaA Sensorvorrichtung, insbesondere zur Erfassung von Umgebungsbedingungen eines Kraftfahrzeuges

Also Published As

Publication number Publication date
DE19721257A1 (de) 1998-11-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0631163B1 (de) Bidirektionale optische Sende- und Empfangsanordnung
CA2165262C (en) Multiple emitters laser diode assembly with graded-index fiber microlens
DE19610881B4 (de) Mikrosystembaustein
DE112011102811B4 (de) Faseroptikarrayverfahren und -vorrichtung
DE19743322B4 (de) Laserstrahlformgebungssystem
WO2019037809A1 (de) Sendeeinrichtung für einen lidar-scanner mit einem durch ein abdeckelement übergedeckten scanspiegel
EP0713112A1 (de) Optische Sende- und Empfangseinrichtung mit einem oberflächenemittierenden Laser
DE10220378A1 (de) Laserlichtquellenvorrichtung
DE102016221806B4 (de) Wellenlängen-Multiplexeinheit, Wellenlängen-Multiplexsystem und Verfahren zum Bilden einer Wellenlängen-Multiplexeinheit
DE10102592A1 (de) Optik zur Einkopplung von Licht aus einer Lichtquelle in ein Medium
DE112018001247T5 (de) Wellenlängen kombinierende laservorrichtung
DE112021004479T5 (de) Hybrides zweidimensionales Lenkungs-LIDAR
US6785441B2 (en) Optical fiber collimator
EP1540786B1 (de) Halbleiterlaservorrichtung
DE19721257B4 (de) Anordnung zur Strahlformung und räumlich selektiven Detektion mit nicht-sphärischen Mikrolinsen
DE69106785T2 (de) Verbindungen zwischen optischen Wellenleitern.
DE102012025565B4 (de) Optisches Kopplungssystem mit einem optischen Koppler und einem lichtdurchlässigen äußeren Medium sowie Herstellung und Verwendung eines solchen Systems
WO2021094318A1 (de) Objektiv, verwendung eines objektivs und messsystem
DE102017209645B4 (de) Mikromechanische Lichtumlenkvorrichtung, Verfahren zur Umlenkung von Licht mittels einer mikromechanischen Lichtumlenkvorrichtung und Lichtsendevorrichtung
EP1146570A1 (de) Lichtemittierendes Halbleiterbauelement und Verfahren zur Herstellung eines Trägerelements
DE4404525C1 (de) Anordnung zur Anpassung unterschiedlicher Feldverteilungen von Lichtstrahlen
DE10238078C1 (de) Verfahren und Anordnung zur orts- und winkelaufgelösten Reflexionsmessung
DE102005009642B4 (de) Optischer Signalaufnehmer mit Strahlformungseinrichtung
DE102018129546B4 (de) Vorrichtung zur Erzeugung einer Vielzahl von Laserstrahlen sowie Vorrichtung zur 3D-Sensorik
EP1476776B1 (de) Strahlführendes und/oder frequenzkonvertierendes optisches system sowie verfahren zur herstellung

Legal Events

Date Code Title Description
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: FORSCHUNGSVERBUND BERLIN E.V., 12489 BERLIN, DE

8110 Request for examination paragraph 44
8125 Change of the main classification

Ipc: G02B 2709

8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: GRUNWALD, RUEDIGER, DR., 13187 BERLIN, DE

Owner name: NEUMANN, UWE, 10243 BERLIN, DE

8339 Ceased/non-payment of the annual fee