DE19711127C2 - Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der bidirektionalen Reflektanzverteilung - Google Patents
Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der bidirektionalen ReflektanzverteilungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Bestimmung der
bidirektionalen Reflektanzverteilung.
Mittels der bidirektionalen Reflektanzverteilungsfunktion (BRDF) können z. B.
Rückschlüsse auf den Gesundheitszustand von Waldgebieten und anderen
Bodenflächen gezogen oder andere klimarelevante Aerosolparameter abgelei
tet werden.
Die bidirektionale Reflektanzverteilungsfunktion ist abhängig von der Wellen
länge des untersuchten Lichts und der Strahldichten der einfallenden unreflek
tierten Strahlung. Diese wiederum sind abhängig von Azimut- und Zenitwinkel
des Sonnenstandes bzw. dem Beobachtungsazimut- und dem Beobachtungs
zenitwinkel.
Zur Bestimmung der bidirektionalen Reflektanzverteilungsfunktion werden Da
ten von Satelliten (Z. B. NOAA 6/7) genutzt oder Messungen mit Spektro- bzw.
Radiometern vorgenommen. Ein solches Spektralphotometer ist z. B. aus dem
Prospekt "SP1A" der Firma Dr. Schulz & Partner bekannt, mittels dessen die
Globalstrahlung gemessen wird. Dabei wird das Spektralphotometer an einer
Drehvorrichtung befestigt, die das Schwenken des Spektralphotometers um
zwei Achsen in alle Richtungen erlaubt. Um aus der gemessenen Strahldichte
den Reflektanzfaktor zu ermitteln, wird meistens die Strahldichte über einer
Referenzfläche ("Weißscheibe") bestimmt. Dies ist vorzugsweise eine Spek
tralonplatte mit einem genau definierten Reflexionsvermögen, daß unabhängig
von der Richtung der ein- und ausfallenden Strahlung sein soll. Nachteilig an
der bekannten Vorrichtung ist deren mangelnde Auflösung. Bei Messung in
einer Filterstellung und Schrittweiten von 1° in Azimut- und Zenitrichtung benö
tigt die Vorrichtung 18 Stunden Zeit für eine Messung, da alle zwei Sekunden
gefahren und gemessen werden kann. Bei einer Schrittweite von 5° in Azimut-
und Zenitrichtung kann alle drei Sekunden eine Messung durchgeführt werden.
Damit dauert die Meßreihe eine Stunde und fünf Minuten. Da die bidirektionale
Reflektanzverteilungsfunktion vom Azimut- und Zenitwinkel des Sonnenstandes
abhängig ist, muß die Vermessung sehr zügig durchgeführt werden, um einen
nahezu konstanten Sonnenstand sicherzustellen. Um dies bei der Vermessung
des gesamten Halbraumes zu gewährleisten, muß bei dem bekannten Verfah
ren entweder der Öffnungswinkel (Field of View) und/oder die Schrittweite für
die Azimut- und Zenitwinkel relativ groß gewählt werden. In der Regel benutzt
man einen Öffnungswinkel und eine Schrittweite von 5° bis 15° und mißt dann
in entsprechend vielen Einstellungen, die teilweise manuell vorgenommen wer
den, den gesamten unteren Halbraum. Im Ergebnis liegt eine bidirektionale
Reflektanzverteilungsfunktion mit einer Auflösung von 5° bis zu 15° Winkel
schrittweite vor. Ein weiterer Nachteil der bekannten Vorrichtung ist die man
gelnde Genauigkeit der ermittelten Referenz, da die Konstanz des Reflexions
vermögens nicht vollständig gewährleistet ist, sowohl an den verschiedenen
Punkten der Spektralonplatte als auch bezogen auf die Abhängigkeit von der
Blickrichtung.
Aus den Fachartikeln "Irons, J. R. et al.: Multiple-Angle Observations of Reflec
tance Anisotropy from an Airborne Linear Sensor; IEEE Transactions on Geo
science and Remote Sensing, Vol. GE-25, No. 3, May 1987, S. 372-383" und
"Ranson, K. J. et al.: Multispectral Bidirectional Reflectance of Northern Forest
Canopies with the Advanced Solid-State Array Spectroradiometer (ASAS); Re
mote Sens. Environ. 47, 1994, S. 276-289" ist jeweils die Verwendung einer
CCD-Zeilen-Kamera zur Bestimmung der bidirektionalen Reflektanzverteilung
bekannt. Dabei wird die CCD-Zeilenkamera während der Messung horizontal
geschwenkt, so daß sich sieben diskrete Blickwinkel der CCD-Zeilen-Kamera
auf die auszumessende Oberfläche einstellen.
Der Erfindung liegt daher das technische Problem zugrunde, eine Vorrichtung
und ein Verfahren zur Bestimmung der bidirektionalen Reflektanzverteilung zu
schaffen, mit der eine verbesserte Auflösung der bidirektionalen Reflektanzver
teilungsfunktion erreichbar ist.
Die Lösung des technischen Problems ergibt sich durch die Merkmale der Pa
tentansprüche 1 und 3. Durch die Ausgestaltung der optischen Detektorein
richtung als CCD-Zeilen-Kamera kann jeweils simultan, entsprechend dem
Öffnungswinkel der Kamera, ein Segment der abzutastenden Oberfläche aus
gemessen werden und eine horizontale Verstellung der Detektoreinrichtung zur
Erfassung einzelner Meßpunkte ist entbehrlich. Dadurch kann die Ausmessung
der Oberfläche um den Faktor 2000 schneller erfolgen, so daß die Fehler auf
grund einer Sonnenstandsänderung vernachlässigbar sind. Die Zeitdauer für
eine Meßreihe einschließlich Polarisationsmessung beträgt ca. 65 Sekunden
bei einer Auflösung von bis zu 0,5°. Solche weltwinkligen CCD-Zeilen-Kameras
sind seit langem aus der Luft- und Raumfahrttechnik bekannt. Eine beispielhaf
te Beschreibung einer derartigen Kamera ist dem Fachartikel "Weitwinkel-Ste
reokamera WAOSS-Konzept und Arbeitsweise, Sandau et al.; bild & ton, 9/10,
1992, S. 224 ff. entnehmbar, auf den hier bezüglich der Ausbildung der Kamera
ausdrücklich Bezug genommen wird. Zur vollständigen Erfassung der bidirek
tionalen Reflektanzverteilung ist der CCD-Zeilen-Kamera eine Drehvorrichtung
zugeordnet, die um eine vertikale Achse um 360° und um die horizontale Achse
um 180° schwenkbar ist. Dabei wird durch die vertikale Drehbewegung der
Drehvorrichtung die gesamte Oberfläche erfaßt, wohingegen über die Drehung
um die horizontale Achse um 180° und anschließender Drehung um die vertika
le Achse eine Referenzgröße für die einfallende Strahlung bestimmbar ist. Da
durch existiert eine gute Korrelation zwischen den Messdaten und der Refe
renzgröße. Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich
aus den Unteransprüchen.
Zur Erfassung und Unterdrückung der durch die Eigenpolarisation der CCD-
Zeilen-Kamera verursachten Meßfehler kann mindestens eine weitere Refe
renzmessung durchgeführt werden, bei der bestimmte Punkte der Oberfläche
in einer unterschiedlichen CCD-Zeilen-Position vermessen werden. Da die Ei
genpolarisation der CCD-Zeilen-Kamera bekannt ist, kann mittels der beiden
Meßdaten der Meßfehler herausgerechnet werden.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand eines bevorzugten Ausführungsbei
spieles näher erläutert. Die Figur zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Darstellung der Vorrichtung bei Erfassung
der Meßdaten,
Fig. 2 eine perspektivische Darstellung der Vorrichtung bei Erfassung
der Referenz und
Fig. 3 eine perspektivische Darstellung der Vorrichtung bei Erfassung
einer weiteren Referenz zur Kompensation der Meßfehler auf
grund der Eigenpolarisation der CCD-Zeilen-Kamera.
Die Vorrichtung zur Bestimmung der bidirektionalen Reflektanzverteilung um
faßt eine CCD-Zeilen-Kamera 1 und eine Drehvorrichtung 2, auf der die CCD-
Zeilen-Kamera 1 montiert ist. Mittels der Drehvorrichtung 2 ist die CCD-Zeilen-
Kamera 1 sowohl um eine vertikale Achse 3 als auch um eine horizontale Ach
se 4 schwenkbar. Zur Erfassung der jeweiligen Strahlungsdichte einer zu unter
suchenden Oberfläche 5 wird die CCD-Zeilen-Kamera 1 derart ausgerichtet,
daß ein Ende der CCD-Zeile senkrecht auf die Oberfläche 5 blickt und dadurch
einen imaginären Kreismittelpunkt 6 der Oberfläche 5 definiert. Das entgegen
gesetzte Ende der CCD-Zeile ist somit auf einen Punkt 7 off-nadir gerichtet. Bei
einem Öffnungswinkel von 80° steht somit die optische Achse der CCD-Zeilen-
Kamera 1 zur Oberfläche 5 in einem Winkel von 40°. Mittels einer simultanen
Aufnahme wird dabei das gestrichelt dargestellte Segment aufgenommen. An
schließend wird die CCD-Zeilen-Kamera 1 um einen bestimmten Winkel um die
vertikale Achse 3 gedreht und ein weiteres Segment aufgenommen. Dieser
Vorgang wiederholt sich solange, bis die CCD-Zeilen-Kamera 1 um 360° ge
dreht wurde und somit einen Kreis 8 der Oberfläche 5 vermessen hat. Die
schrittweise vertikale Drehung kann dabei entweder manuell oder automatisch
mittels einer geeigneten programmierbaren Steuerung erfolgen.
Zur Bestimmung der bidirektionalen Reflektanz muß die erfaßte Strahlungs
dichte mit einer der einfallenden Strahlung entsprechenden Referenzgröße
verglichen werden. Dazu wird gemäß Fig. 2 die CCD-Zeilen-Kamera 1 um die
horizontale Achse 4 um 180° gedreht und die einfallende Strahlungsdichte wie
der segmentweise erfaßt. Dadurch ist für jeden Punkt der Oberfläche 5 sowohl
die einfallende als auch die reflektierte Strahlungsdichte bekannt, so daß dar
aus die resultierende bidirektionale Reflektanzverteilungsfunktion der Ober
fläche 5 ableitbar ist.
Aufgrund des großen Öffnungswinkels und der optischen Bauelemente weist
die CCD-Zeilen-Kamera 1 bzw. die Kameraoptik eine gewisse Eigenpolarisa
tion auf. Die Eigenpolarisation der Kameraoptik ist im Bereich der optischen
Achse nahezu null und nimmt zu beiden Enden der CCD-Zeile hin zu. Bei den
bisher bekannten CCD-Zeilen-Kameras 1 kann die Eigenpolarisation an den
Rändern bis zu 20% betragen. Die Polarisation des einfallenden, von der Erd
oberfläche reflektierten Lichtes kann je nach Untergrund bis zu 30% bei rotem
Licht und bis zu 60% bei blauem Licht betragen. Somit kann der mit abnehmen
der Wellenlänge größer werdende Meßfehler allein durch die Polarisation bis
zu 6% bzw. 12% betragen. Zur Ermittlung und Unterdrückung dieser Meßfehler
aufgrund der Eigenpolarisation der CCD-Zeilen-Kameras 1 kann gemäß Fig. 3
eine weitere Referenzmessung vorgenommen werden. Dazu wird z. B. die
CCD-Zeilen-Kamera 1 derart ausgerichtet, daß die optische Achse der CCD-
Zeilen-Kamera 1 auf den off-nadir Punkt 7 der ersten Messung gerichtet ist,
also den Punkte, wo die größte Eigenpolarisation der CCD-Zeilen-Kamera 1 in
der vorangegangenen Messung auftrat. Da im Bereich der optischen Achse die
Eigenpolarisation null ist, ist der Meßfehler aufgrund von Polarisation für den
off-nadir Punkt 7 bei der Referenzmessung null. Mittels eines Vergleichs zwi
schen den beiden Meßwerten kann somit auf den Polarisationsgrad der von der
Oberfläche 5 reflektierten Strahlung zurückgeschlossen werden. Da die Eigen
polarisation und deren Verteilung über die CCD-Zeile eine feste, bestimmbare
Gerätegröße ist, kann somit der Meßfehler aufgrund der Polarisation für alle
Punkte eines Segmentes und somit der gesamten Oberfläche 5 herausgerech
net werden.
Claims (5)
1. Vorrichtung zur Bestimmung der bidirektionalen Reflektanzverteilung,
umfassend eine optische Detektoreinrichtung und eine die optische De
tektoreinrichtung um eine horizontale Achse schwenkende Drehvorrich
tung, wobei die optische Detektoreinrichtung als CCD-Zeilen-Kamera (1)
ausgebildet ist,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Drehvorrichtung (2) derart ausgebildet ist, daß die CCD-Zeilen-Ka
mera (1) um eine vertikale Achse (3) um 360° und die horizontale Achse
(4) um 180° schwenkbar ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die CCD-
Zeilen-Kamera (1) einen Öffnungswinkel von bis zu 80° aufweist.
3. Verfahren zur Bestimmung der bidirektionalen Reflektanzverteilung,
dadurch gekennzeichnet, daß
- a) eine CCD-Zeilen-Kamera (1) auf einer Drehvorrichtung (2) angeord net wird und die CCD-Zeilen-Kamera (1) mittels der Drehvorrichtung (2) um eine vertikale und um eine horizontale Achse schwenkbar ist,
- b) simultan die optische Strahldichte eines Segmentes der abzutasten den Oberfläche (5) erfaßt und abgespeichert wird,
- c) die CCD-Zeilen-Kamera (1) um die vertikale Achse (3) um einen Win kel gedreht wird und die Erfassung gemäß b) wiederholt wird, bis die CCD-Zeilen-Kamera (1) um 360° um die vertikale Achse (3) gedreht wurde und
- d) die erfaßten Daten der optischen Strahldichte mit einer der einfallen den Strahlung entsprechenden Referenzgröße verglichen werden.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß zur Ermitt
lung der Eigenpolarisation mindestens eine Referenzmessung erfolgt,
bei der die optische Achse der CCD-Zeilen-Kamera (1) mittels der hori
zontalen Achse (4) auf den off-nadir Punkt (7) in der vorangegangenen
Ausmessung der Oberfläche (5) verschoben wird und die Verfahrens
schritte b) und c) für die gewählte Ausrichtung der optischen Achse wie
derholt werden.
5. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Ermitt
lung der Referenzgröße mittels der CCD-Zeilen-Kamera (1) vor und/oder
nach der Erfassung der Meßdaten erfolgt, indem die CCD-Zeilen-Kame
ra (1) um die horizontale Achse (4) um 180° in Richtung der Strahlungs
quelle ausgerichtet und diese gemäß der Verfahrensschritte b) und c)
vermessen wird.
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