DE19707418C2 - Optoelektronische Vorrichtung - Google Patents

Optoelektronische Vorrichtung

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Description

Die Erfindung betrifft eine optoelektronische Vorrichtung gemäß dem Oberbe­ griff des Anspruchs 1.
Eine derartige Vorrichtung ist beispielsweise aus der DE 44 05 376 C1 bekannt. Diese Vorrichtung dient zur Erfassung der Positionen von Gegenständen oder Personen im Überwachungsbereich und wird insbesondere in Applikationen des Personenschutzes eingesetzt. Beispielsweise kann die Vorrichtung an der Front­ seite einer Maschine angeordnet sein. Der Überwachungsbereich erstreckt sich dann auf das Vorfeld der Maschine. Tritt eine Person oder ein Gegenstand in den Überwachungsbereich, so wird dies von der Vorrichtung erkannt. Dies führt zu einer Warnsignalabgabe, welche dazu verwendet werden kann, die Maschine außer Betrieb zu setzen, um eine eventuelle Gefährdung von Personen im Über­ wachungsbereich zu vermeiden.
Problematisch bei derartigen Anwendungsfällen ist, daß die Oberflächen der in den Überwachungsbereich eindringenden Gegenstände sehr unterschiedlich aus­ geprägt sein können. Ist beispielsweise ein Reflektor oder ein spiegelndes Objekt im Überwachungsbereich angeordnet, so wird ein sehr großer Anteil der vom Sendeelement emittierten Sendelichtstrahlen auf die Vorrichtung zurückre­ flektiert.
Ist andererseits eine dunkel gekleidete Person im Überwachungsbereich ange­ ordnet, so wird von dieser nur ein sehr kleiner Teil der Sendelichtmenge auf die Vorrichtung zurückreflektiert. Diese Lichtmenge kann je nach Oberflächenbe­ schaffenheit der Kleidung oder der Distanz der Person zur Vorrichtung so gering sein, daß die in der Vorrichtung registrierte Lichtmenge kaum noch aus­ reicht, die Person zu detektieren.
Ist in diesem Fall durch äußere Störeinflüsse wie zum Beispiel Staub das Aus­ trittsfenster verschmutzt, so wird die nutzbare Lichtmenge so vermindert, daß eine Detektion der Person nicht mehr mit der notwendigen Detektionssicherheit gewährleistet werden kann. Dies bedeutet, daß die Person unter Umständen uner­ kannt bleibt, wodurch diese innerhalb des Überwachungsbereichs durch die Maschine zu Schaden kommen kann.
Aus der DE 38 25 474 A1 ist ein Näherungsschalter bekannt, welcher einen Sender zur Abgabe von Wellen und/oder einen Empfänger zur Aufnahme derartiger Wellen aufweist. Der Näherungsschalter kann insbesondere als optischer Näherungsschalter ausgebildet sein, wobei ein Lichtstrahlen emittierender Sender und ein Lichtstrahlen empfangender Empfänger in Abstand nebeneinanderliegend hinter einer Abdeckung aus Glas oder dergleichen angeordnet sind. Zur Erkennung von Verschmutzungen auf der Abdeckung weist der Näherungsschalter einen weiteren zweiten Sender und einen weiteren zweiten Empfänger auf, welche hinter der Abdeckung in seitlichem Abstand zueinander so angeordnet sind, daß bei einer eine Reflexion bewirkenden äußeren Verschmutzung der Abdeckung die von dieser reflektierten Wellen, insbesondere Lichtstrahlen, des zweiten Senders von dem zweiten Empfänger aufnehmbar ist. Nachteilig hierbei ist, daß mit dem zweiten Sender nur ein kleiner Ausschnitt der Abdeckung überprüfbar ist. Dabei ist die Anordnung zweckmäßig so zu wählen, daß sich die Sendekeule des zweiten Senders und der Empfangsbereich des zweiten Empfängers teilweise überdecken. Die Abdeckung ist dann im wesentlichen im Bereich dieser Überdeckung hinsichtlich Verschmutzungen überprüfbar.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde eine Vorrichtung der eingangs genann­ ten Art so auszubilden, daß eine Verschmutzung des Austrittsfensters der Vor­ richtung nicht zu unkontrollierbaren Gefahrenzuständen für Personen oder Gegenstände innerhalb des Überwachungsbereichs führt.
Zur Lösung dieser Aufgabe sind die Merkmale des Anspruchs 1 vorgesehen. Vor­ teilhafte Ausführungsformen und zweckmäßige Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen beschrieben.
Erfindungsgemäß ist zur Kontrolle der Verschmutzung des Austrittsfensters ein zweites Sendeelement vorgesehen, welches Testsendelichtstrahlen emittiert, die das gesamte Austrittsfenster periodisch abtasten. Dabei ist die Strahlführung so gewählt, daß die Testsendelichtstrahlen über einen Schwenkspiegel auf die Ablenkeinheit und von dort zum Austrittsfenster geführt sind. Durch die peri­ odische Rotationsbewegung der Ablenkeinheit und die periodische Schwenkbe­ wegung des Schwenkspiegels wird das Austrittsfenster von den Testsendelicht­ strahlen zeilenförmig abgetastet.
Die vom Austrittsfenster reflektierte Lichtmenge wird innerhalb des gesamten vom Austrittsfenster umspannten Winkelbereichs als Maß für die Verschmutzung des Austrittsfensters ausgewertet. Auf diese Weise kann erfaßt werden, ob das Austrittsfenster auf seiner gesamten Oberfläche eine hinreichend geringe Ver­ schmutzung aufweist, welche die Detektion von Gegenständen beeinflussen kann. Ist dies nicht der Fall, so wird zweckmäßigerweise eine Signalabgabe generiert, welche die Vorrichtung und damit beispielsweise auch eine Maschine, deren Vorfeld mittels der Vorrichtung überwacht wird, außer Betrieb setzt. Auf diese Weise können Gefährdungen von Personen und Gegenständen im Über­ wachungsbereich mit großer Sicherheit ausgeschlossen werden.
Durch die zeilenförmige Abtastung des Austrittsfensters kann zudem der Ort der Verschmutzung am Austrittsfenster genau lokalisiert werden.
Die Erfindung wird im nachstehenden anhand der Zeichnungen erläutert. Es zeigen:
Fig. 1: Eine schematische Darstellung der erfindungsgemäßen optoelek­ tronischen Vorrichtung
Fig. 2: Ausführungsbeispiel eines Lichttasters zur Kontrolle der Verschmutzung des Austrittsfensters der Vorrichtung nach Fig. 1.
Fig. 1 zeigt eine optoelektronische Vorrichtung 1 zum Erfassung von Gegen­ ständen oder Personen in einem Überwachungsbereich. Die Vorrichtung 1 weist ein in einem Gehäuse 2 integriertes Sendeelement 3 auf. Die vom Sendeelement 3 emittierten Sendelichtstrahlen 4 werden über eine Ablenkeinheit 5 periodisch abgelenkt und überstreichen dabei einen den Überwachungsbereich bildenden, vorgegeben Winkelbereich Ω. Die im Überwachungsbereich geführten Sende­ lichtstrahlen 4 durchdringen dabei ein Austrittsfenster 6 in der Gehäusewand, wobei die Ausdehnung des Austrittsfensters 6 in Drehrichtung der Ablenkeinheit 5 die Größe des Winkelbereichs Ω definiert.
Der Winkelbereich Ω liegt vorzugsweise im Bereich 90° < Ω < 270°, wobei im vorliegenden Ausführungsbeispiel Ω = 180° beträgt.
Das Gehäuse 2 weist eine im wesentlichen zylindrische Form auf und ist aus lichtundurchlässigem Kunststoff oder Metall gebildet. Das Austrittsfenster 6 be­ steht aus lichtdurchlässigem Kunststoff oder Glas und erstreckt sich entlang der Mantelfläche der Gehäuseoberfläche. Die Höhe des Austrittsfensters 6 ist über den gesamten Winkelbereich Ω konstant.
Die Strahlachse der über die Ablenkeinheit 5 abgelenkten Sendelichtstrahlen 4 liegt in einer horizontalen Ebene senkrecht zur Drehachse D der Ablenkeinheit 5. Demzufolge wird mit den Sendelichtstrahlen 4 ein halbkreisförmiger, ebener Überwachungsbereich überstrichen.
Mittels der Vorrichtung 1 wird die Position der Gegenstände im Überwachungs­ bereich erfaßt. Hierzu ist an der Ablenkeinheit 5 ein nicht dargestellter Winkel­ geber vorgesehen, welcher die momentane Winkelposition der Ablenkeinheit 5 und damit der Sendelichtstrahlen 4 fortlaufend erfaßt. Die Signale des Winkel­ gebers werden in eine ebenfalls nicht dargestellte zentrale Auswerteeinheit ein­ gelesen. Die Auswerteeinheit kann von einem Microcontroller gebildet sein. Zudem weist die Vorrichtung 1 einen Distanzsensor zur Bestimmung der Dis­ tanz eines Gegenstands zur Vorrichtung 1 auf. Der Distanzsensor besteht aus dem Sendeelement 3 und einem diesem zugeordneten Empfangselement 7.
Die Distanzmessung erfolgt zweckmäßigerweise nach dem Prinzip der Laufzeit­ methode. Das Sendeelement 3 weist vorzugsweise einen von einer Laserdiode gebildeten Sender 8 mit nachgeordneter Sendeoptik 9 auf. Das Empfangsele­ ment 7 besteht beispielsweise aus einem von einer pin Photodiode gebildeten Empfänger 10 und einer diesem vorgeordneten Empfangsoptik 11.
Die Meßmethode der Laufzeitmessung kann zum einen als Phasenmessung aus­ geprägt sein. In diesem Fall wird die Laserdiode im CW-Betrieb betrieben, wo­ bei den Sendelichtstrahlen 4 eine Amplitudenmodulation aufgeprägt ist. Emp­ fangsseitig wird die Distanzinformation durch einen Vergleich der Phasenlagen der emittierten Sendelichtstrahlen 4 und der auf den Empfänger 10 auftreffenden Empfangslichtstrahlen 12 ermittelt.
Alternativ kann die Distanzmessung nach der Impulslaufzeitmethode erfolgen. In diesem Fall werden vom Sender 8 kurze Sendelichtimpulse emittiert. Die Distanzinformation wird in diesem Fall durch direkte Messung der Laufzeit eines Sendelichtimpulses zu einem Gegenstand und zurück zur Vorrichtung 1 gewonnen.
Im vorliegenden Ausführungsbeispiel sind das Sende- 3 und das Empfangs­ element 7 ortsfest im Gehäuse 2 oberhalb der rotierenden Ablenkeinheit 5 ange­ ordnet. Dabei sind das Sende- 3 und Empfangselement 7 koaxial angeordnet, wobei das Empfangselement 7 oberhalb des Sendeelements 3 angeordnet ist. Der Querschnitt der Empfangsoptik 11 ist dabei erheblich größer als der Quer­ schnitt der Sendeoptik 9. Die Sende- 4 und Empfangslichtstrahlen 12 verlaufen koaxial.
Die vom Sender 8 emittierten Sendelichtstrahlen 4 treffen auf das Zentrum der Ablenkeinheit 5 und durchdringen das Austrittsfenster 6 in dessen Zentrum.
Diese von einem Gegenstand reflektierten Empfangslichtstrahlen 12 durchdrin­ gen das Austrittsfenster 6 in den Randbereichen und treffen demzufolge auch auf die Randbereiche der Ablenkeinheit 5. Von dort treffen sie auf die Randbe­ reiche der großflächigen Empfangsoptik 11, welche die Empfangslichtstrahlen 12 auf den Empfänger 10 fokussiert. Somit führt die Abschattung der Empfangs­ lichtstrahlen 12 durch das Sendeelement 3 nur zu einer geringen Verminderung der auf den Empfänger 10 auftreffenden Empfangslichtmenge.
Zur Kontrolle von Verschmutzungen des Austrittsfensters 6 weist die Vor­ richtung 1 ein zweites Sendeelement 13 auf, welches Testsendelichtstrahlen 14 emittiert. Die Testsendelichtstrahlen 14 sind über die Ablenkeinheit 5 geführt treffen auf das Austrittsfenster 6.
Zweckmäßigerweise emittieren das erste und das zweite Sendelement 3, 13 Licht in einem Wellenlängenbereich, in dem das Austrittsfenster 6 nahe zu voll­ ständig transparent ist.
Die Ablenkeinheit 5 weist einen Drehspiegel 15 auf, dessen Spiegelebene ist um 45° bezüglich der Drehachse D der Ablenkeinheit 5 geneigt ist.
An dem Drehspiegel 15 werden die Sendelichtstrahlen 4 und die Testsende­ lichtstrahlen 14 in Richtung des Austrittsfensters 6 abgelenkt. Die Ablenkeinheit 5 wird mittels eines nicht dargestellten Motors angetrieben.
Das zweite Sendeelement 13 ist Bestandteil eines Lichttasters 16 mit zwei Testempfangslichtstrahlen 17 empfangenden Empfängern 18, 19 (Fig. 2).
Dabei sind die Testsendelichtstrahlen 14 und die Testempfangslichtstrahlen 17 koaxial geführt. Der erste Empfänger 18 bildet ein Nahelement, auf welchen die aus dem Nahbereich, insbesondere die vom Austrittsfenster 6 reflektierten Testempfangslichtstrahlen 17 auftreffen. Der zweite Empfänger 19 bildet ein Fernelement, auf welches die von in größeren Distanzen hinter dem Austritts­ fenster 6 außerhalb des Gehäuses 2 angeordneten Objekten zurückreflektierten Testempfangslichtstrahlen 17 auftreffen.
Das zweite Sendeelement 13 ist von einem Sender 20 und einer in Richtung des Verlaufs der Testsendelichtstrahlen 14 vorgeordneter, von einer Linse gebildeten Sendeoptik 21 gebildet. Der Sender 20 besteht vorzugsweise aus einer Leucht­ diode, die Empfänger 18, 19 sind jeweils von einer Photodiode gebildet.
Dem zweiten Sendeelement 13 ist eine erste Empfangslinse 22 vorgeordnet und eine zweite Empfangslinse 23 nachgeordnet. Die Durchmesser der Empfangs­ linsen 22, 23 sind erheblich größer als der Durchmesser des Sendeelements 13.
An der Rückseite der dem Sendeelement 13 nachgeordneten Empfangslinse 23 ist der erste Empfänger 18 angeordnet. Der zweite Empfänger 19 ist in Abstand zum ersten Empfänger 18 diesem gegenüberliegend angeordnet. Zwischen den Empfängern 18, 19 ist eine Lochblende 24 angeordnet. Sämtliche optische Komponenten des Lichttasters 16 sind koaxial und rotationssymmetrisch bezü­ glich der optischen Achse des Lichttasters 16 angeordnet.
Die von dem Austrittsfenster 6 im Nahbereich des Lichttasters 16 reflektierten Testempfangslichtstrahlen 17 durchsetzten die Empfangslinsen 22, 23 in deren zentralen Bereichen und werden von der Lochblende 24 auf das Nahelement reflektiert. Die vom Fernbereich stammenden Testempfangslichtstrahlen 17 durchsetzen die Empfangslinsen 22, 23 in den Randbereichen und werden durch die Öffnung der Lochblende 24 zum Fernelement geführt.
Die vom zweiten Sendeelement 13 emittierten Testsendelichtstrahlen 14 werden auf einen Schwenkspiegel 25 geführt und von dort auf den Drehspiegel 15 der Ablenkeinheit 5 reflektiert, von dort gelangen sie zum Austrittsfenster 6.
Die Drehachse des Schwenkspiegels 25 ist senkrecht zur Drehachse D der Ablenkeinheit 5 angeordnet. Der Schwenkspiegel 25 ist zwischen dem Emp­ fangselement 7 und der Ablenkeinheit 5 angeordnet. Dabei ist der Schwenk­ spiegel 25 seitlich versetzt zum Sendeelement 3 neben der Drehachse D der Ablenkeinheit 5 angeordnet.
Der Schwenkspiegel 25 ist durch einen nicht dargestellten Motor angetrieben und an einer nicht dargestellten Halterung am Gehäuse 2 befestigt. Die Halte­ rung besteht vorzugsweise aus einem Arm mit geringem Querschnitt. Zudem ist der Schwenkspiegel 25 erheblich kleiner als die Empfangsoptik 11, so daß durch den Schwenkspiegel 25 nur eine geringe Abschattung der Empfangs­ lichtstrahlen 12 erfolgt.
Die Amplitude der Schwenkbewegung des Schwenkspiegels 25 ist, wie in Fig. 1 dargestellt, so gewählt, daß die Testsendelichtstrahlen 14 die gesamte Höhe des Austrittsfensters 6 erfassen. Durch die Rotationsbewegung der Ablenk­ einheit 5 werden die Testsendelichtstrahlen 14 in Umfangsrichtung des Aus­ trittsfensters 6 geführt. Durch die Schwenkbewegung des Schwenkspiegels 25 wird das Austrittsfenster 6 in vertikaler Richtung abgetastet. Durch die Über­ lagerung beider Bewegungen erfolgt eine zeilenförmige Abtastung des Aus­ trittsfensters 6.
Zweckmäßigerweise ist die Periodendauer TS der Schwenkbewegung erheblich größer als die Periodendauer TR der Rotationsbewegung der Ablenkeinheit 5. Vorteilhafterweise liegt TS im Bereich 2 sec ≦ TS ≦ 6 sec und TR im Bereich 20 msec ≦ TR ≦ 100 msec.
Auf diese Weise erfolgt eine zeilenförmige Abtastung des Austrittsfensters 6 in horizontaler Richtung, wobei jede Zeile mehrfach abgetastet wird. Die Auflö­ sung der Abtastung ist durch den Durchmesser der Testsendelichtstrahlen 14 gegeben.
Da der Schwenkspiegel 25 versetzt zur Drehachse D der Ablenkeinheit 5 an­ geordnet ist, sind die einzelnen Zeilen leicht gekrümmt.
Zur Kontrolle der Verschmutzung des Austrittsfensters 6 ist der Lichttaster 16 an die Auswerteeinheit angeschlossen. Dort wird die Lichtmenge der vom Austrittsfenster 6 auf den Lichttaster 16 zurückreflektierten Testsendelicht­ strahlen 14 ausgewertet. Hierzu werden die Signalpegel an den Ausgängen des Nah- und Fernelements miteinander verglichen, zudem wird der Signalpegel des Nahelements mit einem Schwellwert bewertet. Eine die Verschmutzung des Austrittsfensters 6 signalisierende Signalabgabe erfolgt, wenn der Signalpegel des Nahelements größer als der Signalpegel des Fernelements ist und der Signalpegel des Nahelements oberhalb des Schwellwerts liegt. Durch die Aus­ wertung der Signale des Fernelements und des Nahelements können Verschmut­ zungen des Austrittsfensters 6 sicher von Signalen unterschieden werden, die von dicht vor der Vorrichtung 1 angeordneten Objekten stammen.
Zudem kann die Signalabgabe auch die Ortsinformation der Verschmutzung auf dem Austrittsfenster 6 enthalten. Hierzu sind zweckmäßigerweise sämtliche während einer Abtastung des Austrittsfensters 6 ermittelten Signalwerte in Abhängigkeit der momentanen Stellung der Ablenkeinheit 5 und des Schwenk­ spiegels 25 in der Auswerteeinheit abgespeichert.
Durch die Signalabgabe kann die Vorrichtung 1 aus Sicherheitsgründen abge­ schaltet werden.
Das Austrittsfenster 6 ist von einem um das gesamte Austrittsfenster 6 um­ laufenden Randstreifen 26 begrenzt, welcher eine alterungsstabile, strukturierte Oberfläche aufweist. Von dieser Oberfläche wird ein definierter Anteil der Testsendelichtstrahlen 14 auf den Lichttaster 16 zurückreflektiert. Der auf das Nahelement auftreffende Anteil entspricht gerade dem vom Schwellwert ent­ sprechenden Signalpegel am Ausgang des Nahelements. Durch die fortlaufende Erfassung der von dem Randstreifen 26 stammenden Signalpegel wird eine zy­ klische Testung des Schwellwerts und damit der Messung der Verschmutzung des Austrittsfensters 6 ermöglicht.

Claims (24)

1. Optoelektronische Vorrichtung (1) zum Erfassen von Gegenständen in einem Überwachungsbereich mittels eines in einem Gehäuse (2) in­ tegrierten, Sendelichtstrahlen (4) emittierenden ersten Sendeelements (3), wobei die Sendelichtstrahlen (4) über eine rotierende Ablenkeinheit (5) in­ nerhalb eines vorgegebenen Winkelbereichs Ω periodisch abgelenkt sind, durch ein Austrittsfenster (6) aus dem Gehäuse (2) geführt sind, den Über­ wachungsbereich überstreichen und nach ihrer Wechselwirkung mit den Gegenständen als Empfangslichtstrahlen (12) auf ein Empfangselement (7) treffen, dadurch gekennzeichnet, daß zur Kontrolle der Verschmutzung des Austrittsfensters (6) von einem zweiten Sendeelement (13) Testsendelicht­ strahlen (14) emittiert werden, welche auf einen Schwenkspiegel (25) treffen und von diesem über die Ablenkeinheit (5) auf das Austrittsfenster (6) geführt sind, wobei die Testsendelichtstrahlen (14) durch die Rotations­ bewegung der Ablenkeinheit (5) und die Schwenkbewegung des Schwenk­ spiegels (25) das Austrittsfenster (6) zeilenförmig periodisch abtasten und daß die von dem Austrittsfenster (6) reflektierte Lichtmenge der Testsende­ lichtstrahlen (14) als Maß für die Verschmutzung des Austrittsfensters (6) ausgewertet wird.
2. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Winkelbereich Ω, über welchen sich der Überwachungsbereich und das Austrittsfenster (6) erstrecken, im Bereich von 90° < Ω < 270° liegt.
3. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet; daß der Winkelbereich Ω = 180° beträgt.
4. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-3, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlachse der über die Ablenkeinheit (5) abge­ lenkten Sendelichtstrahlen (4) in einer horizontalen Ebene senkrecht zur Drehachse D der Ablenkeinheit (5) liegt.
5. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-4, dadurch gekennzeichnet, daß die Position der Gegenstände im Überwachungsbereich erfaßt wird, indem mittels eines Winkelgebers die aktuelle Winkelposition der Ablenkeinheit (5) bestimmt wird und das erste Sendeelement (3) mit dem ihm zugeordneten Empfangselement (7) als Distanzsensor ausgebildet ist, welcher die Distanz von Gegenständen zur optoelektronischen Vorrichtung (1) ermittelt.
6. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Distanzmessung nach dem Prinzip der Laufzeitmethode erfolgt.
7. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die vom ersten Sendeelement (3) emittierten Sendelichtstrahlen (4) und die auf das Empfangselement (7) auftreffenden Empfangslichtstrahlen (12) koaxial geführt sind, wobei die Sendelichtstrahlen (4) das Austrittsfenster (6) in dessen Zentrum und die Empfangslichtstrahlen (12) das Austrittsfenster (6) in dessen Randbereichen durchdringen.
8. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-7, dadurch gekennzeichnet, daß die Ablenkeinheit (5) einen beidseitig verspiegelten Drehspiegel (15) aufweist, auf welchen die Sendelichtstrahlen (4) und die Empfangslichtstrahlen (12) auftreffen.
9. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-8, dadurch gekennzeichnet, daß dem Testsendelichtstrahlen (14) emittierenden zweiten Sendeelement (13) zwei Testempfangslichtstrahlen (17) empfangende Empfänger (18, 19) zugeordnet sind, welche zusammen mit dem zweiten Sendeelement (13) einen Lichttaster (16) bilden.
10. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß einer der Empfänger (18) ein Nahelement bildet und der andere Empfänger (19) ein Fernelement bildet.
11. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Testsendelichtstrahlen (14) und die Testempfangslicht­ strahlen (17) koaxial geführt sind.
12. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9-11, dadurch gekennzeichnet, daß das zweite Sendeelement (13) einen Sender (20) mit vorgeordneter Sendeoptik (21) aufweist.
13. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß das zweite Sendeelement (13) zwischen einer ersten Empfangslinse (22) und einer zweiten Empfangslinse (23) angeordnet ist, deren Durchmesser erheblich größer als der Durchmesser des zweiten Sendeelements (13) sind.
14. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß an der Rückseite der dem zweiten Sendeelement (13) nachgeordneten Empfangslinse (23) der erste Empfänger (18) und in Abstand zu diesem, dem ersten Empfänger (18) gegenüberliegend, der zweite Empfänger (19) angeordnet ist.
15. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen den Empfängern (18, 19) eine Lochblende (24) angeordnet ist.
16. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9-15, dadurch gekennzeichnet, daß sämtliche optische Komponenten des Lichttasters (16) koaxial und rotationssymmetrisch bezüglich der optischen Achse des Lichttaster (16) angeordnet sind.
17. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-11, dadurch gekennzeichnet, daß die Drehachse des Schwenkspiegels (25) senkrecht zur Drehachse D der Ablenkeinheit (5) angeordnet ist.
18. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-17, dadurch gekennzeichnet, daß der Schwenkspiegel (25) zwischen dem Empfangs­ element (7) und der Ablenkeinheit (5) angeordnet ist.
19. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-18, dadurch gekennzeichnet, daß der Schwenkspiegel (25) seitlich versetzt neben dem auf der Drehachse D angeordneten ersten Sendeelement (3) angeordnet ist.
20. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-19, dadurch gekennzeichnet, daß die Periodendauer TS der Schwenkbewegung des Schwenkspiegels (25) erheblich größer als die Periodendauer TR der Rotationsbewegung der Ablenkeinheit (5) ist.
21. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-20, dadurch gekennzeichnet, daß die Periodendauer TS der Schwenkbewegungen im Bereich 2 sec ≦ TS ≦ 6 sec liegt, und daß die Periodendauer der Rota­ tionsbewegung im Bereich 20 msec ≦ TR ≦ 100 msec liegt.
22. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-21, dadurch gekennzeichnet, daß zur Kontrolle der Verschmutzung des Austrittsfensters (6) der Signalpegel des Nahelements (18) des Lichttasters (16) mittels eines Schwellwerts bewertet wird und die Signalpegel von Nah- und Fernelement miteinander verglichen werden.
23. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, daß eine die Verschmutzung des Austrittsfensters (6) signalisierende Signalabgabe erfolgt, wenn der Signalpegel des Nahelements (18) größer als der Signalpegel des Fernelements (19) ist und der Signalpegel des Nahele­ ments (18) oberhalb des Schwellwerts liegt.
24. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-23, dadurch gekennzeichnet, daß das Austrittsfenster (6) von einem Randstreifen (26) mit einer strukturierten Oberfläche begrenzt wird, von welchem ein definier­ ter Anteil der Testsendelichtstrahlen (14) auf das Nahelement (18) gelangt, welcher zur Eichung des Schwellwerts verwendet wird.
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