DE19701904A1 - Vorrichtung zur quantitativen Bestimmung der Oberflächenfeuchte mit Hilfe eines kombinierten Verfahrens - Google Patents
Vorrichtung zur quantitativen Bestimmung der Oberflächenfeuchte mit Hilfe eines kombinierten VerfahrensInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur Bestimmung
von Oberflächenfeuchtigkeiten an Oberflächen von insbesondere
Hygieneartikeln (wie Babywindeln, Inkontinenzwindeln, Kran
kenunterlagen, Damenbinden, Vlies- und Faserstoffen, Textilien
usw.) mit unterschiedlichen Oberflächenbeschaffenheiten (wie sie
z. B. bei verschiedenen Faserarten oder Texturen auftreten) mit
tels eines kombinierten Verfahrens aus zwei gekoppelten
IR-Messungen und einer Leitfähigkeitsmessung. Dies geschieht unter
Ausnutzung der Gegebenheit, daß Feuchteprüfungen an Hygiene
artikeln in der Regel mit salz- (ionen-)haltigen Harnersatzlösun
gen durchgeführt werden.
Für die Bestimmung der Feuchtigkeit von Oberflächen sind eine
Vielzahl von apparativen Vorrichtungen und Verfahren bekannt,
wie zum Beispiel:
- - die taktile Prüfung der feuchten Oberfläche, durch eine prüfende Person,
- - die "wet-back"-Methode, die mit Hilfe von definierten Filter- oder Vliespapieren durch Kontakt mit der feuchten Oberfläche eine Rückfeuchtung der Prüfpapiere erzeugt und durch deren an schließende Wägung eine Beurteilung erlaubt,
- - die Messung der Kapazität von Kondensatoren, deren Dielektri kum die feuchte Oberfläche ist,
- - die Messung der elektrolytischen Leitfähigkeit auf feuchten Ober flächen,
- - die Messung der Intensität von infraroter, an dieser Oberfläche reflektierter oder gestreuter Strahlung. Die Intensität der Strah lung wird durch Absorption in dem in der Oberfläche vorhandenen Wasser abgeschwächt,
- - die Messung des Streulichtes von Glaskontaktflächen an der be treffenden feuchten Oberfläche (Europa-Patent Nr. 0 312 919 B1) mit ihren jeweiligen (ggf. elektronischen) Auswertevorrichtungen.
Bei diesem Verfahren wird durch eine Kathetenfläche eines Dove-Prismas
Licht an der Hypothenusenfläche totalreflektiert und nach
verlassen des Prismas durch die andere Kathetenfläche in einer
Lichtfalle aufgefangen. Falls die Hypothenusenfläche mit Fasern
z. B. eines Vlieses u. a. in Kontakt steht, findet an den Kontaktstel
len keine Totalreflexion mehr statt und ein Teil des Lichtes ge
langt in die oberste Schicht des Vlieses, wo es gestreut wird. Der
zur Hypothenusenfläche weitgehend senkrechte Streulichtanteil
gelangt in das Prisma zurück und wird in einem über der Fläche
angeordneten Detektor gemessen. Da ein größerer Feuchtegehalt
der Fasern eine größere Kontaktfläche an dem Prisma zur Folge
hat, wird so auch eine größere Streulichtintensität hervorgerufen.
Als Nachteil der taktilen Prüfung kann vor allem die starke Ab
hängigkeit der erzielten Werte von allg. der prüfenden Person und
von ihrer Meß-Übung gelten.
Die "wet-back"-Methode ist u. a. von der Gleichmäßigkeit der
Prüfpapiere in z. B. Dicke, Feuchtigkeitsaufnahmevermögen oder
ihrer Kapillarität abhängig. Darüberhinaus spielt auch hier die
Erfahrenheit der prüfenden Person eine wichtige Rolle.
Für die Messung von Oberflächenfeuchtigkeiten räumlich ausge
dehnter Gebilde wie es z. B. feuchte und gequollene Babywindeln
darstellen, kann es einen Nachteil bedeuten, daß das elektrische
Feld zwischen den auf der Oberfläche aufliegenden Kondensa
torplatten stark gekrümmt ist und somit eine deutliche Tiefenaus
dehnung erfährt. Auf diese Weise werden auch Schichten bei der
Messung erfaßt, deren Anteil am Meßergebnis unerwünscht ist.
Als Nachteil der Messung der elektrolytischen Leitfähigkeit als
alleiniger Bestimmungsmethode, müssen die starke Abhängigkeit
des Meßergebnisses von der Größe der Meßelektrodenkontaktflä
che zu dem ionenhaltigen flüssigen Medium (der Feuchte), die
starke Abhängigkeit von der Ionenkonzentration des Mediums und
Verfälschungen aufgrund Ionenkonzentrationsänderungen durch
Ionenaustauscherwirksamkeit des Festkörpers der zu prüfenden
Oberfläche gelten.
Der Nachteil von Infrarot-Methoden, ist allg. die Störempfindlich
keit gegenüber Substanzen, die ebenso wie Wasser OH-Gruppen
enthalten und daher in ähnlichen Bereichen wie Wasser absorbie
ren können. Dieser Nachteil kann z. T. durch die Anwendung von
(Vielkanal-)Spektroskopie ausgeglichen werden, muß dann aber
mit einem erheblich größeren technischen und finanziellen Auf
wand erkauft werden.
Nach der Streulicht-Methode (EP 0 312 919 B1, s. o.) wird der Anteil
derjenigen Fasern erfaßt, der aufgrund seiner Feuchte in direkten
Kontakt mit der Meß-Glasfläche treten kann und so einen Streu
lichtanteil an Stelle von Totalreflexion an der betr. Glasfläche
bewirkt. Dieser Streulichtanteil hängt aber nicht nur von dem An
teil der berührenden Fasern und ihrem Wassergehalt ab, sondern
auch davon, wie stark die Glasfläche auf die Fasern gedrückt
wird; ein erhöhter Kontaktanteil führt dabei zu einem erhöhten
Streulichtanteil, ohne daß deshalb die Feuchte größer wäre. Un
terschiedliche Oberflächen-Texturen können in diesem Sinne den
Kontaktanteil ebenfalls drastisch verändern.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die zuverlässige Be
stimmung von Oberflächenfeuchtigkeiten zu ermöglichen. Es soll
ein gegen Meßunsicherheiten unempfindliches Meß-System er
stellt werden, daß hinsichtlich unterschiedlicher Oberflächenbe
schaffenheit in Bezug auf Faserart oder Textur und unter Vermei
dung bekannter Meßunsicherheiten, wie sie bei der Verwendung
der einzelnen im Stand der Technik aufgezählten Verfahren auf
treten können, arbeitet.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst mit den kennzeich
nenden Merkmalen des Anspruchs 1.
- a) Der Infrarot-Teil der Meßvorrichtung enthält, wie in Bild 1 darge
stellt, in einem Gehäuse ((12) Meßkopf) eine breitbandige Infra
rot-Lichtquelle (1) deren Lichtstrahl durch eine Saphirlinse (2) an
nähernd parallelisiert wird und unter einem Winkel von 45° auf
die interessierende feuchte Oberfläche (3) gerichtet wird. Es ent
steht hierbei ein bestrahlter "Meßfleck" von ca. 15 mm Durchmes
ser.
Die remittierte Strahlung von der feuchten Oberfläche wird über zwei strahlungsempfindliche Widerstände auf Bleisulfid-(PbS)-Basis ((4) und (5)) aufgenommen. Die Eintrittsöffnungen der PbS-Sensoren bestehen aus metallbedampften Saphirfenstern und dienen als schmalbandige Bandpass-Filter mit einer Halbwerts-Band breite von ca. 4 nm. Der erste PbS-Sensor (4) ist mit einem Filter (6) für eine Peakwellenlänge von 2,95 µm, entsprechend ei ner in diesem Bereich gelegenen ausgeprägten Wasser-Absorptions bande ausgerüstet. Die Strahlung für diesen Sensor wird von einer Kollimatorlinse (7) aus Saphir gesammelt. Das von der feuchten Oberfläche remittierte Licht wird von dem durch die Teile (4), (6), (7) und einem Aufnahmegehäuse (8) ge bildeten Strahlungsempfänger I unter einem Winkel von 45° zur Oberfläche und 90° zur Lichtquelle aufgenommen. Der zweite PbS-Sensor (5) ist mit einem Filter (9) für eine Peakwellenlänge von 1,94 µm, entsprechend einer weiteren ausgeprägten Wasser-Absorp tionsbande in diesem Wellenlängenbereich ausgerüstet Die Strahlung für diesen Sensor wird von einer Kollimatorlin se (10) aus Quarzglas gesammelt. Das von der feuchten Oberflä che remittierte Licht wird von dem durch die Teile (5), (9), (10) und einem Aufnahmegehäuse (11) gebildeten Strahlungsempfän ger II unter einem Winkel von 90° zur Oberfläche und 45° zur Lichtquelle aufgenommen.
Die Widerstandswerte der PbS-Sensoren werden über (Wheatstone'sche) Brückenschaltungen umgeformt. Der Abgriff aus den Meßbrücken erfolgt durch hochohmige Differenzverstär ker, die in herkömmlicher Weise ein feuchteabhängiges Span nungssignal bilden.
Die Aufnahmegehäuse (8) und (11) werden wegen des guten Wärmekontaktes zu den PbS-Sensoren aus Aluminium gefertigt. Sie tragen je einen Halbleiter-Temperaturfühler als Meß-Grund lage für eine Temperaturkompensation nach allgemein be kannten Methoden. Eine derartige Kompensation ist notwendig, da der ohmsche Widerstand strahlungsempfindlicher Widerstände auf Bleisulfid-(PbS)-Basis sehr temperaturabhängig ist. - b) Der Leitfähigkeits-Teil der Meßvorrichtung besteht, wie in Bild 1 dargestellt, aus zwei Elektroden (13) und (14), die aus rostfreiem Edelstahl (1.4301) gefertigt sind und die im Gehäuse (12) so an gebracht werden, daß sie die feuchte Oberfläche (3) während des Meßvorgangs in der Nähe des Meßflecks berühren. Die Elektro den bilden eine Leitfähigkeitsmeßstrecke. Die leitfähige Elektro lyt-Lösung die zur Funktion der Meßstrecke nötig ist, wird durch den Einsatz von standardisierter Harnersatz-Lösung (0,9%ige Na triumchlorid-Lösung) als Prüfflüssigkeit gegeben. Die Leitfähigkeitsmeßstrecke wird mit einem Sinus-Wechsel stromsignal von ca. 1000 Hz betrieben, um Polarisati onserscheinungen an den Elektroden zu vermeiden. Das Sinus-Signal wird über das bekannte Prinzip eines Wien-Brücken-Oszillators bereitgestellt. Der Meßwechselstrom wird in herkömm licher Weise in einen Gleichspannungswert übersetzt, der dann ein Maß für die Leitfähigkeit und damit für die Feuchte der ge prüften Oberfläche ist.
- c) Die feuchteabhängigen Spannungswerte der Meß- und Kompen sationsschaltungen werden mit Hilfe eines Mikrokontrollers ge speichert und für die Weitergabe an einen PC aufbereitet. Danach stehen die digitalisierten Daten an einer seriellen Schnittstelle zur Verfügung.
Eine vorteilhafte Alternative zur drastischen Verringerung von
Temperatureffekten an den PbS-Sensoren ist der Einsatz von
Peltierelementen. Sie werden jeweils in gutem Wärmekontakt mit
den Aufnahmegehäusen (8) und (11) montiert. Bauteile
(vorzugsweise aus Metall) wie die beschriebenen Strahlungsemp
fänger, können mit Hilfe derartiger Peltierelemente sowohl be
heizt als auch gekühlt werden. Mit herkömmlichen Regelschaltun
gen kann eine Temperaturkonstanz von deutlich besser als 0,1°C
erreicht werden.
Weiterhin können Temperatureffekte durch eine symmetrische
Anordnung der Strahlungsquelle vermindert werden. Die Strah
lungsquelle wird in diesem Fall unter 90° zur Meßebene angeord
net. Der Strahlungsempfänger II unter 45° zur Meßebene und
unter 45° zur Strahlungsquelle angeordnet ist.
Der Hauptvorteil der hier beschriebenen Anordnung liegt in der
gegenseitigen Stützung und Kontrolle, die sich die beiden vonein
ander unabhängigen Meßprinzipien (IR-Messung und Leitfähig
keits-Messung) geben können. Nur wenn beide Methoden die An
wesenheit von Wasser bestätigen, dies insbesondere von allen
drei Meßkanälen gleichzeitig getan wird, sollte von Wasser als
meßwertverursachendem Agens ausgegangen werden.
Die hier beschriebene Anordnung für die Bestimmung der Ober
flächenfeuchte mittels des Infrarot-Teils, der die Abschwächung
der Remission als Maß für die Feuchte heranzieht, ist weitgehend
unempfindlich gegen unterschiedliche Oberflächenbeschaffenhei
ten wie Textur, Faserigkeit oder Rauhigkeit. Der Grund für dieses
Verhaften liegt in der Schmalbandigkeit der Filter: Die beiden
Strahlungsempfänger sprechen im wesentlichen auf Wasser, ge
nauer auf assoziierte OH-Gruppen an. Trockene, und hier imbe
sonderen faserige, Oberflächen führen auch bei unterschiedlicher
Textur zu weitgehend gleichmäßigen Remissionswerten, die erst
durch das Auftreten von Wasser an der Oberfläche gedämpft
werden. Weiterhin hat die Lage der zu messenden Oberfläche,
d. h. die Lage der Ebene, in der sich der Beleuchtungsstrahl und
die beiden Meßstrahlen schneiden, geringen Einfluß auf das Meß
ergebnis. Eine Lageänderung der feuchten Oberfläche von 2 bis
3 mm nach oben oder unten, wie sie etwa durch unterschiedlichen
Andruck des Meßkopfes (12) auf eine feuchte Windel denkbar ist,
führt nur zu einer geringen Änderung des Meßwertes.
Claims (16)
1. Eine Vorrichtung zur quantitativen Bestimmung der Oberflächen
feuchtigkeit von Proben, insbesondere Hygieneartikeln, deren
flüssiges Prüfmedium eine Harnersatz-Lösung mit hoher Eigen
leitfähigkeit sein kann, mittels eines kombinierten Verfahrens aus
- a) einer Einrichtung, die die von der Probe remittierte Strah lung schmalbandig bei zwei verschiedenen Absorptions maxima von Wasser erfaßt und
- b) einer Einrichtung, die die elektrolytische Leitfähigkeit an der Probenoberfläche, parallel zu der IR-Messung, über die Messung eines Sinus-Wechselstromes erfaßt.
- c) Einer Einrichtung, die die Probe breitbandig im infraroten Bereich bestrahlt und
- d) einer Einrichtung, die die Auswertung der erzielten Signale
zuläßt,
gekennzeichnet durch die Anordnung der Strahlungsquelle unter 45° zur Meßebene, durch die Anordnung des Strahlungsempfängers I unter 45° zur Meßebene und unter 90° zur Strahlungsquelle und durch die Anordnung des Strahlungsempfängers II unter 90" zur Meßebene.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als
Strahlungssensoren (4) und (5) strahlungsempfindliche Wider
stände auf Bleisulfid-Basis verwendet werden.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
über ein optisches Schmalbandfilter eingestellte Meßwellenlänge
des Strahlungsempfängers I etwa 2,95 µm beträgt.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet daß die
über ein optisches Schmalbandfilter eingestellte Meßwellenlänge
des Strahlungsempfängers II etwa 1,94 µm beträgt.
5. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine
Saphirlinse (3) zur Bündelung des Beleuchtungsstrahles verwen
det wird.
6. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine
Saphirlinse (7) zur Bündelung des Meßstrahles bei 2,95 µm ver
wendet wird.
7. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine
Quarzglaslinse (10) zur Bündelung des Meßstrahles bei 1,94 µm
verwendet wird.
8. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in die
Aufnahmegehäuse (8) und (11) Halbleiter-Temperaturfühler als
Grundlage für eine Temperaturkompensation eingesetzt werden.
9. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein
annähernd sinusförmiger Wechselstrom für die Messung der
elektrolytischen Leitfähigkeit einer Proben-Oberfläche verwendet
wird.
10. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Frequenz des sinusförmigen Wechselstroms für die Messung der
elektrolytischen Leitfähigkeit ca. 1000 Hz beträgt.
11. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
hochohmige Differenzverstärker zur Bildung eines feuchteabhän
gigen Spannungssignals aus den Widerstandsmeßbrücken für die
PbS-Sensoren verwendet werden.
12. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein
Mikrokontroller die Aufnahme der Meßwerte steuert.
13. Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß ein
Mikrokontroller nach Anspruch 12 die Meßwerte innerhalb der
Einrichtung zur Auswertung speichern kann.
14. Vorrichtung nach Anspruch 12 und 13, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Mikrokontroller nach Anspruch 12 die gespeicherten
Meßwerte für die Weitergabe an einen PC aufbereiten kann.
15. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Strahlungsquelle an Stelle des Strahlungsempfängers II unter 90°
zur Meßebene angeordnet ist.
16. Vorrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß der
Strahlungsempfänger II unter 45° zur Meßebene und unter 45° zur
Strahlungsquelle angeordnet ist.
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---|---|---|---|
DE19701904A Expired - Fee Related DE19701904C2 (de) | 1997-01-21 | 1997-01-21 | Vorrichtung zur quantitativen Bestimmung der Oberflächenfeuchte mit Hilfe eines kombinierten Verfahrens |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19701904C2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7113264B2 (en) | 2001-06-12 | 2006-09-26 | Robert Bosch Gmbh | Apparatus and method for testing a material |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1997108U (de) * | 1968-07-26 | 1968-11-21 | Frieseke & Hoepfner Gmbh | Einrichtung zur beruehrungslosen messung der feuchte in bewegten messgutbahnen |
DE2221993B2 (de) * | 1971-05-06 | 1977-03-24 | Measurex Corp., Cupertino, Calif. (V-StA.) | Vorrichtung zur messung des feuchtigkeitsgehaltes eines sich bewegenden folienartigen materials |
DE3150617A1 (de) * | 1980-12-30 | 1982-07-08 | Etablissements Carpano & Pons, 74302 Cluses, Haute-Savoie | Steueranordnung fuer einen waeschetrockner |
DD250581A1 (de) * | 1984-10-08 | 1987-10-14 | Wolfen Filmfab Veb | Verfahren zur schichtfeuchtemessung von warenbahnen |
DE3708141A1 (de) * | 1985-09-16 | 1988-09-22 | Roibox Oy | Feuchtigkeitsmessverfahren |
EP0312919A2 (de) * | 1987-10-17 | 1989-04-26 | Hoechst Aktiengesellschaft | Vorrichtung zur Bestimmung der Oberflächenfeuchtigkeit |
US4899464A (en) * | 1988-11-14 | 1990-02-13 | Whirlpool Corporation | Dryer outlet grill with sensor |
DE3149869C2 (de) * | 1981-12-16 | 1991-02-14 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen, De | |
EP0453797A2 (de) * | 1990-04-26 | 1991-10-30 | Yokogawa Electric Corporation | Infrarotfeuchtigkeitsmessgerät |
DE3336659C2 (de) * | 1982-10-12 | 1993-10-07 | Sentrol Systems Ltd | Meßgerät zum Bestimmen des Profils des Feuchtigkeitsgehalts einer Materialbahn quer zu ihrer Laufrichtung |
-
1997
- 1997-01-21 DE DE19701904A patent/DE19701904C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1997108U (de) * | 1968-07-26 | 1968-11-21 | Frieseke & Hoepfner Gmbh | Einrichtung zur beruehrungslosen messung der feuchte in bewegten messgutbahnen |
DE2221993B2 (de) * | 1971-05-06 | 1977-03-24 | Measurex Corp., Cupertino, Calif. (V-StA.) | Vorrichtung zur messung des feuchtigkeitsgehaltes eines sich bewegenden folienartigen materials |
DE3150617A1 (de) * | 1980-12-30 | 1982-07-08 | Etablissements Carpano & Pons, 74302 Cluses, Haute-Savoie | Steueranordnung fuer einen waeschetrockner |
DE3149869C2 (de) * | 1981-12-16 | 1991-02-14 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen, De | |
DE3336659C2 (de) * | 1982-10-12 | 1993-10-07 | Sentrol Systems Ltd | Meßgerät zum Bestimmen des Profils des Feuchtigkeitsgehalts einer Materialbahn quer zu ihrer Laufrichtung |
DD250581A1 (de) * | 1984-10-08 | 1987-10-14 | Wolfen Filmfab Veb | Verfahren zur schichtfeuchtemessung von warenbahnen |
DE3708141A1 (de) * | 1985-09-16 | 1988-09-22 | Roibox Oy | Feuchtigkeitsmessverfahren |
EP0312919A2 (de) * | 1987-10-17 | 1989-04-26 | Hoechst Aktiengesellschaft | Vorrichtung zur Bestimmung der Oberflächenfeuchtigkeit |
US4899464A (en) * | 1988-11-14 | 1990-02-13 | Whirlpool Corporation | Dryer outlet grill with sensor |
EP0453797A2 (de) * | 1990-04-26 | 1991-10-30 | Yokogawa Electric Corporation | Infrarotfeuchtigkeitsmessgerät |
Non-Patent Citations (4)
Title |
---|
2- 47538 A.,P-1043,April 26,1990,Vol.14,No.207 * |
3- 10146 A.,P-1184,March 26,1991,Vol.15,No.122 * |
62-228934 A.,P- 681,March 29,1988,Vol.12,No. 95 * |
JP Patents Abstracts of Japan: 62-233743 A.,P- 683,April 2,1988,Vol.12,No.100 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7113264B2 (en) | 2001-06-12 | 2006-09-26 | Robert Bosch Gmbh | Apparatus and method for testing a material |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19701904C2 (de) | 2002-02-14 |
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