DE19651667C2 - Vorrichtung zur dreidimensionalen Untersuchung eines Objektes - Google Patents
Vorrichtung zur dreidimensionalen Untersuchung eines ObjektesInfo
- Publication number
- DE19651667C2 DE19651667C2 DE19651667A DE19651667A DE19651667C2 DE 19651667 C2 DE19651667 C2 DE 19651667C2 DE 19651667 A DE19651667 A DE 19651667A DE 19651667 A DE19651667 A DE 19651667A DE 19651667 C2 DE19651667 C2 DE 19651667C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- receiver
- array
- light
- illumination
- pixels
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/04—Measuring microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
Abstract
Auf das Objekt wird ein Pinholearray abgebildet, das typisch einige Hunderttausend Beleuchtungspunkte gleichzeitig erzeugt. Auf der Empfängerseite befindet sich ein Array mit je einer anamorphotischen Linse pro Leuchtpunkt und ein CCD-Array mit typisch vier Pixeln je anamorphotische Linse. So können einige Hunderttausend Abstandsmessungen je Bild ausgewertet werden. Das ermöglicht sehr schnelle 3-D-Messung.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur dreidimensionalen
Untersuchung eines Objektes nach dem Oberbegriff des Anspruches 1.
Eine derartige Vorrichtung ist aus der DE 40 35 799 C2 bekannt. Dort wird ein
Beleuchtungsraster mit einem Rastermaß auf ein Empfängerarray abgebildet,
welches mit dem Rastermaß der lichtempfindlichen Bereiche des
Empfängerarrays übereinstimmt oder ein ganzzahliges Vielfaches von
diesem ist. Es wird die Blendenwirkung des Empfängerarrays ausgenutzt.
Eine solche Anordnung hat den Nachteil, daß bei der Auswertung der aus
verschiedenen Objektebenen aufgenommenen Bilder zur Ermittlung der
Tiefenwerte jeweils die Absolutwerte der Helligkeit ausgewertet werden und
ihr Maximum bestimmt werden muß.
Eine Einrichtung, die es gestattet, den Abstand eines einzelnen Meßortes mit
einer Nullsignal-Detektion und mit anamorphotischer Abbildung eines
Punktes zu erfassen, ist ebenfalls bekannt. Dabei wird das Licht einer
Laserdiode auf das zu beleuchtende Objekt abgebildet und das von diesem
reflektierte Licht von einer anamorphotischen Linse so abgebildet, daß in
einer Zwischenebene zwischen den beiden von der anamorphotischen Linse
vorgegebenen Fokusebenen ein etwa kreisförmiges Bild des Punktes
entsteht. Eine solche Anordnung liefert außerhalb dieser Zwischenebene bei
geeigneter Auswertung des Bildes mit dafür ausgelegten
Strahlungsempfängern ein Richtungssignal, das anzeigt, in welcher Richtung
die Lage des Meßobjektes von der Sollage abweicht. In
Tonwiedergabegeräten für Compact Dics werden solche Anordnungen
eingesetzt. Allerdings wird dabei jeweils nur ein einziger Punkt des Objektes
erfaßt. Messungen mit einer derartigen Anordnung erfordern deshalb in der
Metrologie, wo viele Meßpunkte in kurzer Zeit zu erfassen sind, viel Zeit. Das
gilt besonders, wenn große Flächen des Objektes vermessen werden sollen.
Weiterhin ist mit DE 40 17 485 A1 ein Verfahren zur Kompensation des
Offsets eines Photodetektors bekannt geworden, bei dem eine Anordnung mit
Vierquadrantendetektor ein einziges Fokusfehlersignal bestimmt und bei
der der Offset des Photodetektors in einem Speicher abgelegt wird, der bei
der ersten Inbetriebnahme des Gerätes abgefragt wird. Zur schnellen
Ermittlung vieler Abstandswerte ist dieses Verfahren und Anordnung nicht
geeignet.
Mit DE 693 13 024 T2 ist eine Festkörper-Bildaufnahmevorrichtung bekannt
geworden, bei der der Eindringwirkungsgrad des Lichtes bei der
Bildaufnahme durch ein Mikrolinsenarray verbessert wird. Diese Anordnung
ist zur Abstandsmessung ungeeignet.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Einrichtung zu
schaffen, die es gestattet, den Fokusabstand mit einer Nullsignal-Detektion
zu bestimmen und dabei viele Meßpunkte gleichzeitig zu erfassen. Die
Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Merkmalskombination des
Anspruches 1 gelöst.
Vorteilhafte Ausführungen der Erfindung sind in den Ansprüchen 2 bis 8
aufgezeigt.
Die erfindungsgemäße Anordnung hat den Vorteil, daß der Abstand der
einzelnen Meßpunkte z. B. durch eine Nullsignal-Detektion bestimmt wird und
daß sehr viele Meßpunkte gleichzeitig erfaßt werden. Dies geschieht
kostengünstig, weil als Strahlungsempfänger Empfängerarrays, vorzugsweise
CCD-Arrays und Arrays aus anamorphotischen Linsen eingesetzt werden, die
zum Beispiel durch Formpressen kostengünstig hergestellt werden können.
Die Signal-Detektion wird dadurch verwirklicht, daß die lichtempfindlichen Bereiche
benachbarter Empfängerpixel unmittelbar aneinander
angrenzen, daß vor dem Empfängerarray ein Array von
anamorphotischen Linsen so angeordnet ist, daß einem jeden
Beleuchtungspixel jeweils eine gerade Anzahl von mindestens zwei benachbarten Empfängerpixeln
zugeordnet ist, die von einem zugehörigen Objektpunkt in der
Fokusebene symmetrisch und gleichmäßig von diesem Beleuchtungspixel
beaufschlagt werden, wobei diese Empfängerpixel um
so unsymmetrischer beaufschlagt werden, je weiter dieser Objektpunkt
außerhalb der Fokusebene liegt und wobei eine Messung des Abstandes
dieses Objektpunktes von der Fokusebene über den Nulldurchgang
einer Differenzmessung benachbarter Empfängerpixel interpolierend erfolgt
und daß ein Computer für unsymmetrisch beaufschlagte
Empfängerpixel aus deren entgegengesetzten Signalwerten
anhand des Nulldurchgangs zwischen diesen beiden Signalwerten
individuell für den jeweils zugehörigen Objektpunkt dessen Abweichung von
der Fokuslage und damit dessen Tiefenwert ermittelt.
Die Anordnung nach der Erfindung unterscheidet sich von der Anordnung,
wie sie in der Patentschrift DE 40 35 799 C2 geschildert ist, darin, daß dort die
Blendenfunktion der arrayförmig angeordneten Strahlungsempfänger
ausgenutzt wird, deren lichtempfindliche Bereiche durch Zwischenräume
voneinander getrennt sind. Die Abstandsdetektion erfolgt dort durch
Auswertung des auf dem jeweiligen Pixel des Strahlungempfängerarrays
detektierten Intensitätsmaximums. Dazu wird eine Meßreihe aufgenommen,
die Werte von mehreren verschiedenen z-Positionen des Objektes im
Rechner abspeichert. Dieser bestimmt für jedes Pixel die z-Position, in der
seine Intensität ihr Maximum hat. Daraus ergibt sich der zu ermittelnde
Abstandswert. Bei der vorliegenden Erfindung wird dagegen die Differenz
oder ein vorgegebenes Verhältnis der Signale von benachbarten Pixeln des
Empfängerarrays ausgewertet. Wo der Nullwert oder das vorgegebene
Verhältnis erreicht ist, befindet sich die Fokuslage, die den zu ermittelnden
Tiefenwert liefert. Es kommen dabei Empfängerarrays zum Einsatz, die
zwischen benachbarten Pixeln keine oder nur eine kleine lichtunempfindliche
Zone aufweisen. Zur Detektion des Abstandssignals ist es bei der
vorliegenden Erfindung erforderlich, Empfängerarrays mit unmittelbar
aneinander grenzenden lichtempfindlichen Bereichen zu verwenden. Deshalb
unterscheidet sich die Anordnung nach der vorliegenden Erfindung ganz
grundlegend von der in der genannten DE geschilderten.
Die Anordnung nach der Erfindung eignet sich besonders zur
dreidimensionalen Vermessung mechanischer Teile im Auflicht und zur
Aufnahme von 3D-Bildern von fluoreszierenden Objekten. Für mechanische
Teile wird in an sich bekannter Weise im Strahlengang ein halbdurchlässiger
Spiegel zur Trennung des Beleuchtungslichtes vom vom Objekt reflektierten
Licht eingesetzt. Für Fluoreszenzanwendungen werden in an sich bekannter
Weise ein dichroitischer Spiegel und gegebenenfalls auch Lichtfilter zur
Trennung von Beleuchtungslicht und durch Fluoreszenz vom Objekt
ausgesendetem Licht eingesetzt.
Die Erfindung wird im Folgenden anhand von in den Fig. 1 bis 24
dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert. Dabei zeigt:
Fig. 1 eine Ausführung, bei der das Beleuchtungsraster durch eine Glasplatte
mit Löchern erzeugt wird,
Fig. 2 eine Glasplatte mit Löchern,
Fig. 3 eine anamorphotische Linse in zwei Seitenansichten,
Fig. 4 ein Array mit anamorphotischen Linsen,
Fig. 5 ein Empfängerarray im gleichen Maßstab,
Fig. 6 ein Empfängerquadrupel mit dem Bild des beleuchteten Punktes in der
Fokuslage,
Fig. 7 ein Empfängerquadrupel mit dem Bild des beleuchteten Punktes
außerhalb der Fokuslage,
Fig. 8 ein Empfängerquadrupel mit geschwärztem Zentrum und Bild des
Objektpunktes in der Fokuslage
Fig. 9 ein Empfängerquadrupel mit geschwärztem Zentrum und Bild des
Objektpunktes außerhalb der Fokuslage
Fig. 10 mehrere Strahlenkegel in der Nähe des Empfängerarrays,
Fig. 11 eine Telezentrieblende ausgebildet als Vollpupille,
Fig. 12 eine Telezentrieblende ausgebildet als Ringpupille
Fig. 13 ein Array anamorphotischer Linsen mit lichtundurchlässigen
Zwischenräumen,
Fig. 14 eine Anordnung mit Beleuchtung der Löcher mit einem Linsenarray
Fig. 15 eine Anordnung mit Lichtquellenarray zur Beleuchtung
Fig. 16 eine Beleuchtungsanordnung zur Erzeugung des Punktrasters ohne
Verwendung eines Lochrasters,
Fig. 17 eine Anordnung, bei der durch ein Linsenarray eine Blende vielfach in
die Beleuchtungsebene abgebildet wird,
Fig. 18 ein Beispiel für eine Blende zur Anordnung nach Fig. 17.
Fig. 19 den Verlauf des Differenzsignals eines
Strahlungempfängerquadrupels in Abhängigkeit von der Abweichung von der
Fokuslage,
Fig. 20 und 21 ein mechanisches Teil, das als Beispiel zur Erläuterung der
Meßstrategie dient und
Fig. 22 bis 24 die Lage verschiedener Bildfolgen in Bezug auf das zu
vermessende Teil.
In Fig. 1 ist mit (11) eine Lichtquelle, z. B. eine Halogenlampe, bezeichnet, die
mit Hilfe des Kondensors (11k), evtl. über ein Filter (11f) (zur Aussonderung
eines ausreichend schmalen Spektralbereiches), Löcher (12l) in einer Schicht
(12s) beleuchtet. Eine derartige Schicht kann in bekannter Weise z. B. aus
Chrom auf einer Glasplatte (12g) hergestellt werden. Die Löcher (12l) sind in
der Schicht (12s) ebenso rasterförmig angeordnet wie die lichtempfindlichen
Bereiche des Empfängerarrays (17). Wird z. B. ein Empfängerarray mit 512 ×
512 Empfängern verwendet, die im Abstand von 11 µm rasterförmig
angeordnet sind, dann enthält die Schicht 256 × 256 Löcher mit einem
Abstand von 22 µm und mit einer Lochgröße von z. B. 4 µm × 4 µm. Die
Löcher sind also erheblich kleiner als ihr Abstand. Der Abstand der Löcher
bzw. Bereiche von Mitte zu Mitte wird als Rastermaß bezeichnet.
Das durch die beleuchteten Löcher (12l) in der Schicht (12s) erzeugte
Beleuchtungsraster liegt in der Beleuchtungsebene (11b). Diese wird durch
die Linsen (13o, 13u) in die Fokusebene (13f) abgebildet, so daß in letzterer
das Objekt (14) mit rasterförmig angeordneten Lichtpunkten beleuchtet wird.
Bei nicht transparenten Objekten kann nur die Oberfläche (14o) beleuchtet
werden, während bei transparenten Objekten auch Schichten (14s) im
Inneren mit den Lichtpunkten beleuchtet werden können. Die vom Objekt in
der Ebene (13f) reflektierten Lichtstrahlen werden von den Linsen (13u, 13o)
über einen Strahlteiler (16) in der Empfängerebene (17b) abgebildet. Blenden
werden in der Ebene anamorphotischer Linsen (66) realisiert durch die
Ränder der anamorphotischen Linsen, die durch Zwischenräume
voneinander getrennt sind. Zwischen den Linsen (13o, 13u) ist üblicherweise
eine sog. Telezentrie-Blende (13t) angeordnet, welche dafür sorgt, daß der
Mittenstrahl (13m) parallel zur optischen Achse (10) auf das Objekt (14) trifft,
so daß die Lage der Lichtpunkte auf dem Objekt sich nicht ändert, wenn das
Objekt (14) in Richtung der optischen Achse (10) bewegt wird.
Der vorerwähnte Strahlteiler (16) ist für Auflichtanwendungen als
halbdurchlässiger Spiegel ausgeführt. Für Fluoreszenzanwendungen wird in
an sich bekannter Weise ein dichroitischer Spiegel eingesetzt.
Das Objekt (14) kann durch eine Verstellvorrichtung (15) in allen 3
Raumrichtungen bewegt werden, so daß verschiedene Schichten (14s) des
Objektes (14) abgescannt werden können. Dabei kann die Bewegung in x-
und y-Richtung kleiner gewählt werden als das Rastermaß der Lichtpunkte
(12), wenn eine Ortsmessung mit höherer Auflösung als durch das
Rastermaß vorgegeben ist, benötigt wird. Selbstverständlich kann die
Bewegung des Objektes (14) in z-Richtung auch durch Verschieben der
Linsen (13o, 13u) in Richtung der optischen Achse (10) erreicht werden und
ebenso können anstelle der Bewegung des Objektes in x- und y-Richtung
auch die Schicht (12s) mit den Löchern (12l), das Linsenarray (66) und das
Empfängerarray (17) entsprechend bewegt werden.
Die Signale des Empfängerarrays (17) werden über die Verbindungsleitung
(17v) in einen Computer (18) übertragen, der in bekannter Weise die
Auswertung übernimmt und auf einem Bildschirm (18b) die Ergebnisse der
Auswertung z. B. in Form von graphischen Darstellungen wiedergibt. Der
Computer (18) kann auch über die Verbindungsleitung (18v) die
Verschiebung der Meßebene (13f) im Objekt und das Scannen in x- und y-
Richtung steuern. Diese Steuerung kann im Computer als festes Programm
vorliegen oder abhängig von den Ergebnissen der Auswertung erfolgen.
Fig. 2 zeigt eine Glasplatte (12g) in der Draufsicht, wobei ein
Beleuchtungspunkt 12l vergrößert herausgezeichnet ist. Die arrayförmige
Anordnung der Beleuchtungspunkte ist nur angedeutet, in Wirklichkeit sind,
wie schon erwähnt, in rasterförmiger Anordnung zum Beispiel 256 Zeilen mit
je 256 Beleuchtungspunkten vorgesehen.
In Fig. 3 ist eine einzelne anamorphotische Linse (60a, 60b) in zwei
seitlichen Ansichten wiedergegeben. Der Bezug auf die Ansichten ergibt sich
aus den Pfeilen A (entspricht (60a)) und B (entspricht (60b)) in Fig. 4.
Fig. 4 zeigt ein Array anamorphotischer Linsen (66) in der Draufsicht. Eine
einzelne anamorphotische Linse (60) ist vergrößert herausgezeichnet.
Vorteilhaft ist es, ebenso viele anamorphotische Linsen vorzusehen, wie
Beleuchtungspunkte vorhanden sind.
Fig. 5 zeigt im gleichen Maßstab das zugehörige Empfängerarray (17).
Jeder anamorphotischen Linse ist ein Empfänger-Quadrupel (6) zugeordnet,
das aus dem Empfängerpaar (8a, 8b) und dem Empfängerpaar (9a, 9b) und
damit aus insgesamt vier Einzelempfängern (8a, 8b, 9a, 9b) besteht.
Selbstverständlich ist das nur ein Beispiel. Es sind z. B. auch Anordnungen
mit nur zwei Strahlungsempfängern (Pixeln) je anamorphotische Linse
denkbar.
In Fig. 6 ist das von einer anamorphotischen Linse erzeugte Bild für den
Fall dargestellt, daß der zugehörige Meßort auf dem Objekt sich im Fokus
befindet. Man erkennt, daß sein Bild im dargestellten Beispiel kreisförmig ist
und daß die Empfänger 8a und 8b und die Empfänger 9a und 9b gleich viel
Licht bekommen. Das Objekt befindet sich also im Fokus, wenn erstens der
Beleuchtungspunkt auf dem Objekt (14) fokussiert ist und zweitens sein Bild
in der Empfängerebene (17b) kreisförmig ist. Besonders sei darauf
hingewiesen, daß es für eine gute Funktion einer Anordnung nach der
Erfindung nicht erforderlich ist, die hier dargestellte Kreisform für die
Fokuslage vorzusehen. Sie stellt nur eine mögliche und günstige Form des
Bildes des Objektpunktes dar. Auch Vorgehensweisen, bei denen eine
vorgegebene Ellipsenform zur Fokuslage zugeordnet wird und die
Auswertung entsprechend erfolgt, sind brauchbar.
Außerhalb der Fokuslage fällt beim hier erläuterten Beispiel auf eines der
Empfängerpaare mehr Licht als auf das andere. Das ist in Fig. 7 dargestellt.
Die Empfänger 9a und 9b erhalten mehr Licht als die Empfänger 8a und 8b.
Die Unsymmetrie kehrt sich um, wenn die Lage der Probe (14) in der anderen
Richtung von der Fokusstellung abweicht. Dann bekommen die Empfänger
8a und 8b mehr Licht als die Empfänger 9a und 9b. So wird das
Richtungssignal gewonnen. Es ergibt sich rechnerisch aus der Gleichung
ud = (L8a + L8b) - (L9a + L9b).
Dabei bedeuten
ud das Abstandssignal, das in der Fokuslage einen vorgegebenen Wert, z. B. Null annimmt,
L8a das Signal, das der auf den Empfänger 8a fallenden Lichtmenge proportional ist,
L8b das Signal, das der auf den Empfänger 8b fallenden Lichtmenge proportional ist,
L9a das Signal, das der auf den Empfänger 9a fallenden Lichtmenge proportional ist,
L9b das Signal, das der auf den Empfänger 9b fallenden Lichtmenge proportional ist.
ud das Abstandssignal, das in der Fokuslage einen vorgegebenen Wert, z. B. Null annimmt,
L8a das Signal, das der auf den Empfänger 8a fallenden Lichtmenge proportional ist,
L8b das Signal, das der auf den Empfänger 8b fallenden Lichtmenge proportional ist,
L9a das Signal, das der auf den Empfänger 9a fallenden Lichtmenge proportional ist,
L9b das Signal, das der auf den Empfänger 9b fallenden Lichtmenge proportional ist.
Das Abstandssignal kann in der Weise genutzt werden, daß innerhalb eines
Meßbereiches die Fokuslage aus dem Wert ud errechnet wird. So kann auf
Einstellung des exakten Sollabstandes bei der Meßfolge verzichtet werden.
Es kann z. B. auch genutzt werden, um Objekte (14), die größer sind als das
Sehfeld der Anordnung, in an sich bekannter Weise scannend zu vermessen.
Es ist dazu möglich, während der Bewegung des Objektes (14) ein Signal der
mittleren Abweichung von der Fokuslage zu errechnen und die z-Position des
Objektes relativ zur Meßanordnung in einem Koordinatenmeßgerät so
nachzuregeln, daß sie den Oberflächenkonturen des Objektes folgt.
Geschieht dies mit einer definierten Geschwindigkeit, so daß der Rechner
jeweils die Kontrolle darüber hat, auf welche Empfänger die im Sehfeld
befindlichen Teilgebiete des Objektes zu unterschiedlichen Zeitpunkten
abgebildet werden, gelingt es, in einer Art Schleppe einen ganzen Streifen
des Objektes rasch zu erfassen und das Höhengebirge aus den registrierten
Daten auszuwerten. Das wird weiter unten noch an einem Beispiel erläutert.
Fig. 8 zeigt eine Ausführungsform des Empfängerquadrupels (8a, 8b, 9a, 9b)
mit geschwärzten und dadurch lichtunempfindlichem Bereich (7) und dem
kreisförmigen Bild, das in der Fokuslage von der zugehörigen
anamorphotischen Linse erzeugt wird. In Fig. 9 ist die gleiche Anordnung
dargestellt, jedoch mit dem ellipsenförmigen Bild, das außerhalb der
Fokuslage entsteht. Man erkennt, daß das Empfängerpaar (8a, 8b) in diesem
Falle gar kein Licht erhält. Das ist von Vorteil, weil so die Meßanordnung eine
größere Empfindlichkeit zur Detektion der Abweichung von der Fokuslage
erhält als das ohne die Schwärzung der Fall wäre.
Fig. 10 dient dem Zweck, den Strahlengang, wie er von den
anamorphotischen Linsen abzubilden ist, im einzelnen zu erläutern. Es ist
wichtig, das Array anamorphotischer Linsen in einem geeigneten Abstand vor
dem Empfängerarray anzuordnen. Die Strahlenkegel von mehreren simultan
beleuchteten Objektpunkten vor dem Detektorarray und ihre Mittellinien (81)
sind dargestellt. Im Bereich (87) verlaufen die Strahlenkegel überlappend,
während sie im Bereich (86) getrennt voneinander verlaufen. Das Array
anamorphotischer Linsen wird zweckmäßig etwa in der Mitte (86m) des
Bereiches (86) angeordnet. Dann ist der Abstand zwischen den Lichtkegeln
groß genug und der Abstand zum Empfängerarray ist ebenfalls ausreichend.
Fig. 11 zeigt die Vollpupille der Telezentrieblende. Sie liegt den bisherigen
Erläuterungen zugrunde. Da die Mittenstrahlen zur z-Auflösung wenig
beitragen, kann es jedoch vorteilhaft sein, sie mit einer Ringblende
auszublenden. Ein Beispiel dafür ist in Fig. 12 abgebildet. Nur der Ring 4t
ist lichtdurchlässig, so daß die zentrumsnahen Lichtstrahlen nicht mit
abgebildet werden. Der Dynamikbereich des Strahlungsempfängerarrays
kann so besser ausgenutzt werden, so daß außerhalb der Fokuslage ein
größeres Abweichungssignal entsteht. Insofern hat die ringförmige
Telezentrieblende eine ähnliche Wirkung wie die an Fig. 8 erläuterte
Schwärzung des Zentrums eines Empfängerquadrupels.
Fig. 13 zeigt eine andere Ausführungsform des Arrays anamorphotischer
Linsen. Die anamorphotischen Linsen (64) auf dem Array (68) sind
kreisförmig begrenzt. Die Zwischenräume (88) sind lichtundurchlässig. So
wird ein Teil des Lichtes, das von weit außerhalb der Fokuslage liegenden
Objektpunkten stammt, vom Empfängerarray abgeschirmt. Dadurch wird eine
Störsignalunterdrückung bewirkt. Diese Störsignalunterdrückung wird, wie
sich aus den vorstehenden Darlegungen ergibt, durch eine Blendenfunktion
bewirkt, die von den Randbegrenzungen der kreisförmigen Flächen ausgeübt
wird. Im Unterschied zur vorbekannten Anordnung nach DE 40 35 799 C2 geht
die Blendenfunktion von dem erfindungsgemäßen Array anamorphotischer
Linsen aus und nicht vom Empfängerarray. Zudem ist die Blendenfunktion bei
der vorliegenden Erfindung nicht unbedingt erforderlich. Sie hat nur
funktionsverbessernde Wirkung.
In Fig. 14 ist zwischen dem Kondensor (11k) bzw. dem Filter (11f) und der
Schicht (12s) mit den Löchern (12l) ein Linsen-Array (22a) angeordnet,
welches ebenso viele kleine Linsen (22l) enthält wie die Schicht (12s) Löcher
(12l) hat. Die Linsen (22l) haben die Aufgabe, Bilder der Leuchtwendel der
Lichtquelle (11) in die Löcher abzubilden und damit den Lichtpunkten eine
größere Intensität zu geben.
Das Linsenarray (22a) und die Schicht (12s) mit den Löchern (12l) können -
wie dargestellt - in einem gemeinsamen Teil (22g) vereinigt sein. Die
Herstellung geeigneter Linsen-Arrays ist z. B. aus einer Veröffentlichung von
K. Koizumi (SPIE Vol. 1128, 74 (1989)) bekannt.
Eine besonders vorteilhafte Realisierung des Beleuchtungsrasters ist in Fig.
15 dargestellt. Dort ist mit (31) ein Lichtquellen-Array bezeichnet, welches
z. B. aus Lumineszenzdioden (LEDs) (31l) bestehen kann. Auch in diesem
Fall kann es vorteilhaft sein, in der Beleuchtungsebene (11b) eine Schicht
(32s) mit Löchern (32l) anzuordnen, damit die Lichtpunkte genügend kleine
Abmessungen erhalten. Außer dem Objektiv (31o) für die Abbildung ist eine
Feldlinse (31f) für die weitere Abbildung im Strahlengang zweckmäßig.
Vorteilhaft ist es, für das Beleuchtungsraster integrierte LED-Arrays zu
verwenden, wie sie z. B. in einer Veröffentlichung von J. P. Donnelly (SPIE
1043, 92 (1989)) beschrieben sind. Derartige LED-Arrays haben den Vorteil,
daß definierte Teilmengen der LEDs ein- und ausgeschaltet werden können.
In beiden Fällen kann das Ein- und Ausschalten vom Computer (18) über die
Schaltvorrichtung (19) gesteuert werden.
Der in den Fig. 1, 14 und 15 dargestellte Strahlengang zwischen
Beleuchtungsebene (11b), Fokusebene (13f) und Blendenebene (17b) ist nur
eine spezielle Ausführungsform von mehreren bekannten Strahlengängen,
bei denen die Erfindung in für den Fachmann sofort erkennbarer Weise
angewendet werden kann. Außerdem ist auch bei dem dargestellten
Strahlengang eine Abbildung der Beleuchtungsebene (11b) in die
Fokusebene (13f) im Maßstab
1 : 1 keineswegs notwendig. Vielmehr ist dabei nicht nur - wie von
Mikroskopen bekannt - eine Verkleinerung sondern auch eine Vergrößerung
möglich, weswegen in der Überschrift auch nicht die Bezeichnung Mikroskop
verwendet wurde.
In der Fig. 16 wird das Beleuchtungsraster durch ein Linsen-Array (53)
erzeugt, welches durch ausreichend gute Abbildungseigenschaften von einer
nahezu punktförmigen Lichtquelle (51) ausreichend kleine Lichtpunkte (54) in
der Beleuchtungsebene (11b) herstellt. Die Kondensorlinse (52) bewirkt, daß
das Linsenarray (53) von einem Parallelbündel durchsetzt wird, so daß jede
einzelne Linse (53l) optimal benutzt wird. Eine Lochrasterplatte wird hier nicht
benötigt.
Fig. 17 zeigt eine Anordnung bei der durch ein Linsenarray (53) eine Blende
(61) vielfach in die Beleuchtungsebene (11b) abgebildet wird. Diese Blende
wird über den Kondensor (62) und die Streuscheibe (63) von der Lichtquelle
(11) beleuchtet. Als Blende sind die verschiedensten Ausführungsformen
möglich. Als Beispiel zeigt die Fig. 18 eine Blende (61) mit quadratischer
Begrenzung des lichtdurchlässigen Bereiches (71) und einem
lichtundurchlässigen Zentrum (72) für ein Beleuchtungsraster.
Fig. 19 zeigt schematisch den Verlauf (103) des Differenzsignals ud von
einem Sensorquadrupel in Abhängigkeit vom Objektabstand. Es ist
erkennbar, daß das Signal in der Fokuslage (100) gleich Null ist und in einem
Bereich (101) bis (103) annähernd linear verläuft. Über einen Eichprozeß
kann die Steigung in Bezug auf die Ablage bestimmt werden und der Abstand
auch ohne Aufnahme eines Bildes in der Fokuslage selbst rechnerisch im
Computer bestimmt werden. Bei Anordnungen, bei denen sich zwar kein
linearer aber ein reproduzierbarer Verlauf ergibt, kann entsprechend mit
einer Eichkurve (look-up-table) verfahren werden. Dies ist ein ganz
wesentlicher Vorteil gegenüber den bekannten konfokalen Anordnungen.
Fig. 20 und 21 zeigen ein mechanisches Teil (105) in zwei Ansichten, das
als Beispiel für die Erläuterung vorteilhafter Meßstrategien dient.
In Fig. 22 ist der Schnitt A-A durch das Teil (105) vergrößert wiedergegeben
und die Folge verschiedener Bildebenen (110), die in der Meßrichtung (z-
Richtung) übereinander liegen, ist dargestellt.
Fig. 23 zeigt wie Fig. 22 eine weitere Folge (110) verschiedener
übereinander liegender Bildebenen zur Vermessung eines anderen
Bereiches des mechanischen Teiles (105).
Bei einer Vorgehensweise wie in Fig. 22 und 23 dargestellt, ist nach
Aufnahme der ersten Meßfolge ein größerer Weg ds zurückzulegen, der
einen schnellen Antrieb für die Relativbewegung zwischen Werkstück und
Sensor wünschenswert erscheinen läßt.
In Fig. 24 ist eine Folge 1. bis 22. von Bildebenen dargestellt, von denen
einige (5. bis 11.) übereinander liegen und andere (z. B. 11. bis 22.) schräg
überlappend angeordnet sind. Die Aufnahme schräg überlappender Bilder ist
unter anderem vorteilhaft, wenn das Meßgerät, in dem der Sensor nach der
Erfindung verwendet wird, nicht über einen schnellen Antrieb zur x-y-
Bewegung des Sensors relativ zum Objekt bzw. des Objektes relativ zum
Sensor verfügt. So können die Verschiebungen di kontinuierlich oder quasi
kontinuierlich erfolgen, ohne daß ein schneller Antrieb, der hohe
Beschleunigungen und rasches Anhalten ermöglicht, benötigt würde. Ohne
Einbußen an Meßgeschwindigkeit kann bei Anwendung der Meßstrategie wie
in Fig. 24 dargestellt mit kostengünstigen Meßsystemen rasch gemessen
werden.
Claims (8)
1. Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Untersuchung eines
Objektes,
mit einem in einer Beleuchtungsebene angebrachten regelmäßigen, zweidimensionalen Beleuchtungsraster (12), das eine Vielzahl von Beleuchtungspixeln (12l, 32l) erzeugt,
mit optischen Elementen (13o, 13u), die das Beleuchtungsraster (12) in eine Fokusebene am Ort des Objektes (14) und das von dort abgestrahlte Licht in eine Empfängerebene abbilden,
und mit einem Empfängerarray (17) mit lichtempfindlichen Empfängerpixeln (8a, 8b, 9a, 9b) in der Empfängerebene, welches das von den optischen Elementen (13o, 13u) übertragene Licht registriert, wobei das Rastermaß des Beleuchtungsrasters (12) ein ganzzahliges Vielfaches des Rastermaßes des Empfängerarrays (17) ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß die lichtempfindlichen Bereiche benachbarter Empfängerpixel (8a, 8b, 9a, 9b) unmittelbar aneinander angrenzen,
daß vor dem Empfängerarray (17) ein Array von anamorphotischen Linsen (66) so angeordnet ist, daß einem jeden Beleuchtungspixel (12l, 32l) jeweils eine gerade Anzahl von mindestens zwei benachbarten Empfängerpixeln (8a, 8b, 9a, 9b) zugeordnet ist, die von einem zugehörigen Objektpunkt in der Fokusebene symmetrisch und gleichmäßig von diesem Beleuchtungspixel (12l, 32l) beaufschlagt werden, wobei diese Empfängerpixel (8a, 8b, 9a, 9b) umso unsymmetrischer beaufschlagt werden, je weiter dieser Objektpunkt außerhalb der Fokusebene liegt und wobei eine Messung des Abstandes dieses Objektpunktes von der Fokusebene über den Nulldurchgang (100) einer Differenzmessung benachbarter Empfängerpixel (8a, 8b, 9a, 9b) interpolierend erfolgt,
und daß ein Computer (18) für unsymmetrisch beaufschlagte Empfängerpixel (8a, 8b, 9a, 9b) aus deren entgegengesetzten Signalwerten anhand des Nulldurchgangs (100) zwischen diesen beiden Signalwerten individuell für den jeweils zugehörigen Objektpunkt dessen Abweichung von der Fokuslage und damit dessen Tiefenwert ermittelt.
mit einem in einer Beleuchtungsebene angebrachten regelmäßigen, zweidimensionalen Beleuchtungsraster (12), das eine Vielzahl von Beleuchtungspixeln (12l, 32l) erzeugt,
mit optischen Elementen (13o, 13u), die das Beleuchtungsraster (12) in eine Fokusebene am Ort des Objektes (14) und das von dort abgestrahlte Licht in eine Empfängerebene abbilden,
und mit einem Empfängerarray (17) mit lichtempfindlichen Empfängerpixeln (8a, 8b, 9a, 9b) in der Empfängerebene, welches das von den optischen Elementen (13o, 13u) übertragene Licht registriert, wobei das Rastermaß des Beleuchtungsrasters (12) ein ganzzahliges Vielfaches des Rastermaßes des Empfängerarrays (17) ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß die lichtempfindlichen Bereiche benachbarter Empfängerpixel (8a, 8b, 9a, 9b) unmittelbar aneinander angrenzen,
daß vor dem Empfängerarray (17) ein Array von anamorphotischen Linsen (66) so angeordnet ist, daß einem jeden Beleuchtungspixel (12l, 32l) jeweils eine gerade Anzahl von mindestens zwei benachbarten Empfängerpixeln (8a, 8b, 9a, 9b) zugeordnet ist, die von einem zugehörigen Objektpunkt in der Fokusebene symmetrisch und gleichmäßig von diesem Beleuchtungspixel (12l, 32l) beaufschlagt werden, wobei diese Empfängerpixel (8a, 8b, 9a, 9b) umso unsymmetrischer beaufschlagt werden, je weiter dieser Objektpunkt außerhalb der Fokusebene liegt und wobei eine Messung des Abstandes dieses Objektpunktes von der Fokusebene über den Nulldurchgang (100) einer Differenzmessung benachbarter Empfängerpixel (8a, 8b, 9a, 9b) interpolierend erfolgt,
und daß ein Computer (18) für unsymmetrisch beaufschlagte Empfängerpixel (8a, 8b, 9a, 9b) aus deren entgegengesetzten Signalwerten anhand des Nulldurchgangs (100) zwischen diesen beiden Signalwerten individuell für den jeweils zugehörigen Objektpunkt dessen Abweichung von der Fokuslage und damit dessen Tiefenwert ermittelt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
anamorphotischen Linsen (66) kreisförmig begrenzt und durch
lichtundurchlässige Zwischenräume (88) voneinander getrennt sind, so daß
für jeden Objektpunkt die störende Auswirkung von Licht anderer
Objektpunkte herabgesetzt ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das
Objekt über eine telezentrische, die Mittenstrahlen ausblendende Ringpupille
(4t) beleuchtet wird.
4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichet, daß der Zentralbereich benachbarter Empfängerpixel
(8a, 8b, 9a, 9b) lichtunempfindlich ausgebildet ist.
5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß das Array anamorphotischer Linsen (66) in einem
Abstand vor dem Empfängerarray (17) angeordnet ist, in dem für ein
ebenes, reflektierendes Objekt im Fokusabstand auch die Randstrahlen der
Beleuchtungspixel (12l, 32l) innerhalb der von den anamorphotischen Linsen
(66) erfaßten Apertur zu liegen kommen.
6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß zur Erzeugung des Beleuchtungsrasters (12) eine
Blende mit lichtundurchlässigem Zentralbereich mehrfach abgebildet wird.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet,
daß für Auflichtanwendungen das dem Empfängerarray (17) zugeführte
Objektlicht über einen halbdurchlässigen Strahlteiler ausgekoppelt wird.
8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet,
daß für Fluoreszenzanwendungen das dem Empfängerarray (17) zugeführte
Objektlicht über einen dichroitischen Strahlteiler ausgekoppelt wird.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19651667A DE19651667C2 (de) | 1996-12-12 | 1996-12-12 | Vorrichtung zur dreidimensionalen Untersuchung eines Objektes |
US08/964,126 US6252717B1 (en) | 1996-12-12 | 1997-11-04 | Optical apparatus with an illumination grid and detector grid having an array of anamorphic lenses |
JP9341478A JPH10206129A (ja) | 1996-12-12 | 1997-12-11 | 対象物の3次元測定装置および測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19651667A DE19651667C2 (de) | 1996-12-12 | 1996-12-12 | Vorrichtung zur dreidimensionalen Untersuchung eines Objektes |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19651667A1 DE19651667A1 (de) | 1997-09-11 |
DE19651667C2 true DE19651667C2 (de) | 2003-07-03 |
Family
ID=7814464
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19651667A Expired - Lifetime DE19651667C2 (de) | 1996-12-12 | 1996-12-12 | Vorrichtung zur dreidimensionalen Untersuchung eines Objektes |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6252717B1 (de) |
JP (1) | JPH10206129A (de) |
DE (1) | DE19651667C2 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9273353B2 (en) | 1998-05-16 | 2016-03-01 | Life Technologies Corporation | Instrument for monitoring polymerase chain reaction of DNA |
US9279668B2 (en) | 2010-09-24 | 2016-03-08 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Device and method for the three-dimensional measurement of an object |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19748211A1 (de) * | 1997-10-31 | 1999-05-06 | Zeiss Carl Fa | Optisches Array-System und Reader für Mikrotiterplatten |
WO1999060381A1 (en) * | 1998-05-16 | 1999-11-25 | The Perkin-Elmer Corporation | Instrument for monitoring polymerase chain reaction of dna |
US7498164B2 (en) | 1998-05-16 | 2009-03-03 | Applied Biosystems, Llc | Instrument for monitoring nucleic acid sequence amplification reaction |
US6339503B1 (en) * | 1998-11-06 | 2002-01-15 | Oni Systems Corp. | Optical interconnect using microlens/minilens relay |
JP3610569B2 (ja) * | 1999-03-23 | 2005-01-12 | 株式会社高岳製作所 | 能動共焦点撮像装置とそれを用いた三次元計測方法 |
DE19918689C2 (de) | 1999-04-23 | 2003-05-28 | Rudolf Groskopf | Vorrichtung zur dreidimensionalen konfocalen optischen Untersuchung eines Objektes mit Beleuchtung durch eine Lochplatte |
DE19921374C2 (de) * | 1999-05-10 | 2001-03-29 | Rudolf Groskopf | Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Untersuchung eines Objektes mit Beleuchtung durch eine Lochplatte |
DE19931848A1 (de) * | 1999-07-09 | 2001-01-11 | Zeiss Carl Fa | Astigmatische Komponenten zur Reduzierung des Wabenaspektverhältnisses bei EUV-Beleuchtungssystemen |
JP4060494B2 (ja) * | 1999-08-30 | 2008-03-12 | アンリツ株式会社 | 三次元表面形状測定装置 |
EP2264439A3 (de) * | 1999-11-12 | 2011-01-19 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Fluorometer mit Lichtquelle mit geringer Wärmeerzeugung |
DE10027726A1 (de) * | 2000-06-03 | 2001-12-06 | Bundesdruckerei Gmbh | Sensor für die Echtheitserkennung von Signets auf Dokumenten |
US6493867B1 (en) | 2000-08-08 | 2002-12-10 | Ball Semiconductor, Inc. | Digital photolithography system for making smooth diagonal components |
US6512625B2 (en) | 2000-11-22 | 2003-01-28 | Ball Semiconductor, Inc. | Light modulation device and system |
US6473237B2 (en) | 2000-11-14 | 2002-10-29 | Ball Semiconductor, Inc. | Point array maskless lithography |
US20030031596A1 (en) * | 2001-08-09 | 2003-02-13 | Yokogawa Electric Corporation | Biochip reader and fluorometric imaging apparatus |
DE10159239A1 (de) | 2001-12-03 | 2003-06-26 | Leica Microsystems | Mikroskopobjektiv, Mikroskop und Verfahren zum Abbilden einer Probe |
US7164961B2 (en) * | 2002-06-14 | 2007-01-16 | Disco Corporation | Modified photolithography movement system |
JP4615815B2 (ja) * | 2002-10-30 | 2011-01-19 | オリンパス株式会社 | 実体顕微鏡 |
JP2004222870A (ja) * | 2003-01-21 | 2004-08-12 | Pentax Corp | 内視鏡用プローブ |
TWI247115B (en) * | 2003-11-26 | 2006-01-11 | Ind Tech Res Inst | A biochip detection system |
JP4721685B2 (ja) * | 2004-10-07 | 2011-07-13 | パナソニック株式会社 | 形状測定方法及び形状測定装置 |
JP2010503847A (ja) * | 2006-09-14 | 2010-02-04 | オックスフォード・ジーン・テクノロジー・アイピー・リミテッド | 単一分子を撮像する装置 |
KR100912626B1 (ko) * | 2007-10-16 | 2009-08-24 | 충청북도 | 현장진단용 멀티챔버 형광 측정용 광학 장치 및 이를이용한 멀티챔버 형광 측정 방법 |
US7949241B2 (en) * | 2009-09-29 | 2011-05-24 | Raytheon Company | Anamorphic focal array |
WO2014117079A1 (en) * | 2013-01-25 | 2014-07-31 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Depth of field 3d imaging slm microscope |
DE102013102988A1 (de) * | 2013-03-22 | 2014-09-25 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Lichtmikroskopisches Verfahren zur Lokalisierung von Punktobjekten |
DE102013223894B3 (de) * | 2013-11-22 | 2015-02-19 | Sirona Dental Systems Gmbh | Optisches Messsystem und Verfahren zur dreidimensionalen optischen Vermessung eines Objekts |
DE102013226497A1 (de) | 2013-12-18 | 2015-06-18 | Sirona Dental Systems Gmbh | Verfahren zur Planung einer Sinterung eines Zahnersatzteils |
DE102015206341A1 (de) * | 2015-04-09 | 2016-10-13 | Sirona Dental Systems Gmbh | Verfahren und ein Vermessungssystem zur optischen Vermessung eines Objekts |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2634655C2 (de) * | 1976-08-02 | 1984-05-24 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Vorrichtung zur Fokussierung einer Reflexkamera |
JPS6455513A (en) * | 1987-08-26 | 1989-03-02 | Sony Corp | Automatic focusing device for microscope |
DE4017485A1 (de) * | 1990-05-31 | 1991-12-05 | Thomson Brandt Gmbh | Verfahren zur kompensation des offsets eines photodetektors |
US5260826A (en) * | 1992-01-21 | 1993-11-09 | Physical Optics Corporation | Nonscanning sectioning microscope |
DE4035799C2 (de) * | 1990-11-10 | 1995-10-12 | Groskopf Rudolf Dr Ing | Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Untersuchung eines Objektes |
DE69313024T2 (de) * | 1992-05-27 | 1998-02-26 | Sharp Kk | Festkörperbildaufnahmeanordnung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5239178A (en) * | 1990-11-10 | 1993-08-24 | Carl Zeiss | Optical device with an illuminating grid and detector grid arranged confocally to an object |
US5369659A (en) * | 1993-12-07 | 1994-11-29 | Cynosure, Inc. | Fault tolerant optical system using diode laser array |
US5493391A (en) * | 1994-07-11 | 1996-02-20 | Sandia Corporation | One dimensional wavefront distortion sensor comprising a lens array system |
-
1996
- 1996-12-12 DE DE19651667A patent/DE19651667C2/de not_active Expired - Lifetime
-
1997
- 1997-11-04 US US08/964,126 patent/US6252717B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-12-11 JP JP9341478A patent/JPH10206129A/ja active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2634655C2 (de) * | 1976-08-02 | 1984-05-24 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Vorrichtung zur Fokussierung einer Reflexkamera |
JPS6455513A (en) * | 1987-08-26 | 1989-03-02 | Sony Corp | Automatic focusing device for microscope |
DE4017485A1 (de) * | 1990-05-31 | 1991-12-05 | Thomson Brandt Gmbh | Verfahren zur kompensation des offsets eines photodetektors |
DE4035799C2 (de) * | 1990-11-10 | 1995-10-12 | Groskopf Rudolf Dr Ing | Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Untersuchung eines Objektes |
US5260826A (en) * | 1992-01-21 | 1993-11-09 | Physical Optics Corporation | Nonscanning sectioning microscope |
DE69313024T2 (de) * | 1992-05-27 | 1998-02-26 | Sharp Kk | Festkörperbildaufnahmeanordnung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9273353B2 (en) | 1998-05-16 | 2016-03-01 | Life Technologies Corporation | Instrument for monitoring polymerase chain reaction of DNA |
US9279668B2 (en) | 2010-09-24 | 2016-03-08 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Device and method for the three-dimensional measurement of an object |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH10206129A (ja) | 1998-08-07 |
US6252717B1 (en) | 2001-06-26 |
DE19651667A1 (de) | 1997-09-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19651667C2 (de) | Vorrichtung zur dreidimensionalen Untersuchung eines Objektes | |
EP0485803B1 (de) | Optische Abtastvorrichtung mit konfokalem Strahlengang, in der Lichtquellen- und Detektormatrix verwendet werden | |
DE102013001238B4 (de) | Lichtmikroskop und Mikroskopieverfahren | |
EP1393116B1 (de) | Autofokussiereinrichtung für ein optisches gerät | |
DE102008040947B4 (de) | 3D-Dentalkamera zur Erfassung von Oberflächenstrukturen eines Messobjekts mittels Triangulation | |
DE102009000528B4 (de) | Inspektionsvorrichtung und -verfahren für die optische Untersuchung von Objektoberflächen, insbesondere von Waferoberflächen | |
DE102004004761A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Inspektion eines Wafers | |
WO2016005571A1 (de) | Positionsbestimmung eines objekts im strahlengang einer optischen vorrichtung | |
DE102013016368A1 (de) | Lichtmikroskop und Mikroskopieverfahren zum Untersuchen einer mikroskopischen Probe | |
DE102015209455A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur optischen Erfassung von Innenwandungen | |
EP3394656A2 (de) | Vorrichtung und verfahren zur bildaufnahme | |
WO2014053573A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur beleuchtung und messung eines objektes | |
DE69927367T2 (de) | Optoelektronische Formerfassung durch chromatische Kodierung mit Beleuchtungsebenen | |
WO2017191009A2 (de) | Winkelselektive beleuchtung | |
EP0991934B1 (de) | Verfahren zur fokussierung bei der abbildung strukturierter oberflächen von scheibenförmigen objekten | |
DE19918689C2 (de) | Vorrichtung zur dreidimensionalen konfocalen optischen Untersuchung eines Objektes mit Beleuchtung durch eine Lochplatte | |
DE4035799C2 (de) | Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Untersuchung eines Objektes | |
EP0805996A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum aufnehmen eines objektes | |
DE102017107343A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Betreiben eines optischen Abstandssensors | |
WO2007134567A1 (de) | Verfahren zum erzeugen von bildinformationen | |
DE4304815A1 (de) | Optischer Sensor | |
DE19648316C1 (de) | Vorrichtung zur dreidimensionalen Untersuchung eines Objektes | |
DE3413605C2 (de) | ||
EP3988989B1 (de) | Verfahren und mikroskop mit einer einrichtung zum erfassen von verlagerungen einer probe gegenüber einem objektiv | |
DE102022123355A1 (de) | Werkstückinspektion und fehlererkennungssystem unter verwendung von farbkanälen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OAV | Applicant agreed to the publication of the unexamined application as to paragraph 31 lit. 2 z1 | ||
ON | Later submitted papers | ||
8101 | Request for examination as to novelty | ||
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8105 | Search report available | ||
8304 | Grant after examination procedure | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R071 | Expiry of right |