DE19640120A1 - Schaltungsanordnung und Verfahren zur Überprüfung einer Schaltungs-Matrix - Google Patents
Schaltungsanordnung und Verfahren zur Überprüfung einer Schaltungs-MatrixInfo
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- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
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- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
Description
Die Erfindung richtet sich auf eine Schaltungsanordnung und ein Verfahren
zur Überprüfung einer Schaltungs-Matrix mit m H-Leitungen, insbesondere
Busleitungen, und m′ L-Leitungen, insbesondere Busleitungen, und n inne
ren Anschlüssen, die über eine entsprechende Verkabelung mit n äußeren
H-Anschlüssen und n′ äußeren L-Anschlüssen verbunden sind.
Eine derartige Matrix kann beispielsweise gebildet sein durch die Schaltung
eines elektrischen Geräts, beispielsweise eines medizintechnischen Geräts.
Bei der Herstellung solcher Schaltungen und deren Verkabelung kann es
dazu kommen, daß dort, wo elektrische Kontakte entstehen sollen, solche
Kontakte nicht oder mit erhöhtem Kontaktwiderstand entstehen, oder daß
Relais hängenbleiben bzw. ein Kurzschluß auftritt. Derartige Abweichun
gen vom Soll-Zustand können zu Fehlfunktionen oder Fehlmessungen füh
ren, weshalb es möglich sein soll, die Geräte nach Fertigstellung oder ge
gebenenfalls auch im Zuge einer Wartung auf das Vorliegen von Geräte
fehlern hin zu überprüfen.
Hiervon ausgehend liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine Schal
tungsanordnung und ein Verfahren anzugeben, wodurch eine solche Über
prüfung besonders leicht und gleichermaßen wirksam bewerkstelligt wer
den kann.
Diese Aufgabe wird gelöst durch eine Schaltungsanordnung, welche mit
den n, n′-Kontakten der Matrix-Schaltung verbindbare äußere Anschlüsse
aufweist, wobei jedem äußeren Anschluß in Reihenschaltung ein erster An
schluß eines Widerstands nachgeordnet ist, und wobei die zweiten An
schlüsse der Widerstände untereinander verbunden sind, und die Wider
stände vorzugsweise individuell unterschiedliche Werte aufweisen. Insbe
sondere sind auch die Summen korrespondierender H-Widerstände mit L-Wider
stände untereinander unterschiedlich.
Aufgrund einer solchen erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung ist es
möglich, mittels eines handelsüblichen Widerstandsmeßgerätes fortschrei
tend den Widerstand zwischen Bus H_1 und Bus L_1 usw. bis Bus H_m
beziehungsweise Bus L_m zu messen. Liegt kein Fehler vor, so wird ein
Widerstandswert ermittelt, welcher dem zu erwartenden Wert der Reihen
schaltung, also der Summe der Widerstände von dem jeweiligen inneren
Kontakt zugeordneten H-Widerstand und dem korrespondierenden L-Wider
stand innerhalb einer gewissen Toleranzbreite entspricht. Ein von
dem zu erwartenden Meßwert abweichender Meßwert deutet auf einen
Fehler hin.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, daß zwischen je
dem H-Widerstand und jedem zugehörigen, korrespondierenden L-Wider
stand oder parallel zu einem der Widerstände eine Diode geschaltet ist.
Hierdurch läßt sich auch eine Vertauschung zwischen den diesen beiden
Widerständen zugeordneten inneren beziehungsweise äußeren Anschlüsse
erfassen. Man geht insoweit beispielsweise davon aus, daß aus der positi
ven Klemme des Widerstandsgerätes ein "positiver Meßstrom" austritt und
an der negativen Klemme wieder eintritt, weshalb sich an dem Bus H_m
bezogen auf den zugehörigen Bus L_m eine positive Spannung ergibt. Liegt
kein Fehler vor, so werden aufgrund der Polarität des Widerstandsgerätes
die Dioden immer in Sperrichtung betrieben. Liegt jedoch ein Fehler in
Form einer Vertauschung der korrespondierenden Verbindungen vor, leitet
die betreffende Diode und es resultiert ein entsprechend abweichender
Meßwert.
Aus der vorstehenden Beschreibung ergibt sich, daß eine Widerstandsmes
sung nur eine denkbare Möglichkeit ist, mit Hilfe der erfindungsgemäßen
Schaltungsanordnung Fehler zu ermitteln. Alternativ wäre es auch möglich,
einen bestimmten Strom einzuspeisen und die zu erwartende Spannung an
den Einspeisepunkten zu messen, oder aber eine bestimmte Spannung an
zulegen und den zu erwartenden Strom zu messen. Denkbar wäre es auch,
statt Widerstände Induktivitäten oder Kapazitäten vorzusehen.
Die eingangs genannte Aufgabe wird auch gelöst durch ein Verfahren, wel
ches sich dadurch auszeichnet, daß jedem der n äußeren Anschlüsse ein
Widerstand zugeordnet wird, wobei die Widerstandswerte untereinander
unterschiedlich und die Summe der Widerstandswerte von H- und L-Wi
derständen unterschiedlich sind, wobei die H- und L-Busleitungen fort
schreitend jeweils mit einer Spannung oder einem Strom beaufschlagt wer
den und der resultierende Widerstand, resultierende Strom oder die resul
tierende Spannung gemessen und mit einem bei ordnungsgemäßer Funktion
der Schaltung zu erwartenden Wert verglichen werden.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand eines bevorzugten Ausführungs
beispiels in Verbindung mit der Zeichnung näher erläutert. Diese zeigt
eine schematische Darstellung einer zu überprüfenden Schaltungs-Matrix
und der erfindungsgemäßen Test-Schaltungsanordnung.
Eine in der Zeichnung dargestellte zu überprüfende Schaltung wird gebildet
durch eine n × m Matrix 1. Die Stellen, an denen eine elektrisch leitende
Matrixverbindung existieren soll, sind durch einen Punkt 2 dargestellt. Die
Matrixanschlüsse beziehungsweise inneren Kontakte A sind über eine Ver
kabelung 3 mit entsprechenden äußeren Kontakten 4 verbunden, an die
über korrespondierende Kontakte die erfindungsgemäße Schaltungsanord
nung 5 anschließbar ist. Im nachfolgenden wird der Einfachheit halber im
mer nur Bezug genommen auf die inneren Kontakte A.
Die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung umfaßt eine Mehrzahl von
Widerständen RH_1 bis RH_n und RL_1 bis RL_n, deren einer Anschluß 6
mit den äußeren Kontakten 4 verbunden ist und deren innere Anschlüsse 7
über eine Leitung 8 untereinander verbunden sind. Dioden D_1 bis D_n
sind jeweils zwischen den Anschlüssen 6 zweier einander zugeordneter Wi
derstände RH_n beziehungsweise RL_n angeordnet.
Die Widerstände R sind so dimensioniert, daß sie untereinander jeweils
unterschiedliche Werte aufweisen, wobei die Widerstandswert-Unter
schiede deutlich größer sind als die Meßgenauigkeit eines Widerstands
meßgerätes 9, und wobei weiterhin vorgesehen ist, daß auch die Summen
der Widerstände RH_n + RL_n sich untereinander jeweils unterscheiden.
Mit dem Widerstandsmeßgerät 9 wird in einem ersten Test der Widerstand
zwischen dem BH_1 und dem BL_1 Anschluß gemessen. Weiterhin wird
angenommen, daß die in Fig. 1 eingezeichneten Matrixverbindungen 2 vor
handen sind. Liegt kein Fehler vor, so wird das Widerstandsmeßgerät 9 den
Wert, welcher sich aus der Reihenschaltung von RH_1 und RL_1 ergibt,
ermitteln. Es wird sich ein hiervon abweichender Meßwert ergeben, falls
einer oder mehrere der nachfolgenden Fehler auftreten:
- a. In dem mit TRZ (Testbereich Relais Zu) bezeichneten Bereich liegt eine fehlende Matrixverbindung vor.
- b. In dem mit TRO (Testbereich Relais Offen) liegt eine unzulässige Matrixverbindung vor.
- c. In einer der vier Leitungen AH_1, AL_1, BH_1 oder BL_1 liegt ein Leitungsbruch vor.
- d. Einer der vier inneren Kontakte AH_1, AL_1, BH_1 oder BL_1 wurde mit einem beliebig anderen inneren oder äußeren Kontakt verwechselt (gegebenenfalls mehrere Messungen erforderlich).
- e. Eine der vier Leitungen AH_1, AL_1, BH_1 oder BL_1 wurde mit einer beliebig anderen Leitung (AH_2/AL_2 bis AH_n/AL_n beziehungsweise BH_2/BL_2 bis BH_m/BL_m) verwechselt.
- f. Zwischen einer der vier Leitungen AH_1, AL_1, BH_1 oder BL_1 und einer beliebig anderen Leitung (AH_2/AL_2 bis AH_n/AL_n beziehungsweise BH_2/BL_2 bis BH_m/BL_m) befindet sich ein Kurzschluß.
Dieser Test wird entsprechend (n·m-1) mal wiederholt. Auf diese Weise
verschieben sich die TRZ und TRO Bereiche entsprechend und die gesamte
Matrix wie auch die gesamte Verkabelung kann überprüft werden.
Claims (3)
1. Schaltungsanordnung zur Überprüfung einer Schaltungs-Matrix mit m H-Bus
leitungen und m′ L-Busleitungen und inneren Anschlüssen, die über
eine entsprechende Verkabelung mit n äußeren H-Anschlüssen und n′ äu
ßeren L-Anschlüssen verbunden sind, dadurch gekennzeichnet, daß sie mit
den n Anschlüssen der Matrix-Schaltung (1) verbindbare äußere Anschlüs
se (AH, AL) aufweist, wobei jedem äußeren Anschluß (AH, AL) in Rei
henschaltung ein erster Anschluß (6) eines Widerstands (RH, RL) nachge
ordnet ist, und wobei die zweiten Anschlüsse (7) der Widerstände (RH,
RL) untereinander verbunden sind und die Widerstände (RH, RL) individu
ell unterschiedliche Werte aufweisen und die Summen korrespondierender
Widerstände (RH, RL) ebenfalls individuell unterschiedlich sind.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
zwischen jedem Widerstand (RH) und jedem zugehörigen, korrespondie
renden Widerstand (RL) eine Diode (D) geschaltet ist.
3. Verfahren zur Überprüfung einer Matrix-Schaltung mit n bzw. n′ äuße
ren H- und L-Anschlüssen und m bzw. m′ L- und H-Busanschlüssen, da
durch gekennzeichnet, daß jedem der n äußeren Anschlüsse ein Widerstand
eine Induktivität oder Kapazität als Bauelement zugeordnet wird, wobei
deren Kennwerte untereinander vorzugsweise unterschiedlich und die
Summe der Kennwerte von H- und L-Bauelementen unterschiedlich sind,
wobei die H- und L-Busleitungen fortschreitend jeweils mit einer Spannung
oder einem Strom beaufschlagt werden und der resultierende Kennwert
gemessen und mit einem bei ordnungsgemäßer Funktion der Schaltung zu
erwartenden Kennwert verglichen werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19640120A DE19640120A1 (de) | 1996-09-28 | 1996-09-28 | Schaltungsanordnung und Verfahren zur Überprüfung einer Schaltungs-Matrix |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19640120A DE19640120A1 (de) | 1996-09-28 | 1996-09-28 | Schaltungsanordnung und Verfahren zur Überprüfung einer Schaltungs-Matrix |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19640120A1 true DE19640120A1 (de) | 1998-04-02 |
Family
ID=7807309
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19640120A Withdrawn DE19640120A1 (de) | 1996-09-28 | 1996-09-28 | Schaltungsanordnung und Verfahren zur Überprüfung einer Schaltungs-Matrix |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19640120A1 (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003005048A1 (en) * | 2001-07-03 | 2003-01-16 | Scanfil Oy | Establishing condition of connector and malfunction of couplings |
CN102520348A (zh) * | 2011-12-21 | 2012-06-27 | 北京航天测控技术有限公司 | 一种通用开关检测仪 |
CN102707125A (zh) * | 2012-06-06 | 2012-10-03 | 安徽恒源煤电股份有限公司祁东煤矿 | 馈电开关掉电自动报警装置及其方法 |
CN103675656A (zh) * | 2012-09-07 | 2014-03-26 | 神讯电脑(昆山)有限公司 | 开关测试监控装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3590369A (en) * | 1969-02-14 | 1971-06-29 | British Aircraft Corp Ltd | Switching means for automatic testing equipment |
US3825824A (en) * | 1973-06-01 | 1974-07-23 | Gte Automatic Electric Lab Inc | Matrix scanning circuit for testing a multiplicity of circuit paths |
DE2550342A1 (de) * | 1974-12-18 | 1976-06-24 | Ibm | Matrixanordnung von logischen schaltungen |
DE2335785C3 (de) * | 1972-07-13 | 1984-07-12 | Teradyne Inc., 02111 Boston, Mass. | Schaltungsanordnung zum Prüfen einer Matrixverdrahtung |
DE4024499C1 (de) * | 1990-08-02 | 1991-09-26 | Dambach-Werke Gmbh, 7560 Gaggenau, De | |
DE4223532A1 (de) * | 1992-07-17 | 1994-01-20 | Philips Patentverwaltung | Schaltungsanordnung zum Prüfen der Adressierung wenigstens einer Matrix |
-
1996
- 1996-09-28 DE DE19640120A patent/DE19640120A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3590369A (en) * | 1969-02-14 | 1971-06-29 | British Aircraft Corp Ltd | Switching means for automatic testing equipment |
DE2335785C3 (de) * | 1972-07-13 | 1984-07-12 | Teradyne Inc., 02111 Boston, Mass. | Schaltungsanordnung zum Prüfen einer Matrixverdrahtung |
US3825824A (en) * | 1973-06-01 | 1974-07-23 | Gte Automatic Electric Lab Inc | Matrix scanning circuit for testing a multiplicity of circuit paths |
DE2550342A1 (de) * | 1974-12-18 | 1976-06-24 | Ibm | Matrixanordnung von logischen schaltungen |
DE4024499C1 (de) * | 1990-08-02 | 1991-09-26 | Dambach-Werke Gmbh, 7560 Gaggenau, De | |
DE4223532A1 (de) * | 1992-07-17 | 1994-01-20 | Philips Patentverwaltung | Schaltungsanordnung zum Prüfen der Adressierung wenigstens einer Matrix |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003005048A1 (en) * | 2001-07-03 | 2003-01-16 | Scanfil Oy | Establishing condition of connector and malfunction of couplings |
CN102520348A (zh) * | 2011-12-21 | 2012-06-27 | 北京航天测控技术有限公司 | 一种通用开关检测仪 |
CN102520348B (zh) * | 2011-12-21 | 2014-02-19 | 北京航天测控技术有限公司 | 一种通用开关检测仪 |
CN102707125A (zh) * | 2012-06-06 | 2012-10-03 | 安徽恒源煤电股份有限公司祁东煤矿 | 馈电开关掉电自动报警装置及其方法 |
CN103675656A (zh) * | 2012-09-07 | 2014-03-26 | 神讯电脑(昆山)有限公司 | 开关测试监控装置 |
CN103675656B (zh) * | 2012-09-07 | 2016-12-21 | 神讯电脑(昆山)有限公司 | 开关测试监控装置 |
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Legal Events
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