DE1955403B2 - Digitale Meßeinrichtung fur Strome in Hochspannungsleitern - Google Patents

Digitale Meßeinrichtung fur Strome in Hochspannungsleitern

Info

Publication number
DE1955403B2
DE1955403B2 DE1955403A DE1955403A DE1955403B2 DE 1955403 B2 DE1955403 B2 DE 1955403B2 DE 1955403 A DE1955403 A DE 1955403A DE 1955403 A DE1955403 A DE 1955403A DE 1955403 B2 DE1955403 B2 DE 1955403B2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
current
optical
measuring device
interferometer
measured
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE1955403A
Other languages
English (en)
Other versions
DE1955403A1 (de
DE1955403C3 (de
Inventor
Joachim 1000 Berlin Bensel
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE1955403A priority Critical patent/DE1955403C3/de
Priority to GB1289568D priority patent/GB1289568A/en
Priority to ZA706822A priority patent/ZA706822B/xx
Priority to FR7038123A priority patent/FR2066368A5/fr
Priority to CH1575970A priority patent/CH532791A/de
Priority to US84636A priority patent/US3662263A/en
Publication of DE1955403A1 publication Critical patent/DE1955403A1/de
Publication of DE1955403B2 publication Critical patent/DE1955403B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE1955403C3 publication Critical patent/DE1955403C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/24Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Description

Zählerstand der jeweiligen Amplitude der Spannung vorbeiwandern und bei And ^. ^. den Strom entspricht, jedoch wird bei der bekannten Anordnung in der anderen ^^&jj^ Richtung kommend Licht lediglich dazu verwendet, um den Zählerstand, werten, aus d% e^g'"f£uaufen. Dadurch, daß der der sieb auf Hochspannungspoteuial ergibt, unter Ver- am optischen System voro un maBen Meß-
meidung hoher Isolationskosten auf Niederspannungs- 5 resultierende Strahl oei aci beieinander
potential zu übertragen. Licht wird demzufolge bei der einrichtung nf^"^J"^ Uer Durchmesser der bekannten Anordnung nur als Übertragungsmedium liegende LichtleiteWVw daß durch
verwendet und dient - anders als bei der erfindungs- Lichtleiter v0^*^!^ S völiige Abdunkelung gemäßen Meßeinrichtung - auch nicht dazu, um den die l^^^^^ bei wachsendem Strom Meßwert auf Hochspannungspotential zu erfassen to eintritt, laßt sich erreienen. Lichtleiter
Die das Licht zur Meßwerterfassung und zur Über- die Interfere«zstreifen »°**« ie Verknüpfungstragung der Meßwerte bei der erfindungsgemäßen passieren, durch dessen JP ^ die zm_
Meßeinrichtung liefernde Lichtquelle kann grundsätz- schaltung der^™ShTng vorbereitet. Alle aus ich sowohl auf der Hochspannung* als auch auf der einrichtung zur ^™Γ£™|en Interferenzstreifen Niederspannungsseite der erfindungsgemäßen Meß- i5 der gleichen Richtung komm end«a em Anzeichen einrichtung angeordnet sein. Im Hinblick auf eine werden dann wrvrarts gßzan«™ Suchst "einfach zu bewältigende Leistungsversor- dafür daß ^JJ^JSL. die Inter-Sine der Lichtquelle ist es jedoch vorteilhaft, diese auf Im Falle einer Wechselspannu g Strommaxi.
Sfederspannungspotential anzuordnen und sie im ferenzstreifen nachDurchRauten ^ ^
Hinblick darauf, daß bei der ernndungsgemäßen Meß- » mums ™^*Μ^ξ***™ zuerst einen
einrichtung mit kohärentem Licht gearbe.tet werden nunmehr der andere derbere ^ ^ Ver_
muß als Laser auszubilden. Dunkel-ImpuIs erhalt darc" ; der Zähl-
Die zwei kohärenten Lichtstrahlen lassen sich zweck- knüpf ungsschaltung der V°™£*£fn f ulse wermäßisenveise aus einer Lichtquelle in an sich bekann- einr.chtung gesperrt und die reg.str.ene ter Weise mittels eines jaminschen Interferometers, a5 de" ^^K^^K1"' äBen Verfahren die Zahl eines Mach-Zehnder-Interferometers oder einer ahn- ^^Ä^ffielle eines zu messenden liehen Apparatur gewinnen. wLhXromes von der Größe des Maximalstromes
Vorteilhaft ist es ferner, wenn in der optiscnen Ein- WechselstmesJ0.".°? Änderung des Stromwertes richtung der erfindungsgemäßen Meßeinrichtung min- abhangt d. ^h jeder A S ^ .m ^_
destens ein optisches System zur Erfassung der über- 30 um /1 1 em Meßwert s j
lagerten Lichtstrahlen vorgesehen ist, wobei dem opti- durchgang der Stromwelle aber -j-f am grouien im, sehen System zwei Lichtleiter nachgeordnet sind mit . , d NuUdurehganges die meisten
dem Lichtleiter verbundene Photoelemente sind dabei fallen im Dereich des^i 8 ^ vortdlhafter
vorteilhafterweise über eine Verknüpfungsschaltung Meßwerte pro Ze.temhen phasenlage des zu
zur Steuerung einer vorzeichenrichtigen Zählwe.se der 35 We.se eine genaue Messung
Zähleinrichtung an die Zähleinrichtung angeschlossen. «essenden Sj™™s ertaub -J1 kann in
Eine derartige Verknüpfungsschaltung ist erforder- D« eriinJ inSs|~ einen einzigen optischen
lieh, da bei der erfindungsgemäl?en Meßeinrichtung d.e .hrer e nfa^^Zhen η diesem Falle ist es unter Um-
äs *
Weglänge des durch die optische Einrichtung genenaen dci «""r."1.». w;rd beispielsweise im halle
Lichtstrlhles in jedem Moment von der Größe des gemäßen ^n^2hSLn£ vom Nulldurchwirksamen Feldes abhängig ist. Jede Änderung des da- eines zu messenden.we hend die Zähle.ndurch hervorgerufenen Gangunlerschiedes zwischen 45 gang in P0^i1SnMId bis zu einem Höchststand den beiden Lichtstrahlen um eine halbe Weglänge äßt ™^ zum folgenden Nulleinen Interferenzstreifen im resultierenden Strahl im auflaufen und s.cnaan hl wieder auf Null Sen System erkennen. Da diese Hell/Dunkel- durchgang infolge■ R^kwarteza S lchermaEen impulse bei dem erfindungsgemäßen Verfahren durch zurückstelle. SoIUe siel abei Beinrichtung in. we Pi Lichtleiter erfaßt werden, geben diese Lichlle.ter 50 f^^^f^i* Zähleinrichtung für Vorunter Zuhilfenahme der Photoelemente elektrische folge de " / £™™Β^η1ιιη8 ein geringfügiger Zählimpulse entsprechender Zahl an die Zähleinrichtung warts- ^J ^^^π fortlaufende Aufsummieab Dies bedeutet, daß mit beispielsweise steigendem feh1er eins £»«>'«' erffilschung in der NachStrom eine zunehmende Zahl von Interferenzstreifen rung™ ™ff et^Jnden stromes führen könnte, registriert wird, die dann >n Form von elektrischen 55 bildui g «s ™ ™ f wenn die optische Einrichtung Impulsen in der Zähleinrichtung registriert werden. dann g es vort ha , messenden Strornes einen Die durch Interferenzstreifen gegebenen Hell/Dun- fur_jed[Η*™™* enthäU und die Modulatoren kel-lmpulse lassen jedoch nicht die Nulldurchgange ?PtIw^ an den zu sowie steigende und fallende Werte des zu messenden übe, Jeje.ls «ne u ^ ^^ Suom afege. Stromes erkennen. Deshalb muß d.e Zahleinrichtung 60 meiS^ angeschlossen sind. In d.esem so arbeiten, daß sie beispielsweise be. steigende leitete eel^ !cl^dje zähl^inrichtung bei jedem Null-Stromwerten vorwärts und bei fallenden Slromwerten Fa Ie= wird na I- messenden Wechselstromes auf rückwärts zählt. Für diese verschiedenen Zahlwe.sen ^^"!,,^'^„„.h systematische Fehler vermieden sorgt die Verknüpfungsschaltung. INU'' ^^ '
Dabei ist zu berücksichtigen, daß die Interferenz- 65 sind Meßeinrichtung mit zwei optischen
werten, von einer Seite kommend am o,..ischen System
5 6
optisches System mit zwei Lichtleitern zugeordnet, die Erzielung eines großen Meßbereiches vorteilhaft erüber Photoelemente mit der Verknüpfungsschaltung scheint, v/enn mehrere optische Modulatoren nebenverbunden sind. einander arbeitende Modulationssysteme unterschied-
Die Modulatoren der erfindungsgemäßen Meßein- licher Empfindlichkeit bilden, wobei je nach dem Berichtung können unter Ausnutzung des elektroopti- 5 reich, in dem sich die Meßgröße gerade befindet, eine sehen oder des magnetooptischen Effektes arbeiten. Einschaltung des entsprechenden Modulationssystems Da aber bisher auf Grund der einschlägigen techni- und eine Abschaltung der übrigen Modulationsschen Entwicklung genauere Daten nur für Modu- systeme für die anderen Meßbereiche bewirkt wird,
latoren nach dem elektrooptischen Effekt verfügbar Sollte es erwünscht sein, dem den zu messenden sind, wird zur Zeit der Verwendung von Modulatoren io Strom entsprechenden Meßwert auf Niederspannungsdieser Art der Vorzug gegeben. Dies bedeutet, daß der potential nicht als Zählerstand zu gewinnen, sondern zu messende Strom im Hochspannungsleiter über in analoger Form auszugeben, dann ist der Zähleineinen Strom-Spannungswandler in eine Spannung um- richtung vorteilhafterweise ein Digital-Analog-Umgesetzt werden muß, die ein elektrisches Feld für die setzer nachzuordnen.
elektrooptischen Modulatoren der erfindungsgemäßen 15 Zur Erläuterung der Erfindung ist in der F i g. 1 in
Meßeinrichtung zur Folge hat. schematischer Darstellung ein Ausführungsbeispiel der
Diesbezüglich würde die Verwendung von magneto- erfindungsgemäßen Meßeinrichtung mit einer optioptischen Modulatoren insofern Vorteile bringen, als sehen Einrichtung mit einem optischen Modulator das magnetische Feld, das von dem Strom im Hoch- dargestellt; die F i g. 2 zeigt eine beispielsweise Ausspannungsleiter naturgemäß erzeugt wird, zur Modu- 20 bildung der optischen Einrichtung, wie sie in der lation ausgenutzt werden könnte. F i g. 1 in Form eines Blockes dargestellt ist. In der
Die heute erreichbare Brechungsindexänderung bei F i g. 3 ist ein weiteres Ausführungsbeispiel der erfin-
elektrooptischen Modulatoren beträgt etwa dungsgemäßen Meßeinrichtung mit zwei optischen
A η = 6 ■ IO-3 Modulatoren wiedergegeben, von denen jeweils einer
25 zur Übertragung von Meßwerten einer Halbwelle
und die Wellenlänge im Falle eines Helium-Neon- eines zu messenden Wechselstromes vorgesehen ist. Lasers λ = 630 nm. Um zwischen Nulldurchgang und In der F i g. 1 ist ein Hochspannungsleiter H darge-Spitzenwert eines zu messenden Stromes eine Differenz stellt, der beispielsweise von einem Wechselstrom Jl der optischen Weglänge von z. B. A S = 1000 λ zu er- durchflossen wird. An dem Hochspannungsleiter H ist zeugen, d. h. um 2000 Interferenzstreifen zu erhalten, 30 ein Strom-Spannungswandler Wl angeordnet, der ist folgende durchstrahlte Modulatorlänge / erforder- eine dem zu messenden Strom Jl proportionale Spanlich: nung Ul an eine optische Einrichtung MX abgibt. / = 1 SI i η = 0 63 · 10-3 m/6 · 10~3 = 0 105 m Strom-Spannungswandler WX und optische Einrich-' ' lung Ml sind zweckmäßigerweise in einem in der
Da zur Zeit nur Modulatorkristalle mit relativ 35 F i g. 1 nicht dargestellten Gehäuse auf Hochspankleiner Länge verfügbar sind, ist es zweckmäßig, zur nungspotential angeordnet.
Erzielung einer großen Meßgenauigkeit Modulatoren Der optischen Einrichtung MX wird von einer Lichtaus mehreren, optische Modulalionseigenschaften auf- quelle Ll, die vorzugsweise von einem Laser gebildet weisenden Einzelelementen zusammenzusetzen. Es ist ist, ein Lichtstrahl LSI (vgl. auch F i g. 2) zugeführt, dann möglich, diese Einzelelemente so anzuordnen, 40 der in einem zwei planparallele Spiegelglasplatten Fl daß der Strahl durch Reflexion einen verhältnismäßig und Pl enthaltenden Interferometer in einem Lichtlangen Weg im Modulator zurücklegt, wodurch strahl LS2' und einen weiteren Lichtstrahl LS2" aufgrößere Gangunterschiedsänderungcn eintreten. Um gespalten wird. Der Lichtstrahl LS2" durchläuft einen beispielsweise den gesamten Meßbereich von 0,05 · J^ elektrooptischen Modulator Mol, an dessen blektrodurch ein Meßsystem zu erfassen, müßten, wenn bei 45 den El und El die dem zu messenden Strom Jl proj = 0,05 · J.v beispielsweise noch 20 Meßpunkte zwi- portionale Spannung Ul liegt. Der Modulator Mol sehen Nulldurchgang und Scheitelwert gefordert wer- ist aus mehreren elektrooptischen Einzelelementen Ee den, bei J -= 100 · Jk 40 000 Meßpunkte bzw. 20 000 λ zusammengesetzt. In diesem Modulator Mol wird der Gangunterschiedsänderung erreicht werden. Lichtstrahl LS2" derart moduliert, daß die Änderung
Bei diesen extrem großen Gangdifferenzänderungen 50 der optischen Weglänge des Strahles in diesem Moduvon beispielsweise 20 000 /. könnte der Fall eintreten, lator in jedem Moment der Größe des wirksamen elekdaß die Strahlung nicht mehr interferenzfähig ist; in irischen Feldes entspricht und damit dem zu messenden diesem Fall muß die optische Weglänge des zweiten Strom Jl proportional ist. Beide Lichtstrahlen LS2' Teilstrahles zweckmäßigerweise der des ersten, den und LS2" werden an der planparallelen Spiegelglas-Modulator durchlaufenden Lichtstrahles angepaßt 55 platte F 2 zu einem resultierenden Strahl LS3 überwerden, indem eine hochbrechende Glasprobe ent- lagert, der in einem optischen System OS beobachtet sprechender Abmessung oder ein zweiter, keinem Feld wird; im optischen System OS sind Interferenzstreifen ausgesetzter Modulatorkörper in den Strahlengang des zu erkennen, die je nach steigenden oder fallenden nichtmodulierten Lichtstrahles eingebracht wird. Werten des zu messenden Stromes Jl im Blickfeld von
Grundsätzlich ist auch bei größten Gangunter- 60 links nach rechts oder in umgekehrter Richtung laufen. schiedsänderungenvon20 000Aunddamit40 000Meß- Am Ende des optischen Systems OS sind in in den punkten das Problem der Photoempfänger und der Figuren nicht näher dargestellter Weise zwei Licht-Zähleinrichtung lösbar, da dies eine maximale Takt- leiter L/2' und L/2" (s. wieder F i g. 1) dicht nebeneinfrequenz von etwa 12,5 MHz bedeutet. ander angeordnet. Die beiden Lichtleiter L/2' und
Diese Ausbildung der erfindungsgemäßen Meßein- es L/2" sind zur Niederspannungsseite geführt und enden
richtung ist aber maßgeblich davon abhängig, ob ver- an zwei Photoelementen Ph 11 und Phil. In diesen
besserte Kristalle gefunden werden. Denn bis heute Photoelementen FAIl und FA12 werden die von den
sind derartige Kristalle nicht verfügbar, so daß es zur Lichtleitern am optischen System OS erfaßten Inter-
7 8
ferenzstreifen in elektrische Impulse umgesetzt, die Beide optischen Einrichtungen Ml\ und MIl werüber eine als Kippstufe K ausgebildete Verknüpfungs- den von einer Lichtquelle Ll, vorzugsweise einem schaltung in eine Zähleinrichtung Zl eingezählt wer- Laser, mit einem Lichtstrahl I.S4 bestrahlt, der zur den die vorwärts und rückwärts laufen kann. Die Vor- Bestrahlung der beiden optischen Einrichtungen MIl wärts- und Rückwärtszählrichtung wird durch die 5 und MIl mittels eines Strahlungsteilers St in zwei Kippstufe Λ: im Zusammenwirken mit den beiden Lichtstrahlen Ls4' und Ls4" zerlegt wird. Ausgangs-Lichtleitern LIT und LIl" festgelegt. Der Zählein- seitig sind den in der F i g. 3 nicht näher dargestellten richtung Zl ist gegebenenfalls ein Digital-Analog-Um- optischen Systemen der beiden optischen Einrichtunsetzer DA 1 nachgeordnet, an dessen Ausgang in gen Mil und Mil jeweils zwei Lichtleiter L/3' und analoger Form eine dem zu messenden Strom Jl ent- ίο L/3" sowie LlX und L/4" zugeordnet, die auf der sprechender Strom /1 abgenommen werden kann. Niederspannungsseite an vier Photoelemente VhIl und Ein weiteres Ausführungsbeispiel der erfindungsge- PhIl sowie ΡΛ31 und Ph31 angeschlossen sind. Die mäßen Meßeinrichtung ist in der F i g. * dargestellt, von den Photoelementen PhIl bis /7)32 abgegebenen wo ein wiederum mit H bezeichneter Hochspannungs- elektrischen Impulse werden in einer Verknüpfungsleiter von einem zu messenden Strom Jl durchflossen 15 schaltung verarbeitet und bewirken sowohl eine Umwird Der Strom Jl wird in oben schon beschriebener schaltung einer Zähleinrichtung Z2 von der Vor-Weise mittels eines Strom-Spannungswandlers Wl in wärts- auf die Rückwärtszählrichtung und umgekehrt eine dem Strom Jl proportionale Spannung Ul um- als auch ein vollständiges Löschen der Zähleinrichtung gesetzt die an eine Gleichrichterancrdnung C ange- Zl beim Nulldurchgang des zu messenden Stromes Jl. schlossen ist. Durch diese Gleichrichteranordnung G 20 An die Zähleinrichtung Z2 kann wieder ein Digitalist dafür gesorgt, daß einer optischen Einrichtung M21 Analog-Umsetzer DA 1 angeschlossen sein, dem dann und einer weiteren optischen Einrichtung MIl die ein dem Primärstrom Jl proportionaler Sekundär-Halbwellen eines zu messenden Wechselstromes Jl strom /2 entnommen werden kann,
getrennt zugeführt werden, so daß beispielsweise die Grundsätzlich läßt sich der der Erfindung zugrunde optische Einrichtung M21 nur zur Erfassung von Meß- 25 liegende Gedanke nicht nur zur Messung von Strömer werten der negativen Halbwelle und die weitere opti- in Hochspannungsleitern anwenden, sondern läßt siel· sehe Einrichtung M22 nur zur Erfassung von Meß- auch mit Vorteil bei einem Analog-Digital-Umsetzei werten dei positiven Halbwelle dient. Jede der beiden verwenden; ein derartiger Umsetzer ist nämlich inso optischen Einrichtungen M21 und M11 kann in der fern vorteilhaft, als er zur Umsetzung nur passive elek-Weise ausgebildet sein, wie es in der F i g. 2 darge- 30 Irische bzw. elektrooptische oder magnetooptischf stel|t ist Bauelemente benötigt,
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (8)

1 2 Lichtleiter (L/3', L/3"; L/4', L/4") zugeordnet sind, Patentansprüche: die über Fotoelemente {Phil, Phil; ΡΛ31, -ΡΛ32) mit der Verknüpfungsschaltung (V) verbunden
1. Digitale Meßeinrichtung für Ströme in Hoch- sind (F i g. 3).
Spannungsleitern mit einer ein Interferometer ent- 5 9. Meßeinrichtung nach einem der Ansprüche 1,
haltenden optischen Einrichtung, die von einer 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Modu-
dem zu messenden Strom proportionalen Größe ktoren (Mol) elektrooptische Modulatoren sind
beeinflußt ist, und mit einer photoelektrischen Aus- (F i g. 2).
werteanordnung für die sich ergebenden Inter- 10. Meßeinrichtung nach Anspruch 8, dadurch
ferenzstreifen, dadurch gekennzeich- io gekennzeichnet, daß die elektrooptischen Modu-
net, daß die zur Gewinnung der Interferenz- latoren (Mol) über einen Stromspannungswandler
streifen erforderlichen, Licht reflektierenden Teile [Wl) an den Hochspannungsleiter (H) mit dem zu
(Pl, Pl) des Interferometers vom zu messenden messenden Strom (Jl) angeschlossen sind (Fi g. 1
Strom unbeeinflußt sind und daß innerhalb des und 2).
Interferometers im Strahlengang eines der beiden 15
vom Interferometer gebildeten kohärenten Licht-
strahlen (LsT, LSI") ein optischer Modulator
(Mo 1) angeordnet ist, der einem dem zu messenden Die Erfindung betrifft eine digitale Meßeinrichtung
Strom proportionalen elektrischen oder magneti- für Ströme in Hochspannungsleitern mit einer ein
sehen Feld ausgesetzt ist, und daß die Auswerte- 20 Interferometer enthaltenden optischen Einrichtung,
anordnung eine vorwärts und rückwärts laufende die von einer dem zu messenden Strom proportionalen
Zähleinrichtung (Zl) zur Zählung der Interferenz- Größe beeinflußt ist, und mit einer photoelektrischen
streifen enthält, so daß der Zählerstand dem jewei- Auswerteanordnung für die sich ergebenden Inter-
ligen Meßwert entspricht (F i g. 1 und 2). ferenzstreifen.
2. Meßeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch 25 Bei einer bekannten Meßeinrichtung dieser Art gekennzeichnet, daß das Licht (LSI) von einer (deutsche Offenlegungsschrift 1 909 671) wird die niederspannungsseitig angeordneten Lichtquelle Messung unter Anwendung eines Kompensationsver-(Ll), vorzugsweise einem Laser, ausgeht (F i g. 1). fahrens durchgeführt, indem eine Kompensations-
3. Meßeinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, da- schaltung mit zwei Ausgleichsinterferometern zusätzdurch gekennzeichnet, daß das Interferometer ein 30 lieh zu dem eigentlichen Interferometer und einem an sich bekanntes Jaminsches Interferometer (Pl, Differenzverstärker vorgesehen ist. Vom Differenzver- Pl) oder ein Mach-Zehnder-Interferometer ist stärker wird ein Strom erzeugt, der dem zu messenden (Fig. 1 und 2). Strom proportional ist. Die bekannte Meßeinrichtung
4. Meßeinrichtung nach einem der vorangehen- ist daher verhältnismäßig kompliziert aufgebaut und in den Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß 35 der Herstellung relativ teuer, wozu auch der aufeinem optischen System (OS) zur Erfassung der wendige Differenzverstärker besonders beiträgt,
überlagerten Lichtstrahlen (LST, LSI") zwei Der Erfindung hegt daher die Aufgabe zugrunde, Lichtleiter (LlT, LH") nachgeordnet sind und daß eine digitale Meßeinrichtung für Ströme in Hochmit den Lichtleitern (LlT, LH") verbundene Foto- Spannungsleitern zu schaffen, die einen Verhältniselemente (Phil, PHH) in der photoelektrischen 40 mäßig einfachen Aufbau aufweist und demzufolge Auswerteanordnung über eine Verknüpfungsschal- kostengünstig herstellbar ist.
tung (K) zur Steuerung einer vorzeichenrichtigen Zur Lösung dieser Aufgabe sind bei einer Meß-
Zählweise der Zähleinrichtung (Zl) an die Zähl- einrichtung der eingangs beschriebenen Art die zur
einrichtung angeschlossen sind (F i g. 1 und 2). Gewinnung der Interferenzstreifen erforderlichen,
5. Meßeinrichtung nach Anspruch 4, dadurch 45 Licht reflektierenden Teile des Interferometers vom zu gekennzeichnet, daß der Durchmesser der Licht- messenden Strom unbeeinflußt, und innerhalb des leiter (LlT, LH") so gewählt ist. daß durch die Interferometers im Strahlengang eines der beiden vom Interferenzstreifen jeweils völlige Abdunklung ein- Interferometer gebildeten kohärenten Lichtstrahlen ist tritt (F i g. 1). ein optischer Modulator angeordnet, der einem dem
6. Meßeinrichtung nach Anspruch 4 oder 5, da- 50 zu messenden Strom proportionalen elektrischen oder durch gekennzeichnet, daß die Verknüpfungsschal- magnetischen Feld ausgesetzt ist, und daß die Austung eine Kippstufe (K) ist (F i g. 1 und 2). werteanordnung eine vorwärts und rückwärts laufende
7. Meßeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 Zähleinrichtung zur Zählung der Interferenzstreifen bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der optischen enthält, so daß der Zählerstand dem jeweiligen Meß-Einrichtung (M21) eine weitere optische Einrich- 55 wert entspricht.
tung (A/22) mit einem weiteren Interferometer und Es ist zwar bereits aus der deutschen Patentschrift einem weiteren optischen Modulator zugeordnet 1 264 606 eine Anordnung zur Übertragung einer von ist, so daß für jede Halbwelle eines zu messenden einem auf der Hochspannungsseite fließenden Strom Wechselstromes (Jl) ein optischer Modulator vor- gebildeten Meßgröße von der Hochspannungs- auf handen ist, und daß die Modulatoren über jeweils 60 die Niederspannungsseite bekannt, bei der die Meßeine Gleichrichteranordnung (G) von dem zu größe mittels von einer auf der Hochspannimgsseite messenden Strom (Jl) beeinflußt sind oder an eine liegenden Sendeeinrichtung mit einer Lumineszenzaus diesem Strom (JT) abgeleitete Spannung (UI) dioden-Anordnung ausgesendeter Lichtstrahlen auf angeschlossen sind (F i g. 3). eine auf der Niederspannungsseile angeordnete Emp-
8. Meßeinrichtung nach Anspruch 7, dadurch 65 fangseinrichtung übertragen wird, wobei die Sendegekcnnzcichnet, daß jede optische Einrichtung einrichtung einen Taktgeber enthält, dessen Impulse (MIl, MIT) ein optisches System enthält und daß eine ebenfalls in der Sendeeinrichlung angeordenle jeder optischen Einrichtung (MIl, MIT) zwei digitale Zähleinrichtung derart beeinflussen, daß ihr
DE1955403A 1969-10-30 1969-10-30 Digitale Meßeinrichtung für Ströme in Hochspannungsleitern Expired DE1955403C3 (de)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1955403A DE1955403C3 (de) 1969-10-30 1969-10-30 Digitale Meßeinrichtung für Ströme in Hochspannungsleitern
GB1289568D GB1289568A (de) 1969-10-30 1970-09-17
ZA706822A ZA706822B (en) 1969-10-30 1970-10-07 Improvements in or relating to arrangements for measuring the current in a high-tension conductor
FR7038123A FR2066368A5 (de) 1969-10-30 1970-10-22
CH1575970A CH532791A (de) 1969-10-30 1970-10-26 Messeinrichtung für Ströme in Hochspannungsleitern mit einer ein Interferometer enthaltenden optischen Modulatoreinrichtung
US84636A US3662263A (en) 1969-10-30 1970-10-28 Apparatus for measuring current in high-voltage lines

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1955403A DE1955403C3 (de) 1969-10-30 1969-10-30 Digitale Meßeinrichtung für Ströme in Hochspannungsleitern

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE1955403A1 DE1955403A1 (de) 1971-05-06
DE1955403B2 true DE1955403B2 (de) 1973-09-27
DE1955403C3 DE1955403C3 (de) 1974-04-25

Family

ID=5750085

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1955403A Expired DE1955403C3 (de) 1969-10-30 1969-10-30 Digitale Meßeinrichtung für Ströme in Hochspannungsleitern

Country Status (6)

Country Link
US (1) US3662263A (de)
CH (1) CH532791A (de)
DE (1) DE1955403C3 (de)
FR (1) FR2066368A5 (de)
GB (1) GB1289568A (de)
ZA (1) ZA706822B (de)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2110625A5 (de) * 1970-10-23 1972-06-02 Alsthom Savoisienne
DE2333242C2 (de) * 1973-06-29 1974-12-05 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Digitaler magnetooptischer Meßwandler für Hochspannung
US4147979A (en) * 1975-04-16 1979-04-03 Siemens Aktiengesellschaft Movable probe carrying optical waveguides with electro-optic or magneto-optic material for measuring electric or magnetic fields
DE2516619C2 (de) * 1975-04-16 1983-12-01 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Vorrichtung zum Messen eines elektrischen oder magnetischen Feldes
GB1532508A (en) * 1976-07-20 1978-11-15 Standard Telephones Cables Ltd Telecommunication systems
US4100487A (en) * 1977-03-30 1978-07-11 Nasa Lightning current waveform measuring system
SE417137B (sv) * 1979-05-31 1981-02-23 Asea Ab Optiskt metdon for metning av magnetiska och elektriska felt
US4363061A (en) * 1980-06-10 1982-12-07 Westinghouse Electric Corp. Electric motor and transformer load sensing technique
US4412173A (en) * 1981-01-26 1983-10-25 The Oregon Graduate Center For Study And Research Apparatus using leakage current for measuring resistivity
WO1993013429A1 (en) * 1985-08-07 1993-07-08 Toshisada Fujiki Voltage detector
US4894609A (en) * 1985-08-07 1990-01-16 Ngk Insulators, Ltd. Electrical measuring device
JP2986503B2 (ja) * 1990-03-09 1999-12-06 株式会社日立製作所 光方式直流電圧変成器
US5336883A (en) * 1991-05-03 1994-08-09 Focas Limited Optical fiber sensor for producing a variable transverse strain in a localized portion of the fiber
US6670799B1 (en) 2000-05-03 2003-12-30 Nxt Phase Corporation Optical current measuring for high voltage systems
US20050061745A1 (en) * 2002-06-26 2005-03-24 Teledyne Isco, Inc. Separation system, components of a separation system and methods of making and using them

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH433065A (de) * 1966-02-03 1967-03-31 Bbc Brown Boveri & Cie Verfahren und Einrichtung zur Fernmessung mit Hilfe modulierter Lichtbündel
FR92378E (fr) * 1967-01-18 1968-10-31 Merlin Gerin Perfectionnements aux réducteurs de courant optiques
US3485940A (en) * 1967-12-26 1969-12-23 Allis Chalmers Mfg Co Post type modular insulator containing optical and electrical components

Also Published As

Publication number Publication date
FR2066368A5 (de) 1971-08-06
US3662263A (en) 1972-05-09
DE1955403A1 (de) 1971-05-06
GB1289568A (de) 1972-09-20
ZA706822B (en) 1971-11-24
CH532791A (de) 1973-01-15
DE1955403C3 (de) 1974-04-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1955403B2 (de) Digitale Meßeinrichtung fur Strome in Hochspannungsleitern
DE3326555C2 (de)
EP0011723A1 (de) Verfahren und Einrichtung zur interferometrischen Messung von sich ändernden Schichtdicken
DE60309783T2 (de) Abstimmungsmethode für optischen Schaltkreis mit kaskadierten Mach-Zehnder-Interferometern
DE4103914A1 (de) Interferometer
DE3409618A1 (de) Faseroptische messanordnung zur messung physikalischer groessen
DE2726705A1 (de) Schaltungsanordnung zur isolation einer zu messenden elektrischen groesse mittels optokopplern
DE3417176A1 (de) Photoelektrische messeinrichtung
EP0083689B1 (de) Lichtelektrische inkrementale Längen- oder Winkelmesseinrichtung
DE2114064A1 (de) Fotometer zum Bestimmen des Sauerstoffgehaltes von Blut
DE10037501C1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Wellenlängendetektion
EP0290789A2 (de) Vorrichtung zur Messung des Abstandes zwischen der Vorrichtung und einer Messfläche
DE2852614B2 (de) Optisches Messystem zur Ermittlung der Lage einer lichtrelexionsstelle in einem optischen Übertragungsmedium
DE2004040C3 (de) Verfahren zur Modulation kohärenter optischer Strahlung
DE60220431T2 (de) Verfahren zur messung der halbwellenspannung eines optischen modulators des mach-zehnder-typs
EP0062235A3 (de) Anordnung zur Umwandlung von Informationen aus der elektrischen Form in die optische Form und umgekehrt
DE4411063A1 (de) Verfahren zur Bestimmung der Dispersionsnullstelle eines Lichtwellenleiters
DE3625703C2 (de)
DE4133131C2 (de) Anordnung zum Bestimmen von die Lichtintensität beeinflussenden chemischen und/oder physikalischen Größen
DE10047380B4 (de) Verfahren zum Regeln des Arbeitsbereiches eines Modulators und zugehörige Ansteuereinheit
DE671864C (de) Verfahren zur Messung, zum Vergleich und zur Fernanzeige von Zustandsgroessen
DE10346379B4 (de) Verfahren zum Bestimmen des Frequenzgangs eines elektrooptischen Bauelements
DE3244010A1 (de) Einrichtung zur messung der rotationsgeschwindigkeit
DE2819979C2 (de) Verfahren zur Messung der Dämpfung von Lichtleitfasern
DE3108239A1 (de) "anordnung und verfahren zur messung optischer wellenlaengen"

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
E771 Valid patent as to the heymanns-index 1977, willingness to grant licences
8339 Ceased/non-payment of the annual fee