DE1917043B2

DE1917043B2 - SENSING DEVICE FOR A VARIETY OF SAMPLE POINTS

Info

Publication number: DE1917043B2
Application number: DE19691917043
Authority: DE
Inventors: Johann 7000 Stuttgart Hofbauer
Original assignee: Standard Elektrik Lorenz AG
Current assignee: Alcatel Lucent Deutschland AG
Priority date: 1969-04-02
Filing date: 1969-04-02
Publication date: 1976-04-01
Also published as: DE1917043A1; DE1917043C3; BE748352A; FR2042758A5; ES378170A1

Description

Die Erfindung betrifft eine Abtasteinrichtung für eine Vielzahl von Abtastpunkten, die zwei Schaltzusuinde einnehmen können, z. B. von Teilnehmeranschlußleitungen einer zentralgesteuerten Fernsprechvermiulungsanlage, bei der die Abtastp;jnkte zyklisch nach dem Schaltzustand abgefragt und das Abtastergebnis mit dem Abtastergebnis der vorhergehenden Abtastung verglichen werden und bei der nur bei einer Veränderung des Abtastergebnisses gegenüber dem vorhergehenden Abtastergebnis ein Steuervorgang ausgelöst wird. Eine solche Arbeitsweise einer Abtasteinrichtung ist als sogenanntes »last-look-Verfahren« bekanntgeworden. The invention relates to a scanning device for a plurality of scanning points, the two switching states can take, e.g. B. of subscriber lines of a centrally controlled telephone communication system, in which the scanning point is queried cyclically according to the switching state and the scanning result can be compared with the scan result of the previous scan and only if there is a change of the scanning result compared to the previous scanning result triggered a control process will. Such a mode of operation of a scanning device has become known as the so-called "last-look method".

Fernsprechvermittlungsanlagen mit einer derartigen Abtasteinrichtung sind z. B. aus dem Artikel »A High-Speed Line Scanner for Use in an Elektronic Switching System«, von A. F1 e i η e r und L G ö 11 e r, erschienen in der Zeitschrift Bell System Technical journal, November 1958, oder aus den deutschen Auslegeschriften 11 58 125,11 37 085 und 12 84 470 bekannt.Telephone exchanges with such a scanning device are z. B. from the article »A High-Speed Line Scanner for Use in an Electronic Switching System «, by A. F1 e i η e r and L G ö 11 e r, published in the Bell System Technical journal, November 1958, or from the German Auslegeschriften 11 58 125.11 37 085 and 12 84 470 known.

Bei den bekannten Anordnungen sind die Speicherelemente, die bei der Abtastung den Zustand des" abgefragten Abtastpunktes bis zur folgenden Abtastung und dem dabei auszuführenden Vergleich festhalten, zentral angeordnet. Dies hat den Vorteil, daß diese Speicherelemente mit anderen Speicherelementen, z. B. für einen Kennungszuordner, des zentralen Steuerungsteils gemeinsam angeordnet und zusammengefaßt und dort vorhandene Schreib- und Leseeinrichtungen mit benutzt werden können. Die Abtastung der Abtastpunkte, z. B. der Teilnehmeranschlußleitungen, erfolgt dabei dezentral. Jedes Abtastergebnis wird zur zentralen Steuerung übermittelt, wo dann der Vergleich mit dem gespeicherten Abtastergebnis der vorhergehenden Abtastung durchgeführt wird. Bei Nichtübereinstimmung der Abtastergebnisse werden von der zentralen Steuerung unmittelbar die bekannten Schaltvorgänge ausgelöst. Bei diesen bekannten Anordnungen wird die Vergleichseinrichtung nur einmal pro Fernsprechvermiu· lungsanlage benötigt. Es muß jedoch bei jedem Abtasischritt der Abtasteinrichtung ein Informationsaustausch zwischen der Abtasteinrichtung und der zentralen Steuerung stattfinden. Dies ist besonders dann von Nachteil, wenn die Abtasteinrichtung in einem Unteramt untergebracht ist und die zentrale Steuerung über das Hauptamt ausgeführt wird. Bei den bekannten Anordnungen muß, wie bereits der Titel der genannten Veröffentlichung zeigt, eine sehr hohe AbtastfrequenzIn the known arrangements, the memory elements are, when scanning the state of the "interrogated Hold the sampling point until the next sampling and the comparison to be carried out, centrally arranged. This has the advantage that these storage elements with other storage elements such. B. for an identifier allocator, the central control part arranged and summarized together and there existing writing and reading devices can also be used. The sampling of the sampling points, z. B. the subscriber lines, is done decentrally. Each scan result becomes the central control transmitted, where then the comparison with the stored scanning result of the previous scanning is carried out. If the scanning results do not match, the central control immediately triggered the known switching processes. In these known arrangements, the comparison device only required once per telephone rental system. However, it must be done with every step of the abbot the scanning device an exchange of information between the scanning device and the central Control take place. This is particularly disadvantageous when the scanning device is in a sub-office is housed and the central control is carried out via the main office. In the known arrangements must, as the title of the mentioned publication shows, a very high sampling frequency

gewählt werden, um bei allen Abtastpunkten im Zeitvielfachbetrieb alle Veränderungen schnell genug zu erfassen.can be selected to be in time division mode at all sampling points capture all changes quickly enough.

Um relativ kurze Wählzeichen zu erfassen, wird in einem Fall vorgeschlagen, zum Wäh!zeichenempfang die Abtastfrequenz zu erhöhen. Dies bedingt einen erheblichen Aufwand an Schaltmitteln. Die Anforderungen an die Arbeitsgeschwindigkeit der Vergleichseinrichtung und der zentralen Steuerung sind sehr groß, so daß erheblicher Aufwand für die Realisierung benötigt wird.In order to record relatively short dialing characters, it is suggested in one case to receive dialing characters to increase the sampling frequency. This requires a considerable amount of switching means. The requirements the operating speed of the comparison device and the central control are very high, so that considerable effort is required for the implementation.

Dabei ist das beim Vergleich erhaltene Abtastergebnis in der Regel sehr monoton und zeigt an, daß keine Veränderung eingetreten ist. Die Arbeitsgeschwindigkeit der Vergleichseinrichtung wird nicht nur durch die Dauer der Schaltzustände der Abtastpunkte bestimmt, sondern auch durch die Tatsache, daß ihr Auftreten unsynchronisiert ist und trotzdem durch Abtastung in einem festen Zyklus erfaßt werden sollThe scanning result obtained in the comparison is usually very monotonous and indicates that none Change has occurred. The speed of operation of the comparison device is not only determined by the Duration of the switching states of the sampling points is determined, but also by the fact that their occurrence is unsynchronized and should nevertheless be detected by scanning in a fixed cycle

Die Abtasteinrichtung nach der deutschen Auslegeschrift 12 84 470 reduziert nun den redundanten Informationsfluß von der Abtasteinrichtung zu der zentralen Steuerung und damit auch die erforderliche Abtastgeschwindigkeit. Den Abtastpunkten wird neben der Fühlermatrix eine eigene Speichermalrix zugeordnet. In der Speichermatrix wird das Abtastergebnis der vorhergehenden Abtastung gespeichert. Der Vergleich fin dei in der Abtasteinrichtung selbst statt und lediglich bei einer Veränderung der Abtastergebnisse wird eine Identität über den Abtastpunkt und die erfolgte Veränderung zur zentralen Steuerung übermittelt. Diese Reduzierung des Informationsflusses ist besonders vorteilhaft, wenn die Abtastung und der Vergleich in einem Unteramt ausgeführt und nur die bei den Veränderungen abgeleiteten Informationen zur zentralen Steuerung des Hauptamtes übertragen werden. Der Aufwand in der Abtasteinrichtung steigt durch die eigene Speichermatrix beachtlich an.The scanning device according to German Auslegeschrift 12 84 470 now reduces the redundant flow of information from the scanning device to the central control and thus also the required scanning speed. In addition to the sensor matrix, the sampling points are assigned their own memory matrix. In the scanning result of the previous scanning is stored in the memory matrix. The comparison fin dei takes place in the scanning device itself and only if the scanning results change, a Identity transmitted to the central control via the scanning point and the change made. This reduction of the flow of information is particularly advantageous when the scanning and the comparison in one Executed subordinate and only the information derived from the changes to the central control of the main office. The effort in the scanning device increases due to its own Memory matrix considerably.

Es ist Aufgabe der Erfindung, bei einer Abtasteinrichtung für eine Vielzahl von Abtastpunkten, die nach dem »last-look-Verfahren« arbeitet, den Aufwand an Speicher- und Vergleichsmitteln gegenüber der bekannten Anordnung wesentlich zu reduzieren. Die Abtasteinrichtung für eine Vielzahl von Abtastpunkten, die zwei Schaltzustände einnehmen können, z. B, von Teilnehmerarschlußleitungen einer zentralgesteuerten Fernsprechvermittlungsanlage, bei der die Abtastpunkte zyklisch nach dem Schaltzustand abgefragt und das Abtastergebnis mit dem Abtastergebnis der vorhergehenden Abtastung verglichen werden und bei der nur bei einer Veränderung des Abtastergebnisses gegenüber dem vorhergehenden Abtastergebnis ein Steuervorgang ausgelöst wird, ist nach der Erfindung dadurch gekennzeichnet, daß das Abtastergebnis einer Gruppe von Abtastpunkten ein Codewort bi;Jet, aus dem über einen Prüfgenerator eine zugeordnete Prüfinformation abgeleitet wird, daß nur diese Prüfinformationen für die Gruppen von Abtastpunkten festgehalten und mit den Prüfinformationen des vorhergehenden Abtastzyklus verglichen werden und daß bei Nichtübereinstimmung <" einer Prüfinformation mit der zugeordneten, beim vorhergehenden Abtastzyklus festgehaltenen Prüfinformation ein Steuervorgang ausgeführt wird. Bei einer derartigen Ausgestaltung einer Abtasteinrichtung brauchen jeweils nur die Prüfinformationen tier verschiede- <"· nen Gruppen von Ablastpunkien /wKchengespeicher; und verglichen werden. Dies beding! eine erhebliche Rednzierune der SDcicherniittel.It is the object of the invention, in a scanning device for a plurality of scanning points, which according to the "last-look-procedure" works, the expenditure on storage and comparison means compared to the known To reduce arrangement significantly. The scanning device for a large number of scanning points, which can assume two switching states, e.g. B, from a subscriber line of a centrally controlled Telephone switching system in which the sampling points are queried cyclically for the switching status and the Sampling result can be compared with the sampling result of the previous sampling and in the only in the event of a change in the scanning result compared to the previous scanning result, a control process is triggered, is characterized according to the invention in that the scanning result of a group from sampling points a code word bi; Jet, from which an associated test information is obtained via a test generator it is deduced that only this test information for the groups of sampling points is recorded and with the Test information of the previous sampling cycle are compared and that if they do not match <" a test information with the assigned test information recorded in the previous scanning cycle a control operation is carried out. In such a configuration of a scanning device need in each case only the test information tier different- <"· nen groups of load points / wKchengespeicher; and be compared. This requires! a considerable amount of money spent on security funds.

Nach einer weiteren Ausbildung der Erfindung sind die Abtastpunkte zu einer Abtastrr.atrix zusammengefaßt, deren Anzahl der Spalten durch die Anzahl der Abtastpunkte pro Gruppe und deren Anzahl der Zeilen durch die Anzahl der Gruppen von Abtastpunkten bestimmt sind. Bei dem zyklischen Abtasten werden jeweils die Abtastpunkte zeilenweise abgefragt.According to a further embodiment of the invention, the sampling points are combined to form a sampling matrix, their number of columns by the number of sampling points per group and their number of rows are determined by the number of groups of sampling points. In the case of the cyclic scanning, the scanning points are queried line by line.

Der Vergleich und das Speichern der Prüfinformationen wird nach einer besonders einfachen Ausgestaltung dadurch erleichtert, daß die beiden Schaltzustände eines Abtastpunktes durch die logischen Symbole »0« und »1« festgelegt sind, daß bei einem Abtastergebnis einer Gruppe von Abtastpunkten über den Prüfgenerator die Anzahl der logischen Symbole »1« überprüft wird und daß bei geradzahliger Anzahl ein Prüfbit »0« und bei ungeradzahliger Anzahl ein Prüfbit »1« als Prüfinformation erzeugt wird. Bei dieser parity-bit-PriJ-fung dürfen in einem Codewort, d. h. in einer Gruppe von Abtastpunkten, mehr als eine Zustandsveränderung in der Zyklusdauer nur mit einer vernachlässigbaren Wahrscheinlichkeit auftreten. Diese Bedingung ist leicht einzuhalten, wenn die Abtastpunkte gruppenweise abgefragt werden. Für die Speicherung dieser einfachen Prütinformationen wird jeder Gruppe von Abtastpunkten, d. h. jeder Zeile der Abtastmatrix, nur ein Speicher-Flip-Flop zugeordnet. Die Steuerung dieser Speicher-Flip-Flops ist so getroffen, daß bei einer Abtastung die vom Prüfgenerator erzeugte Prüfinformation und die im zugeordneten Speicher-Flip-Flop festgehaltene Prüfinformation miteinander verglichen werden und daß bei Nichtübereinstimmung die vom Prüfgenerator erzeugte Prüfinformation in den Speicher-Flip-Flop übernommen wird. Zur Einleitung der Schaltvorgänge zur zentralen Steuerung ist dabei vorgesehen, daß der Abtastmatrix ein Abtastzähler und Speicher zugeordnet sind und daß bei Nichtübereinstimmung der Prüfinformationen beim Vergleich die Stellung des Abtastzählers und das Abtastergebnis der abgetasteten Gruppe von Abtastpunkten in die Speicher der Abtastmatrix übernommen werden. Für den Fall, daß bei Nichtübereinstimmung der Prüfinformationen das veränderte Codewort und die Zählerstellung nicht in die Speicher der Abtastmatrix abgesetzt werden können, ist jeder Gruppe von Abtastpunkten neben dem Speicher-Flip-Flop ein Markier-Flip-Flop zugeordnet, das bei Veränderung des Speicher-Flip-Flops gesetzt wird, wenn die Speicher der Abtastmatrix belegt sind. Die Übernahme des veränderten Codeworts und der Zählerstellung kann dann bei Übereinstimmung der Prüfinformationen auch bei einer folgenden Abtastung durchgeführt werden. Das gesetzte Markier-Flip-Flop zeigt an, daß die Übertragung der Informationen zu den Speichern der Abtastmatrix noch zu erfolgen hat. Nach dem Absetzen der Informationen wird das Markier-Flip-Flop wieder zurückgestellt.The comparison and storage of the test information is made easier according to a particularly simple embodiment that the two switching states of a sampling point are determined by the logical symbols "0" and "1" that with a sampling result a group of sampling points is checked for the number of logical symbols "1" via the test generator and that with an even number a check bit "0" and with an odd number a check bit "1" as Test information is generated. With this parity bit check may be in a code word, i. H. in a group of sampling points, more than one change of state only occur with a negligible probability in the cycle duration. This condition is easy to maintain if the sampling points are queried in groups. For storing this simple Test information is added to each group of sample points, i.e. H. of each row of the scanning matrix, only one Associated with memory flip-flop. The control of these memory flip-flops is made so that when scanning the test information generated by the test generator and the information stored in the associated memory flip-flop Test information are compared with one another and that if they do not match, the test generator Test information generated is transferred to the memory flip-flop. To initiate the switching processes for central control it is provided that the scanning matrix has a scanning counter and memory are assigned and that if the test information does not match when comparing the position of the sampling counter and the sampling result of the sampled group of sampling points into the memories of the scanning matrix. In the event that the test information does not match the changed code word and the counter setting are not stored in the memory of the scanning matrix each group of sampling points is assigned a marking flip-flop in addition to the memory flip-flop, which is set when the memory flip-flop changes, when the memory of the scanning matrix is occupied are. The changed code word and the counter setting can then be adopted if they match of the test information can also be carried out in a subsequent scan. The set marking flip-flop indicates that the transfer of the information to the memories of the scanning matrix is still to be carried out Has. After the information has been sent, the marking flip-flop is reset.

Die Ertindung wird an Hand einer in der Zeichnung dargestellten Fernsprech-Kon/entratoraußenstelle näher erläuten.The invention is based on one in the drawing telephone control unit shown in more detail to ring out.

Die Teilnehmerstellen Tin der Konzentratoraußenslelle können in bekannter Weise über ein Koppelfeld K Γ mit den zum Hauptamt führenden Konzentratorleitungen Ki. verbunden werJen. Die Einsteilung des Kiippelfekies kl upen.iii.iiit der Markierer M mit dem Pufferspeicher PSI'. die über den Datenempfänger DE 0er Datenleiuirw Dl.2 mn tier zentralen Steuerung des Hauptamtes in Verbindung stehen und von dort ihre Einstellinformaiionen erhallen. Über diesen Verbindungsaufbau und üie Gespt aensabw icklung braucht inThe subscriber stations Tin of the concentrator external cell can be connected in a known manner via a coupling matrix K to the concentrator lines Ki leading to the main office. be connected. The classification of the Kiippelfekies kl upen.iii.iiit the marker M with the buffer PSI '. which are connected via the data receiver DE 0er Datenleiuirw Dl.2 mn tier central control of the main office and receive their setting information from there. Over this connection establishment and over the screen processing needs in

diesem Zusammenhang nur noch ausgeführt werden, daß auch die Verbindungssätze K- VS mit den Sendeeinrichtungen DS2 der Datenleitung DL2 gekoppelt sind.In this context, it only needs to be stated that the connection sets K-VS are also coupled to the transmission devices DS2 of the data line DL 2.

Für die vorliegende Erfindung kommt es nur darauf an, die Teilnehmeranschlußleitungen der Konzentratoraußenstelle abzutasten und nur bei Veränderungen die veränderten Zustände über den Datensender DS 1 und die Datenleitung DL 1 zum Hauptamt zu übertragen.For the present invention, it is only a matter of scanning the subscriber lines of the concentrator external unit and only transmitting the changed states via the data transmitter DS 1 and the data line DL 1 to the main office in the event of changes.

Die Teilnehmeranschlußleitungen sind in bekannter Weise zu einer Abtastmatrix TSM zusammengefaßt. Die 512 Teilnehmerleitungen einer Konzentratoraußenstelle können z. B. in 32 Gruppen zu je 16 Teilnehmern unterteilt werden. Diese Teilnehmeranschlußlei »last-look-Verfahren« werden gruppenweise abgetastet. Die Steuerung und die Auswahl der Zeilen der Abtastmatrix TSM übernimmt ein Abtastzähler Z Die Schaltzustände »0« und »1«, d.h. »Leitung offen« und »Leitung geschlossen«, der 16 abgetasteten Teilnehmeranschlußleitungen bilden ein Codewort mit 16 Stellen. Diesem Codewort wird durch den Prüfgenerator PG in bekannter Weise ein Prüfbit zugeordnet. Zu diesem Zweck wird festgestellt, ob die Anzahl der Schaltzustände »1« im Codewort geradzahlig oder ungeradzahlig ist. Demzufolge andersartigen das Prüfbit den Wert »0« oder »1« an. Verändert sich bis zur nächsten Abtastung der Schaltzustand einer Teilnehmeranschlußleitung dieser Gruppe, dann verändert sich auch die Anzahl der Schaltzustände »1« im Codewort und demzufolge das Prüfbit. Daraus ist schon die Bedingung für die Abtastung abzuleiten. In einem Abtastzyklus dürfen sich mehr als eine Schaltzustandsveränderung in einer Gruppe nur mit vernachlässigbarer Wahrscheinlichkeit vollziehen, wenn man die Veränderungen im Schaltzustand der Teilnehmeranschlußleitungen eindeutig erfassen will.The subscriber lines are combined in a known manner to form a scanning matrix TSM . The 512 subscriber lines of a concentrator remote station can e.g. B. divided into 32 groups of 16 participants each. These subscriber line "last-look procedures" are scanned in groups. A scanning counter Z controls and selects the lines of the scanning matrix TSM. The switching states "0" and "1", ie "line open" and "line closed", of the 16 scanned subscriber lines form a code word with 16 digits. A check bit is assigned to this code word by the check generator PG in a known manner. For this purpose it is determined whether the number of switching states "1" in the code word is an even or an odd number. As a result, the check bit has the value "0" or "1" differently. If the switching status of a subscriber line in this group changes until the next scan, then the number of switching statuses "1" in the code word and consequently the test bit also change. The condition for the scanning can already be derived from this. In a scanning cycle, more than one switching state change in a group can only take place with a negligible probability if the changes in the switching state of the subscriber lines are to be clearly recorded.

Das bei der Abtastung der Gruppe erhaltene Prüfbit wird in einem Speicher-Flip-Flop VFF festgehalten, so daß bei der folgenden Abtastung dieser Gruppe über die Vergleichsschaltung VS ein Vergleich des gerade erhaltenen Prüfbits des Prüfgenerators PG und des im Speicher-Flip-Flop VFF festgehaltenen Prüfbits der vorhergehenden Abtastung durchgeführt werden kann. Bei einer Übereinstimmung dieser Prüfbits wird die Abtastung ohne Abgabe von Informationen fortgesetzt. Bei Nichtübereinstimmung dieser Prüfbits wird das vom Prüfgenerator PG erhaltene Prüfbit in den Speicher-Flip-Flop VFF eingetragen. Über die Vergleichsschaltung VS und die Steuerschaltung S mit dem Taktgeber TG für den Abtastzähler Z wird die Stellung des Abtastzählers Z und das Abtastergebnis der Teilnehmeranschlußleitungen der gerade abgefragten Gruppe in die Speicher X-Sp und V-Sp übernommen. Über diese beiden Informationen steht die Identität der Teilnehmeranschlußleitungen und ihr Schaltzustand fest. Diese Informationen werden in bekannter WeiseThe test bit obtained when the group was scanned is recorded in a memory flip-flop VFF , so that when this group is scanned the comparison circuit VS compares the test bit just received from the test generator PG and that recorded in the memory flip-flop VFF Check bits of the previous scan can be performed. If these check bits match, the scanning is continued without the delivery of information. If these check bits do not match, the check bit received from the check generator PG is entered in the memory flip-flop VFF . Via the comparison circuit VS and the control circuit S with the clock generator TG for the sampling counter Z, the position of the sampling counter Z and the sampling result of the subscriber lines of the group just queried are transferred to the memories X-Sp and V-Sp. The identity of the subscriber lines and their switching status are established via these two pieces of information. This information is presented in a known manner

ίο über die Steuerschaltung Sund den Datensender DSl der Datenleitung DL 1 zum Hauptamt übertragen. Diese Übertragung der Informationen kann unabhängig vom Abtastzyklus durchgeführt werden.ίο transmit the data transmitter DSl of the data line DL 1 to the main office via the control circuit Sund. This transfer of information can be carried out independently of the scanning cycle.

Wird beim Vergleich der Prüfbits Nichtübereinstimmung vorgefunden und sind die Speicher X-Sp und Y-Sp gerade belegt, dann wird das der abgetasteten Gruppe zugeordnete Speicher-Flip-Flop VFF auf das vom Prüfgenerator PG erzeugte Prüfbit eingestellt. Gleichzeitig wird das dem Speicher-Flip-Flop VFF zugeordnete Markier-Flip-Flop MFF eingestellt. Dieses Markier-Flip-Flop MFF zeigt an, daß die dieser Gruppe zugeordneten Informationen noch übertragen werden müssen. Bei einer folgenden Abtastung und freien Speichern X-Sp und Y-Sp wird selbst bei Übereinstimmung der Prüfbits die Zählerstellung und das betreffende Codewort in die Speicher X-Sp und Y-Sp eingetragen. Bei dieser Übertragung wird das Markier-Flip-Flop MFFwieder zurückgestellt. Das Aussenden der in den Speichern X-Sp und V-Sp festgehaltenen Informationen erfolgt wieder unter der Kontrolle der Steuerschaltung S über den Datensender DSl und die Datenleitung DLl.If a mismatch is found when comparing the test bits and the memories X-Sp and Y-Sp are currently occupied, then the memory flip-flop VFF assigned to the group being scanned is set to the test bit generated by the test generator PG. At the same time, the marking flip-flop MFF assigned to the memory flip-flop VFF is set. This marking flip-flop MFF indicates that the information assigned to this group still has to be transmitted. In the case of a subsequent scan and free memories X-Sp and Y-Sp , the counter position and the relevant code word are entered in the memories X-Sp and Y-Sp even if the check bits match. During this transfer, the marking flip-flop MFF is reset again. The information stored in the memories X-Sp and V-Sp is sent out again under the control of the control circuit S via the data transmitter DS1 and the data line DL1.

Wie dieses Ausführungsbeispiel zeigt, werden für 512 Teilnehmeranschlußleitungen nur noch 32 Speicher-Flip-Flops und 32 Markier-Flip-Flops MFFzur Durchführung der Abtastung nach dem »last-look-Verfahren« benötigt. Da bei einem Abtastschritt stets 16 Teilnehmerleitungen abgefragt werden, ergibt sich auch ein genügend kurzer Abtastzyklus, um bei dieser vereinfachten Prüfinformation die Zustandsveränderungen sicher zu erfassen.As this embodiment shows, only 32 memory flip-flops and 32 marking flip-flops MFF are required for 512 subscriber lines to carry out the scan using the "last-look method". Since 16 subscriber lines are always scanned in a scanning step, the scanning cycle is sufficiently short to reliably detect the changes in status with this simplified test information.

Die Größe der Gruppe und die Zuordnung einer Prüfinformation nach anderen Gesichtspunkten kann nach der Erfindung beliebig variiert werden. Dies wirki sich nur in der Ausgestaltung des Prüfgenerators PC und der Speichermittel zum Festhalten und Vergleich dieser andersartigen Prüfinformationen aus.The size of the group and the assignment of test information according to other aspects can be varied as desired according to the invention. This is only reflected in the design of the test generator PC and the storage means for recording and comparing this different type of test information.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings

Claims

Patent claims:

1. Scanning device for a plurality of scanning points that can assume two switching states, z. B. from subscriber lines of a centrally controlled telephone exchange in which the scanning points are queried cyclically for the switching state and the scanning result is compared with the scanning result of the previous scanning and in which a control process is triggered only when the scanning result changes compared to the previous scanning result (so-called lasi-look -Procedure). characterized in that the sampling result of a group (e.g. 16) of sampling points forms a code word from which an associated test information is derived via a test generator (PG) , that only this test information is recorded for the groups of sampling points and with the test information of the previous scanning cycle are compared and that if a test information does not match the associated test information recorded in the previous scanning cycle, a control process is carried out.

2. Scanning device according to claim 1, characterized in that the scanning points are combined to form a scanning matrix (TSM) whose number of columns is determined by the number of scanning points in a group and the number of lines by the number of groups of scanning points.

3. Scanning device according to claim 1 and 2, characterized in that the lines of the scanning matrix (TSM) are scanned cyclically.

4. Scanning device according to claim 1 to 3, characterized in that the two switching states of a scanning point are determined by the logical symbols "0" and "1" that in a scanning result of a group of scanning points via the test generator (PG) the number of logical Symbols "1" are checked and that if there are even numbers a check bit "0" and if there are odd numbers a check bit "1" is generated as check information (parity check).

5. Scanning device according to claim 4, characterized in that each group of scanning points, ie row of the scanning matrix, is assigned a memory flip-flop (VFF) for this test information.

6. Scanning device according to claim 1 to 5, characterized in that during a scan the test information generated by the test generator (PG) and the test information recorded in the associated memory flip-flop (VFF) are compared with each other and that, if they do not match, the test generator (PG ) generated test information is transferred to the memory flip-flop (VFF) .

7. Scanning device according to claim 1 to 6, characterized in that the scanning matrix (TSM) is assigned a scanning counter (Z) and memory (X-Sp, Y-Sp) and that if the test information does not match when comparing the position of the scanning counter (Z ) and the scanning result of the scanned group of scanning points are transferred to the memory (X-Sp, Y-Sp) of the scanning matrix.

8 Scanning device according to Claims 1 to 7, characterized in that a marking flip-flop ('MFf) is assigned to each group of scanning points in addition to the memory flip-flop (VFF) , which when the memory flip-flop (VFF ) is set when the memories (X-Sp, Y-Sp) eier Abiastmatrix (TSM) are occupied, ie can not yet accept the changed scanning result.

9. Scanning device according to claim 8, characterized in that the free memory (X-Sp. Y-Sp) of the scanning matrix (TSM) the position of the Abtasuählers (Z) even if the test information and the set marker flip-flop (MFF) match. and take over the scanning result of the scanned group of scanning points and the marking flip-flop (MFF) is reset.