DE1917043A1 - Scanning device for a large number of scanning points - Google Patents

Scanning device for a large number of scanning points

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DE1917043A1 DE19691917043 DE1917043A DE1917043A1 DE 1917043 A1 DE1917043 A1 DE 1917043A1 DE 19691917043 DE19691917043 DE 19691917043 DE 1917043 A DE1917043 A DE 1917043A DE 1917043 A1 DE1917043 A1 DE 1917043A1
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Johann Hofbauer
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    • H04Q3/42Circuit arrangements for indirect selecting controlled by common circuits, e.g. register controller, marker
    • H04Q3/54Circuit arrangements for indirect selecting controlled by common circuits, e.g. register controller, marker in which the logic circuitry controlling the exchange is centralised

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
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Description

STANDARD ELEKTEIK LORENZ " «-■„„„,-STANDARD ELECTRICAL LORENZ "« - ■ "" ", -

7 S tuttgart-i7 Stuttgart-i

Eallmuth-Hirth-Str. 42Eallmuth-Hirth-Str. 42

J. Hofbauer - 1J. Hofbauer - 1

Abtasteinrichtung für eine Vielzahl von Abtas tpunkt enScanning device for a large number of scanning points

Die Erfindung betrifft eine Abtasteinrichtung für eine Vielzahl von Abtastpunkten, die zwei Schaltzustände einnehmen können, z.B. von Teilnehmeranschlussleitungen einer zentralgesteuerten Pernsprechvermittlungsanlage, bei der die Abtastpunkte zyklisch nach dem Schaltzustand abgefragt und das Abtastergebnis mit dem Abtastergebnis .der vorhergehenden Abtastung verglichen werden und bei der nur bei einer Veränderung des Abtastergebnisses gegenüber dem vorhergehenden Abtastergebnis ein Steuervorgang ausgelöst wird. Eine solche Arbeitsweise einer Abtasteinrichtung ist als sogenanntes "last-look-Verfahren" bekannt geworden.The invention relates to a scanning device for a plurality of scanning points which assume two switching states can, e.g. from subscriber lines of a centrally controlled telephone exchange, in which the sampling points cyclically queried for the switching status and the scanning result with the scanning result. of the previous scanning be compared and in the case of only a change in the scanning result compared to the previous one Scanning result a control process is triggered. Such an operation of a scanning device is called a so-called "last-look method" has become known.

^ernsprechvermittlungsanlagen mit einer derartigen Abtasteinrichtung sind z.B. aus dem Artikel "A High-Speed Line Scanner for Use in an Electronic Switching System" von A. Heiner und L. Gröller, erschienen in der Zeitschrift Bell System Technical Journal, November 1958, oder aus den deutschen Auslegeschriften 1 158 125, 1 137 085 und 1 284 470 bekannt.^ telephone exchanges with such a scanning device are e.g. from the article "A High-Speed Line Scanner for Use in an Electronic Switching System" by A. Heiner and L. Gröller, published in the Bell System Technical Journal, November 1958, or from the German Auslegeschrifts 1 158 125, 1 137 085 and 1 284 470 known.

27.12.1968December 27, 1968

Vo/lg o/oVo / lg o / o

'; ■■-■■-■ 009842/0656'; ■■ - ■■ - ■ 009842/0656

Bei den bekannten Anordnungen sind die Speicherelemente, die bei der Abtastung den Zustand des abgefragten Abtastpunktes bis zur folgenden Abtastung und dem dabei'auszuführenden Vergleich festhalten, zentral angeordnet. Dies hat den Vorteil, dass diese Speicherelemente mit anderen Speicherelementen, z.B. für einen Kennungszuordner, des zentralen Steuerungsteils gemeinsam angeordnet und zusammengefasst und dort vorhandene Schreib- und Leseeinrichtungen mit benützt werden können. Die Abtastung der Abtastpunkte, z.B. der Teilnehmeranschlussleitungen, erfolgt dabei dezentrale Jedes Abtastergebnis wird zur zentralen Steuerung übermittelt, wo dann der Vergleich mit dem gespeicherten Abtastergebnis der vorhergehenden Abtastung durchgeführt wird. Bei Nichtübereinstimmung der Abtastergebnisse werden von der zentralen Steuerung unmittelbar die bekannten Schaltvorgänge ausgelöst. Bei diesen bekannten Anordnungen wird die Vergleichseinrichtung nur einmal pro Fernsprechvermittlungsanlage benötigt. Es muss jedoch bei jedem Abtastschritt der Abtasteinrichtung ein Informationsaustausch zwischen der Abtasteinrichtung und der zentralen Steuerung stattfinden. Dies ist besonders dann von Nachteil, wenn die Abtasteinrichtung in einem Unteramt untergebracht ist und die zentrale Steuerung über das Hauptamt ausgeführt wird. Bei den bekannten Anordnungen muss, wie bereits der Titel der genannten Veröffentlichung zeigt, eine sehr hohe Abtastfrequenz gewählt werden, um bei allen Abtastpunkten im Zeitvielfachbetrieb alle Veränderungen schnell genug zu erfassen«In the known arrangements, the memory elements that during scanning, the status of the scanned scanning point up to the next scanning and the one to be carried out Record comparison, arranged centrally. This has the advantage that these storage elements can be combined with other storage elements, E.g. for an identifier allocator of the central control part arranged and summarized and available there Writing and reading devices can also be used. The scanning of the scanning points, e.g. the subscriber lines, takes place decentralized. Each scanning result is transmitted to the central control, where the Comparison with the stored scanning result of the previous one Scanning is performed. If the scanning results do not match, the central control immediately the known switching processes triggered. In these known arrangements, the comparison device is only used once required per telephone exchange. However, there must be an exchange of information with each scanning step of the scanning device take place between the scanning device and the central controller. This is particularly disadvantageous if the scanning device is accommodated in a sub-office and the central control is carried out via the main office. As the title of the cited publication already shows, the known arrangements require a very high sampling frequency can be selected in order to record all changes quickly enough for all sampling points in time-multiple operation «

Um relativ kurze Wählzeichen zu erfassen, wird in einem Pail vorgeschlagen, zum Wählzeichenempfang die Abtastfrequenz zu erhöhen. Dies bedingt einen erheblichen Aufwand an Schaltmitteln, Die Anforderungen an die Arbeitsgeschwindigkeit der Vergleichseinrichtung und der zentralen Steuerung sind sehr gross, so dass erheblicher Aufwand für die Realisierung benötigt wird.In order to record relatively short dialing characters, a pail proposed to increase the sampling frequency for dial signal reception raise. This requires a considerable amount of switching means. The demands on the operating speed of the comparison device and the central control are very high, see above that considerable effort is required for the implementation.

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J. Hofbauer -J. Hofbauer -

Datei ist das beim Vergleich erhaltene Abtastergebnis in der Regel sehr monoton und zeigt an, dass keine Veränderung eingetreten ist. Die Arbeitsgeschwindigkeit der Vergleichseinrichtung wird nicht nur durch die Dauer der Schaltzustände der..' Abtastpunkte bestimmt, sondern auch durch die Talsache, dass ihr Auftreten unsynchronisiert ist und trotzdem durch Abtastung in einem festen Zyklus erfasst werden soll·The file is the scanning result obtained during the comparison in the Usually very monotonous and indicates that no change has occurred. The speed of operation of the comparator is not only determined by the duration of the switching states of the .. 'sampling points, but also by the fact that their occurrence is unsynchronized and yet by sampling should be recorded in a fixed cycle

Die Abtasteinrichtung nach der deutschen Auslegeschrift 1 284- 470 reduziert nun den redundanten Informationsfluss von der Abtasteinrichtung zu der zentralen Steuerung und damit auch die erforderliche Abtastgeschwindigkeit. Den Abtastpunkten wird neben der Pühlermatrix eine eigene Speichermatrix zugeordnet. In der Speichermatrix wird das Abtastergebnis der vorhergehenden Abtastung gespeichert. Der Vergleich findet in der Abtasteinrichtung selbst statt und lediglich bei einer Veränderung der Abtastergebnisse wird eine Identität über den Abtastpunkt und die erfolgte Veränderung zur zentralen Steuerung übermittelt. Diese Eeduzierung des Informationsflusses ist besonders vorteilhaft, wenn die Abtastung und der Vergleich in einem Unteramt ausgeführt und nur die bei den Veränderungen abgeleiteten Informationen zur zentralen Steuerung des Hauptamtes übertragen werden. Der Aufwand in der Abtasteinrichtung steigt durch die eigene Speichermatrix beachtlich an.The scanning device according to German Auslegeschrift 1 284-470 now reduces the redundant flow of information from the scanning device to the central control and thus also the required scanning speed. The sampling points becomes a separate memory matrix next to the sensor matrix assigned. The scanning result of the previous scanning is stored in the memory matrix. The comparison finds in the scanning device itself and only if the scanning results change, an identity is established via the The scanning point and the changes made are transmitted to the central control system. This reduction in the flow of information is particularly advantageous if the scanning and the comparison are carried out in a sub-office and only those for the changes derived information can be transmitted to the central control of the main office. The effort in the scanning device increases considerably due to its own memory matrix.

Es ist Aufgabe der Erfindung, bei einer Abtasteinrichtung für eine Vielzahl von Abtastpunkten, die nach dem "last-look-Verfahren" arbeitet, den Aufwand an Speicher- und Vergleichsmitteln gegenüber der bekannten Anordnung wesentlich zu reduzieren. Die Abtasteinrichtung für eine Vielzahl von Abtastpunkten, die zwei Schaltzustände einnehmen können, z.B. von Teilnehmeranschlussleitungen einer zentralgesteuerten Perneprechvermittlungsanlage, bei der die Abtastpunkte zyaklisch nach dem Schaltzustand abgefragt und das Abtastergebnis mit dem Abtastergebnis der vorhergehenden Abtastung verglichen werden und bei der nur bei einer Veränderung des Abtastergebnisses gegenüber dem vorhergehenden Abtastergebnis einIt is the object of the invention, in a scanning device for a large number of scanning points, which according to the "last-look method" works to significantly reduce the cost of storage and comparison means compared to the known arrangement. The scanning device for a large number of scanning points which can assume two switching states, e.g. from Subscriber connection lines of a centrally controlled Perneprech exchange system, in which the scanning points are cyclically queried for the switching state and the scanning result with compared to the scan result of the previous scan and only if there is a change in the scanning result compared to the previous scanning result

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J. Hofbauer " .J. Hofbauer " .

Steuervorgang ausgelöst wird, ist nach der Erfindung dadurch gekennzeichnet, dass das Abtastergebnis einer Gruppe von Abtastpunkten ein Codewort bildet, aus dem über einen Prüfτ generator eine zugeordnete Prüfinformation abgeleitet wird, dass nur diese Prüfinformationen füi die Gruppen von Abtastpunkten festgehalten und mit den Prüfinformationen des ' vorhergehenden Abtastzyklus verglichen werden und dass bei ,-> Nichtübereinstimmung einer Prüfinformation mit der zugeordneten, beim vorhergehenden Abtastzyklus festgehaltenen Prüfinformation ein Steuervorgang ausgeführt wird. Bei einer derartigen Ausgestaltung einer Abtasteinrichtung brauchen jeweils nur die Prüfinformationen der verschiedenen Gruppen von Abtastpunkten ■". zwischengespeichert und vergleichen werden. Dies bedingt eine ™ erhebliche Reduzierung der Speichermittel·Control process is triggered, is characterized according to the invention, that the scanning result of a group of Sampling points forms a code word from which a testτ generator an assigned test information is derived, that only this test information for the groups of sampling points recorded and compared with the test information of the 'previous sampling cycle and that with, -> Mismatch of test information with the assigned, test information held in the previous scan cycle a control operation is carried out. With such a Design of a scanning device only need the test information from the various groups of scanning points. be cached and compared. This requires a ™ considerable reduction in storage resources ·

Nach einer weiteren Ausbildung der Erfindung sind die Abtastpunkte zu einer Abtastmatrix zusammengefasst, deren Anzahl der Spalten durch die Anzahl der Abtastpunkte pro 'Gruppe und deren Anzahl der Zeilen durch die Anzahl der Gruppen von Abtastpunkten bestimmt sind. Bei dem zyklischen Abtasten werden jeweils die Abtastpunkte zeilenweise abgefragt.According to a further embodiment of the invention, the sampling points are combined into a sampling matrix, the number of columns by the number of sampling points per group and whose number of lines is determined by the number of groups of sampling points. In the case of cyclic scanning the scanning points are queried line by line.

Der Vergleich und das Speichern der Prüfinformationen wird nach einer besonders einfachen Ausgestaltung dadurch erleichtert, dass die beiden Schaltzustände eines Abtastpunktes durch die logischen Symbole "O" und "1" festgelegt sind, dass bei einem Abtastergebnis einer Gruppe von Abtastpunkten über den Prüfgenerator die Anzahl der logischen Symbole "1" überprüft wird und dass bei geradzahliger Anzahl ein Prüfbit 11O" und bei ungeradzahliger Anzahl ein Prüfbit "1" als Prüfinformation erzeugt wird. Bei dieser parity-bit-Prüfung dürfen in einem Codewort, d.h. in einer Gruppe von Abtastpunkten, mehr als eine Zustandsveränderung in der Zyklusdauer nur mit einer vernachlässigbaren Wahrscheinlichkeit auftreten. Diese Bedingung ist leicht einzuschalten, wenn die Abtastpunkte gruppenweiseAccording to a particularly simple embodiment, the comparison and storage of the test information is facilitated by the fact that the two switching states of a sampling point are defined by the logic symbols "O" and "1" logical symbols "1" is checked and that with an even number a check bit 11 O "and with an odd number a check bit" 1 "is generated as check information. more than one change of state in the cycle duration only occurs with a negligible probability.This condition is easy to switch on if the sampling points are grouped

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abgefragt werden. I*ür die Speicherung dieser einfachen Prüf7 informationen wird jeder Gruppe von Abtastpunkten, d.h. jeder Zeile der Abtastmatrix, nur ein Speicher-Flip-Flop zugeordnet. Die Steuerung dieser Speicher-Flip-F-lops ist so getroffen, dass bei einer Abtastung die vom Prüfgenerator erzeugte Prüfinformation und die im zugeordneten Speicher-Plip-Flop festgehaltene Prüfinformation miteinander verglichen werden und dass bei Nichtübereinstimmung die vom Prüfgenerator erzeugte Prüfinformation in den Speicher-Plip-Flop übernommen wird. Zur Einleitung der Schaltvorgänge zur zentralen Steuerung ist dabei vorgesehen, dass der Abtastmatrix ein Abtastzähler und Speicher zugeordnet sind und dass bei Nichtübereinstimmung der Prüfinformationen beim Vergleich die Stellung des Abtastzählers und das Abtastergebnis der abgestasteten Gruppe von Abtastpunkten in die Speicher der Abtastmatrix übernommen werden. I1Ur den Pail, dass bei Nichtübereinstimmung der Prüfinformationen das veränderte Codewort und die Zählerstellung nicht in die Speicher der Abtastmatrix abgesetzt werden können,, ist jeder Gruppe von Abtastpunkten neben dem Speicher-Flip-Plop ein Markier-Flip-Flop zugeordnet, das bei Veränderung des Speicher-Flip-Plops gesetzt wird, wenn die Speicher der Abtastmatrix belegt sind. Die Übernahme des veränderten Codeworts und der Zählerstellung kann dann bei Übereinstimmung der Prüfinformationen auch bei einer folgenden Abtastung durchgeführt werden. Das gesetzte Markier-Flip-.jFlop zeigt an, dass die Übertragung der Informationen zu den Speichern der Abtastmatrix noch zu erfolgen hat. Nach dem Absetzen der Informationen wird das larkier-Plip-Plop wieder zurückgestellt.be queried. For the storage of this simple test information, only one memory flip-flop is assigned to each group of scanning points, ie to each row of the scanning matrix. These memory flip-flops are controlled in such a way that, when scanning, the test information generated by the test generator and the test information stored in the associated memory flip-flop are compared with one another and that, if they do not match, the test information generated by the test generator is saved in the memory. Plip-flop is taken. To initiate the switching processes to the central control, it is provided that the scanning matrix is assigned a scanning counter and memory and that if the test information does not match, the position of the scanning counter and the scanning result of the scanned group of scanning points are transferred to the memory of the scanning matrix during the comparison. I 1 Ur the Pail that if the test information does not match, the changed code word and the counter setting cannot be stored in the memory of the scanning matrix, a marking flip-flop is assigned to each group of scanning points in addition to the memory flip-plop, which is used in Change of the memory flip-flop is set when the memory of the scanning matrix is occupied. The acceptance of the changed code word and the counter setting can then also be carried out in a subsequent scan if the test information matches. The set marker flip-flop indicates that the information has yet to be transferred to the memories of the scanning matrix. After the information has been deposited, the larkier-Plip-Plop is reset.

Die Erfindung wird anhand einer in der Zeichnung dargestellten Fernsprech-Konzentratoraussenstelle näher erläutert.The invention is illustrated by means of one in the drawing Telephone concentrator field office explained in more detail.

Die Teilnehmerstellen TIn der Konzentratoraussenstelle können in bekannter Weise über ein Koppelfeld Ki1 mit den zum Hauptamt führenden Konzentratorleitungen KI, verbunden werden. DieThe subscriber stations TIn of the concentrator external station can be connected in a known manner via a switching network Ki 1 to the concentrator lines KI leading to the main office. the

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J. Hofbauer - 6 J. Hofbauer - 6

Einstellung des Koppelfeldes KP übernimmt der Markierer E mit dem Pufferspeicher PSP, die über den Datenempfänger DB der Datenleitung DI2 mit der zentralen Steuerung: des Hauptamtes in Verbindung stehen und von dort ihre Einstellinformationen erhalten. Über diesen Verbindungsaufbau und die Gesprächsabwicklung braucht in diesem Zusammenhang nur noch ausgeführt werden, dass auch die Verbindungesätze !K-VS mit den S ende einrichtung en DS2 der Datenleitung DI2 gekoppelt sind.The marker E takes over the setting of the coupling network KP with the buffer memory PSP, which is transmitted via the data receiver DB the data line DI2 with the central control: the main office and get their setting information from there. About this connection establishment and the call handling In this context it only needs to be stated that the connection sets! K-VS with the transmission devices DS2 of the data line DI2 are coupled.

Für die vorliegende Erfindung kommt es nur darauf an, die Teilnehmeranschlussleitungen der Konzentrato raus sensteile abzutasten und nur bei Veränderungen die veränderten Zustände über den Datensender DSl und die Datenleitung DU zum Kaupt-" amt zu übertragen.For the present invention, it only depends on the subscriber lines The focus is to feel the outward parts and only when there are changes the changed conditions via the data transmitter DSl and the data line DU to the main " to transfer office.

Die Teilnehmeranschlussleitungen sind in bekannter Weise zu. einer Abtastmatrix TSM zusammengefasst. Die 512 Teilnehmerleitungen, einer Konzentratoraussenstelle können z.B, in 52 G-ruppen zu. je 16 Teilnehmern unterteilt werden. Diese Teilnehmeranschluss— v leitungen werden gruppenweise abgetastet. Die Steuerung und die Auswahl der Zeilen der Abtastmatrix TSM übernimmt ein Abtastzähler Z. Die Schaltzustände "0" und "1% d.h. »Leitung offen" und "Leitung geschlossen" ,der 16 abgetasteten Teilnehmer— anschlussleitung en bilden ein Codewort mit 16 Stellen., Diesem Codewort wird durch den Prüfgenerator P(J- in bekannter Weise ein Prüfbit zugeordnet. Zu diesem Zweck wird festgestellt,: ob die Anzahl der Schaltzustände "1" im Codewort geradzahlig oder ungeradzahlig ist. Demzufolge nimmt das Prüfbit den Wert "Q" oder "1" an. Verändert sich bis zur nächsten Abtastung der Schaltzustand einer Teilnehmeranschlusslextung dieser Gruppe, dann verändert sich auch die Anzahl der Schaltzuatände "1" im Codewort und demzufolge das Prüfbit. Daraus ist schon die ", Bedingung für die Abtastung abzuleiten. In einem Abtastzyklus dürfen sich mehr als eine Schaltzustandsveränderung in einer Gruppe nur mit vernachlässigbarer Wahrscheinlichkeit vollziehen, wenn man die Veränderungen im Schaltzustand, der Teilnehmeranschlussleitungen eindeutig erfassen wsill«The subscriber lines are closed in a known manner. summarized in a scanning matrix TSM. The 512 subscriber lines of a concentrator branch office can, for example, be divided into 52 groups. 16 participants each. These lines Subscriber Loop v groups are scanned. The control and the selection of the lines of the scanning matrix TSM is carried out by a scanning counter Z. The switching states "0" and "1% ie" line open "and" line closed ", of the 16 scanned subscriber lines form a code word with 16 digits., A check bit is assigned to this code word by the check generator P (J- in a known manner. For this purpose, it is determined: whether the number of switching states "1" in the code word is an even or an odd number. Accordingly, the check bit takes the value "Q" or " 1 1 ". modified until the next sampling of the switching state of a Teilnehmeranschlusslextung this group, then the number of Schaltzuatände changed""in the code word, and accordingly the check bit. it is already the" to derive a condition for the sample. in one scanning cycle More than one change of switching state may only occur in a group with a negligible probability, if one considers the changes in the switching state, the part clearly record subscriber connection lines wsill «

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Sas bei der Abtastung der Gruppe erhaltene Prüfbit wird in einem Speicher-Flip-Flop YFF festgehalten, so dass bei der folgenden Abtastung dieser Gruppe über die Vergleichsschaltung VS ein Vergleich des gerade erhaltenen Prüfbits des Prüfgenerators PG und des im Speicher-Flip-Flop VFF festgehaltenen Prüfbits der vorhergehenden Abtastung durchgeführt werden kann. Bei einer Übereinstimmung dieser Prüfbits wird die Abtastung ohne Abgabe von Informationen fortgesetzt. Bei Nichtübereinstimmung dieser Prüfbits wird das vom Prüfgenerator PG erhaltene Prüfbit in den Speicher-Flip-Flop VFF eingetragen. Über die· Vergleichsschaltung' VS und die Steuerschaltung S mit dem Taktgeber TG für den Abtastzähler Z wird die Stellung des -Abtastzählers Z und das Abtastergebnis der Teilnehmeranschlussleitungen der gerade abgefragten Gruppe in die Speicher X-Sp und Y-Sp übernommen. Über diese beiden Informationen steht die Identität der Teilnehmeranschlussleitungen und ihr Schaltzustand fest. Diese Informationen werden in bekannter Weise über die Steuerschaltung S und den Datensender DS1 der Datenleitung DLI zum Hauptamt übertragen. Diese Übertragung der Informationen kann unabhängig vom Abtastzyklus durchgeführt werden.The check bit obtained when the group was scanned is shown in held in a memory flip-flop YFF so that the following scanning of this group via the comparison circuit VS a comparison of the test bit just received from the test generator PG and the check bits held in the memory flip-flop VFF of the previous scan can be carried out. If these check bits match, the sampling continued without providing any information. If these check bits do not match, the one received from the check generator PG Check bit entered in the memory flip-flop VFF. Via the comparison circuit VS and the control circuit S with the clock generator TG for the sampling counter Z is the position of the sampling counter Z and the sampling result of the subscriber lines of the group just queried are transferred to the memories X-Sp and Y-Sp. Above these two pieces of information is the Identity of the subscriber lines and their switching status fixed. This information is transmitted in a known manner via the control circuit S and the data transmitter DS1 of the data line DLI transferred to the main office. This transfer of information can be carried out independently of the scanning cycle.

Wird beim Vergleich der Prüfbits Nichtübereinstimmung vorgefunden und sind die Speicher X-Sp und Y-Sp gerade belegt, dann wird das der abgetasteten Gruppe zugeordnete Speicher-Flip-Flop VFF auf das vom Prüfgenerator PG erzeugte Prüfbit eingestellt. Gleichzeitig wird das dem Speicher-Flip-Flop VFF zugeordnete Markier-Flip-Flop ISFF eingestellt. Dieses MarkierFlip-Flop MFF zeigt an, dass die dieser Gruppe zugeordneten Informationen noch übertragen werden müssen. Bei einer folgenden Abtastung und freien Speichern X-Sp und Y-Sp wird selbst bei Übereinstimmung der Prüfbits die Zählerstellung und das betreffende .Codewort in die Speicher X-Sp und Y-Sp eingetragen. Bei dieser Übertragung wird das Markier-Flip-Flop MFF wieder zurückgestellt. Das Aussenden der in den Speichern X-Sp und Y-Sp festgehaltenen Informationen erfolgt wieder unter der Kontrolle der Steuerschaltung S über den Datensender DS1 und. die Datenleitung DLLIf a mismatch is found when comparing the check bits and the memories X-Sp and Y-Sp are currently occupied, then the memory flip-flop VFF assigned to the group being scanned is set to the test bit generated by the test generator PG. At the same time, the marking flip-flop ISFF assigned to the memory flip-flop VFF is set. This marking flip-flop MFF indicates that the information assigned to this group has yet to be transmitted. In a following Sampling and free storage X-Sp and Y-Sp will be the counter position and the relevant one even if the check bits match .Code word entered in the memories X-Sp and Y-Sp. With this transfer, the marking flip-flop becomes MFF again deferred. The information stored in the memories X-Sp and Y-Sp is sent out again under the Control of the control circuit S via the data transmitter DS1 and. the data line DLL

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J. Hofbauer -J. Hofbauer -

Wie dieses Ausführungsbeispiel zeigt, werden für 512 Teilnehmeransohlussleitungen nur noch .32 Speicher-Flip-Flops und Markier-Flip-Flops MFF zur Durchführung der Abtastung nach dem "last-look-Verfahren" benötigt. Da bei einem Abtasta&ritt stets 16 Teilnehmerleitungen abgefragt werden, ergibt sich auch ein genügend kurzer Abtastzyklus, um bei dieser vereinfachten Prüfinformation die Zustandeveränderungen sicher zu erfassen.As this exemplary embodiment shows, there are 512 subscriber connection lines only .32 memory flip-flops and marker flip-flops MFF to carry out the scanning after the "last-look-procedure" is required. Since at a scanning a & rode 16 subscriber lines are always queried, results a sufficiently short scan cycle to take this simplified test information the changes of state safely capture.

Die Grosse der Gruppe und die Zuordnung einer Prüfinformation nach anderen Gesichtspunkten kann nach der Erfindung beliebig variiert werden. Dies wirkt sich nur in der Ausgestaltung des Prüfgenerators PG und der Speichermittel zum Festhalten und Vergleich dieser andersartigen Prüfinformationen aus.The size of the group and the assignment of test information according to other aspects, according to the invention, any can be varied. This only affects the design of the test generator PG and the storage means for holding and comparison of this different type of test information.

9 Patentansprüche9 claims

1 Bl. Zeichn., 1 Fig.1 sheet of drawing, 1 fig.

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Claims (1)

Pat entansprüchePatent claims Abtasteinrichtung für eine Vielzahl von Abtastpunkten, die zwei Schaltzustände einnehmen können, z.B. von Teilnehmeranschlussleitungen einer zentralgesteuerten lemsprechvermittlungsanlage, bei der die Abtastpunkte zyklisch nach dem Schaltzustand- abgefragt und das Abtastergebnis mit dem Abtastergebnis der vorhergehenden Abtastung, verglichen werden und bei der nur bei einer Veränderung des Abtastergebnisses gegenüber dem vorhergehenden Abtastergebnis ein Steuervorgang ausgelöst wird (sogenanntes last-look-Verfahren), dadurch gekennzeichnet, dass das Abtastergebnis einer Gruppe (z.B. 16) von Abtastpunkten ein Öodewort bildet, aus dem über einen Prüfgenerator (PG) eine zugeordnete Prüfinformation abgeleitet wird, dass nur diese Prüfinformationen für die Gruppen von Abtastpunkten festgehalten und mit den Prüfinformationen des vorhergehenden Abtastzyklus verglichen werden und dass bei Nichtübereinstimmung einer Prüfinformation mit der zugeordneten, beim vorhergehenden Abtastzyklus festgehaltenen Prüfinformation ein Steuervorgang ausgeführt wirsU.-- ■-,----^-^■^-,-^-^'^'^^-■rcj:;^^. Scanning device for a large number of scanning points that can assume two switching states, e.g. from subscriber lines of a centrally controlled communication switching system, in which the scanning points are queried cyclically according to the switching state and the scanning result is compared with the scanning result of the previous scanning and in which only when the The scanning result is triggered compared to the previous scanning result (so-called last-look method), characterized in that the scanning result of a group (e.g. 16) of scanning points forms an Öodeword, from which assigned test information is derived via a test generator (PG), that only this test information for the groups of sampling points is recorded and compared with the test information of the previous sampling cycle and that if a test information does not match with the assigned test information from the previous sampling cycle, it is recorded In the test information, a control process is carried out U .-- ■ -, ---- ^ - ^ ■ ^ -, - ^ - ^ '^' ^^ - ■ rcj:; ^^. Abtasteinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Abtastpunkte zu einer Abtastmatrix (TSM) zusammengefasst sind, deren Anzahl· der gpalteja ;durch d4&:.. punkteeiner "Gruppe und deren Anzahl der Zeilen durch die Anzahl der Gruppen von Abtastpunkten bestimmt sind.Scanning device according to Claim 1, characterized in that the scanning points are combined to form a scanning matrix (TSM) are whose number of gpalteyes; by d4 &: .. points of a "group and the number of lines of which are determined by the number of groups of sampling points. 5. Abtasteinrichtung nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Zeilen der Abtastmatrix (TSM) zyklisch abgetastet v/erden.5. Scanning device according to claim 1 and 2, characterized in that that the lines of the scanning matrix (TSM) are scanned / grounded cyclically. 4· Abtasteinrichtung nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, das3 die beiden Schaltzustande eines Abtastpunktes durch die logischen Symbole 11O" und "1" festgelegt sind, dass bei einem Abtastergebnis einer Gruppe von Abtastpunkten über den4 · Scanning device according to claims 1 to 3, characterized in that the two switching states of a scanning point are determined by the logic symbols 11 O "and" 1 ", so that in the case of a scanning result of a group of scanning points via the 27.12.1963December 27, 1963 Vo/lg 009842/Π656 ./<Vo / lg 009842 / Π656 ./ < OfJiGfNAt INSPECTEDOfJiGfNAt INSPECTED J. Hof tauer 1V , J. Hof tauer 1V , Prüf gener a tor (PG-) die Anzahl der logischen Symbole "1" überprüft wird und dass bei geradzahliger Anzahl ein Prüfbit "0" und bei ungeradzahliger Anzahl ein Prüfbit "1" als Prüfinformation erzeugt wird"(parity-check).Check generator (PG-) the number of logical symbols "1" is checked and that with an even number a check bit "0" and with an odd number a check bit "1" as check information is generated "(parity check). 5. Abtasteinrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass jeder Gruppe von Abtastpunkten, d.h. Zeile der Abtastmatrix, ein Speicher-Plip-Plop (VPP) für diese Prüfinformation zugeordnet ist.5. Scanning device according to claim 4, characterized in that each group of scanning points, i.e. row of the scanning matrix, a memory flip-plop (VPP) for this test information assigned. 6. Abtasteinrichtung nach Anspruch 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass bei einer Abtastung die vom Prüfgenerator (PG) erzeugte Prüfinformation und die im zugeordneten Speicher-Plip-6. Scanning device according to claim 1 to 5, characterized in that that during a scan the test information generated by the test generator (PG) and the in the assigned memory plug-in w Plop (VPP) festgehaltene Prüfinformation miteinander verglichen werden und dass bei Nichtübereinstimmung die vom Prüfgenerator (PG) erzeugte Prüfinformation in den Speicher-Plip-Plop (VPP) übernommen wird. w Plop (VPP) recorded test information are compared with one another and that if they do not match, the test information generated by the test generator (PG) is transferred to the memory Plop-Plop (VPP). 7. Abtasteinrichtung nach Anspruch 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass d.er_Abtastmatrix -4£SJ£) .ein•■^t^^S^hleSr-Xz^^u^^E""7. Scanning device according to claim 1 to 6, characterized in that that the_scanning matrix -4 £ SJ £). a • ■ ^ t ^^ S ^ hleSr-Xz ^^ u ^^ E "" -'-■"--;^^3'--"~-Sp:e±eni§r~ fX-Spi^ Y-SpX "zugeordnet sind und dass bei Nichtübereinstimmung der Prüfinformationen beim Vergleich die Stellung des Abtastzählers (Z) und das. Abtastergebnis der abgetasteten Gruppe vori^ _4btas.^Bunkten,.._i^..Äi^^eiQh.eir, 4fe§gf.r -'- ■ "- ; ^^ 3 '-" ~ -Sp : e ± eni§r ~ fX-Spi ^ Y-SpX "are assigned and that if the test information does not match during the comparison, the position of the sampling counter (Z) and the. Scanning result of the scanned group vori ^ _4btas. ^ Bunkten, .._ i ^ .. Äi ^^ eiQh.eir, 4fe§gf.r '-""**" Y-SpJ""der~AWäs-taiatrix übernommen werden. '- "" ** " Y-SpJ""of the ~ AWäs-taiatrix are adopted. 8. Abtasteinrichtung nach Anspruch 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass jeder Gruppe von Abtastpunkten neben dem Speicher-Plip-Plop (VPP) ein Markier-Plip-Plop (MPP) zugeordnet ist, das bei Veränderung des Speicher-Plip-Plops (VPP) gesetzt wird, wenn die Speicher (X-Sp, Y-Sp) der Abtastmatrix (TSM) belegt sind, d.h. das veränderte Abtastergebnis noch nicht übernehmen können.8. Scanning device according to claim 1 to 7, characterized in that that each group of sampling points is assigned a marking-flip-plop (MPP) in addition to the storage plip-plop (VPP) is that when the memory plip-plop (VPP) changes is set when the memories (X-Sp, Y-Sp) of the scanning matrix (TSM) are occupied, i.e. the changed scanning result not yet able to take over. 009842/0656009842/0656 ORIGINAL INSPECTEDORIGINAL INSPECTED J. Hofbauer - f J. Hofbauer - f Abtasteinrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass auch bei Übereinstimmung der Prüfinformationen und gesetztem Markier-Flip-Flop (MPF) die freien Speicher (X-Sp, Y-Sp) der Abtastmatrix (TSM) die Stellung des Abtasteählers (Z) und das Abtastergebnis der abgetasteten Gruppe von Abtastpunkten übernehmen und das Markier-Flip-Flop (MFF) zurückgestellt wird.Scanning device according to Claim 8, characterized in that even if the test information and the set Marking flip-flop (MPF) the free memory (X-Sp, Y-Sp) of the scanning matrix (TSM) the position of the scanning counter (Z) and take over the scanning result of the scanned group of scanning points and the marking flip-flop (MFF) is postponed. 0098 42/0656 omomAL INSPECTED 0098 42/0656 omomAL INSPECTED LeerseiteBlank page
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