DE1806933C

DE1806933C - Procedure for testing circuit assemblies

Info

Publication number: DE1806933C
Authority: DE
Inventors: Werner Ambrosch Wolf Dietrich 1000 Berlin Prehm
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Publication date: 1972-09-07

Description

2525th

Es sind mehrere programmgesteuerte elektrische Prüfeinrichtungen bekannt, die für die Prüfung von noch in der Entwicklung stehenden oder einer Fertigung entnommenen Schaltungsbaugruppen eingesetzt werden. Diese Prüfeinrichtungen beinhalten im wesentlichen ein ein- oder mehrstufiges Koppelfeld, das einerseits mit markanten Punkten der zu prüfenden Schaltungsbaugruppe, andererseits mit Prüf- und Meßeinheiten der Prüfeinrichtung verbunden ist.There are several program-controlled electrical test equipment known that are used for testing Circuit assemblies still under development or taken from production are used will. These test facilities essentially contain a single or multi-stage switching network, on the one hand with distinctive points of the circuit assembly to be tested, on the other hand with test and Measuring units of the test device is connected.

Zur Realisierung eines derartigen Koppelfeldes eignen sich im Prinzip nahezu alle bekannten Koppelprinzipien, d. h., daß sowohl »crosspoint«- und »crossbar«-Koppelfelder als auch im wesentlichen aus Drehwählern bestehende Koppelfelder eingesetzt werden können. Ein für diesen Zweck einsetzbares Koppelfeld ist beispielsweise in der deutschen Patentschrift 1176 205 beschrieben, bei der ein Kreuzschienenmehrfachschalter Teil eines elektrischen Schaltprogrammstellers ist und für die Durchschaltung von mehreren Fernmeldeverbindungen zwischen jeweils einem ankommenden Spaltenleiter, z. B. für Meßstellenanschlüsse, einerseits, und jeweils einem der die Spaltenleiter kreuzenden Zeilenleiter, z. B. für Verstärkerkanalschlüsse, andererseits ?orgt.In principle, almost all known coupling principles are suitable for implementing such a switching network, d. that is, both "crosspoint" and "crossbar" switches as well as essentially Coupling fields consisting of rotary selectors can be used. One that can be used for this purpose Coupling network is described, for example, in German patent specification 1176 205, in which a crossbar multiple switch Part of an electrical switch programmer and for switching through of several telecommunication connections between each one incoming column conductor, z. B. for Measuring point connections, on the one hand, and in each case one of the row conductors crossing the column conductors, e.g. B. for amplifier channel connections, on the other hand?

Die Durchschaltung des innerhalb der programmgesteuerten elektrischen Prüfeinrichtung eingesetzten Koppelfeldes, d. h. die Zuordnung bestimmter Leitungen oder Baugruppen zu entsprechend ausgewählten Prüf- und Meßeinheiten erfolgt nach Maßgabe eines Programms, das im allgemeinen in Form von Lochstreifen oder Lochkarten erstellt ist und mittels geeigneter Adapter logische Funktionen innerhalb des Koppelfeldes ausführt.The connection of the used within the program-controlled electrical test device Switching matrix, d. H. the assignment of certain lines or assemblies to appropriately selected ones Test and measurement units are carried out in accordance with a program, which is generally in the form of Punched tape or punched cards is created and logical functions within the Executes switching matrix.

Die beschriebenen Prüfeinrichtungen eignen sich insbesondere für die automatische Prüfung von serienmäßig hergestellten Geräten mit vorwiegend passiven diskreten Bauelementen, wobei zur Erleichterung des Anschlusses der Prüfeinrichtung an den Prüfling die zur Erfassung durch die Prüfeinrichtung vorgesehenen Schaltungspunkte auf einen Anschlußverteiler geführt werden, der im allgemeinen in Form einer Andruckleiste ausgeführt ist. Eine solche Ausbildung ermöglicht gegebenenfalls auch den selbsttätigen Anschluß eines Prüflings sowie dessen automatischen Weitertransport.The test facilities described are particularly suitable for the automatic testing of mass-produced devices with predominantly passive discrete components, whereby for relief the connection of the test device to the test item for detection by the test device provided circuit points are performed on a connection distributor, which is generally in the form a pressure strip is carried out. Such training may also enable self-employed Connection of a test item and its automatic further transport.

Bei den bekannten Priifeinrichtungen erfolgt die Beschallung des Anschlußverteilers der zu prüfenden Schaltungsbaugruppen derart, daß in Verbindung mit dem Koppelfeld der Prüfeinrichtung systembedingte Funktionskreise an den Meß- und Prüfeinheiten erfaßt werden; es werden also durch die Prüfeinheiten im Zusammenwirken mit dem Koppelfeld sämtliche Funktionen, die zur Herstellung eines systembedingten Funktionskreises notwendig sind, ausgeführt und gleichzeitig oder anschließend durch die Meßeinheiten die relevanten Parameter des" Funktionskreises meßtechnisch erfaßt und registriert. Im Prinzip führt damit die Prüfeinrichtung eine der Anzahl der vorhandenen systembedingten Funktionskreise entsprechende Zahl von Funktionsprüfungen durch.In the case of the known test devices, the connection distributor is exposed to the sound of the device to be tested Circuit assemblies in such a way that, in connection with the coupling network of the test device, system-related Functional circuits are recorded on the measuring and testing units; So it will be through the test units in cooperation with the switching network, all functions necessary for the production of a system-related Functional circuit are necessary, executed and simultaneously or subsequently by the measuring units the relevant parameters of the "functional circuit are measured and registered. In principle, leads so that the test device has one of the number of existing system-related functional circuits Number of functional tests.

Im Prinzip das gleiche gilt auch für Geräte der Unterhaltungselektronik bzw. — wie aus der fransösischen Patentschrift 1 537 277 bekannt ist — auch für Geräte der Datenverarbeitungstechnik, bei denen besondere Prüfpunkte der Geräte gut zugänglich angelegt sind. Da die Funktion dieser Geräte im wesentlichen auf die spezifischen Eigenschaften aktiver Bauelemente gegründet ist, deren dynamisches Verhalten besonders interessiert, erfolgt die Prüfung im allgemeinen so, daß an den Prüfpunkten Signale — im besonderen Wechselstromsignale — abgenommen werden, die mit vorgegebenen Standards verglichen werden.In principle the same applies to entertainment electronics devices or - as from the French Patent specification 1 537 277 is known - also for devices in data processing technology, in which special test points for the devices are easily accessible. Because the function of these devices is essentially is based on the specific properties of active components, their dynamic behavior particularly interested, the test is generally carried out so that signals at the test points - im special alternating current signals - are taken, which are compared with predetermined standards will.

Sowohl bei einer reinen Funktionsprüfung als auch bei einer mittelbaren Prüfung der Funktion über einen Vergleich mit Standards können die erfaßten Funktionskreise oftmals einen verhältnismäßig großen Umfang haben, d. h. eine große Anzahl von passiven oder aktiven Bauelementen beinhalten; bei Auftreten eines Fehlers und der Registrierung desselben kann deshalb nicht ohne weiteres auf den unmittelbaren Fehlerort zurückgeschlossen werden. Vielmehr muß ein Prüfer, um den auftretenden Fehler lokalisieren und beseitigen zu können, bei Auftreten einer Fehlfunktion in der Lage sein, aus der Art des aufgetretenen Fehlers, d. h. aus der Abweichung der erhaltenen Meßwerte bzw. Kurvenformen gegenüber den festgelegten bzw. programmierten Sollwerten, die Fehlerursache und damit den Fehlerort zu erkennen. Dazu ist aber eine intime Kenntnis der Schaltungsfunktionen der geprüften Schaltungsbaugruppe notwendig, so daß nur qualifiziertes Personal für diese Arbeit einsetzbar ist. Selbst unter dieser Voraussetzung lassen sich jedoch oftmals bei Auftreten einer Fehlfunktion gegenüber dem Zeitraum des eigentlichen Prüfungsablaufes verhältnismäßig lang dauernde Suchvorgänge nicht verhindern, so daß die Effektivität der beschriebenen Prüfungsverfahren stark gemindert wird.Both with a pure function test and with an indirect test of the function via When compared with standards, the functional groups recorded can often be relatively large Have scope, d. H. contain a large number of passive or active components; when occurring of an error and the registration of the same cannot therefore easily be applied to the immediate Error location can be deduced. Rather, an auditor must localize the error that occurs and to be able to eliminate, in the event of a malfunction, to be able to from the nature of the occurred Error, d. H. from the deviation of the measured values or curve shapes obtained to recognize the defined or programmed setpoints, the cause of the error and thus the location of the error. In addition, however, intimate knowledge of the circuit functions of the tested circuit assembly is required necessary so that only qualified personnel can be used for this work. Even under this However, prerequisites can often be met when a malfunction occurs compared to the period do not prevent comparatively long searches during the actual examination process, so that the effectiveness of the test procedures described is greatly reduced.

Dies gilt im besonderen Maße auch für die aus der deutschen Auslegeschrift 1271262 und der deutschen Patentschrift 926 673 bekannten Prüfeinrichtungen. Bei der ersten dieser beiden Prüfeinrichtungen werden sämtliche Transistoren eines Gerätes an eine erste gemeinsame Versorgungsspannung gelegt und die Steuerkreise der Transistoren mittels einer zweiten Spannungsquelle mit einer Vorspannung versehen.This also applies in particular to those from the German Auslegeschrift 1271262 and the German patent specification 926 673 known testing devices. At the first of these two test facilities all transistors of a device are connected to a first common supply voltage placed and the control circuits of the transistors by means of a second voltage source with a bias voltage Mistake.

Durch Änderung des Betragsverhältnisses dieser beiden Versorgungsspannungen wird die Grenze festgestellt, bei der die Gesamtanlage noch funktions-By changing the ratio of these two supply voltages, the limit becomes found, in which the entire system is still functional

tüchtig ist. Der Wert dieser Grenze wird dabei als Kriterium für die Zweckmäßigkeit eines Ersetzens von Transistoren benutzt.is efficient. The value of this limit is used as a criterion for the expediency of a replacement used by transistors.

Bei der zweiten der beiden Prüfeinrichtungen, die der Prüfung einer Verzonungseinrichtung einer Fernsprechanlage dient, arbeiten im wesentlichen vier Einrichtungen in der Weise zusammen, daß die erste Einrichtung die einzelnen Prüfgänge einleitet und die zweite Einrichtung, welche gemäß den Tarifen zugeordneten Zonenke.nnzahlen eingestellt ist, veranlaßt, mittels der dritten Einrichtung die synchrone Einstellung der Zonenwähler der Verzonungseinrichtung und des Nachbildzonenwählers vorzunehmen und gleichzeitig in der vierten Einrichtung Stromkreise vorbereitet, wodurch die von der Verzonungseinrichtung entsprechend der Einstellung des Zonenwählers ausgesandten und mittels der dritten Einrichtung ausgewerteten Zählimpulse auf ihre Richtigkeit überprüft werden.In the second of the two test devices, the test of a zoning device of a telephone system serves, essentially four devices work together in such a way that the first Establishment initiates the individual test courses and the second device, which is set according to the zone numbers assigned to the tariffs, causes the synchronous setting of the zone selector of the zoning device by means of the third device and the afterimage zone selector and at the same time in the fourth device circuits prepared by the zoning device according to the setting of the zone selector sent and evaluated by means of the third device counting pulses for correctness to be checked.

Bei beiden bekannten Prüfeinrichtungen sind also ao eine Vielzahl von Elementen der zu prüfenden Schaltungsbaugruppe an einem Prüfschritt beteiligt, so daß bei Erkennung eines Fehlers das Lokalisieren des eigentlichen Fehlerortes, insbesondere auch bei Vorliege mehrerer Fehlerursachen, sehr langwierig ist. asIn both known test devices, a large number of elements are to be tested Circuit assembly involved in a test step, so that the localization when an error is detected the actual location of the error, especially when there are several causes of the error, is very tedious. as

Ein weiterer Nachteil der bekannten Einrichtungen zur Prüfung von Schaltungsbaugruppen liegt auf dem Gebiet der Erstellung von Unterlagen für die Programmsteuerung der Prüfeinrichtungen. Bei der Prüfung von Schaltungsbaugruppen, die umfassend oder in Form einer Stichprobe der laufenden Fertigung entnommen werden, besteht beim Einsatz von programmgesteuerten Prüfeinrichtungen zwangläufig die Notwendigkeit, jeweils ein Programm für jede Schaltungsbaugruppe zu erstellen. Aus den als Urbelege der Schaltungsbaugruppen anzusehenden Schaltzeichnungen muß also ein die Prüfeinrichtung steuerndes Programm erstellt werden. Der Zeitaufwand für das Umsetzen der Daten der Urbelege in ein entsprechendes Programm erforderte aber bisher bei den bekannten Prüfeinrichtungen einen verhältnismäßig großen Zeitaufwand, der sich auf die Wirtschaftlichkeit des Prüfverfahrens sehr nachteilig auswirkt.Another disadvantage of the known devices for testing circuit assemblies is on the Area of the creation of documents for the program control of the test facilities. During the exam of circuit assemblies, comprising or in the form of a sample of the current production are taken, there is inevitably the use of program-controlled test equipment Need to create a program for each circuit assembly. From the as original evidence The circuit drawings to be viewed of the circuit assemblies must therefore be a control system for the test equipment Program to be created. The time required to convert the data from the original documents into a corresponding one Up to now, however, the program required a relatively large number of known test facilities large expenditure of time, which has a very detrimental effect on the cost-effectiveness of the test method.

Die Erfindung geht aus von einem Verfahren zur Prüfung der Funktionstüchtigkeit von vorwiegend mit passiven diskreten Bauelementen bestückten serienmäßig gefertigten Schaltungsbaugruppen mittels einer programmgesteuerten Prüfeinrichtung mit einem Koppelfeld, das einen Anschlußverteiler mit Eingangs-, Ausgangs- und Versorgungsanschlüssen der so Schaltungsbaugruppe mit Prüf- und Meßeinheiten verbindet.The invention is based on a method for checking the functionality of predominantly with series-produced circuit assemblies fitted with passive discrete components by means of a program-controlled test device with a coupling field, which has a connection distributor with input, Output and supply connections of the circuit assembly with test and measuring units connects.

Die Erfindung beabsichtigt, eine weitreichende Rationalisierung des Prüfvorgangs durch eine möglichst weitgehende direkte Verarbeitung der als Urbelege anzusehenden Schaltzeichnungen und durch eine Verkürzung der Suchzeit bei der Lokalisierung von Fehlerorten zu erreichen.The invention intends a far-reaching rationalization of the test process by a possible extensive direct processing of the circuit drawings, which are to be regarded as original documents, and through to shorten the search time when locating fault locations.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß an den Anschlußverteiler weitere Punkte der Baugruppe geführt sind, die so ausgewählt werden, daß Teilstromkreise gebildet werden, die jeweils unabhängig von den systembedingten Zuordnungen zusammengefaßte Bauelemente enthalten und in denen jeweils eine Widerstandsmessung erfolgt, wobei die Ergebnisse der Widerstandsmessung einen Rückschluß auf die Funktionstüchtigkeit der gesamten Schaltungsbaugruppe ermöglichen.According to the invention, this object is achieved by adding further points to the connection distributor the assembly are performed, which are selected so that partial circuits are formed, each Contain combined components regardless of the system-related assignments and in each of which a resistance measurement takes place, whereby the results of the resistance measurement one Allow conclusions to be drawn about the functionality of the entire circuit assembly.

Der Begriff der Widerstandsmessung ist dabei im weitesten Sinne aufzufassen; die Widerstandsmessangen können sich also sowohl auf rein ohmsche Widerstände, auf reine Scheinwiderstände als auch auf Impedanzen beziehen. Die Überprüfung von Widerständen in Teilstromkreisen muß dabei nicht unbedingt das allein interessierende Ergebnis einer Widerstandsmessung sein, sondern kann auch ein Mittel zur Feststellung anderer interessierender Werte darstellen. So können beispielsweise zwei oder mehrere Widerstandsmessungen einen Rückschluß über Dämpfungseigenschaften von Stromkreisen ermöglichen und durch Beobachtung der Zeit vom Anlegen einer Spannung an ein Relais bis zum Schließen eines Kontaktes (Übergang vom Widerstand 00 zum Widerstand 0) die Anzugszeit eines Relais geprüft werden.The term resistance measurement is to be understood in the broadest sense; the resistance measuring rods can refer to purely ohmic resistances, to pure apparent resistances as well as to impedances. The checking of resistances in partial circuits does not necessarily have to be the only interesting result of a resistance measurement, but can also be a means of determining other values of interest. For example, two or more resistance measurements can provide a conclusion about the damping properties of circuits and the response time of a relay can be checked by observing the time from applying a voltage to a relay to closing a contact (transition from resistor 00 to resistor 0).

Als wesentlich für die Erfindung ist weiterhin anzusehen, daß bereits im Entwicklungsstadium eines Gerätes bzw. einer Schaltungsbaugruppe bei der Festlegung der Bauschaltpläne die spätere rationelle Prüfbarkeit berücksichtigt wird.As essential for the invention is also to be seen that already in the development stage of a Device or a circuit assembly when defining the wiring diagrams the later rational Verifiability is taken into account.

Aus der deutschen Auslegeschrift 1126 034 ist bereits eine Prüfeinrichtung bekannt, die dem erfindungsgemäßen Verfahren insofern ähnlich arbeitet, als sie die nacheinander erfolgende Prüfung einzelner in einer Schaltungsbaugruppe vorhandener Transistoren vorsieht. Die Prüfung bezieht sich also im Unterschied zu der Erfindung nicht auf passive, sondern auf aktive Bauelemente und beinhaltet als wesentliches Prüfungskriterium die optische Beobachtung der Wellenform einer die Transistoren im B-Betrieb speisenden Spannung mittels eines Oszillografen. Diese Prüfmethode läßt — wenn man nicht an aufwendige fotografische Registriei methoden denkt — kaum den Einsatz eines automatischen Prüfverfahrens zu.From the German Auslegeschrift 1126 034 a test device is already known that the invention The method works in a similar way, as it is the successive testing of individual provides transistors present in a circuit assembly. The test therefore relates to the Difference to the invention not on passive, but on active components and includes as The essential test criterion is the visual observation of the waveform of the transistors in the B-mode supply voltage by means of an oscilloscope. This test method can - if you don't thinks of elaborate photographic registration methods - hardly the use of an automatic one Test procedure too.

Die Anzahl der Bauelemente je Teilstromkreis kann im Rahmen der Erfindung durchaus unterschiedlich sein, zweckmäßigerweise wird jedoch eine sinnvolle Relation zwischen der Koppelfeldgröße, die weitgehend durch die Zahl der Anschlüsse des Anschlußverteilers gegeben ist und der Zahl der einzelnen Prüf- und Meßschritte gewählt werden. Unter den in einem Prüfschritt geschalteten Prüfkreisen seien hierbei Schaltkreise verstanden, die Hilfsoperationen zur Ermöglichung der meßtechnischen Erfassung bestimmter Parameter von Bauelementen ermöglichen. Soll z. B. der Widerstandswert eines Relais in einem Meßkreis gemessen werden, der den Kontakt eines weiteren Relais enthält, so muß vor dem eigentlichen Meßschritt — Widerstandsmessung — ein Prüfschritt erfolgen, der das dem Kontakt zugeordnete Relais erregt.The number of components per sub-circuit can vary within the scope of the invention be, expediently, however, a meaningful relation between the switching matrix size, the is largely given by the number of connections of the connection distributor and the number of each Test and measurement steps are selected. Among the test circuits switched in a test step circuits are understood here, the auxiliary operations to enable the metrological acquisition enable certain parameters of components. Should z. B. the resistance value of a Relays are measured in a measuring circuit, which contains the contact of another relay, must be done before the actual measuring step - resistance measurement - a test step is carried out that the contact Associated relay energized.

Das erfindungsgemäße Verfahren wird an Hand der F i g. 1 bis 3 erläutert, die sämtlich einen Teil einer zu prüfenden Schaltungsbaugruppe zeigen. Im vorliegenden Fall ist dabei als Schaltungsbaugruppe ein Teil einer Fernsprechvermittlungsanlage angenommen, der im wesentlichen zwei Relais R, T mit je zwei Kontakten rl, rl bzw. t\, ti darstellt.The method according to the invention is illustrated with reference to FIGS. 1 to 3, all of which show part of a circuit assembly to be tested. In the present case, a part of a telephone exchange is assumed as the circuit assembly, which essentially represents two relays R, T , each with two contacts rl, rl or t \, ti .

In der F i g. 1 ist als einfachstes Beispiel die Messung des Widerstandswertes des Relais R versinnbildlicht. Die Punkte PPI und PP2 hat man sich auf dem Anschlußverteiler der zu prüfenden Schaltungsbaugruppe vorzustellen. Mit Hilfe des Koppelfeldes der Prüfeinrichtung wird der durch die Prüfpunkte PPI und PP2 begrenzte Stromzweig (eng schraffiert) in einen Widerstandsmeßkreis eingeschleift, der denIn FIG. 1, the measurement of the resistance value of relay R is symbolized as the simplest example. The points PPI and PP2 have to be imagined on the connection distributor of the circuit assembly to be tested. With the help of the coupling matrix of the test device, the current branch delimited by the test points PPI and PP2 (closely hatched) is looped into a resistance measuring circuit, which the

gemessenen Wert mit einem programmierten Sollwert vergleicht..compares the measured value with a programmed target value.

Bei den bekannten Funktionsprüfungen würde im Gegensatz dazu das Ä-Relais derart geprüft werden, daß der Schleifenschluß der eb-Adern durch das Einfügen eines Widerstandes zwischen die beiden Adern simuliert und das Anziehen des Relais durch Überprüfung der Betätigung des Koniaktes rl oder rl kontrolliert wird.In the known functional tests, on the other hand, the relay would be tested in such a way that the loop closure of the eb wires is simulated by inserting a resistor between the two wires and the attraction of the relay is controlled by checking the actuation of the Koniaktes rl or rl.

In der F i g. 2 ist die Messung des Gleichrichters G in Durchlaßrichtung dargestellt.In FIG. 2 shows the measurement of the rectifier G in the forward direction.

In einem ersten Prüfschritt (weit schraffiert) wird dazu das Relais R zwischen den Prüfpunkten PPI und PP 2 erregt. Zu diesem Zweck wird beispielsweise der Punkt PPI über das Koppelfeld mit Erde der Punkt PP 2 über das Koppelfeld mit Spannung verbunden. Diese Erregung des Relais Λ ist notwendig, um den Durchlaßwiderstand bzw. den Sperrwiderstand des Gleichrichters zwischen den Punkten PP 3 und PP 4 messen zu können. Die Erregung des Relais R könnte beispielsweise dann entfallen, wenn der negative Pol des Gleichrichters G direkt mit einem weiteren Prüfpunkt verbunden wäre. Durch die Erregung des Relais R in einem ersten Prüfschritt wird also ein Prüfpunkt und damit ein Anschlußpunkt am Anschlußverteiler eingespart. To this end, the relay R between the test points PPI and PP 2 is energized in a first test step (with wide hatching). For this purpose, for example, point PPI is connected to earth via the switching network, and point PP 2 is connected to voltage via the switching network. This excitation of the relay Λ is necessary in order to be able to measure the forward resistance or the blocking resistance of the rectifier between points PP 3 and PP 4. The excitation of the relay R could be omitted, for example, if the negative pole of the rectifier G were directly connected to another test point. By energizing the relay R in a first test step, one test point and thus one connection point on the connection distributor is saved.

An Hand der F i g. 3 wird die Messung der Kontakte r2 und ti beschrieben. Die Messung der beiden Kontakte erfolgt dabei in nur einem Meßschritt, so daß im vorhergehenden Meßschritt sowohl das Relais R als auch das Relais T erregt werden müssen.On the basis of FIG. 3 describes the measurement of the contacts r 2 and ti . The two contacts are measured in just one measuring step, so that both the relay R and the relay T must be energized in the previous measuring step.

ίο Dies erfolgt beispielsweise durch Anlegen von Spannung am Prüfpunkt PP2 und Anlegen von Erde an den Prüfpunkten PPI und PP3. An die Prüfpunkte PPS und PP 6 wird dann beispielsweise unter Mithilfe des Koppelfeldes ein Meßgerät angeschlossen,ίο This is done, for example, by applying voltage to test point PP2 and applying earth to test points PPI and PP3. A measuring device is then connected to the test points PPS and PP 6 with the help of the coupling network, for example,

is das den Kontaktübergangswiderstand zu messen in der Lage ist. Dieser soeben beschriebene Meßschritt zeigt deutlich, daß die Messung bestimmter Parameter von Bauelementen nicht in systembedingten Funktionskreisen erfolgt, sondern von solchen unabhängig ist. In der Praxis würde nämlich ein gleichzeitiges Ansprechen der Relais R und T auf Grund der Anordnung des Kontaktes f 1 nicht möglich sein.is that is able to measure the contact resistance. This measuring step just described clearly shows that the measurement of certain parameters of components does not take place in system-related functional circuits, but is independent of such. In practice, a simultaneous response of the relays R and T would not be possible due to the arrangement of the contact f 1.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings

Claims

Claim:

Procedure for testing the functionality of predominantly passive discrete components equipped series-produced circuit assemblies by means of a program controller ' th test device with a coupling field, which has a connection distributor with input, output ' and connects supply connections of the circuit assembly with test and measuring units, characterized in that further points of the assembly are attached to the connection distributor are performed, which are selected so that each independent of the system-related assignments Subcircuits containing combined components are formed, in each of which a resistance measurement is carried out, whereby the results of the resistance measurement indicate the functionality enable the entire circuit assembly.