DE1806933B2

DE1806933B2 - PROCEDURE FOR TESTING CIRCUIT ASSEMBLIES

Info

Publication number: DE1806933B2
Application number: DE19681806933
Authority: DE
Inventors: Werner Ambrosch Wolf Dietrich 1000 Berlin Prehm
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1968-10-29
Filing date: 1968-10-29
Publication date: 1972-01-27
Also published as: BE740952A; FR2021779A1; BR6912460D0; AT300902B; GB1245350A; CH493852A; DE1806933A1

Description

2525th

Es sind mehrere programmgesteuerte elektrische Prüfeinrichtungen bekannt, die für die Prüfung \on noch in der Entwicklung stehenden oder einer Fertigung entnommenen SclmlliTigsba;.gruppen eingesetzt »■erden. Diese Prüfeinrich'ungen beinhalten im wesentlichen ein ein- oder mehrsti. iges Koppelfeld, clas einerseits mit markanten Punkten der zu prüfenden Schaltungsbaugruppe, andererseits mit Prüf- und Meßeinheiten der Prüfeinrichtung verbunden ist.Several program-controlled electrical test devices are known which are used for testing \ on SclmlliTigsba; groups that are still under development or taken from production are used »■ earth. These test facilities include in essential a one or more sti. iges coupling field, clas on the one hand with prominent points of the circuit assembly to be tested, on the other hand with test and Measuring units of the test device is connected.

Zur Realisierung eines derart'gen Koppelfcldes eignen sich im Prinzip nahezu alle bekannten Koppelprinzipien, d. h., daß sowohl »cros.point«- und »crossbar«-Koppelfelder als auch im wesentlichen »us Drehwählern bestehende Koppelfelder eingesetzt Werden können. Ein für oiescn Zweck ersetzbares Koppelfeld ist beispielsweise in der deutsehen Patent- »chrift I 176 205 beschrieben, bei der ein Kreuzjchienenmchrfachschaltcr Teil eines elektrischen Schaltprogranimstellers ist und für die Durchschaltung von mehreren Fernmeldeverhindungen zwischen jeweils einem ankommenden Sp;iltenleiter, /.. B. für Meßstellenanschlüsse, einerseits, und jeweils einem der die Spaltenleiter kreuzenden Zeilcnlciter. z. B. für Verstärkerkanalschlüsse, andererseits sorel.In principle, almost all known coupling principles are suitable for realizing such a switching network, that is to say that both "cros.point" and "crossbar" switching fields as well as switching fields that essentially consist of rotary selectors can be used. A switching network that can be replaced for this purpose is described, for example, in the German patent document I 176 205, in which a crossbar switch is part of an electrical switching program controller and for the connection of several telecommunication connections between each incoming column conductor, / .. B. for Measuring point connections, on the one hand, and in each case one of the row liters crossing the column conductors. z. B. for amplifier channel connections, on the other hand sorel.

Die Durchschaltung des innerhalb der programm-The connection of the within the program

tesk'ik'itcn elektrischen Prüfeinrichtung eingesetzten Uippelfeldes. d. li. die Zuordnung bestimmter Leitungen oder Baugruppen zu entsprechend ausgewählten Prüf- und Meßeinheiten erfolgt nach Maßgabe tines Programms, das im allgemeinen in Form von Lochstreifen oder Lochkarten erstellt ist und mittels geeigneter Adapter logische Funktionen innerhalb des Koppelfcldes ausführt. tesk'ik'itcn electrical test facility used Uippelfeldes. d. left the assignment of certain lines or assemblies to appropriately selected test and measurement units takes place in accordance with the requirements of a program that is generally created in the form of punched strips or punched cards and uses suitable adapters to perform logical functions within the coupling.

Die beschriebenen PrUfcinrichtungen eignen sich insbesondere für die automatische Prüfung von serienmäßig hergestellten Oerätcn mit vorwiegend passiven diskreten Bauelementen, wobei zur Erleichterung des Anschlusses der Prüfeinrichtung an den Prüfling die zur Erfassung durch die Prüfeinrichtung vorgesehenen Schaitungspunktc auf einen Anschlußverteiler geführt werden, der im allgemeinen in Form finer Andruckleiste ausgeführt ist. Eine solche Ausbildung ermöglicht gegebenenfalls auch den selbst tätigen Anschluß eines Prüflings sowie dessen automatischen Weitertransport. The test devices described are particularly suitable for the automatic testing of series-produced devices with predominantly passive discrete components, whereby the circuit points provided for detection by the test device are routed to a connection distributor, which is generally in the form of finer, to facilitate the connection of the test device to the test object Pressure bar is executed. Such a design also enables the self- acting connection of a test object and its automatic further transport.

Bei den bekannten Prüfeinrichtungen erfolgt die Beschaltung des Anschlußverteilers der zu prüfenden Schaltungsbaugruppen derart, daß in Verbindung mit dem Koppelfeld der Prüfeinrichtung systembedingte Funktionskreise an den Meß- und Prüfeinheiten erfaßt werden; es werden also durch die Prüfeinheiten im Zusammenwirken mit dem Koppelfeld sämtliche Funktionen, die zur Herstellung eines systembedingten Funktionskreises notwendig sind, ausgeführt und g'eichzeitig oder anschließend durch die Meßeinheiten die relevanten Parameter des Funktionskreises meßtechnisch erfaßt und registriert. Im Prinzip führt damit die Prüfeinrichtung eine der Anzahl der vorhandenen systembedingten Funktionskreise entsprechende Zahl von Funktionsprüfungen durch.In the case of the known test devices, the connection distributor is connected to the one to be tested Circuit assemblies in such a way that, in connection with the coupling network of the test device, system-related Functional circuits are recorded on the measuring and testing units; So it will be through the test units in cooperation with the switching network, all functions necessary for the production of a system-related Functional circuit are necessary, executed and simultaneously or subsequently by the measuring units the relevant parameters of the functional circuit are measured and registered. In principle leads so that the test device has one of the number of existing system-related functional circuits Number of functional tests.

Im Prinzip das gleiche gilt auch für Geräte der Unterhaltungselektronik bzw. — wie aus der fransösischen Patentschrift 1537 277 bekannt ist — auch für Geräte der Datenverarbeitungstechnik, bei denen besondere Prüfpunkte der Geräte gut zugänglich angelegt sind. Da die Funktion dieser Geräte im wesentlichen auf die spezifischen Eigenschaften aktiver Bauelemente gegründet ist, deren dynamisches Verhalten besonders interessiert, erfolgt die Prüfung im allgemeinen so, daß an den Prüfpunkten Signale — im besonderen Wechselstromsignale — abgenommen werden, die mit vorgegebenen Standards verglichen werden.In principle the same applies to entertainment electronics devices or - as from the French Patent 1537 277 is known - also for devices of the data processing technology, in which special test points for the devices are easily accessible. Because the function of these devices is essentially is based on the specific properties of active components, their dynamic behavior particularly interested, the test is generally carried out so that signals at the test points - im special alternating current signals - are taken, which are compared with predetermined standards will.

Sowohl bei einer reinen Funktionsprüfung als auch Dci einer mittelbaren Prüfung der Funktion über einen Vergleich mit Standards können die erfaßten Funktionskreise oftmals einen verhältnismäßig großen Umfang haben, d. h. eine große Anzahl von passiven oder aktiven Bauelementen beinhalten; bei Auftreten eines Fehlers und der Registrierung desselben kann deshalb nicht ohne weiteres auf den unmittelbaren Fehlerort zurückgeschlossen sverden. Vielmehr muß ein Prüfer, um den auftretenden Fehler lokalisieren und beseitigen zu können, bei Auftreten einer Fehlfunktion in der Lage sein, aus der Art des aufgetretenen Fehlers, d. h. aus der Abweichung der erhaltenen Meßwerte bzw. Kurvenformen gegenüber den festgelegten bzw. programmierten Sollwerten, die Fchlerursachc und damit den Fehlerort zu erkennen. Dazu ist aber eine intime Kenntnis der Sciialtungsfunktionen der geprüften Schaltungsbaugruppe notwendig, so daß nur qualifiziertes Personal für diese Arbeit einsetzbar ist. Selbst unter dieser Voraussetzung lassen sich jedoch oftmals bei Auftreten einer Fchlfunktion gegenüber dem Zeitraum des eigentlichen Priifungsablaufes verhältnismäßig lang dauernde Suchvorgängc nicht verhindern, so daß die Effektivität der beschriebenen Prüfungsverfahren stark gemindert wird.Both in the case of a pure functional test as well as an indirect test of the function via Dci When compared with standards, the functional groups recorded can often be relatively large Have scope, d. H. contain a large number of passive or active components; when occurring of an error and the registration of the same cannot therefore easily be applied to the immediate Error location closed back. Rather, an auditor must localize the error that occurs and to be able to eliminate, in the event of a malfunction, to be able to from the nature of the occurred Error, d. H. from the deviation of the measured values or curve shapes obtained to recognize the specified or programmed setpoints, the cause of the error and thus the location of the error. In addition, however, intimate knowledge of the switching functions of the tested circuit assembly is required necessary so that only qualified personnel can be used for this work. Even under this However, the prerequisites can often be met when a malfunction occurs in relation to the period of time do not prevent comparatively long search processes of the actual examination process, so that the effectiveness of the test procedures described is greatly reduced.

Dies gilt im besonderen Maße auch für die aus der deutschen Auslegeschrift 1271262 und der deutschen Patentschrift 926 673 bekannten Prüfeinrichtungen. Bei der ersten dieser beiden Prüfeinrichtungen werden sämtliche Transistoren eines Gerätes an eine erste gemeinsame Versorgungsspannung gelegt und die Steuerkreise der Transistoren mittels einer zweiten Spannungsquelle mit einer Vorspannung versehen.This also applies in particular to those from the German Auslegeschrift 1271262 and the German patent specification 926 673 known testing devices. In the first of these two test devices, all transistors of a device are connected to a first common supply voltage placed and the control circuits of the transistors provided with a bias voltage by means of a second voltage source.

Durch Änderung des Betrngsverhältnisses dieser beiden Versorgungsspannungen wird die Grenze festgestellt, bei der die Gcsamtanlage noch funktion*-By changing the ratio of these two supply voltages, the limit becomes found that the entire system is still working * -

I 806 933I 806 933

tüchtig ist. IVi Weit diesel C'ucnzc win! dabei als IVr Ik-gnll dei Widerstandsmessung ist dabei imis efficient. IVi Far diesel C'ucnzc win! here as IVr Ik-gnll the resistance measurement is here in

Kriterium fur die Zweckmäßigkeit eines Fisct.vn-, weitesten Sinne aufzufassen; die Wideistandsmessuii-Criterion for the expediency of a Fisct.vn-, to be understood in the broadest sense; the Wideistandsmessuii-

■,oii Transistoren beiuit.'t. .,i/n können sich also sowohl auf rein ohmsehe Wider-■, oii transistors beiuit.'t. ., i / n can refer to purely ohmic resistance

Bei der zweiten der beiden Piüfeiniichtungeii, die stände, auf ι eine Scheinwiderslände als auch am der Prüfung einer Veizoiumgsemiichiung einei !''ein- 5 Impedanzen beziehen. Die Überprüfung von Widersprechanlage dient, arbeiten im wesentlichen vier ständen in Teilslromki eisen muß dabei nicht iiiibe-L'inrichtuugen in der Weise zusammen, daß die erste dingt das allein iiueiessieiende Ergebnis einer WuWr-Einrii:hiung die einzelnen Prüfgänge einleitet und standsiuessung sein, sondern kann auch ein Mittel die zweite Einrichtung, weiche gemäß den Tarifen zur Feststellung anderer interessierender Werte dav-•ügeordneten Zonenkonnzahlen eingestellt ist, ver- io stellen. So können beispielsweise zwei oder mehrere jilaßt. mittels der dritten Einrichtung die synchrone Widerstandsmessuinvn einen Rückschluß über Linsteilung der Zonenwähler der Verzonungseinrich- Dämpfungseigenschaften von Stromkreisen ermög- :,,ng und des Nachbildzonenwählers vorzunehmen liehen und durch Beobachtung der Zeit vom Anlegen '...id gleichzeitig in der vierten Einrichtung Strom- einer Spannung an ein Relais bis zum Schließen eines eise vorbereitet, wodurch die von der Verzonungs- 15 Kontaktes (Übergang vom Widerstand .^ zumW'ider_t !inclining entsprechend der Einstellung des Zc/ien- stand 0) die Anzugszeit eines "-;lais geprüft werden. A'.ihlers ausge>andten und mittels der dritten Ein- Als wesentlich für die Ernnüann ist weiterhin an-. .chiur.g ausgewerteten Zähiimpulse auf'..ire Richtig- zusehen, daß bereits im Entwiekhingssiadium eines ^■it iibeiprüft werden. Gerätes bzw. einer Schaltungsbaugruppe bei der Fest-In the case of the second of the two measuring devices, which stand to relate to an apparent contradiction as well as to the examination of a cross-compliance with an impedance. The checking of the intercom system is used, essentially four levels work in partial terms, so it does not have to work together in such a way that the first thing is the sole result of a WuWr-Einriii: hiiiiiing the individual test runs and level measurement, but rather A means can also set the second device, which is set in accordance with the tariffs for determining other values of interest therefrom, for zone connection numbers. For example, two or more can be used. by means of the third device, the synchronous resistance measurement allows a conclusion about the line division of the zone selector of the zoning device damping properties of circuits: ,, ng and the afterimage zone selector to make borrowed and by observing the time from application '... id simultaneously in the fourth device stream one voltage at a relay to the closing of a else prepared, whereby the Verzonungs- 15 contact (.! transition from resistance ^ _t zumW'ider inclining according to the setting of the Zc / IEn- was 0), the operating time of a "-; lai tested A ' . Device or a circuit assembly in the fixed

Hei beiden bekannten Prüfeinrichiungen sind also 20 legung der Bauschaltpläne die spätere rationelleIn both of the known test facilities, the wiring diagrams are the later rational ones

line \ ielzahl von Elementen der zu prüfenden Prü'harkeit berücksichtigt wird.line \ ile number of elements of the testability to be checked is taken into account.

Vru'.ltungsbuugruppe an einem Prüfschritt beteiligt, Aus der deutschen Auslegeschrift 1 126 034 istVru'.ltungsbuugruppe involved in a test step, from the German Auslegeschrift 1 126 034 is

1 daß bei Erkennung eines Fehlers das Lokalisieren bereits eine Prüfeinrichtung bekannt, die dem ertin-1 that when an error is detected, the localization is already known to a test device that

<.'-- eigentlichen Fehlerortes, insbesondere auch bei dungsgemäßen Verfahren insofern ähnlich arbeitet,<.'-- the actual fault location, in particular also in the case of the method according to the invention, insofar as it works similarly,

ν orliege mehrerer Fehlerursachen, sehr langwierig ist. 25 als sie die nacheinander erfolgende Prüfung einzelnerν there are several causes of error, is very tedious. 25 as she was the successive examination of individual

Fin weiterer Nachteil der bekannten Einrichtungen in einer Schaltungsbaugruppe vorhandener Transi-Fin further disadvantage of the known devices in a circuit assembly of existing transi-

. jr Prüfung von Schaltungsbaugruppen liegt auf dem stören vorsieht. Die Prüfung bezieht sich also im. jr testing of circuit assemblies is provided on the disrupt. The test therefore relates to the

(..-biet der Erstellung von Unterlagen für die Pro- Unterschied zu der Erfindung nicht auf passive.(..- offers the creation of documents for the pro-difference to the invention not on passive.

_:aninisteuerung de· Prüfeinrichtungen. Bei der Prü- sondern auf aktive Bauelemente und beinhaltet als_: control of the test equipment. When testing but on active components and includes as

i.mg von Schaltungsbaugruppen, die umfassend oder 30 wesentliches Prüfungskriteriuni die optische Beob-i.mg of circuit assemblies that comprehensively or 30 essential test criteria include optical observation

i!i Form einer Stichprobe der laufenden Fertigung achtung der Wellenform einer die Transistoren imi! i form a sample of current manufacturing respecting the waveform of one of the transistors im

entnommen werden, besteht beim Einsatz von pro- B-Betrieb speisenden Spannung mittels eines Oszillo-are taken, there is a voltage supplying pro-B operation by means of an oscilloscope

iiranimgesteuerten Prüfeinrichtungen zwangläufig die grafen. Diese Prüfmethode läßt — wenn man nichtiranim-controlled test facilities inevitably the count. This test method can - if you don't

Notwendigkeit, jeweils ein Programm für jede Schal- an aufwendige fotografische RegistriermethodenThere is a need for a program for each scarf, using elaborate photographic registration methods

tuiigsbaug. uppe zu erstellen. Aus den als Urbelege 35 denkt — kaum den Einsat? eines automatischentuiigsbaug. to create ope. From which 35 thinks as original evidence - hardly any use? of an automatic

der Schaltungsbaugruppen anzusehenden Schaltzeich- Prüfverfahrens zu.of the circuit assemblies to be looked at circuit drawing test procedure.

niingen muß also ein die Prüfeinrichtung steuerndes Die Anzahl der Bauelemente je Teilstromkreis Programm erstellt werden. Der Zeitaufwand für das kann im Rahmen der Erfindung durchaus unterl.'msetzen der Daten der Urbelege in ein entsprechen- schiedlich sein; zweckmäßigerweise wird jedoch eine des Programm erforderte aber bisher bei den be- 40 sinnvolle Relation zwischen der Koppelfeidgröße, die kannten Prüfeinrichtungen einen verhältnismäßig weitgehend durch die Zahl der Anschlüsse des Angroßen Zeitaufwand, der sich auf die Wirtschaftlich- Schlußverteilers gegeben ist und der Zahl der einzelkeit iles Prüfverfahrens sehr nachteilig auswirkt. neu Prüf- und Meßschritte gewählt werden. UnterThe number of components per sub-circuit must therefore be used to control the testing device Program to be created. The time required for this can certainly be reduced within the scope of the invention the data of the original documents must be different in one; expediently, however, is a of the program has so far required a meaningful relationship between the coupling field size, the The testing facilities knew a relatively large part due to the number of connections on the Angroßen Time expenditure that is given to the economic final distribution and the number of details iles test procedure has a very detrimental effect. new test and measurement steps are selected. Under

Die Erfindung lieht aus von einem Verfahren zur den in einem Prüfschritt geschalteten Prüfkreisen Prüfung der Funklionstüchtigkeit von vorwiegend mit 45 *eien hierbei Schaltkreise verstanden, die Hilfsoperapassiven diskreten Bauelementen bestückten serien- tionen zur Ermöglichung der meßtechnischen Ermäßig gefertigten Schaltungsbaugruppen mittels einer fassung bestimmter Parameter von Bauelementen programmgesteuerten Prüfeinrichtung mit einem e. möglichen. Soll z. B. der Widerstaiidswert eines Koppelfeld, das einen Anschlußverteiler mit Ein- Relais in einem Meßkreis gemessen werden, der den pangs-. Ausgangs- und Versorgungsanschlüssen der 50 Kontakt eines weiteren Relais enthält, so muß vor Schaltungsriaiiuruppe mit Prüf- und Meßeinheiten dem eigentlichen Meßschritt — Widerstandsmessung verbindet. — ein Prütschritt erfolgen, der das dem KontaktThe invention borrows from a method for the test circuits switched in a test step Examination of the functional ability of mainly with 45 * one here understood circuits, the auxiliary operative passives discrete components assembled in series to enable the metrological reduction manufactured circuit assemblies by means of a version of certain parameters of components program-controlled test device with an e. possible. Should z. B. the resistance value of a Coupling field that is measured by a connection distributor with a relay in a measuring circuit, the pangs-. Output and supply connections that contain the contact of another relay must be provided Circuit group with test and measuring units the actual measuring step - resistance measurement connects. - a test step is carried out that the contact

Die Erfindung beabsichtigt, eine weitreichende zugeordnete Relais erregt.The invention intends to energize a long-range associated relay.

Rationalisierung des Prüfvorgangs durch eine mög- Das erfindimgsgcmäße Verfahren wird an HandRationalization of the test process by a possible The method according to the invention is on hand

liehst weitgehend!· direkte Verarbeitung der als Ur- 55 der Fig. 1 bis 3 erläutert, die sämtlich einen TeilLends largely! · Direct processing of the explained as the original 55 of FIGS. 1 to 3, all of which are a part

belege anzusehenden Schaltzeichnungen und durch einer zu prüfenden Schaltungsbattgruppj zeigen. Imevidence to be viewed circuit drawings and show by a Schaltungsbattgruppj to be tested. in the

eine Verkürzung der Suchzeit bei der Lokalisierung vorliegenden Fall ist dabei als Schaltungsbaugruppca shortening of the search time in the case of the localization is in this case as Schaltbaugruppc

von Fehlerorten tu erreichen. ein Teil einer Fernsprechvermittlungsanlage ange-of failure locations tu reach. part of a telephone exchange

Diese Aufgebe wird erftndungsgemäß dadurch nommen, der ',ni wesentlichen zwei Relais R. T mitAccording to the invention, this task is taken on by having two relays R.T.

gelöst, daß an den Anschlußverteiler weitere Punkte 60 je zwei Kontakten rl, rl bzw, /1, ti darstellt,solved that further points 60 each represent two contacts rl, rl or / 1, ti on the connection distributor,

der Baugruppe gefüim sind, die so ausgewählt wer- In der Fig. 1 ist als einfachstes Beispiel die Mes-of the assembly that are selected in this way. In FIG. 1, the simplest example is the measurement

den, daß Teilstromkreise gebildet werden, die jeweils sung des Widerstandswertes des Relais Λ versinn-the fact that sub-circuits are formed, each of which senses the resistance value of the relay Λ

tinabhängig von den systembedingten Zuordnungen bildlicht. Die Punkte PPi und PPI hat man sich auftin-dependent on the system-related assignments. The points PPi and PPI are on

zusammengefaßte Bauelemente enthalten und in dem Anschlußvertciler der zu prüfenden Schaltungs-Contain summarized components and in the connection distributor of the circuit to be tested

denen jeweils eine Widerstandsmessung erfolgt, wo- 6s baugruppe vorzustellen. Mit Hilfe des Koppelfeldeseach of which a resistance measurement is carried out, where to introduce 6s assembly. With the help of the switching matrix

bei die Ergebni-ise rler Widerstandsmessung einen der Prüfeinrichtung wird der durch die PrüfpunkteWith the results of the resistance measurement one of the test equipment is determined by the test points

Rückschluß auf die Funktionstüchtigkeit der gesam- PI ¹I und PPI begrenzte Stromzweig (eng schraffiert)Conclusion on the functionality of the entire PI ¹ I and PPI limited current branch (closely hatched)

ten Schaltungsbaugruppe ermöglichen. in einen Widerstanc'smeßkreis eingeschleift, der denth circuit assembly allow. looped into a resistance measuring circuit which

gemessenen Wert mit einem programmierten Sollwert vergleicht.compares the measured value with a programmed setpoint.

Bei den bekannten Funktionsprüfungen würde im Gegensatz dazu das ft-Relais derart geprüft werden, daß der .Schleifenschluß der ßfc-Adern durch das Einfügen eines Widerstandes zwischen die beiden Adern simuliert und das Anziehen des Relais durch Überprüfung der Betätigung des Kontaktes r 1 oder rl kontrolliert wird.In the known functional tests, on the other hand, the ft relay would be tested in such a way that the loop closure of the ßfc wires is simulated by inserting a resistor between the two wires and the attraction of the relay is controlled by checking the actuation of the contact r 1 or rl will.

In der Fig. 2 ist die Messung des Gleichrichters G in Durchlaßrichtung dargestellt.In Fig. 2, the measurement of the rectifier G is shown in the forward direction.

In einem ersten Prüfschritt (weit schraffiert) wird dazu das Relais R zwischen den Prüfpunkten PP1 und PPI erregt. Zu diesem Zweck wird beispielsweise der Punkt PPI über das Koppelfeld mit Erde der Punkt PP 2 über das Koppelfeld mit Spannung verbunden. Diese Erregung des Relais R ist notwendig, um den Durchliißwiderstand bzw. den Sperrwiderstand des Gleichrichters zwischen den Punkten PP 3 und PP4 messen zu können. Die Erregung des Relais R könnte beispielsweise dann entfallen, wenn der negative Pol des Gleichrichters C! direkt mit einem weiteren Priifpunkt verbunden wäre. Durch die Erregung des Relais R in einem ersten Prüfschritt wird also ein Priifpunkt und damit ein Anschlußpunkt am Anschlußverteiler eingespart.
An Hand der F i g. 3 wird die Messung der Kontakte r 2 und (2 beschrieben. Die Messung der beiden Kontakte erfolgt dabei in nur einem Meßschritt, so daß im vorhergehenden Meßschritt sowohl das Relais R als auch das Relais 7" erregt werden müssen.In a first test step (hatched) the relay R between the test points PP 1 and PPI is energized. For this purpose, for example, point PPI is connected to earth via the switching network, and point PP 2 is connected to voltage via the switching network. This excitation of the relay R is necessary in order to be able to measure the conduction resistance or the blocking resistance of the rectifier between the points PP 3 and PP4. The excitation of the relay R could be omitted, for example, if the negative pole of the rectifier C! would be directly connected to another test point. By energizing the relay R in a first test step, one test point and thus one connection point on the connection distributor is saved.
On the basis of FIG. 3 describes the measurement of the contacts r 2 and (2. The two contacts are measured in just one measuring step, so that both the relay R and the relay 7 ″ must be excited in the previous measuring step.

ίο Dies erfolgt beispielsweise durch Anlegen von Spannung am Priifpunkt PP 2 und Anlegen von Erde an den Prüfpunkten PPI und PP3. An die Prüfpunkte PP 5 und PP6 wird dann beispielsweise unter Mithilfe des Koppelfeldes ein Meßgerät angeschlossen, das den Kontaktübergangswiderstand zu messen in der Lage ist. Dieser soeben beschriebene Meßschritl zeigt deutlich, daß die Messung bestimmter Parameter von Bauelementen nicht in systembedingten Funktionskreisen erfolgt, sondern von solchen unabhängig ist. In der Praxis würde nämlich ein gleichzeitiges Ansprechen der Relais R und T auf Griini¹ der Anordnung des Kontaktes /1 nicht möglich seinίο This is done, for example, by applying voltage to test point PP 2 and applying earth to test points PPI and PP3. A measuring device which is able to measure the contact resistance is then connected to the test points PP 5 and PP 6, for example with the aid of the coupling matrix. This measuring step just described clearly shows that the measurement of certain parameters of components does not take place in system-related functional circuits, but is independent of such. In practice, a simultaneous response of the relays R and T to Griini ^{1 of} the arrangement of the contact / 1 would not be possible

Hierzu 1 Blatt Zeichnung«.,*1 sheet of drawing «., *

Claims

Claim:

Procedure for testing the functionality of predominantly passive discrete components equipped series-produced circuit assemblies by means of a program-controlled Test device with a coupling field, which has a connection distributor with input, output and Connects supply connections of the circuit assembly with test and measuring units, characterized in that further points of the assembly are attached to the connection distributor are performed, which are selected so that each independent of the system-related assignments summarized components containing TYl 'circuits are formed in each of which a resistance measurement is carried out, with the results of the resistance measurement enable conclusions to be drawn about the functionality of the entire circuit assembly.