DE1806456C3 - Verfahren zur Feststellung derjenigen Teilchengröße (Scheidegröße) eines Teilchensystems oberhalb bzw. unterhalb welcher eine bestimmte Fraktion der Gesamtmasse des Systems liegt und Vorrichtung zur Ausführung dieses Verfahrens - Google Patents

Verfahren zur Feststellung derjenigen Teilchengröße (Scheidegröße) eines Teilchensystems oberhalb bzw. unterhalb welcher eine bestimmte Fraktion der Gesamtmasse des Systems liegt und Vorrichtung zur Ausführung dieses Verfahrens

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Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3701029A (en) * 1970-10-27 1972-10-24 Coulter Electronics Axial trajectory sensor having gating means controlled by pulse duration measuring for electronic particle study apparatus and method
US3801903A (en) * 1970-10-27 1974-04-02 Coulter Electronics Particle study apparatus including an axial trajectory sensor
US3801901A (en) * 1970-10-27 1974-04-02 Coulter Electronics Particle study apparatus including an axial trajectory sensor
US3783391A (en) * 1971-02-08 1974-01-01 Coulter Electronics Axial trajectory sensor having gating means controlled by pulse duration measuring for electronic particle study apparatus and method
US3783390A (en) * 1971-02-09 1974-01-01 W Hogg Axial trajectory sensor having gating means controlled by pulse duration measuring for electronic particle study apparatus and method
US3699319A (en) * 1971-03-10 1972-10-17 Robert H Berg Average volume digital computer and digital volume totalizer for cells and particles
US3763357A (en) * 1971-12-22 1973-10-02 Bausch & Lomb Threshold circuit for converting a video signal to a binary video signal
US3801904A (en) * 1972-09-11 1974-04-02 Coulter Electronics Particle study apparatus including an axial trajectory sensor
US3867613A (en) * 1972-11-01 1975-02-18 Minnesota Mining & Mfg Particle counting apparatus
US3863056A (en) * 1973-06-29 1975-01-28 Coulter Electronics Method and apparatus for multichannel voting
US3892489A (en) * 1973-08-17 1975-07-01 Smithkline Corp Data acquisition system
US3936739A (en) * 1974-02-12 1976-02-03 Coulter Electronics, Inc. Method and apparatus for generating error corrected signals
US3902053A (en) * 1974-03-18 1975-08-26 Coulter Electronics Pre-set circuit for measuring a dividing particle size of a particulate system
US3944797A (en) * 1974-08-06 1976-03-16 Coulter Electronics, Inc. Method and apparatus for determining the correct percentiles of the size distribution of a particulate system
US3936666A (en) * 1974-09-16 1976-02-03 Coulter Electronics, Inc. Apparatus for measuring a particle size dividing one of the mass or particle number of a particulate system into predetermined fractions
US4041468A (en) * 1976-10-07 1977-08-09 Pfizer Inc. Method and system for analysis of ambulatory electrocardiographic tape recordings
ES485470A1 (es) * 1978-12-19 1980-09-01 Contraves Ag Procedimiento para establecer un umbral de separacion para separar por lo menos dos clases de senales para analizar particulas y usos similares
ES487980A1 (es) * 1979-03-27 1980-10-01 Contraves Ag Dispositivo para un aparato analizador de particulas
US4706207A (en) * 1985-06-24 1987-11-10 Nova Celltrak, Inc. Count accuracy control means for a blood analyses system
US5452237A (en) * 1994-02-28 1995-09-19 Abbott Laboratories Coincidence error correction system for particle counters
CN100453037C (zh) * 2003-03-19 2009-01-21 天灵技术公司 用于测量和指示活体电阻变化的系统
KR20120083093A (ko) * 2011-01-17 2012-07-25 삼성전자주식회사 입자측정장치 및 이를 이용한 입자측정방법
EP2836815B1 (en) 2012-04-12 2020-08-05 Bio-Rad Laboratories, Inc. Particle dispensing apparatus and method
FR3034520B1 (fr) * 2015-04-02 2020-02-14 Horiba Abx Sas Dispositif de comptage de particules
CN110553954B (zh) * 2019-08-22 2021-09-28 中国电建集团华东勘测设计研究院有限公司 一种确定含超大粒径巨粒土的颗粒级配的方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1177774A (fr) * 1960-04-26 1959-04-29 Evans Electroselenium Ltd Perfectionnements aux appareils de comptage des petites particules
US3392331A (en) * 1961-04-06 1968-07-09 Coulter Electronics Particle analyzer threshold level control
US3271672A (en) * 1961-09-20 1966-09-06 Coulter Electronics Particle studying device control circuit
GB1112770A (en) * 1964-12-10 1968-05-08 Hitachi Ltd Method and apparatus for analysing the particle size distribution of powder
US3444464A (en) * 1965-11-26 1969-05-13 Coulter Electronics Multiple aperture fittings for particle analyzing apparatus
US3331950A (en) * 1966-07-11 1967-07-18 Coulter Electronics Particle distribution plotting apparatus

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Publication number Publication date
CH498389A (fr) 1970-10-31
SE350837B (enExample) 1972-11-06
NL154326B (nl) 1977-08-15
GB1249470A (en) 1971-10-13
IL30981A0 (en) 1968-12-26
US3557352A (en) 1971-01-19
DE1806456B2 (enExample) 1974-04-11
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CA938723A (en) 1973-12-18
FR1590410A (enExample) 1970-04-13
JPS5126826B1 (enExample) 1976-08-09
IL30981A (en) 1972-03-28
DE1806456A1 (de) 1969-06-19
SU510165A3 (ru) 1976-04-05

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