DE1797332C - Einrichtung zum Abgleich des Grundwertes bei photometrischen Messungen - Google Patents

Einrichtung zum Abgleich des Grundwertes bei photometrischen Messungen

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DE1797332C
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Reimar DipL-Ing. Graz Germann (Österreich)
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Description

i 797
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zum Abgleich des Grundwertes hei phoUimeirischen Messungen, insbesondere bei der Bestimmung des Remissions-, Reflexions- bzw, Transmissionsgrades von Proben, mit einer einer Lichtquelle ausgesetzten Probenunterlage bzw. Küvette, einem photoelekirischen Meßelement und einem dem Meßelement über einen Meßverstärker nachgeschalteten Anzeigegerät.
Bei photometrischen Messungen ist stets die Erfassung zumindest eines photometrischen Grundwertes erforderlich. Bei Remissionsmessungen sind zwei Grundwerte zu erfassen, und zwar der Remissionswert 0, welcher mit Hilfe eines schwarzen Körpers dargestellt wird, sowie der Remissionswert 1001Vo. Der Remissionswert 100 °,Ό ist allerdings technisch nicht darstellbar und wird in der Regel durch Darstellung eines R ?missionsgrades von 98 °o mittels aufgedampftem Magnesiumoxyd ersetzt. Bei Transmissionsmessungen sowie bei anderen photoelek- ao trischen Meßaufgaben, welche von der Unterlage, dem Trägergrundstoff bzw. der Durchlässigkeit der die Probe aufnehmenden Küvette abhängig sind, müssen diese Grundwerte erfaßt werden, da ansonsten das Meßergebnis erheblich verfälscht würde, as
Hieraus folgt, daß bei allen solchen photometrischen Untersuchungen ein Abgleich der genannten Grundwerte vorgenommen werden muß. Bei den meisten bekannten pliotometrischen Einrichtungen wird dieser Abgleich von Hand aus vorgenommen. Diese Methode ist jedoch äußerst zeitraubend und erfordert ein hohes Maß von Aufmerk' imkeit, um individuelle Fehler zu vermeiden. Bei Remissionsmessungen muß außerdem in gewissen Zeitabständen der Abgleich zwischen den Grundwerten 0 und 100 0O wiederholt werden, um die zeitlichen Änderungen dieser Grenzen mit zu erfassen und das Meßergebnis im Sinne dieser Änderungen zu berichtigen.
Bei anderen bekannten Meßeinrichtungen erfolgt ein Abgleich der photometrischen Grundwerte, beispielswcise der Probenunterlage oder der Durchlässigkeit der Küvette, dadurch, daß durch eine zweite photoelcktrischc Einrichtung dieser Grundwert bestimmt wird oder eine Trennung des Strahlenganges vorgesehen wird, um gleichzeitig den photometrischen Wert der Probe und den Grundwert eines freigebliebenen Abschnittes der Probenunterlage zu bestimmen. Diese photiimetrischen Anordnungen haben jedoch den Nachteil, daß nicht der Grundwert erfaßt wird, welcher für die Messung selbst mitbestimmend ist. Zur Präzisicrung des Meßergebnisses muß daher, z. B. bc\ piezoelektrischen Messungen, welche von einer Unterlage ausgehen, gefordert werden, daß der Grundwert des Tragergrundstoff es an derselben Stelle erfaßt wird, an der auch die photometrische Messung SS nach Aufbringen der Probe vorgenommen wird. Dazu ist es aber notwendig, in zwei aufeinanderfolgenden McßvorgMngen zuerst den Grundwert der Unterlage, z. B. eines Filterpapierstreifens, bzw. der das Medium aufnehmenden Küvette zu bestimmen und dann erst die Probe aufzubringen bzw. das Meß* medium in die Küvette einzufüllen und den photo· metrischen Wert dieser Anordnung zu bestimmen. Dies bedingt aber den bereits oben erwähnten schrittweisen Abgleich. «5
Γ* ist bereits ein Trübungsmesser, insbesondere Rauchd'ichtemesscr bekannt, bei dem aus dem Haupt· lichtstrahl ein Teillichtbetrag abgelenkt wird, um an· schließend einer Vergleichsplunozelle mit nachgeschaltetem Verstärker zugeführt zu werden. Dieser Verstärker regelt sodann die Lichtquelle auf konstante Lichtmenge nach. Der Hauptnachieil dieser bekannten Anordnung ist in dem durch die zusätzliche Photozelle und den Verstärker gegebenen apparativen Mehraufwand zu sehen.
Weiter ist ein Spectralphotometer zur Erfassung des Transmissionsgrades von Proben, insbesondere von Lösungen von Flüssigkeiten, bekannt, bei dem ein den Transmissionsgrad 100 repräsentierendes Standard in den Strahlengang der Einrichtung geschaltet und der Strahlengang mit Hilfe eines Elektromotors so lange verändert wird, bis eine Übereinstimmung mit dem Wert 100 hergestellt ist. Nachteilig hierbei ist die Notwendigkeit der Verwendung eines Motors mit mechanischem Getriebe, da hierdurch Verzögerungen bei der Meßarbeit entstehen und außerdem eine gewisse Störanfälligkeit des mechanischen Teiles der Einrichtung in Kauf genommen werden muß.
Durch die vorliegende Erfindung soll nun eine Einrichtung geschaffen werden, weiche die Nachteile der erwähnten bekannten photometrischen Meßmethoden vermeidet.und die eine erhöhte Genauigkeit und beschleunigte Abwicklung der Messung gewähr leistet.
Zu diesem Zweck ist erfindungsgemäß vorgesehen. daß dem photoeiektrischen Meßelement ein mit seinem zweiten Eingang an eine einstellbare Gleichspannutigsquelle angeschlossener Operationsverstärker nachgeschaltet ist, an dessen Ausgang über einen von einem zentralen Steuergerät betätigbaren Schalter eine Spitzenspannungs-Meßeinrichtung angeschlossen ist. deren Ausgangsspannung mittels eines über einen zweiten, vom Steuergerät betätigbaren Schalter zuschaltbaren Abgleich widerstände, mit der Eingangsspannung übereinstimmend einstellbar ist, und daß die Basis eines als Vorwiderstand mit der Lichtquelle in Serie geschalteten Transistors an den Ausgang der Spitzenspannungs-Meßeinrichtung angeschlossen ist und daß ein Kondensator vorgesehen ist, der die Vergleichsspannung während der eigentlichen Messung speichert
Zwecks Einstellung eines definierten Meßwertes ist es dabei besonders vorteilhaft, dem photoelektrischen Meßelement einen zweiten, mit seinem zweiten Eingang an eine einstellbare Gleichspannungsquelle angeschlossenen Operationsverstärker nachzuschalten, dem eine zweite, vom zentralen Steuergerät aus zuschaltbare Spitzenspannungs-Meßeinrichiung folgt. an deren Ausgang die Basis eines Transistors geschaltet ist, der mit einem als Belastungswiderstand für das photoelektrische Meßelement geschalteten Widerstand in Serie Hegt.
Es wird also der photometrische Grundwert der Probenunterlage bzw. Küvette mit einer einstellbaren konstanten Vergleichsspannung verglichen und die Helligkeit der Lichtquelle von der zwischen der Meßspannung und der Vergleichsspannung auftretenden Differenzspannung nachgeregelt, bis die Meßspannung mit der Vergleichsspannung übereinstimmt. Dieser Spannungswert wird registriert und danach der Regelkreis aufgetrennt. Der zuletzt aufgetretene photometrische Stromwert wird gespeichert und nach Einbringen der Probe der photometrische Wert die· ser Anordnung gemessen und je nach Fall analog oder digital registriert.
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Der photometrische Grundwert der Prohenunter- |uge oder Küvette wird also an eben derselhen Stelle erfüllt, an der in der Folge die phoiometrisehe Messing der Probe selbst erfolgt. Von wesentlicher Belleuiunu ist dabei die Tatsache, daß die Reuelung der ;, Helligkeit der Lichtquelle in Abhängigkeit von der genannten Differenzspannung bis zum Beginn des eigentlichen Meßvorganges fortgesetzt wird, weil dadurch, ungeachtet aller variablen Einflüsse auf den Grundwert, die vor Beginn der Messung registrierte Spannung genau den zu Meßbeginn herrschenden photometrischen Grundwert der Probenunterlage bzw. Küvette repräsentiert. Auf diese Weise wird gegenüber der Arbeitsweise bekannter Meßeinrichtungen eine bedeutende Erhöhung der Meßgenauigkeit erzielt.
Durch die Speicherung der photometrischen Meßdaten werden eventuelle Ableseungenauigkeiten vermieden und es besteht zugleich die vorteilhafte Möglichkeit, die Ergebnisse aufeinanderfolgender Messungen auszudrucken und so für die spätere Auswerlung festzuhalten.
Die Einrichtung nach der Erfindung führt nicht nur einen selbsttätigen Abgleich durch die automatische Helligkeitssteuerung der Lichtquelle aus, sondern ist auch dazu geeignet, durch entsprechende Programmierung am Steuergerät auch alle weiteren Meßvorgänge selbsttätig ablaufen /u lassen. Die Anordnung ist hierbei so getroffen, daß das in den Regelkreis eingeschaltete Spitzenspannungs-Meßgerät durch den zugeschalteten Angleichwiderstaiid während der Bestimmung des Grundwertes der Probenunterlage bzw. Küvette außer Wirksamkeit gesetzt wird, so daß keine Speicherung des Meßwertes erfolgt. Sobald jedoch vom Steuergerät ein Schaltimpuls an die dem Spitzenspannungs-Meßgerät zugeordneten beiden Schalter abgegeben wird, wird der Regelkreis aufgetrennt und die zuletzt vorhandene Eingangsspannung im Spitzenspannungs-Meßgerät gespeichert. Mit dem darauffolgenden Einbringen der Probe bzw. des Mediums, dessen Remissions-, Reflexions- bzw. *o Transmissionigrad bestimmt werden soll, setzt sodann die eigentliche photometrische Messung ein. Das Ergebnis dieser Messung, <n dem die photometrischen Werte des zu untersuchenden Mediums sowie auch der Probenunteilage bzw. Küvette aufscheinen, wird schließlicn von dem dem Meßverstärker nachgeschalteten Anzeigegerät ausgewiesen.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung kann dem Mwßvcrstärker zusätzlich ein Spannungskomparator nachgeschaltet sein, an dessen zweiten Eingang eine einstellbare üleichspannungsquelle angeschlossen ist, und dem ein UND-Gatter folgt, dessen zweiter Eingang mit dem Steuergerät verbunden ist. Mit dieser zusätzlichen Ausstattung der Einrichtung wird eine erhöhte Sicherheit des Abgleiches erreicht. Durch die Verbindung des zweiten Einganges des UND-Gatters mit dem zentralen Steuergerät wird nämlich sichergestellt, daß am Ausgang des UND-Gatters nur dann ein Steuerimpuls auftritt, wenn die Über den Span· nungskomparator in Form einer konstanten Gleichspannung vorgegebene Bedingung (z. B. Remissionswert 0 oder Remissionswert 100 0O) erfüllt ist. Die Abtrennung Cm Regelkreises und die damit verbundene Speicherung des photometrisch ermittelten Grundwertes kann daher erst dann erfolgen, wenn über das UND-Gatter ein Spannungsimpuls an die beiden, der Spitzenspannungs-Meßeinrichtung zugeordneten Schalter abgegeben wird.
Bei der letztgenannten Ausführung der Einrichtung isI es vorteilhaft, geiiiUli einem weiteren Merkmal der Erfindung /wischen den Spannungskomp.n'.itor und das LIND-Galler eine bislabile Schalisiufe einzuschalten, die vom zentralen Steuergerät au» rüekstellbar ist. Die obenerwähnte Kontrolle kann damit auf zwei Grenzwerte ausgedehnt werden.
Besondere Vorteile bietet schließlich eine weitere Abwandlung der crfindungsgemüllen Einrichtung, hei der die Spiizenspanniings-Meßcinrichuing aus einein Operationsverstärker besteht, an den in an sich bekannter Weise über eine Diode einerseits ein Kompensator und andererseits die Basis eines Feldeffekttransistors angeschlossen ist. dessen Ausgang über einen Gegenkopplungswidersland mit dem Eingang des Operationsverstärkers verbunden ist. Eine solche Anordnung zeichnet sich durch eine sehr günstige Speicherzeilkonstante aus. Ein weilerer Vorteil ist die Vermeidung der Anlaufsfrinikcnnlinie der Diude.
Die Erfindung wird im folgenden an ?wei Ausführungsbeispielen an Hand der schematischen Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 das Prinzipschaltbild einer photomeirUchen Meßeinrichtung nach der Erfindung und
F i g. 2 eine abgewandelte Ausführung der Einrichtung nach rig. I.
In der Zeichnung ist mit I das photocleklrisclic Meßelement bezeichnet, welches die von einer durch eine Lichtquelle 2 beleuchtete Probe 3 reflektierten Lichtstrahlen mißt. Zur Durchführung einer Transmissionsmessung wäre hingegen die Probe, beispielsweise eine in eine Küvette eingebrachte Flüssigkeil oder ein Gas, iin direkten Strahlengang zwischen der Lichtquelle! und dem piezoelektrischen MelJ-clement I anzuordnen.
Dem Meßelement 1 ist ein Operationsverstärker 4 nachgeschaltet, dessen zweiter Eingang mit einer regelbaren Gleichspannungsquclle 5 verbunden ist. An den Ausgang des Operationsverstärkers 4 ist über einen Schalter 6, der im einfachsten Fall ein Reed-Relais oder aber auch ein a\s Schalter bctriebenei Feldeffekt-Transistor sein kann, eine Spitzcnspannungs-Meßeinrichtung 7 (durch strichpunktierte Linien hervorgehoben) angeschlossen, deren Ausgang mit der Basis eines Transistors 13 verbunden ist. Dieser Transistor 13 ist als Vorwiderstand der Lichtquelle 2 mit dieser in Serie geschaltet.
Das photoelektrischc Meßeiement. der Operationsverstärker, der Schalter 6 und der Transistor 13 bilden zusammen einen Regelkreis für die sclsbttäligc Regelung der Helligkeit der Lichtquelle 2. wobei, wie im folgenden noch näher erluutert, die Spilzcnspannungs-Meßeinrichtung7 während des Regelvorganges außer Wirksamkeit gesetzt wird
Die Spitzenspannungs-Meßeinrichtung 7 verwendet eine bekannte Schaltungsanordnung, weiche aus einem Operationsverstärker 10 besieht, an den über eine Diode 9 einerseits ein Kondensator 8 und andererseits die Basis eines Feldeffekt-Transistor« 11 angeschlossen ist. Der Ausgang dieses Feldeffekt· Transistors 11 ist über einen Gcgcnkopplungswidcrstand 12 mil dem Eingang des Operationsverstärkers 10 verbunden. An die Basis des Fcldeffekt-Transistors 11 ist über einen zweiten Schalter 14 ein An· gleichwidersland 15 anschließbar. Dieser Widerstand ist so dimensioniert, daß die Ausgangsspannung der Spitzenspannungs-Meßcinrichtung 7 auf den Wert der Eingangsspannung gebracht wird. Die beiden Schal-
tor 6 und i4 werden von einem zentralen Steuer* geriil 24 aus. entsprechend dem jeweils vorgewählten Programm, betiiligt.
Dem pholoclckirischen Mcßelement 1 ist weiter ein Meßverstärker 16 nachgcschaltcl. an dessen Ausgang das Anzeigegerät 17 angeschlossen ist. Der Meßver· stärker 16 isl als gegengckoppelier Operationsverstärker ausgeführt, dessen zweiter Eingang mit einer regelbaren Glcichspannungsquelle 18 verbunden isl. Dem Verstärker 16 folgt schließlich das Anzeigegenil 17
Schließlich isl mil dem Ausgang des pholoelck-(rischen Meßclcmcnles I auch noch ein weiterer Operationsverstärker 19 verbunden, dessen zweiler Eingang gleichfalls an einer regelbaren Gleichspannungsquelle Ii lieg! und dem eine zweite, gleichfalls vom zentralen Steuergerät 24 aus zuschaltbare Spitzenspannungs-Mcßeinrich(ung20 nachgeschallct isl, an deren Ausgang die Basis eines Transistors 21 geschallet isl. welcher mil einem als Belaslungswidersland 22 für das photoelektrische Mcßelemcnt 1 geschalteten Widerstand in Serie liegt.
litr diese 1 inriehtung ergibt sich die folgende Betriebsweise: Zunächst wird der photomelrischc Grundwert der Probenunlerlage bzw. Küvette allein bestimmt. Die diesem Grundwert entsprechende, vom piezoelektrischen Mcßclcmcnl I abgegebene Meßspannung wird im Operationsverstärker 4 mit der /in or auf einen bestimmten Sollwert eingestellten V'crgleichspannung der Spannungsquelle 5 verglichen. Am Ausgang des Operationsverstärkers 4 trill somit eine Differenzspannung auf. Da während dieser Betriebsphase das zentrale Steuergerät 24 die beiden Schaller 6 und 14 geschlossen hält, gelangt die Diffcrcnzspannung. ohne in der Spitzenspannungs-Meßeinrichtung eine Änderung zu erfahren, an die Basis des Transistors 13. Dadurch wird die Helligkeit der lichtquelle 2 nachgcregelt. bis die am photoelektrischen Meßclemcnt I auftretende geänderte Meßspannung mit der Vergleichsspannung übereinstimmt. Im Regelkreis stellt sich daher ein Gleichgewichtszusland ein und die am Kondensator 8 der Spitzenspannungs-Mcßeinrichlung 7 anliegende Spannung stimmi mit dem Momentanwert der Meßspannung des piezoelektrischen Mcßelementcs 1 überein.
Als nächster Schrill wird der beschriebene Regelkreis durch Öffnen der Schalter 6 und 14 durch einen F:ingriff des zentralen Steuergerätes 24 aufgetrennt. Im Kondensator 8 isl dann die zuletzt aufgetretene Meßspannung gespeichert. Die Probe wird nun entweder von Hand oder selbsttätig durch einen enlspreehenden Slcucreingriff des Steuergerätes 24 in den Strahlengang der photoelektrischen Meßeinrichlung I. 2 eingebracht. Die dieser Anordnung entsprechende phniomclrischc Meßspannung gelangt über den Meßvcrslärker 16 an das Anzeigegerät 17. Der Meßwert kann je nach Bedarf analog oder digital gespeichert werden.
Zur Einstellung eines definierten Meßwertes (z. B. Remission 0 bzw. Transmission 0) wird die vom piezoelektrischen Meßelemenl 1 abgegebene Spannung dem Operationsverstärker 19 zugeführt, welcher mit I.ccrlaufvcrstärkung betrieben wird. Die Austiangsspannung dieses Operationsverstärkers 19 wird der Spitzcnspannungs-Meikinrichtung 20 zugeleitet und gelang! von dort an die Basis des Transistors 21. In Verbindung mil dem Widerstand 22 wird durch den Widersland 22 das pholoclcklrischc Meßelc ment 1 so vorbelaslei, daß eine vorgegebene Span nung, die dem gewünschten Sollwert entspricht, auf Irill. Die Größe dieses Spannungswertes kann Ubei den Differenzeingang des Operationsverstärkers 1!
S durch entsprechende Einstellung Her Spannungsquell« 23 vorgegeben werden.
Bei Remissionsmessungen wird zuerst der Nullwer der Probe bestimmt, sodann die Meßbereichsdch nung bzw. ein genau definierter Meßpunkt und rrsi
ίο dann wahlweise nach mehrmaligem Wechsel diesel beiden Vorgänge der photometrische Meßwert dei Probe selbst besiimmi. Der Probenwechsel wird vor teilhaflerwcise durch entsprechende Vorgabe de< Programmes vom zentralen Steuergerät 24 auloma lisch gesteuert
Fig. 2 zeigt eine zusätzliche Ausrüstung der erfin dungsgemäßen Einrichtung, welche eine erhöht« Sicherheit des Abgleiches und des Probenwechsel! dadurch gewährleistet, daß die Ausgangsspannung
ao des Meßverstärkers 16 einem Spannungskomparatoi 25 zugeführt wird. Am zweiten Eingang des Spannungskomparators 25 liegt die voreinstellbare Ver gleichsspannung einer Spannungsquelle 27 an. Die Ausgangsspannung des Spannungskomparators 2!
as wird über eine bistabile Schaltstufe 28 an den einer t.-ngang eines UND-Gatters 26 geleitet, dessen anderer Eingang mit dem zentralen Steuergerät 24 verbunden ist. Die Rückstellung dieser bistabilen Schaltstufe 28 erfolgt gleichfalls vom zentralen Steuergerät 24
aus. Auf Grund dieser Ausgestaltung der Einrichtung tritt am Ausgang des UND-Gatters 26 nur dann eit Steuerimpuls auf, wenn die über den Spannungskom parator in Form der an der Spannungsquelle 27 eingegebenen Vergleichsspannung vorgegebene Bedin
gung (z. B. Remissionswert O oder Remissionsweri 100 °o) erfüllt ist. Es kann somit die zuvor beschriebene Auftrennung des Regelkreises und Einleitung der Spitzenspannungsspeicherung erst dann erfolgen wenn über das UND-Gatter 26 ein Spannungsimpuls
an die Schaller 6 und 14 gelangt. Die bistabile Schalt stufe 28 braucht nur dann vorgesehen zu werden, wenn der oben beschriebene Konlrollvorgang füi zwei Grenzwerte vorgenommen werden soll. Durch die bistabile Stufe 28 wird dann eine zusätzliche Speicherung eingeleitet. Nach Ablauf des vollständigen Meßzyklus erfolgt sodann selbsttätig die Rückstellung der bistabilen Schaltstufe 2" durch da« Steuergerät 24.

Claims (6)

  1. Palentansprüche:
    I. Einrichtung zum Abgleich des Grundwerte? bei photometrischen Messungen, insbesondere bei der Bestimmung des Remissions-, Reflexionsbzw. Transmissionsgrades von Proben, mit einer einer Lichtquelle ausgesetzten Probenunterlage bzw. Küvette, einem photoelektrischen Meßelemcnt und einem dem Meßelement über einen Meßverstärker nachgeschallelen Anzeigegerät, dadurch gekennzeichnet, daß dem piezoelektrischen Meßelement (1) ein mit seinem /weiten Eingang an eine einstellbare Gleichspannungsquelle (5) angeschlossener Operationsverstärker (4) nachgeschaltet ist, an dessen Ausgang über einen von einem zentralen Steuergerät (24) heiüligbarcn Schalter (6) eine Spilzcnspannungs-Meßeinrichtung (7) angeschlossen isi. deren Ausgangsspannung mittels eines über einen zwei'.en. vom Steuergerät (24) bcliiligharen Schalter (14)
    1 3
    zuschaltbarcn Abglcichwiderslandes (15) mit der fiingangsspamung übereinstimmend einstellbar ist, und daß die Basis eines als Vorwidersland mit der Lichtquelle (2) in Serie geschatteten Transistor (13) an den Ausgang der Spitzetispannungs- S Meßeinrichtung (7) angeschlossen ist und daß ein Kondensator (8) vorgesehen ist, der die Vergleidisspannung während der eigentlichen Messung speichert.
  2. 2. Hinrichtung nach Anspruch I1 dadurch ge- to kennzeichnet, daß dem photoclektrischen Meßclcmcnl (I) ein zweiter, mit seinem zweiten Eingang iin eine einstellbare Gleichspannungsqucllc (23) angeschlossener Operationsverstärker (19) nachgeschaltet ist, dem eine zweite, vom zentralen Steuergerät (24) aus zuschaltbare Spitzerispannungs-Meßeinrichtung (20) folgt, an deren Ausgang die Basis eines Transistors (21) geschattet ist. der mit einem als Belastungswiderstand (22) für das photoelektrischc Meßclement (1) geschalteten Widerstand in Serie liegt.
  3. 3. Hinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß dem pholoelektrischen Meßclemcnt (1) ein als gegengekoppelter Operationsverstärker ausgebildeter Meßverstär- as kcr(l6) nachgcschaUel ist. dessen zweiter Ein-
    ao gang mit einer regelbaren dleichspannungsquelle (18) verbunden und an dessen Ausgang das Anzeigegerät (17) angeschlossen ist.
  4. 4. Einrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß dem Meßverstärker (16) zusätzlich ein Spannungskomparalor (25) nachgeschaltet ist, an dessen zweiten Eingang eine einstellbare Gleichspannungsquelle (27) angeschlossen ist, und dem ein UND-Gatter (26) folgt, dessen zweiter Eingang mit dem Steuergerät (24) verbunden ist (F ig. 2).
  5. 5. Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen den Spannungskomparalor (25) und das UND-Gatter (26) eine bistabile Schaltstufe (28) eingeschaltet ist, die vom zentralen Steuergerät (24) aus rückstellbar ist.
  6. 6. Einrichtung nach einem der Ansprüche I bis S, dadurch gekennzeichnet, daß die Spitzenspannungs-Meßeinrichtung (7) aus einem Operationsverstärker (10) besteht, an den in an sich bekannter Weise über eine Diode (9) einerseits ein Kondensator (8) und andererseits die Basis eines Feldeffekt-Transistors (11) angeschlossen ist, dessen Ausgang über einen Gegenkopplungswiderstand (12) mit dem Eingang des Operationsverstärkers (10) verbunden ist.
    Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
    109 652

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