DE1772454C - Optisches Verfahren und Prüfern richtung zum Prüfen von Glasgefaßen auf Risse - Google Patents

Optisches Verfahren und Prüfern richtung zum Prüfen von Glasgefaßen auf Risse

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DE1772454C
DE1772454C DE19681772454 DE1772454A DE1772454C DE 1772454 C DE1772454 C DE 1772454C DE 19681772454 DE19681772454 DE 19681772454 DE 1772454 A DE1772454 A DE 1772454A DE 1772454 C DE1772454 C DE 1772454C
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Willy Rapperswil Krenmayr (Schweiz)
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Emhart Zurich SA, Zurich (Schweiz)
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Description

Die Erfindung betrifft ein optisches Verfahren zum Prüfen von Glasgefäßen auf Risse, bei dem von einer Lichtquelle aus ein Strahlenbündel auf eine Abtastzone in der Glasgefäßwand gerichtet und eine Relativbewegung zwischen Prüfling und Strahlenbündel bzw. Abtastzone erzeugt wird, durch welche der gesamte l !mfang des Glasgefaßes abgetastet wird, bei dem während dieser Abtastperiode die von der Abtastzone: ansuchenden Lichtstrahlen beobachtet werden, die infolge von durchlaufenden Störsteilen im Prüfling abgelenkt werden, bei dem zwei verschiedene, von der Abtastzone ausgehende Winkelsektoren \on jeweils einer berührungslos arbeitenden Detektorvomehtung überwacht werden, von denen der eine Detektor die nur von Rissen retlekli Tten Lichi-
iü .-,irah'en und der andere die nur von anderen Störstellen gebrochenen Lichtstrahlen empfängt, und bei dem iehlerhüfte von brauchbaren Prüflingen getrennt wurden.
Weiterhin betrifft die Erfindung eine Prüfeinrich-
l. lung zur Durchführung des Verfahrens, mit einer auf eine Ahtastzone des Prüflings gerichteten. Projeklionsvorrichiunsi. zwei berührungslos arbeitenden, L.;:f die Abasizone ausgerichteten DeU-ktorvorrichtungen, welche auf in zwei getrennten Winkelsekto-
ren austretende Strahlung selektiv ansprechen und entsprechende elektrische Signale erzeugen und mit einer Ausscheideeinrichtung für fehlerhafte Prüflinge.
Bei der Herstellung von Glasgefäßen ist es häufig notwendig, diese auf mögliche Risse zu prüfen. Besonders bei der Massenfertigung von Glasgefäßen müssen solche Gefäße als fehlerhaft ausgeschieden werden, weiche an ihrer Randpartie größere oder kleinere Risse aufweisen, da solche Risse die Bruchgefahr der Gläser beträchtlich erhöhen und ein einwandfrei dichtes Verschließen verunmöglichen.
Außer der viesuellen Prüfung sind bereits optische Prüfverfahren zum selbsttätigen Feststellen von Rissen vorgeschlagen worden. Hierbei wird ein Strahlenbündel auf eine Abtastzone des Prüflings gerichtet und eine Relativbewegung zwischen dem Prüfling und dem Strahlenbündel bzw. der Abtastzone erzeugt und es werden wHhrenv.' der Relativbewegung von der Abtastzone ausgehende Strahlen beobachtet, die infolge von durcllaufenden Störstellen im Prüfling abgelenkt werden. Es wird dabei die Tatsache ausgenutzt, daß ein Riß im Glas eine optische Grenzschicht darstellt, an welcher beim Auftreffen des Strahlenbündels in Richtung Glas/Luft je nach Einfallwinkel entweder gewöhnliche Reflexion und Brechung oder Totalreflexion auftritt.
In der USA.-Patentschrift 3 171 033 ist ein optisches Prüfverfahren und eine zugehörige Prüfeinrichtung der angegebenen Art beschrieben. Damit werden die Öffnungsränder von offenen Glasgefäßen auf Risse und andere Störstellen, wie eingeschlossene Luftblasen, geprüft. Es wird jedoch nicht zwischen eigentlichen Rissen und anderen optisch wirksamen Störstellen im Prüfling unterschieden, so daß auch Prüflinge mit tolerierbaren Störstellen als Ausschuß festgestellt werden.
Bei einer anderen, in der USA.-Patentschrift 2 806 401 angegebenen Prüfeinrichtung wird eine Koinzidenzschaltung verwendet, um die gleichzeitig von einer beleuchteten Abtastzone in zwei verschiedene Winkelsektoren reflektierte diffuse Streustrahlung zu ermitteln und dadurch vorhandene Streuzentren, also optische Störstellen, festzustellen. Zwischen Rissen und anderen Störstellen wird auch hier nicht unterschieden.
Eine weitere Prüfeinrichtung ist aus der USA.-Patentschrift 3 287 564 bekannt, welche zur Prüfung von Gewinden verschlossener Glasgefäße dient.
3 4
Da/-.! werden zwei Strahlenbündel auf verschiedene die Erregung des einen Detektors, welcher von
Ahusi/onen gerichtet und die erzeugte Streustrah- Rissen reflektierte Lichtstrahlen empfängt, betätigt
lung von zsvei zugehörigen Detektoren festgestellt. wird.
Von diesen registriert der erste Detektor die Streu- Bei den bekannten optischen Priifeinrichtungen
Strahlung von möglichen Defekten bzw. Störstellen 5 mit mehr als einem Detektor, die jedoch vonein-
w ie auch von den Gewinderillcn des Glasgewindes. ander unabhängig arbeiten, wirken sich ihre Signale
und der /weite stellt die nur von den Gewinderillen »leichvveriisi aus und bewirken einzeln de'i Aiisstol.'.
retkklienc Strahlung fest. Eine Koinzidenzschaltung von Prüflingen, dabei kommt es nicht auf irgendeine
siHL;i dann dafür, daß die von ckn Gewinderillen zeitliche Beziehung zwischen den Signalen an. Bei
reiieklierte und mit dem ersten Detektor registrierte ic solchen Einrichtungen soll mit der Verwendung
Strahlung eleminiert wird und nur die Streustrahlunti mehrerer Detektoren lediglich erreicht werden, daß
ViMi den Störstellen einen Ausschußimpuls erzeugt. ein s'.rößerer Bereich von möglichen Winkellage!! tier
so JaB auch hier die Art der Störstelle nicht ermit- Risse und alle Arten von Störstellen erfaßt werden.
te!; wird. Bei derartigen Prüfeinrichtungen lassen Die Erfindung wird nachstehend an Hand eines
sich für die optischen Teile vorteilhaft Lichtfaser- 15 Austührunusheispiels im Zusammenhang mit der
bündel entsprechend der französischen Patentschrift Zeichnung näher erläutert.
] .;-!■■) 4(>(S verwenden. F i g. 1 zeigt schema'isch den optischen Teil der
!'.:" hauptsächliche Nachteil aller dieser bekann- Prüfeinrichtung:
ten optischen Prüfeinrichtungen besteht darin, daß Fig. 2. 3 und 4 veranschaulichen den Strahlen-
sie nicht zwischen eigentl'chen Rissen und anderen 20 gang beim Durchlauf on verschiedenen, typischen
optisch wirksamen Störstellen im Prüfling unter- Störstellen im Prüfling, ur>1
scheiden können. Es gibt nämlich außer Rissen F ι g. 5 ist das Blockschaltbild einer logischen manche Arten von Störstellen, wie eingeschlossene Ausvverteschaltung zur Koinzidenzprüfung der von Luftblasen, kleinere Rippen oder Nahtstellen usw., den beiden DetekWvorrichtungen erzeugten Signale, welche den Gebrauchswert des Prüflings nicht be- .=5 Die optische Prüfeinrichtung nach F i g. I dient einträchtigen würden, die sich aber in den bekannten dazu, den Öffnungsrand von zylindrischen Glas-Prüfeinrichtungen optisch ähnlich wie ein Riß aus- seiäßen 10, von denen eines von oben gesehen in wirken und deshalb in unerwünschter Weise eben- der Prüflage dargestellt ist, auf allfällige Risse zu falls ausgeschieden werden. Wegen dieser Unter- untersuchen. Die Prüflinge werden der Reihe nach Scheidungsfähigkeit zwischen eigentlichen Fehlem 30 von der Seite her im Sinne des Pfeiles 5 heran- und tolerierbaren Störstellen im Prüfling muß des- geführt, anschließend in der dargestellten Prüflage halb entweder ein zu großer Ausschuß oder — bei im Sinne des Pfeiles 6 (oder mit entgegengesetzter weniger empfindlicher Einstellung der Prüfeinrich- Drehrichtung) um ihre Achse 8 gedreht, wobei sie tung — die Gefahr von unentdeckten Rissen in mindestens eine volle Umdrehung ausführen, und Kauf genommen werden. Besonders schwierig wird 35 nach durchgeführter Prüfung in Richtung des Pfei diese Unterscheidung bei Prüflingen, die im Bereich les 7 weggeführt. F.ine Einrichtung zur Durchführung der Abtastzone ein Gewinde, Verschlußnocken dieses Bewegungsablaufs ist hier der Einfachheit od. dgl. aufweisen. halber nicht näher dargestellt, es eignet sich hierzu
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es dem- vorzugsweise eine Einrichtung, wie sie in der schweinach, bei einem optischen Prüfverfahren der ge- 40 zerischen Patentschrift 448 889 der gleichen Annannten Art den dargelegten Mangel zu beheben melderin beschrieben ist. Eine ortsfest angeordnete und eine zuverlässige Unterscheidung zwischen Tast- oder Fühlereinrichtun» 30 erzeugt jeweils Glasrissen und tolerierbaren Störstellen zu ermög- während der Anwesenheit eines Prüflings in der liehen, so daß nur die wirklich fehlerhaften Prüflinge Prüfstation ein elektrisches Steuersignal auf der ausgeschieden werden. Das erfindungsgeniäße Prüf- ^5 Leitung 31.
verfahren ist dadurch gekennzeichnet, daß unter- Die Rißprüfeinrichtung nach Fig. 1 enthält im
schieden wird, ob bei Durchlauf einer Störstelle in wesentlichen eine Projektionsvorrichtung 14 und
einem vorgegebenen Zeitintervall, welches in der zwei Detektorvorrichtungen 15, 16. Die Projck-
Größenordnung der Durchlaufzeil einer Störstelle tionsvorrichtung 14 weist eine Lichtquelle 18 und
durch dL jeweilige Abtastzone liegt, in beiden Sek- 5° einen Projektionskopf 20 auf, die übsr einen soge-
toren Strahlen austreten oder nur im einen Sektor, nannten Lichtleiter, vorzugsweise in Form eines
in welchen totalreflektierte Strahlen fallen, worauf flexiblen, lichtleitenden Glasfaserbündels, mitein-
lcdiglich im letztgenannten Fall die Prüflinge aus- ander verbunden sind. De- Projektionskopf 20 er-
gcschieden werden. zeugt ein feines, paralleles Strahlenbündel 22 (>·. H.
Die erfindungsgemäße Prüfeinrichtung zur Durch- 55 mit rundem Querschnitt von 0,2 mm Durchmesser), führung des angegebenen Verfahrens ist dadurch welches auf den Prüfling 10 gerichtet ist. Die beiden gekennzeichnet, daß die Detektorvorrichtungen an Detcktoreinrichtungen 15 und 16 sind unter sich eine logische Auswerieschaltung zur an sich bekann- gleich ausgebildet und weisen je einen Aufnahmeten Koinzidenzprüfung der Signale angeschlossen kopf 20 a, 20 ft sowie einen Detektor Dl bzw. Dl sind, welche ein einstellbares Zeitverzögerungsglied 60 auf, wobei jeder Aufnahmekopf mit dem zugeordenthält, das es gestattet, unter gleichzeitiger Be- neten Detektor mit einem flexiblen, Uchtleitcnden rücksichtigung der Größe der Abtastzone die Ko- Faserbündel 19 a bzw. 19 ft verbunden ist. Als Deinzidenzzeit der jeweiligen Priifgesohwindigke.it an- tektor Dl bzw. D 2 dient ein geeigneter photozupassen, uM das nach Ablauf der Koinzidenzzeit elektrischer Wandler, welcher entsprechend der über die Auswerteschaltung für einen neuen Prüfvorgang 65 den Lichtleiter eintreffenden Strahlung ein elekbetriebsbereit schaltet, und daß die Ausscheide- trisches Signal auf der Ausgangsleitung 28 bzw. 29 einrichtung d^rch einen von einer Ausgangstorschal- erzeugt. Beide Aufnahmeköpfe 20« und 20ft sind tung abgegebenen Antikoinzidenzimpuls, der durch auf die gleiche, als Abtastzone 12 bezeichnete Stelle
5 6
des Prüflings gerichtet, jedoch so, daß sie selektiv sektors 24, während in Richtung des Sektors 26
nur solche Strahlung aufnehmen können, welche keinerlei Strahlung austreten kann. Demnach er-
aus der Abtastzone 12 in einem bestimmten Winkel- scheint beim Durchlauf eines Risses 34 durch die
sektor 24 bzw. 26 austritt, wobei die beiden Winkel- Abtastzone 12 einzig am Detektor D1 ein elek-
sektoren einander nicht überschneiden. Der Projck- 5 trisches Signal, während am Detektor D 2 ein Signal
tionskopf 20 und die Aufnahmeköpfe 20 a, 20 b sind ausbleibt.
in der Prüfstation neben dem Prüfling in nicht näher Die Fig. 3 veranschaulicht die Situation bei
dargestellter Weise fixiert, jedoch in ihrer Lage auf Durchlauf einer Naht, Nase oder Rippe 36. An ein-
die jeweilige Gestalt des Prüflings einstellbar. Selbst- zelnen Stellen der Naht, z. B. an deren Rückflanke,
verständlich wäre es möglich, die Lichtquelle 18 to wird das Bündel 22 totalreflektiert und gegen die
direkt im Projektionskopf 20 und die Detektoren Spitze geleitet. An der Spitze sowie an anderen
Di bzw. D2 in den betreffenden Aufnahmeköpfen Stellen, z.B. am Fuß der Naht, tritt gewöhnliche
anzuordnen; die im Beispiel gezeigte Verwendung Reflexion kombiniert mit Brechung auf, so daß ein
von flexiblen Lichtleitern gestattet jedoch, die er- Teil der Strahlung gegen den Sektor 24, ein anderer
wähnten Köpfe besonders klein auszuführen und ts Teil aber auch in den Bereich des Sektors 26 aus-
cntsprcchend nahe beim Prüfling zu fixieren, ohne tritt. In jedem Fall werden somit während des
daß dadurch der freie Durchlauf der Prüflinge bc- Durchlaufs der Naht 36 beide Detektoren D1 und
hindert wird. 02 praktisch gleichzeitig beaufschlagt.
Während der Umdrehung des Prüflings 10 in der Ähnliche Verhältnisse ergeben sich auch gemäß
Prüfstation durchläuft jede Stelle des auf Risse zu ao F i g. 4 bei Durchlauf einer im Glas cingcschlossc-
untcrsuchcndcn Mündungsrandes die Abtastzonc 12. nen Luftblase 35 durch die Abtastzone 12. Im
Der ringförmige Mündungsrand des zu prüfenden Gegensatz zu einem Riß bildet eine solche Blase
Glasgefäßes wirkt für das in ihn eintretende Licht- eine unregelmäßig gewölbte Glas-Luft-Grcnzfläche,
strahlenbündel 22 als Lichtleiter, indem das Bündel, an welcher praktisch immer an einzelnen Stellen die
wie aus Fig. 1 ersichtlich, abwechselnd an der as Bedingung für die Totalreflexion erfüllt ist (Strahl
Innenfläche und an der Außenfläche des Mündungs- 22')· an anderen Stellen infolge eines steileren FJn-
randcs totalrcflekticrl wird. Dabei durchläuft das fallwinkcls (Strahl 22") jedoch nicht, so daß an den
Strahlenbündel in bestimmter Richtung die Abtast- letzteren Stellen ein Teil der Strahlung durch die
zone 12. Es ist denkbar, das Strahlenbündel 22 auf Grenzfläche hindurchtritt. Somit wird bei Durchlauf
andere als die dargestellte Weise auf die Abtast- 30 einer Blase 35 sowohl totalrcfiektierte Strahlung in
zone Ϊ2 zu riemen, auch ohne vorherige Reflexion Richtung des Sektors 24 a!s such gebrochene Strah-
an einer Glas-Luft-Grenzfläche, z. B. schräg von lung in Richtung des Sektors 26 aus der Abtastzonc
oben, wenn der Projektionskopf 20 sich oberhalb austreten. Deshalb wird auch in diesem Fall prak-
dcs Prüflings 10 oder auf der gegenüberliegenden tisch gleichzeitig, d. h. innerhalb der Durchlaufzcit
Seite befindet. 35 der Störstelle, von beiden Detektoren Dl und DI
Unter normalen Umständen, d. h. bei glatter, in- ein elektrisches Signal erzeugt worden,
takter Oberfläche des Mündungsrandes, bleibt das Bei weiteren (nicht dargestellten) optisch wirk-Slrahlenbündcl 22 infolge der wiederholten Total- samen Störstellen, die tolerierbar oder sogar gewollt reflexion im Innern des Glases »gefangen«, so daß sind (z. B. Gewinde, Vcrschlußnockcn usw.) treten die Aufnahmeköpfe 2On und 20/) bzw. die Detck- 40 oft ähnliche Erscheinungen wie bei den Fig. 3 und 4 torcn nicht beaufschlagt werden. Nur wenn eine im auf, oder es kann auch diffuse Reflexion eintreten. Glas vorhandene, optisch wirksame Störstelle die welche nach beiden Winkelsektoren verteilt oder Abtastzone 12 durchläuft, kann aus diesem Bereich im wesentlichen nur nach dem Sektor 26 austritt. Strahlung aus dem Prüfling austreten, wobei bezug- Einzig Risse haben gemäß Fig. 2 vermöge ihrer lieh des Strahlungsaastrittes in die beiden Winkel- 45 definierten Gestalt und Lage zur Folge, daß die Sektoren 24 und 26 bestimmte typische Fälle zu gesamte Strahlung durch Totalreflexion ausschließunterscheiden sind, welche nachstehend an Hand der lieh in den Sektor 24 und nicht auch in den Sektor in einem größeren Maßstab gehaltenen Fig. 2, 3 26 ausgelenkt wird. Aus dieser Erkenntnis wird und 4 betrachtet werden sollen. gemäß der vorliegenden Erfindung ein Kriterium Die F i g. 2 zeigt einen Glasriß 34, wie er von der so zur Unterscheidung zwischen Rissen 34 und ?.n-Prüfeinrichtung beim Durchlauf durch die Abtast- deren, tolerierbaren Störstellen abgeleitet, indem die zone 12 als Fehler festgestellt werden soll. Ein sol- Signale der Detektoren DX und Dl in einer Kocher Riß stellt eine praktisch ebene Glas-Lutt-Grenz- inzidenzschaltung ausgewertet werden. Es wird also fläche dar, an welcher das Strahlenbündel 22 total- an Hand der zeidichen Beziehung zwischen den reflektiert wird, sofern es gegenüber dem Lot L zur 55 Signalen aus den beiden Detektoren jeweils bei Rißebene unter einem Winkel α einfällt, welcher Durchlauf einer Storstelle unterschieden, ob Strahgrößer ist als der sogenannte Grenzwinkel der lung praktisch gleichzeitig in beide Sektoren 24, 26 Totalreflexion, welcher durch das Verhältnis der austritt oder nur nach dem einen Sektor 24, welcher Brechzahlen zwischen Glas und Luft bestimmt ist. von totalreflektKrten Strahlen beaufschlagt ist
Erfahrungsgemäß liegen solche Risse 34 am Mün- 60 Ein Beispiel einer solchen Koinzidenzschaltung dungsrand praktisch radial; die Einfallsrichtung des zeigt die Fig. 5. In der logischen Auswerteschal-Strahlenbündels 22 ist durch die Fixierung des Pro- tung nach F i g. 5 werden die von den Detektoren D1 iektorkopfes20 so gewählt, daß die erwähnte Total- und D 2 Ober die Leitungen 28 and 29 eintreffenden reflextonsbedkigang auch bei gewissen Abweichun- Signale je einer Impulsformerstufe 40 bzw. 41 zueen der Radiallage des Risses noch erfüllt ist. In- 65 geleitet. Jede Impulsformerstufe erzeugt einen Ausfolge der TötahefleTion am Riß 34 wird das Stn«h- gangsimpuls von definierter Gestalt, wenn das beicnbündel nun aas dem Glas ausgelenkt, und zwar treffende Eingangssignal eine minimale Amplitude ollständig in eine Richtung innerhalb des Winkel- überschreitet Am Ausgang jeder Impulsformerstufe
ist ein Tor 42 bzw. 43 angeschlossen, wobei ein /wciler umgang jedes Tores mit der Leitung 31 verbunden ist, auf welcher das Anwcscnhcilssignal des Fühlers 30 erscheint. Die Tore 42 und 43 sind durch das Anwesenheitssignal jeweils nur dann geöffnet, wenn ein Prüfling 10 sicli in der richtigen li.'iflagc befindet. Der Ausgang jedes Tores 42 und 43 ist mit dem Mingang eines Flip-Flops FF1 bzw. FF2 verbunden. Jedem Flip-Flop ist ein Ausgangslor 47 bzw. 48 zugeordnet, wobei das Ausgangssignal C? jedes Flip-Flops auf das zugeordnete Tor und das inverse Ausgangssignal (? auf das dein anderen Flip-Flop zugeordnete Tor geleitet wird. Für jedes Tor 47 bzw. 48 stellt das Signal C? ein OIT-iHingssignal und das inverse Signal (? ein Sperrsignal dar. Die Ausgänge der Tore 42 und 43 sind außerdem mit den Hingängen eines Oder-Tores 44 verbunden. An dessen Ausgang ist ein einstellbares Zeitser/ögerungsglicd 45 angeschlossen, welches nach Ablauf eines bestimmten Zeitintervalls nach F.inlrclTcn eines Kingangssignals einen Ausgangsimpuls an einen weiteren Eingang der Tore 47 und 48 abgibt. Durch die Kückflanke am linde dieses Impulses wird über eine Kippslufe 46 ein Rüekstellsignal erzeugt, welches den Rückstcllcingimgcn K der beiden Flip-Flops /71 und FFl zugeleitet wird. Die Zeilverzögerung des Kreises 45 wird auf einen Wert eingestellt, welcher in der GröKenordiiung der Durchlaufzcit einer Störstelle durch die Abtastzone 12 entspricht, was insbesondere von der Rotationsgeschwindigkeit des Prüflings in dei Friif-Mation abhängt.
Die Wirkungsweise dieser logischen Schaltung ist wie folgt:
Wenn ein Signal nur vom Detektor D1 eintrifft — was dem Durchlauf eine? Risses entspricht — so wird das Flip-Flop FFI gekippt und dadurch das Tor 47 geöffnet und das Tor 48 gesperrt. Der nachfolgende Impuls des Zeitgliedes 45. welcher durch das erwähnte Signal über das Tor 44 ausgelöst wurde, kann somit nur das Tor 47 passieren, so daß ein Ausgangssignal auf der Leitung N erscheint, welches ein Fehlcrsignal bedeutet und in geeigneter Weise den Ausstoß des betreffenden Prüflings veranlaßt. Trifft anderseits ein Signal nur
ίο vom Detektor D2 ein, welches Signal nicht von einem Riß, sondern nur von einer tolerierbarcn Störstelle hervorgerufen sein kann, so wird FF2 gekippt und dadurch das Tor 48 geöffnet und Tor 47 gesperrt. Der nachfolgende Impuls aus dem Kreis 45 kann demnach nur das Tor 48 passieren und erscheint auf der Leitung /', was ein Gutsignal bedeutet. Wenn bei Durchlauf einer tolericrbaren Störstellc etwa gemäß Fig. 3 oder 4 ein Signal von beiden Detektoren /) 1 und /) 2 praktisch gleich-
ao zeitig, d. h. innerhalb der Laufzeit des Zeitverzögerungsgliedcs 45 eintrifft, so wird einerseits FFl gekippt und das Tor 47 geöffnet, andererseits aber durch das Kippen von FF 2 das Tor 47 wieder gesperrt und das Tor 48 geöffnet, bevor der Impuls
■η aus dem Kreis 45 eintrifft, wodurch der letztere als Gutsignal auf die Ausgangslcitung /' gelangt. In dieser Weise unterscheidet die Schaltung nach Fig. 5 im Sinne der vorstehend an Hand der Fig. 2 bis 4 abgeleiteten Regel zwischen den als Fehler auszuscheidenden Rissen und anderen optisch wirksamen, jedoch tolerierbaren Siörsic-IU-n Jedesmal nach Durchgang eines Impulses aus dem Kreis 45 werden FFl und FF 2 über den Kreis 46 rückgeslellt, so daß der Prüfvorgang während der Rotation des Prüflings sich mehrmals wiederholen kann.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
309633/216

Claims (2)

Patentansprüche:
1. Optisches Verfahren zum Prüfen von Glasgcfäßen auf Risse, bei dem von einer Lichtquelle aus ein Strahlenbündel auf eine AbtasUone in der Glasgefäßwand gerichtet und eine Relatisbewegung zwischen Prüfung und Strahlenbiinde! bzw. Abtastzone erzeugt wird, durch welche der gesamte Umfang des Glasgefäßes abgetastet wird, bei dem während dieser Abtastperiode die von der Abtastzone ausgehenden Lichtstrahlen beobachtet werden, die infolge von durchlaufenden Störstellen im Prüfling abgelenkt werden, bei dem zwei verschiedene, von der Abtastzone ausgehende Winkelsektoren von jeweils einer berührungslos aibeitenden Dctekioruirrichtung überwacht werden, von denen der eine Detektor die nur von kissen reflektierten Lichtstrahlen und der andere nur von ai.deren Störstellen gebrochenen Lichtstn hlen empfängt, und bei dem fehlerhafte von brauchbaren Prüflingen getrennt werden, dadurch gekennzeichnet, daß unterschieden wird, ob bei Durchlauf einer Störstelle (34, 35, 36) in einem vorgegebenen Zeitintervall, welches in der Größenordnung der Durchlaufzeit einer Störslelle durch die jeweilige Abtastzone liegt, in beiden Sektoren (24, 26) Strahlen austreten oder nur im einen Sektor (24), in welchen Walreflektierte Strahlen fallen, worauf lediglich im letztgenannten Fall die Prüflinge ausgeschieden werden.
2. Prüfeinrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, mu einer auf eine Abtastzone des Prüflings gerichteten Projektionsvorrichtung, zwei berührungslos arbeitenden, auf die Abtastzone ausgerichteten Detektorvorrichtungen, welche auf in zwei getrennten Winkelscktoren austretende Strahlung selektiv ansprechen und entsprechende elektrische Signale erzeugen und mit einer Ausscheideeinrichtung für fehlerhafte Prüflinge, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektorvorrichtungen (15, 16) an eine logische Auswerteschaltung (Fig. 5) zur an sich bekannten Koinzidenzprüfung der Signale angeschlossen sind, welche ein einstellbares Zeitverzögerungsglied (45) enthält, das es gestattet, unter gleichzeitiger Berücksichtigung der Größe der Abtastzone (12) die Koinzidenzzeit der jeweiligen Prüfgeschwindigkeit anzupassen, und das nach Ablauf der Koinzidenzzeit die Auswerteschaltung für einen neuen Prüfvorgang betriebsbereit schaltet, und daß die Ausscheideeinrichtung durch einen von einer Ausgangstorschaltung (47) abgegebenen Antikoiiizidenzimpuls (N), der durch die Erregung des einen Detektos (D 1), welcher von Rissen (34) reflektierte Lichtstrahlen (22) empfängt, betätigt wird.
DE19681772454 1967-06-15 1968-05-17 Optisches Verfahren und Prüfern richtung zum Prüfen von Glasgefaßen auf Risse Expired DE1772454C (de)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
CH847567A CH465269A (de) 1967-06-15 1967-06-15 Einrichtung zur optischen Prüfung von gläsernen Gegenständen auf Risse
CH847567 1967-06-15
US73445668A 1968-06-04 1968-06-04

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE1772454A1 DE1772454A1 (de) 1972-04-20
DE1772454B2 DE1772454B2 (de) 1973-01-25
DE1772454C true DE1772454C (de) 1973-08-16

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