DE1772454B2 - Optisches verfahren und pruefeinrichtung zum pruefen von glasgefaessen auf risse - Google Patents
Optisches verfahren und pruefeinrichtung zum pruefen von glasgefaessen auf risseInfo
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Description
Dazu werden zwei Strahlenbündel auf verschiedene die Erregung des einen Detektors, welcher von
Abtastzonen gerichtet und die erzeugte Streustrah- Rissen reflektierte Lichtstrahlen empfängt, betätigt
lung von zwei zugehörigen Detektoren festgestellt wird.
Von diesen registriert der erste Detektor die Streu- Bei den bekannten optischen. Prüfeinrichtungen
strahlung von möglichen Defekten bzw. Störstellen 5 mit mehr als einem Detektor, die jedoch vonein'
wie auch von den Gewinderillen des Glasgewindes, ander unabhängig arbeiten, wirken sich ihre Signale
und der zweite stellt die nur von den Gewinderillen gleichwertig aus und bewirken einzeln den Ausstoß
reflektierte Strahlung fest Eine Koinzidenzschaltuog von Prüflingen, dabei kommt es nicht auf irgendeine
sorgt dann dafür, daß die von den Gewinderiuen zeitliche Beziehung zwischen den Signalen an, Bei
reflektierte und mit dem ersten Detektor registrierte io solchen Einrichtungen soll mit der Verwendung
Strahlung eleminiert wird und nur die Streustrahlung mehrerer Detektoren ledigüch erreicht werden, daß
von den Störstellen eben Ausschußimpuls erzeugt, ein größerer Bereich von möglichen Winkellagen der
so daß auch hier die Art der Störstelle nicht ermit- Risse und alle Arten von Störstellen erfaßt werden,
telt wird. Bei derartigen Prüfemrichtungen lassen Die Erfindung wird nachstehend an Hand eines
sich für die optischen Teile vorteilhaft Lichtfaser- 15 Ausführungsbeispiels im Zusammenhang mit der
bündel entsprechend der französischen Patentschrift Zeichnung näher erläutert.
1449 466 verwenden. Fig. 1 zeigt schematisch den optischen Teil der
Der hauptsächliche Nachteil aller dieser bekann- Prüfeinrichtung;
ten optischen Prüfemrichtungen besteht darin, daß F i g. 2, 3 und 4 veranschaulichen den Strahlensie
nicht zwischen eigentlichen Rissen und anderen ao gang beim Durchlauf von verschiedenen, typischen
optisch wirksamen Störstellen im Prüfling unter- Störstellen im Prüfling, und
scheiden können. Es gibt nämlich außer Rissen Fig. 5 ist das Blockschaltbild einer logischen
manche Arten von Störstellen, wie emgeschlossene Auswerteschaltung zur Koinzidenzprüfung der von
Luftblasen, kleinere Rippen oder Nahtstellen usw., den beiden Detektorvorrichtungen erzeugten Signale,
welche den Gebrauchswert des Prüflings nicht be- 25 Die optische Prüfeinrichtung nach F i g. 1 dient
einträchtigen würden, die sich aber b den bekannten dazu, den Öffnungsrand von zylindrischen Glas-Prüfeinrichtungen
optisch ähnlich wie ein Riß aus- gefäßen 10, von denen eines von oben gesehen in
wirken und deshalb in unerwünschter Wei*>e eben- der Prüflage dargestellt ist, auf allfällige Risse zu
falls ausgeschieden werden. Wegen dieser Unter- untersuchen. Die Prüflinge werden der Reihe nach
Scheidungsfähigkeit zwischen eigentlichen Fehlern 30 von der Seite her im Sinne des Pfeiles 5 heran-
»md tolerierbaren Störstellen im Prüfling muß des- geführt, anschließend in der dargestellten Prüflage
halb entweder ein zu großer Ausschuß oder — bei im Sinne des Pfeiles 6 (oder mit entgegengesetzter
weniger empfindlicher Einstellung der Prüfeinrich- Drehrichtung) um ihre Achse 8 gsdreht, wobei sie
tung — die Gefahr von unentdeckten Rissen in mindestens eine volle Umdrehung ausführen, und
Kauf genommen werden. Besonders schwierig wird 35 nach durchgeführter Prüfung in Richtung des Pfeidiese
Unterscheidung bei Prüflingen, die im Bereich les 7 weggeführt. Eine Einrichtung zur Durchführung
der Abtastzone ein Gewinde, Verschlußnocken dieses Bewegungsablaufs ist hier der Einfachheit
od. dgl. aufweisen. halber nicht näher dargestellt, es eignet sich hierzu
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es dem- vorzugsweise eine Einrichtung, wie sie in der schweinach,
bei einem optischen Prüfverfahren der ge- +0 zerischen Patentschrift 448 889 der gleichen Annannten
Art den dargelegten Mangel zu beheben melderin beschrieben ist. Eine ortsfest angeordnete
und eine zuverlässige Unterscheidung zwischen Tast- oder Fühlereinrichtung 30 erzeugt jeweils
Glasrissen und tolerierbaren Störstellen zu ermög- während der Anwesenheit eines Prüflings in der
liehen, so daß nur die wirklich fehlerhaften Prüflinge Prüfstation ein elektrisches Steuersignal auf der
ausgeschieden werden. Das erfindungsgemäße Prüf- 45 Leitung 31.
verfahren ist dadurch gekennzeichnet, daß unter- Die Rißprüfeinricbtung nach F i g. 1 enthält im
schieden wird, ob bei Durchlauf einer Störstelle in wesentlichen eine Projektionsvorrichtung 14 und
einem vorgegebenen Zeitintervall, welches in der zwei Detektorvorrichtungen 15, 16. Die Projek-Größenordnung
der Durchlaufzeit einer Störstelle tionsvorrichtung 14 weist eine Lichtquelle IB und
durch die jeweilige Abtastzone liegt, in beiden Sek- 50 einen Projektionskopf 20 auf, die über einen sogetoren
Strahlen austreten oder nur im einen Sektor, nannten Lichtleiter, vorzugsweise in Form eines
in welchen totalreflektierte Strahlen fallen, worauf flexiblen, lichtleitenden Glasfaserbündels, tniteinlediglich
im letztgenannten Fall die Prüflinge aus- ander verbunden sind. Der Projektionskopf 20 ergeschieden
werden. zeugt ein feines, paralleles Strahlenbündel 22 (z,B.
Die erfindungsgemäße Prüfeini ichtung zur Durch- 55 mit rundem Querschnitt von 0,2 mm Durchmesser),
führung des angegebenen Verfahrens ist dadurch welches auf den Prüfling 10 gerichtet ist. Die ueiüeu
gekennzeichnet, daß die Detektorvorrichtungen an Detektoreinrichtungen 15 und 16 sind unter sich
eine logische Auswerteschaltung zur an sich bekann- gleich ausgebildet und weisen je einen Aufnahmeten
Koinzidenzprüfung der Signale angeschlossen kopf 20o, 20b sowie einen DetektorDX bzw. DI
sind, welche ein einstellbares Zeitverzögerungsglied 60 auf, wobei jeder Aufnahmekopf mit dem zugeordenthält,
das es gestattet, unter gleichzeitiger Be- neten Detektor mit einem flexiblen, lichtleitenden
rücksichtigung der Größe der Abtastzone die Ko- Faserbündel 19 α bzw. 19 ft verbunden ist. Als Deinzidenzzeit
der jeweiligen Prüfgeschwindigkeit an- tektor DX bzw. Dl dient ein geeigneter photozupassen,
und das nach Ablauf der Koinzidenzzeit elektrischer Wandler, welcher entsprechend der über
die Auswerteschaltung für einen neuen Prüfvorgang 65 den Lichtleiter eintreffenden Strahlung ein elekbetriebsbereit
schaltet, und daß die Ausscheide- Irisches Signal auf der Ausgangsleitung 2$ bzw. 29
einrichtung durch einen von einer Ausgangstorschal- erzeugt. Beide Aufnahmeköpfe 20 a und 20 b sind
tung abgegebenen Antikoinzidenziropuls, der durch auf die gleiche, als Abtaßtzone 12 bezeichnete Stelle
des Prüflings gerichtet, jedoch so, daß sie selektiv nur solche Strahlung aufnehmen können, welche
aus der Abtastzone 12 in einem bestimmten Winkelsektor 24 bzw. 26 austritt, wobei die beiden Winkelsektoren
einander nicht überschneiden. Der Projektionskopf 20 und die Aufnahmeköpfe 20 a, 20 ft sind
in der Prüfstation neben dem Prüfling in nicht näher dargestellter Weise fixiert, jedoch in ihrer Lage auf
die jeweilige Gestalt des Prüflings einstellbar. Selbstverständlich wäre es möglich, die Lichtquelle 18
direkt im Projektionskopf 20 und die Detektoren Dl bzw. D 2 in den betreffenden Aufnahmeköpfen
anzuordnen; die im Beispiel gezeigte Verwendung von flexiblen Lichtleitern gestattet jedoch, die erwähnten
Köpfe besonders klein auszuführen und entsprechend nahe beim Prüfling zu fixieren, ohne
daß dadurch der freie Durchlauf der Prüflinge behindert wird.
Während der Umdrehung des Prüflings 10 in der Prüfstation durchläuft jede Stelle des auf Risse zu
untersuchenden Mündungsrandes die Abtastzone 12. Der ringförmige Mündungsrand des zu prüfenden
Glasgefäßes wirkt für das in ihn eintretende Lichtstrahlenbündel 22 als Lichtleiter, indem das Bündel,
wie aus Fig. 1 ersichtlich, abwechselnd an der Innenfläche und an der Außenfläche des Mündungsrandes totalreflektiert wird. Dabei durchläuft das
Strahlenbündel in bestimmter Richtung die Abtastzone 12. Es ist denkbar, das Strahlenbündel 22 auf
andere als die dargestellte Weise auf die Abtastzone 12 zu richten, auch ohne vorherige Reflexion
an einer Glas-Luft-Grenzfläche, z. B. schräg von oben, wenn der Projektionskopf 20 sich oberhalb
des Prüflings 10 oder auf der gegenüterliegenden Seite befindet.
Unter normalen Umständen, d. h. bei glatter, intakter Oberfläche des Mündungsrandes, bleibt das
Strahlenbündel 22 infolge der wiederholten Totalreflexion im Innern des Glases »gefangen«, so daß
die Aufnahmeköpfe 20 a und 20 & bzw. die Detektoren nicht beaufschlagt werden. Nur wenn eine im
Glas vorhandene, optisch wirksame Störstelle die Abtastzone 12 durchläuft, kann aus diesem Bereich
Strahlung aus dem Prüfling austreten, wobei bezüglich des Strahlungsaustrittes in die beiden Winkel-Sektoren
24 und 26 bestimmte typische Fälle zu unterscheiden sind, welche nachstehend an Hand der
in einem größeren Maßstab gehaltenen Fig. 2, 3 und 4 betrachtet werden sollen.
Die F i g. 2 zeigt einen Glasriß 34, wie er von der Prüfeinrichtung beim Durchlauf durch die Abtastzone
12 als Fehler festgestellt werden soll. Ein solcher Riß stellt eine praktisch ebene Glas-Luft-Grenzfläche
dar, an welcher das Strahlenbündel 22 totalreflektiert wird, sofern es gegenüber dem Lot L zur
Rißebene unter einem Winkel α einfällt, welcher größer ist als der sogenannte Grenzwmkel der
Totalreflexion, welcher durch das Verhältnis der Brechzahlen zwischen Glas und Luft bestimmt ist
Erfahrungsgemäß liegen solche Risse 34 am Mündungsrand praktisch radial; die Einfallsrichtung des
StraMenbSndels 22 ist durch die Fixierung des Projektorkopfes 20 so gewählt, daß die erwähnte Totalreflexionsbedingung
auch bei gewissen Abweichungen der Radiallage des Risses noch erfüllt ist Infolge
der Totalreflexion am Riß 34 wird das Strahlenbündel nun ans dem Glas ausgelenkt, und zwar
vollständig in eine Richtung innerhalb des Winkelsektors 24, während in Richtung des Sektors 26
keinerlei Strahlung austreten kann. Demnach erscheint beim Durchlauf eines Risses 34 durch die
Abtastzone 12 einzig am Detektor Dl ein elektrisches Signal, während am Detektor D 2 ein Signal
ausbleibt.
Die Fig. 3 veranschaulicht die Situation bei Durchlauf einer Naht, Nase oder Rippe 36. An einzelnen
Stellen der Naht, ζ. B. an deren Rückflanke, wird das Bündel 22 totalreflektiert und gegen die
Spitze geleitet. An der Spitze sowie an anderen Stellen, z. B. am Fuß der Naht, tritt gewöhnliche
Reflexion kombiniert mit Brechung auf, so daß ein Teil der Strahlung gegen den Sektor 24, ein anderer
Teil aber auch in den Bereich des Sektors 26 austritt. In jedem Fall werden somit während des
Durchlaufs der Naht 36 beide Detektoren Dl und D 2 praktisch gleichzeitig beaufschlagt.
Ähnliche Verhältnisse ergeben sich auch gemäß F i g. 4 bei Durchlauf einer im Glas eingeschlossenen
Luftblase 35 durch die Abtastzone 12. Im Gegensatz zu einem Riß bildet eine solche Blase
eine unregelmäßig gewölbte Glas-Luft-Grenzfläche, an welcher praktisch immer an einzelnen Stellen die
Bedingung für die Totalreflexion erfüllt ist (Strahl 22'), an anderen Stellen infolge eines steileren Einfallwinkels
(Strahl 22") jedoch nicht, so daß an den letzteren Stellen ein Teil der Strahlung durch die
Grenzfläche hindurchtritt. Somit wird bei Durchlauf einer Blase 35 sowohl totalreflektierte Strahlung in
Richtung des Sektors 24 als auch gebrochene Strahlung in Richtung des Sektors 26 aus der Abtastzone
austreten. Deshalb wird auch in diesem Fall praktisch gleichzeitig, d. h. innerhalb der Durchlaufzeit
der Störstelle, von beiden Detektoren Dl und D 2
ein elektrisches Signal erzeugt werden.
Bei weiteren (nicht dargestellten) optisch wirksamen Störstellen, die tolerierbar oder sogar gewollt
sind (z. B. Gewinde, Verschlußnocken usw.) treten oft ähnliche Erscheinungen wie bei den Fig. 3 und 4
auf, oder es kann auch diffuse Reflexion eintreten, welche nach beiden Winkelsektoren verteilt oder
im wesentlichen nur nach dem Sektor 26 austritt. Einzig Risse haben gemäß Fig. 2 vermöge ihrer
definierten Gestalt und Lage zur Folge, daß die gesamte Strahlung durch Totalreflexion ausschließlich
in den Sektor 24 und nicht auch in den Sektor 26 ausgelenkt wird. Aus dieser Erkenntnis wird
gemäß der vorliegenden Erfindung ein Kriterium zur Unterscheidung zwischen Rissen 34 und anderen,
tolerierbaren Störstellen abgeleitet, indem die Signale der Detektoren Dl und D 2 in einer Koinzidenzschaltung
ausgewertet werden. Es wird also an Hand der zeitlichen Beziehung zwischen den
Signalen aus den beiden Detektoren jeweils bei Durchlauf einer Störstelle unterschieden, ob Strahlung
praktisch gleichzeitig in beide Sektoren 24, 26 austritt oder nur nach dem einen Sektor 24, welcher
von totalreflektierten Strahlen beaufschlagt ist
Ein Beispiel einer solchen Koinzidenzschaltung zeigt die Fig. 5. In der logischen Auswerteschaltung
nach Fi g. 5 werden die von den Detektoren D1
und D 2 über die Leitungen 28 und 29 eintreffenden Signale je einer Impulsformerstufe 40 bzw. 41 zugeleitet
Jede Impulsfonnerstufe erzeugt einen Ausgangsimpuls von definierter Gestalt, wenn das betreffende
Eingangssignal eine minimale Amplitude überschreitet Am Ausgang jeder Impulsformerstufe
ist ein Tor 42 bzw. 43 angeschlossen, wobei em zweiter Eingang jedes Tores mit der Leitung 31
verbunden ist, auf welcher das Anwesenheitssignal
des Fühlers 30 erscheint. Die Tore 42 und 43 sind durch das Anwesenheitssignal jeweils nur dann geöffnet,
wenn ein Prüfling 10 sich in der richtigen Prüflage befindet. Der Ausgang jedes Tores 42 und
43 ist mit dem Eingang eines Flip-Flops FFl bzw. FF 2 verbunden. Jedem Flip-Flop ist ein Ausgangstor
47 bzw. 48 zugeordnet, wobei das Ausgangssignal Q jedes Flip-Flops auf das zugeordnete Tor
und das inverse Ausgangssignal 2 auf das dem anderen
Flip-Flop zugeordnete Tor geleitet wird. Fur jedes Tor 47 bzw. 48 stellt das Signal Q ein Öffnungssignal
und das inverse Signal 2 ein Sperrsignal
dar Die Ausgänge der Tore 42 und 43 sind außerdem
mit du? Eingängen eines Oder-Tores 44 verbunden. An dessen Ausgang ist ein einstellbares
Zeitverzögerungsglied 45 angeschlossen, welches nach Ablauf eines bestimmten Zeitintervalls nach
Eintreffen eines Eingangssignals einen Ausgangseinen Wert eingestellt, welcher in de --nung
der Durchlaufzeit einer .Storstelle: durch die
Abtostzone« entspricht, was insbesondere von ^r
Rotationsgeschwindigkeit des Prüflings in der Pruf- '""" "UlSgsweise dieser logischen Schaltung ist
Wenn'em Signal nur vom Detektor Dl-«trifft
— was dem Durchlauf eines Risses entspricht — so wird das Flip-Flop FFl gekippt und dadurch
das Tor 47 geöffnet und das Tor 48 gesperrt. Der nachfolgende Impuls des Zeitgliedes 45, welcher
durch das erwähnte Signal über das Tor 44 ausgelöst wurde, kann somit nur das for 47 passieren,
so daß ein Ausgangssignal auf der Leitung N erscheint, welches ein Fehlersignal bedeutet und in
geeigneter Weise den Ausstoß des betreffenden Prüflings veranlaßt. Trifft anderseits ein Signal nur
ίο vom Detektor D 2 ein, welches Signal nicht von
einem Riß, sondern nur von einer tolerierbaren Storstelle
hervorgerufen sein kann, so wird FF 2 gekippt und dadurch das Tor 48 geöffnet und Tor 47 gesperrt.
Der nachfolgende Impuls aus dem Kreis 45 kann demnach nur das Tor 48 passieren und erscheint
auf der Leitung P, was ein Gutsignal bedeutet. Wenn bei Durchlauf einer tolerierbaren Storstelle
etwa gemäß Fig. 3 oder 4 ein Signal von beiden Detektoren Dl und £>2 praktisch gleichao
zeitig, d. h. innerhalb der Laufzeit des Zeitverzögerungsgliedes 45 eintrifft, so wird einerseits FFl gekippt
und das Tor 47 geöffnet, andererseits aber durch das Kippen von FF 2 das Tor 47 wieder gesperrt
und das Tor 48 geöffnet, bevor der Impuls aus dem Kreis 45 eintrifft, wodurch der letztere als
Gutsignal auf die Ausgangsleitung P gelangt. In dieser Weise unterscheidet die Schaltung nach
Fig. 5 im Sinne der vorstehend an Hand der Fig. 2 bis 4 abgeleiteten Regel zwischen den als
Fehler auszuscheidenden Rissen und anderen optisch wirksamen, jedoch tolerierbaren Störstellen. Jedesmal
nach Durchgang eines Impulses aus dem Kreis 45 werden FFl und FF 2 über den Kreis 46 rückgestellt,
so daß der Prüfvorgang während der Rotation des Prüflings sich mehrmals wiederholen
kann.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
209584/223
Claims (2)
1. Optisches Verfahren zum Prüfen von Glas- den, die infolge von durchlaufenden Störstellen im
gefäßen auf Risse, bei dem von einer Lichtquelle 5 Prüfling abgelenkt werden, bei dem zwei verschieaus
ein Strahlenbündel auf eine Abtastzone in dene, von der Abtastzone ausgehende Winkelsektoren
der Glasgefäßwand gerichtet und eine Relativ- von jeweils einer berührungslos arbeitenden Detekbewegung
zwischen Prüfling und Strahlenbündel torvorrichtung überwacht werden, von denen der
bzw. Abtastzone erzeugt wird, durch welche der eine Detektor die nur von Rissen reflektierten Lichtgesamte Umfang des Glasgefäßes abgetastet wird, io strahlen und der andere die nur von anderen Störbei
dem während dieser Abtastperiode die von stellen gebrochenen Lichtstrahlen empfängt, und bei
der Abtastzone ausgehenden Lichtstrahlen be- dem fehlerhafte von brauchbaren Prüflingen getrennt
obachtet werden, die infolge von durchlaufenden werden.
Störstellen im Prüfling abgelenkt werden, bei Weiterbin betrifft die Erfindung eine Prüfeinrich-
dem zwei verschiedene, von der Abtastzone aus- ts tuag zur Durchführung des Verfahrens, mit einer auf
gehende "Winkelsektoren von jeweils einer beruh- eine Abtastzone des Prüflings gerichteten Projekrungslos
arbeitenden Detektorvorrichtung über- tionsvorrichtung, zwei berührungslos arbeitenden,
wacht werden, von denen der eine Detektor die auf die Abastzone ausgerichteten Detektorvorrichnur
von Rissen reflektierten Lichtstrahlen und der tungen, welche auf in zwei getrennten Winkelsektoandere
die nur von anderen Störstellen gebroche- 20 ren austretende Strahlung selektiv ansprechen und
nen Lichtstrahlen empfängt, und bei dem fehler- entsprechende elektrische Signale erzeugen und ma
hafte von brauchbaren Prüflingen getrennt wer- einer Ausscheideeinrichtung für fehlerhafte Prüfden.
dadurch gekennzeichnet, daß linge.
unterschieden wird, ob bei Durchlauf einer Stör- Bei der Herstellung von Glasgefäßen ist es häufig
stelle (34, 35, 36) in einem vorgegebenen Zeit- 25 notwendig, diese auf mögliche Risse zu prüfen. Beintervall,
welches in der Größenordnung der sonders bei der Massenfertigung von Glasgefäßen
Durchlaufzeit einer Störstelle durch die jeweilige müssen solche Gefäße als fehlerhaft ausgeschieden
Abtastzone liegt, in beiden Sektoren (24, 26) werden, welche an ihrer Randpartie größere oder
Strahlen austreten oder nur im einen Sektor (24), kleinere Risse aufweisen, da solche Risse die Bruchin
welchen totalreflektierte Strahlen fallen, worauf 30 gefahr der Gläser beträchtlich erhöhen und ein einlediglich
im letztgenannten Fall die Prüflinge aus- wandfrei dichtes Verschließen verunmöglichen,
geschieden werden. Außer der viesuellen Prüfung sind bereits optische
geschieden werden. Außer der viesuellen Prüfung sind bereits optische
2. Prüfeinrichtung zur Durchführung des Ver- Prüfverfahren zum selbsttätigen Feststellen von Risf
ahrens nach Anspruch 1, mit einer auf eine Ab- sen vorgeschlagen worden. Hierbei wird ein Strahkn-Ustzone
des Prüflings gerichteten Projektions- 35 bündel auf eine Abtastzone des Prüflings gerichtet
vorrichtung, zwei berührungslos arbeitenden, auf und eine Relativbewegung zwischen dem Prüfling
die Abtastzone ausgerichteten Detektorvorrich- und dem Strahlenbündel bzw. der Abtastzone ertungen,
welche auf in zwei getrennten Winkelsek- zeugt, und es werden während der Relativbewegung
toren austretende Strahlung selektiv ansprechen von der Abtastzone ausgehende Strahlen beobachtet,
und entsprechende elektrische Signale erzeugen 40 die infclge von durcllaufenden Störstellen im Prüf-
und mit einer Ausscheideeinrichtung für fehler- Hng abgelenkt werden. Es wird dabei die Tatsache
hafte Prüflinge, dadurch gekennzeichnet, daß die ausgenutzt, daß ein Riß im Glas eine optische
Detektorvorrichtungen (15, 16) an eine logische Grenzschicht darstellt, an welcher beim Auftreffen
Auswerteschaltung (Fig. 5) zur an sich bekann- des Strahlenbündels in Richtung Glas/Luft je nach
ten Koinzidenzprüfung der Signale angeschlossen 45 Einfallwinkel entweder gewöhnliche Reflexion und
sind, welche ein einstellbares Zeitverzögerungs- Brechung oder Totalreflexion auftritt.
glied (45) enthält, das es gestattet, unter gleich- In der USA.-Patentschrift 3 171 033 ist ein opti-
zeitiger Berücksichtigung der Größe der Abtast- sches Prüfverfahren und eine zugehörige Prüfeinrichzone
(12) die Koinzidenzzeit der jeweiligen Prüf- tung der angegebenen Art beschrieben. Damit wergeschwindigkeit
anzupassen, und das nach Ab- 50 den die Öffnungsränder von offenen Glasgefäßen auf
lauf der Koinzidenzzeit die Auswerteschaltung Risse und andere Störstellen, wie eingeschlossene
für einen neuen Prüfvorgang betriebsbereit schal- Luftblasen, geprüft. Es wird jedoch nicht zwischen
tet, und daß die Ausscheideeinrichtung durch eigentlichen Rissen und anderen optisch wirksamen
einen von einer Ausgangstorschaltung (47) ab- Störstellen im Prüfling unterschieden, so daß auch
gegebenen Antikoinzidenzimpuls (N), der durch 55 Prüflinge mit tolerierbaren Störstellen als Ausschuß
die Erregung des einen Detektos (D 1), welcher festgestellt werden.
von Rissen (34) reflektierte Lichtstrahlen (22) Bei einer anderen, in der USA.-Patentschrift
empfängt, betätigt wird. 2 806 401 angegebenen Prüfeinrichtung wird eine
Koinzidenzschaltung verwendet, um die gleichzeitig
60 von einer beleuchteten Abtastzone in zwei verschiedene Winkelsektoren reflektierte diffuse Streustrahlung
zu ermitteln und dadurch vorhandene Streu-
Die Erfindung betrifft ein optisches Verfahren zum Zentren, also optische Störstellen, festzustellen.
Prüfen von Glasgefäßen auf Risse, bei dem von einer Zwischen Rissen und anderen Störstellen wird auch
Lichtquelle aus ein Strahlenbündel auf eine Abtast- 6g hier nicht, unterschieden.
zone in der Glasgefäßwand gerichtet und eine ReIa- Eine weitere Prüfeinrichtung ist aus der USA.-
tivbewegung zwischen Prüfling und Strahlenbündel Patentschrift 3 287 564 bekannt, welche zur Prüfung
bzw. Abtastzone erzeugt wird, durch welche der ge- von Gewinden verschlossener Glasgefäße dient.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH847567A CH465269A (de) | 1967-06-15 | 1967-06-15 | Einrichtung zur optischen Prüfung von gläsernen Gegenständen auf Risse |
CH847567 | 1967-06-15 | ||
US73445668A | 1968-06-04 | 1968-06-04 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1772454A1 DE1772454A1 (de) | 1972-04-20 |
DE1772454B2 true DE1772454B2 (de) | 1973-01-25 |
DE1772454C DE1772454C (de) | 1973-08-16 |
Family
ID=
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0456910A1 (de) * | 1990-05-14 | 1991-11-21 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Prüfung von Behälteröffnungen |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0456910A1 (de) * | 1990-05-14 | 1991-11-21 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Prüfung von Behälteröffnungen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3533704A (en) | 1970-10-13 |
DE1772454A1 (de) | 1972-04-20 |
GB1191195A (en) | 1970-05-06 |
CH465269A (de) | 1968-11-15 |
FR1570855A (de) | 1969-06-13 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |