DE1473890U - - Google Patents

Info

Publication number
DE1473890U
DE1473890U DENDAT1473890D DE1473890DU DE1473890U DE 1473890 U DE1473890 U DE 1473890U DE NDAT1473890 D DENDAT1473890 D DE NDAT1473890D DE 1473890D U DE1473890D U DE 1473890DU DE 1473890 U DE1473890 U DE 1473890U
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
optics
aperture
image
curvature
dea
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
DENDAT1473890D
Other languages
German (de)
English (en)
Publication of DE1473890U publication Critical patent/DE1473890U/de
Active legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Studio Devices (AREA)
DENDAT1473890D Active DE1473890U (OSRAM)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1473890U true DE1473890U (OSRAM)

Family

ID=779775

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DENDAT1473890D Active DE1473890U (OSRAM)

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE1473890U (OSRAM)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69511903T2 (de) System zur kontinnierlichen räumlichen Abbildung für Abtastmikroskopie
DE3873570T2 (de) Konfokales Laserabtastmikroskop.
DE69030733T2 (de) Zweifarben Kamera Mikroskop sowie Methodologie zur Anfärben von Zellen sowie Analyse
EP2918180B1 (de) Optische Prüfung von stabförmigen Artikeln der Tabak verarbeitenden Industrie
DE3322389A1 (de) Vorrichtung zum optischen abtasten eines dokuments
DE112012002316T5 (de) Makrobereichskamera für ein Infrarot(IR)-Mikroskop
DE3804534C2 (de) Spiegelsystem mit einem sammelnden Primärspiegel
EP3283916A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum untersuchen eines objektes, insbesondere einer mikroskopischen probe
DE1473890U (OSRAM)
DE2056812C3 (de) Vorrichtung zum Abtasten eines von der Erdoberfläche ausgehenden Abtaststrahls
DE2906440A1 (de) Spektrometer
DE3151221A1 (de) "abtastobjektiv fuer abtastung mit gleichmaessiger geschwindigkeit mit hohem aufloesungsvermoegen"
EP3283918A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur spim-untersuchung einer probe
DE102014202052B4 (de) Optisches System für die Digitalmikroskopie
EP0218865A1 (de) Prüfanordnung zur berührungslosen Ermittlung von Defekten in nicht strukturierten Flächen
DE3432636A1 (de) Mehrzweckmikroskop
DE10236417A1 (de) Slide Scanner-Vorrichtung und Verfahren
EP4636456A2 (de) Optische anordnung für ein schiefeebenenmikroskop zur verbesserung der auflösung
DE2816986C3 (de) Anordnung zum Aufsuchen von Fehlern auf laufenden Bändern
DE2525100A1 (de) Varioobjektiv mit verschiebbarem linsenglied von positiver brechkraft
EP4133322A1 (de) Schiefeebenemikroskop mit verbesserter sammeleffizienz
DE68916351T2 (de) Gerät zur Oberflächenprüfung.
DE102021102246A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Messen einer optischen Eigenschaft eines optischen Systems
DE102023107537A1 (de) Verfahren, system, lichtmikroskop und computerprogrammzur bearbeitung lichtmikroskopischer datensätze
EP0764867B1 (de) CCD-Zeilenscanner zum optisch-elektrischen Abtasten eines Objektes