DE2440552B2
(de )
1977-07-21
Einrichtung zur optischen echtheitspruefung von banknoten und anderen wertzeichen
DE2816325A1
(de )
1979-10-18
Einrichtung zum abtasten von mustern mit einer geregelten lichtquelle
DE7315547U
(de )
1978-11-16
Pruefgeraet
DE3304780C2
(enExample )
1989-09-14
DE1472084A1
(de )
1969-01-16
Mikroskop mit wanderndem Beleuchtungspunkt
DE2504802A1
(de )
1975-08-14
Fluoreszenzmikrophotometer zum arbeiten mit senkrechter reflexion
EP0490428A2
(de )
1992-06-17
Vielkanalspektrometer
DE10249160A1
(de )
2003-05-15
Beleuchtungsvorrichtung zum Prüfen
DE1598138C3
(de )
1974-10-17
Vorrichtung zum Messen der Konzentration von in einem strömenden Gas suspendierten Teilchen, insbesondere des Rußgehaltes der Abgase von Brennkraftmaschinea
DE2620330A1
(de )
1976-11-18
Verfahren und vorrichtung zur bestimmung einer oberflaechengestalt
DE69011053T2
(de )
1995-03-23
System zur Reduktion des durch den Emissionsbereich der Lichtquelle bewirkten Wellenlängenfehlers bei Spektrometern.
DE2709279C2
(de )
1979-04-26
Optischer Münzprüf er
DE3332986A1
(de )
1985-04-04
Reflexionsmessgeraet fuer die messung des spektralen strahldichtefaktors fuer die 45/0-messgeometrie
DE2101689A1
(de )
1972-07-20
Anordnung zur Durchführung eines Verfahrens zum berühungslosen optischen Prüfen und Messen von Oberflächen
DE2657156C3
(de )
1981-08-06
Remissionsdensitometer
DE650009C
(de )
1937-09-09
Verfahren zur Bestimmung der Wirkung eines Strahlengemisches auf einen Koerper und Einrichtung zur Durchfuehrung des Verfahrens
DE1247687B
(de )
1967-08-17
Truebungsmesser
DE1174086B
(de )
1964-07-16
Geraet zur Messung und Registrierung der atmosphaerischen Normsichtweite
DE746607C
(de )
1944-08-16
Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung der Belichtungszeit photographischer Objekte
DE4423698A1
(de )
1996-01-04
Meßanordnung zur optoelektronischen Bestimmung des gerichteten und gestreuten Anteils der Reflexion von Körperoberflächen
DE3203984A1
(de )
1983-08-18
Verfahren und anordnung zur darstellung der abbildungsguete von optischen systemen
DE2454644C3
(de )
1977-04-28
Verfahren und Vorrichtung zum Beurteilen des Glanzvermögens von hochglänzenden Oberflächen insbesondere organischer Überzüge
DE676898C
(de )
1939-06-14
Verfahren und Einrichtung zur Messung des Gradienten photographischer Schichten
DE1075323B
(de )
1960-02-11
Photoelektii scher Dickenmesser
DE735235C
(de )
1943-05-11
Spektrallinienphotometer