DE1241154B - Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln von Fehlern in Tafelglas - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln von Fehlern in Tafelglas

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DE1241154B
DE1241154B DEP25958A DEP0025958A DE1241154B DE 1241154 B DE1241154 B DE 1241154B DE P25958 A DEP25958 A DE P25958A DE P0025958 A DEP0025958 A DE P0025958A DE 1241154 B DE1241154 B DE 1241154B
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William Francis Galey
George Elwood Sleighter
Hugh Edward Shaw Jun
Joseph Steve Zabetakis
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PPG Industries Inc
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Pittsburgh Plate Glass Co
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Description

  • Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln von Fehlern in Tafelglas Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Ermitteln von flächig ausgedehnten Fehlern in Tafelglas, insbesondere in einer laufenden Tafelglasbahn nach dem Schleif- und Poliervorgang, bei dem die durch Fehler hervorgerufenen Intensitätsänderungen eines den Prüfkörper durchstrahlenden Lichtbündels mit Hilfe eines fotoelektrischen Wandlers in elektrische Signale umgesetzt werden, deren Übersteigen über einen vorbestimmten Betrag einen Anzeige-und/oder Sortiervorgang auslöst.
  • Die Erfindung betrifft auch eine Vorrichtung zum Durchführen dieses Verfahrens mit einer Filhrungsbahn für den Prüfling, einer Lichtquelle zum Erzeugen eines den Prüfling durchsetzenden Lichtbündels, einem fotoelektrischen Wandler zum Umsetzen der Lichtintensitätsänderungen in elektrische Signale und mit einem elektronischen Auswerteteil für diese Signale, der so beschaffen ist, daß nur Intensitätsänderungen angezeigt werden, die über einem vorbestimmbaren Pegel liegen.
  • Obwohl versucht wird, polierte Spiegelglasscheiben, die vollständig parallel zueinander verlaufende ebene Oberflächen haben, ohne Fehler herzustellen, ist das heutzutage hergestellte Flach- oder Spiegelglas von diesem ldealglas noch entfernt. Indessen können, da für verschiedene Zwecke verschiedene Gütegrade des Glases erforderlich sind gewisse Fehler zugelassen werden, falls diese nicht zu erheblich sind Beispielsweise hat Spiegeiglas höchster Qualität optische Erfordernisse, die weit über die Bedingungen hinausgehen, die an handelsübliches Scheiben- oder Flachglas gestellt werden, so daß, während bestimmte, nicht schwerwiegende Fehler bei Flachglas für Spiegel hoher Qualität zugelassen werden können, andere Fehler, welche die Zurückweisung eines versilberten Spiegels zur Folge haben, für handelsübliches Flach- oder Spiegelglas annehmbar sind.
  • Die zu ermittelnden Fehler sind nicht örtlich begrenzt, sondern über verhältnismäßig weite Bereiche der Glasoberfläche verteilt und können als flächig ausgedehnte Fehler bezeichnet werden. Diese wahrnehmbaren Fehler sind Abkratzung, Abschälung oder Abblätterung und unzureichende Oberflächenbearbeitung oder -güte. Der als Abkratzung bezeichnete Fehler, der im allgemeinen durch unsachgemäßes Polieren bedingt ist, ist durch eine Anzahl paralleler, bogenförmiger, flacher Riefen von sich allmählich ändernder Tiefe gekennzeichnet und besitzt einen verhältnismäßig regelmäßiges Muster einer modifizierten, sinusförmigen, in der Höhe durch einen Querschnitt des Glases verlaufenden Gestalt.
  • Die Breite solcher Riefen ändert sich am allgemeinen zwischen etwa 200 und etwa 800 Mikron, während die größte Tiefe sich zwischen ungefähr 0,1 und etwa 0,2 Mikron ändert.
  • Die Abschälung oder Abblätterung ist durch unregelmäßige Anderungen auf den Oberflächen des Tafelglases oder durch unebene elementare Bereiche gekennzeichnet, die nicht in der gleichen Ebene wie die Hauptoberfläche des Glases liegen und die Form von unregelmäßig verteilten, untiefen Narben oder Grübchen mit abgerundeten Kanten und abgerundeten Bodenflächen annehmen. Diese elementaren Bereiche bilden in optischer Hinsicht sehr kleine Linsen und haben eine Brennweitenverteilung zur Folge, die kleiner als unendlich ist. Die Breite solcher kleinen Vertiefungen schwankt von etwa 200 bis etwa 800 Mikron, während die Tiefe sich zwischen etwa 0,1 und ungefähr 2 Mikron ändert.
  • Unzureichende Oberflächengüte, die durch unvollständiges Polieren entsteht, hat Glas mit elementaren Bereichen, die nicht vollständig auf die Ebene der Gesamtfläche des Glases poliert worden sind. Die Oberfläche ist dann waben artig mit scharfen, unregelmäßige Oberflächen aufweisenden Vertiefungen bedeckt, die über die gesamte Oberfläche verstreut sind.
  • Die Tiefe der durch unzureichende Oberflächenbearbeitung hervorgerufenen Narben oder Einsenkungen variiert im allgemeinen zwischen etwa 0,5 und etwa 10 Mikron, und die Breite schwankt zwischen etwa 2 und ungefähr 40 Mikron.
  • Gewöhnlich wird Flach- oder Spiegelglas nach dem Schleifen und Polieren von Hand und optisch kontrolliert, wobei die Kontrolleure die Fehlerstellen mit Kreide oder Zeichenkohle markieren. Dieses Verfahren ist zeitraubend und erfordert eine große Anzahl von besonders ausgebildeten Prüfern und führt infolge der Auffassungsunterschiede zwischen den Prüfern zu einem Mangel an Gleichmäßigkeit bei der Einstufungsbeurteilung des Glases.
  • Es sind auch bereits Verfahren und Vorrichtungen zum Nachweis von flächig ausgedehnten Fehlern in Flach- und Tafelglas bekannt, wobei die Prüfung durch Erzeugung eines Schattenbildes mit Hilfe eines den Prüfkörper durchsetzenden divergenten Strahlenbündels erfolgt. Die Abtastung des den Prüfkörper durchsetzenden Strahlenbündels kann mittels einer rotierenden Lochscheibe erfolgen (französische Patentschrift 974768). Um nur solche Fehler anzuzeigen, die das den Prüfkörper durchsetzende Strahlenbündel eine vorbestimmbare Zeitdauer beeinflussen, ist es bekannt, Intensitätsänderungen des Strahlenbündels mit einem fotoelektrischen Wandler in elektrische Signale umzusetzen, die einem dem Wandler nachgeschalteten Diskriminator zugeführt werden (vgl. USA.-Patentschrift 2735017).
  • Die fotoelektrische Abtastung des Prüfkörpers kann zickzackförmig erfolgen, wie durch die USA.-Patentschrift 1 874217 bekannt.
  • Die Aufgabe der Erfindung ist die Schaffung eines Verfahrens und einer Vorrichtung zum automatischen Kontrollieren des Glases auf flächenhafte Fehler, wobei durch Kombination der geschilderten und an sich bekannten Merkmale eine zeitsparende, zuverlässige und ohne geschultes Personal durchzuführende Kontrollmöglichkeit angestrebt wird.
  • Dies wird bei dem erfindungsgemäßen Verfahren durch folgende Verfahrensschritte erreicht, für deren Kombination Patentschutz begehrt wird: a) Erzeugen eines Schattenbildes vom Prüfling mit Hilfe eines divergenten, den Prüfling durchsetzenden Lichtbündels, b) periodisches Abtasten des Schattenbildes auf einer Kreisbahn, c) zickzackförmiges Abtasten des Prüflings längs einer Erstreckungsrichtung desselben mit einer Frequenz, die wesentlich unter der der kreisförmigen Abtastung des Schattenbildes nach dem Verfahrensschritt b) liegt, d) Erfassen nur solcher Intensitätsänderungen, die eine vorbestimmte Zeitdauer überschreiten.
  • Die zum Durchführen des angegebenen Verfahrens unter Schutz zu stellende Kombination an sich bekannter Merkmale ist eine Vorrichtung, die gekennzeichnet ist durch eine ein divergentes Strahlenbündel erzeugende Lichtquelle, durch die Anordnung des fotoelektrischen Wandlers in Achsrichtung des Bündels, durch eine in der Ebene des Schattenbildes angeordnete, rotierende Blendenscheibe mit einer kleinen kreisförmigen Blendenöffnung, mit Mitteln zum Erzeugen einer hin- und hergehenden Bewegung der Blendenscheibe parallel zu einer Erstreckungsrichtung des Prüflings mit einer Frequenz, die wesentlich 7 unterhalb der Rotationsfrequenz der Blendenscheibe liegt und durch eine Ausbildung des elektronischen Auswerteteiles derart, daß nur solche Fehler erfaßt werden, die eine über eine vorbestimmbare Zeitdauer anhaltende Lichtintensitätsänderung hervorrufen.
  • Die Erfindung ist im folgenden an Hand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt Fig. 1 einen schematischen Strahlenverlauf der Vorrichtung, die zum Bestimmen von flächig ausgedehnten Fehlern verwendet wird, wobei einige der Bauteile und ihre Beziehung zu der Bewegungsbahn des Glases veranschaulicht sind, Fig. 2 eine Ansicht der rotierenden Blendenscheibe und Fig.3 eine Darstellung des Abtastschemas zum Bestimmen von flächig ausgedehnten Fehlern.
  • Aus Fig. 1, die den Strahlenverlauf veranschaulicht, erkennt man von links nach rechts eine Lichtquelle 8 und ein Linsensystem L-1 zum Erzeugen eines Bildes der Lichtquelle in der Ebene einer mit der Öffnung a-l versehenen Platte oder Blende. Die Öffnung a-l. dient nun als eine Punktlichtquelle PL.
  • Die Lichtquelle, das Linsensystem und die Blende sind auf einer Seite einer Glasscheibe oder eines Glasbandes G angeordnet. Das Glas G bewegt sich vorzugsweise in einer Bahn, die mit einem Pfeil bezeichnet ist. Eine rotierende Blendenscheibe D ist aut der anderen Seite des Glases angeordnet und mit einer verhältnismäßig kleinen Blendenöffnung a-2 versehen, die einen Durchmesser in der Größenordnung von 0,254 mm haben kann und radial beispielsweise um 12,7 mm von der optischen Achse und der Drehachse angeordnet ist, wobei diese Achsen zur Erzielung der besten Ergebnisse zusammenfallen sollten, um durch das Glas verlaufendes Licht aufzufangen und eine Schattendarstellung in der Ebene der Scheibe zu bilden. Ein Sammellinsensystem L-2, das zur gelichzeitigen Drehung mit der Blendenscheibe D angebracht sein kann, ist eng angrenzend an der Blendenscheibe D angeordnet, um die durch die rotierende Öffnung verlaufenden Lichtstrahlen derart zu leiten, daß es die optische Achse der Vorrichtung in einem bestimmten Abstand von der Linse und der Öffnung schneidet. Der fotoelektrische Wandler T, vorzugsweise eine Sekundärelektronenvervielfacherröhre oder eine Fotozelle, ist vorzugsweise an diesem Schnittpunkt angeordnet, um unbestimmte Schwankungen der Empfindlichkeit der lichtempfindlichen Oberfläche zu vermeiden.
  • Das Linsensystem L-1 ist vorzugsweise in Mehrelement-Konstruktion ausgebildet, um die Lichtquelle S an der Blende (Fig. 1) abzubilden. Die Blende mit der Mittelöffnung a-1 ist extrem dünn und ist zwischen einem Paar dickerer Tragplatten angeordnet, in denen sich jeweils verhältnismäßig große Mittelöffnungen befinden. Die Öffnung a-1, deren Durchmesser vorzugsweise in der Größenordnung von 0,762mm liegt, wird die effektive Punktlichtquelle PL.
  • Eine Anzahl von aus Lichtquelle 8, PL, Blendenscheibe D und fotoelektrischem Wandler T bestehenden Einheiten sind auf einem brückenförmigen Bauteil angebracht. Dieser ist so ausgebildet, daß er zu dem Glas quer verläuft und sich hin- und herbewegt.
  • Die Hin- und Herbewegung dieses Bauteils und der darauf angeordneten Einheiten verursacht bei der Bewegung des Glases ein Abtastschema der Art, die z. B. in F i g. 3 dargestellt ist.
  • Für den Idealfall ist eine konstante Geschwindigkeit des brückenförmigen Bauteils und der daran angebrachten Einheiten erwünscllt. Jedoch fordern praktische Erwägungen hinsichtlich der B eschleunigungs- und Verlangsamungszeiten sowie der Bauelementekonstruktionen und Belastungskräfte, daß das hydraulische System zum Hin- und Herbewegen des brückenförmigen Bauteils so ausgebildet und eingerichtet wird, daß es im wesentlichen konstante Geschwindigkeit über den gesamten Abtastweg ausschließlich der überdeckten Teile liefert, in denen Verlangsamung und Beschleunigung des brückenförmigen Bauteils und der daran angebrachten Einheiten auftreten. Es sei bemerkt, daß die miteinander verbundenen Wege von im wesentlichen konstanter Geschwindigkeit für die Abtastung der gesamten Querabmessung des Glases sorgen.
  • In Fig. 3 ist das Abtastschema mit Bezug auf das Glas G dargestellt. Die kombinierte Bewegung des Glases und die Schwingungen quer zu dem Glas durch jede Abtastvorrichtung liefern - wie gezeigt - eine im wesentlichen zickzackförmige Bahn, und es ist infolge der Anbringung der Einheiten auf dem brückenförmigen Bauteil eine Überdeckung benachbarter Abtastverläufe sowie eine Überlappung der Abtastbereiche über die Glaskanten hinaus vorhanden. Diese sich überlappenden Abtastbereiche sind Bahnen, in denen Beschleunigung und Verlangsamung des Bauteils auftritt, wie zuvor erläutert wurde. Die Überlagerung der Rotation der Blendenscheibe D mit der zickzackförmigen Abtastung führt zu einer gestreckten Zykloidenbahn, wie in der Zeichnung dargestellt. Die Rotation der BlendenscheibeD gewährleistet die Aufnahme von Fehlern mit linearer Natur, wie z. B. Abkratzung und unzureichende Oberflächenbearbeitung, die durch eine lineare Abtastung nicht aufgenommen werden würden. Infolge der Natur der zu bestimmenden Fehler, die in Bereichen von 30,5 cm oder mehr in einer Dimension auftreten, erstreckt sich auf Grund von Wahrscheinlichkeitserwägungen der Abtasthüllbereich von 15 bis 250/0 der Gesamtfläche des Glases.
  • Es ist in höchstem Maße unwahrscheinlich, daß Fehlstellen enthaltende Bereiche von dem Abtastschema nicht erfaßt werden könnten.
  • Die Lichtstärkeänderungen, die von der rotierenden Blendenscheibe aufgenommen werden, werden von dem foto elektrischen Wandler T aufgenommen, der eine Wechselspannung von sich ändernder Amplitude und Frequenz entsprechend der Stärke des Fehlers erzeugt, der sich auf den Oberflächen des kontrollierten Glases befindet. Die von dem Wandler T erzeugten Signale, von denen ein Verlaufschema auf dem Schirm eines Oszilloskops beobachtet werden kann, werden auf einen gewünschten Pegel von einem vorzugsweise nahe an dem Wandler T angeordneten Vorverstärker verstärkt, bevor sie äußeren Störungen, wie z. B. der Aufnahme von Streuspannung, unterworfen werden. Vorzugsweise wird für den Vorverstärker ein Kathodenverstärker benutzt, so daß die Signale über lange Leitungen übertragen werden können, ohne daß die Gefahr besteht, HF-Spannung infolge der Leitungskapazität zu verlieren.
  • Ein Diskriminator nimmt die gleichgerichteten Signale auf und liefert an eine oder mehrere Vorrichtungen die Information, um das optimale Schneiden des Glases in handelsübliche Plattengrößen zu bestimmen. Da drei Glasqualitäten vorhanden sind, d. h. Spiegelglas, normales oder Fensterglas und Ausschuß, muß der Diskriminator eine Information liefern, die sich auf die Fehlerstärke bezieht.
  • Zur Schaffung der gewünschten Information enthält der Diskriminator Vergleichsschaltungen, welche die zugeführten gleichgerichteten und gesiebten Signale mit voreingestellten Spannungen vergleichen.
  • Flächige Fehler des beschriebenen Typs modulieren die Stärke des Lichtes, das von Glasoberflächen geschnitten wird.
  • Infolge der erwähnten Schattendarstellung, von der gewisse Bereiche eine höhere Lichtstärke als der normale Hintergrund und gewisse Bereiche eine geringere Lichtstärke als der normale Hintergrund haben, zeigen die Bereiche von gegenüber dem normalen Wert unterschiedlicher Lichtstärke Fehler auf dem Glas an. Die Blendenscheibe D mit der kleinen Öffnung a-2 fängt Zuwachsanteile des Lichtflusses, abhängig von der Schattendarstellung, auf, d. h., die Scheibe unterbricht den Lichtstrahl, und die Scheibenöffnung läßt nur einen kleinen Teil davon hindurch. Das unmittelbar hinter der Scheibe angeordnete Linsensystem L-2 bewirkt, daß das gesamte von der Öffnung a-2 übertragene Licht auf den fotoelektrischen Wandler T auftrifft. Dieser setzt das Licht in ausnutzbare elektrische Energie um, die dem von der Öffnung übertragenen Licht direkt proportional ist.
  • Die elektrische Energie in Form von Signalen mit sich ändernden Amplituden und Intensität, abhängig von der Fehlerstärke, werden verstärkt, gleichgerichtet und gesiebt und dann dem Diskriminator zugeführt, der Signale liefert, die für die Glasqualität kennzeichnend sind. Die letztgenannten Signale werden einer oder mehreren Vorrichtungen zwecks endgültiger Verwendung bei der Bestimmung des optimalen Schneidvorganges des Glases zugeführt. Eine solche Vorrichtung oder solche Vorrichtungen können ein Aufzeichnungsmittel oder eine Speichervorrichtung enthalten, welche die Information bei Anforderung an einen Rechner oder an eine Markierungsvorrichtung liefern, welche Fehlstellen direkt auf dem Glas markiert. Die Signale, die den Grad und die örtliche Lage der Fehler anzeigen, stehen durch elektrische, mechanische oder elektromechanische Vorrichtungen mit den entsprechenden Bereichen des kontrollierten Glases in einer solchen Weise in Wechselbeziehung, die auf im allgemeinen angenommene Schneidverfahren Bezug nimmt, so daß das Endergebnis die Bestimmung der Stärke und örtliche Lage der Fehlstellen in einer Matrix einer gewünschten, gewöhnlich vorbestimmten Größe ist.
  • Zur Kontrolle eines Glasbandes oder einer Glasplatte mit einer Breite von 3,23 m, das bzw. die auf dem Förderband mit Geschwindigkeit von 9,15 oder 12,7 cm/sec., abhängig von der Glasdicke, d. h. 6,35 bzw: 3,175 mm, fortschreitet, werden vier der erwähnten Einheiten verwendet. Jede Einheit hat einen Gesamtabtasterfassungsbereich von 101,6 cm und einen üblichen Abtasterfassungsbereich von 81,3 cm, wobei der Unterschied zwischen diesen Bereichen die erwähnte Überlappung der Abtastbereiche ist. So sind die Einheiten auf dem brückenförmigen Bauteil an Punkten mit einem Abstand von 81,3 cm angeordnet, und der volle Hub des brückenförmigen Bauteils beträgt 101,6 cm mit einem nutzbaren Hub von 81,3 cm. Die Geschwindigkeit beträgt im wesentlichen gleichmäßig 61 cm/sec. mit Ausnahme der Teile, in denen Beschleunigung und Verlangsamung auftreten. Jede Blendenscheibe jeder Einheit ist -wie zuvor erwähnt wurde - mit einer Öffnung versehen, die einen Durchmesser von 0,254 mm und einen Abstand von 7,62 mm von der optischen Achse der Anordnung hat. Zur Schaffung des gewünschten Abtasterfassungsbereiches in der erläuterten Weise rotiert jede Blendenscheibe mit angenähert 1675 Ulmin.
  • Die Abtastvorrichtung und die Lichtquelle können beide auch angrenzend an eine Oberfläche des Glases angeordnet werden, so daß Licht nicht durch das Glas verläuft, sondern von einer unteren Fläche durch das Glas hindureh reflektiert werden würde, wobei ein reflektierender Überzug an der unteren Fläche des Glases erforderlich ist.
  • Die Erfindung ist unter besonderer Bezugnahme auf die Prüfung von geschliffenem und poliertem Flach- oder Tafelglas zwecks Bestimmung der örtlichen Lage und der Stärke der Fehler beschrieben worden. Die Erfindung kann jedoch zur örtlichen Auffindung von Fehlern gleicher Art, d. h. Größe, Verteilung, optische Eigenschaften usw., verwendet werden, welche die Qualität anderer Stoffe, z. B. Scheiben- oder Fensterglas, Kunststoffe oder andere Materialien verschiedener Gestalt und Ausführungsform, beeinträchtigen können.

Claims (5)

  1. Patentansprüche: 1. Verfahren zum Ermitteln von flächig ausgedehnten Fehlern in Tafelglas, insbesondere in einer laufenden Tafelglasbahn nach dem Schleif-und Poliervorgang, bei dem die durch Fehler hervorgerufenen Intensitätsänderungen eines den Prüfkörper durchstrahlenden Lichtbündels mit Hilfe eines fotoelektrischen Wandlers in elektrische Signale umgesetzt werden, deren obere steigen über einen vorbestimmbaren Betrag einen Anzeige- und/oder Sortiervorgang auslöst, g e -kennzeichnet durch die Kombination folgender Verfahrensschritte: a) Erzeugen eines Schattenbildes vom Prüfling mit Hilfe eines divergenten, den Prüfling durchsetzenden Lichtbündels, b) periodisches Abtasten des Schattenbild es auf einer Kreisbahn, c) zickzackförmiges Abtasten des Prüflings längs einer Erstreckungsrichtung desselben mit einer Frequenz, die wesentlich unter der der kreisförmigen Abtastung des Schattenbildes nach dem Verfahrensschritt b) liegt, d) Erfassen nur solcher Intensitätsänderungen, die eine vorbestimmbare Zeitdauer überschreiten.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Prüfung einer laufenden Glasbahn die zickzackförmige Abtastung durch eine senkrecht zur Vorschubrichtung der Bahn hin- und hergehende Abtastung erzeugt wird.
  3. 3. Vorrichtung zum Durchführen des Verfahrens nach Anspruch 1 mit einer Führungsbahn für den Prüfling, einer Lichtquelle zum Erzeugen eines den Prüfling durchsetzenden Lichtbüncei', einem fotoelektrischen Wandler zum Umsetzen der Lichtintensitätsänderungen in elektrische Signale und mit einem elektronischen Auswerteteil für diese Signale, der so beschaffen ist, daß nur Intensitätsänderungen angezeigt werden, die über einem vorbestimmbaren Pegel liegen, gekennzeichnet durch eine ein divergentes Strahlenbündel erzeugenden Lichtquelle (8, PL), durch die Anordnung des fotoelektrischen Wandlers (T) in Achsrichtung des Bündels, durch eine in der Ebene des Schattenbildes angeordnete rotierende Blendenscheibe (D) mit einer kleinen kreisförmigen Blendenöffnung (a-2), mit Mitteln zum Erzeugen einer hin- und hergehenden Bewegung der Blendenscheibe (D) parallel zu einer Erstrekkungsrichtung des Prüflings mit einer Frequenz, die wesentlich unterhalb der Rotationsfrequenz der Blendenscheibe (D) liegt und durch eine Ausbildung des elektronischen Auswerteteiles derart. daß nur solche Fehler erfaßt werden, die über eine vorbestimmbare Zeitdauer anhaltende Lichtintensitätsänderung hervorrufen.
  4. 4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (8, PL), die Blendenscheibe (D) und der fotoelektrische Wandler (T) zu einer Einheit zusammengefaßi sind, die eine hin- und hergehende Bewegung quer zur Vorschubrichtung der Glastafelbahn ausführt.
  5. 5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere solche Einheiten auf einem brückenförmigen, eine hin- und hergehende Bewegung senkrecht zur Vorschubrichtung der Glastafel ausführenden Bauteil angeordnet sind, wobei die Abtastbereiche der einzelenen Einheiten sich überlappen.
    In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Auslegeschriften Nr. 1 020 812, 1034685, 1036537; deutsches Gebrauchsmuster Nr. 1 711 854; französische Patentschrift Nr. 974 768; USA.-Patentschriften Nr. 1 874217, 2192580, 2219572,2481863, 2682802,2735017, 2735331; »Das Papier«, Bd. 12, 1958, S. 505 bis 519; »Schweizer Archiv für Angewandte Wissenschaft und Technik«, Bd. 20, 1954, S. 146; »Ergebnisse der exakten Naturwissenschaften«, Bd. 20, 1942, S. 362.
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