DE1229193B - Verfahren zur Herstellung von legierten Halbleiteranordnungen - Google Patents
Verfahren zur Herstellung von legierten HalbleiteranordnungenInfo
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Description
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Int. Cl.:
HOIl
Deutsche Kl.: 21g-11/02
Nummer: 1229193
Aktenzeichen: T19613 VIII c/21 g
Anmeldetag: 2. Februar 1961
Auslegetag: 24. November 1966
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von legierten Halbleiteranordnungen unter
Verwendung einer Legierungsform, bei dem das Legierungsmaterial vor dem Legieren getrennt vom
Halbleitermaterial erhitzt und unter Druck in den Halbleiterkörper einlegiert wird.
Die Erfindung besteht bei einem solchen Verfahren
darin, daß das Legierungsmaterial in Kugelform und in der für die Legierung vorgesehenen Menge beim
Ausheizen getrennt vom Halbleiterkörper in geringem Abstand von der Halbleiteroberfläche gehalten
und nach dem Ausheizen derjenige Teil der Oberfläche des Legierungsmaterials mit der Oberfläche
des Halbleiterkörpers in Berührung gebracht wird, der beim Ausheizen der Halbleiteroberfläche zugewandt
ist. :
Der Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens macht sich vor allem dann bemerkbar, wenn großflächige
Legierungselektroden hergestellt werden sollen oder wenn das Legierungsmaterial mit Oxydhäuten
oder sonstigen Oberflächenverunreinigungen behaftet ist.
Es ist bereits ein Verfahren zur Herstellung von Legierungsbauelementen bekannt, bei dem das
Legierungsmaterial in flüssiger Form in eine Kapillarröhre
eingebracht wird, die über der Halbleiteroberfläche angeordnet ist. Aus der am unteren Ende
spitz zulaufenden Kapillarröhre wird ein Indiumtropfen
herausgepreßt, der dann zur Durchführung des Legierungsprozesses mit der Kristalloberfläche
durch Absenken des Kapillarrohres in Berührung gebracht wird. Bei einem anderen bekannten Verfahren
wird das Legierungsmaterial in eine gesondert aufheizbare Röhre eingebracht und soll aus dieser, bei
entsprechender Erhitzung der Röhre, schlagartig auf die Oberfläche des Halbleiterkörpers fließen. Dieses
Verfahren dient besonders zur Reinigung des Legierungsmaterials, und es wird hier, wie auch bei
dem erstgenannten Verfahren, während des Legierungsprozesses kein Druck auf das Legierungsmaterial ausgeübt. Beide bekannte Verfahren eignen
sich in der Praxis nicht für die serienmäßige Herstellung von Legierungshalbleiterbauelementen, und
ihre Bedeutung ist daher sehr gering.
Demgegenüber liegt bei dem erfindungsgemäßen Verfahren das Legierungsmaterial bereits vor dem
Ausheiz- und dem Legierungsprozeß in Kugelform und in einer für die Legierung erforderlichen Menge
vor. Da solche Legierungskugeln nach dem bekannten Shot-Tower-Verfahren in größeren Stückzahlen
und auf einfache Weise hergestellt werden können, eignet sich das erfindungsgemäße Verfahren beson-Verf
ahren zur Herstellung von legierten
Halbleiteranordnungen
Halbleiteranordnungen
Anmelder:
Telefunken
Telefunken
Patentverwertungsgesellschaft m. b. H.,
Ulm/Donau, Elisabethenstr. 3
Ulm/Donau, Elisabethenstr. 3
ao , Als Erfinder benannt:
: Günther Heise,
: Günther Heise,
Dietmar Wesser, Heilbronn
ders für die Serienproduktion von Legierungshalbleiterbauelementen.
Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, daß beim Ausheizen die auf der Oberfläche der flüssigen
Legierungskugel frei beweglichen Schmutz- und Oxydsubstanzen zu derjenigen Oberflächenseite der
Legierungskugel wandern, die der Oberfläche des Halbleiterkörpers abgewandt ist, da diese Substanzen
spezifisch leichter als das Legierungsmaterial sind. Wird nun gemäß der Erfindung die Legierungskugel
nach dem Ausheizen nicht mehr gedreht, sondern mit derjenigen Oberflächenseite mit dem Halbleiterkörper
in Berührung gebracht, die beim Ausheizen dem Halbleiterkörper zugewandt ist, so ist die Gewähr
dafür gegeben, daß das beim Legieren mit der Halbleiteroberfläche in Berührung gebrachte Material
frei von unerwünschten Verunreinigungen ist.
Das erfindungsgemäße Verfahren eignet sich aber auch in besonderer Weise zur Herstellung von pn-Ubergängen
mit Legierungssubstanzen aus mehreren Komponenten, z.B. Indium-Aluminium-Legierungen,
deren Komponenten hinsichtlich des spezifischen Gewichts sich voneinander unterscheiden und deren
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leichtere Komponente nicht unmittelbar mit der Halbleiteroberfläche in Berührung kommen soll.
Dies ist beispielsweise bei einer Indium-Aluminium-Legierung der Fall, da Aluminium bekanntlich die
Benetzung erschwert und somit nach Möglichkeit bei der ersten Benetzung von der Halbleiteroberfläche
ferngehalten werden soll. Die Trennung von Indium und Aluminium wird durch den vor der Legierung
stattfindenden Ausheizprozeß bei dem Verfahren gemäß der Erfindung erreicht. Gleichzeitig
verschwinden aber auch beim Ausheizen Halogenidhäute oder andere Verunreinigungen, besonders auf
aluminiumhaltigen Legierungssubstanzen und auf dem Kristall, die normalerweise auch nicht im reinen
Wasserstoffstrom bei den üblichen Legierungstemperaturen reduziert werden können.
Das erfindungsgemäße Verfahren soll an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert werden. Zunächst
soll jedoch auf die in der Figur dargestellte Vorrichtung näher eingegangen werden, welche in
Ansicht und Draufsicht dargestellt ist. Mit Hilfe des Transportbandes 1 werden der Kristallträger 2 und
die zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens erforderliche Teile durch den in der Figur
nicht dargestellten Legierungsofen befördert. Der Pfeil gibt die Richtung an, in der die Vorrichtung
mit dem Legierungsgut durch den Legierungsofen hindurchbewegt wird.
Wie der Figur weiterhin zu entnehmen ist, befindet sich der Halbleiterkörper 3 in einer Vertiefung des
Kristallträgers 2. Auf den Halbleiterkörper 3 ist eine Legierungsform 4 aufgesetzt. In der Figur ist der
Ausheizprozeß dargestellt, bei dem die Legierungskugel 5 von der Halbleiteroberfläche noch getrennt
ist. Für die Trennung von Legierungs- und Halbleitermaterial sorgen die Halterungen 6, die gemeinsam
die Legierungskugel 5 im Ausheizzustand tragen. Die Halterungen 6 stützen gleichzeitig das
Belastungsgewicht 7 ab. Um zu erreichen, daß die Berührung von Legierungskugel 5 und Halbleiteroberfläche
nicht zu schnell erfolgt, sind die Halterungen 6 an der Innenkante angephast. Die Anphasung
sorgt gleichzeitig auch dafür, daß das Belastungsgewicht 7 beim Absetzen relativ langsam
nach unten gleitet.
Die Berührung zwischen Legierungs- und Halbleitermaterial
kann dann erfolgen, wenn die Legierungstemperatur erreicht ist und die Halterungen
6 durch eine geeignete Vorrichtung nach außen gezogen werden. Die Schrauben 8 dienen zur
Führung und als Anschlag für die Halterungen 6. Mit 9 ist weiterhin eine Führungsplatte bezeichnet, welche
fest im Legierungsofen verankert und nach außen flanschartig erweitert ist.
Die Ansicht läßt von der Führungsplatte 9 lediglieh die flanschartige Erweiterung 10 erkennen.
Diese ist derart ausgebildet, daß beidseitig eine Schräge 11 entsteht, die für das Auseinanderziehen
der Halterungen 6 sorgt. Das Auseinanderziehen geschieht dadurch, daß die Auswerfer 12 beim Durchfahren
des Legierungsofens entlang der Schrägeil wandern und dadurch die Halterungen 6 nach außen
ziehen. Die Draufsicht zeigt des weiteren noch den Führungsklotz 14, das Gewicht 7 und die Legierungsform 4. Mit Hufe der Schrauben 13 ist der Führungs-
klotz auf die Legierungsform aufgeschraubt. Die beiden Stifte 15 dienen zur Justierung von Legierungsform und Kristallträger.
Bei der Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens wird in den Kristallträger 2 ein HaIbleiterplättchen
aus Germanium eingebracht und von oben mit einer Legierungsform 4 abgedeckt, die eine
Öffnung aufweist, deren Durchmesser der vorgegebenen Legierungsfläche entspricht. Die Halterungen 6
müssen derart angebracht sein, daß die Entfernung zwischen Legierungskugel und Halbleiteroberfläche
möglichst gering ist. Die Temperatur beim Ausheizen beträgt ungefähr 470° C, wenn eine Legierungskugel
aus Indium verwendet wird. Das Ausheizen erfolgt bereits im Legierungsofen, so daß beim Ausheizen
des Legierungsmaterials gleichzeitig auch das HaIbleiterplättchen ausgeheizt wird.
Nach Beendigung des Ausheizprozesses wird der eigentliche Legierungsprozeß eingeleitet, wenn beim
Durchfahren des Legierungsofens die Halterungen nach außen gezogen werden und dadurch die Legierungskugel
freigeben. Das Legierungsmaterial kommt dabei erstmalig mit der Halbleiteroberfläche in
Berührung.
Wie aus der in der Figur dargestellten Legierungsvorrichtung hervorgeht, ist mit einer Abwärtsbewegung
der Legierungskugel gleichzeitig auch eine Abwärtsbewegung des Gewichtes verbunden. Ausheizen
und Legieren erfolgen in der beschriebenen Reihenfolge während des Durchlaufens durch den Legierungsofen.
Claims (4)
1. Verfahren zur Herstellung von legierten Halbleiteranordnungen unter Verwendung einer
Legierungsform, bei dem das Legierungsmaterial vor dem Legieren getrennt vom Halbleiterkörper
erhitzt und unter Druck in den Halbleiterkörper einlegiert wird, dadurchgekennzeichnet,
daß das Legierungsmaterial in Kugelform und in der für die Legierung vorgesehenen Menge beim
Ausheizen getrennt vom Halbleiterkörper in geringem Abstand von der Halbleiteroberfläche gehalten
und nach dem Ausheizen derjenige Teil der Oberfläche des Legierungsmaterials mit der
Oberfläche des Halbleiterkörpers in Berührung gebracht wird, der beim Ausheizen der Halbleiteroberfläche
zugewandt ist.
2. Anwendung des Verfahrens nach Anspruch 1 beim Einlegieren von Legierungssubstanzen mit mehreren Komponenten unterschiedlichen
spezifischen Gewichts, deren leichtere Komponente mit der Halbleiteroberfläche nicht unmittelbar in Berührung kommen soll.
3. Vorrichtung zur Durchführung des.Verfahrens
nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Halterung des Legierungsmaterials zwei
gegeneinander verschiebbare Halterungsteile vorgesehen sind, deren aufeinander zu gerichtete
Flächen so angephast sind, daß sich beim Zusammenfügen der Halterungsteile ein sich nach
unten verengender, zur Aufnahme der Legierungskugel während des Ausheizprozesses dienender
Hohlraum bildet.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß zur Beschwerung des Legierungsmaterials
ein über den Halterungsteilen angeordneter Stempel vorgesehen ist, der im Ausheizzustand
von den Halterungsteilen abgestützt wird und beim Auseinanderziehen der Halte-
rungsteile entlang deren angephasten Flächen nach unten gleitet und auf dem Legierungsmaterial zu liegen kommt.
In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Auslegeschrift Nr. 1 054 583;
deutsche Auslegeschrift T 8810 VIIIc/21g,
(bekanntgemacht am 15.11.1956);
französische Patentschriften Nr. 1 215 500, 224 318;
USA.-Patentschrift Nr. 2 629 672;
»Proc. of the IRE«, 1953, S. 1728 bis 1731.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
603 728/299 11.66 © Bundesdruckerei Berlin
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US2629672A (en) * | 1949-07-07 | 1953-02-24 | Bell Telephone Labor Inc | Method of making semiconductive translating devices |
DE1054583B (de) * | 1957-03-05 | 1959-04-09 | Bbc Brown Boveri & Cie | Verfahren zur Herstellung von pn-UEbergaengen auf Halbleiterkoerpern |
FR1215500A (fr) * | 1958-02-07 | 1960-04-19 | Philips Nv | Procédé et dispositif de fabrication de systèmes d'électrodes à semi-conducteurs |
FR1224318A (fr) * | 1958-02-22 | 1960-06-23 | Philips Nv | Procédé d'application d'un contact sur un corps semi-conducteur |
-
1961
- 1961-02-02 DE DET19613A patent/DE1229193B/de active Pending
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