DE1160667B - Einrichtung zur zerstoerungsfreien Gefuegeuntersuchung von Werkstoffen mit Ultraschall - Google Patents
Einrichtung zur zerstoerungsfreien Gefuegeuntersuchung von Werkstoffen mit UltraschallInfo
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Description
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Internat. Kl.: GOIn
Deutsche KL. 42 k-46/06
Nummer: 1160 667
Aktenzeichen: L 24281IX b / 42 k
Anmeldetag: 6. März 1956
Auslegetag: 2. Januar 1964
Bei Materialuntersuchungen mit Ultraschall werden Fehlerstellen im Material dadurch festgestellt, daß ein
in das Material gesandter hochfrequenter Impuls oder Wellenzug, dessen Länge klein ist zur Laufzeit im
Material, sowohl an der äußeren Begrenzung des Materialstückes als auch an der Fehlerstelle reflektiert
wird. Diese Reflexionen kann man beispielsweise auf einem Kathodenstrahloszillographen sichtbar machen.
Ein solches Oszillogramm zeigt den in das Material gesandten Impuls und die infolge der Laufzeit des
Impulses zeitlich später eintreffende Reflexion, von der dem Sender gegenüberliegenden äußeren Begrenzung
des Materials. Sind Fehlerstellen im Material vorhanden, so treten an diesen Fehlerstellen Reflexionen
auf, die an ihrem zeitlichen Eintreffen gegenüber der Reflexion an der äußeren Materialbegrenzung, nämlich
an ihrer Lage zwischen dem Sendeimpuls und der Reflexion von der dem Sender gegenüberliegenden
äußeren Materialbegrenzung, auf dem Oszillogramm schnell und deutlich als Fehlerstellenreflexionen erkennbar
sind. Auf einem solchen Oszillogramm ist die Tiefe der Fehlerstelle im Material abzulesen. Sie beträgt
von der gesamten Materialstärke denselben Bruchteil, den die Laufzeit der Fehlerstellenreflexion von der
Laufzeit der Reflexion an der dem Sender gegenüberliegenden äußeren Materialbegrenzung beträgt.
Für diese Untersuchungen wählt man die Frequenz derart, daß die Wellenlänge im Material größer ist als
das Gefüge z. B. von Kristallen, Karbiden od. ä., aus dem das Material aufgebaut ist. Kommt man mit der
Wellenlänge in die Größe des Materialgefüges, so tritt eine starke Schallabsorption ein, bzw. wenn Gefügeteile
mit gröberer Struktur in ein feinkörniges Gefüge eingebaut sind, treten an der groben Struktur Reflexionen
auf, wenn die Wellenlänge in die Größe der groben Struktur kommt. Diese Reflexionen werden in der
Literatur als »parasitic echoes« bezeichnet.
Dieses Ultraschall-Impulsreflexionsverfahren ist für die ständige Anwendung in der industriellen Werkstoffprüfung
weitgehend automatisiert worden. So ist eine Vorrichtung zur automatischen Meldung von Fehlerstellen
bei der Ultraschallwerkstoffprüfung bekanntgeworden. In einem auf einem Kathodenstrahloszillogramm
sichtbar gemachten im Impulsreflexionsverfahren gewonnenen Oszillogramm werden der
Sendeimpuls und der von der dem Sender gegenüberliegenden äußeren Materialbegrenzung reflektierte
Impuls durch verschiebbare Blenden abgedeckt, um allein die an Fehlerstellen reflektierten Impulse über
eine Photozelle zur Anzeige zu bringen und zu melden. Daneben ist eine Vorrichtung zur Feststellung der örtlichen
Lage von Fehlerstellen in einem im Ultraschall-Einrichtung zur zerstörungsfreien
Gefügeuntersuchung von Werkstoffen
mit Ultraschall
Gefügeuntersuchung von Werkstoffen
mit Ultraschall
Anmelder:
Stätni VyzkumnY ustav tepelne" technikf Praha,
Prag
Vertreter:
Dipl.-Ing. A. Spreer, Patentanwalt,
Göttingen, Groner Str. 35
Als Erfinder benannt:
Horst R. Loos, Prag-Nebusice
Beanspruchte Priorität:
Tschechoslowakei vom 8. März 1955 (Nr. 792) - -
Impulsreflexionsverfahren untersuchten Materialstück bekanntgeworden. Mit dieser Vorrichtung wird ein der
Anzeige des Vorhandenseins eines an einer Fehlerstelle reflektierten Impulses dienendes elektrisches Anzeigeinstrument
durch einen besonderen in dieser Vorrichtung erzeugten elektrischen Tastimpuls, dessen
Impulsdauer der Dauer des Sendeimpulses angepaßt ist und dessen zeitliche Lage nach Abgabe eines Sendeimpulses mit Hilfe einer Verzögerungseinrichtung einstellbar
ist, ausgeschaltet, sobald der Tastimpuls den gleichen zeitlichen Abstand von dem Sendeimpuls hat
wie die Reflexion von der Fehlerstelle.
Auf die Möglichkeit der Untersuchung des Materialgefüges mit Ultraschallwellen hat die einschlägige
Literatur hingewiesen. Sie erkennt diese Möglichkeiten aus der wissenschaftlichen Entdeckung, daß Gefügebestandteile
sich einerseits durch Reflexion durch Ultraschallwellen an denselben und andererseits durch
starke Schallabsorption innerhalb derselben bei Ultraschalluntersuchungen bemerkbar machen, wenn die
Größe der Gefügebestandteile gleich einer halben Schallwellenlänge oder einem Vielfachen derselben ist.
Dieser Einfluß auf das Schalleitvermögen ist die Grundlage für ein Untersuchungsverfahren zur Feststellung
der Korngröße von Materialgefügen geworden: Durch Änderung der Prüffrequenzen und der dabei resultierenden
unterschiedlichen Absorption läßt sich die Korngröße ermitteln aus dem Einsetzen der starken
Absorption, sobald die Wellenlänge so klein wird, daß
309 777/162
sie der zweifachen Korngröße oder einem geradzahligen
Vielfachen derselben entspricht. Dieses Untersuchungsverfahren erlaubt es lediglich, die größte Korngröße
des Gefüges festzustellen. Sind neben den großen Körnern noch kleine vorhanden, so ist deren Vorhandensein
und Struktur mit diesem Meßverfahren nicht zu ermitteln. Sind die großen Körner nur innerhalb
gewisser Bereiche ausgebildet, so ist die Lage dieses Bereiches mit diesem Meßverfahren nicht feststellbar.
die Impulsdauer möglichst klein ist, einen beliebigen Abstand mechanisch oder elektrisch auszunehmen und
diesen Abschnitt mit Verfahren der mathematischen Statistik zu prüfen. Unter einem Verfahren der mathe-5
matischen Statistik ist hierbei nicht eine an die menschliche Verstandestätigkeit gerichtete Rechenanweisung,
sondern ein technisches Rechenverfahren verstanden, nämlich eine Aufeinanderfolge von Vorgängen, wie sie
z. B. auch von einer Rechenmaschine ausgeführt
deckt waren, nun erfaßbar sind.
Die Zeichnung dient der Erläuterung eines Ausführungsbeispiels des Erfindungsgedankens. Es zeigt
Fig. 1 das Blockschaltbild einer Einrichtung zur zerstörungsfreien Materialprüfung mit Ultraschall,
Fig. 2 ein Oszillogramm einer Echofolge,
Fig. 3 einen Ausschnitt aus dem Oszillogramm der Fig. 2,
Fig. 4 die Anordnung des piezoelektrischen Sende- und Empfängerkristalls auf dem Prüfling.
Fig. 5 das Blockschaltbild der an einer Photozelle
als mechanisches Mittel für Ausblendung eines Teiles der Echofolge angeschlossenen Auswertgeräte,
Fig. 6 das Blockschaltbild der an den Ausgang
der Einrichtung zur Ultraschallwerkstoffprüfung elektrisch angeschlossenen Auswertgeräte.
Der mit der Netzfrequenz synchron arbeitende Impulsgenerator 1 (F i g. 1) erzeugt rechteckige
Aber gerade die Untersuchung der Lage bestimmter io werden.
Strukturbereiche und die Feststellung sämtlicher Korn- Die Untersuchungsmethode der Erfindung ist dem
Strukturbereiche und die Feststellung sämtlicher Korn- Die Untersuchungsmethode der Erfindung ist dem
größen des Gefüges ist erforderlich, um z. B. dem bisher bekannten Ultraschall-Impulsreflexionsverfah-Maschinenbauer
zuverlässiger Auskunft über die ren, mit dem sich nur grobe Strukturänderungen, wie
Materialeigenschaften hochbeanspruchter Maschinen- Lunker, Risse oder dergleichen Fehlerstellen, erfassen
teile, insbesondere deren Härte und Zähigkeit an den 15 lassen, auch darin überlegen, daß sehr kleine Fehlerverschiedenen Stellen des Materialstückes zu geben. stellen, deren Reflexionen bisher vom Rauschen ver-Das
ist durch die Erfindung erreicht.
Die Erfindung geht aus von einer bekannten Einrichtung zur zerstörungsfreien Untersuchung von
Werkstoffen auf Homogenität und Korngrößen ver- 20
mittels von Ultraschallimpulsen unter Verwendung des
Impulsreflexionsverfahrens mit einer Trägerfrequenz,
deren Wellenlänge der Größenordnung der Kristalle
entspricht. Diese Einrichtung erlaubt die Ausblendung
von aus beliebig wählbaren Gebieten des Prüflings 25
stammenden Reflexionen. Die Erfindung macht sich
die obengenannte wissenschaftliche Entdeckung zunutze, daß Reflexionen an sehr grobkörnigen und stark
inhomogenen Gefügen auftreten, indem sie diese zu
der ihr zugrunde liegenden Erkenntnis ausweitet, daß 30
bei geeigneter, d. h. den Kristallabmessungen entsprechender kleiner Schallwellenlänge der Trägerfrequenz und möglichst kurzer Impulsdauer alle
Kristalle des Werkstoffes reflektieren, wobei die diffuse
Die Erfindung geht aus von einer bekannten Einrichtung zur zerstörungsfreien Untersuchung von
Werkstoffen auf Homogenität und Korngrößen ver- 20
mittels von Ultraschallimpulsen unter Verwendung des
Impulsreflexionsverfahrens mit einer Trägerfrequenz,
deren Wellenlänge der Größenordnung der Kristalle
entspricht. Diese Einrichtung erlaubt die Ausblendung
von aus beliebig wählbaren Gebieten des Prüflings 25
stammenden Reflexionen. Die Erfindung macht sich
die obengenannte wissenschaftliche Entdeckung zunutze, daß Reflexionen an sehr grobkörnigen und stark
inhomogenen Gefügen auftreten, indem sie diese zu
der ihr zugrunde liegenden Erkenntnis ausweitet, daß 30
bei geeigneter, d. h. den Kristallabmessungen entsprechender kleiner Schallwellenlänge der Trägerfrequenz und möglichst kurzer Impulsdauer alle
Kristalle des Werkstoffes reflektieren, wobei die diffuse
Reflexion der Ultraschallimpulse an den Kristallen als 35 Steuerimpulse, die den eine Trägerfrequenz erzeugen-
»Rauschen« vom Schallempfänger der obengenannten den Sender 2 tasten. Der Sender 2 erregt einen piezo-Einrichtung
aufgenommen wird. elektrischen Schwinger 3, der das zu prüfende Material-
Die Erfindung geht von der Erkenntnis aus, daß stück 4 stoßweise zum Schwingen anregt. Der piezodieses
Rauschen alle Informationen über die Kristall- elektrische Schwinger 3 vollführt während der stoßstruktur
und die räumliche Lage der Kristalle enthält 40 weisen Anregung nur wenige Schwingungen mit der
und daß sich diese Informationen mit Hilfe der Metho- Trägerfrequenz. Zwischen den einzelnen Schallstößen
den mathematischer Statistik ermitteln lassen. liegt der Sender 2 still, und die Schallwellen im Prüf-
Die Erfindung löst das ihr zugrunde liegende Problem ling 4 löschen vollständig aus, bevor ein neuer Impuls
der Ermittlung der verschiedenen im Material vorhan- gesendet wird. Der Steuerimpuls löst gleichzeitig ein
denen Kristallgrößen, -arten und -formen bzw. Struk- 45 Zeitbasis-Kippgerät 5 aus, welches den Elektronenturen
und die Feststellung deren räumlicher Lage und strahl der Bildröhre 6 in Richtung der Zeitachse, d. h.
Verteilung dadurch, daß sie ein Auswertgerät, welches in horizontaler Richtung ablenkt,
die Auswertung nach Methoden mathematischer Stati- Um ein gut auswertbares Oszillogramm zu erzielen,
die Auswertung nach Methoden mathematischer Stati- Um ein gut auswertbares Oszillogramm zu erzielen,
stik gestattet und sich daher aus einem Mittelwert- wird der Elektronenstrahl nur während der Ablenkung
anzeiger, einem Effektivwertanzeiger und einer Ein- 50 hell gesteuert, was durch das Hellsteuergerät 7 erzielt
richtung zui Darstellung der Autokorrelationsfunktion wird, welches ebenfalls durch den Steuerimpuls des
oder des Leistungsspektrums zusammensetzt, an ein Generators 1 betätigt wird. Dieser Steuerimpuls löst
an sich bekanntes Mittel zur mechanischen oder elek- ferner einen Zeitmarkengeber 8 aus, welcher eine Folge
trischen Ausblendung eines bestimmten einstellbaren sehr kurzer die Zeitlinie verdunkelnder Impulse erzeugt.
Teiles der Echofolge in der obengenannten Einrichtung 55 Die Zeitmarken werden mit den HilfsSteuerimpulsen in
zur zerstörungsfreien Untersuchung von Werkstoffen der Stufe 9 gemischt und dann der Bildröhre 6 zuanschließt,
geführt.
In einem Ausführungsbeispiel dieses Erfindungs- Die aus dem Prüfling 4 zurückkehrenden Impulse
gedankens ist das Auswertgerät an eine vor einem (Reflexionen) werden durch den piezoelektrischen
Oszillographenschirm obengenannter Einrichtung an- 60 Schwinger 3 aufgenommen und durch einen Hochgeordnete Photozelle entweder direkt oder über einen frequenzimpulsverstärker 10 verstärkt. In einer weite-Verstärker
angeschlossen. ren Stufe 11 werden die Impulse gleichgerichtet (de-
Diese Lösung der Erfindung beruht auf dem Zu- moduliert) und über einen Niederfrequenzimpulssammenwirken
dreier Verfahren: Die vorliegende Er- verstärker 12 den Ablenkplatten für die F-Richtung,
findung lehrt, aus einer in bekanntem Ultraschall- G5 d. h. dem senkrechten Plattenpaar der Bildröhre 6 zu-
Impulsreflexionsverfahren gewonnenen Echofolge, wobei die Trägerfrequenz so hoch zu wählen ist, daß die
Wellenlänge den Kristallabmessungen entspricht, und
geführt.
In Fig. 2 ist ein typisches Oszillogramm, wie es
mit einer derartigen Einrichtung erzielt wird, dar-
gestellt. In horizontaler Richtung ist die Zeit T aufgetragen,
in senkrechter die Stärke des registrierten Ultraschallsignals Y (Γ). In diesem Fall sind auf dem
Oszillogramm außer dem ausgesendeten Impuls 13 und dem von der Rückseite 16 des Prüflings 4 reflektierten
Echos 14 noch zwei weitere Impulse 15 geringerer Intensität sichtbar, welche durch Reflexion des ausgesendeten
Impulses an Fehlstellen 17 im Prüfling 4 entstehen. Je nach Form und Lage und Größe dieser
Impulse 15 kann die Güte des geprüften Gegenstandes beurteilt werden.
Neben den beiden Reflexionen 15 von Fehlstellen 17 im Prüfling 4 kann im Oszillogramm der Fig. 2
eine Erscheinung 18 beobachtet werden, die man mit »Rauschen« bezeichnet.
Sie ist besonders in den Fällen sehr stark ausgeprägt, wo sich die Wellenlänge des Ultraschalles im Material
größenordnungsmäßig den Abmessungen der Kristalle nähert, und wird durch Reflexionen an den einzelnen
Kristallen verursacht. Dieses Rauschen kann gegebenenfalls so stark sein, daß die Echos von Materialschäden
überdeckt werden und so das Oszillogramm nicht mehr auswertbar ist. Aus diesem Grunde arbeitet
man bei den bisher bekannten Verfahren mit möglichst niedriger Frequenz und engt durch geeignete Dirnensionierung
der Elemente 10,11 und 12 den Frequenzbereich des Empfängers auf das kleinste zulässige Maß ein.
Grundlage der Erfindung ist die Benutzung dieser bisher unerwünschten Erscheinung zur Untersuchung
der Materialstruktur und zurPrüfung seinerHomogenitat. Die Erfindung ermöglicht somit eine Erweiterung
der Ultraschall-Defektoskopie auf den strukturellen Aufbau des Werkstoffes eines Prüflings insbesondere
bei Schmiede- und Gußstücken und ist wahrscheinlich auch zur Untersuchung von Betonteilen geeignet.
Das Material des Prüflings setzt sich aus einzelnen Kristallen oder Körnern zusammen, welche je nach
Art des Materials eine bestimmte mittlere Größe, Form und Verteilung aufweisen. Wenn die Ultraschallwellenlänge
im Material so gewählt wird, daß sie den Abmessungen der Kristalle nahekommt, wächst die
Energie der von den einzelnen Kristallen reflektierten Impulse stark an. Die Gesamtzahl der reflektierten
Impulse setzt sich zu einem unregelmäßigen Verlauf zusammen, welchen man mit »Rauschen« bezeichnet.
Der Verlauf dieses Vorganges hängt von Verteilung, Art, Größe und Form der Kristalle ab.
Das Rauschen enthält Informationen über die Struktur des Prüflings. Damit dieses so stark als möglich ausgeprägt
ist, ist es notwendig, die Ultraschallfrequenz so hoch zu wählen, daß die Wellenlänge größenordnungsmäßig
den Kristallabmessungen entspricht (bei Stahl z. B. muß sie höher als 20 MHz sein), ferner daß die
Impulsdauer möglichst klein ist. Bei der Anwendung der Erfindung ist es notwendig, den Sender 2, den
piezoelektrischen Schwinger 3 und den Empfänger, welcher sich aus den Elementen 10, 11 und 12 zusammensetzt,
entsprechend zu dimensionieren.
Die Auswertung des Oszillogramms ist aus F i g. 3 ersichtlich. Es ist ein beliebiger Abschnitt 19 der Echofolge
untersucht, der als Teil der Echofolge aus dem Gesamtdiagramm mechanisch oder elektrisch herausgenommen,
d. h. ausgeblendet wird. Der Abschnitt 19 entspricht dem Bereich 20 des zu prüfenden Gegenstandes
4 (Fig. 4). Die aus dem Abschnitt 19 gewonnenen Informationen geben Auskunft über den
strukturellen Werkstoffaufbau des Bereiches 20 des Prüflings 4.
Die Ausblendung eines beliebigen Oszillogrammabschnittes wird entweder mechanisch durch eine einstellbare
Blende oder elektrisch durch einen entsprechenden Impuls, welcher nur den gewünschten
Teil des Oszillogramms hellsteuert, bewirkt.
Im eingestellten Teil 19 des Oszillogramms wird das Signal statistisch ausgewertet. Die statistischen Angaben
sind:
1. der Mittelwert
y{t),
2. der Effektivweit
3. die Autokorrelationsfunktion
+τ
r (τ) = lim \y{t + r)y(t)dt
T-V no -^ * J
-T
oder das Leistungsspektrum des Rauschens
ψ(ω) — τ I r(T) ·cos (ω 7O ^τ ·
2π J
-OO
Die beiden letzten Begriffe sind durch das Chintschin-Wienersche Theorem verknüpft und enthalten die
gleiche Information.
In Fig. 5 sind schematisch notwendige Einrichtungen zur Ausführung der erfindungsgemäßen
Messung dargestellt. Das Oszillogramm auf dem Schirm der Bildröhre 6 eines entsprechend ausgebildeten
Defektoskopes wird mittels Photozelle 21 aufgenommen und entweder direkt oder über den Verstärker
22 dem Auswertgerät, welches sich aus
anzeigenden Ein1. einer den Mittelwert y{t) anzeigenden Einrichtung
23, ,
2. einer den Effektivwert [^2
richtung 24 und
richtung 24 und
3. einer die Autokorrelationsfunktion r(r) oder das Leistungsspektrum φ(ω) anzeigenden Einrichtung
25
zusammensetzt, zugeführt. Dabei dient die Photozelle als mechanisches Mittel zur Ausblendung eines Teils
der Echofolge.
Eine andere Möglichkeit der Messung geht aus F i g. 6 hervor. Hier wird das Auswertgerät, bestehend
aus den Elementen 23, 24 und 25, direkt über den Verstärker 22 an ein entsprechend dimensioniertes
Impuls-Defektoskop angeschlossen. Um nur einen bestimmten Ausschnitt 19 des Oszillogramms einzustellen,
ist es notwendig, den Empfänger, welcher sich aus den Elementen 10, 11 und 12 (s. Fig. 1) zusammensetzt,
so zu tasten, daß nur der gewünschte Ausschnitt 19 des Oszillogramms, welcher einer bestimmten
Zone 20 im Prüfling 4 entspricht, verstärkt wird. Das wird erzielt durch ein einstellbares Impulsverzögerungsglied
26, über welches auf den niederfrequenten Impulsverstärker 12 ein Steuerimpuls wirkt,
so daß das Signal y(t) nur in einem bestimmten Zeitintervall verstärkt wird. In diesem Fall dient die Bildröhre
6 lediglich der visuellen Verfolgung der Echofolge y{t).
Claims (2)
1. Einrichtung zur zerstörungsfreien Untersuchung von Werkstoffen auf Homogenität und
Korngröße mittels Ultraschallimpulsen unter Verwendung des Impulsreflexionsverfahrens mit einer
Trägerfrequenz, deren Wellenlänge der Größenordnung der Kristalle entspricht, und unter Auswertung
der durch diffuse Reflexion der Ultraschallimpulse an den Kristallen des Werkstoffes entstehenden,
mit »Rauschen« bezeichneten und aus beliebig wählbaren Gebieten des Prüflings stammenden
Signale, dadurch gekennzeichnet, daß ein Auswertgerät, welches sich aus einem
Mittelwertanzeiger (25), einem Effektivwertanzeiger (24) und einer Einrichtung zur Darstellung der
Autokorrelationsfunktion oder des Leistungsspektrums (25) zusammensetzt, an ein an sich bekanntes
Mittel zur mechanischen oder elektrischen Aus-
blendung eines bestimmten, einstellbaren Teiles der Echofolge angeschlossen ist.
2. Einrichtung nach Anspruch 1 mit einer einem Kathodenstrahloszillographen zugeordneten Photozelle,
dadurch gekennzeichnet, daß das Auswertungsgerät an die Photozelle entweder direkt oder
über einen Verstärker (22) angeschlossen ist.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Britische Patentschrift Nr. 664 360;
USA.-Patentschrift Nr. 2 603 966;
Bergmann, »Der Ultraschall«, 6. Auflage (1954), S. 864;
Britische Patentschrift Nr. 664 360;
USA.-Patentschrift Nr. 2 603 966;
Bergmann, »Der Ultraschall«, 6. Auflage (1954), S. 864;
Schweizer Archiv für angewandte Wissenschaft und Technik, Bd. 17 (1951), H. 4, S. 107 bis 113.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
309 777/162 12.63 © Bundesdruckerei Berlin
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CS344856X | 1955-03-08 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1160667B true DE1160667B (de) | 1964-01-02 |
Family
ID=5452326
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEL24281A Pending DE1160667B (de) | 1955-03-08 | 1956-03-06 | Einrichtung zur zerstoerungsfreien Gefuegeuntersuchung von Werkstoffen mit Ultraschall |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
CH (1) | CH344856A (de) |
DE (1) | DE1160667B (de) |
FR (1) | FR1142808A (de) |
GB (1) | GB823232A (de) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB664360A (de) * | 1947-06-27 | |||
US2603966A (en) * | 1950-08-12 | 1952-07-22 | Sperry Prod Inc | Shield and light cell pickup for oscilloscopes |
-
1956
- 1956-03-06 DE DEL24281A patent/DE1160667B/de active Pending
- 1956-03-06 CH CH344856D patent/CH344856A/de unknown
- 1956-03-07 GB GB7147/56A patent/GB823232A/en not_active Expired
- 1956-03-07 FR FR1142808D patent/FR1142808A/fr not_active Expired
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB664360A (de) * | 1947-06-27 | |||
US2603966A (en) * | 1950-08-12 | 1952-07-22 | Sperry Prod Inc | Shield and light cell pickup for oscilloscopes |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB823232A (en) | 1959-11-11 |
CH344856A (de) | 1960-02-29 |
FR1142808A (fr) | 1957-09-23 |
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