DE1142420B - Method for producing platelet-shaped semiconductor bodies for semiconductor components from a single semiconductor crystal - Google Patents

Method for producing platelet-shaped semiconductor bodies for semiconductor components from a single semiconductor crystal

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DE1142420B
DE1142420B DES63377A DES0063377A DE1142420B DE 1142420 B DE1142420 B DE 1142420B DE S63377 A DES63377 A DE S63377A DE S0063377 A DES0063377 A DE S0063377A DE 1142420 B DE1142420 B DE 1142420B
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Mary Teresa Weir
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Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen von plättchenförmigen Halbleiterkörpern von Halbleiterbauelementen aus Halbleitereinkristallen, die z. B. aus Germanium bestehen. Die plättchenförmigen Halbleiterkörper benutzt man z. B. zur Ausbildung von Gleichrichtern oder Transistoren.The invention relates to a method for producing platelet-shaped semiconductor bodies from Semiconductor components made from single crystals, e.g. B. consist of germanium. The platelet-shaped Semiconductor bodies are used z. B. for the formation of rectifiers or transistors.

Bei der Herstellung von plättchenförmigen Halbleiterkörpern wird gewöhnlich so vorgegangen, daß eine Scheibe von einem Halbleiterkristall abgeschnitten und dann in Teile von gewöhnlich rechteckiger Form zerlegt wird, die in den Gleichrichter oder Transistor eingebaut werden. Die Zerlegung der Scheibe in die einzelnen Teile erfolgt durch Schleifwerkzeuge, z. B. ein mit Diamanten besetzes Rad oder durch die hin- und hergehende Bewegung eines dünnen Drahtes, der mit einem Schleifmittel versehen ist und über die Scheibe hin- und hergeführt wird. Die so hergestellten plättchenförmigen Halbleiterkörper weisen rauhe Ränder auf, die unter inneren mechanischen Spannungen stehen. Dies kann später zu einem Zerbrechen der Körper oder mindestens dazu führen, daß diese leicht zerbrechen, wenn sie einer weiteren Beanspruchung ausgesetzt werden.In the production of platelet-shaped semiconductor bodies, the procedure is usually such that cut a disk from a semiconductor crystal and then cut it into pieces of usually rectangular shape Form is disassembled, which can be built into the rectifier or transistor. The decomposition of the Disc into the individual parts is done by grinding tools, e.g. B. a wheel set with diamonds or by the reciprocating motion of a thin wire that is provided with an abrasive and is guided back and forth over the disc. The flake-form semiconductor bodies produced in this way have rough edges that are under internal mechanical stresses. This can be done later too breaking the body or at least causing it to break easily if they are one be exposed to further stress.

Es ist bereits bekannt, daß bei einer Fertigung von Transistoren auf die richtige Kristallorientierung des Germaniums geachtet werden muß, weil einige Eigenschaften des Germaniums, z. B. die Zenerspannung. der Verteilungskoeffizient und der Angriff des Ätzmittels, von dieser Orientierung abhängig ist.It is already known that in the manufacture of transistors on the correct crystal orientation of the Germanium must be taken into account because some properties of germanium, e.g. B. the Zener voltage. the distribution coefficient and the attack of the etchant depends on this orientation.

Rillen in das Halbleitermaterial hineinzuschneiden, ist auch ein an sich bekannter Verfahrensschritt, bei dem Material in erheblichem Umfang entfernt wird. Die übrigen Flächen des Halbleitermaterials sollen mit Paraffin oder einem anderen Wachs abgedeckt werden, damit ein Ätzmittel nur an den Rillen das Material angreift und hierdurch eine Zerteilung einzelner Plättchen bewirkt. Das Ätzmittel kann z. B. eine Mischung aus Salpetersäure und Flußsäure sein.Cutting grooves into the semiconductor material is also a process step that is known per se the material is removed to a significant extent. The remaining surfaces of the semiconductor material should be covered with paraffin or another wax so that an etchant is only applied to the grooves Attacks material and thereby causes individual platelets to be broken up. The etchant can e.g. B. be a mixture of nitric acid and hydrofluoric acid.

Der Nachteil der bekannten Verfahren liegt darin, daß entweder durch eine mechanische Bearbeitung des Halbleiters die Oberflächenbereiche in ihrer Struktur verändert und dadurch die elektrischen Eigenschaften des endgültigen Halbleiterbauelementes verschlechtert werden oder man zusätzliche Schutzstoffe, wie Wachs oder Paraffin, verwenden muß, deren Ablösung vom Halbleiter zusätzliche Arbeit oder Schwierigkeiten mit sich bringt.The disadvantage of the known method is that either by mechanical processing of the semiconductor changes the structure of the surface areas and thereby the electrical Properties of the final semiconductor component are deteriorated or one additional Protective substances, such as wax or paraffin, must use, their detachment from the semiconductor additional work or cause difficulties.

Ein solches Verfahren zum Herstellen von plättchenförmigen Halbleiterkörpern von Halbleiterbauelementen aus einem Halbleitereinkristall wird erfindungsgemäß dadurch verbessert, daß von dem Halbleitereinkristall eine Scheibe parallel zu seiner Haupt-Verfahren zum HerstellenSuch a method for producing platelet-shaped semiconductor bodies from semiconductor components from a semiconductor single crystal is improved according to the invention in that of the semiconductor single crystal a disc parallel to its main process to manufacture

von plättchenförmigen Halbleiterkörpernof platelet-shaped semiconductor bodies

von Halbleiterbauelementenof semiconductor components

aus einem Halbleitereinkristallfrom a semiconductor single crystal

Anmelder:Applicant:

AssociatedAssociated

Electrical Industries (Woolwich) Limited,
London
Electrical Industries (Woolwich) Limited,
London

Vertreter: Dr.-Ing. W. Reichel, Patentanwalt,
Frankfurt/M. 1, Parkstr. 13
Representative: Dr.-Ing. W. Reichel, patent attorney,
Frankfurt / M. 1, Parkstrasse 13th

Beanspruchte Priorität:
Großbritannien vom 10. Juni 1958 (Nr. 18 536)
Claimed priority:
Great Britain June 10, 1958 (No. 18 536)

Roland Freestone und Mary Teresa Weir,
Harlow, Essex (Großbritannien),
sind als Erfinder genannt worden
Roland Freestone and Mary Teresa Weir,
Harlow, Essex (UK),
have been named as inventors

ebene, z. B. der [lll]-Ebene, abgeschnitten wird, daß in die eine Oberfläche der Scheibe ein Muster eingeritzt wird, welches die Trennungslinien zwischen den plättchenförmigen Halbleiterkörpern darstellt, und daß dann die geritzte Scheibe mit einem Ätzmittel so lange geätzt wird, bis die Scheibe in die plättchenförmigen Halbleiterkörper zerfällt und die gewünschte Dicke der Halbleiterkörper erreicht ist.level, e.g. B. the [lll] -plane, is cut off that a pattern is scratched into one surface of the disc, which marks the dividing lines between the represents platelet-shaped semiconductor bodies, and that then the scratched disk with an etchant so is etched for a long time until the wafer disintegrates into the platelet-shaped semiconductor body and the desired Thickness of the semiconductor body is reached.

Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren sind also plättchenförmige Halbleiterkörper herstellbar, deren mechanisch gestörte Oberflächenbereiche ohne Anwendung eines Schutzmaterials restlos bis zur gewünschten Dicke abgeätzt sind. Als Ätzmittel wird dabei eine Mischung, z. B. von Wasserstoffsuperoxyd und Kaliumhydroxyd, verwendet, die im Gegensatz zu den bekannten Mischungen alkalisch reagiert. Außerdem weisen die so hergestellten Halbleiterkörper glatte Ränder ohne innere mechanische Spannungen auf.With the method according to the invention, therefore, it is possible to produce platelet-shaped semiconductor bodies whose mechanically disturbed surface areas without the use of a protective material completely up to the desired one Thickness are etched away. The etchant used is a mixture, e.g. B. of hydrogen peroxide and potassium hydroxide, which, in contrast to the known mixtures, has an alkaline reaction. In addition, the semiconductor bodies produced in this way have smooth edges without internal mechanical stresses on.

Die Erfindung wird nun an Hand der Zeichnungen in Verbindung mit Ausführungsbeispielen näher erläutert. The invention will now be explained in more detail with reference to the drawings in connection with exemplary embodiments.

Fig. 1 zeigt in einer Ansicht das Ritzen der Scheibe aus Halbleitermaterial;1 shows a view of the scribing of the wafer made of semiconductor material;

Fig. 2 zeigt in einer Draufsicht eine Scheibe des Halbleitermaterials nach dem Ritzen, undFig. 2 shows a plan view of a wafer of the semiconductor material after scribing, and

209 758/183209 758/183

Fig. 3 zeigt einen Querschnitt einer Scheibe nach dem Ätzen.Fig. 3 shows a cross section of a wafer after etching.

In Fig. 1 ist eine Scheibe 1 aus einkristallinem Halbleitermaterial, z. B. aus einem Germaniumeinkristall, dargestellt. Dieser Einkristall ist von einem Barren eines Germaniumeinkristalls abgeschnitten, der z. B. durch Ziehen eines Kristalls aus einer Masse geschmolzenen Germaniums gewonnen worden ist. Das Verfahren zur Herstellung eines solchen Barrens ist an sich bekannt. Der Barren wird quer zu seiner Längachse durch geeignete Mittel, z. B. durch ein Schleifrad, geschnitten, so daß eine Scheibe 1 entsteht. Die Scheibe kann etwa 0,5 mm dick sein und ist vorzugsweise aus dem Barren derart herausgeschnitten, daß die Oberfläche der Scheibe parallel zu einer Hauptebene, vorzugsweise der [111]-Ebene. des Kristalls liegt. Die Scheibe wird dann durch Läppen auf eine Dicke von 0,15 mm gebracht. Eine solche Scheibe 1 ist in der Zeichnung dargestellt. Wenn die Scheibe von vornherein so dünn geschnitten werden kann, dann ist der nachfolgende Läppvorgang nicht erforderlich. Die Scheibe wird dann während einer vorbestimmten Zeitdauer in ein Ätzbad eingetaucht, wieder herausgenommen, und dann wird die Dicke gemessen, so daß die Ätzgeschwindigkeit des Bades festgestellt werden kann.In Fig. 1, a disc 1 made of monocrystalline semiconductor material, e.g. B. from a germanium single crystal, shown. This single crystal is cut from a bar of germanium single crystal, the z. B. obtained by pulling a crystal from a mass of molten germanium is. The method for producing such an ingot is known per se. The bar becomes transverse to its longitudinal axis by suitable means, e.g. B. by a grinding wheel, cut so that a disc 1 arises. The disc can be about 0.5 mm thick and is preferably cut out of the ingot in such a way that that the surface of the disc is parallel to a main plane, preferably the [111] plane. of the crystal lies. The disc is then lapped to a thickness of 0.15 mm. Such Disk 1 is shown in the drawing. When the slices are cut so thin from the start then the subsequent lapping process is not required. The disc is then during immersed in an etching bath for a predetermined period of time, removed again, and then the Thickness measured so that the etching rate of the bath can be determined.

Die Scheibe 1 wird dann geritzt, indem ein scharfes Werkzeug 2 über die Oberfläche der Scheibe hinweggezogen wird. Ein geeignetes Werkzeug besteht Unregelmäßigkeiten in dem Kristall hervorgerufen worden sind. Als Ergebnis dieses Vorganges ergeben sich an den geritzten Linien entlang tiefe Einschnitte oder Spalte 4, die aus Fig. 3 zu sehen sind, so daß die Scheibe in die gewünschten Abschnitte zerfällt. Ein weiteres Ätzen verringert nur die Dicke der Scheibe, und man läßt den Vorgang daher so lange andauern, bis die gewünschte Dicke erhalten wird.The disc 1 is then scored by drawing a sharp tool 2 across the surface of the disc will. One suitable tool is to create irregularities in the crystal have been. As a result of this process, there are deep cuts along the scratched lines or column 4, seen from Figure 3, so that the disk breaks up into the desired sections. Further etching will only reduce the thickness of the wafer and hence leave the process so long continue until the desired thickness is obtained.

Ein zur Herstellung des Ätzbades geeignetes Mittel ίο zur Behandlung von Germanium besteht z. B. aus folgenden Bestandteilen:A suitable means for the preparation of the etching bath ίο for the treatment of germanium consists, for. B. off the following components:

15 ecm 100u/«igem Wasserstoffsuperoxyd, 15 ecm Kaliumhydroxydlösung (200O).15 ecm 100 u / "hydrogen peroxide, 15 ecm potassium hydroxide solution (20 0 O).

Die Temperatur des Bades sollte zwischen 70 und 80° C liegen. Ein Umrühren des Ätzmittels während des Ätzens ist zweckmäßig. Es wurde gefunden, daß die Ätzgeschwindigkeit zwischen 0.005 und 0,0075 mm pro Minute schwankt, daß aber bei einer bestimmtenThe temperature of the bath should be between 70 and 80 ° C. Stirring the etchant during of etching is appropriate. The etching speed was found to be between 0.005 and 0.0075 mm per minute fluctuates, but that at a certain one

zo Kombination von Bad und Scheibenmaterial innerhalb des obigen Temperaturbereiches die Ätzgeschwindigkeit konstant ist. Temperaturen unterhalb 70° C und oberhalb 80° C verringern bzw. erhöhen die Ätzgeschwindigkeit. Wenn ein Ätzbad bis zur Er-Schöpfung des Ätzmittels benutzt wird, dann kann man auch auf die Temperatur und die Zeit als beeinflussende Faktoren des Vorganges verzichten.zo combination of bath and disc material within of the above temperature range, the etching rate is constant. Temperatures below 70 ° C and above 80 ° C reduce or increase the etching speed. When a caustic bath up to the creation of the etchant is used, then one can also influence the temperature and the time Do without factors of the process.

Es wurde gefunden, daß Scheiben mit einer Anfangsstärke von 0,15 mm bei Einführung in das oben-It was found that disks with an initial strength of 0.15 mm when inserted into the above

z. B. aus einem scharfen Diamanten. Während des 30 genannte Ätzbad auf eine Dicke von 0,05 mm in einer Ritzens kann die Scheibe auf einer Unterlageplatte 3 z. B. durch Paraffinwachs oder einen geeigneten Klebstoff befestigt sein. Das Ritzen wird so durchgeführt, daß ein Muster entsteht, welches die Trennlinien zwischen den einzelnen Plättchen darstellt, die 35 aus der Scheibe hergestellt werden sollen. In Fig. 2 ist z. B. ein Muster gezeigt, bei dem die geritzten Linien ein rechteckiges Gitter bilden. Da mehrere parallele Linien zur Herstellung dieses Gitters eingeritzt werden, können auch mehrere scharfe Werk- 40 zeuge gleichzeitig verwendet werden. Es lassen sich auch mehrere Scheiben auf der Unterlageplatie 3 anbringen, so daß sie nacheinander geritzt werden können. Die Scheiben können so angeordnet sein, dnß sie unter dem Ritzwerkzeug zwei getrennte Durch- 45 gänge in zueinander senkrechten Richtungen ausführen. z. B. from a sharp diamond. During the 30 mentioned etching bath to a thickness of 0.05 mm in one Ritzens the disc on a base plate 3 z. B. by paraffin wax or a suitable one Adhesive attached. The scribing is carried out in such a way that a pattern is created that defines the dividing lines represents between the individual platelets that are to be produced from the disk. In Fig. 2 is z. B. a pattern is shown in which the scribed lines form a rectangular grid. Since several parallel Lines for making this grid can be carved into several sharp works witnesses can be used at the same time. Several discs can also be attached to the base plate 3, so that they can be scratched one after the other. The disks can be arranged so that make two separate 45 passages under the scoring tool in mutually perpendicular directions.

Wie oben erwähnt, sollte die Dicke der Scheiben etwa 0,15 mm vor dem Ritzen betragen. Wenn die Scheibe von dem einkristallinen Barren in einer Riehiung parallel zur [100]-Ebene des Kristalls abgeschnitten wird, dann ist es zweckmäßig, die Dicke der Scheiben größer zu wählen, und zwar etwa 0.3 mmAs mentioned above, the thickness of the disks should be about 0.15 mm before scribing. If the Slice of the monocrystalline ingot in a row is cut parallel to the [100] plane of the crystal, then it is useful to adjust the thickness of the slices to choose larger, namely about 0.3 mm

Nach dem Ritzen wird die Scheibe von der Unierlage 3 abgenommen und die geritzte Scheibe wird dann in das Ätzbad so lange eingetaucht, daß ihre Dicke auf einen Wert von 0,05 mm abnimmt. Die Zeit, die für den Ätzvorgang erforderlich ist, kann aus der Ätzgeschwindigkeit des Bades geschätzt werden, die sich aus der Verminderung der Dicke der Scheibe beim anfänglichen Ätzen ergibt, bei dem die Scheibe in das Bad für eine vorbestimmte Zeitdauer eingetaucht wurde.After the scratching, the disc is removed from the blanket layer 3 and the scratched disc is then immersed in the etching bath for so long that its thickness decreases to a value of 0.05 mm. the Time required for the etching process can be estimated from the etching speed of the bath, which results from the reduction in the thickness of the wafer during the initial etching, in which the Disc was immersed in the bath for a predetermined period of time.

Wenn die geätzte Scheibe in das Ätzbad eingeführt ist, dann werden vorzugsweise die geritzten Linien von dem Ätzmittel angegriffen, da durch das Ritzen Zeit von etwa 20 Minuten abnehmen, wenn das Bad auf einer Temperatur zwischen 70 und 80° C gehalten wurde. Die Zerlegung der Scheibe in einzelne Plättchen wurde ebenfalls innerhalb dieser Zeit erzielt. When the etched wafer is inserted into the etch bath, then the scribed lines are preferred attacked by the etchant, as the time of about 20 minutes decrease when the bath is used was kept at a temperature between 70 and 80 ° C. The dismantling of the disc into individual parts Platelet was also achieved within this time.

Claims (3)

Patentanspruch f. :Claim f.: 1. Verfahren zum Herstellen von plättchenförmigen Halbleiterkörpern von Halbleiterbauelementen aus einem Halbleitereinkristall, dadurch gekennzeichnet, daß von dem Halbleitereinkristall eine Scheibe parallel zu einer Hauptebene, z. B. der J1! 1 ]-Ebene, abgeschnitten wird, daß iß die eine Oberfläche der Scheibe ein Muster eingeritzt wird, welches die Trennungslinien zwischen den pUittchenförmigen Halbleiterkörpern dargestellt, und daß dann die geritzte Scheibe mit einem Ätzmittel so lange geätzt wird, bis die Scheibe in die pläUchenfönnigen Halbleiterkörper zerfällt und die gewünschte Dicke der Halbleiterkörper erreicht ist.1. Process for the production of platelet-shaped semiconductor bodies of semiconductor components of a semiconductor single crystal, characterized in that of the semiconductor single crystal a disk parallel to a main plane, e.g. B. the J1! 1] -plane, is cut off, that one surface of the disc is scratched a pattern which defines the dividing lines between the puittchen-shaped semiconductor bodies shown, and that then the scratched disk with an etchant is etched until the disk into the platelet-shaped semiconductor body disintegrates and the desired thickness of the semiconductor body is reached. 2. Verfahren nach Anspruch !. dadurch gekennzeichnet, daß in die Scheibe sich senkrecht schneidende Trennungslinien eingeritzt werden.2. The method according to claim! characterized, that vertically intersecting dividing lines are carved into the disc. 3. Verfahren nach Anspruch J. dadurch gekennzeichnet, daß in dem Ätzmittel etwa gleiche Anteile von Wasserstoffsuperoxyd und Kaliumhydroxyd verwendet werden und daß während des Ätzens eine Temperatur zwischen 70 und 80" C eingehalten wird.3. The method according to claim J. characterized in that that in the etchant approximately equal proportions of hydrogen peroxide and potassium hydroxide can be used and that a temperature between 70 and 80 "C during the etching is adhered to. In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschrift Nr. 823 470; britische Patentschrift Nr. 699 050; Zeitschrift für Elektrochemie. Bd. 58, 1954. Nr. 8. S. 283 bis 327.Documents considered: German Patent No. 823 470; British Patent No. 699,050; Journal of Electrochemistry. Vol. 58, 1954. No. 8. Pp. 283 to 327. Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings
DES63377A 1958-06-10 1959-06-09 Method for producing platelet-shaped semiconductor bodies for semiconductor components from a single semiconductor crystal Pending DE1142420B (en)

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