DE1142420B - Method for producing platelet-shaped semiconductor bodies for semiconductor components from a single semiconductor crystal - Google Patents
Method for producing platelet-shaped semiconductor bodies for semiconductor components from a single semiconductor crystalInfo
- Publication number
- DE1142420B DE1142420B DES63377A DES0063377A DE1142420B DE 1142420 B DE1142420 B DE 1142420B DE S63377 A DES63377 A DE S63377A DE S0063377 A DES0063377 A DE S0063377A DE 1142420 B DE1142420 B DE 1142420B
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- semiconductor
- disc
- platelet
- bodies
- shaped semiconductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02002—Preparing wafers
- H01L21/02005—Preparing bulk and homogeneous wafers
- H01L21/02008—Multistep processes
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B28—WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
- B28D—WORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
- B28D5/00—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
- B28D5/0005—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by breaking, e.g. dicing
- B28D5/0011—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by breaking, e.g. dicing with preliminary treatment, e.g. weakening by scoring
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23F—NON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
- C23F1/00—Etching metallic material by chemical means
- C23F1/02—Local etching
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B33/00—After-treatment of single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49789—Obtaining plural product pieces from unitary workpiece
- Y10T29/4979—Breaking through weakened portion
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen von plättchenförmigen Halbleiterkörpern von Halbleiterbauelementen aus Halbleitereinkristallen, die z. B. aus Germanium bestehen. Die plättchenförmigen Halbleiterkörper benutzt man z. B. zur Ausbildung von Gleichrichtern oder Transistoren.The invention relates to a method for producing platelet-shaped semiconductor bodies from Semiconductor components made from single crystals, e.g. B. consist of germanium. The platelet-shaped Semiconductor bodies are used z. B. for the formation of rectifiers or transistors.
Bei der Herstellung von plättchenförmigen Halbleiterkörpern wird gewöhnlich so vorgegangen, daß eine Scheibe von einem Halbleiterkristall abgeschnitten und dann in Teile von gewöhnlich rechteckiger Form zerlegt wird, die in den Gleichrichter oder Transistor eingebaut werden. Die Zerlegung der Scheibe in die einzelnen Teile erfolgt durch Schleifwerkzeuge, z. B. ein mit Diamanten besetzes Rad oder durch die hin- und hergehende Bewegung eines dünnen Drahtes, der mit einem Schleifmittel versehen ist und über die Scheibe hin- und hergeführt wird. Die so hergestellten plättchenförmigen Halbleiterkörper weisen rauhe Ränder auf, die unter inneren mechanischen Spannungen stehen. Dies kann später zu einem Zerbrechen der Körper oder mindestens dazu führen, daß diese leicht zerbrechen, wenn sie einer weiteren Beanspruchung ausgesetzt werden.In the production of platelet-shaped semiconductor bodies, the procedure is usually such that cut a disk from a semiconductor crystal and then cut it into pieces of usually rectangular shape Form is disassembled, which can be built into the rectifier or transistor. The decomposition of the Disc into the individual parts is done by grinding tools, e.g. B. a wheel set with diamonds or by the reciprocating motion of a thin wire that is provided with an abrasive and is guided back and forth over the disc. The flake-form semiconductor bodies produced in this way have rough edges that are under internal mechanical stresses. This can be done later too breaking the body or at least causing it to break easily if they are one be exposed to further stress.
Es ist bereits bekannt, daß bei einer Fertigung von Transistoren auf die richtige Kristallorientierung des Germaniums geachtet werden muß, weil einige Eigenschaften des Germaniums, z. B. die Zenerspannung. der Verteilungskoeffizient und der Angriff des Ätzmittels, von dieser Orientierung abhängig ist.It is already known that in the manufacture of transistors on the correct crystal orientation of the Germanium must be taken into account because some properties of germanium, e.g. B. the Zener voltage. the distribution coefficient and the attack of the etchant depends on this orientation.
Rillen in das Halbleitermaterial hineinzuschneiden, ist auch ein an sich bekannter Verfahrensschritt, bei dem Material in erheblichem Umfang entfernt wird. Die übrigen Flächen des Halbleitermaterials sollen mit Paraffin oder einem anderen Wachs abgedeckt werden, damit ein Ätzmittel nur an den Rillen das Material angreift und hierdurch eine Zerteilung einzelner Plättchen bewirkt. Das Ätzmittel kann z. B. eine Mischung aus Salpetersäure und Flußsäure sein.Cutting grooves into the semiconductor material is also a process step that is known per se the material is removed to a significant extent. The remaining surfaces of the semiconductor material should be covered with paraffin or another wax so that an etchant is only applied to the grooves Attacks material and thereby causes individual platelets to be broken up. The etchant can e.g. B. be a mixture of nitric acid and hydrofluoric acid.
Der Nachteil der bekannten Verfahren liegt darin, daß entweder durch eine mechanische Bearbeitung des Halbleiters die Oberflächenbereiche in ihrer Struktur verändert und dadurch die elektrischen Eigenschaften des endgültigen Halbleiterbauelementes verschlechtert werden oder man zusätzliche Schutzstoffe, wie Wachs oder Paraffin, verwenden muß, deren Ablösung vom Halbleiter zusätzliche Arbeit oder Schwierigkeiten mit sich bringt.The disadvantage of the known method is that either by mechanical processing of the semiconductor changes the structure of the surface areas and thereby the electrical Properties of the final semiconductor component are deteriorated or one additional Protective substances, such as wax or paraffin, must use, their detachment from the semiconductor additional work or cause difficulties.
Ein solches Verfahren zum Herstellen von plättchenförmigen Halbleiterkörpern von Halbleiterbauelementen aus einem Halbleitereinkristall wird erfindungsgemäß dadurch verbessert, daß von dem Halbleitereinkristall eine Scheibe parallel zu seiner Haupt-Verfahren zum HerstellenSuch a method for producing platelet-shaped semiconductor bodies from semiconductor components from a semiconductor single crystal is improved according to the invention in that of the semiconductor single crystal a disc parallel to its main process to manufacture
von plättchenförmigen Halbleiterkörpernof platelet-shaped semiconductor bodies
von Halbleiterbauelementenof semiconductor components
aus einem Halbleitereinkristallfrom a semiconductor single crystal
Anmelder:Applicant:
AssociatedAssociated
Electrical Industries (Woolwich) Limited,
LondonElectrical Industries (Woolwich) Limited,
London
Vertreter: Dr.-Ing. W. Reichel, Patentanwalt,
Frankfurt/M. 1, Parkstr. 13Representative: Dr.-Ing. W. Reichel, patent attorney,
Frankfurt / M. 1, Parkstrasse 13th
Beanspruchte Priorität:
Großbritannien vom 10. Juni 1958 (Nr. 18 536)Claimed priority:
Great Britain June 10, 1958 (No. 18 536)
Roland Freestone und Mary Teresa Weir,
Harlow, Essex (Großbritannien),
sind als Erfinder genannt wordenRoland Freestone and Mary Teresa Weir,
Harlow, Essex (UK),
have been named as inventors
ebene, z. B. der [lll]-Ebene, abgeschnitten wird, daß in die eine Oberfläche der Scheibe ein Muster eingeritzt wird, welches die Trennungslinien zwischen den plättchenförmigen Halbleiterkörpern darstellt, und daß dann die geritzte Scheibe mit einem Ätzmittel so lange geätzt wird, bis die Scheibe in die plättchenförmigen Halbleiterkörper zerfällt und die gewünschte Dicke der Halbleiterkörper erreicht ist.level, e.g. B. the [lll] -plane, is cut off that a pattern is scratched into one surface of the disc, which marks the dividing lines between the represents platelet-shaped semiconductor bodies, and that then the scratched disk with an etchant so is etched for a long time until the wafer disintegrates into the platelet-shaped semiconductor body and the desired Thickness of the semiconductor body is reached.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren sind also plättchenförmige Halbleiterkörper herstellbar, deren mechanisch gestörte Oberflächenbereiche ohne Anwendung eines Schutzmaterials restlos bis zur gewünschten Dicke abgeätzt sind. Als Ätzmittel wird dabei eine Mischung, z. B. von Wasserstoffsuperoxyd und Kaliumhydroxyd, verwendet, die im Gegensatz zu den bekannten Mischungen alkalisch reagiert. Außerdem weisen die so hergestellten Halbleiterkörper glatte Ränder ohne innere mechanische Spannungen auf.With the method according to the invention, therefore, it is possible to produce platelet-shaped semiconductor bodies whose mechanically disturbed surface areas without the use of a protective material completely up to the desired one Thickness are etched away. The etchant used is a mixture, e.g. B. of hydrogen peroxide and potassium hydroxide, which, in contrast to the known mixtures, has an alkaline reaction. In addition, the semiconductor bodies produced in this way have smooth edges without internal mechanical stresses on.
Die Erfindung wird nun an Hand der Zeichnungen in Verbindung mit Ausführungsbeispielen näher erläutert. The invention will now be explained in more detail with reference to the drawings in connection with exemplary embodiments.
Fig. 1 zeigt in einer Ansicht das Ritzen der Scheibe aus Halbleitermaterial;1 shows a view of the scribing of the wafer made of semiconductor material;
Fig. 2 zeigt in einer Draufsicht eine Scheibe des Halbleitermaterials nach dem Ritzen, undFig. 2 shows a plan view of a wafer of the semiconductor material after scribing, and
209 758/183209 758/183
Fig. 3 zeigt einen Querschnitt einer Scheibe nach dem Ätzen.Fig. 3 shows a cross section of a wafer after etching.
In Fig. 1 ist eine Scheibe 1 aus einkristallinem Halbleitermaterial, z. B. aus einem Germaniumeinkristall, dargestellt. Dieser Einkristall ist von einem Barren eines Germaniumeinkristalls abgeschnitten, der z. B. durch Ziehen eines Kristalls aus einer Masse geschmolzenen Germaniums gewonnen worden ist. Das Verfahren zur Herstellung eines solchen Barrens ist an sich bekannt. Der Barren wird quer zu seiner Längachse durch geeignete Mittel, z. B. durch ein Schleifrad, geschnitten, so daß eine Scheibe 1 entsteht. Die Scheibe kann etwa 0,5 mm dick sein und ist vorzugsweise aus dem Barren derart herausgeschnitten, daß die Oberfläche der Scheibe parallel zu einer Hauptebene, vorzugsweise der [111]-Ebene. des Kristalls liegt. Die Scheibe wird dann durch Läppen auf eine Dicke von 0,15 mm gebracht. Eine solche Scheibe 1 ist in der Zeichnung dargestellt. Wenn die Scheibe von vornherein so dünn geschnitten werden kann, dann ist der nachfolgende Läppvorgang nicht erforderlich. Die Scheibe wird dann während einer vorbestimmten Zeitdauer in ein Ätzbad eingetaucht, wieder herausgenommen, und dann wird die Dicke gemessen, so daß die Ätzgeschwindigkeit des Bades festgestellt werden kann.In Fig. 1, a disc 1 made of monocrystalline semiconductor material, e.g. B. from a germanium single crystal, shown. This single crystal is cut from a bar of germanium single crystal, the z. B. obtained by pulling a crystal from a mass of molten germanium is. The method for producing such an ingot is known per se. The bar becomes transverse to its longitudinal axis by suitable means, e.g. B. by a grinding wheel, cut so that a disc 1 arises. The disc can be about 0.5 mm thick and is preferably cut out of the ingot in such a way that that the surface of the disc is parallel to a main plane, preferably the [111] plane. of the crystal lies. The disc is then lapped to a thickness of 0.15 mm. Such Disk 1 is shown in the drawing. When the slices are cut so thin from the start then the subsequent lapping process is not required. The disc is then during immersed in an etching bath for a predetermined period of time, removed again, and then the Thickness measured so that the etching rate of the bath can be determined.
Die Scheibe 1 wird dann geritzt, indem ein scharfes Werkzeug 2 über die Oberfläche der Scheibe hinweggezogen wird. Ein geeignetes Werkzeug besteht Unregelmäßigkeiten in dem Kristall hervorgerufen worden sind. Als Ergebnis dieses Vorganges ergeben sich an den geritzten Linien entlang tiefe Einschnitte oder Spalte 4, die aus Fig. 3 zu sehen sind, so daß die Scheibe in die gewünschten Abschnitte zerfällt. Ein weiteres Ätzen verringert nur die Dicke der Scheibe, und man läßt den Vorgang daher so lange andauern, bis die gewünschte Dicke erhalten wird.The disc 1 is then scored by drawing a sharp tool 2 across the surface of the disc will. One suitable tool is to create irregularities in the crystal have been. As a result of this process, there are deep cuts along the scratched lines or column 4, seen from Figure 3, so that the disk breaks up into the desired sections. Further etching will only reduce the thickness of the wafer and hence leave the process so long continue until the desired thickness is obtained.
Ein zur Herstellung des Ätzbades geeignetes Mittel ίο zur Behandlung von Germanium besteht z. B. aus folgenden Bestandteilen:A suitable means for the preparation of the etching bath ίο for the treatment of germanium consists, for. B. off the following components:
15 ecm 100u/«igem Wasserstoffsuperoxyd, 15 ecm Kaliumhydroxydlösung (200O).15 ecm 100 u / "hydrogen peroxide, 15 ecm potassium hydroxide solution (20 0 O).
Die Temperatur des Bades sollte zwischen 70 und 80° C liegen. Ein Umrühren des Ätzmittels während des Ätzens ist zweckmäßig. Es wurde gefunden, daß die Ätzgeschwindigkeit zwischen 0.005 und 0,0075 mm pro Minute schwankt, daß aber bei einer bestimmtenThe temperature of the bath should be between 70 and 80 ° C. Stirring the etchant during of etching is appropriate. The etching speed was found to be between 0.005 and 0.0075 mm per minute fluctuates, but that at a certain one
zo Kombination von Bad und Scheibenmaterial innerhalb des obigen Temperaturbereiches die Ätzgeschwindigkeit konstant ist. Temperaturen unterhalb 70° C und oberhalb 80° C verringern bzw. erhöhen die Ätzgeschwindigkeit. Wenn ein Ätzbad bis zur Er-Schöpfung des Ätzmittels benutzt wird, dann kann man auch auf die Temperatur und die Zeit als beeinflussende Faktoren des Vorganges verzichten.zo combination of bath and disc material within of the above temperature range, the etching rate is constant. Temperatures below 70 ° C and above 80 ° C reduce or increase the etching speed. When a caustic bath up to the creation of the etchant is used, then one can also influence the temperature and the time Do without factors of the process.
Es wurde gefunden, daß Scheiben mit einer Anfangsstärke von 0,15 mm bei Einführung in das oben-It was found that disks with an initial strength of 0.15 mm when inserted into the above
z. B. aus einem scharfen Diamanten. Während des 30 genannte Ätzbad auf eine Dicke von 0,05 mm in einer Ritzens kann die Scheibe auf einer Unterlageplatte 3 z. B. durch Paraffinwachs oder einen geeigneten Klebstoff befestigt sein. Das Ritzen wird so durchgeführt, daß ein Muster entsteht, welches die Trennlinien zwischen den einzelnen Plättchen darstellt, die 35 aus der Scheibe hergestellt werden sollen. In Fig. 2 ist z. B. ein Muster gezeigt, bei dem die geritzten Linien ein rechteckiges Gitter bilden. Da mehrere parallele Linien zur Herstellung dieses Gitters eingeritzt werden, können auch mehrere scharfe Werk- 40 zeuge gleichzeitig verwendet werden. Es lassen sich auch mehrere Scheiben auf der Unterlageplatie 3 anbringen, so daß sie nacheinander geritzt werden können. Die Scheiben können so angeordnet sein, dnß sie unter dem Ritzwerkzeug zwei getrennte Durch- 45 gänge in zueinander senkrechten Richtungen ausführen. z. B. from a sharp diamond. During the 30 mentioned etching bath to a thickness of 0.05 mm in one Ritzens the disc on a base plate 3 z. B. by paraffin wax or a suitable one Adhesive attached. The scribing is carried out in such a way that a pattern is created that defines the dividing lines represents between the individual platelets that are to be produced from the disk. In Fig. 2 is z. B. a pattern is shown in which the scribed lines form a rectangular grid. Since several parallel Lines for making this grid can be carved into several sharp works witnesses can be used at the same time. Several discs can also be attached to the base plate 3, so that they can be scratched one after the other. The disks can be arranged so that make two separate 45 passages under the scoring tool in mutually perpendicular directions.
Wie oben erwähnt, sollte die Dicke der Scheiben etwa 0,15 mm vor dem Ritzen betragen. Wenn die Scheibe von dem einkristallinen Barren in einer Riehiung parallel zur [100]-Ebene des Kristalls abgeschnitten wird, dann ist es zweckmäßig, die Dicke der Scheiben größer zu wählen, und zwar etwa 0.3 mmAs mentioned above, the thickness of the disks should be about 0.15 mm before scribing. If the Slice of the monocrystalline ingot in a row is cut parallel to the [100] plane of the crystal, then it is useful to adjust the thickness of the slices to choose larger, namely about 0.3 mm
Nach dem Ritzen wird die Scheibe von der Unierlage 3 abgenommen und die geritzte Scheibe wird dann in das Ätzbad so lange eingetaucht, daß ihre Dicke auf einen Wert von 0,05 mm abnimmt. Die Zeit, die für den Ätzvorgang erforderlich ist, kann aus der Ätzgeschwindigkeit des Bades geschätzt werden, die sich aus der Verminderung der Dicke der Scheibe beim anfänglichen Ätzen ergibt, bei dem die Scheibe in das Bad für eine vorbestimmte Zeitdauer eingetaucht wurde.After the scratching, the disc is removed from the blanket layer 3 and the scratched disc is then immersed in the etching bath for so long that its thickness decreases to a value of 0.05 mm. the Time required for the etching process can be estimated from the etching speed of the bath, which results from the reduction in the thickness of the wafer during the initial etching, in which the Disc was immersed in the bath for a predetermined period of time.
Wenn die geätzte Scheibe in das Ätzbad eingeführt ist, dann werden vorzugsweise die geritzten Linien von dem Ätzmittel angegriffen, da durch das Ritzen Zeit von etwa 20 Minuten abnehmen, wenn das Bad auf einer Temperatur zwischen 70 und 80° C gehalten wurde. Die Zerlegung der Scheibe in einzelne Plättchen wurde ebenfalls innerhalb dieser Zeit erzielt. When the etched wafer is inserted into the etch bath, then the scribed lines are preferred attacked by the etchant, as the time of about 20 minutes decrease when the bath is used was kept at a temperature between 70 and 80 ° C. The dismantling of the disc into individual parts Platelet was also achieved within this time.
Claims (3)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB18536/58A GB852003A (en) | 1958-06-10 | 1958-06-10 | Improvements relating to the production of wafers of semi-conductor material |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1142420B true DE1142420B (en) | 1963-01-17 |
Family
ID=10114099
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DES63377A Pending DE1142420B (en) | 1958-06-10 | 1959-06-09 | Method for producing platelet-shaped semiconductor bodies for semiconductor components from a single semiconductor crystal |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3054709A (en) |
DE (1) | DE1142420B (en) |
GB (1) | GB852003A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1514082A1 (en) * | 1964-02-13 | 1969-09-18 | Hitachi Ltd | Semiconductor device and method for making the same |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB934107A (en) * | 1960-10-17 | 1963-08-14 | Mark Perks Ltd | Improvements in or relating to the patterning of metal surfaces |
US3122464A (en) * | 1961-01-10 | 1964-02-25 | Rca Corp | Method of fabricating semiconductor devices |
US3163568A (en) * | 1961-02-15 | 1964-12-29 | Sylvania Electric Prod | Method of treating semiconductor devices |
US3181983A (en) * | 1961-03-06 | 1965-05-04 | Sperry Rand Corp | Method for controlling the characteristic of a tunnel diode |
NL284965A (en) * | 1961-11-17 | 1900-01-01 | ||
BE625323A (en) * | 1961-11-28 | 1900-01-01 | ||
US3457633A (en) * | 1962-12-31 | 1969-07-29 | Ibm | Method of making crystal shapes having optically related surfaces |
US3165430A (en) * | 1963-01-21 | 1965-01-12 | Siliconix Inc | Method of ultra-fine semiconductor manufacture |
US3283271A (en) * | 1963-09-30 | 1966-11-01 | Raytheon Co | Notched semiconductor junction strain transducer |
US3513022A (en) * | 1967-04-26 | 1970-05-19 | Rca Corp | Method of fabricating semiconductor devices |
GB1182820A (en) * | 1967-06-27 | 1970-03-04 | Westinghouse Brake & Signal | Manufacture of Semiconductor Elements. |
US3497948A (en) * | 1967-09-05 | 1970-03-03 | Transistor Automation Corp | Method and apparatus for sorting semi-conductor devices |
GB1248584A (en) * | 1968-03-05 | 1971-10-06 | Lucas Industries Ltd | Thyristors and other semi-conductor devices |
US3816906A (en) * | 1969-06-20 | 1974-06-18 | Siemens Ag | Method of dividing mg-al spinel substrate wafers coated with semiconductor material and provided with semiconductor components |
US3680184A (en) * | 1970-05-05 | 1972-08-01 | Gen Electric | Method of making an electrostatic deflection electrode array |
US3847697A (en) * | 1972-10-30 | 1974-11-12 | Western Electric Co | Article transfer method |
US4096619A (en) * | 1977-01-31 | 1978-06-27 | International Telephone & Telegraph Corporation | Semiconductor scribing method |
US4237601A (en) * | 1978-10-13 | 1980-12-09 | Exxon Research & Engineering Co. | Method of cleaving semiconductor diode laser wafers |
JPS55136946A (en) * | 1979-04-12 | 1980-10-25 | Ngk Spark Plug Co Ltd | Gas component detecting element and manufacture thereof |
DE3044947A1 (en) * | 1980-11-28 | 1982-07-01 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | METHOD FOR PRODUCING VERY THIN SEMICONDUCTOR CHIPS |
US4415405A (en) * | 1981-08-19 | 1983-11-15 | Yale University | Method for engraving a grid pattern on microscope slides and slips |
JPH07201970A (en) * | 1993-12-01 | 1995-08-04 | At & T Global Inf Solutions Internatl Inc | Separation using shallow groove in integrated circuit |
JP3169842B2 (en) * | 1996-10-07 | 2001-05-28 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | Thermal head and method of manufacturing the same |
JP2003209259A (en) * | 2002-01-17 | 2003-07-25 | Fujitsu Ltd | Method for manufacturing semiconductor device and semiconductor chip |
JP5089643B2 (en) * | 2009-04-30 | 2012-12-05 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | Optical connection element manufacturing method, optical transmission board, optical connection component, connection method, and optical transmission system |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE823470C (en) * | 1950-09-12 | 1951-12-03 | Siemens Ag | Method for etching a semiconductor |
GB699050A (en) * | 1950-09-09 | 1953-10-28 | Sylvania Electric Prod | Transistors, and their method of manufacture |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2493461A (en) * | 1944-05-04 | 1950-01-03 | Harvey Wells Communications In | Means and method of forming piezo-electric crystals |
US2530110A (en) * | 1944-06-02 | 1950-11-14 | Sperry Corp | Nonlinear circuit device utilizing germanium |
NL105904C (en) * | 1955-12-30 | |||
US2849296A (en) * | 1956-01-23 | 1958-08-26 | Philco Corp | Etching composition and method |
US2978804A (en) * | 1958-08-13 | 1961-04-11 | Sylvania Electric Prod | Method of classifying non-magnetic elements |
-
1958
- 1958-06-10 GB GB18536/58A patent/GB852003A/en not_active Expired
-
1959
- 1959-06-03 US US817874A patent/US3054709A/en not_active Expired - Lifetime
- 1959-06-09 DE DES63377A patent/DE1142420B/en active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB699050A (en) * | 1950-09-09 | 1953-10-28 | Sylvania Electric Prod | Transistors, and their method of manufacture |
DE823470C (en) * | 1950-09-12 | 1951-12-03 | Siemens Ag | Method for etching a semiconductor |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1514082A1 (en) * | 1964-02-13 | 1969-09-18 | Hitachi Ltd | Semiconductor device and method for making the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB852003A (en) | 1960-10-19 |
US3054709A (en) | 1962-09-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1142420B (en) | Method for producing platelet-shaped semiconductor bodies for semiconductor components from a single semiconductor crystal | |
DE3026272A1 (en) | PRECISION MOLDING METHOD FOR WAFER MATERIAL AND DEVICE FOR IMPLEMENTING IT | |
DE3335116A1 (en) | SEMICONDUCTOR BOARDS AND METHOD AND DEVICE FOR THEIR PRODUCTION | |
CH669355A5 (en) | ||
CH633744A5 (en) | METHOD FOR PRODUCING DISKS FROM A HARD SINGLE CRYSTAL ROLLING BY MEANS OF AN INSIDE HOLE SAW. | |
DE3438980A1 (en) | BRACKET TO SUPPORT A WORKPIECE | |
DE823470C (en) | Method for etching a semiconductor | |
DE10019601B4 (en) | Layer composite material for sliding elements and for plain bearings, particularly crankshaft bearing, camshaft bearings or connecting rod bearings, comprises primary layer made from copper alloy or aluminum alloy | |
DE2613490C3 (en) | Method for removing protrusions from the surface of a semiconductor layer | |
EP0279949A1 (en) | Process for manufacturing semiconductor components | |
EP0045446A1 (en) | Process for dividing a single semiconductor crystal into wafers | |
DE60315670T2 (en) | METHOD FOR THE PRODUCTION OF SUBSTRATES, ESPECIALLY FOR OPTICS, ELECTRONICS AND OPTOELECTRONICS | |
DE840407C (en) | Silicon bodies for electrical purposes | |
DE1199098B (en) | Process for the etching of essentially single-crystal semiconductor bodies | |
DE2548329A1 (en) | PROCESS FOR CUTTING STRENGTHEN CRYSTALS IN DISC AND DEVICE FOR CARRYING OUT THE PROCESS | |
DE1764518A1 (en) | Process for the production of truncated pyramidal semiconductor elements | |
DE112019005268T5 (en) | METHOD OF MANUFACTURING A LASER MARKED SILICON WAFER AND LASER MARKED SILICON WAFER | |
DE2147703A1 (en) | Process for the production of lump-shaped crystal bodies | |
DE3435138A1 (en) | Improvement to a method for separating semiconductor components which are obtained by breaking semiconductor wafers | |
DE1095952B (en) | Process for the production of semiconductor strips of the same length from a homogeneous single-crystal semiconductor rod for several semiconductor arrangements | |
DE380665C (en) | Process for the production of hardened discs or the like with transversely furrowed grooves | |
DE1931335C3 (en) | Method for separating a body from a disk-shaped crystal and device for carrying out this method | |
EP0045445A1 (en) | Process for dividing a single semiconductor crystal into wafers | |
DE2225424C2 (en) | Method for manufacturing a semiconductor diode | |
DE102015006514B4 (en) | Method for producing a diamond electrode and diamond electrode |