DE1110908B - Anordnung zum Nachweis von Strahlungsenergieaenderungen durch AEnderung der Frequenz einer Wechselspannung - Google Patents

Anordnung zum Nachweis von Strahlungsenergieaenderungen durch AEnderung der Frequenz einer Wechselspannung

Info

Publication number
DE1110908B
DE1110908B DES44101A DES0044101A DE1110908B DE 1110908 B DE1110908 B DE 1110908B DE S44101 A DES44101 A DE S44101A DE S0044101 A DES0044101 A DE S0044101A DE 1110908 B DE1110908 B DE 1110908B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
arrangement
frequency
radiation
changes
arrangement according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DES44101A
Other languages
German (de)
English (en)
Other versions
DE1110908C2 (enrdf_load_stackoverflow
Inventor
Dr Richard Wiesner
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens Corp
Original Assignee
Siemens Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Corp filed Critical Siemens Corp
Priority to DES44101A priority Critical patent/DE1110908B/de
Publication of DE1110908B publication Critical patent/DE1110908B/de
Application granted granted Critical
Publication of DE1110908C2 publication Critical patent/DE1110908C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F99/00—Subject matter not provided for in other groups of this subclass

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)
DES44101A 1955-05-26 1955-05-26 Anordnung zum Nachweis von Strahlungsenergieaenderungen durch AEnderung der Frequenz einer Wechselspannung Granted DE1110908B (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES44101A DE1110908B (de) 1955-05-26 1955-05-26 Anordnung zum Nachweis von Strahlungsenergieaenderungen durch AEnderung der Frequenz einer Wechselspannung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES44101A DE1110908B (de) 1955-05-26 1955-05-26 Anordnung zum Nachweis von Strahlungsenergieaenderungen durch AEnderung der Frequenz einer Wechselspannung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE1110908B true DE1110908B (de) 1961-07-13
DE1110908C2 DE1110908C2 (enrdf_load_stackoverflow) 1962-02-01

Family

ID=7484998

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DES44101A Granted DE1110908B (de) 1955-05-26 1955-05-26 Anordnung zum Nachweis von Strahlungsenergieaenderungen durch AEnderung der Frequenz einer Wechselspannung

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE1110908B (enrdf_load_stackoverflow)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE763578C (de) * 1938-08-28 1953-03-09 Ludwig Dr Wesch Kondensator und Messanordnung zur Messung der Intensitaet von Roentgenstrahlen und haerteren elektromagnetischen Strahlen

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE763578C (de) * 1938-08-28 1953-03-09 Ludwig Dr Wesch Kondensator und Messanordnung zur Messung der Intensitaet von Roentgenstrahlen und haerteren elektromagnetischen Strahlen

Also Published As

Publication number Publication date
DE1110908C2 (enrdf_load_stackoverflow) 1962-02-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2128301C3 (de) Halbleiter-Oszillatordiode
DE1798413C3 (de) Anordnung zur Beobachtung der Ausrichtung von Quantensystemen. Ausscheidung aus: 1423462
DE1110908B (de) Anordnung zum Nachweis von Strahlungsenergieaenderungen durch AEnderung der Frequenz einer Wechselspannung
DE1054179B (de) Halbleiterbauelement zur Stromverstaerkung
Gräff et al. Messung der Zyklotronfrequenz freier Elektronen im Vierpolkäfig
DE1246104C2 (de) Zuendeinrichtung zur anschnittsteuerung eines steuerbaren gleichrichters in mehrpulsigen schaltungen
DE1539736C3 (de) Mit einem RC-Glied monolithisch integrierter Silizium-Planartransistor
DE2247160C3 (de) Amplitudengeregelter Generator
DE945403C (de) Einrichtung zum Messen einer elektrischen Leistung, insbesondere bei hohen Frequenzen, mit einer durch einen temperaturabhaengigen Widerstand stabilisierten Schwingschaltung
DE3322701C2 (enrdf_load_stackoverflow)
DE1549626C3 (de) Einrichtung zum Differenzieren und Integrieren elektrischer Spannungen
DE1266830C2 (de) Halbleiter-Anordnung zur Erzeugung und Verstaerkung elektromagnetischer Schwingungen im Mikrowellenbereich
DE1044285B (de) Halbleiteranordnung mit mindestens drei wie bei der Vakuumverstaerkerroehre wirkenden Elektroden
DE2208135A1 (de) Steuereinrichtung fuer eine magnetspule
Anderson et al. Integrator for nanosecond pulses
DE861870C (de) Stabilisierter rueckgekoppelter Roehrengenerator
EP0002451A1 (de) Verfahren und Anordnung zur berührungsfreien Messung von Verunreinigungsstellen in Halbleitern
DE1613234A1 (de) Schaltstromkreise
DE1243780B (de) Elektronischer Elektrizitaetszaehler
DE972909C (de) Halbleiteranordnung unter Verwendung eines Halbleiterkoerpers, auf dem mindestens zwei gleichrichtende Elektroden und eine weitere Elektrode angebracht sind, und Einrichtung mit einer solchen Halbleiteranordnung
SU530435A1 (ru) Генератор пр моугольных импульсов
DE1139371B (de) Kurzzeitverschluss fuer photographische Kameras
AT213958B (de) Anordnung zur Erzeugung bzw. Verstärkung von Wellen über 10<10> Hz nach dem "Maser"-Prinzip
DE1139150B (de) Rechteckgenerator mit einer Vierschichtdiode
GA The determination of the critical concentration for a dilute heisenberg ferromagnet from the low-energy spin waves