DE10394299T5 - Design eines integrierten Schaltkreises zur Optimierung der Herstellbarkeit - Google Patents

Design eines integrierten Schaltkreises zur Optimierung der Herstellbarkeit Download PDF

Info

Publication number
DE10394299T5
DE10394299T5 DE10394299T DE10394299T DE10394299T5 DE 10394299 T5 DE10394299 T5 DE 10394299T5 DE 10394299 T DE10394299 T DE 10394299T DE 10394299 T DE10394299 T DE 10394299T DE 10394299 T5 DE10394299 T5 DE 10394299T5
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
design
manufacturability
library
elements
features
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE10394299T
Other languages
English (en)
Inventor
Carlo Guardiani
Nicola Dragone
John Los Altos Kibarian
Enrico Mountain View Malavasi
Ratibor San Diego Radojcic
Andrzej Strojwas
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
PDF Solutions Inc
Original Assignee
PDF Solutions Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by PDF Solutions Inc filed Critical PDF Solutions Inc
Publication of DE10394299T5 publication Critical patent/DE10394299T5/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/30Circuit design
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2119/00Details relating to the type or aim of the analysis or the optimisation
    • G06F2119/18Manufacturability analysis or optimisation for manufacturability
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/02Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

Verfahren zum Analysieren der Herstellbarkeit von Bibliotheksdesignelementen, die beim Designen eines unter Verwendung eines bestimmten Herstellprozesses herzustellenden IC-Chips zu verwenden sind, wobei das Verfahren umfasst:
Erhalten der Bibliotheksdesignelemente aus einer Bibliothek;
Bestimmen von Herstellbarkeitsmerkmalen der Bibliotheksdesignelemente für den bestimmten Herstellprozess, wobei die Herstellbarkeitsmerkmale Ausbeute-bezogene Merkmale umfassen; und
Erzeugen von Bibliotheksansichten mit Herstellbarkeitsmerkmalen für die Bibliotheksdesignelemente, wobei die Bibliotheksansichten durch ein elektronisches Designautomations(EDA)-Werkzeug verwendet werden.

Description

  • 1. Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft das Design integrierter Schaltkreise und genauer das Designen integrierter Schaltkreise, um die Herstellbarkeit zu optimieren.
  • 2. Stand der Technik
  • Das Design eines integrierten Schaltkreis-(integrated circuit, IC)-Chips wird aus verschiedenen auch als Elemente geistigen Eigentums (intellectual property, IP) bezeichneten Elementen verschiedener Größe und Komplexität zusammengesetzt. Die kleinsten Elemente werden üblicherweise als Standardzellen bezeichnet. Größere Baugruppen von Elementen können untereinander verbunden werden, um vollständige Funktionen, üblicherweise als Blocks bezeichnet, zu erzeugen. Mehrere Blöcke werden untereinander verbunden, um einen IC-Chip zu erzeugen, der hergestellt wird.
  • Für das Design von IC-Chips ist es bei einem gegebenen Herstellprozess notwendig, eine Baugruppe solcher Zellen oder Blöcke in Übereinstimmung mit dem bestimmten Herstellprozess zu erzeugen, während eine Auswahl an Funktionalitäts- und Leistungsfähigkeits-Wahlmöglichkeiten bereitgestellt wird, die es den Designern ermöglichen, einen gegebenen IC-Chip zu designen und zu optimieren. Die für einen bestimmten Herstellprozess geschaffene Zusammenstellung solcher Zellen und Blöcke, zusammen mit einer genauen Beschreibung ihrer Merkmale, wird allgemein als eine Bibliothek bezeichnet. Die für eine bestimmte Herstelltechnologie geschaffene Auswahl der Designelemente/Komponenten in einer Bibliothek ermöglicht es einem Designsystem, effizient und optimiert IC-Chips zu erzeugen. Die Bibliotheksdesignelemente (Zellen und Blöcke) sind in bestimmten Datenwiedergaben organisiert, die verschiedene Merkmale in Bezug auf ihre Verwendung im Chipdesign enthalten. Eine bestimmte, solche Merkmale enthaltende Datenwiedergabe eines Bibliotheksdesignelements wird als eine Ansicht (view) bezeichnet.
  • Bei einem herkömmlichen Designablauf zum Erzeugen und Charakterisieren der Eigenschaften einer Bibliothek werden Testchips designed und in einer Herstelleinrichtung verarbeitet, um Informationen bereitzustellen, die das Designen und Erstellen der Bibliothek ermöglichen. Die Testchips enthalten eine Abfolge representativer Vorrichtungen und Verbindungsgeometrien, die analysiert werden, um Vorrichtungsmodelle zu erzeugen, die zur Verwendung durch Simulatoren auf der elektrischen Ebene (electrical-level simulators), wie beispielsweise SPICE, geeignet sind, die bei der Charakterisierung der Bibliotheksdesignelemente verwendet werden, um Leistungsfähigkeits-Ansichten der entsprechenden Bibliotheksdesignelemente zu erzeugen. Die Testchips werden auch analysiert, um die bei dem Design der Bibliotheksdesignelemente verwendeten Designregeln zu erzeugen. Das Layout der Bibliotheksdesignelemente wird in Bibliotheksansichten (library views) beschrieben, die beispielsweise eine Anschlussflächen-(footprint)-Information des Bibliotheksdesignelements enthalten. Die Testchips werden auch analysiert, um ein Design-Kit zu erzeugen, das eine Benutzerschnittstelle für das Design von ICs bereitstellt und das die SPICE-Modelle, die Designregeln und entsprechende Werkzeuge für eine automatische Überprüfung der Übereinstimmung mit diesen Regeln enthält.
  • Die in herkömmlichen Designsystemen verwendeten Testchips enthalten jedoch keine umfangreichen Strukturen, die für eine Beurteilung oder Vorhersage der Herstellbarkeit der für die Konstruktion der Bibliothek und der Produkt-ICs verwendeten passiven oder aktiven Komponenten entwickelt sind. Daraus folgt, dass die durch die existierenden Designsysteme erzeugten Bibliotheksdesignelemente nicht ausreichend in Bezug auf eine Vorhersage ihrer Herstellbarkeit ausgewertet wurden.
  • Jedes unter Verwendung des Design-Kits hergestellte Zellendesign wird unter Verwendung eines computerlesbaren Formats, wie beispielsweise GDSII, wiedergegeben. Eine Anzahl von verschiedenen Wiedergaben jedes Zellendesigns existiert in einer Bibliothek und jede Wiedergabe ist als eine Zellenansicht bekannt (cell view). Einige Zellenansichten werden von anderen abgeleitet. Beispielsweise wird die Timingansicht jeder Zelle aus den SPICE-Modellen und der GDSII-Ansicht durch einen als Bibliothekstiming-Charakterisierung (library timing characterization) bezeichneten Prozess erzeugt. LEF ist ein Beispiel einer Bibliotheksansicht, welche die durch einen Router benötigten Merkmale beschreibt und die Informationen über die Anschlussfläche und die Ports enthält.
  • Eine typische Bibliothek enthält etwa 500 Zellen. Innerhalb der Zusammenstellung der Bibliothekszellen gibt es jedoch mehrfache Layout-Wiedergaben für eine gegebene logische Funktion. Diese „Varianten" bieten unterschiedliche Leistungsfähigkeitsmerkmale, die für eine bestimmte Anwendung ausgewählt und optimiert werden können. Beispielsweise sind üblicherweise in diesen in der Bibliothek enthaltenen Varian ten-Versionen Optionen für hohe Leistungsfähigkeit, hohe Leistungsaufnahme mit niedriger Dichte oder niedrige Leistungsfähigkeit, niedrige Leistungsaufnahme mit hoher Dichte verfügbar. Da jedoch keine Bibliotheksansicht Herstellungsmerkmale enthält, bieten die durch den existierenden Stand der Technik erzeugten Varianten keine Wahlmöglichkeiten in Bezug auf bestimmte Faktoren bezüglich der Herstellbarkeit. Ebenso sind existierende kommerzielle, die üblichen Bibliotheksansichten verwendende Softwareanwendungen nicht fähig, Herstellbarkeitsmerkmale für ein beliebiges Designelement in der Bibliothek zu extrahieren oder zu verwenden.
  • Bei einer Syntheseprozedur wird eine funktionale (High-Level-) Hardware-Beschreibung der Funktionalität des IC auf grundlegende binäre Operatoren und logische Abfolgen (logische Dekomposition) abgebildet, um eine als freie Logik (uncommited logic) bezeichnete Wiedergabe zu erzeugen. Unter Verwendung von physikalischen Bibliothekszellen oder Blöcken wird die freie Logik in ein spezifisches Logik-Konnektivitäts-Diagramm abgebildet, das oftmals als eine Netzliste auf Gate-Ebene (gate-level netlist) bezeichnet wird. Ein Blockraum- und Route-Schritt erzeugt ein aus den ausgewählten Standardzellen bestehendes Layout der Block-Ebene und der Verbindungen in den Routing-Ebenen, um alle diese Elemente zu verbinden. Das Layout wird in verschiedenen Formaten, beispielsweise GDSII, wiedergegeben. Ein abschließender Überprüfungsschritt stellt sicher, dass alle Design-Randbedingungen erfüllt sind. Bei anderen bekannten aktuellen Praktiken werden zwei oder mehr der Schritte zwischen der funktionalen Hardware-Beschreibung und dem Layout auf der Block-Ebene gleichzeitig durch eine Softwareanwendung ausgeführt. Designabläufe mit diesem Ansatztyp werden oft als „physikalische Synthese"-Abläufe („physical synthesis" flows) bezeichnet.
  • Bei diesen Designabläufen wird die Auswahl der Bibliotheksdesignelemente durch bestimmte Designrandbedingungen festgelegt, die auf die Optimierung der Metrik, wie beispielsweise Geschwindigkeit und Leistungsfähigkeit, und Überlegungen bezüglich der Fläche begrenzt sind. Es wird keine echte Herstellbarkeitsmetrik beschrieben; einige Flächenbasierte Herstellbarkeitsmodelle werden jedoch indirekt verwendet, um die Chip-Kosten abzuschätzen.
  • ZUSAMMENFASSUNG
  • Bibliotheksdesignelemente werden in Bezug auf die Herstellbarkeit analysiert, um beim Designen eines IC-Chips verwendet zu werden, der unter Verwendung eines bestimmten Herstellprozesses herzustellen ist. Die Bibliotheksdesignelemente werden aus einer Bibliothek erhalten. Herstellbarkeitsmerkmale der Bibliotheksdesignelemente werden für den bestimmten Herstellprozess bestimmt, wobei Herstellbarkeitsmerkmale Ausbeute-bezogene Merkmale einschließen. Nachfolgend werden Bibliotheksansichten mit Herstellbarkeitsmerkmalen für die Bibliotheksdesignelemente erzeugt, die durch ein elektronisches Designautomations-(electronic design automation, EDA)-Werkzeug verwendet werden.
  • BESCHREIBUNG DER FIGUREN
  • Die vorliegende Erfindung kann am besten unter Bezugnahme auf die folgende in Verbindung mit den begleitenden Zeichnungen angegebene Beschreibung verstanden werden, wobei in den Figuren gleiche Teile mit gleichen Bezugszeichen bezeichnet sein können:
  • 1 ist ein beispielhafter Designablauf;
  • 2 ist ein beispielhafter Prozess, um Herstellbarkeitsmerkmale für Bibliotheksdesignelemente zu bestimmen;
  • 3 zeigt eine beispielhafte Lernkurve;
  • 4 zeigt einen beispielhaften Prozess, um Bibliotheksansichten von Bibliotheksdesignelementen mit Herstellbarkeitsmerkmalen zu erzeugen;
  • 5 zeigt einen beispielhaften Prozess, um verschiedene Designelemente zu erzeugen;
  • 6 zeigt einen beispielhaften Desginablauf; und
  • 7 zeigt einen anderen beispielhaften Designablauf.
  • GENAUE BESCHREIBUNG
  • Die folgende Beschreibung stellt zahlreiche bestimmte Konfigurationen, Parameter und Ähnliches heraus, es sollte jedoch bemerkt werden, dass eine solche Beschreibung nicht als eine Begrenzung des Umfangs der vorliegenden Erfindung gedacht ist, sondern vielmehr als eine Beschreibung beispielhafter Ausführungsformen angegeben wird.
  • Wie zuvor beschrieben, wird eine Bibliothek von Designelementen üblicherweise verwendet, um IC-Chips zu designen. Die Bibliothek enthält alle benötigten Ansichten der Bibliotheksdesignelemente, einschließlich Leistungsfähigkeits-bezogener Merkmale der Bibliotheksdesignelemente. Herkömmliche Bibliotheken bieten jedoch keine Bibliotheksansichten mit Herstellbarkeitsmerkmalen, welche Ausbeute-bezogene Merkmale enthalten, die beispielsweise die Anzahl von guten Chips pro Wafer (good dies per wafer, GDW) vorhersagen können. Es sollte klar sein, dass die Herstellbarkeit auch verschiedene IC-Merkmale enthält, wie beispielsweise Defekte, Druckbarkeit, Zuverlässigkeit und Ähnliches. Die Herstellbarkeit bestimmt schließlich die Rentabilität eines Designs.
  • Bei einer beispielhaften Ausführungsform werden Bibliotheksdesignelemente analysiert, um Herstellbarkeitsmerkmale der Bibliotheksdesignelemente zu bestimmen. Bibliotheksansichten werden nachfolgend für die Bibliothekselemente erzeugt, um Herstellbarkeitsmerkmale zusätzlich zu Leistungsfähigkeits-Merkmalen zu enthalten. Diese Bibliotheksansichten mit Herstellbarkeitsmerkmalen können in einem Designablauf verwendet werden, um ICs mit einer gesteigerten Herstellbarkeit bei einem gegebenen Prozess zu designen.
  • Unter Bezugnahme auf die Figur ist ein beispielhafter Designablauf 100 gezeigt. Bei 102 werden Bibliotheksdesignelemente erhalten. Bei 104 werden Ausbeute-bezogene Merkmale enthaltende Herstellbarkeitsmerkmale für die Bibliotheksdesignelemente bestimmt. Bei 112 werden Varianten der Bibliotheksdesignelemente erzeugt, wobei die Varianten gegenüber den Bibliotheksdesignelementen unterschiedliche Herstellbarkeitsmerkmale aufweisen. Bei 106 werden Bibliotheksansichten, die in einem computerlesbaren Format sind, der Herstellbarkeitsmerkmale der Bibliotheksdesignelemente und Varianten erzeugt. Bei 108 wird eine Herstellbarkeitsabschätzung des Layouts erzeugt. Bei 110 werden optimale Designelemente für ein IC-Desgin ausgewählt.
  • I. Erzeugen von Ansichten mit Herstellbarkeitsmerkmalen
  • Bei einer beispielhaften Ausführungsform werden Testchips für eine bestimmte Herstelleinrichtung und/oder für einen bestimmten Herstellprozess designed, wobei die existierenden Designregeln und die gegebenen Ziel-Herstellbarkeitsmodelle berücksichtigt werden. Die Testchips enthalten eine Wiedergabe der innerhalb des existierenden Bibliotheksdesignelements enthaltenen Layoutmerkmale. Die aus den Testchips extrahierten Daten schließen zufällige Ausbeute- und systematische Ausbeute-Faktoren von existierenden Herstellprozessen ein. Für eine genauere Beschreibung von Testchips, die verwendet werden können, um zufällige und systematische Ausbeuten zu bestimmen, siehe das US-Patent Nr. 6,449,749 mit dem Titel SYSTEM AND METHOD FOR PRODUCT YIELD PREDICTION, veröffentlicht am 10. September 2002, das hierin durch Bezugnahme in seiner Gesamtheit aufgenommen wird.
  • Unter Bezugnahme auf die 2 wird ein beispielhafter Prozess 200 gezeigt, um die Herstellbarkeitsmerkmale für Bibliotheksdesignelemente zu bestimmen. Bei 202 werden Maskensätze für Testchips erzeugt. Bei 204 werden die Maskensätze in einem Herstellprozess verwendet, der zum Herstellen des ICs verwendet wird. Bei 206 werden Testchips unter Verwendung der Maskensätze in dem Herstellprozess hergestellt. Bei 208 werden die hergestellten Testchips unter Verwendung eines analytischen Werkzeugs analysiert, um die Herstellbarkeitsmerkmale des Herstellprozesses und die Herstellbarkeitsmerkmale der Bibliotheksdesignelemente zu bestimmen.
  • Die aus den Testchips bestimmten Herstellbarkeitsmerkmale werden dann verwendet, um verschiedene Simulator-Softwarewerkzeuge, wie beispielsweise YRS, Optissimo und Ähnliche, zu kalibrieren. Die Ergebnisse der Simulationen der Herstellbarkeit der Bibliotheksdesignelemente schließt eine Anzahl von Herstellbarkeitsmerkmalen, einschließlich der Grenzaus beute (limited yield, LY) des Layouts, Herstellungsrisikofaktoren (manufacturing risk factors, MRF), eine quantitative Beschreibung des Prozessfensters und die Beziehung zwischen LY und MRF ein. Die Ergebnisse der Herstellsimulation werden in Bibliotheksansichten zusammengefasst, die durch ein elektronisches Designautomations-(EDA)-Werkzeug verwendet werden können.
  • Bei einer beispielhaften Ausführungsform werden basierend auf historischen Produktionsmerkmalen eines gegebenen Herstellprozesses, den aktuellen Herstellbarkeitsmerkmalen und/oder einer Erfahrung mit Lernraten die Herstellbarkeitsmerkmale des Herstellprozesses für verschiedene zukünftige Punkte des Prozessablaufes abgeschätzt. Die Herstellbarkeit eines gegebenen Designelements wird dann für verschiedene Zeitfenster, die verschiedenen Prozessablaufprognosen entsprechen, simuliert und wird auch in den Bibliotheksansichten für die entsprechenden Zeitfenster und das gegebene Bibliotheksdesignelement wiedergegeben.
  • Beispielweise zeigt die 3 eine beispielhafte Lernkurve 302. Wie in der 3 gezeigt, steigt das Volumen der in einem Herstellprozess hergestellten ICs über eine Zeitspanne an. Demzufolge wird bei einem niedrigeren Volumen an einem Punkt 304 auf der Lernkurve 302, der einer früheren Zeitspanne als ein Punkt 306 entspricht, eine niedrigere Ausbeute erreicht.
  • In einer beispielhaften Ausführungsform wird für einen gegebenen Herstellprozess und ein gegebenes Designverfahren ein Modell definiert, das unter Verwendung von statistischen Designdaten basierend auf repräsentativen alten Chipdesigns und/oder Speicherblock-/Logik-Konfigurationen und entsprechenden Herstelldaten die Beziehung zwischen der Herstellbar keit des zum untereinander Verbinden der Bibliotheksdesignelemente verwendeten Routings und die Art und Logik-Konnektivität der Bibliotheksdesignelemente beschreibt. Diese Beziehung ist in einem Modell enthalten, das auch in den Bibliotheksansichten enthalten ist.
  • Die Bibliotheksansichten sind in einer computerlesbaren Matrix enthalten, die diese verschiedenen Herstellbarkeitsmerkmale für eine gegebene Sammlung von Bibliotheksdesignelementen für verschiedene Zeitfenster tabelliert und verschiedene Verbindungsherstellbarkeitsmodelle enthält.
  • Unter Bezugnahme auf die 4 ist ein beispielhafter Prozess 400 gezeigt, um Bibliotheksansichten von Bibliotheksdesignelementen mit Herstellbarkeitsmerkmalen zu erzeugen. Bei 402 wird ein Herstellprozess charakterisiert, der zu verwenden ist, um ein IC-Design herzustellen. Beispielsweise werden bei 404 Testchips unter Verwendung des Herstellprozesses hergestellt. Bei 406, 408 und 410 wird der Herstellprozess unter Verwendung der Testchips charakterisiert, um jeweils Designregeln, Design-Kits und SPICE-Modelle zu erzeugen. Bei 412 erzeugen Bibliotheksautomaten eine Bibliothek von Designelementen für den Herstellprozess unter Verwendung der bei 414 charakterisierten Designregeln, Design-Kits und SPICE-Modelle.
  • Bei 416 werden basierend auf den Designregeln, Design-Kits und SPICE-Modellen Standardbibliotheksansichten der Zellen erzeugt. Beispielsweise beschreibt eine Timing-Ansicht die Leistungsfähigkeits-Merkmale der Zelle in der Bibliothek als eine Funktion der Zellenlast und der Eingangsspannungssteilheit (input voltage slope), die durch Durchführen einer Anzahl von SPICE-Simulationen gebildet wird. Eine abstrakte Layoutansicht beschreibt die durch einen Router benötigten Merkmale und schließt Informationen über die Anschlussfläche und die Port-Anordnung ein. Eine funktionelle Ansicht beschreibt die mit der Zelle verknüpften binären logischen Funktionen. Andere Ansichten werden verwendet, um Leistungsaufnahme-, Signalintegritäts- usw. -Merkmale einer Zelle zu beschreiben. Ansichten sind im Allgemeinen spezifisch für ein Werkzeug eines EDA-Automaten – d.h. ein Designwerkzeug liest eine Zellenansicht ein, um die Eigenschaften des Bibliothekselements zu bestimmen, die für die durch das Werkzeug durchgeführte Operation relevant sind. Die Zellenlayoutansicht wird auch in einem computerlesbaren Format, wie beispielsweise GDSII, beschrieben.
  • Bei 418 werden Testchips verwendet, um einen Bereich von Herstellbarkeitsparametern festzulegen, von denen viele in verschiedenen Formen Ausbeute-bezogener Daten ausgedrückt sind. Beispielsweise werden bei 420 eine zufällige und eine systematische Ausbeute basierend auf den von den Testchips erhaltenen Daten bestimmt. Zusätzlich werden andere Herstellbarkeitsmerkmale, wie beispielsweise eine Druckbarkeits-Metrik, Prozesstoleranzen und Zuverlässigkeitsmerkmale auch durch die Analyse der Testchipdaten extrahiert. Bei 422 wird ein Simulatorsoftwarewerkzeug, wie beispielsweise der Ausbeute-Ramp-Simulator (Yield Ramp Simulator, YRS), Optissimo und Ähnliches unter Verwendung von Ausbeute-bezogenen und anderen Herstellbarkeitsdaten kalibriert.
  • Bei 424 werden bekannte Ausbeute-Ramp-Daten von verschiedenen Layoutmerkmalen durch den YRS verwendet, um die Zeitabhängigkeit solcher Merkmale als eine Funktion eines gegebenen Herstellbarkeitsvolumens zu kalibrieren.
  • Bei 426 wird ein Herstellbarkeitssimulator verwendet, um jedes Designelement in der Bibliothek zu analysieren, um seine Herstellbarkeitsmerkmale zu beschreiben. Das Ergebnis der Simulationen schließt eine Grenzausbeute des Layouts (LY) und Herstellbarkeitsrisikofaktoren (manufacturability risk factors, MRF) ein, um ein Prozessfenster für das Layout auf eine relative quantitative Weise, sowohl LY als auch MRF gegenüber der Zeit, und ein Verhältnis (beispielsweise ein Gewichtungsfaktor) zwischen LY und MRFs zu beschreiben. Bei 428 werden Bibliotheksansichten der Bibliotheksdesignelemente mit Herstellbarkeitsmerkmalen erzeugt.
  • II. Erzeugen von Varianten
  • Bei einer beispielhaften Ausführungsform können Varianten der Bibliotheksdesignelemente erzeugt werden, die eine Verbesserung der Herstellbarkeit der Bibliotheksdesignelemente ermöglichen, üblicherweise minimal zu Lasten der anderen Designparameter, wie beispielsweise Fläche, Leistungsfähigkeit oder Leistungsaufnahme. Diese Varianten sind funktionell zu den ursprünglichen Bibliotheksdesignelementen äquivalent, bieten jedoch bestimmte Designalternativen, welche die Herstellbarkeitseigenschaften der Bibliotheksdesignelemente durch effektive Kompromisse, beispielsweise Flächen- und/oder Leistungsfähigkeits-Faktoren, verbessern kann.
  • Unter Bezugnahme auf die 5 ist ein beispielhafter Prozess 500 gezeigt, um Designelement-Varianten (Varianten) zu erzeugen. Bei 406, 408 und 410 werden Designregeln, Design-Kits und SPICE-Modelle für einen Herstellprozess erzeugt. Bei 502 wird eine Bibliothek mit Bibliotheksansichten von Zellen in einem computerlesbaren Format, wie beispielsweise GSDII, erzeugt. Eine typische Bibliothek kann etwa 100 grundlegende logische Funktionen enthalten, wobei für jede dieser grundlegenden Funktionen eine Anzahl von Aussteuerfähigkeits-Varianten vorhanden ist, wobei die Zahl für die ge samte Zelle auf etwa 500 steigt. Bei 504 wird ein Layout geändert, um das Herstellbarkeitsmerkmal des Layouts zu ändern. Bei 506 werden die Herstellbarkeitsmerkmale der Designelemente durch Auswerten von Herstellbarkeitssimulationen charakterisiert, die unter bestimmten zuvor beschriebenen Bedingungen zulässige Designrandbedingungen, beispielsweise Leistungsaufnahme, Fläche, für eine gesteigerte Herstellbarkeit eintauschen. Bei 508 werden Bibliotheksansichten der Varianten erzeugt. Bei 510 werden die Varianten charakterisiert, um die durch die Designwerkzeuge und Abläufe benötigten Bibliotheksansichten zu erzeugen. Bei 512 werden Herstellbarkeitsmerkmale der Varianten unter Verwendung von Herstellbarkeitssimulationen erzeugt. Bei 514 werden Bibliotheksansichten der Varianten mit Herstellbarkeitsmerkmalen erzeugt. Bei 516 werden die Varianten gespeichert. Für eine genauere Beschreibung des Erzeugens von Varianten siehe die US Provisional-Anmeldung Nr. 60/437,922 mit dem Titel YIELD IMPROVEMENT, eingereicht am 2. Januar 2003, die hierin durch Bezugnahme in ihrer Gesamtheit aufgenommen wird.
  • III. Erzeugen einer Herstellbarkeitsabschätzung eines Designs
  • Unter Bezugnahme auf die 6 ist ein beispielhafter Designablauf 600 gezeigt. Bei 602 wird eine Bibliothek mit Designelementen erhalten. Bei 604 wird eine funktionale (High-Level-) Spezifikation der gewünschten Funktionalität des Schaltkreises erhalten. Die Spezifikation schließt Design-Randbedingungen/-Regeln, wie beispielsweise Leistungsfähigkeit, Leistungsaufnahme und Fläche ein. Bei 606 wird eine Beschreibung des Designs basierend auf der Spezifikation der gewünschten Funktionalität und der Bibliothek der Designelemente erzeugt. Bei einer beispielhaften Ausführungsform ist die Beschreibung eine Netzliste mit einem Format, das eine Liste der Standardzellen und anderer bildender Blöcke dar stellt und die Konnektivität zwischen all den Elementen definiert. Zusätzlich werden bei 614 Bibliotheksansichten der Blöcke, wie beispielsweise Analog, Speicher, I/O etc. erzeugt. Bei 608 wird ein Layout auf einer Block-Ebene erzeugt, das ausgewählte Bibliotheksdesignelemente und Verbindungen auf den Routing-Ebenen enthält, und dann werden all diese Bibliotheksdesignelemente verbunden. Bei 610 werden die Blocks platziert und verbunden, um ein Chiplayout unter teilweiser Verwendung der Bibliotheksansichten der Blöcke zu erzeugen. Bei 612 wird das Chiplayout überprüft, um zu bestätigen, dass alle Designrandbedingungen erfüllt sind und die Designregeln nicht verletzt werden.
  • Bei 616 wird eine Beschreibung des Designs importiert. Die Beschreibung kann eine Netzliste sein, die ein Block- oder ein Chip-Design auf einer Struktur-Ebene beschreibt, mit anderen Worten durch spezifizieren in Form einer Liste von untereinander verbundenen grundlegenden Komponenten, einer Register-Transfer-Ebene-Beschreibung einer gewünschten Block- oder Chip-Funktionalität oder eines Layouts eines existierenden Blocks oder Chips. Bei 618 wird die Herstellbarkeit des Designs basierend auf den Bibliotheksansichten der Bibliotheksdesignelemente unter Verwendung eines Herstellbarkeitsanalysators analysiert. Bei 622 wird eine Herstellbarkeitsabschätzung für das Design erzeugt. Die Herstellbarkeitsabschätzung kann eine Funktion eines Herstellzeitrahmens sein und auf gewünschte Designblöcke heruntergebrochen sein. Bei 620 werden Herstellbarkeitsansichten für die Designblocks aus 614 erzeugt, falls solche Ansichten nicht bereits erzeugt wurden. Die Herstellbarkeitsabschätzung bei 622 gibt einem Benutzer die Möglichkeit, die Herstellbarkeitsmerkmale eines gegebenen IC- oder IP-Blocks zu verstehen. Zusätzlich kann die Herstellbarkeitsabschätzung in einer beispielhaften Aus führungsform verwendet werden, um die Zeitabhängigkeit der Herstellbarkeit eines Designs vorherzusagen.
  • Genauer können für ein beliebiges Designelement die Merkmale einer virtuellen Lernkurve (beispielsweise die Abhängigkeit der Ausbeute von dem Herstellvolumen, hergeleitet aus bereits bekannten Daten) in ein Simulatorwerkzeug, wie beispielsweise YRS, eingespeist werden. Unter Bezugnahme auf die 3 können bei einem gegebenen Level der Prozessreife des Benutzers in Bezug auf die Lernkurve, die durch ein YRS-Werkzeug formatierten historischen Daten verwendet werden, um die Ausbeute über die Zeit für die spezifischen Layoutmerkmale eines IC-Designs vorherzusagen. Solche Informationen können ein zusätzliches Kriterium für die Auswahl von Varianten darstellen, das eine genauere Kosten-/Rentabilitäts-Vorhersage des Designs über den Produktzyklus ermöglicht. Zusätzlich erlaubt ein solches Designsystem durch die Identifikation der Designelemente mit der geringsten Ausbeute (lowest yielding design element) eine Vorhersage und Optimierung der Ausbeute des gesamten IC-Designs über die Zeit bei einem gegebenen Level der Prozessreife. Mit der Reife des Herstellprozesses ändern sich auch die Merkmale in Bezug auf die Herstellbarkeit der Bibliothekszellen und dementsprechend kann das optimale Mapping eines Blocks eines Chips in Bezug auf die Bibliothekszellen dynamisch justiert werden.
  • IV. Auswahl der optimalen Designelemente
  • Unter Bezugnahme auf die 7 ist ein beispielhafter Designablauf 700 zur Auswahl optimaler Designelemente gezeigt. Bei 702 wird ein Design basierend auf Herstellbarkeitsabschätzungen und Varianten der Designelemente aus 516 optimiert. Das Design kann durch Verändern der Auswahlfunktion eines Synthesewerkzeugs, um Zellen oder Blöcke basierend auf den Herstellbarkeitsmerkmalen und anderen Designrandbedingungen auszuwählen, optimiert werden. Alternativ kann eine existierende Netzliste eines Designs zerlegt werden, um Varianten zu substituieren, während die geforderte Funktionalität erhalten wird und andere Designrandbedingungen beachtet werden.
  • Bei 704 wird das verbesserte Design analysiert, um zu bestimmen, ob das verbesserte Design mit den Designrandbedingungen übereinstimmt. Falls eine Randbedingung verletzt ist, wird ein Design schrittweise erstellt, um die Randbedingungen zu erfüllen, oder es wird durch eine alternative, nächstniedrigere Ausbeute-Variante mit derselben Funktionalität ersetzt. Wie in der 7 gezeigt, wird der Prozess wiederholt, bis die Randbedingungen erfüllt sind. Wenn die Randbedingungen erfüllt sind, wird eine Beschreibung des verbesserten Designs, wie beispielsweise eine verbesserte Netzliste, erzeugt.
  • Obwohl beispielhafte Ausführungsformen beschrieben wurden, können verschiedene Modifikationen ohne Verlassen der Idee und/oder des Umfangs der vorliegenden Erfindung vorgenommen werden. Daher sollte die vorliegende Erfindung nicht als auf die bestimmten in den Zeichnungen und oben beschriebenen Ausführungsformen begrenzt angesehen werden.
  • Zusammenfassung
  • Bibliotheksdesignelemente (102) werden auf ihre Herstellbarkeit analysiert, wobei die Bibliotheksdesignelemente (102) beim Designen eines unter Verwenden eines bestimmten Herstellprozesses herzustellenden IC-Chips zu verwenden sind. Die Bibliotheksdesignelemente werden von einer Bibliothek erhalten. Die Herstellbarkeitsmerkmale (104) der Bibliotheksdesignelemente werden für den bestimmten Herstellprozess bestimmt, wobei die Herstellbarkeitsmerkmale Ausbeute-bezogene Merkmale enthalten. Darauffolgend werden Bibliotheksansichten (106) mit Herstellbarkeitsmerkmalen für die Bibliotheksdesignelemente erzeugt, die durch ein elektronisches Designautomations-(EDA)-Werkzeug verwendet werden.

Claims (38)

  1. Verfahren zum Analysieren der Herstellbarkeit von Bibliotheksdesignelementen, die beim Designen eines unter Verwendung eines bestimmten Herstellprozesses herzustellenden IC-Chips zu verwenden sind, wobei das Verfahren umfasst: Erhalten der Bibliotheksdesignelemente aus einer Bibliothek; Bestimmen von Herstellbarkeitsmerkmalen der Bibliotheksdesignelemente für den bestimmten Herstellprozess, wobei die Herstellbarkeitsmerkmale Ausbeute-bezogene Merkmale umfassen; und Erzeugen von Bibliotheksansichten mit Herstellbarkeitsmerkmalen für die Bibliotheksdesignelemente, wobei die Bibliotheksansichten durch ein elektronisches Designautomations(EDA)-Werkzeug verwendet werden.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Bestimmen der Herstellbarkeitsmerkmale umfasst: Erzeugen eines die Bibliotheksdesignelemente umfassenden Testchipdesigns; Herstellen eines Testchips unter Verwendung des Testchipdesigns und des bestimmten Herstellprozesses; und Analysieren des hergestellten Testchips, um die Herstellbarkeitsmerkmale der Bibliotheksdesignelemente zu bestimmen.
  3. Verfahren nach Anspruch 2, wobei das Analysieren des hergestellten Testchips umfasst: Vergleichen eines Layoutmerkmals eines Bibliotheksdesignelements mit einem auf dem Testchip hergestellten Layoutmerkmal; und Bestimmen eines Herstellbarkeitsmerkmals für das Bibliotheksdesignelement basierend auf dem Vergleich.
  4. Verfahren nach Anspruch 2, wobei das Analysieren des hergestellten Testchips umfasst: Erhalten von Daten von dem Testchip, um Zufalls-Ausbeute- und systematische Ausbeute-Modelle zu füllen.
  5. Verfahren nach Anspruch 4, das weiterhin umfasst: Bestimmen einer Druckbarkeit, von Prozesstoleranzen und einer Zuverlässigkeit des Testchips.
  6. Verfahren nach Anspruch 1, das weiterhin umfasst: Erzeugen eines Variantendesignelements basierend auf einem Bibliotheksdesignelement durch Modifizieren eines Merkmals des Bibliotheksdesignelements, um das Herstellbarkeitsmerkmal des Bibliotheksdesignelements zu modifizieren.
  7. Verfahren nach Anspruch 6, das weiterhin umfasst: Bestimmen von Veränderungen der Designmerkmale des Variantendesignelements als ein Ergebnis des modifizierten Herstellbarkeitsmerkmals.
  8. Verfahren nach Anspruch 7, wobei die Designmerkmale Leistungsfähigkeit, Leistungsaufnahme, Fläche und Ausbeute umfassen.
  9. Verfahren nach Anspruch 6, das weiterhin umfasst: Erzeugen einer Bibliotheksansicht mit einem Herstellbarkeitsmerkmal für das Variantendesignelement.
  10. Verfahren nach Anspruch 9, das weiterhin umfasst: Verwenden der Bibliotheksansichten der Bibliotheksdesignelemente und der Variantendesignelemente mit Herstellbarkeitsmerkmalen; und Analysieren der Herstellbarkeit eines IC-Designs basierend auf den Bibliotheksansichten.
  11. Verfahren nach Anspruch 10, das weiterhin umfasst: Modifizieren des IC-Designs durch Auswählen eines Variantendesignelements.
  12. Verfahren nach Anspruch 11, das weiterhin umfasst: Bestimmen, ob ein modifiziertes Design eine durch einen Benutzer bestimmte Randbedingung erfüllt; und wenn die durch den Benutzer bestimmte Randbedingung nicht erfüllt wird, Modifizieren des IC-Designs durch Auswählen eines anderen Variantendesignelements.
  13. Verfahren nach Anspruch 12, wobei das Modifizieren des IC-Designs umfasst: Auswählen eines Variantendesignelements unter Verwendung eines zeitabhängigen Ausbeutefaktors.
  14. Verfahren nach Anspruch 13, wobei der zeitabhängige Ausbeutefaktor die Änderung der Ausbeute über eine Zeitspanne charakterisiert.
  15. Verfahren nach Anspruch 1, das weiterhin umfasst: für einen gegebenen Herstellprozess und ein gegebenes Designverfahren, Definieren eines Modells, das unter Verwendung von statistischen Designdaten basierend auf einer Zusammenstellung von repräsentativen Legacy-Chipdesigns, Speicherblöcken oder logischen Konfigurationen die Beziehung zwischen der Herstellbarkeit des zur Verbindung der Bibliotheksdesign elemente untereinander verwendeten Routings und entsprechenden Herstellbarkeitsdaten beschreibt.
  16. Verfahren zum Designen eines integrierten Schaltkreises, wobei das Verfahren umfasst: Erhalten von Bibliotheksdesignelementen aus einer Bibliothek; Bestimmen von Herstellbarkeitsmerkmalen der Bibliotheksdesignelemente, wobei die Herstellbarkeitsmerkmale Ausbeute-bezogene Merkmale umfassen; Erzeugen von Variantendesignelementen basierend auf den Bibliotheksdesignelementen, wobei die Variantendesignelemente modifizierte Herstellbarkeitsmerkmale aufweisen; und Designen des integrierten Schaltkreises unter Verwendung der Bibliothek von Designelementen und der Variantendesignelemente basierend auf den Herstellbarkeitsmerkmalen der Designelemente und der modifizierten Herstellbarkeitsmerkmale der Variantendesignelemente.
  17. Verfahren nach Anspruch 16, wobei das Bestimmen der Herstellbarkeitsmerkmale umfasst: Designen eines Testchipdesigns basierend auf der Bibliothek von Designelementen; Herstellen eines Testchips unter Verwendung des Testchipdesigns; und Analysieren des hergestellten Testchips, um die Herstellbarkeitsmerkmale zu bestimmen.
  18. Verfahren nach Anspruch 17, wobei ein Analysieren des hergestellten Testchips umfasst: Erhalten von Daten von dem Testchip, um Zufalls-Ausbeute- und systematische Ausbeute-Modelle zu füllen.
  19. Verfahren nach Anspruch 18, das weiterhin umfasst: Bestimmen einer Druckbarkeit, von Prozesstoleranzen und einer Zuverlässigkeit des Testchips.
  20. Verfahren nach Anspruch 16, das weiterhin umfasst: Beschreiben der Herstellbarkeitsmerkmale der Bibliotheksdesignelemente und der modifizierten Herstellbarkeitsmerkmale der Variantendesignelemente in einem computerlesbaren Format.
  21. Verfahren nach Anspruch 20, wobei das computerlesbare Format eine in einem elektronischen Designautomations-(EDA)-Werkzeug verwendete Bibliotheksansicht ist.
  22. Verfahren nach Anspruch 21, wobei das Designen des integrierten Schaltkreises umfasst: Verwenden der Bibliotheksansichten der Herstellbarkeitsmerkmale der Bibliotheksdesignelemente und der modifizierten Herstellbarkeitsmerkmale der Variantendesignelemente; und Analysieren der Herstellbarkeit eines Designlayouts für den integrierten Schaltkreis basierend auf den erzeugten Bibliotheksansichten.
  23. Verfahren nach Anspruch 22, wobei das Designen des integrierten Schaltkreises umfasst: Auswählen einer optimalen Komponente für das Designlayout des integrierten Schaltkreises aus den Bibliotheksdesignelementen und Variantendesignelementen unter Verwendung von durch einen Benutzer bestimmten Randbedingungen.
  24. Verfahren nach Anspruch 23, wobei das Auswählen einer optimalen Komponente umfasst: Bestimmen, ob die durch einen Benutzer bestimmten Randbedingungen erfüllt sind; und wenn die durch einen Benutzer bestimmten Randbedingungen nicht erfüllt sind, iteratives Auswählen eines Variantendesignelements mit einem modifizierten Herstellbarkeitsmerkmal, bis die durch einen Benutzer bestimmten Randbedingungen erfüllt sind.
  25. Verfahren nach Anspruch 16, wobei das Designen des integrierten Schaltkreises umfasst: Auswählen einer optimalen Komponente für ein Designlayout des integrierten Schaltkreises aus den Bibliotheksdesignelementen und Variantendesignelementen unter Verwendung eines zeitabhängigen Ausbeutefaktors.
  26. Verfahren nach Anspruch 25, wobei der zeitabhängige Ausbeutefaktor die Änderung der Ausbeute über eine Zeitspanne charakterisiert.
  27. Verfahren nach Anspruch 25, das weiterhin umfasst: Vorhersagen einer Ausbeute für das Designlayout über die Zeit basierend auf den Komponenten des Designlayouts mit der niedrigsten Ausbeute.
  28. Verfahren nach Anspruch 16, das weiterhin umfasst: für einen gegebenen Herstellprozess und ein gegebenes Designverfahren, Definieren eines Modells, das unter Verwendung von statistischen Designdaten basierend auf einer Zusammenstellung von repräsentativen Legacy-Chipdesigns, Speicherblöcken oder logischen Konfigurationen die Beziehung zwischen der Herstellbarkeit des zur Verbindung der Bibliotheksdesignelemente untereinander verwendeten Routings und entsprechenden Herstellbarkeitsdaten beschreibt.
  29. System zum Analysieren der Herstellbarkeit von Bibliotheksdesignelementen, die beim Designen eines unter Verwen dung eines bestimmten Herstellprozesses herzustellenden IC-Chips zu verwenden sind, wobei das System umfasst: eine Bibliothek mit Bibliotheksdesignelementen; und einen Herstellbarkeitssimulator, der eingerichtet ist zum: Bestimmen von Herstellbarkeitsmerkmalen der Bibliotheksdesignelemente, wobei die Herstellbarkeitsmerkmale Ausbeute-bezogene Merkmale umfassen, und Erzeugen von Bibliotheksansichten mit Herstellbarkeitsmerkmalen für die Bibliotheksdesignelemente.
  30. System nach Anspruch 29, das weiterhin umfasst: einen unter Verwendung des bestimmten Herstellprozesses hergestellten Testchip, wobei der Testchip Merkmale entsprechend einem oder mehrerer der Bibliotheksdesignelemente umfasst und wobei der Herstellbarkeitssimulator den Testchip analysiert, um die Herstellbarkeitsmerkmale der Bibliotheksdesignelemente zu bestimmen.
  31. System nach Anspruch 30, wobei der Testchip Merkmale umfasst, um Daten zu bestimmen, um Zufalls-Ausbeute- und systematische Ausbeute-Modelle zu füllen.
  32. System nach Anspruch 31, wobei der Testchip Merkmale umfasst, um eine Druckbarkeit, Prozesstoleranzen und eine Zuverlässigkeit zu bestimmen.
  33. System nach Anspruch 29, wobei der Herstellbarkeitssimulator Variantendesignelemente entsprechend den Bibliotheksdesignelementen durch Modifizieren der Herstellbarkeit der Bibliotheksdesignelemente erzeugt.
  34. System nach Anspruch 33, wobei der Herstellbarkeitssimulator Bibliotheksansichten mit Herstellbarkeitsmerkmalen für die Variantendesignelemente erzeugt.
  35. System nach Anspruch 34, das weiterhin umfasst: einen Herstellbarkeitsanalysator, der konfiguriert ist, um eine Herstellbarkeitsabschätzung eines IC-Designs basierend auf den Bibliotheksansichten der Bibliotheksdesignelemente zu bestimmen.
  36. System nach Anspruch 35, das weiterhin umfasst: einen Herstellbarkeitsoptimierer, der konfiguriert ist, um das IC-Design basierend auf den Herstellbarkeitsabschätzungen, basierend auf den Variantendesignelementen und basierend auf durch einen Benutzer bestimmten Randbedingungen zu optimieren.
  37. System nach Anspruch 36, wobei der Herstellbarkeitsoptimierer das IC-Design basierend auf einem zeitabhängigen Ausbeutefaktor optimiert.
  38. System nach Anspruch 29, das weiterhin umfasst: ein Modell für einen gegebenen Herstellprozess und ein gegebenes Designverfahren, das die Beziehung zwischen der Herstellbarkeit des zur Verbindung der Bibliotheksdesignelemente untereinander verwendeten Routings und entsprechenden Herstellbarkeitsdaten beschreibt, wobei das Modell unter Verwendung von statistischen Designdaten basierend auf einer Zusammenstellung von repräsentativen Legacy-Chipdesigns, Speicherblöcken oder logischen Konfigurationen definiert wird.
DE10394299T 2003-09-16 2003-09-16 Design eines integrierten Schaltkreises zur Optimierung der Herstellbarkeit Withdrawn DE10394299T5 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/US2003/029758 WO2005036422A1 (en) 2003-09-16 2003-09-16 Integrated circuit design to optimize manufacturability

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE10394299T5 true DE10394299T5 (de) 2006-08-10

Family

ID=34434210

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10394299T Withdrawn DE10394299T5 (de) 2003-09-16 2003-09-16 Design eines integrierten Schaltkreises zur Optimierung der Herstellbarkeit

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP2007529100A (de)
CN (1) CN100474311C (de)
AU (1) AU2003272617A1 (de)
DE (1) DE10394299T5 (de)
WO (1) WO2005036422A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11748552B2 (en) 2018-09-28 2023-09-05 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Integrated circuit design using fuzzy machine learning

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7487474B2 (en) 2003-01-02 2009-02-03 Pdf Solutions, Inc. Designing an integrated circuit to improve yield using a variant design element
US7902878B2 (en) * 2008-04-29 2011-03-08 Qualcomm Incorporated Clock gating system and method
US8677292B2 (en) * 2009-04-22 2014-03-18 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Cell-context aware integrated circuit design
KR101252698B1 (ko) 2009-04-29 2013-04-09 퀄컴 인코포레이티드 클록 게이팅 시스템 및 방법
CN102542116B (zh) * 2012-01-06 2014-12-17 深圳市汉普电子技术开发有限公司 Dfm分析自动化的方法及装置
JP6370148B2 (ja) * 2014-07-30 2018-08-08 株式会社ディスコ 保持治具生成装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5539652A (en) * 1995-02-07 1996-07-23 Hewlett-Packard Company Method for manufacturing test simulation in electronic circuit design
US5666288A (en) * 1995-04-21 1997-09-09 Motorola, Inc. Method and apparatus for designing an integrated circuit
US5754826A (en) * 1995-08-04 1998-05-19 Synopsys, Inc. CAD and simulation system for targeting IC designs to multiple fabrication processes
JPH0981623A (ja) * 1995-09-19 1997-03-28 Fujitsu Ltd Cadシステム及びlsi設計方法
US5956497A (en) * 1997-02-26 1999-09-21 Advanced Micro Devices, Inc. Methodology for designing an integrated circuit using a reduced cell library for preliminary synthesis
JP2002076086A (ja) * 2000-08-29 2002-03-15 Hitachi Ltd 電子デバイスの歩留り予測システム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11748552B2 (en) 2018-09-28 2023-09-05 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Integrated circuit design using fuzzy machine learning

Also Published As

Publication number Publication date
CN1839389A (zh) 2006-09-27
AU2003272617A1 (en) 2005-04-27
CN100474311C (zh) 2009-04-01
JP2007529100A (ja) 2007-10-18
WO2005036422A1 (en) 2005-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102006037162B4 (de) Verfahren und Vorrichtung und deren Verwendung zur Prüfung des Layouts einer elektronischen Schaltung
EP0855662B1 (de) Elektrische Analyse integrierter Schaltungen
DE102015200694A1 (de) Verfahren, computersystem und computerlesbares speichermedium zum erzeugen eines layouts eines integrierten schaltkreises
DE10339924B4 (de) ESD-Testanordnung und Verfahren
DE112020006021T5 (de) Auf maschinelles lernen basierendes verfahren und vorrichtung für die berechnung und verifizierung von verzögerungen des entwurfs integrierter schaltungen
DE102014118932A1 (de) Charakterisierung einer Zelle unter Verwendung einer Eingangswellenerzeugung unter Berücksichtigung verschiedener Schaltungstopologien
DE10394299T5 (de) Design eines integrierten Schaltkreises zur Optimierung der Herstellbarkeit
DE102019124928A1 (de) Integriertes schaltungsdesign unter verwendung von fuzzy-maschinenlernen
DE10324594A1 (de) Verfahren zum Bereitstellen einer verbesserten Simulationsfähigkeit eines dynamischen Systems außerhalb der ursprünglichen Modellierungsumgebung
DE10138142A1 (de) Verfahren zur Analyse einer integrierten elektrischen Schaltung
EP1771799B1 (de) Verfahren zur bewertung der güte eines testprogramms
DE60318795T2 (de) Prüfung von integrierten Schaltungen
DE102015102034A1 (de) Verfahren zum Analysieren von Ergebnissen in einem Entwurfsautomatisierungsablauf für elektronische Systeme, Computersystem und Computerprogrammprodukt
DE60218447T2 (de) Verfahren zur Bearbeitung von Testmustern für einen integrierten Schaltkreis
DE602004012696T2 (de) Verfahren zum Analysieren elektrischer Bauteile, Vorrichtung zum Analysieren elektronischer Bauteile und elektrische Bauteile welche diese verwenden
DE102004029944B4 (de) Verfahren zur Ermittlung ESD-relevanter Schaltungsteile in einer Schaltung
DE10359214A1 (de) Verfahren zur Schaltkreissimulation eines Transistoren enthaltenden Schaltkreises
DE112013005831T5 (de) Netzlistenabstraktion
DE102004003092A1 (de) Verfahren zum Auflösen nicht richtig angepaßter Parameter bei einem rechnergestützten Entwurf für integrierte Schaltungen
DE10303186B4 (de) Verfahren zur Simulation einer elektrischen Schaltung
DE10245452A1 (de) Verfahren zum Bestimmen der Anordnung von Kontaktflächen auf der aktiven Oberseite eines Halbleiterchips
DE10206658B4 (de) Verfahren zum Überprüfen einer integrierten elektrischen Schaltung
DE102004020869A1 (de) System und Verfahren zum Bestimmen eines Signalnamens auf höchster Ebene in einem hierarchischen VLSI-Entwurf
JP3144389B2 (ja) 拡散モデルのパラメータ抽出方法
DE102005011150A1 (de) Verfahren zum Entwurf einer integrierten Schaltung

Legal Events

Date Code Title Description
8139 Disposal/non-payment of the annual fee