DE10331907A1 - Rastermikroskop mit NON-Descan-Detektion - Google Patents

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Abstract

Ein Rastermikroskop mit einem Detektor zur Non-Descan-Detektion des von einer Probe ausgehenden Detektionslichtes und mit einem Lichtleiter, der das Detektionslicht dem Detektor zuführt, ist dadurch gekennzeichnet, dass das Einkoppelende des Lichtleiters weitgehend unmittelbar im Bereich der Probe angeordnet ist.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Rastermikroskop mit einem Detektor zur Non-Descan-Detektion des von einer Probe ausgehenden Detektionslichtes und mit einem Lichtleiter, der das Detektionslicht dem Detektor zuführt.
  • In der Scanmikroskopie wird eine Probe mit einem Lichtstrahl beleuchtet, um das von der Probe emittierte Detektionslicht, als Reflexions- oder Fluoreszenzlicht, zu beobachten. Der Fokus eines Beleuchtungslichtstrahles wird mit Hilfe einer steuerbaren Strahlablenkeinrichtung, im allgemeinen durch Verkippen zweier Spiegel, in einer Probenebene bewegt, wobei die Ablenkachsen meist senkrecht aufeinander stehen, so daß ein Spiegel in x-, der andere in y-Richtung ablenkt. Die Verkippung der Spiegel wird beispielsweise mit Hilfe von Galvanometer-Stellelementen bewerkstelligt. Die Leistung des vom Objekt kommenden Detektionslichtes wird in Abhängigkeit von der Position des Abtaststrahles gemessen. Üblicherweise werden die Stellelemente mit Sensoren zur Ermittlung der aktuellen Spiegelstellung ausgerüstet.
  • Speziell in der konfokalen Scanmikroskopie wird ein Objekt mit dem Fokus eines Lichtstrahles in drei Dimensionen abgetastet.
  • Ein konfokales Rastermikroskop umfasst im allgemeinen eine Lichtquelle, eine Fokussieroptik, mit der das Licht der Quelle auf eine Lochblende – die sog. Anregungsblende – fokussiert wird, einen Strahlteiler, eine Strahlablenkeinrichtung zur Strahlsteuerung, eine Mikroskopoptik, eine Detektionsblende und die Detektoren zum Nachweis des Detektions- bzw. Fluoreszenzlichtes. Das Beleuchtungslicht wird über einen Strahlteiler eingekoppelt. Das vom Objekt kommende Fluoreszenz- oder Reflexionslicht gelangt über die Strahlablenkeinrichtung zurück zum Strahlteiler, passiert diesen, um anschließend auf die Detektionsblende fokussiert zu werden, hinter der sich die Detektoren befinden. Diese Detektionsanordnung wird Descan-Anordnung genannt. Detektionslicht, das nicht direkt aus der Fokusregion stammt, nimmt einen anderen Lichtweg und passiert die Detektionsblende nicht, so daß man eine Punktinformation erhält, die durch sequentielles Abtasten des Objekts mit dem Fokus des Beleuchtungslichtstrahles zu einem dreidimensionalen Bild führt. Meist wird ein dreidimensionales Bild durch schichtweise Bilddatennahme erzielt. Kommerzielle Scanmikroskope bestehen meist aus einem Scanmodul, dass an das Stativ eines klassischen Lichtmikroskops angeflanscht wird, wobei das Scanmodul alle genannten zur Abrasterung einer Probe zusätzlich nötigen Elemente beinhaltet.
  • In der konfokalen Scanmikroskopie kann im Falle der Zweiphotonenanregung (oder Mehrphotonenanregung) auf eine Detektionsblende verzichtet werden, da die Anregungswahrscheinlichkeit vom Quadrat der Photonendichte und damit vom Quadrat der Beleuchtungslichtintensität abhängt, die naturgemäß im Fokus viel höher ist als in den Nachbarregionen. Das zu detektierende Fluoreszenzlicht stammt daher mit großer Wahrscheinlichkeit zum aller größten Teil aus der Fokusregion, was eine weitere Differenzierung von Fluoreszenzphotonen aus dem Fokusbereich von Fluoreszenzphotonen aus den Nachbarbereichen mit einer Blendenanordnung überflüssig macht.
  • Insbesondere vor dem Hintergrund einer ohnehin geringen Ausbeute an Fluoreszenzphotonen bei Zweiphotonenanregung ist eine Non-Descan-Anordnung, bei der das Detektionslicht nicht über die Strahlablenkeinrichtung (Descan-Anordnung) und den Strahlteiler zur Beleuchtungslichteinkopplung zum Detektor gelangt, sondern direkt nach dem Objektiv mit Hilfe eines dichroitischen Strahlteilers ausgelenkt und detektiert wird, interessant; denn im Allgemeinen geht auf diesem Detektionslichtweg weniger Licht verloren. Außerdem tragen bei der Zweiphotonenanregung mit Descan-Detektion gestreute Anteile des Detektionslichtes Wesentlich zum Signal bei, was bei Non-Descan-Detektion nur in wesentlich verringertem Maße eine Rolle spielt. Anordnungen dieser Art sind beispielsweise aus der Veröffentlichung von David. W. Piston et al. „Two-photon-excitation fluorecence imaging of three dimensional calcium-ion activity", Applied Optics, Vol. 33, No. 4, Feb 1996, und aus Piston et al: „Time-Resolved Fluorecence Imaging and Background Rejection by Two-Photon Excitation in Laser Scanning Microscopy", SPIE Vol. 1640 bekannt.
  • Aus der U.S.-Patentschrift US 6,169,289 B1 ist ein Mikroskop mit Mehrphotonenanregung bekannt, bei dem das von der Probe ausgehende Detektionslicht kondensorseitig detektiert wird.
  • Aus der Offenlegungsschrift DE 100 04 233 A1 ist ein Mikroskopaufbau bekannt, bei dem das Licht der Descan-Detektion und der Non-Descan-Detektion optisch überlagerbar ist. Das Non-Descan-Detektionslicht wird hierbei von einem Kondensor gesammelt und nach Durchlaufen eines verwinkelten Strahlenganges mit einer Einkoppeloptik in eine Lichtleitfaser eingekoppelt, die das Non-Descan-Detektionslicht einem Detektor zuführt.
  • Ein Problem der bekannten Anordnungen zur Non-Descan-Detektion besteht darin, dass die Sammeloptik – insbesondere der Kondensor und nachführende Strahlführungsoptik – viel Bauraum beansprucht, so dass dieser oft nicht in gängigen Mikroskopstativen – besonders nachteilig: nicht im Fußteil der Mikroskopstative – untergebracht werden kann. Oft sind massive bauliche Veränderungen des Scanmikroskops und insbesondere des Mikroskopstativs erforderlich, um eine Non-Descan-Detektion zu realisieren, wobei oft aus Gründen des beschränkten Bauraumes auf eine Detektionsanordnung mit einer Vielzahl von Detektionskanälen verzichtet werden muss.
  • Aus dem Gebrauchsmuster DE 202 06 153 .1 ist ein Scanmikroskop mit einem Mikroskopstativ bekannt, das anstelle eines Strahlteilers zur Auskopplung des Non-Descan-Detektionslichts aus dem Strahlengang des Mikroskops ein Bauernfeindprisma verwendet. Hierdurch ist der Platzbedarf für das Auskoppelelement etwas reduziert. Das Platzproblem insgesamt wird mit dieser Anordnung jedoch nur ansatzweise beseitigt, insbesondere da allein der Kondensor nach wie vor einen enormen Bauraum beansprucht.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Rastermikroskop anzugeben, das das Non-Descan-Detektionslicht bei geringer Bauraumbeanspruchung dem Detektor zuführt.
  • Diese Aufgabe wird durch ein Rastermikroskop gelöst, das dadurch gekennzeichnet ist, dass das Einkoppelende des Lichtleiters weitgehend unmittelbar im Bereich der Probe angeordnet ist.
  • Die Erfindung hat den Vorteil, dass das Non-Descan-Detektionslicht mit dem Lichtleiter weitgehend direkt aus der Nähe des Präparats weggeleitet und dem Non-Descan-Detektor zugeführt werden kann. Hierbei kommen die Vorteile des flexiblen biegsamen und beliebig lang ausführbaren Lichtleiters voll zum tragen. Insbesondere ist der zur Verfügung stehende Bauraum nun nicht mehr ausschlaggebend für die Auswahl und die Ausgestaltung der zur verwendeten Detektoren. Mit dem Lichtleiter kann das Non-Descan-Detektionslicht ausreichend weit vom Mikroskopstativ weggeleitet werden, um jeden beliebigen Detektor verwenden zu können. Insbesondere ist hierdurch die Verwendung von mehrkanaligen Detektoren, wie beispielsweise Multibanddetektoren einfach realisierbar. Erfindungsgemäß ist zur Non-Descan-Detektion ein Kondensor nicht mehr erforderlich, so dass hierdurch ein enormer Bauraum eingespart wird.
  • Üblicherweise ist die Probe auf einem Probenträgerglas angeordnet. Der Lichtleiter ist in einer bevorzugten Ausgestaltung optisch direkt an das Probenträgerglas angekoppelt. Dies kann beispielsweise dadurch realisiert sein, dass das Einkoppelende des Lichtleiters unmittelbar dem Probenträgerglas angeordnet ist. Vorzugsweise ist zwischen dem Probenträgerglas und dem Lichtleiter zur optischen Ankopplung Immersionsöl eingefügt.
  • Als Koppelelement zwischen der Probe und dem Lichtleiter ist in einer anderen Variante ein Prisma, das beispielsweise als Bauernfeindprisma ausgeführt sein kann, vorgesehen. In einer anderen Ausführungsform umfasst das Koppelelement eine Linse oder eine diffraktive Optik. Insgesamt ist unabhängig von der Wahl des Koppelelements vorteilhafter Weise ein aufwendiger und komplizierter Strahlengang vermieden und damit die Gefahr des Verlusts an Non-Descan-Detektionslicht reduziert.
  • In einer bevorzugten Ausgestaltungsform sind Justierelemente vorgesehen, mit denen die räumliche Lage und/oder die Ausrichtung des Einkoppelendes des Lichtleiters einstellbar ist. Mit Hilfe der Justierelemente kann die Anordnung des Einkoppelendes der Lichtleitfaser beispielsweise im Bezug auf eine hohe Detektionseffizienz optimiert werden.
  • In einer bevorzugten Ausführung weist der Lichtleiter einen Kerndurchmesser auf, der größer als 2 mm ist. Vorzugsweise liegt der Kerndurchmesser im Bereich von 3 bis 7 mm. In einer ganz besonders bevorzugten Ausgestaltungsform beträgt der Kerndurchmesser ca. 5 mm. Insgesamt sollte der Lichtleiter einen möglichst großen Kerndurchmesser aufweisen.
  • Ganz besonders bevorzugt ist eine Variante, bei der der Lichtleiter als Flüssiglichtleiter ausgebildet ist.
  • Vorzugsweise weist das Einkoppelende und/oder das Auskoppelende des Lichtleiters eine Antireflexbeschichtung auf, was die Detektionseffizienz erhöht.
  • Um zu gewährleisten, dass ausschließlich Detektionslicht und kein Beleuchtungslicht zu den Detektoren gelangt, ist in einer bevorzugten Ausführungsform ein Sperrfilter vorgesehen, der beispielsweise am Einkoppel- und/oder am Auskoppelende des Lichtleiters angeordnet sein kann. Vorzugsweise ist der Sperrfilter als dielektrischer Filter auf das Einkoppel- oder das Auskoppelende des Lichtleiters direkt aufgebracht.
  • In einer ganz besonders bevorzugten Ausführungsvariante des Rastermikroskops ist ein Umschaltmechanismus vorgesehen, mit dem wahlweise das Einkoppelende des Lichtleiters zur Non-Descan-Detektion oder ein Kondensor zur konventionellen Durchlichtdetektion in den Strahlengang einbringbar ist. Der Umschaltmechanismus kann beispielsweise als Revolverumschaltung oder als Schwenkumschaltung ausgebildet sein.
  • Als Detektor kann beispielsweise ein einzelner Photomultiplier oder eine Anordnung von mehreren Photomultipliern denen Detektionslicht unterschiedlicher Detektionswellenlängen mit Hilfe von dichroitischen Strahlteilern zugeordnet wird, oder beispielsweise ein Multibanddetektor vorgesehen sein. In einer bevorzugten Variante ist der Detektor unmittelbar optisch an das Auskoppelende des Lichtleiters gekoppelt. Für diese "Head-On-Anordnung" ist vorzugsweise ein weiteres Koppelelement zwischen dem Lichtleiter und dem Detektor vorgesehen.
  • In einer bevorzugten Variante ist das Rastermikroskop als konfokales Rastermikroskop ausgebildet.
  • In der Zeichnung ist der Erfindungsgegenstand schematisch dargestellt und wird anhand der Figuren nachfolgend beschrieben, wobei gleich wirkende Elemente mit denselben Bezugszeichen versehen sind. Dabei zeigen:
  • 1 eine bekannte Anordnung zur Non-Descan-Detektion mit einem Rastermikroskop,
  • 2 einen Teil eines erfindungsgemäßen Rastermikroskops,
  • 3 eine Variante des erfindungsgemäßen Rastermikroskops,
  • 4 eine weitere Variante des erfindungsgemäßen Rastermikroskops,
  • 5 eine weitere Variante des erfindungsgemäßen Rastermikroskops.
  • 1 zeigt eine aus dem Stand der Technik bekannte Anordnung zur Non-Descan-Detektion mit einem Rastermikroskop. Das Beleuchtungslicht 1 wird mit Hilfe einer nicht gezeigten Strahlablenkeinrichtung durch das Objektiv 3 über bzw. durch die 5 geführt, die auf einem Probenträgerglas 7 angeordnet ist. Das von der Probe ausgehende Non-Descan-Detektionslicht 9 wird von einem Kondensor 11 gesammelt und zu einem Non-Descan-Detektionslichtstrahl 13 geformt. Dieser wird mit Hilfe eines in den Strahlengang einfügbaren Klappspiegels 15 über die Strahlformungslinsen 17 und 19 dem Detektor 21 zugeführt. Zur besseren Orientierung ist die Durchlichtbeleuchtungsachse 23 eingezeichnet.
  • 2 zeigt einen Teil einen erfindungsgemäßen Rastermikroskops, bei dem das Non-Descan-Detektionslicht mit Hilfe eines Lichtleiters 23, dessen Einkoppelende weitgehend unmittelbar im Bereich der Probe angeordnet ist, zum Detektor 21 geleitet wird. Das Einkoppelende 25 des Lichtleiters 23 ist mit Hilfe von Immersionsöl 27 unmittelbar an das die Probe 5 tragende Probenträgerglas 7 optisch angekoppelt.
  • 3 zeigt eine erfindungsgemäße Variante des Rastermikroskops, bei der die Ankopplung des Lichtleiters 23 an das Probenträgerglas 7 mit einem Koppelelement 29, das als Prisma 31 ausgeführt ist, realisiert ist. Das Auskoppelende 33 des Lichtleiters 23 ist unmittelbar an den Detektor 21 optisch angekoppelt.
  • 4 zeigt eine weitere erfindungsgemäße Variante, bei der als Koppelelement 29 eine Linse 35 vorgesehen ist.
  • In der in 5 gezeigten Ausgestaltungsform ist als Koppelelement 29 eine Kombination aus einer Linse 35 und einer diffraktiven Optik 37 vorgesehen.
  • Die Erfindung wurde in Bezug auf eine besondere Ausführungsform beschrieben. Es ist jedoch selbstverständlich, dass Änderungen und Abwandlungen durchgeführt werden können, ohne dabei den Schutzbereich der nachstehenden Ansprüche zu verlassen.
  • 1
    Beleuchtungslicht
    3
    Objektiv
    5
    Probe
    7
    Probenträgerglas
    9
    Detektionslicht
    11
    Kondensor
    13
    Detektionslichtstrahl
    15
    Klappspiegels
    17
    Strahlformungslinse
    19
    Strahlformungslinse
    21
    Detektor
    23
    Durchlichtbeleuchtungsachse
    25
    Einkoppelende
    27
    Immersionsöl
    29
    Koppelelement
    31
    Prisma
    33
    Auskoppelende
    35
    Linse
    37
    diffraktive Optik

Claims (18)

  1. Rastermikroskop mit einem Detektor zur Non-Descan-Detektion des von einer Probe ausgehenden Detektionslichtes und mit einem Lichtleiter, der das Detektionslicht dem Detektor zuführt, dadurch gekennzeichnet, dass das Einkoppelende des Lichtleiters weitgehend unmittelbar im Bereich der Probe angeordnet ist.
  2. Rastermikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Probe auf einem Probenträgerglas angeordnet ist.
  3. Rastermikroskop nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Lichtleiter optisch direkt an das Probenträgerglas gekoppelt ist.
  4. Rastermikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen der Probe und dem Lichtleiter ein Koppelelement vorgesehen ist.
  5. Rastermikroskop nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Koppelelement Immersionsöl umfasst.
  6. Rastermikroskop nach einem der Ansprüche 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass das Koppelelement ein Prisma, insbesondere ein Bauernfeindprisma, umfasst.
  7. Rastermikroskop nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass das Koppelelement eine Linse umfasst.
  8. Rastermikroskop nach einem der Ansprüche 4 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass das Koppelelement eine diffraktive Optik umfasst
  9. Rastermikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass Justierelemente vorgesehen sind mit denen die räumliche Lage und/oder Ausrichtung des Einkoppelendes des Lichtleiters einstellbar ist.
  10. Rastermikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass der Lichtleiter einen Kerndurchmesser von größer 2 mm aufweist.
  11. Rastermikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass der Lichtleiter einen Kerndurchmesser von 5 mm aufweist.
  12. Rastermikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass der Lichtleiter als Flüssiglichtleiter ausgebildet ist.
  13. Rastermikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass das Einkoppelende und/oder das Auskoppelende des Lichtleiters eine Antireflexbeschichtung aufweist.
  14. Rastermikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass das Einkoppelende und/oder das Auskoppelende des Lichtleiters einen Sperrfilter aufweist.
  15. Rastermikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass ein Umschaltmechanismus vorgesehen ist mit dem wahlweise das Einkoppelende des Lichtleiters oder ein Kondensor in den Strahlengang einbringbar ist.
  16. Rastermikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor unmittelbar optisch an den Lichtleiter gekoppelt ist.
  17. Rastermikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor ein Multibanddetektor ist.
  18. Rastermikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 17, dadurch gekennzeichnet, dass das Rastermikroskop ein konfokales Rastermikroskop ist.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3255475A3 (de) * 2016-06-06 2018-03-14 Olympus Corporation Laserabtastungsmikroskop und laserabtastungsmikroskopsteuerungsverfahren

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19801139B4 (de) * 1998-01-14 2016-05-12 Till Photonics Gmbh Punktabtastendes Luminiszenz-Mikroskop
CA2318892A1 (en) * 1998-01-27 1999-07-29 Wisconsin Alumni Research Foundation Signal enhancement for fluorescence microscopy
DE10004233B4 (de) * 2000-02-01 2005-02-17 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Mikroskop-Aufbau
DE20206153U1 (de) * 2002-04-19 2002-06-27 Leica Microsystems Scanmikroskop mit Mikroskopstativ

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3255475A3 (de) * 2016-06-06 2018-03-14 Olympus Corporation Laserabtastungsmikroskop und laserabtastungsmikroskopsteuerungsverfahren
US10642012B2 (en) 2016-06-06 2020-05-05 Olympus Corporation Laser scanning microscope, and laser scanning microscope control method

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