Bei der Neuentwicklung von Oberflächenbeschichtungen
werden flächige
Proben hergestellt und hinsichtlich ihrer Güte bewertet, um die Oberflächen- und
optische Qualität
des Werkstoffs und des Auftrags zu beurteilen.
Je nach Art des Tests kann auch die
Veränderung
der Oberfläche
nach einer Behandlung mit Wasser, Lösungsmittel, Bestrahlung (UV,
Licht, Wärme),
mechanischer Beanspruchung etc. Gegenstand der Untersuchung sein.
Bewertet werden unter anderem speziell
die Struktur der Oberfläche
oder die Qualität
des Auftrags der Beschichtung. Die optische Oberflächenqualität von Lacken
wird maßgeblich
durch das Auftreten von Blasen, Stippen, Runzeln, Falten, Wellen
etc. beeinflusst. Diese die Oberflächenqualität beeinträchtigenden Merkmale können entweder
durch die Bedingungen bei der Herstellung verursacht sein oder durch äußere Einwirkung hervorgerufen
werden. Bei Tests auf Schlag- oder Abriebfestigkeit von Lacken beispielsweise
werden lackierte Flächen
mit Splitt oder Schmirgel beworfen oder mit Bürsten abgerieben. Das dabei
auftretende Schadensbild muss bewertet werden.
Die Erfindung geht befasst sich insbesondere
mit der automatisierten Charakterisierung der Blasenhaltigkeit von
Lackflächen
mit reproduzierbaren Kennzahlen.
Charakteristisch für o.g. Schadensbilder
ist, dass diese meist aus zwei unterschiedlichen, ineinander verwobenen
Strukturen bestehen. Eine der Strukturen (Primärstruktur) ist dabei klein,
diese stellt eine Einheit der eigentlichen „Störung" dar, etwa eine einzelne Falte, ein
einzelner Kratzer, eine einzelne Luftblase, eine einzelne Stippe
etc. Diese Strukturen weisen typischerweise Abmessungen von einigen
Mikrometern auf, aber auch kleinere Strukturen bis zu einer Größe von 100
nm sind möglich,
gelegentlich auch größere Strukturen bis
zu 1 mm oder mehr.
Die zweite An der Strukturen ist
größer und
ist eine Überstruktur,
charakterisiert durch die Anordnung der kleinen Strukturen auf der
Oberfläche,
also etwa die Anordnung der Falten, Kratzer, Blasen, Stippen etc. auf
dem Lack. Diese Anordnungen stellen sich typischerweise auf einer
Größenskala
ein, die von der Größe der Primärstruktur
bis zum 10- oder 100-fachen davon beträgt. Diese größeren Strukturen
können
sowohl periodisch in einem größeren Raumgebiet
vorhanden sein (in einer oder auch mehreren Raumrichtungen), wie auch
periodisch nur in jeweils einem kleinen Raumgebiet, weiter davon
entfernt jedoch nicht mehr, es kann Domänenbildung auftreten, eine
quasi-Periodizität
vorliegen oder eine völlig
ungeordnete Anordnung.
Zur Beschreibung dieser Strukturen
können
beispielsweise für
die kleineren Strukturen deren mittlere Größe G, bei runden Strukturen
deren mittlerer Durchmesser GD, sowie für die größere (Über-)Struktur
der mittlere Abstand A der kleinen Strukturen oder deren mittlerer
Abstands entlang einer Vorzugsrichtung (z.B. der horizontalen oder
der vertikalen, liefernd entsprechend Zahlen AH oder
AV) als beschreibende Kennzahl herangezogen
werden. Die Dimension dieser Kennzahlen ist eine Länge, die
Maßeinheit
also eine Längeneineit,
z.B. μm.
Die Größen G und
A sind nicht notwendigerweise dieselben Zahlen, die man bei einer
detaillierten Analyse (z.B. durch Zählen und individuellem Vermessen)
der Strukturen erhalten würde,
korrelieren jedoch mit diesen, so dass durch Multiplikation mit
Korrekturfaktoren KG bzw. KA die „echten" Größen erhalten
werden können.
Diese Korrekturfaktoren sind universell, d.h. nicht geräteabhängig, und
entweder aus theoretischen Überlegungen
zu gewinnen oder experimentell zu bestimmen.
Für
die vergleichende Beschreibung eignen sich auch Zahlen, die mit
den beschriebenen Kennzahlen auf definierte Weise korrelieren, die
also z.B. proportional sind, sich also nur durch einen konstanten
Faktor von diesen unterscheiden. Für eine Messung, bei der an
einer Serie von Proben die beschriebenen Kennzahlen vergleichend
ermittelt werden ist es dann unerheblich, ob dieser Proportionalitätsfaktor
genau bekannt ist oder nicht.
Ein bekanntes Verfahren zur Bewertung
von Oberflächenqualitäten oder
auftretenden Schadbildern ist das visuelle Abmustern entsprechend
den DIN-Vorschriften der Werkstoffprüftechnik (z.B. DIN 53209 Blasenhaltigkeit,
DIN 55996 Steinschlag). Proben (Lackproben) werden hierbei visuell
optisch mit Referenzbildern verglichen und in Kategorien eingeteilt,
bzw. per Bemusterung mit Kennzahlen versehen.
Nachteilig bei diesem Verfahren ist
die Notwendigkeit einer visuellen Prüfung durch den Menschen. Diese
beinhaltet immer eine gewisse Unschärfe, da sie auf subjektiven
Eindruck des die Prüfung
durchführenden
Fachmanns beruht. Reproduzierbar sind solche Bestimmungen nur, wenn
sie von ein- und derselben Person bei etwa gleichbleibender geistiger
Konzentration durchgeführt
werden.
Störend können sich ferner Schwankungen
in der Beleuchtung (Tageslicht/-Kunstlicht)
oder durch die Konzentration des durchführenden Fachmanns auswirken.
Die Fähigkeit Abstufungen zu erkennen
ist bei den oben genannten Verfahren nach DIN meist reduziert auf
eine Bewertungsskala mit numerischen Stufen von 0 bis 5.
Ein weiteres bekanntes Verfahren
speziell zur Auswertung von Lackschäden ist die elektronische Auswertung
von Bildern (z.B. Strikos, Janssen, Schneider, Farbe & Lack 4/99, S.
241 ff, die darin beschriebene Software der Fa. IMAGETOOL; Softwarepaket
AnalySiS der Fa. Soft Imaging Systems): Eine lackierte Platte, die
ein zu charakterisierendes Schadensbild trägt, wird abgebildet und gerastert.
Das Bild wird in seine Farbbestandteile zerlegt, und die Farbzusammensetzung
des Bildes bildpunktweise ermittelt. Für bestimmte Schadformen sind
bestimmte Farben charakteristisch, damit kann z.B. der prozentuale
Anteil an geschädigter Gesamtoberfläche ermittelt
werden.
Nachteilig bei diesem Verfahren ist,
dass für
jede Lackklasse und für
jeden Schichtaufbau bei Mehrschicht-Lacksystemen zunächst an
einer Referenzprobe das Schadensmuster im Lack eingelernt werden muss,
damit man mittels Software an weiteren Lackproben desselben Typs
automatische Bestimmungen vornehmen kann. Dieses Anlernen ist zeitaufwendig,
erfordert einige Erfahrung seitens des Anwenders. Die erzielten
weiteren Auswerteergebnisse sind von der Qualität der „Einlernphase" abhängig.
Bei der Bestimmung von Schaumstrukturen
treten vergleichbare Nachteile auf. Die konventionelle Probenpräparation
und Bildaufnahmetechnik ist aufwendig, die marktgängige Software
funktioniert in den seltensten Fällen
problemlos, da die Vereinzelung der einzelnen Zellen der Strukturen
nicht ausreichend gut gelingt. Weiterhin ist nicht definiert, ob
man bei der Präparation
die (Schaum-)Zellen immer im Bereich des größten Durchmessers schneidet.
Ein weiteres Problem ist hierbei die Interpretation der Histogramme
als Zellgrößenverteilungen.
Notwendige Probenpräparation
und Berechnungen sind in der Regel sehr zeitaufwendig.
Gegenstand der Erfindung, durch die
die Nachteile der bekannten Verfahren überwunden werden, ist ein Verfahren
zur Bestimmung der Oberflächengüte von Materialoberflächen, insbesondere
von Beschichtungen, besonders bevorzugt von Lackbeschichtungen oder
Schaumstrukturen, durch Aufnahme eines Bildes einer Teilfläche der
Oberfläche,
die Störstellen
enthalten kann und anschließende
Digitalisierung und Auswertung des Bildes, dadurch gekennzeichnet,
dass
das digitalisierte Bild in Graustufen in einer Matrix dargestellt
wird, dann mehrere beliebige Reihen und/oder Spalten und/oder Diagonalen
von Grau stufenwerten aus der Matrix ausgewählt werden, wobei die Reihen
oder Spalten oder Diagonalen vorzugsweise in äquidistantem Abstand von einander
gewählt
werden, unter Bildung von mehreren Sätzen von Graustufenwerten von
Reihen oder Spalten oder Diagonalen,
dass dann die Autokorrelationsfunktion
zu jedem Satz von Graustufenwerten berechnet wird,
dann aus
allen Autokorrelationsfunktionen eine gemittelte Autokorrelationsfunktion
bestimmt wird,
dass aus der gemittelten Autokorrelationsfunktion
die beschriebenen Kennzahlen ermittelt werden insbesondere aus der
Halbwertsbreite des Maximums der gemittelten Autokorrelationsfunktion
bei x = 0 die Kennzahl G,
und dass zusätzlich die Lage des ersten
Nebenmaximums zum Maximum bei x = 0 der gemittelten Autokorrelationsfunktion
zur Ermittlung des mittleren Abstands A der Störstellen auf der Oberfläche verwendet
wird.
Bevorzugt wird zusätzlich die
Position des zweiten Nebenmaximums der gemittelten Autokorrelationsfunktion
zur Prüfung
des Wertes des mittleren Störstellenabstandes
A verwendet. Wenn dessen Position um mehr als eine vorgegebene Fehlerschranke
von dem Wert 2*A abweicht, kann hieraus eine Qualitätsbewertung
der Messung vorgenommen werden, in dem Sinne dass die Messung bei
starken Abweichungen verworfen wird.
Vorzugsweise wird in dem Verfahren
als Bild ein digitalisiertes Analogbild, insbesondere eine Fotographie,
oder ein Digitalbild verwendet.
In der Praxis wird zur Berechnung
der Kennzahlen die Längeneinheit
1 Bildpunkt verwendet, und zunächst
rechnerische Kennzahlen HB (statt G) und PN (statt A) ermittelt,
die am Ende durch Multiplikation mit einer gerätespezifischen Konstanten E
wieder in eine reale Länge
(z.B. in um) umgerechnet werden, also G = HB*E und A = PN*E. Die
Konstante E wird für
die Messanordnung einmal ermittelt und enthält z.B. alle Information über den
Abbildungsmaßstab
optischer Systeme etc. Die Ermittlung der Konstante E geschieht
in der Regel auf experimentellem Weg im Sinne einer Eichung, d.h.
es wird eine Probe mit vorher genau bekannten Eigenschaften vermessen
und ausgewertet, und die Gerätekonstante
E so eingestellt, dass die Eigenschaften der Probe in den Messergebnissen
widergespiegelt werden. In einer solcherart bestimmten Konstante
E ist automatisch der oben beschriebene Korrekturfaktor K enthalten.
Gefordertenfalls muss gesondert ein EG und
ein EA bestimmt werden.
Für
eine Messung, bei der an einer Serie von Proben die beschriebenen
Kennzahlen vergleichend ermittelt werden ist es auch hier unerheblich,
ob der exakte Zahlenwert von E bekannt ist.
Das Bild kann auf konventionellem
Wege erzeugt werden (photographisch) und danach mit einem optischen
Abtaster (Scanner) digitalisiert oder mittels einer Digitalkamera
aufgenommen werden, oder direkt mittels eines Scanners aufgenommen
werden.
Es können auch nur ausgewählte Teile
eines Bildes (Zeilen, Spalten, Diagonalen, einzelne Punkte oder
Felder) aufgenommen werden, bzw. zur Auswertung herangezogen werden.
Das Bild kann ebenso durch eine vergrößernde Optik
aufgenommen werden (Objektiv, Makrovorsatz, Mikroskop Elektronenmikroskop
etc.) Das Bild kann farbig oder schwarzweiß sein.
Besonders bevorzugt erfolgt die Auswertung
in einem mit dem Bilderzeuger des Digitalbildes gekoppelten Prozessrechner.
Ein weiter rationalisiertes Verfahren
erhält
man dadurch, dass die Bildaufnahme von einem Probenwechsler erfolgt,
der durch den Prozessrechner gesteuert wird.
Mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens
ist es möglich,
die zwei erklärten
generalisierten Kennzahlen für
die unterschiedlichen Längenskalen
automatisch zu erzeugen. Eine allgemeine bevorzugte Vorgehensweise
lässt sich
wie folgt beschreiben:
Eine beispielsweise blasenhaltige Lackprobe
wird unter ein Mikroskop gebracht und mittels einer elektronischen
Kamera ein elektronisches digitalisiertes Bild des Blasenbildes
erzeugt und an einen Auswerterechner weitergeleitet. Dort wird das
Digitalbild in ein Graustufenbild umgewandelt, und eine vorher festzulegende
Anzahl von Schnitten durch die Graustufenverteilung gelegt, horizontal
und/oder vertikal und/oder schräg.
Vorzugsweise – aber
nicht notwendigerweise – verwendet
man eine Zahl von 10-40 Schnitten, die wiederum vorzugsweise, aber
nicht notwendigerweise äquidistant
liegen.
Von jedem dieser Schnitte wird nun
die normierte Autokorrelation berechnet; danach wird durch Mittelung
dieser Autokorrelationskurven eine gemittelte normierte Autokorrelationskurve
(aus horizontalen/vertikalen/schrägen Schnitten) berechnet.
Aus der gemittelten normierten Autokorrelationskurve
werden sodann die Halbwertsbreite HB des zentralen Maximums (d.h.
der x-Wert, bei dem die gemittelte normierte Autokorrelations-Kurve
von 1(bei x = 0) auf 0.5 (bei einem Wert x > 0) abgefallen ist) und die Position (d.h.
der x-Wert) PN1 des ersten Nebenmaximums bestimmt. HB ist hierbei
ein Maß für die mittlere
Größe der kleinen
Strukturen auf dem Bild, PN1 ein Maß für die mittlere Größe der großen Strukturen,
die durch Multiplikation mit dem Eichfaktor E wieder in Längen bzw. Größenangaben
in um umgerechnet werden.
Statt der Halbwertsbreite HW kann
auch eine andere charakteristische Breite, z.B. die Dreiviertelwertsbreite,
die 1/e-Breite bestimmt werden, d.h. die x-Werte, bei denen die
gemittelte normierte Autokorrelationsfunktion auf einen entsprechenden
Schwellwert (0,75 für
die Dreiviertelwertsbreite, 1/e~0,37 für die 1/e-Breite) abgefallen
ist.
Falls möglich werden außerdem die
x-Koordinaten und Maxima (y-Werte) der klar definierten Nebenmaxima
und -minima (falls diese auftreten) bestimmt.
Aus diesen lassen sich folgende zusätzliche
Informationen gewinnen:
Die x-Werte der Nebenmaxima (PN1, PN2,...
für das
1., 2.... Nebenmaximum) lassen sich auf die oben beschriebene Weise
zu einer Bewertung der Qualität
der Messung heranziehen.
In Weiterentwicklung der beschriebenen
Erfindung könnte
weitergehende Analyse der Zahlen die folgenden Informationen liefern:
Die
Krümmung
der Kurve im ersten Minimum beschreibt die Variation um den mittleren
Blasenabstand.
Die Durchbiegung der Flanke des zentralen
Maximums beschreibt Variationen der Blasendurchmesser um den mittleren
Durchmesser.
Die Ermittlung dieser Parameter ist
grundsätzlich
bekannt für
die Auswertung von Röntgenstrukturaufnahmen
und beschrieben in: G.R. Strobl, M. Schneider, Direct Evaluation
of the Electron Density Corelation Function of Partially Crystalline
Polymers, Journ. Polym. Sci. 18, 1343ff (1980).
Das erfindungsgemäße Verfahren ermöglicht es
also, gleichzeitig eine Kennzahl für die mittlere Größe einer
typischen Struktureinheit zu bestimmen sowie eine Kennzahl für einen
charakteristischen Abstand solcher Strukturen im untersuchten Gebiet.
Es ist hierbei kein Training einer
Software vonnöten,
d.h. es können
auch Proben untersucht werden, von denen vorher noch kein Muster
der gleichen Klasse angelegt worden ist.
Die Subjektivität der bekannten visuellen Bemusterung
entfällt
in dem erfindungsgemäßen Verfahren ganz.
Es können mit dem Verfahren zudem
ganz unterschiedliche geartete Proben untersucht werden (Lacke/Materialoberflächen/Dispersionen).
Grundsätzlich
ist die beschriebene Bestimmung von Kennzahlen zur mittleren Größe und dem
mittleren Abstand von Strukturen auf einem Bild nicht auf Lackbeschichtungen
limitiert, weitere Anwendungsgebiete sind z.B. die Charakterisierung
von:
Emulsionen, Dispersionen (bezüglich Tröpfchengrößen, Tröpfchenverteilungen, Festkörpergehalt),
Körnige Substanzen
(bezüglich
Korngrößen, Körnchenverteilungen),
Kunststoff-
und Metallteile nach Steinschlagtest,
Pigmentverteilunge in
Farben,
Gleichmäßigkeit
von textilen Geweben, Stoffen, Gewirken.
Anwendungsgebiete sind auch:
Die
Beurteilung des Schadbilds nach dem Aufschlag einer Schrotladung
auf ein Ziel, die summarische Auswertung von Bakterienkulturen und
die Identifikation von Störungen/Klumpen
in Schüttgütern.
Im Falle der Bestimmung von Schaum(struktur)parametern
von Kunststoffschäumen,
insbesondere von Polyurethanschaum, geht man allgemein wie folgt
vor:
Eine Schaumscheibe wird plan geschnitten. Hierbei sollen
Sägestrukturen
in der Schnittfläche über Wahl
von geeigneten Sägeblättern vermieden
werden. Ein repräsentativer
Bereich (z.B. ein möglichst
großer
Bereich aus der Mitte des Schaumstoffes mit homogener Zellstruktur,
ohne Randzonen und ohne Vermischungsstörungen) der Schnittfläche wird
mittels eines optischen Scanners abgetastet und ein Digitalbild
erzeugt.
Das Digitalbild wird in ein Grauwertbild
umgewandelt und Linien im Bild werden definiert. Die Lage der Linien
ist hierbei gleichgültig,
der Abstand der Linien sollte jedoch größer als die im Bild erkennbaren
Strukturen sein. Die Anzahl der Linien ist auch beliebig, beträgt vorzugsweise
10 bis 50. Die Länge
der Linien wird deutlich größer als
die im Bild erkennbare Struktur gewählt, kann sogar die Bildbreite
sein.
Für
alle definierten Linien werden entlang der Linien die Grauwerte
der Bildpunkte (Pixel) als "Grauwert
gegen Linienlänge
(in Pixel)" = GW(Pixel)
abgespeichert.
Für
jeden so gewonnenen Datensatz wird die Autokorrelationsfunktion
AKF(x) nach folgendem Zusammenhang berechnet:
Die Variable x läuft dabei – wie Pixel auch – von 1
bis zur Linienlänge.
Aus allen so gewonnenen Autokorrelationsfunktionen
wird eine Breite in Höhe
von 75 % des Maximums bestimmt und Mittelwert wird über alle
Breiten definiert.
Mit der aus der Scannereinstellung
(z.B. 1200 dpi) bekannten optischen Auflösung kann man auf einfache
Weise den Eichfaktor E ermitteln, um anschließend die gemittelte Breite
der Autokorrelationsfunktion in Pixeln durch einfache Multiplikation
in einen Wert in μm
umrechnen. (z.B. 1200 dpi = 1200 Pixel/Zoll, entsprechend E = 21,2 μm/Pixel).
Die Erfindung wird nachfolgend durch
das Beispiel, welches jedoch keine Beschränkung der Erfindung darstellt,
näher erläutert.