-
QUERVERWEIS AUF VERWANDTE ANMELDUNG
-
Diese Anmeldung beansprucht die Priorität und den Nutzen der koreanischen Patentanmeldung Nr. 10-2021-0127445, eingereicht am 27. September 2021, die hiermit durch Bezugnahme für alle Zwecke einbezogen wird, als ob sie hierin enthalten wäre.
-
HINTERGRUND
-
GEBIET
-
Die vorliegende Offenbarung bezieht sich auf einen Raddrehzahlsensor für ein Fahrzeug und insbesondere auf einen Raddrehzahlsensor für ein Fahrzeug, der eine Vielzahl von unterschiedlichen Sensoranordnungspositionen aufweisen kann, wodurch ein Verfahren zur Erfassung von Geräuschfaktoren und zur Durchführung einer Korrektur ermöglicht wird.
-
DISKUSSION DEs HINTERGRUNDS
-
Eine Hauptbremse bezieht sich im Allgemeinen ein Gerät zur Verringerung einer Geschwindigkeit eines Fahrzeugs während das Fahrzeug fährt und zum gestoppt Halten des Fahrzeugs. Als Hauptbremse für das Fahrzeug ist eine Reibungsbremse verwendet worden. Die Reibungsbremse verwendet ein mechanisches Reibungsgerät, das die kinetische Energie des fahrenden Fahrzeugs in Wärmeenergie umwandelt, und die Reibungsbremse bremst das Fahrzeug ab, während sie Reibungswärme an die Luft abgibt.
-
Unter den Bremsen für ein Fahrzeug stellt ein Gerät, das allgemein als Antiblockiersystem (ABS) bezeichnet wird, die Manövrierfähigkeit sicher, indem sie den hydraulischen Bremsdruck beim schnellen Abbremsen eines Fahrzeugs oder beim Abbremsen eines Fahrzeugs, das auf einer rutschigen Straßenoberfläche fährt, steuert, und verbessert die Bremsleistung durch Minimierung eines Bremswegs. Das ABS weist ganz allgemein auf: einen hydraulischen Modulator (Hydraulikeinheit) zum Steuern eines hydraulischen Drucks, der einem Radzylinder zugeführt wird, in Abhängigkeit von einem Signal von einer ECU zum Steuern des ABS, und eine Vorrichtung zum Erfassen eines Drehzustands des Rads.
-
In diesem Fall wird das Gerät zur Erfassung des Drehzustands des Rads im Allgemeinen als Raddrehzahlsensor (WSS) bezeichnet. Der Raddrehzahlsensor bezieht sich auf einen Sensor, der die Drehzahl jedes der Räder mit Hilfe eines Hall-IC-Chips erfasst. Der Raddrehzahlsensor ist nicht nur ein wichtiger Faktor des ABS/ESP (elektronisches Stabilitätsprogramm, ein Fahrzeughaltungssteuergerät), sondern liefert auch wichtige Informationen im Zusammenhang mit der Steuerung anderer Fahrzeugkomponenten.
-
In letzter Zeit werden zwei oder mehr Hall-IC-Chips in einem einzigen Gehäuse untergebracht, um die Messgenauigkeit zu verbessern. Die Vielzahl von Hall-IC-Chips hat jedoch die gleiche Leistung und sind am gleichen oberen Ende eines magnetischen Elements angeordnet, das ein Messziel ist. Wenn sich das Rad dreht, erfassen die jeweiligen Hall-IC-Chips daher den gleichen Messwert, und eine Steuereinheit vergleicht die jeweiligen Signale und gewährleistet Konsistenz. Wenn alle Signale durch externe Störungen verzerrt sind, besteht das Problem, dass keine genauen Signalinformationen geliefert werden können. Daher muss dieses Problem gelöst werden.
-
Die Hintergrundtechnologie der vorliegenden Offenlegung ist in der koreanischen Patentanmeldung offengelegt als Nr. 2004-0009439 (veröffentlicht am 31. Januar 2004 und mit dem Titel „Method of Detecting Speed of Vehicle Using Speed Sensor“) offenbart.
-
ZUSAMMENFASSUNG
-
Eine Aufgabe der vorliegenden Offenbarung ist es, einen Raddrehzahlsensor für ein Fahrzeug bereitzustellen, der an einer Vielzahl von verschiedenen Sensoranordnungspositionen angeordnet sein kann, wodurch ein Vorgang zur Erfassung von Geräuschfaktoren und zur Durchführung einer Korrektur erleichtert wird.
-
Verschiedene Ausführungsformen sind auf einen Raddrehzahlsensor für ein Fahrzeug gerichtet, der aufweist: eine Basiseinheit; eine Vielzahl von Trägereinheiten, die an der Basiseinheit vorgesehen sind; und Chipeinheiten, die jeweils an den Trägereinheiten angebracht und konfiguriert sind, ein Messziel zu erfassen, in welchem die jeweiligen Chipeinheiten angeordnet sind, unterschiedliche Erfassungswerte in Bezug auf das Messziel zu erfassen.
-
Die Chip-Einheiten können an verschiedenen Messpunkten angeordnet sein durch Ändern von Formen oder Positionen der Trägereinheiten.
-
Die Basiseinheit und die Trägereinheiten können im Spritzgussverfahren integriert werden.
-
Die Trägereinheiten können aufweisen: eine erste Trägereinheit, die in die Basiseinheit integriert und derart konfiguriert ist, dass eine erste Chipeinheit darauf montiert ist; und eine zweite Trägereinheit, die in die Basiseinheit integriert und derart konfiguriert ist, dass eine zweite Chipeinheit darauf montiert ist.
-
Die erste Chipeinheit und die zweite Chipeinheit können einen Positionsunterschied in einer oder mehreren einer x-Achsen-Richtung, einer y-Achsen-Richtung und einer z-Achsen-Richtung aufweisen.
-
Die Trägereinheiten können an der Basiseinheit montiert sein.
-
Die Trägereinheiten können aufweisen: eine erste Trägereinheit, die an der Basiseinheit anbringbar oder von ihr abnehmbar ist und so konfiguriert ist, dass eine erste Chipeinheit darauf montiert ist; und eine zweite Trägereinheit, die an der Basiseinheit anbringbar oder von ihr abnehmbar ist und so konfiguriert ist, dass eine zweite Chipeinheit darauf montiert ist.
-
Die erste Chipeinheit und die zweite Chipeinheit können einen Positionsunterschied in einer oder mehreren einer x-Achsen-Richtung, einer y-Achsen-Richtung und einer z-Achsen-Richtung durch einen Unterschied in Form oder Montageposition zwischen der ersten Trägereinheit und der zweiten Trägereinheit aufweisen.
-
Die Trägereinheiten können ferner eine dritte Trägereinheit aufweisen, die mit einer oder beiden der ersten Trägereinheit oder der zweiten Trägereinheit gekoppelt ist und an der Basiseinheit anbringbar oder von der Basiseinheit abnehmbar ist.
-
Die erste Trägereinheit und die zweite Trägereinheit können die gleiche Form haben, und die erste Chipeinheit und die zweite Chipeinheit können einen Positionsunterschied in einer oder mehreren einer x-Achsen-Richtung, einer y-Achsen-Richtung und einer z-Achsen-Richtung durch die dritte Trägereinheit aufweisen.
-
Gemäß dem Raddrehzahlsensor für ein Fahrzeug nach der vorliegenden Offenbarung können die Chipeinheiten, die jeweils auf den auf der Basiseinheit vorgesehenen Trägereinheiten montiert sind, das Messziel unter verschiedenen Bedingungen in Abhängigkeit von den Formen und Positionen der Trägereinheiten messen. Daher kann der Raddrehzahlsensor die externe Störung unter verschiedenen Bedingungen bestimmen, wodurch die externe Störung schnell erkannt und die Korrektur durchgeführt werden kann.
-
Figurenliste
-
- 1 ist eine schematische Darstellung eines Raddrehzahlsensors für ein Fahrzeug gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung.
- 2 ist eine Ansicht, die schematisch einen Zustand zeigt, in dem eine Basiseinheit und Trägereinheiten gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung durch Spritzgießen integriert sind.
- 3 ist eine Ansicht, die schematisch die Trägereinheiten zeigt, die es einer ersten Chipeinheit und einer zweiten Chipeinheit gemäß der ersten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, einen Positionsunterschied in einer x-Achsen-Richtung aufzuweisen.
- 4 ist eine Ansicht, die schematisch die Trägereinheiten zeigt, die es der ersten Chipeinheit und der zweiten Chipeinheit gemäß der ersten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, einen Positionsunterschied in einer y-Achsen-Richtung zu haben.
- 5 ist eine Ansicht, die schematisch die Trägereinheiten zeigt, die es der ersten Chipeinheit und der zweiten Chipeinheit gemäß der ersten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, einen Positionsunterschied in z-Achsen-Richtung zu haben.
- 6 ist eine Ansicht, die schematisch die Trägereinheiten zeigt, die es der ersten Chipeinheit und der zweiten Chipeinheit gemäß der ersten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, Magnetfeldinformationen auf entgegengesetzte Weise zu messen.
- 7 ist eine Ansicht, die schematisch einen Zustand zeigt, in dem eine Basiseinheit und Trägereinheiten gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung zusammengebaut sind.
- 8 ist eine Ansicht, die schematisch die Trägereinheiten zeigt, die es einer ersten Chipeinheit und einer zweiten Chipeinheit gemäß der zweiten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, einen Positionsunterschied in x-Achsen-Richtung aufzuweisen.
- 9 ist eine Ansicht, die schematisch die Trägereinheiten zeigt, die es der ersten Chipeinheit und der zweiten Chipeinheit gemäß der zweiten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, einen Positionsunterschied in y-Achsen-Richtung zu haben.
- 10 ist eine Ansicht, die schematisch stationäre Trägereinheiten zeigt, die es der ersten Chipeinheit und der zweiten Chipeinheit gemäß der zweiten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, einen Positionsunterschied in z-Achse- Richtung zu haben.
- 11 ist eine Ansicht, die schematisch variable Trägereinheiten zeigt, die es der ersten Chipeinheit und der zweiten Chipeinheit gemäß der zweiten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, einen Positionsunterschied in z-Achsen-Richtung zu haben.
- 12 ist eine Ansicht, die schematisch die Trägereinheiten zeigt, die es der ersten Chipeinheit und der zweiten Chipeinheit gemäß der zweiten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, Magnetfeldinformationen auf entgegengesetzte Weise zu messen.
-
DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER DARGESTELLTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
-
Nachfolgend wird ein Raddrehzahlsensor für ein Fahrzeug unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen anhand verschiedener beispielhafter Ausführungsformen beschrieben.
-
Nachfolgend werden Ausführungsformen eines Raddrehzahlsensors für ein Fahrzeug gemäß der vorliegenden Offenbarung unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben. Dabei können die Dicken der in den Zeichnungen dargestellten Linien, Größen einzelner Elemente oder ähnliches aus Gründen der Klarheit und Einfachheit der Beschreibung übertrieben dargestellt sein. Darüber hinaus werden die im unten verwendeten Begriffe in Anbetracht der Funktionen in der vorliegenden Offenbarung definiert und können je nach der Absicht eines Benutzers oder eines Bedieners oder einer üblichen Praxis variieren. Daher sollte die Definition der Begriffe auf der Grundlage des gesamten Inhalts der vorliegenden Beschreibung erfolgen.
-
1 ist eine Ansicht, die schematisch einen Raddrehzahlsensor für ein Fahrzeug gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung zeigt. Bezugnehmend auf 1 umfasst ein Raddrehzahlsensor 1 für ein Fahrzeug gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung eine Basiseinheit 10, Trägereinheiten 20 und Chipeinheiten 30.
-
Die Basiseinheit 10 kann fest an einer Fahrzeugkarosserie montiert und in der Nähe eines Messziels 100 angeordnet sein.
-
Die Vielzahl von Trägereinheiten 20 ist auf der Basiseinheit 10 angeordnet. Beispielsweise kann das Paar von Trägereinheiten 20 auf einer oberen Oberfläche der Basiseinheit 10 angeordnet sein.
-
Die Chipeinheiten 30 sind jeweils auf den Trägereinheiten 20 montiert und erfassen das Messziel 100. Die Chipeinheit 30 kann beispielsweise an der Trägereinheit 20 angebracht und durch Spritzgießen in die Trägereinheit 20 integriert sein. Die Chipeinheit 30 kann ein Magnetfeld des Messziels 100 erfassen und ein Erfassungssignal an eine Steuereinheit übertragen.
-
In diesem Fall sind die jeweiligen Chipeinheiten 30 angeordnet, unterschiedliche Erfassungswerte in Bezug auf das Messziel 100 zu erfassen. Zum Beispiel erreichen die jeweiligen Chipeinheiten 30 messbare Positionen, wenn sich das Messziel 100 dreht. Die jeweiligen Chipeinheiten 30 haben unterschiedliche Höhen, unterschiedliche Tiefen, unterschiedliche Montagerichtungen und unterschiedliche Winkel, so dass ein Verfahren zur Verarbeitung und Berechnung von Signalen in Abhängigkeit von Komponenten des Magnetfeldes dualisiert werden kann. Daher ist es möglich, die Genauigkeit in Abhängigkeit von einer Änderung des Magnetfelds und einer Einsatzregion zu verbessern. Insbesondere variieren vertikale und horizontale Zerlegungswerte der Komponenten des Magnetfelds in Abhängigkeit von den Positionen und Richtungen der Chipeinheiten 30. Daher ist es möglich, schnell festzustellen, ob eine externe Störung auftritt, eine Korrektur durchzuführen und genaue Signale zu normalen Zeiten zu übertragen.
-
Das Messverfahren der Chipeinheit 30 variiert abhängig von der Intensität des Magnetfeldes ab, die abhängig von physikalischen Eigenschaften und Abständen des Messziels 100 variiert. Wenn das Messziel 100 schwachmagnetisch ist, wird eine Differenz zwischen Signalen verwendet, die von den Chipeinheiten 30 gemessen werden, die intern an einer Vielzahl von Positionen angeordnet sind. Ist das Messziel 100 dagegen ferromagnetisch, wird ein einziges Signal an einer vorgegebenen Position gemessen. Wenn jedoch der gemessene Wert in Abhängigkeit von den Positionen der Chipeinheiten 30 variiert, kann der Rauschfaktor erkannt und die Korrektur durchgeführt werden.
-
In diesem Fall werden die Chipeinheiten 30 an verschiedenen Messpunkten angeordnet, indem die Formen oder Positionen der Trägereinheiten 20 verändert werden.
-
2 ist eine Ansicht, die schematisch einen Zustand veranschaulicht, in dem die Basiseinheit und die Trägereinheiten gemäß der ersten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung durch Spritzgießen integriert sind, und 3 ist eine Ansicht, die schematisch die Trägereinheiten veranschaulicht, die es der ersten Chipeinheit und der zweiten Chipeinheit gemäß der ersten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, einen Positionsunterschied in einer x-Achsen-Richtung zu haben. 4 ist eine Ansicht, die schematisch die Trägereinheiten zeigt, die es der ersten Chipeinheit und der zweiten Chipeinheit gemäß der ersten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, einen Positionsunterschied in einer y-Achsen-Richtung zu haben. 5 ist eine Ansicht, die schematisch die Trägereinheiten zeigt, die es der ersten Chipeinheit und der zweiten Chipeinheit gemäß der ersten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, einen Positionsunterschied in einer z-Achsen-Richtung zu haben. 6 ist eine Ansicht, die schematisch die Trägereinheiten veranschaulicht, die es der ersten Chipeinheit und der zweiten Chipeinheit gemäß der ersten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, Magnetfeldinformationen in einer entgegengesetzten Weise zu messen. Die Struktur, in die die Basiseinheit 10 und die Trägereinheiten 20 durch Spritzgießen integriert sind, wird im Folgenden unter Bezugnahme auf die 2 bis 6 beschrieben.
-
Die Basiseinheit 10 und die Trägereinheiten 20 werden durch Spritzgießen in einer Form integral hergestellt. In diesem Fall, wenn die Chipeinheiten 30 in die Form eingegeben werden, können die Chipeinheiten 30 durch die Trägereinheiten 20 während des Formungsprozesses unterstützt werden, und die Chipeinheiten 30 und die Trägereinheiten 20 können so integriert werden, dass sie von der Basiseinheit 10 abgedeckt werden.
-
Die Trägereinheiten 20 gemäß der ersten Ausführungsform umfassen eine erste Trägereinheit 51 und eine zweite Trägereinheit 52. Die erste Trägereinheit 51 ist in die Basiseinheit 10 integriert, und eine erste Chipeinheit 31 ist an der ersten Trägereinheit 51 angebracht. Die zweite Trägereinheit 52 ist in die Basiseinheit 10 integriert, und eine zweite Chipeinheit 32 ist an der zweiten Trägereinheit 52 angebracht.
-
Da die erste Trageinheit 51 und die zweite Trageinheit 52 unterschiedliche Formen oder Positionen haben, weisen die erste Chipeinheit 31 und die zweite Chipeinheit 32 einen Positionsunterschied in einer oder mehreren der x-Achsen-Richtung, der y-Achsen-Richtung und der z-Achse-Richtung auf.
-
Genauer gesagt sind die erste Trägereinheit 51 und die erste Chipeinheit 31 an einem zentralen Abschnitt der Basiseinheit 10 angeordnet, und die zweite Trägereinheit 52 und die zweite Chipeinheit 32 sind zwischen der ersten Trägereinheit 51 und dem rechten Ende der Basiseinheit 10 angeordnet (siehe 3). Mit dem Positionsunterschied in der x-Achsen-Richtung kann die Signalgröße oder das Berechnungsverfahren dualisiert werden, indem die Intensität des Magnetfelds von dem Messziel 100 erfasst wird.
-
Ferner sind die erste Trägereinheit 51 und die erste Chipeinheit 31 an einer Vorderseite der Basiseinheit 10 angeordnet, und die zweite Trägereinheit 52 und die zweite Chipeinheit 32 sind an einer Rückseite der Basiseinheit 10 angeordnet (siehe 4). Mit dem Positionsunterschied in der y-Achsen-Richtung kann die Signalgröße oder das Berechnungsverfahren dualisiert werden, indem die Intensität des Magnetfelds von dem Messziel 100 erfasst wird.
-
Darüber hinaus hat die zweite Trägereinheit 52 eine größere vertikale Länge als die erste Trägereinheit 51, und die zweite Chipeinheit 32 ist höher angeordnet als die erste Chipeinheit 31 (siehe 5). Mit dem Positionsunterschied in der z-Achsen-Richtung kann die Signalgröße oder das Berechnungsverfahren dualisiert werden, indem die Intensität des Magnetfelds von dem Messziel 100 erfasst wird.
-
Ferner hat die erste Trägereinheit 51 einen Neigungswinkel in dem Gegenuhrzeigersinn und die zweite Trägereinheit 52 einen Neigungswinkel im Uhrzeigersinn, so dass die erste Chipeinheit 31 und die zweite Chipeinheit 32 angeordnet sind, Neigungen in entgegengesetzten Richtungen aufzuweisen (siehe 6). In diesem Fall können die Komponenten in der y-Achsen-Richtung und die Komponenten in der z-Achsen-Richtung zerlegt werden. Die vertikalen und horizontalen Komponenten für die ersten und zweiten Chipeinheiten 31 und 32 können erfasst werden, und die externen Rauschfaktoren können aus dem Zerlegungssignal in der anderen Richtung erfasst werden.
-
7 ist eine Ansicht, die schematisch einen Zustand zeigt, in dem eine Basiseinheit und Trägereinheiten gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung zusammengebaut sind. 8 ist eine Ansicht, die schematisch die Trägereinheiten zeigt, die es einer ersten Chipeinheit und einer zweiten Chipeinheit gemäß der zweiten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, einen Positionsunterschied in der x-Achsen-Richtung zu haben. 9 ist eine Ansicht, die schematisch die Trägereinheiten zeigt, die es der ersten Chipeinheit und der zweiten Chipeinheit gemäß der zweiten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, einen Positionsunterschied in der y-Achsen-Richtung zu haben. 10 ist eine Ansicht, die schematisch stationäre Trägereinheiten veranschaulicht, die es der ersten Chipeinheit und der zweiten Chipeinheit gemäß der zweiten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, einen Positionsunterschied in der z-Achsen-Richtung zu haben, 11 ist eine Ansicht, die schematisch variable Trägereinheiten veranschaulicht, die es der ersten Chipeinheit und der zweiten Chipeinheit gemäß der zweiten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, einen Positionsunterschied in der z-Achsen-Richtung aufzuweisen, und 12 ist eine Ansicht, die schematisch die Trägereinheiten veranschaulicht, die es der ersten Chipeinheit und der zweiten Chipeinheit gemäß der zweiten Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ermöglichen, Magnetfeldinformationen in einer entgegengesetzten Weise zu messen. Eine Struktur, in der die Basiseinheit 10 und die Trägereinheiten 20 zusammengebaut sind, wird im Folgenden unter Bezugnahme auf die 7 bis 12 beschrieben.
-
Die Basiseinheit 10 hat Basislochabschnitte 11 zur Montage, und die Trägereinheiten 20 können durch die in der Basiseinheit 10 ausgebildeten Basislochabschnitte 11 an der Basiseinheit 10 befestigt oder von ihr gelöst werden. Die Trägereinheit 20 kann mit einem Haken an der Basiseinheit 10 befestigt werden, und die Chipeinheit 30 kann an der Trägereinheit 20 angebracht werden.
-
Die Trägereinheiten 20 gemäß der zweiten Ausführungsform umfassen eine erste Trägereinheit 61 und eine zweite Trägereinheit 62. An einer unteren Oberfläche der ersten Trägereinheit 61 ist ein Haken vorgesehen, um an der Basiseinheit 10 befestigt oder von ihr gelöst zu werden, und die erste Chipeinheit 31 ist an einem oberen Abschnitt der ersten Trägereinheit 61 angebracht. An einer unteren Oberfläche der zweiten Trägereinheit 62 ist ein Haken vorgesehen, um an der Basiseinheit 10 befestigt oder von ihr gelöst zu werden, und die zweite Chipeinheit 32 ist an einem oberen Abschnitt der zweiten Trägereinheit 62 befestigt.
-
Da die erste Trägereinheit 61 und die zweite Trägereinheit 62 zusammengesetzt sind, unterschiedliche Formen oder Positionen zu haben, weisen die erste Chipeinheit 31 und die zweite Chipeinheit 32 einen Positionsunterschied in einer oder mehreren der x-Achsen-Richtung, der y-Achsen-Richtung und der z-Achsen-Richtung auf.
-
Darüber hinaus können die erste Trägereinheit 61 und die zweite Trägereinheit 62 die gleiche Form haben, und eine dritte Trägereinheit 63, die mit einer oder beiden der ersten Trägereinheit 61 und der zweiten Trägereinheit 62 verbunden ist, kann an der Basiseinheit 10 befestigt oder von ihr abgenommen werden.
-
Genauer gesagt ist die erste Trägereinheit 61, auf der die erste Chipeinheit 31 montiert ist, an einem zentralen Abschnitt der Basiseinheit 10 montiert, und die zweite Trägereinheit 62, auf der die zweite Chipeinheit 32 montiert ist, ist zwischen der ersten Trägereinheit 61 und dem rechten Ende der Basiseinheit 10 montiert (siehe 8). Mit dem Positionsunterschied in der x-Achsen-Richtung kann die Signalgröße oder das Berechnungsverfahren dualisiert werden, indem die Intensität des Magnetfeldes von dem Messziel 100 erfasst wird. In dieser Anordnungsstruktur können die erste Trägereinheit 61 und die zweite Trägereinheit 62 die gleiche Form haben. Da die erste Trägereinheit 61 und die zweite Trägereinheit 62 selektiv an der Vielzahl von in der Basiseinheit 10 ausgebildeten Basislochabschnitten 11 montiert werden, kann außerdem ein Positionsunterschied zwischen der ersten Chipeinheit 31 und der zweiten Chipeinheit 32 auftreten.
-
Ferner ist die erste Trägereinheit 61, auf der die erste Chipeinheit 31 montiert ist, an einer Vorderseite der Basiseinheit 10 montiert, und die zweite Trägereinheit 62, auf der die zweite Chipeinheit 32 montiert ist, ist an einer Rückseite der Basiseinheit 10 montiert (siehe 9). Mit dem Positionsunterschied in y-Achsen-Richtung kann die Signalgröße oder das Berechnungsverfahren dualisiert werden, indem die Intensität des Magnetfelds von dem Messziel 100 erfasst wird. In dieser Anordnungsstruktur können die erste Trägereinheit 61 und die zweite Trägereinheit 62 die gleiche Form haben. Da die erste Trägereinheit 61 und die zweite Trägereinheit 62 wahlweise an der Vielzahl von in der Basiseinheit 10 ausgebildeten Basislochabschnitten 11 montiert sind, kann ferner ein Positionsunterschied zwischen der ersten Chipeinheit 31 und der zweiten Chipeinheit 32 auftreten.
-
Da die zweite Trägereinheit 62 so geformt ist, dass sie eine größere vertikale Länge hat als die erste Trägereinheit 61, die eine feste Form hat, ist die zweite Chipeinheit 32 außerdem höher angeordnet als die erste Chipeinheit 31 (siehe 10). Durch den Positionsunterschied in der z-Achsen-Richtung kann die Signalgröße oder das Berechnungsverfahren dualisiert werden, indem die Intensität des Magnetfelds von dem Messziel 100 erfasst wird. In dieser Anordnungsstruktur kann, wenn die erste Trägereinheit 61 und die zweite Trägereinheit 62 die gleiche Form haben, die dritte Trägereinheit 63 zusätzlich an der zweiten Trägereinheit 62 angebracht sein, um die Höhe einzustellen (siehe 11). Die dritte Trägereinheit 63 kann mittels eines Hakens in die zweite Trägereinheit 62 eingreifen und mittels eines Hakens an die Basiseinheit 10 eingreifen. Die Vielzahl von dritten Trägereinheiten 63 kann hergestellt sein, verschiedene Höhen oder die gleiche Form zu haben und gestapelt zu sein.
-
Ferner werden die erste Trägereinheit 61 mit einem Neigungswinkel im Gegenuhrzeigersinn und die zweite Trägereinheit 62 mit einem Neigungswinkel im Uhrzeigersinn an der Basiseinheit 10 derart montiert, dass die erste Chipeinheit 31 und die zweite Chipeinheit 32 angeordnet sind, Neigungen in entgegengesetzten Richtungen aufzuweisen (siehe 12). In diesem Fall können die Komponenten in der y-Achsen-Richtung und die Komponenten in der z-Achsen-Richtung zerlegt werden. Die vertikalen und horizontalen Komponenten für die erste und zweite Chipeinheit 31 und 32 können erfasst werden, und die externen Rauschfaktoren können aus dem Zerlegungssignal in der anderen Richtung erfasst werden. In dieser Anordnungsstruktur kann, wenn die erste Trägereinheit 61 und die zweite Trägereinheit 62 die gleiche Form haben, die dritte Trägereinheit 63 zusätzlich an einer oder beiden der ersten Trägereinheit 61 und der zweiten Trägereinheit 62 angebracht werden, um die Neigung einzustellen. Die dritten Trägereinheiten 63 können unterschiedliche Neigungswinkel haben und in die erste Trägereinheit 61 und die zweite Trägereinheit 62 durch Haken eingreifen und in die Basiseinheit 10 durch Haken eingreifen.
-
Gemäß dem Raddrehzahlsensor 1 für ein Fahrzeug nach der Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung können die Chipeinheiten 30, die jeweils an den auf der Basiseinheit 10 vorgesehenen Trägereinheiten 20 angebracht sind, das Messziel 100 unter verschiedenen Bedingungen messen, die von den Formen und Positionen der Trägereinheiten 20 abhängen. Daher kann der Raddrehzahlsensor 1 die externe Störung unter verschiedenen Bedingungen ermitteln, wodurch die externe Störung schnell erkannt und die Korrektur durchgeführt werden kann.
-
Obwohl die vorliegende Offenbarung unter Bezugnahme auf die in den Zeichnungen dargestellte beispielhafte Ausführungsform beschrieben wurde, wird die beispielhafte Ausführungsform nur zur Veranschaulichung beschrieben, und der Fachmann wird verstehen, dass verschiedene Modifikationen der beispielhaften Ausführungsform und jede andere beispielhafte Ausführungsform, die dazu gleichwertig ist, verfügbar sind. Dementsprechend sollte der wahre technische Schutzumfang der vorliegenden Offenbarung durch die beigefügten Ansprüche bestimmt werden.
-
Obwohl beispielhafte Ausführungsformen der Offenbarung zu Veranschaulichungszwecken offenbart wurden, wird der Fachmann erkennen, dass verschiedene Änderungen, Ergänzungen und Ersetzungen möglich sind, ohne vom Umfang und Geist der Offenbarung, wie sie in den beigefügten Ansprüchen definiert sind, abzuweichen. Der tatsächliche technische Umfang der Offenbarung sollte daher durch die folgenden Ansprüche definiert werden.
