DE102019129449A1 - Phasenbestimmung - Google Patents

Phasenbestimmung Download PDF

Info

Publication number
DE102019129449A1
DE102019129449A1 DE102019129449.5A DE102019129449A DE102019129449A1 DE 102019129449 A1 DE102019129449 A1 DE 102019129449A1 DE 102019129449 A DE102019129449 A DE 102019129449A DE 102019129449 A1 DE102019129449 A1 DE 102019129449A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
impedance
frequencies
diff
cell
phase
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE102019129449.5A
Other languages
English (en)
Inventor
Jan Philipp Schmidt
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Bayerische Motoren Werke AG
Original Assignee
Bayerische Motoren Werke AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bayerische Motoren Werke AG filed Critical Bayerische Motoren Werke AG
Priority to DE102019129449.5A priority Critical patent/DE102019129449A1/de
Priority to PCT/EP2020/079947 priority patent/WO2021083813A1/de
Priority to KR1020227012043A priority patent/KR20220059961A/ko
Priority to CN202080073136.9A priority patent/CN114585937A/zh
Priority to US17/770,771 priority patent/US12000903B2/en
Priority to JP2022523052A priority patent/JP2022554084A/ja
Publication of DE102019129449A1 publication Critical patent/DE102019129449A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/389Measuring internal impedance, internal conductance or related variables
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
    • G01R19/2506Arrangements for conditioning or analysing measured signals, e.g. for indicating peak values ; Details concerning sampling, digitizing or waveform capturing
    • G01R19/2509Details concerning sampling, digitizing or waveform capturing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R25/00Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/14Measuring resistance by measuring current or voltage obtained from a reference source
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/28Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/367Software therefor, e.g. for battery testing using modelling or look-up tables
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/396Acquisition or processing of data for testing or for monitoring individual cells or groups of cells within a battery
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
    • G01R35/005Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/10Energy storage using batteries
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02TCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO TRANSPORTATION
    • Y02T10/00Road transport of goods or passengers
    • Y02T10/60Other road transportation technologies with climate change mitigation effect
    • Y02T10/70Energy storage systems for electromobility, e.g. batteries

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Tests Of Electric Status Of Batteries (AREA)
  • Secondary Cells (AREA)

Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Korrektur von Synchronisationsfehlern Δt bei der Messung der Impedanz eines elektrischen oder elektrochemischen Bauelements, insbesondere einer Lithiumionenzelle. Allgemein können bei der Impedanzmessung Synchronisationsfehler zwischen Anregungs- und Antwortsignal auftreten, die die Phase des erhaltenen Impedanzwerts verfälschen können. Erfindungsgemäß kann der Synchronisationsfehler durch Messung der Impedanz bei zwei verschiedenen Frequenzen f1und f2und Lösen eines Optimierungsproblems in Bezug auf die Abweichung der Phasen gegenüber einem Ersatzschaltbild, das zumindest einen Widerstand R und eine Induktivität L aufweist, bestimmt werden. Dadurch kann die Phase des erhaltenen Impedanzwerts korrigiert werden.

Description

  • Technisches Gebiet
  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Phasenbestimmung bei der Impedanz-Berechnung, speziell bei der Messung der Impedanz einer Lithiumionenzelle.
  • Technischer Hintergrund
  • Die elektrochemische Impedanzspektroskopie (EIS) ist ein etabliertes Verfahren zur Charakterisierung von elektrochemischen Systemen wie insbesondere auch galvanischen Zellen, das allgemein die Messung der Impedanz, also des komplexen Wechselstromwiderstands, in Abhängigkeit von der Frequenz des Anregungssignals beinhaltet.
  • Im Stand der Technik ist bekannt, Impedanzmessungen oder Impedanzspektroskopie zur Diagnose des Zustandes von Lithiumionenzellen einzusetzen und insbesondere auch die Temperatur einer Lithiumionenzelle mithilfe der Impedanz zu bestimmen.
  • DE 10 2013 103 921 betrifft die Zelltemperaturmessung und Degradationsmessung in Lithiumbatteriesystemen von elektrisch betriebenen Fahrzeugen durch Bestimmung der Zellimpedanz basierend auf einem von einem Wechselrichter vorgegebenen Wechselspannungssignal. Dem Verfahren liegt die Beobachtung zugrunde, dass der Verlauf der Auftragung von Impedanz gegen Signalfrequenz temperaturabhängig ist.
  • EP 2 667 166 A2 betrifft ein Verfahren zur Bestimmung der Temperatur mittels Messung des Imaginärteils der Impedanz bei mehreren Frequenzen und Ermittlung der Frequenz, bei der der Imaginärteil einen Nulldurchgang aufweist. Dem Verfahren liegt die Beobachtung zugrunde, dass die Frequenz des Nulldurchgangs bei gegebenen Ladungs- und Alterungszustand der Zelle im Wesentlichen von der Temperatur abhängt.
  • US 2013/0264999 betrifft ein Batterieladesystem, das einen Temperatursensor umfasst, der mit den einzelnen zu ladenden Zellen in einem Zeitmultiplexverfahren alternierend verbunden wird, um die Impedanz der Zelle zu messen und die Temperatur aus der Phase der Impedanz zu ermitteln. Die zeitliche Temperaturänderungsrate dient dabei als Indikator, ob die Zelle vollständig geladen wurde.
  • All diese Verfahren haben gemeinsam, dass zur Bestimmung der Temperatur nicht nur der Betrag der Impedanz sondern die Impedanz als komplexe Größe (d.h., Betrag und Phase bzw. Realteil und Imaginärteil) bestimmt werden muss.
  • Die Anregung erfolgt in der Regel galvanostatisch (d.h., als Stromsignal mit festgelegter Amplitude), es wird das dadurch hervorgerufene Spannungssignal gemessen und aus den Amplituden und Phasen der beiden Signale die Impedanz berechnet. Zur Anregung kommen dabei grundsätzlich zwei Verfahren in Betracht.
  • Zum einen kann jede Zelle einzeln mithilfe des Balancing-Stroms angeregt werden. Hierbei prägt die Zellüberwachungseinheit (Cell Supervision Circuit, CSC), die auch den Ladungsausgleich (Balancing) zwischen den Zellen vornimmt, das Anregungssignal auf den Balancing-Strom auf und misst gleichzeitig den Hochfrequenzanteil der abfallenden Spannung, um daraus die Impedanz zu berechnen. Dies hat den Vorteil, dass eine sehr genaue Phaseninformation erhalten wird, da die Erzeugung des Anregungssignals, die Aufnahme des Messsignals und die Impedanzberechnung vom gleichen Steuergerät durchgeführt werden. Nachteile sind der hohe Stromverbrauch und die hohen Anforderungen an die Genauigkeit der Spannungsmessung.
  • Alternativ kann die Anregung extern aufgeprägt werden, beispielsweise über den Wechselrichter oder den DC-DC-Wandler. Dies ermöglicht einen höheren Anregungssignalpegel, wodurch sich das Signal/Rauschverhältnis (S/N-Verhältnis) verbessert und sich die Anforderungen an die Spannungsmessgenauigkeit verringern. Zudem reduzieren sich der Stromverbrauch und der apparative Aufwand, da die einzelnen Zellüberwachungseinheiten nicht mehr mit eigenen Anregungsschaltkreisen versehen sein müssen, und die Impedanzberechnung aus dem gemessenen Spannungssignal auch extern in einem separaten Steuergerät erfolgen kann.
  • Insbesondere bei Verfahren mit externer Anregung, in denen die Signale von unterschiedlichen Steuergeräten verarbeitet werden, besteht die Gefahr, dass Synchronisationsfehler zwischen Anregungs- und Antwortsignal auftreten, wodurch sich die Präzision der Temperaturbestimmung verschlechtert. So führt eine Asynchronität von 10µs bereits zu einem Phasenfehler von 3,6°. Soll aus der Phase der Impedanz z.B. die Temperatur einer Zelle bestimmt werden, so führt z.B. für eine 60Ah Zelle bei 300Hz eine Phasengenauigkeit 3,6° zu einer Temperaturungenauigkeit von 7,2K.
  • Aufgabenstellung
  • In Anbetracht der obigen Problematik besteht Bedarf für ein Verfahren zur Phasenkalibrierung von Anregungs- und Antwortsignal, so dass auch für den Fall, dass die Signale mit einem Synchronisationsfehler Δt behaftet sind, eine Bestimmung der Impedanz mit hoher Phasengenauigkeit durgeführt werden kann, um eine genaue Temperaturbestimmung zu ermöglichen.
  • Zur Lösung dieser Aufgabe stellt die vorliegende Erfindung ein Phasenkalibrierungsverfahren bereit, sowie ein Impedanz-Messverfahren, das dieses Kalibrierungsverfahren einsetzt.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren kann vorteilhafterweise in Verbindung mit externer Anregung eingesetzt werden. Durch das erfindungsgemäße Verfahren kann der Energiebedarf bei der Impedanzmessung verringert werden und die Impedanzmessqualität verbessert werden. Gleichzeit erlaubt das Verfahren eine dezentrale Architektur, in welcher Generierung des Anregungssignals und Spannungsmessung mit Impedanzberechnung voneinander getrennt vorliegen können, ohne dass hohe Anforderungen an die Synchronizität beider Systeme gestellt werden.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Korrektur von Synchronisationsfehlern Δt bei der Messung der Impedanz eines elektrischen oder elektrochemischen Bauelements, insbesondere einer Lithiumionenzelle, umfassend:
    • - Wahl eines Impedanzmodells für das Bauelement, das zumindest einen Widerstand R und eine Induktivität L aufweist;
    • - Anlegen eines oder mehrerer Anregungssignale I(t) oder U(t) mit mindestens zwei Frequenzen f1 bzw. f2;
    • - Messen eines Antwortsignals U(t+Δt) bzw. I(t+Δt), das gegenüber dem Anregungssignal mit einem Synchronisationsfehler Δt behaftet sein kann;
    • - Bestimmung der Impedanz Z1 und Z2 bei f1 bzw. f2 aus dem Anregungssignal und dem Antwortsignal;
    • - Bestimmung von Δt als denjenigen Wert, für denn die Abweichung zwischen der Differenz Zdiff = Z2 - Z1 der gemessenen Werte und dem entsprechenden Wert von Zdiff, der für das Ersatzschaltbild berechnet wird, im Hinblick auf zumindest eine Impedanz-Komponente einen vorbestimmten Schwellenwert unterschreitet;
    • - Korrektur der Impedanzwerte unter Verwendung des ermittelten Synchronisationsfehlers Δt.
  • Im erfindungsgemäßen Verfahren können mehrere Anregungssignale mit unterschiedlicher Frequenz alternierend angelegt werden, oder es kann ein Anregungssignal eingesetzt werden, das eine Überlagerung mehrerer Frequenzen enthält.
  • Die mindestens zwei Frequenzen f1 bzw. f2, die für die Ermittlung des Synchronisationsfehlers Δt herangezogen werden, sind vorzugsweise 1 kHz oder größer, so dass die kapazitativen Beiträge zur Impedanz vernachlässigbar sind und das Impedanzmodell lediglich Widerstände und Induktivitäten umfasst.
  • Der durch das erfindungsgemäße Verfahren bestimmte Synchronisationsfehler Δt kann vorzugsweise auch für die Korrektur von Impedanzmessungen bei einer oder mehreren Frequenzen f0 eingesetzt werden, die niedriger sind als f1 bzw. f2.
  • Figurenliste
    • 1 zeigt den allgemeinen Ablauf des erfindungsgemäßen Verfahrens für den Fall, dass die Impedanz bei drei Frequenzen f0, f1 und f2 gemessen wird, und die Messwerte bei f1 und f2 unter Annahme eines LR-Modells für die Bestimmung von Δt herangezogen werden.
    • 2 zeigt den Ablaufplan einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens, worin Δt durch einen iterativen Regelalgorithmus bestimmt wird.
    • 3 zeigt das Konvergenzverhalten des in 2 skizzierten Algorithmus. Links oben sind Real- und Imaginärteil der Impedanz bei fünf verschiedenen Frequenzen in einem Nyquist-Plot für zunehmende Konvergenz von Δt (im Gegenuhrzeigersinn) aufgetragen. Rechts oben ist der Verlauf der Phasendifferenz gegen die Iterationszahl aufgetragen. In den unteren beiden Plots ist die differentielle Änderung von Δt (links) sowie der akkumulierte Wert von Δt (rechts) gegen die Iterationszahl aufgetragen.
    • 4 zeigt ein Batteriesystem, das für die Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens vorgesehen ist.
  • Detaillierte Beschreibung
  • Grundlagen
  • Zur Einführung der Terminologie werden nachfolgend die Grundlagen der Impedanzmessung kurz zusammengefasst. Die Ausführungen betreffen den in der Praxis üblicherweise relevanten galvanostatischen Fall, bei dem ein Wechselstromsignal I(t) mit bekannter Amplitude I0 und bekannter Frequenz f zugeführt wird, und die abfallende Spannung U(t) gemessen wird. Sie gelten jedoch auch in entsprechender Weise für den umgekehrten Fall, d.h. Zuführung eines vorbestimmten Spannungssignals und Messung des Stromes, der ebenfalls möglich ist.
  • Die Signale I(t) und U(t) können in der komplexen Zahlenebene dargestellt werden als I ( t ) = I 0 e i ϖ
    Figure DE102019129449A1_0001
    U ( t ) = U 0 e i ( ϖ t + ϕ )
    Figure DE102019129449A1_0002
  • Nachfolgend können sowohl die Frequenz f als auch die Kreisfrequenz ω = 2πf zusammenfassend als „Frequenz“ bezeichnet, sofern aus dem Kontext bzw. dem verwendeten Symbol ω/f ersichtlich ist, welche Frequenz gemeint ist.
  • Die Signale I(t) und U(t) sind im Allgemeinen gegeneinander phasenverschoben durch den Phasenwinkel Φ, der als Nullpunktswinkel von Spannung und Strom definiert ist. Die Impedanz Z berechnet sich als U(t)/I(t) und ist für den Fall, dass ϕ ungleich null ist, komplex: Z = U ( t ) / I ( t ) = ( U 0 / I 0 ) *e i ϕ = Z 0 * ( cos ϕ+ i *sin ϕ ) = R + iX
    Figure DE102019129449A1_0003
  • Der Realteil Re(Z) = R entspricht dem Ohm' schen Widerstand und wird auch als Wirkwiderstand bezeichnet. Der Imaginärteil Im(Z) = X kommt durch die Phasenverschiebung zustande und wird auch als Blindwiderstand bezeichnet wird.
  • Der Betrag der Impedanz |Z| ist das Verhältnis der effektiven Strom- und Spannungsamplituden und wird auch als Scheinwiderstand bezeichnet. Er beinhaltet sowohl den Wirkwiderstand als auch den Blindwiderstand und ist typischerweise frequenzabhängig. Leistung wird jedoch nur aufgrund des Wirkwiderstands dissipiert.
  • Für einen idealen ohmschen Widerstand ist die Phasenverschiebung null und die Impedanz entspricht dem Wirkwiderstand R. Für einen idealen Kondensator (kapazitiver Widerstand) ist die Phasenverschiebung -90°, und die Impedanz ist rein imaginär und sinkt mit steigender Frequenz (Z = - i *(1/(ωC); C: Kapazität). Für ein ideales induktives Bauelement (induktiver Widerstand) ist die Phasenverschiebung +90°. Die Impedanz ist ebenfalls rein imaginär und beträgt Z = +icoL (L: Induktivität), d.h. der Blindwiderstand steigt mit steigender Frequenz.
  • Erfindungsgemäß wird die Impedanzmessung insbesondere zur Detektion des Zustands (Temperatur, Ladungszustand, usw.) einer Lithiumionenzelle eingesetzt. Die meisten Vorgänge in der Zelle, die auf Landungstransport beruhen, einschließlich der Ionenleitung im Elektrolyten und der Kinetik der Interkalation und Deinterkalation an den Elektroden, lassen sich dabei durch Ohm' sche Widerstände beschreiben. Kapazitive Widerstände kommen beispielsweise an den elektrischen Doppelschichten an den Elektroden vor. Somit lässt sich die Zelle annäherungsweise mit einem Ersatzschaltbild modellieren, das mindestens ein RC-Glied zur Darstellung der Elektrodenvorgänge und einen dazu in Reihe geschalteten Serienwiderstand R0 zur Darstellung des Elektrolytwiderstands aufweist („R0-RC-Modell“).
  • Induktivitäten sind für die elektrochemischen Vorgänge selbst weniger relevant und kommen im Wesentlichen durch die Magnetfelder in den beteiligten elektrischen Leitern (Stromkollektoren, Zuleitungen, Verkabelung) zustande. Insgesamt kann die Induktivität der Anordnung bei höheren Frequenzen absolut gesehen einen erheblichen Anteil zur Phasenverschiebung liefern. Da die Anordnung jedoch fix ist und nicht durch die elektrochemischen Vorgänge in der Zelle beeinflusst wird, kann dieser Anteil als (frequenzabhängige) Gerätekonstante behandelt und damit aus Berechnungen für den zu diagnostizierenden Zell-Zustand eliminiert werden. Bei hohen Frequenzen dominiert jedoch der Beitrag von L die Impedanz. Deshalb ist insbesondere bei hohen Frequenzen das Ersatzschaltbild zur Darstellung der Impedanz weiterhin mit einer Serieninduktivität L zu ergänzen („L-R0-RC-Modell“).
  • Synchronisationsverfahren
  • Die Signale I(t) und U(t) können allgemein mit einem Synchronisationsfehler behaftet sein, d.h., die Aufzeichnung der Signale I(t) und U(t) erfolgt nicht synchron, sondern die Zeit-Nullpunkte sind um eine unbestimmte Zeitdifferenz Δt, beispielsweise einige µs, gegeneinander verschoben. Somit werden für die Impedanz-Berechnung in Wirklichkeit nicht I(t) und U(t), sondern I(t) und U(t+Δt) herangezogen. Der so gemessene Phasenwinkel ϕmess ist daher gegenüber der korrekten Phasenverschiebung ϕ um einen Phasenfehler Δϕ verfälscht: ϕ mess = ϕ+Δϕ
    Figure DE102019129449A1_0004
    Δ ϕ=ϖ∗ Δ t = 2 π f Δ t
    Figure DE102019129449A1_0005
  • Der tatsächlich gemessene (d.h., aus den mit einem Synchronisationsfehler behafteten Signalen I(t) und U(t) berechnete) Impedanzwert beträgt demnach: Z mess = ( U 0 / I 0 ) * e i ϕ mess = ( U 0 / I 0 ) * e i ( ϕ+ Δ ϕ ) . = Z 0 * ( cos ( ϕ + Δ ϕ ) + i*sin ( ϕ+ Δ ϕ ) )
    Figure DE102019129449A1_0006
  • Das erfindungsgemäße Verfahren nutzt, vereinfacht gesehen, im Wesentlichen die Induktivität der Anordnung und die Frequenzabhängigkeit des resultierenden induktiven Widerstands aus, um die Signale U(t) und I(t) zu synchronisieren. Hierbei werden die Frequenzen vorzugsweise ausreichend groß gewählt, dass die kapazitiven Beiträge vernachlässigbar werden und die Impedanz durch die induktiven und Ohm'schen Beiträge bestimmt wird.
  • Dementsprechend wird das erfindungsgemäße Verfahren zunächst für den Fall eines reinen L-R-Modells illustriert, das eine Näherung für das Verhalten der Zelle bei hohen Frequenzen darstellt.
  • Wie oben ausgeführt, lässt sich die Zelle näherungsweise allgemein als L-Ro-RC-Modell darstellen. Die Impedanz des RC-Gliedes ZRC (ω) ist frequenzabhängig und beträgt: Z RC ( ϖ )   =  R/ ( 1 + i ϖ+ RC )
    Figure DE102019129449A1_0007
    =  R/ ( 1 + ( ϖ RC ) 2 ) ϖ R 2 C/ ( 1 + ( ϖ RC ) 2 )
    Figure DE102019129449A1_0008
  • Somit verschwindet ZRC (ω) bei hohen Frequenzen, und es bleibt der Serienwiderstand R0 und die Induktivität L, so dass das Verhalten der Zelle einem LR-Modell entspricht. Z R L ( ϖ )   =  R 0 + i ϖ L
    Figure DE102019129449A1_0009
  • Erfindungsgemäß wird die Impedanz bei mindestens zwei Frequenzen f1 und f2 (bzw. ω1 und ω2) gemessen und die Differenz Zdiff = Z2 - Z1 gebildet. Anschließend wird Δt als denjenigen Wert bestimmt, für den die Abweichung zwischen der Differenz Zdiff = Z2 - Z1 der gemessenen Werte und dem entsprechenden Wert von Zdiff, der für das Ersatzschaltbild berechnet wird, im Hinblick auf zumindest eine Impedanz-Komponente einen vorbestimmten Schwellenwert unterschreitet.
  • Da R0 frequenzunabhängig ist, verschwindet bei der Differenzbildung im reinen L-R-Modell der Realteil, und es verbleibt eine rein imaginäre Komponente. Z diff = Z 2 Z 1 = iL ( ϖ 2 ϖ 1 )
    Figure DE102019129449A1_0010
  • In der Darstellung von Z entspricht der Realteil den Cosinus-Termen, d.h., die der Synchronisationsfehler lässt sich als derjenige Punkt bestimmen, an dem die Differenz der Cosinus-Terme verschwindet: RE ( Z diff ) = Z 0, diff ( cos ( ϕ 2 + Δ ϕ 2 ) cos ( ϕ 1 + Δ ϕ 1 ) ) = 0
    Figure DE102019129449A1_0011
  • Somit kann in diesem Fall die Asynchronität Δt als derjenige Wert berechnet werden, an dem die Differenz der Realteile verschwindet, was analytisch oder numerisch erfolgen kann. Dies hat den Vorteil, dass die Modellparameter R und L nicht bekannt sein müssen, da die obigen Betrachtungen im reinen L-R-Modell für jede Wahl von L und R gelten.
  • Durch Drehen der Phasen von Z1 und Z2 um Δϕ1 = 2πf1*Δt bzw. Δϕ2 = 2πf2*Δt können dann die korrigierten Impedanzwerte berechnet werden.
  • Bei dieser Betrachtung wurde ein reines L-R-Modell zugrunde gelegt, was für den Fall gerechtfertigt sein kann, dass beide Frequenzen f1 und f2 groß genug sind, dass die kapazitativen Beiträge vernachlässigbar werden, beispielsweise etwa 1 kHz oder mehr.
  • Zur Diagnose des Zellzustands, insbesondere der Elektrodenvorgänge, kann es erforderlich sein, eine Impedanzmessung bei einer oder mehreren niedrigeren Frequenz f0 durchzuführen, die beispielsweise im Bereich von 10 bis 300 Hz liegt bzw. liegen, vorzugsweise etwa 30 bis 200 Hz, in dem kapazitativen Beiträge nicht vernachlässigbar sind. In diesem Fall kann das erfindungsgemäße Verfahren dennoch bei Frequenzen f1 und f2 von oberhalb 1kHz durchgeführt werden, für die das L-R-Modell angesetzt werden kann, und der so erhaltene Wert für Δt wird anschließend für die Korrektur der Impedanz bei f0 eingesetzt. 1 zeigt schematisch ein solches Verfahren, in dem drei Frequenzen f0, f1 und f2 eingesetzt werden, wobei aber nur f1 und f2 für die Bestimmung von Δt herangezogen werden.
  • Weiterhin können gegebenenfalls auch komplexere Impedanz-Modelle erforderlich sein, beispielsweise durch Erweiterung mit einem zusätzlichen Widerstand (R-LR-Modell). Schließlich kann auch eine explizite Berücksichtigung der kapazitiven Beiträge erforderlich werden, etwa wenn im Hinblick auf den apparativen Aufwand eine Obergrenze bezüglich der zu Verfügung stehenden Frequenzen besteht.
  • In diesen Fällen sind komplexere Impedanz-Modelle vorzusehen, die weitere Elemente wie Ohm' sche Widerstände R, Kapazitanzen C oder LR-Glieder, oder ggf. auch Warburg-Elemente enthalten können. Zur Ermittlung von Δt durch Minimierung der der Abweichung gegenüber dem Ersatzschaltbild müssen die Werte der Modellparameter (R, L, etc.) typischerweise bekannt sein. Dazu können die Modellparameter beispielsweise in einer gesonderten Messung in hoher Präzision ermittelt und gespeichert werden, und die Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens erfolgt unter Verwendung der so vorbestimmten Modellparameter.
  • Alternativ können auch einige oder sämtliche Modellparameter auch im Rahmen des erfindungsgemäßen Verfahrens gleichzeitig mit Δt bestimmt werden. Hierbei handelt es sich um ein numerisches Optimierungsproblem, wobei das System als Freiheitsgrade den Synchronisationsfehler Δt sowie die zu bestimmenden Modellparameter aufweist. Dementsprechend sollte in diesem Fall die Anzahl der Frequenzpunkte f1, f2, etc. bzw. der gemessenen Impedanzwerte Z1, Z2 vorzugsweise genauso groß oder größer wie die Anzahl der Freiheitsgrade sein, damit das System bestimmt oder überbestimmt ist. Die Lösung des Optimierungsproblems erfolgt auf Basis des Gleichungssystems, das sich für die Impedanz bei den unterschiedlichen Frequenzen ergibt, und erfolgt nach an sich bekannten Verfahren.
  • In einer möglichen Ausführungsform erfolgt dabei die Optimierung mit einem iterativen Regelungsalgorithmus auf Basis der Differenz Zdiff zwischen den gemessenen Impedanzen Z1 und Z2, worin die Phase von Zdiff, gewichtet mit einem Proportionalfaktor a, die Schrittweite der Iteration angibt, wie in 2 gezeigt. Dabei wird in jeder Iteration die Differenz Zdiff = Z2 - Z1 berechnet, aus der Phase von Zdiff wird ein differenzielles Atkorr berechnet und akkumuliert, und mit dem akkumulierten Wert wird wiederum die Phase von Z2 und Z1 korrigiert.
  • Die einzelnen Schritte sind wie folgt:
    1. 1. Initialisierung mit Δt = 0; in jedem Durchlauf wird ein differentielles Atkorr berechnet und hinzuaddiert, um am Ende einen Schätzwert für Δt zu erhalten.
    2. 2. Berechnung von Δϕ1 bzw. Δφ2 aus dem gegenwärtigen Wert von Δt als Δϕ1,2 = 2πf1,2*Δt
    3. 3. Drehen der rohen (d.h. mit dem Synchronisationsfehler Δt behafteten) Messwerte Zmess(f1) und Zmess (f2) um Δϕ1 bzw. Δφ2, um phasenkorrigierte Messwerte Zmess,korr(f1) bzw. Zmess,korr(f2) zu erhalten
    4. 4. Bildung der Differenz Zdiff= Zmess,korr(f2) - Zmess,korr(f2)
    5. 5. Bestimmung der Phase Δϕdiff von Zdiff;
    6. 6. Bestimmung eines Korrekturterms Atkorr = Δϕdiff/2πf1
    7. 7. Inkrementieren des Werts für Δt um Atkorr, gewichtet mit einem Faktor a;
    8. 8. Wiederholen der Schritte 2 bis 7 mit dem inkrementieren Wert für Δt, bis Δϕdiff einen bestimmten Schwellenwert unterschreiten;
    9. 9. Erhalt der korrigierten Impedanz-Werte aus dem berechneten Δt.
  • Der Gewichtungsfaktor a regelt die Schrittweite der Iteration, und kann geeignet gewählt werden, etwa im Intervall von 0.1 bis 1.0, um einerseits eine schnelle Konvergenz zu ermöglichen und andererseits eine Oszillation des akkumulierten Werts von Δt um den tatsächlichen Wert zu verhindern. Es ist auch möglich, a in jeder Iteration an den jeweiligen differentiellen Wert Atkorr anzupassen.
  • Die Frequenzen f1 und f2 sind vorzugsweise ausreichend groß, dass die kapazitiven Terme vernachlässigbar werden und ein LR-Modell angesetzt werden kann, beispielsweise 1 kHz oder mehr. Das aus f1 und f2 berechnete Δt kann jedoch zur Korrektur der Synchronisation für niedrigere Frequenzen f0 eingesetzt werden, für die das reine LR-Verhalten nicht mehr gilt.
  • 3 zeigt das Konvergenzverhalten des Algorithmus. Links oben sind Real- und Imaginärteil der Impedanz bei fünf verschiedenen Frequenzen in einem Nyquist-Plot für zunehmende Konvergenz von Δt (im Gegenuhrzeigersinn) aufgetragen. Rechts oben ist der Verlauf der Phasendifferenz gegen die Iterationszahl aufgetragen. In den unteren beiden Plots ist die differentielle Änderung von Δt (links) sowie der akkumulierte Wert von Δt (rechts) gegen die Iterationszahl aufgetragen.
  • Implementierung
  • Das erfindungsgemäße Verfahren kann insbesondere zur Verbesserung der Genauigkeit der Impedanzmessung im Rahmen der Überwachung und Zustandsdiagnose von Zellen, insbesondere Lithiumionenzellen, in einem Batteriesystem eingesetzt werden.
  • Insbesondere kann es sich dabei um ein Batteriesystem für ein elektrisch oder hybrid-elektrisch betriebenes Fahrzeug handeln. Ein solches Batteriesystem umfasst eine Mehrzahl von Lithiumionenzellen, die durch ein Batteriemanagement-System (BMS) kontrolliert werden.
  • Typischerweise sind die Zellen gruppenweise seriell und/oder parallel zu Batteriepacks verschaltet und jeweils mit einer Zellüberwachungseinheit (CSC) verbunden, die zumindest die Zellspannung überwacht und auch den Ladungsausgleich (Balancing) steuert. Hierbei kann jede einzelne Zelle mit einer Zellüberwachungseinheit versehen sein, oder es kann eine Mehrzahl von Zellen mit einer Zellüberwachungseinheit verbunden sein. Diese kann mehrere Eingangskanäle zur Spannungsmessung aufweisen, um die mit ihren verbundenen Zellen gleichzeitig überwachen zu können, oder die Überwachung kann über ein Multiplexverfahren erfolgen. Die Gesamtheit der Zellen und Zellüberwachungseinheiten wird wiederum von einer Batteriemanagementeinheit (BCU, Battery Control Unit) überwacht.
  • Vorzugsweise wird das Anregungssignal für die Impedanzmessung als Wechselstromsignal aufgeprägt, was zellenweise, z.B. über den Balancing-Strom, oder global von außen, z.B. über den Wechselrichter erfolgen kann. Die Aufzeichnung des Antwortsignals kann durch die Spannungsüberwachungsfunktion der CSCs erfolgen. Wie oben dargelegt, besteht das Risiko von Synchronisationsfehlern insbesondere bei globaler externer Anregung, so dass sich das erfindungsgemäße Verfahren vorzugsweise für diesen Anwendungsfall eignet.
  • 4 zeigt schematisch ein Beispiel für ein Batteriesystem für ein elektrisch betriebenes Fahrzeug, in dem das erfindungsgemäße Verfahren eingesetzt werden kann. Darin ist eine Mehrzahl von Zellen jeweils zu Modulen verschaltet, und jedes Modul ist mit einem CSC versehen, der die Spannung der Zellen im Modul überwacht. Die Module sind in wiederum in Reihe geschaltet. Das Anregungssignal wird durch den Wechselrichter (Inverter) global auf den Strom aufgeprägt, und die Aufzeichnung des Antwortsignals erfolgt durch die CSCs.
  • Die Berechnung der Impedanz und die Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens kann ebenfalls durch die CSCs erfolgen, zumal Δt für jede Zelle oder für jedes Modul unterschiedlich sein kann. Alternativ kann das aufgezeichnete Antwortsignal an die BCU übermittelt werden, die dann die Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens und die Berechnung der Impedanz übernimmt. Um eine Überlastung der Kommunikationskanäle zu vermeiden, ist eine Berechnung der Impedanz in den CSCs bevorzugt.
  • Die Frequenzen f1 und f2, sowie in Abhängigkeit der Komplexität des Modells und der gewünschten Präzision gegebenenfalls weiteren Frequenzen f3, f4, ..., die zur Bestimmung von Δt herangezogen werden, sind vorzugsweise ausreichend groß, dass die kapazitativen Beiträge vernachlässigbar werden. Beispielsweise können Frequenzen von 1 kHz bis 20 kHz eingesetzt werden. Die Frequenzen haben vorbestimmte Abstände zueinander, die beispielsweise 100 Hz bis 5kHz, vorzugsweise 500 Hz bis 2kHz oder 1 kHz bis 2 kHz betragen können. Neben der Bestimmung von Δt können die Impedanzwerte bei den Frequenzen f1, f2, etc. auch zur Bestimmung des Elektrolytwiderstands herangezogen werden.
  • Für die Charakterisierung der Elektrodenvorgänge, deren Beitrag zur Impedanz durch RC-Glieder beschrieben werden kann, sind hingegen eine oder mehrere niedrigere Frequenzen f0 bevorzugt, bei denen die kapazitativen Beiträge nicht mehr vernachlässigbar sind, und die beispielsweise im Bereich der inversen Zeitkonstanten der beteiligten RC-Glieder liegen. Diese Frequenzen f0 können beispielsweis 10 bis 300 Hz, vorzugsweise 20 bis 200 Hz betragen. Im Hinblick auf die Einfachheit des Impedanzmodells ist es bevorzugt, die Frequenzen f0 nicht für die Bestimmung von Δt durch das erfindungsgemäße Verfahren heranzuziehen. Umgekehrt kann hingegen der berechnete Wert von Δt zur Korrektur der Impedanz bei f0 eingesetzt werden.
  • Es kann ein Anregungssignal eingesetzt werden, das nur eine einzelne Frequenz gleichzeitig aufweist, die variiert wird. Vorzugsweise wird jedoch eine Überlagerung mehrerer oder aller erforderlicher Frequenzen f1 und f2 sowie ggf. f0 bzw. f3, f4, etc. eingesetzt.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • DE 102013103921 [0004]
    • EP 2667166 A2 [0005]
    • US 2013/0264999 [0006]

Claims (9)

  1. Verfahren zur Bestimmung der Impedanz eines elektrischen oder elektrochemischen Bauelements, insbesondere einer Lithiumionenzelle, mit Korrektur von Synchronisationsfehlern Δt, umfassend: - Wahl eines Impedanzmodells für das Bauelement, das zumindest einen Widerstand R und eine Induktivität L aufweist; - Anlegen eines oder mehrerer Anregungssignale I(t) oder U(t) mit mindestens zwei Frequenzen f1 bzw. f2; - Messen eines Antwortsignals U(t+Δt) bzw. I(t+Δt), das gegenüber dem Anregungssignal mit einem Synchronisationsfehler Δt behaftet sein kann; - Bestimmung der Impedanz Z1 und Z2 bei f1 bzw. f2 aus dem Anregungssignal und dem Antwortsignal; - Bestimmung von Δt als denjenigen Wert, für denn die Abweichung zwischen der Differenz Zdiff = Z2 - Z1 der gemessenen Werte und dem entsprechenden Wert von Zdiff, der für das Ersatzschaltbild berechnet wird, im Hinblick auf zumindest eine Impedanz-Komponente einen vorbestimmten Schwellenwert unterschreitet; - Korrektur der Impedanzwerte unter Verwendung des ermittelten Synchronisationsfehlers Δt.
  2. Verfahren gemäß Anspruch 1, worin die Bestimmung von Δt iterativ erfolgt, wobei in jeder Iteration die Differenz Zdiff = Z2 - Z1 berechnet, aus der Phase von Zdiff ein differenzielles Atkorr berechnet und akkumuliert wird, und aus dem akkumulierten Wert die Phase von Z2 und Z1 korrigiert wird.
  3. Verfahren gemäß Anspruch 1 oder 2, worin f1 und f2 1 kHz bis 20 kHz betragen.
  4. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 3, worin das Verfahren weiterhin die Bestimmung der Impedanz bei ein oder mehreren weiteren Frequenzen fo, die niedriger sind als f1 und f2, umfasst.
  5. Verfahren gemäß Anspruch 4, worin f0 10 bis 300 Hz beträgt.
  6. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 5, worin das Anregungssignal eine Überlagerung der Frequenzen f1, f2 sowie ggf. f0 und weiterer Frequenzen umfasst.
  7. Batteriesystem, das für die Durchführung des Verfahrens gemäß einem der Ansprüche 1 bis 6 eingerichtet ist, umfassend: - eine Mehrzahl von Lithiumionenzellen, wobei die einzelnen Zellen oder Blöcke aus mehreren parallel geschalteten Zellen in Reihe geschaltet sind; - einen oder mehrere Signalgeneratoren zum Anlegen des Anregungssignals; - eine oder mehrere Zellüberwachungseinheiten (CSC) zum Überwachen der Zellspannung der Lithiumionenzellen, die für das Aufzeichnen des Antwortsignals eingerichtet sind; sowie - eine oder mehrere Recheneinheiten, die für die Durchführung des Verfahrens gemäß einem oder mehrerer der Ansprüche 1 bis 6 eingerichtet sind.
  8. Batteriesystem gemäß Anspruch 7, das einen einzelnen Signalgenerator umfasst, der das Anregungssignal global auf den Gesamtstrom aufprägt.
  9. Batteriesystem gemäß Anspruch 7 oder 8, worin die Recheneinheit(en) in die Zellüberwachungseinheit(en) integriert sind.
DE102019129449.5A 2019-10-31 2019-10-31 Phasenbestimmung Pending DE102019129449A1 (de)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102019129449.5A DE102019129449A1 (de) 2019-10-31 2019-10-31 Phasenbestimmung
PCT/EP2020/079947 WO2021083813A1 (de) 2019-10-31 2020-10-23 Impedanzbestimmung mit phasenbestimmung
KR1020227012043A KR20220059961A (ko) 2019-10-31 2020-10-23 위상 결정에 의한 임피던스 결정
CN202080073136.9A CN114585937A (zh) 2019-10-31 2020-10-23 具有相位确定的阻抗确定
US17/770,771 US12000903B2 (en) 2019-10-31 2020-10-23 Impedance determination with phase determination
JP2022523052A JP2022554084A (ja) 2019-10-31 2020-10-23 位相の特定によるインピーダンスの特定

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102019129449.5A DE102019129449A1 (de) 2019-10-31 2019-10-31 Phasenbestimmung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102019129449A1 true DE102019129449A1 (de) 2021-05-06

Family

ID=73020211

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102019129449.5A Pending DE102019129449A1 (de) 2019-10-31 2019-10-31 Phasenbestimmung

Country Status (6)

Country Link
US (1) US12000903B2 (de)
JP (1) JP2022554084A (de)
KR (1) KR20220059961A (de)
CN (1) CN114585937A (de)
DE (1) DE102019129449A1 (de)
WO (1) WO2021083813A1 (de)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115856437B (zh) * 2022-12-30 2023-09-08 深圳优能新能源科技有限公司 高压储能电池绝缘阻抗检测的方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20170045588A1 (en) * 2014-02-19 2017-02-16 Nissan Motor Co., Ltd. Impedance measuring device and control method for impedance measuring device
DE102018100692A1 (de) * 2018-01-12 2019-07-18 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Überwachen einer Batterie, Überwachungssystem und Überwachungsschaltung

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8762109B2 (en) * 2010-05-03 2014-06-24 Battelle Energy Alliance, Llc Crosstalk compensation in analysis of energy storage devices
US10379168B2 (en) * 2007-07-05 2019-08-13 Battelle Energy Alliance, Llc Apparatuses and methods for testing electrochemical cells by measuring frequency response
US9331507B2 (en) 2010-10-18 2016-05-03 The Johns Hopkins University Control apparatus and method for conducting fast battery charge
US8994340B2 (en) 2012-05-15 2015-03-31 GM Global Technology Operations LLC Cell temperature and degradation measurement in lithium ion battery systems using cell voltage and pack current measurement and the relation of cell impedance to temperature based on signal given by the power inverter
US9035619B2 (en) 2012-05-24 2015-05-19 Datang Nxp Semiconductors Co., Ltd. Battery cell temperature detection
US9440552B2 (en) * 2014-06-09 2016-09-13 Ford Global Technologies, Llc Estimation and compensation of battery measurement
CN106461728A (zh) * 2014-12-29 2017-02-22 中国科学院深圳先进技术研究院 一种电池等效电路模型
CN106940403B (zh) 2017-03-21 2019-05-14 同济大学 一种车载电池阻抗快速测量方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20170045588A1 (en) * 2014-02-19 2017-02-16 Nissan Motor Co., Ltd. Impedance measuring device and control method for impedance measuring device
DE102018100692A1 (de) * 2018-01-12 2019-07-18 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Überwachen einer Batterie, Überwachungssystem und Überwachungsschaltung

Also Published As

Publication number Publication date
US12000903B2 (en) 2024-06-04
KR20220059961A (ko) 2022-05-10
CN114585937A (zh) 2022-06-03
WO2021083813A1 (de) 2021-05-06
US20220365142A1 (en) 2022-11-17
JP2022554084A (ja) 2022-12-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102017218715A1 (de) Bestimmung von SOC und Temperatur einer Lithiumionenzelle mittels Impedanzspektroskopie
DE102013103921B4 (de) Temperaturmesssystem für Zellen in einem Batteriepack sowie ein Verfahren zum Bestimmen der Temperatur von Zellen in einem Batteriepack
DE102015117171B4 (de) Batteriezustandsabschätzvorrichtung
EP2859367B1 (de) Batteriesystem und zugehöriges verfahren zur ermittlung des innenwiderstandes von batteriezellen oder batteriemodulen des batteriesystems
DE112016006166T5 (de) Zustandsschätz-Vorrichtung und Zustandsschätz-Verfahren
DE112012004706T5 (de) Batteriepack-Testvorrichtung
DE102015105207A1 (de) Ladezustands-schätzvorrichtung und verfahren, um diese herzustellen und zu verwenden
DE102015108294A1 (de) Verfahren und System zur Batterieladezustandsschätzung
DE102021100497A1 (de) Verfahren zum Messen einer komplexen Impedanz von Batteriezellen, Schaltkreis und Batterieverwaltungssystem
EP3847467A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur diagnose von batteriezellen
WO2020225356A1 (de) Charakterisierung von lithium-plating bei wiederaufladbaren batterien
EP3599472B1 (de) Verfahren und vorrichtung zum erfassen von isolationsparametern
WO2021105071A1 (de) Verfahren zur abschätzung des zustands eines energiespeichers
WO2021083813A1 (de) Impedanzbestimmung mit phasenbestimmung
DE102018126807B4 (de) Einrichtung und Verfahren für eine Batterieimpedanzmessung
DE102017201485A1 (de) Verfahren und Anordnung zum Bestimmen des Ladekapazitäts- und des Gesundheitszustands eines elektrischen Energiespeichers
WO2021069232A1 (de) Verfahren zur parameterschätzung in einem impedanz-modell einer lithiumionenzelle
WO2015014764A2 (de) Elektrochemisches speichermodul und verfahren zur untersuchung einer elektrochemischen speicherzelle in einem modul
DE112014002802B4 (de) Batteriepacksystem, Halbleiterschaltung und Diagnoseverfahren
EP3391067B1 (de) Verfahren zur bestimmung der alterung eines elektrochemischen speichers
DE102023113705A1 (de) Impedanzmessungen in Batterieverwaltungsschaltungen
DE69823691T2 (de) Elektrochemisches verschlechterungsprüfverfahren und vorrichtung
DE102020105349A1 (de) Verfahren und Batteriemanagementsystem zur Überwachung eines Batteriesystems durch Impedanzbestimmung
DE102013215247B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen von Strangströmen in einer Ansteuerungsschaltung
DE102014221392A1 (de) Vorrichtung, Messanordnung und Verfahren zur Überprüfung des Funktionszustandes einer elektrisch isolierenden Schutzhülle von einer Batterie

Legal Events

Date Code Title Description
R163 Identified publications notified