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Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Überprüfen einer elektromagnetischen Emission einer Komponente, insbesondere für ein Fahrzeug.
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Die
DE 10 2010 046 903 A1 offenbart ein Messsystem zur Messung der elektromagnetischen Abstrahlung eines Messobjekts, mit einer Verarbeitungseinrichtung, zumindest einem Messempfänger, zumindest einer Antenne und einer Positioniereinrichtung. Die Verarbeitungseinrichtung steuert die Positioniereinrichtung derart, dass die Antenne und das Messobjekt nacheinander mehrere unterschiedliche Ausrichtungen zueinander einnehmen. Dabei misst der Messempfänger für jede Ausrichtung ein Frequenzspektrum. Des Weiteren zeichnet der Messempfänger zu jeder Frequenz des Frequenzspektrums den Zeitpunkt der Messung auf. Der Messempfänger zeichnet sich über sämtliche Ausrichtungen bei jeder Frequenz der Frequenzspektren lediglich mehrere höchste Messwerte und zugehörige Zeitpunkte auf.
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Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein Verfahren und eine Messvorrichtung zu schaffen, sodass eine elektromagnetische Emission einer Komponente auf besonders einfache Weise überprüft werden kann.
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Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 sowie durch eine Messvorrichtung mit den Merkmalen des Patentanspruchs 10 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand der abhängigen Ansprüche.
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Ein erster Aspekt der Erfindung betrifft ein Verfahren zum Überprüfen einer elektromagnetischen Emission, das heißt einer elektromagnetischen Abstrahlung einer Komponente, insbesondere für ein Fahrzeug wie beispielsweise ein Kraftfahrzeug. Das Verfahren kann insbesondere für jedwede Anwendung und somit beispielsweise für mobile oder aber stationäre Anwendungen verwendet werden.
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Bei einem ersten Schritt des Verfahrens wird mittels einer Messeinrichtung eine elektromagnetische Strahlung gemessen, welche die elektromagnetische Emission der Komponente umfasst. Dies bedeutet, dass die von der Komponente während des Messens bereitgestellte beziehungsweise abgegebene, abgestrahlte oder ausgestrahlte elektromagnetische Emission zumindest einen Teil der elektromagnetischen Strahlung bildet, die mittels der Messeinrichtung gemessen und somit empfangen beziehungsweise erfasst wird. Wieder mit anderen Worten ausgedrückt ist die elektromagnetische Emission der Komponente zumindest ein Teil der elektromagnetischen Strahlung, sodass die elektromagnetische Strahlung zumindest teilweise, insbesondere zumindest überwiegend oder vollständig beziehungsweise ausschließlich, durch die elektromagnetische Emission der Komponente gebildet wird. Vorzugsweise ist die elektromagnetische Strahlung, welche mittels der Messeinrichtung gemessen wird, teilweise durch die elektromagnetische Emission der Komponente und teilweise durch wenigstens eine weitere elektromagnetische Emission wenigstens einer weiteren, zusätzlich zu der Komponente vorgesehenen Einrichtung gebildet. Somit wird beispielsweise mittels der Messeinrichtung nicht nur die zu überprüfende elektromagnetische Emission der Komponente, sondern auch andere, weitere elektromagnetische Strahlungen beziehungsweise wenigstens eine weitere elektromagnetische Emission gemessen, welche nicht von der Komponente sondern von einer zusätzlich zu der Komponente vorgesehenen Einrichtung bereitgestellt wird. Somit ist es beispielsweise bei dem ersten Schritt vorgesehen, dass die elektromagnetische Strahlung nicht etwa in einem speziell für eine elektromagnetische Messung präparierten beispielsweise speziell abgeschirmten Raum oder Bereich gemessen wird, sondern bei dem ersten Schritt wird beispielsweise die elektromagnetische Strahlung in einem Bereich oder Raum gemessen, in welchem die Komponente und wenigstens eine zusätzlich zu der Komponente vorgesehene oder mehrere, zusätzlich zu der Komponente vorgesehene Störquelle, oder mehrere, zusätzlich zu der Komponente vorgesehene Störquellen angeordnet sind. Die jeweilige Störquelle ist dabei beispielsweise, insbesondere für die Messeinrichtung beziehungsweise im Hinblick auf das Überprüfen unbekannt und kann willkürlich beziehungsweise zufällig auftreten.
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Bei dem ersten Schritt des Verfahrens stellt die Messeinrichtung wenigstens ein, insbesondere elektrisches beziehungsweise elektronisches, Signal bereit, welches die mittels der Messeinrichtung gemessene elektromagnetische Strahlung charakterisiert, das heißt definiert beziehungsweise beschreibt.
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Bei einem zweiten Schritt des Verfahrens wird das Signal mittels einer elektronischen Recheneinrichtung analysiert. Die elektronische Recheneinrichtung kann Bestandteil der Messeinrichtung oder mit der Messeinrichtung in einem gemeinsamen Gehäuse einer Messvorrichtung angeordnet sein oder aber die elektronische Recheneinrichtung und die Messeinrichtung sind separat voneinander ausgebildete und voneinander beabstandete beziehungsweise räumlich voneinander getrennte Bauelemente. Insbesondere ist es denkbar, dass die Messeinrichtung und die elektronische Recheneinrichtung Module oder Bestandteile der zuvor genannten Messvorrichtung sind. Beispielsweise empfängt die elektronische Recheneinrichtung das Signal. Zum Analysieren des Signals führt die elektronische Recheneinrichtung wenigstens einen durch maschinelles Lernen trainierten Algorithmus aus, sodass das Signal mittels der elektronischen Recheneinrichtung und mittels des durch maschinelles Lernen trainierten Algorithmus analysiert wird, indem der Algorithmus von der beziehungsweise durch die elektronische Recheneinrichtung ausgeführt wird. Wieder mit anderen Worten ausgedrückt wird das Signal durch maschinelles Lernen und somit insbesondere durch die elektronische Recheneinrichtung und den Algorithmus gebildete künstliche Intelligenz (KI) analysiert beziehungsweise untersucht.
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Bei einem dritten Schritt des Verfahrens wird die elektromagnetische Emission der Komponente in Abhängigkeit von dem Analysieren und dabei vorzugsweise mittels des durch maschinelles Lernen trainierten Algorithmus überprüft. Mit anderen Worten kann vorzugsweise vorgesehen sein, dass die elektronische Recheneinrichtung den durch maschinelles Lernen trainierten Algorithmus ausführt, um dadurch das Signal zu analysieren und zu überprüfen. Mittels des durch maschinelles Lernen trainierten Algorithmus ist es möglich, das Signal zu analysieren und in Folge dessen die elektromagnetische Emission der Komponente anhand der gemessenen elektromagnetischen Strahlung zu überprüfen, obwohl beziehungsweise insbesondere auch dann, wenn die elektromagnetische Strahlung nicht einzig und allein aus der elektromagnetischen Emission besteht, sondern die elektromagnetische Emission der Komponente und zusätzlich dazu beispielsweise wenigstens eine weitere, von einer zusätzlich zu der Komponente vorgesehenen Einrichtung bereitgestellte elektromagnetische Emission als Störemission, Störstrahlung oder Störquelle umfasst. Wieder mit anderen Worten ausgedrückt kann der Algorithmus durch das maschinelle Lernen dahingehend ertüchtigt werden, das Signal und somit die gemessene elektromagnetische Strahlung zu analysieren und zu überprüfen und beispielsweise mit Referenzmessungen, mittels welchen der Algorithmus trainiert wurde, zu vergleichen, um schließlich beispielsweise zu ermitteln, ob das Signal und somit die elektromagnetische Emission der Komponente wenigstens ein vorgebbares oder vorgegebenes Kriterium erfüllt oder nicht. Dies ist durch das maschinelle Lernen und durch das entsprechende Trainieren des Algorithmus möglich, obwohl die gemessene elektromagnetische Strahlung gegebenenfalls nicht nur die zu überprüfende elektromagnetische Emission der Komponente, sondern beispielsweise wenigstens eine weitere elektromagnetische Emission als Störemission oder Störstrahlung umfasst.
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Da der Algorithmus durch maschinelles Lernen und dabei beispielsweise anhand von Referenzmessungen trainiert wurde, in deren Rahmen jeweilige, bekannte elektromagnetische Emissionen beziehungsweise Strahlungen erfasst wurden, muss die im Rahmen des Verfahrens erfasste elektromagnetische Strahlung beziehungsweise deren Messung nicht notwendigerweise einer der Strahlungen, die bei den Referenzmessungen gemessen wurde beziehungsweise einer der Referenzmessungen entsprechen, sondern der Algorithmus kann durch das maschinelle Lernen insbesondere dann, wenn die gemessene Strahlung beziehungsweise deren Messung keiner Strahlung, die bei den Referenzmessungen gemessen wurde, beziehungsweise keiner Referenzmessung entspricht, ob die von der elektromagnetischen, gemessenen Strahlung umfasste elektromagnetische Emission der Komponente das Kriterium erfüllt oder nicht. Hierdurch kann die elektromagnetische Emission der Komponente beziehungsweise die Komponente selbst besonders vorteilhaft überprüft werden, insbesondere im Hinblick auf ein elektromagnetisches Verträglichkeitsverhalten und somit auf eine elektromagnetische Verträglichkeitskonformität. Das elektromagnetische Verträglichkeitsverhalten der Komponente wird auch als EMV-Verhalten bezeichnet und kann mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens besonders einfach ermittelt werden.
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Der Erfindung liegen dabei insbesondere die folgenden Erkenntnisse zugrunde: Das EMV-Verhalten von Komponenten, insbesondere für Fahrzeuge, kann strengen Vorgaben unterliegen und Auswirkungen auf einen späteren Nutzen durch einen Verbraucher haben. Daher sollten die Komponenten so entwickelt werden, dass ihre EMV-Verhalten und somit ihre elektromagnetischen Emissionen vorgegebene oder vorgebbare Grenzwerte einhalten. Da es bei der Herstellung der Komponenten zu Toleranzen kommen kann, sollten die Grenzwerte zumindest teilweise deutlich unterschritten werden. Die Ermittlung eines Serien-EMV-Verhaltens ist häufig sehr schwierig. Mit anderen Worten ist es möglich, das EMV-Verhalten in einer Laborumgebung zu ermitteln, wobei die jeweilige Komponente in einem Serieneinsatz beziehungsweise bei Gebrauch durch einen Nutzer ein gänzlich anderes EMV-Verhalten an den Tag legen kann als unter Laborbedingungen.
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Herkömmlicherweise wird zur Überprüfung eines EMV-Verhaltens einer Komponente diese Komponente in einer dezidierten EMV-Umgebung wie beispielsweise einer EMV-Halle oder einem EMV-Raum angeordnet, woraufhin in der EMV-Umgebung die elektromagnetische Emission der Komponente gemessen wird. Dies ist mit hohem Aufwand und hohen Kosten verbunden. Eine Ermittlung von Fähigkeitszahlen wie beispielsweise einer Prozessfähigkeit ist zudem aufgrund des Aufwands nicht üblich. Regelmäßige Nachmessungen zur Überprüfung, insbesondere zur Beurteilung, einer hinreichenden Produktionskonformität sind üblicherweise notwendig.
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Daher ist es bislang sehr aufwendig, ein gewünschtes EMV-Verhalten und somit das Unterschreiten der Grenzwerte sicherzustellen, insbesondere während einer laufenden Produktion, in deren Rahmen die jeweilige Komponente hergestellt wird. Hierzu werden üblicherweise entsprechende Sicherheitsabstände hinsichtlich der Emissionen vorgehalten. Verglichen mit der Auslegung von mechanischen Toleranzen wird ein EMV-System somit üblicherweise stark überausgelegt oder überdimensioniert, um die Grenzwerte sicher zu unterschreiten. Eine Produktionsüberwachung ist nur punktuell möglich.
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Das erfindungsgemäße Verfahren ermöglicht es nun, jede einzelne Komponente, insbesondere während ihrer Produktion, auf dessen Konformität hin zu überwachen. Ferner können Methoden der modernen Produktionsüberwachung wie beispielsweise die PPQ5-Methode kostengünstig eingesetzt werden. Der Aufwand für eine Serienmessung kann soweit gesenkt werden, dass eine hundertprozentige Beurteilung beziehungsweise Überprüfung, das heißt eine Beurteilung oder Überprüfung aller Komponenten möglich ist. Eine Überdimensionierung oder Überauslegung der Komponente kann vermieden werden, da toleranzbedingte Schwankungen geringgehalten oder frühzeitig erkannt werden können. Dadurch kann die Komponente zeit- und kostengünstig hergestellt werden. Insbesondere kann das erfindungsgemäße Verfahren für eine zumindest im Wesentlichen kontinuierliche Produktionsüberwachung verwendet werden. Das Messen der elektromagnetischen Strahlung kann als eine EMV-Messung, insbesondere als eine EMV-Beurteilungsmessung durchgeführt werden, um die elektromagnetische Emission der Komponente zu überprüfen und dabei zu bewerten.
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Dadurch, dass das Signal und somit die elektromagnetische Strahlung mittels des durch maschinelles Lernen trainierten Algorithmus überprüft wird, muss die Komponente nicht in einer dezidierten EMV-Umgebung vermessen werden, sondern die Komponente kann beispielsweise während beziehungsweise im Laufe ihrer Herstellung vermessen werden.
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Das im Rahmen des erfindungsgemäßen Verfahrens durchgeführte Messen der elektromagnetischen Strahlung muss nicht notwendigerweise eine EMV-Messung im klassischen Sinne darstellen, sondern lediglich eine Überprüfung und vorzugsweise auch eine Beurteilung der Komponente, insbesondere ihres EMV-Verhaltens ermöglichen. Hierzu werden das Signal und somit die gemessene elektromagnetische Strahlung mittels der zuvor genannten künstlichen Intelligenz und dabei durch maschinelles Lernen, insbesondere automatisch, überprüft und beispielsweise beurteilt, sodass die elektromagnetische Emission der Komponente, insbesondere mittels des durch maschinelles Lernen trainierten Algorithmus und somit durch die zuvor beschriebene künstliche Intelligenz, überprüft und insbesondere bewertet werden kann. Auf diese Weise kann beispielsweise die Konformität jedes einzelnen Produkts beziehungsweise jeder einzelnen Komponente, das beziehungsweise die hergestellt wird, überprüft und überwacht werden.
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Als besonders vorteilhaft hat es sich gezeigt, dass die elektromagnetische Strahlung in einem Raum, in welchem die Komponente während des Messens angeordnet ist, gemessen wird.
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Dabei hat es sich als besonders vorteilhaft gezeigt, wenn die Komponente in dem Raum hergestellt beziehungsweise montiert wird. Dadurch können die elektromagnetische Emission der Komponente und somit die Komponente selbst besonders vorteilhaft überprüft werden, insbesondere im Hinblick auf ein EMV-Verhalten beziehungsweise auf eine EMV-Konformität der Komponente.
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Alternativ oder zusätzlich kann vorgesehen sein, dass in dem Raum während des Messens der elektromagnetischen Strahlung die Komponente und wenigstens eine zusätzlich zu der Komponente und zusätzlich zu der Messeinrichtung und zusätzlich zu der elektronischen Recheneinrichtung vorgesehene, weitere Komponente angeordnet ist, wobei die weitere Komponente eine weitere elektromagnetische Emission aufweist beziehungsweise bereitstellt. Die weitere Komponente kann beispielsweise die zuvor genannte, weitere Einrichtung sein. Dabei umfasst die elektromagnetische Strahlung die elektromagnetische Emission der Komponente und die weitere elektromagnetische Emission der weiteren Komponente, sodass beispielsweise bei dem ersten Schritt nicht nur die erste elektromagnetische Emission der ersten Komponente, sondern auch die weitere elektromagnetische Emission der weiteren Komponente gemessen wird. Somit charakterisiert das Signal nicht nur die erste elektromagnetische Emission der ersten Komponente, sondern auch die weitere elektromagnetische Emission der weiteren Komponente.
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Obwohl mittels der Messeinrichtung nicht nur die erste elektromagnetische Emission sondern auch die weitere elektromagnetische Emission als Störemission, Störstrahlung oder Störquelle gemessen wird, ist es durch Verwendung des durch maschinelles Lernen trainierten Algorithmus möglich, das Signal und somit die gemessene Strahlung zu beurteilen, insbesondere zu bewerten, und dabei insbesondere durch Vergleich mit den Referenzmessungen zu ermitteln, insbesondere zu beurteilen, ob die erste elektromagnetische Emission beziehungsweise die erste Komponente das zuvor genannte Kriterium erfüllt oder nicht. Das Kriterium kann insbesondere umfassen, dass die erste elektromagnetische Emission beziehungsweise wenigstens ein die erste elektromagnetische Emission charakterisierender Emissionswert einen vorgebbaren oder vorgegebenen Schwellenwert unterschreitet.
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Insbesondere kann es die Verwendung des durch maschinelles Lernen trainierten Algorithmus ermöglichen, die Komponente beziehungsweise deren elektromagnetische Emission an zumindest nahezu jedem Ort und somit unabhängig von etwaigen weiteren Störquellen zu überprüfen. Mit anderen Worten kann es der Algorithmus ermöglichen, die elektromagnetische Emission der Komponente unabhängig davon zu überprüfen, ob bei dem ersten Schritt ausschließlich die elektromagnetische Emission der Komponente oder auch zusätzlich dazu weitere Störemissionen weiterer, unbekannter Störquellen gemessen werden. Dadurch kann die Komponente, insbesondere im Laufe ihrer Herstellung, besonders einfach und zeit- und kostengünstig überprüft und insbesondere überwacht werden.
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Eine weitere Ausführungsform zeichnet sich dadurch aus, dass in dem Raum die erste Komponente an wenigstens einem, insbesondere zusätzlich zu der Komponente vorgesehenen Bauelement befestigt wird. Dadurch kann das EMV-Verhalten der Komponente besonders umfangreich sowie einfach überprüft werden.
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Als besonders vorteilhaft hat es sich gezeigt, wenn das Bauelement die weitere Komponente ist.
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In besonders vorteilhafter Ausgestaltung der Erfindung umfasst das Überprüfen ein Bewerten der elektromagnetischen Emission, welche in Abhängigkeit von dem Analysieren und somit beispielsweise mittels des durch maschinelles Lernen trainierten Algorithmus bewertet wird. Insbesondere kann eine automatische Bewertung realisiert werden, sodass automatisch mittels des Verfahrens ermittelt werden kann, ob die elektromagnetische Emission und somit die Komponente das Kriterium erfüllen oder nicht.
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Das Bewerten kann insbesondere umfassen, dass in Abhängigkeit von dem Analysieren und somit insbesondere mittels des durch maschinelles Lernen trainierten Algorithmus wenigstens ein Bewertungswert ermittelt, insbesondere berechnet, wird. Der Bewertungswert wird beispielsweise mit wenigstens einem vorgebbaren oder vorgegebenen Grenzwert verglichen, wobei der Grenzwert der zuvor genannte Schwellenwert sein kann. Unterschreitet beispielsweise der Bewertungswert den Grenzwert oder entspricht der Bewertungswert dem Grenzwert, so ist das Kriterium erfüllt, und die Komponente weist ein vorteilhaftes und gewünschtes EMV-Verhalten auf. Hierunter kann insbesondere verstanden werden, dass die elektromagnetische Emission der Komponente konform mit wenigstens einer Vorgabe oder mit mehreren Vorgaben und in der Folge hinreichend gering ist. Überschreitet jedoch beispielsweise der Bewertungswert den Grenzwert, so kann das Kriterium nicht erfüllt sein. In der Folge können Nachbesserungen durchgeführt werden, in deren Rahmen beispielsweise die Komponente bearbeitet und/oder überarbeitet wird, insbesondere derart, dass in Folge des Bearbeitens beziehungsweise Überarbeitens die Komponente beziehungsweise ihre elektromagnetische Emission das Kriterium erfüllt.
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Bei einer besonders vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung ist es vorgesehen, dass als die Komponente eine Komponente für ein elektrisch antreibbares Fahrzeug, insbesondere Kraftfahrzeug, verwendet wird. Dieser Ausführungsform liegt die Erkenntnis zugrunde, dass es insbesondere im Rahmen einer Massen- oder Serienfertigung von Fahrzeugen vorteilhaft ist, EMV-Konformitätsmessungen und -Überwachungen beziehungsweise -Überprüfungen durchzuführen, da insbesondere elektrisch antreibbare Fahrzeuge mit leistungsstarkem, elektrischen oder elektronischen Komponenten ausgestattet werden, sodass es zu hohen elektromagnetischen Emissionen kommen kann. Das Verfahren ermöglicht es dabei, übermäßig hohe elektromagnetische Emissionen auf kostengünstige Weise zu vermeiden.
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Dabei hat es sich als besonders vorteilhaft gezeigt, wenn als die Komponente eine Antriebskomponente zum elektrischen Antreiben des Fahrzeugs verwendet wird.
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Ein zweiter Aspekt der Erfindung betrifft eine Messvorrichtung, welche zum Durchführen eines erfindungsgemäßen Verfahrens gemäß dem ersten Aspekt der Erfindung ausgebildet ist. Vorteile und vorteilhafte Ausgestaltungen des ersten Aspekts der Erfindung sind als Vorteile und vorteilhafte Ausgestaltungen des zweiten Aspekts der Erfindung anzusehen und umgekehrt.
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Weitere Einzelheiten der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung eines bevorzugten Ausführungsbeispiels mit den zugehörigen Zeichnungen. Dabei zeigt:
- 1 eine schematische Darstellung einer Messvorrichtung, welche zum Durchführen eines erfindungsgemäßen Verfahrens ausgebildet ist; und
- 2 ein Flussdiagramm zum Veranschaulichen des Verfahrens.
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1 zeigt in einer schematischen Darstellung eine Messvorrichtung 1 zum Überprüfen, insbesondere zum Bewerten, einer elektromagnetischen Emission 2 einer Komponente 3.
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Die Komponente 3 ist beispielsweise eine Komponente eines Fahrzeugs, welches, insbesondere ausschließlich, elektrisch antreibbar ist. Das Fahrzeug ist beispielsweise ein Landfahrzeug und dabei ein Kraftfahrzeug, wobei das Fahrzeug insbesondere ein Kraftwagen, insbesondere ein Personenkraftwagen, sein kann. Insbesondere kann es sich bei dem Fahrzeug um ein Elektrofahrzeug, insbesondere um ein batterieelektrisches Fahrzeug (BEV), handeln. Die Komponente 3 ist beispielsweise eine Antriebskomponente, mittels welcher das Fahrzeug elektrisch angetrieben werden kann. Insbesondere kann es sich bei der Komponente um eine als Traktionsmaschine ausgebildete, elektrische Maschine handeln, mittels welcher das Fahrzeug elektrisch angetrieben werden kann. Ferner ist es denkbar, dass die Komponente 3 ein zum Speichern von elektrischer Energie beziehungsweise elektrischem Strom ausgebildeter Energiespeicher in Form eines Traktionsspeichers ausgebildet ist. Die Komponente 3 ist vorzugsweise eine Hochvolt-Komponente, welche eine elektrische Spannung, insbesondere eine elektrische Betriebs- oder Nennspannung, aufweist, welche vorzugsweise größer als 50 V ist. Insbesondere kann die elektrische Spannung mehrere 100 V betragen, um besonders große elektrische Leistungen zum elektrischen Antreiben des Fahrzeugs realisieren zu können.
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2 zeigt ein Flussdiagramm zum Veranschaulichen eines Verfahrens, in dessen Rahmen die elektromagnetische Emission 2 der Komponente 3 mittels der Messvorrichtung 1 überprüft und insbesondere bewertet wird. Bei einem ersten Schritt S1 des Verfahrens wird mittels einer Messeinrichtung 4 der Messvorrichtung 1 eine elektromagnetische Strahlung 5 gemessen. Insbesondere wird die elektromagnetische Strahlung 5 in einem Raum 6 gemessen, in welchem die Komponente 3 während des Messens der Strahlung 5 angeordnet ist.
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Aus 1 ist erkennbar, dass in dem Raum 6 nicht nur die Komponente 3, sondern wenigstens eine weitere, zusätzlich zu der Komponente 3 und zusätzlich zu der Messvorrichtung 1 vorgesehene Komponente 7 angeordnet ist. Auch die Komponente 7 stellt eine weitere elektromagnetische Emission 8 bereit, sodass die elektromagnetische Strahlung 5 nicht nur die elektromagnetische Emission 2, sondern auch die elektromagnetische Emission 8 umfasst. Mit anderen Worten wird die Strahlung 5 nicht nur durch die Emission 2, sondern auch durch die weitere Emission 8 gebildet. Insbesondere kann sich die Strahlung 5 aus den Emissionen 2 und 8 zusammensetzen. Durch das Verfahren soll jedoch bezogen auf die Komponenten 3 und 7 ausschließlich die Komponente 3 beziehungsweise bezogen auf die Emissionen 2 und 8 ausschließlich die Emission 2 überprüft, insbesondere bewertet, werden. Da jedoch die Emission 2 durch Messen der Strahlung 5 in dem Raum 6 gemessen wird, während sowohl die Komponente 3 als auch die Komponente 7 in dem Raum 6 angeordnet sind und somit in dem Raum 6 während des Messens die Emissionen 2 und 8 bereitstellen, können die Emission 2 und somit die Komponente 3 besonders einfach und zeit- und kostengünstig überprüft werden. Dabei ist der Raum 6 nicht etwa ein dezidierter EMV-Messraum, in welchem EMV-Messungen unter Laborbedingungen durchgeführt werden, sondern in dem Raum 6 können zufällig oder willkürlich zusätzlich zu der Emission 2 Störemissionen beziehungsweise Störstrahlungen auftreten und somit mittels der Messeinrichtung 4 gemessen werden. Wie im Folgenden jedoch erläutert wird, ist dennoch die Emission 2 mittels der Messvorrichtung 1 und mittels des Verfahrens besonders vorteilhaft zu überprüfen, insbesondere zu bewerten. Bei dem ersten Schritt des Verfahrens stellt die Messeinrichtung 4 wenigstens ein beispielsweise elektrisches oder elektronisches Signal 9 bereit, welches gemessene Strahlung 5 und somit die Emissionen 2 und 8 charakterisiert, das heißt definiert oder beschreibt. Das Signal 9 wird von einer elektronischen Recheneinrichtung 10 empfangen.
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Bei einem zweiten Schritt S2 des Verfahrens wird das Signal 9 mittels der elektronischen Recheneinrichtung 10 analysiert. Aus 1 ist erkennbar, dass die elektronische Recheneinrichtung 10 Bestandteil der Messvorrichtung 1 sein kann. Zum Analysieren des Signals 9 und somit der Strahlung 5 und in der Folge der Emissionen 2 und 8 führt die Recheneinrichtung 10 einen durch maschinelles Lernen trainierten Algorithmus aus, sodass das Signal 9 und somit die Strahlung 5 mit Hilfe von maschinellem Lernen und somit durch eine künstliche Intelligenz analysiert wird.
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Bei einem dritten Schritt S3 des Verfahrens wird schließlich die elektrische Emission 2 der Komponente 3 in Abhängigkeit von dem Analysieren und vorzugsweise mittels des durch maschinelles Lernen trainierten Algorithmus und somit durch maschinelles Lernen beziehungsweise durch die künstliche Intelligenz überprüft. Der Algorithmus ist beziehungsweise wurde beispielsweise durch eine Vielzahl von Referenzmessungen trainiert, in deren Rahmen jeweilige elektromagnetische Strahlung mit bekannter Bewertung beziehungsweise bekannten Eigenschaften mittels der Messvorrichtung 1 gemessen und auf die beschriebene Weise überprüft wurden. Der Algorithmus kann durch maschinelles Lernen und durch sein Training das Signal 9 und somit die Emission 2 insbesondere auch dann überprüfen, wenn die Strahlung 5 beziehungsweise ihre durch die Messeinrichtung 4 bewirkte Messung nicht mit einer der Strahlungen, die im Rahmen der Referenzmessungen gemessen wurden, beziehungsweise mit einer der Referenzmessungen übereinstimmt. Insbesondere kann der Algorithmus das Signal 9 beziehungsweise die Strahlung 5 mit den Referenzmessungen, insbesondere mit den Strahlungen, die während der Referenzmessungen gemessen wurden, vergleichen und in Folge des Vergleichs ermitteln, ob die eine Teil der Strahlung 5 bildende Emission 2 ein, insbesondere vorgebbares oder vorgegebenes, Kriterium erfüllt oder nicht.
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Beispielsweise ermittelt die elektronische Recheneinrichtung 10 wenigstens einen Bewertungswert. Mit anderen Worten kann das Überprüfen der Emission 2 eine Bewertung der Emission 2 umfassen. Im Rahmen der Bewertung wird in Abhängigkeit von dem Analysieren des Signals 9 und somit beispielsweise mittels des durch maschinelles Lernen trainierten Algorithmus der zuvor genannte Bewertungswert ermittelt, welcher das Signal 9 und somit die Strahlung 5 und in der Folge die Emission 2 charakterisiert. Ist der Bewertungswert beispielsweise kleiner oder gleich einem Grenzwert oder Schwellenwert, so erfüllen das Signal 9 und somit die Emission 2 das Kriterium. Ist jedoch der Bewertungswert größer als der Schwellenwert, so erfüllt die Emission 2 das Kriterium nicht.
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Insbesondere ermöglicht die Messvorrichtung 1 eine automatische Überprüfung und Bewertung der Emission. In Abhängigkeit von dem Überprüfen, insbesondere in Abhängigkeit von dem Bewerten, wird beispielsweise auf wenigstens einer in den Figuren nicht dargestellten elektronischen Anzeige der Messvorrichtung 1 ein insbesondere optisch wahrnehmbares Hinweissignal angezeigt, welches beispielsweise den Bewertungswert charakterisiert. Dadurch kann beispielsweise einer Person optisch mitgeteilt werden, ob die Emission 2 hinreichend gering ist und somit die Komponente 3 konform mit wenigstens einer Vorgabe ist. Insgesamt ist erkennbar, dass die Messvorrichtung 1 und das Verfahren eine zeit- und kostengünstige Überprüfung, insbesondere Bewertung, der Komponente 3 insbesondere auf ihr EMV-Verhalten ermöglichen, da die Komponente 3 durch Verwendung des durch maschinelles Lernen trainierten Algorithmus in einem Bereich wie beispielsweise in dem Raum 6 überprüft werden kann, in welchem nicht nur die Emission 2 von der Komponente 3 bereitgestellt wird, sondern auch wenigstens eine oder mehrere weitere, und insbesondere unbekannte Störquellen wie beispielsweise die Emission 8 beziehungsweise die Komponente 7 existieren können. Somit ist es beispielsweise möglich, die Komponente 3 im Laufe ihrer Herstellung zumindest im Wesentlichen kontinuierlich beziehungsweise fortlaufend auf Konformität zu überwachen, und dies beispielsweise an unterschiedlichen Orten während der Herstellung.
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Die Messeinrichtung 4 kann beispielsweise wenigstens eine Messantenne und einen daran angeschlossenen Messempfänger aufweisen, um die Strahlung 5 zu erfassen. Das Signal 9 wird dabei durch Messdaten beziehungsweise Rohdaten gebildet, welche durch die als Messwert-Rechner beziehungsweise Rechenwerk funkgierende Recheneinrichtung 10 verarbeitet und insbesondere analysiert werden, insbesondere mit Hilfe des durch maschinelles Lernen trainierten Algorithmus. Der Algorithmus nimmt dabei eine Auswertung und insbesondere eine Bewertung vor, in deren Rahmen die Emission 2 und somit die Komponente 3 überprüft und insbesondere bewertet werden. Dabei ermöglichen das Verfahren und die Messvorrichtung 1 eine automatische sowie zeit- und kostengünstige Überprüfung, insbesondere Bewertung der Komponente 3 und insbesondere der Emission 2.
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Bezugszeichenliste
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- 1
- Messvorrichtung
- 2
- elektromagnetische Emission
- 3
- Komponente
- 4
- Messeinrichtung
- 5
- elektromagnetische Strahlung
- 6
- Raum
- 7
- weitere Komponente
- 8
- weitere elektromagnetische Emission
- 9
- Signal
- 10
- elektronische Recheneinrichtung
- S1
- erster Schritt
- S2
- zweiter Schritt
- S3
- dritter Schritt
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ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Zitierte Patentliteratur
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- DE 102010046903 A1 [0002]
