DE102017113924A1 - Method for producing an optoelectronic component and optoelectronic component - Google Patents
Method for producing an optoelectronic component and optoelectronic component Download PDFInfo
- Publication number
- DE102017113924A1 DE102017113924A1 DE102017113924.9A DE102017113924A DE102017113924A1 DE 102017113924 A1 DE102017113924 A1 DE 102017113924A1 DE 102017113924 A DE102017113924 A DE 102017113924A DE 102017113924 A1 DE102017113924 A1 DE 102017113924A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- electrically conductive
- substrate
- optoelectronic component
- optoelectronic
- region
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 title claims abstract description 398
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title abstract description 28
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 223
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 68
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 claims abstract description 59
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 81
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 37
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 37
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 37
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 23
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 23
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 15
- 239000011368 organic material Substances 0.000 claims description 5
- 238000004382 potting Methods 0.000 claims description 5
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 260
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 17
- 239000000463 material Substances 0.000 description 16
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 15
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 15
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 13
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 13
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 9
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 8
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 8
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 description 7
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 7
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 6
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 6
- 239000010408 film Substances 0.000 description 6
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 6
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 6
- 238000013461 design Methods 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 5
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 5
- -1 polypropylene Polymers 0.000 description 5
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 4
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 4
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 4
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 4
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 4
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 4
- 238000012549 training Methods 0.000 description 4
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 3
- 239000006089 photosensitive glass Substances 0.000 description 3
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 3
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 3
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 3
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- 239000006228 supernatant Substances 0.000 description 3
- GUVLYNGULCJVDO-UHFFFAOYSA-N EPTC Chemical compound CCCN(CCC)C(=O)SCC GUVLYNGULCJVDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000006090 Foturan Substances 0.000 description 2
- 241000405147 Hermes Species 0.000 description 2
- 241000511976 Hoya Species 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004696 Poly ether ether ketone Substances 0.000 description 2
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002048 anodisation reaction Methods 0.000 description 2
- 238000007743 anodising Methods 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 description 2
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000000708 deep reactive-ion etching Methods 0.000 description 2
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 2
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 description 2
- 238000003698 laser cutting Methods 0.000 description 2
- 150000002736 metal compounds Chemical class 0.000 description 2
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 239000002070 nanowire Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 238000012536 packaging technology Methods 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920002530 polyetherether ketone Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 2
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 2
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 2
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 2
- 238000013064 process characterization Methods 0.000 description 2
- 239000000047 product Substances 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 2
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 2
- BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N (2r,3r,4s,5r)-2-[6-[[2-(3,5-dimethoxyphenyl)-2-(2-methylphenyl)ethyl]amino]purin-9-yl]-5-(hydroxymethyl)oxolane-3,4-diol Chemical compound COC1=CC(OC)=CC(C(CNC=2C=3N=CN(C=3N=CN=2)[C@H]2[C@@H]([C@H](O)[C@@H](CO)O2)O)C=2C(=CC=CC=2)C)=C1 BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N 0.000 description 1
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000588731 Hafnia Species 0.000 description 1
- 229920002302 Nylon 6,6 Polymers 0.000 description 1
- 229920012266 Poly(ether sulfone) PES Polymers 0.000 description 1
- 239000004697 Polyetherimide Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 description 1
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 239000005331 crown glasses (windows) Substances 0.000 description 1
- 230000032798 delamination Effects 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 1
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 1
- 239000005308 flint glass Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 description 1
- CJNBYAVZURUTKZ-UHFFFAOYSA-N hafnium(IV) oxide Inorganic materials O=[Hf]=O CJNBYAVZURUTKZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001903 high density polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004700 high-density polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004922 lacquer Substances 0.000 description 1
- 239000012939 laminating adhesive Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 229920001684 low density polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004702 low-density polyethylene Substances 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101150101567 pat-2 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 229920003366 poly(p-phenylene terephthalamide) Polymers 0.000 description 1
- 229920003223 poly(pyromellitimide-1,4-diphenyl ether) Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920001601 polyetherimide Polymers 0.000 description 1
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 1
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 239000005297 pyrex Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 238000007430 reference method Methods 0.000 description 1
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 150000003467 sulfuric acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/19—Segment displays
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/80—Constructional details
- H10K59/805—Electrodes
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
Abstract
In verschiedenen Ausführungsbeispielen wird ein Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Bauelements (150) bereitgestellt. Das Verfahren weist ein Ausbilden auf einer ersten Seite (103a, 203a, 303a, 403a, 803a, 903a, 1003a) eines gemeinsamen Substrats (102, 202, 302, 402, 802, 902, 1002) und mit einer gemeinsamen Verkapselungsstruktur (114, 214, 314, 414, 814, 914, 1014) mindestens eines ersten optoelektronischen Bauelementsegments (118a, 218a, 318a, 418a, 818a, 918a, 1018a) und eines neben dem ersten optoelektronischen Bauelementsegment (118a, 218a, 318a, 418a, 818a, 918a, 1018a) angeordneten, zweiten optoelektronischen Bauelementsegments (118b, 118c, 118d, 218b, 218c, 218d, 318b, 318c, 318d, 418b, 418c, 818b, 818c, 818d, 918b, 918c, 918d, 1018b, 1018c, 1018d) auf. Das Substrat (102, 202, 302, 402, 802, 902, 1002) weist eine der ersten Seite gegenüberliegende, zweite Seite (103b, 203b, 303b, 403b, 803b, 903b, 1003b) auf. Weiterhin weist das Substrat mehrere hermetisch dichte, elektrisch leitende Durchkontakte (104, 204, 304, 404, 804, 904, 1004) auf. Die Durchkontakte (104, 204, 304, 404, 804, 904, 1004) verbinden elektrisch leitend jeweils die erste Seite (103a, 203a, 303a, 403a, 803a, 903a, 1003a) mit der zweiten Seite (103b, 203b, 303b, 403b, 803b, 903b, 1003b). Ferner werden das erste optoelektronische Bauelementsegment, das zweite optoelektronische Bauelementsegment und die Durchkontakte derart ausgebildet, dass das erste optoelektronische Bauelementsegment und das zweite optoelektronische Bauelementsegment unabhängig voneinander durch das Substrat (102, 202, 302, 402, 802, 902, 1002) mittels der Durchkontakte (104, 204, 304, 404, 804, 904, 1004) von der zweiten Seite des Substrats elektrisch kontaktierbar sind. In various exemplary embodiments, a method for producing an optoelectronic component (150) is provided. The method comprises forming on a first side (103a, 203a, 303a, 403a, 803a, 903a, 1003a) of a common substrate (102, 202, 302, 402, 802, 902, 1002) and having a common encapsulation structure (114, 214, 314, 414, 814, 914, 1014) of at least one first optoelectronic component segment (118a, 218a, 318a, 418a, 818a, 918a, 1018a) and one adjacent to the first optoelectronic component segment (118a, 218a, 318a, 418a, 818a, 918a, 1018a), second optoelectronic component segment (118b, 118c, 118d, 218b, 218c, 218d, 318b, 318c, 318d, 418b, 418c, 818b, 818c, 818d, 918b, 918c, 918d, 1018b, 1018c, 1018d). on. The substrate (102, 202, 302, 402, 802, 902, 1002) has a second side (103b, 203b, 303b, 403b, 803b, 903b, 1003b) opposite the first side. Furthermore, the substrate has a plurality of hermetically sealed, electrically conductive vias (104, 204, 304, 404, 804, 904, 1004). The vias (104, 204, 304, 404, 804, 904, 1004) electrically connect the first side (103a, 203a, 303a, 403a, 803a, 903a, 1003a) to the second side (103b, 203b, 303b, respectively), 403b, 803b, 903b, 1003b). Furthermore, the first optoelectronic component segment, the second optoelectronic component segment and the through contacts are formed such that the first optoelectronic component segment and the second optoelectronic component segment independently of one another through the substrate (102, 202, 302, 402, 802, 902, 1002) by means of the vias (104, 204, 304, 404, 804, 904, 1004) are electrically contactable from the second side of the substrate.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Bauelements und ein durch das Verfahren hergestelltes, optoelektronisches Bauelement.The invention relates to a method for producing an optoelectronic component and to an optoelectronic component produced by the method.
Optoelektronische Bauelemente, beispielsweise auf organischer Basis, beispielsweise organische, lichtemittierende Bauelemente, haben aufgrund ihres geringen Stromverbrauchs, ihrer hohen Leistung und ihren Designmöglichkeiten zunehmend Einzug in die Fahrzeugbranche (automotive Anwendungen), beispielsweise als Leuchtmittel. Um die Designmöglichkeiten der Fahrzeug-Leuchten zu erhöhen, werden mehr und mehr segmentierte, optoelektronische Bauelemente, beispielsweise lichtemittierende Bauelemente verwendet.Optoelectronic components, for example on an organic basis, for example organic, light-emitting components, due to their low power consumption, high performance and design options are increasingly being used in the vehicle industry (automotive applications), for example as light sources. In order to increase the design possibilities of the vehicle lights, more and more segmented, optoelectronic components, such as light emitting devices are used.
Bei kleinen lichtemittierenden Bauelementen kann deren elektrische Steuerung über eine sogenannte Passivmatrix erfolgen. Für segmentierte, und dementsprechend große, lichtemittierende Bauelemente ist diese elektrische Steuerungsmethode nicht ausreichend, weil die Bahnwiderstände der elektrischen Leitungen der Passivmatrix linear mit der Größe zunehmen und die Treiberkraft des Treibers des lichtemittierenden Bauelementes damit nicht mehr ausreicht, um das jeweilige Segment anzusteuern. Da die einzelnen Segmente übersteuert werden, hat die elektrische Steuerung mit der Passivmatrix einen großen Einfluss auf die Lebensdauer des lichtemittierenden Bauelements. Der Ansatz einer elektrischen Steuerung mittels einer Aktivmatrix ist aufgrund der sehr hohen Kosten und der relativ geringen Robustheit ebenfalls schwierig. Außerdem sind beide elektrische Steuerungsarten bezüglich thermischer Last nicht ausreichend robust.In the case of small light-emitting components, their electrical control can take place via a so-called passive matrix. For segmented, and therefore large, light-emitting components, this electrical control method is not sufficient because the path resistances of the electrical lines of the passive matrix increase linearly with the size and the driving force of the driver of the light emitting device is thus no longer sufficient to drive the respective segment. Since the individual segments are overdriven, the electrical control with the passive matrix has a great influence on the life of the light-emitting component. The approach of an electrical control by means of an active matrix is also difficult due to the very high cost and the relatively low robustness. In addition, both electrical control types are not sufficiently robust with respect to thermal load.
Üblicherweise sind bei optoelektronischen Bauelementen metallische Zuleitungen und Kontaktbereiche auf der Substratoberseite, d.h. der lichtemittierenden oder - absorbierenden Seite des optoelektronischen Bauelements, zum Bauelement-externen elektrischen Kontaktieren vorgesehen. Diese führen zu Flächenanteilen des optoelektronischen Bauelements, die die nutzbare, optisch aktive Fläche, d.h. die lichtemittierende oder -absorbierende Fläche des optoelektronischen Bauelements, reduzieren. Ferner werden Kontaktbereiche, die auf der gleichen Seite wie die lichtemittierende oder -absorbierende Seite des optoelektronischen Bauelements angeordnet sind, in der Regel mittels nachträglicher Öffnung der Dünnfilmverkapselung (thin film encapsulation, TFE) freigelegt. Dies führt potentiell zum Ausbilden von Pfaden für eine Wassereindiffusion in das optoelektronische Bauelement und/oder zu Delaminationskeimen der Dünnfilmverkapselung.Typically, in opto-electronic devices, metallic leads and contact areas on the substrate top, i. the light-emitting or -absorbing side of the optoelectronic component, provided for component-external electrical contacting. These result in areal proportions of the optoelectronic device that make up the usable optically active area, i. the light-emitting or -absorbierende surface of the optoelectronic device, reduce. Further, contact areas disposed on the same side as the light-emitting or -absorbing side of the opto-electronic device are usually exposed by means of subsequent opening of the thin-film encapsulation (TFE). This potentially results in the formation of paths for water diffusion into the optoelectronic device and / or delamination nuclei of the thin film encapsulation.
Bekannt sind Rückseitenkontaktierungen für organische lichtemittierende Bauelemente, bei der Metalldrähte durch Löcher in einem Stahlsubstrat hindurchgeführt sind. Derzeit sind die verwendeten Materialien und Prozesse solcher Rückseitenkontaktierungen für den Einsatz in automotive Anwendungen jedoch ungeeignet, da unteranderem die Metalldrähte mittels eines Harzes in dem Stahlsubstrat fixiert werden und dieses eine hohe Durchlässigkeit für Sauerstoff und Feuchtigkeit aufweist.Back side contacts for organic light emitting devices are known, in which metal wires are passed through holes in a steel substrate. However, at present, the materials and processes of such backside contacts are unsuitable for use in automotive applications because, among other things, the metal wires are fixed in the steel substrate by means of a resin and this has a high permeability to oxygen and moisture.
Weiterhin bekannt sind HermeS®-Glas-Substrate mit sogenannten „through glass vias“ (TGV), die von der Firma SCHOTT angeboten werden. Bekannt ist weiterhin die TGV-Technologie mit Dünngläsern und Kupfer-verfüllten Vias, die von der Firma CORNING angeboten wird. Bekannt ist weiterhin FOTURAN®, das von den Firmen SCHOTT bzw. HOYA angeboten wird. Weiterhin bekannt ist die „Through Ceramic Vias“ (TCV)-Technologie, bei der metallische Vias durch Keramiken geführt werden. Weiterhin bekannt ist die Erzeugung von Kupfer-gefüllten Vias in einem proprietären keramisch isolierten Aluminiumsubstrat der Firma Cambrige Nanotherm.Also known are HermeS ® glass substrates with so-called "through glass vias" (TGV), offered by the company SCHOTT. Also known is the TGV technology with thin glasses and copper-filled vias, which is offered by the company CORNING. Also known is FOTURAN®, which is offered by the companies SCHOTT and HOYA. Also known is the "Through Ceramic Vias" (TCV) technology, in which metallic vias are guided by ceramics. Furthermore, the production of copper-filled vias in a proprietary ceramic-insulated aluminum substrate from Cambrige Nanotherm is known.
Ferner sind Stahlsubstrate mit einer Atomlagenabscheidung (atomic layer deposition ALD)- oder chemische-Gasphasenabscheidung (chemical vapour deposition CVD)-Isolierung von verschiedenen Bereichen auf dem Substrat bekannt. Diese anorganischen Isolierungen sind teuer und nur in relativ geringen Schichtdicken herstellbar, sodass eine zuverlässige, ausreichende elektrische Isolierung schwierig zu gewährleisten ist.Further, steel substrates with atomic layer deposition (ALD) or chemical vapor deposition (CVD) isolation of various regions on the substrate are known. These inorganic insulations are expensive and can only be produced in relatively small layer thicknesses, so that reliable, sufficient electrical insulation is difficult to ensure.
Die Aufgabe der Erfindung ist es, ein optoelektronisches Bauelement bereitzustellen, das einzeln ansteuerbare, optisch aktive Bauelementsegmente aufweist und frei von Aktiv- oder Passivmatrixstrukturen zur elektrischen Steuerung ist. Dabei sollten das optoelektronische Bauelement bzw. die optoelektronischen Bauelementsegmente robust und auf einfache und kostengünstige Weise hermetisch dicht und kontaktierbar sein. Ferner sollte das optoelektronische Bauelement eine größere, optisch aktiv nutzbare Fläche aufweisen.The object of the invention is to provide an optoelectronic component which has individually controllable, optically active component segments and is free of active or passive matrix structures for electrical control. The optoelectronic component or the optoelectronic component segments should be robust and hermetically sealed and contactable in a simple and cost-effective manner. Furthermore, the optoelectronic component should have a larger, optically active area.
Eine weitere Aufgabe ist es, ein Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Bauelements bereitzustellen, das ein kostengünstiges und einfaches Herstellen des oben beschriebenen optoelektronischen Bauelements mit einzeln ansteuerbaren Bauelementsegmenten ermöglicht.A further object is to provide a method for producing an optoelectronic component, which enables cost-effective and simple production of the above-described optoelectronic component with individually activatable component segments.
In einem Aspekt wird ein Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Bauelements bereitgestellt. Das Verfahren weist ein Ausbilden auf einer ersten Seite eines gemeinsamen Substrats und mit einer gemeinsamen Verkapselungsstruktur mindestens eines ersten optoelektronischen Bauelementsegments und eines neben dem ersten optoelektronischen Bauelementsegment angeordneten, zweiten optoelektronischen Bauelementsegments auf. Das Substrat weist eine der ersten Seite gegenüberliegende, zweite Seite auf. Weiterhin weist das Substrat mehrere hermetisch dichte, elektrisch leitende Durchkontakte auf. Die Durchkontakte verbinden elektrisch leitend jeweils die erste Seite mit der zweiten Seite. Ferner werden das erste optoelektronische Bauelementsegment, das zweite optoelektronische Bauelementsegment und die Durchkontakte derart ausgebildet, dass das erste optoelektronische Bauelementsegment und das zweite optoelektronische Bauelementsegment unabhängig voneinander durch das Substrat mittels der Durchkontakte von der zweiten Seite des Substrats elektrisch kontaktierbar sind. In one aspect, a method of manufacturing an optoelectronic device is provided. The method has a formation on a first side of a common substrate and with a common encapsulation structure of at least one first optoelectronic component segment and a second optoelectronic component segment arranged next to the first optoelectronic component segment. The substrate has a second side opposite the first side. Furthermore, the substrate has a plurality of hermetically sealed, electrically conductive vias. The vias electrically connect each of the first side to the second side. Furthermore, the first optoelectronic component segment, the second optoelectronic component segment and the through contacts are formed such that the first optoelectronic component segment and the second optoelectronic component segment can be electrically contacted independently of one another by the substrate by means of the through contacts from the second side of the substrate.
Das Verfahren ermöglicht das Herstellen eines optoelektronischen Bauelements, das mehrere optoelektronische Bauelementsegmente aufweist. Die mehreren optoelektronischen Bauelementsegmente können mittels der Durchkontakte ohne Passiv- oder Aktivmatrix angesteuert werden, wodurch Herstellungskosten reduziert werden können. Die mehreren optoelektronischen Bauelementsegmente können mit der Ansteuerungselektronik zum Bauelement-externen elektrischen Kontaktieren nach ihrem Ausbilden kontaktiert werden. Dies ermöglicht, dass die Ansteuerungselektronik, d.h. der Treiber oder die Treiberschaltung, der mehreren optoelektronischen Bauelementsegmente getrennt von dem optoelektronischen Bauelement herstellbar ist. Die Ansteuerungselektronik ist ferner im Großteil in der optisch nicht-aktiven Fläche des optoelektronischen Bauelements angeordnet und ermöglicht eine maximierte optisch aktive Fläche. Durch die hermetisch dichten, elektrisch leitenden Durchkontakte wird vermieden, die Verkapselungsstruktur, beispielsweise die Dünnfilmverkapselung, nachträglich in einem Kontaktbereich zu öffnen. Dies ermöglicht ein gegenüber Wasser- und Sauerstoffdiffusion hermetisch dichtes, optoelektronisches Bauelement.The method makes it possible to produce an optoelectronic component which has a plurality of optoelectronic component segments. The plurality of optoelectronic component segments can be controlled by means of the through contacts without passive or active matrix, whereby manufacturing costs can be reduced. The plurality of optoelectronic component segments can be contacted with the control electronics for component-external electrical contacting after their formation. This allows the drive electronics, i. the driver or the driver circuit, the plurality of optoelectronic component segments separately from the optoelectronic component can be produced. The drive electronics are also arranged in the majority in the optically non-active surface of the optoelectronic device and allows a maximized optically active surface. The hermetically sealed, electrically conductive vias avoid the encapsulation structure, for example the thin-film encapsulation, being subsequently opened in a contact region. This allows a hermetically sealed, optoelectronic component in relation to water and oxygen diffusion.
Es ist wünschenswert, einen neuen Steuerungsansatz für groß segmentierte, optoelektronische Bauelemente zu entwickeln, der kosteneffektiv, robust und hermetisch gegenüber Wasserdiffusion ist und gleichzeitig die optisch aktive Fläche maximiert.It is desirable to develop a new control approach for large segment optoelectronic devices that is cost effective, robust, and hermetic to water diffusion while maximizing the optically active area.
Das erste optoelektronische Bauelementsegment ist von dem zweiten optoelektronischen Bauelementsegment unabhängig kontaktierbar und steuerbar, beispielsweise wenn das erste optoelektronische Bauelementsegment und das zweite optoelektronischen Bauelementsegment elektrisch voneinander isoliert sind. Dies schließt mit ein, dass auch die jeweiligen Durchkontakte, die mit dem ersten optoelektronischen Bauelementsegment oder dem zweiten optoelektronischen Bauelementsegment verbunden sind, voneinander elektrisch isoliert sind. Dabei können das erste optoelektronische Bauelementsegment und das zweite optoelektronische Bauelementsegment eine gemeinsame Elektrode aufweisen, beispielsweise die gemeinsame Elektrode ist die Elektrode von den Elektroden, die nicht im unmittelbaren Kontakt bzw. nicht im direkten körperlichen Kontakt mit den Durchkontakten ist.The first optoelectronic component segment can be contacted and controlled independently of the second optoelectronic component segment, for example if the first optoelectronic component segment and the second optoelectronic component segment are electrically isolated from one another. This includes the fact that the respective vias connected to the first optoelectronic component segment or the second optoelectronic component segment are also electrically insulated from one another. In this case, the first optoelectronic component segment and the second optoelectronic component segment may have a common electrode, for example, the common electrode is the electrode of the electrodes, which is not in direct contact or in direct physical contact with the vias.
In einer Ausführungsform weist das Verfahren ein Bereitstellen einer Schichtenstruktur auf. Die Schichtenstruktur weist das Substrat mit der ersten Seite und der der ersten Seite gegenüberliegenden, zweiten Seite, eine elektrisch leitende Schicht auf der ersten Seite des Substrats und mehrere elektrisch leitende Durchkontakte durch das Substrat auf. Die elektrisch leitenden Durchkontakte verbinden elektrisch leitend die erste Seite mit der zweiten Seite. Ferner sind die elektrisch leitenden Durchkontakte mit der elektrisch leitenden Schicht elektrisch leitend verbunden. Die elektrisch leitende Schicht weist mindestens einen ersten Bereich und einen von dem ersten Bereich elektrisch isolierten zweiten Bereich auf. Dabei sind jeweils der erste Bereich und der zweite Bereich mit mindestens einem elektrisch leitenden Durchkontakt der mehreren elektrisch leitenden Durchkontakte elektrisch leitend verbunden. Das Verfahren weist ferner ein Ausbilden eines optoelektronischen Schichtenstapels auf oder über mindestens dem ersten Bereich und dem zweiten Bereich der elektrisch leitenden Schicht auf. Außerdem weist das Verfahren ein Ausbilden einer weiteren elektrisch leitenden Schicht auf oder über dem optoelektronischen Schichtenstapel auf, sodass in dem ersten Bereich ein erstes optoelektronisches Bauelementsegment und in dem zweiten Bereich ein zweites optoelektronisches Bauelementsegment gebildet werden. Das Verfahren weist ferner ein Ausbilden der Verkapselungsstruktur auf oder über der weiteren elektrisch leitenden Schicht derart auf, dass das erste optoelektronische Bauelementsegment und das zweite optoelektronische Bauelementsegment gemeinsam verkapselt werden.In one embodiment, the method includes providing a layered structure. The layer structure comprises the substrate having the first side and the first side opposite the second side, an electrically conductive layer on the first side of the substrate and a plurality of electrically conductive vias through the substrate. The electrically conductive vias electrically connect the first side to the second side. Furthermore, the electrically conductive vias are electrically conductively connected to the electrically conductive layer. The electrically conductive layer has at least a first region and a second region that is electrically insulated from the first region. In each case, the first region and the second region are electrically conductively connected to at least one electrically conductive through contact of the plurality of electrically conductive through contacts. The method further comprises forming an optoelectronic layer stack on or over at least the first region and the second region of the electrically conductive layer. In addition, the method comprises forming a further electrically conductive layer on or above the optoelectronic layer stack, so that a first optoelectronic component segment is formed in the first region and a second optoelectronic component segment is formed in the second region. The method further comprises forming the encapsulation structure on or over the further electrically conductive layer such that the first optoelectronic component segment and the second optoelectronic component segment are encapsulated together.
In noch einer Ausführungsform besteht das Substrat aus einer Keramik oder einem Glas.In yet another embodiment, the substrate is made of a ceramic or a glass.
Dies ermöglicht durch die hohe Temperaturstabilität von Gläsern oder Keramiken die Verwendung von Hochtemperaturprozessen, welche der späteren Robustheit des optoelektronischen Bauelementes zuträglich sind. This allows the high temperature stability of glasses or ceramics, the use of high-temperature processes, which are the subsequent robustness of the optoelectronic device beneficial.
In noch einer Ausführungsform werden mehrere Löcher in dem Substrat ausgebildet. Die Löcher durchdringen das Substrat jeweils von der ersten Seite bis zur zweiten Seite. Ferner werden die Löcher mit einem elektrisch leitfähigen Material aufgefüllt, um die mehreren elektrisch leitenden Durchkontakte zu bilden.In yet another embodiment, a plurality of holes are formed in the substrate. The holes penetrate the substrate from the first side to the second side, respectively. Further, the holes are filled with an electrically conductive material to form the plurality of electrically conductive vias.
In noch einer Ausführungsform weist das Bereitstellen der Schichtenstruktur ein Bereitstellen mehrerer elektrisch leitender Strukturen und ein Vergießen der mehreren elektrisch leitenden Strukturen mit einem organischen Material auf, um das Substrat mit den dadurch durchdringenden, mehreren elektrisch leitenden Durchkontakte zu bilden. Die Durchkontakte weisen die elektrisch leitenden Strukturen auf bzw. sind diese.In yet another embodiment, providing the layered structure includes providing a plurality of electrically conductive structures and shedding the plurality of electrically conductive structures with an organic material to form the substrate having the plurality of electrically conductive vias therethrough. The vias have or are the electrically conductive structures.
In noch einer Ausführungsform weist das Bereitstellen der Schichtenstruktur ein Aufbringen der elektrisch leitenden Schicht auf die erste Seite des Substrats auf. Ferner weist das Verfahren ein Rückstrukturieren der elektrisch leitenden Schicht derart auf, dass mindestens der erste Bereich und der zweite Bereich der elektrisch leitenden Schicht elektrisch isoliert voneinander gebildet werden.In yet another embodiment, providing the layer structure comprises applying the electrically conductive layer to the first side of the substrate. Further, the method comprises back structuring the electrically conductive layer such that at least the first region and the second region of the electrically conductive layer are formed electrically insulated from one another.
In noch einer Ausführungsform weist das Bereitstellen der Schichtenstruktur ein strukturiertes Aufbringen der elektrisch leitenden Schicht auf die erste Seite des Substrats derart, dass mindestens der erste Bereich und der zweite Bereich der elektrisch leitenden Schicht elektrisch isoliert voneinander gebildet werden.In yet another embodiment, providing the layer structure comprises patterning the electrically conductive layer on the first side of the substrate such that at least the first region and the second region of the electrically conductive layer are formed electrically isolated from one another.
In noch einer Ausführungsform ist das Substrat ein elektrolytisch oxidiertes Metallsubstrat.In yet another embodiment, the substrate is an electrolytically oxidized metal substrate.
Das elektrolytisch oxidierte, beispielsweise eloxierte Metallsubstrat ermöglicht aufgrund der Materialeigenschaften intrinsisch eine gute Dichte gegenüber der Diffusion von Sauerstoff und Wasser. Ferner ermöglicht die poröse Struktur des elektrolytisch oxidierten, beispielsweise eloxierten Metallmaterials eine gute Haftung bzw. Verzahnung der Metall-Vias in dem Substrat.The electrolytically oxidized, for example, anodized metal substrate intrinsically allows due to the material properties a good density over the diffusion of oxygen and water. Furthermore, the porous structure of the electrolytically oxidized, for example, anodized metal material allows good adhesion of the metal vias in the substrate.
In noch einer Ausführungsform ist das optoelektronische ein organisches, lichtemittierendes Bauelement.In yet another embodiment, the opto-electronic is an organic light-emitting device.
In noch einer Ausführungsform weist das optoelektronische Bauelement eine Leiterstruktur mit mehreren Leiterbahnen zum Bauelement-externen elektrischen Kontaktieren auf. Das Verfahren weist ferner ein externes elektrisches Kontaktieren des mindestens einen ersten Bauelementsegments und des zweiten Bauelementsegments mittels eines Aufbringens der Leiterstruktur auf oder über die erste Seite und/oder die zweite Seite des Substrats auf. Dabei wird ein Bauelementsegment jeweils mittels mindestens eines elektrisch leitenden Durchkontakts mit mindestens einer Leiterbahn der Leiterstruktur elektrisch leitend verbunden.In yet another embodiment, the optoelectronic component has a conductor structure with a plurality of interconnects for component-external electrical contacting. The method further comprises externally electrically contacting the at least one first device segment and the second device segment by applying the conductor pattern to or over the first side and / or the second side of the substrate. In this case, a component segment is electrically conductively connected to at least one conductor track of the conductor structure by means of at least one electrically conductive through contact.
In noch einer Ausführungsform werden die Leiterbahnen der Leiterstruktur mittels eines anisotrop leitenden Klebstoffes mit den mehreren elektrisch leitenden Durchkontakten elektrisch leitend verbunden.In yet another embodiment, the conductor tracks of the conductor structure are electrically conductively connected to the plurality of electrically conductive through contacts by means of an anisotropically conductive adhesive.
Dies ermöglicht eine laterale, elektrisch Isolation der einzelnen Durchkontakte voneinander, so dass die mit den Durchkontakten verbundenen Bauelementsegmente auf einfache Weise unabhängig voneinander angesteuert werden können. Mittels des anisotrop leitenden Klebstoffes kann beispielsweise eine Leiterplatte mit Leitungen für die einzelnen Bauelementsegmenten Bauelementsegment-spezifisch elektrisch leitend verbunden werden.This allows a lateral, electrical isolation of the individual vias from each other, so that the device segments connected to the vias can be controlled independently of each other in a simple manner. By means of the anisotropically conductive adhesive, for example, a printed circuit board with lines for the individual component segments component-specific electrically conductive can be connected.
In noch einer Ausführungsform werden die elektrisch leitenden Durchkontakte voneinander mit einem vorgegebenen Abstand beabstandet. Dabei isoliert der vorgegebene Abstand bezüglich des anisotrop leitenden Klebstoffes das mindestens eine erste Bauelementsegment von dem zweiten Bauelementsegment elektrisch.In yet another embodiment, the electrically conductive vias are spaced from each other by a predetermined distance. In this case, the predetermined distance with respect to the anisotropically conductive adhesive electrically isolates the at least one first component segment from the second component segment.
In noch einer Ausführungsform weist das optoelektronische Bauelement einen optisch aktiven Bereich auf. Mindestens ein Teil der Leiterstruktur ist in dem optisch aktiven Bereich angeordnet.In yet another embodiment, the optoelectronic component has an optically active region. At least a part of the conductor structure is arranged in the optically active region.
In einem weiteren Aspekt wird ein optoelektronisches Bauelement bereitgestellt. Das optoelektronische Bauelement weist eine Schichtenstruktur auf. Die Schichtenstruktur weist ein Substrat mit einer ersten Seite und einer der ersten Seite gegenüberliegenden, zweiten Seite, eine elektrisch leitende Schicht auf der ersten Seite des Substrats und mehrere elektrisch leitende Durchkontakte durch das Substrat auf. Die mehreren elektrisch leitenden Durchkontakte verbinden elektrisch leitend die erste Seite mit der zweiten Seite. Ferner sind die mehreren elektrisch leitenden Durchkontakte mit der elektrisch leitenden Schicht elektrisch leitend verbunden. Dabei weist die elektrisch leitende Schicht mindestens einen ersten Bereich und einen von dem ersten Bereich elektrisch isolierten zweiten Bereich auf. Dabei sind jeweils der erste Bereich und der zweite Bereich mit mindestens einem elektrisch leitenden Durchkontakt der mehreren elektrisch leitenden Durchkontakte elektrisch leitend verbunden. Das optoelektronische Bauelement weist ferner einen optoelektronischen Schichtenstapel auf oder über mindestens dem ersten Bereich und dem zweiten Bereich der elektrisch leitenden Schicht auf. Außerdem weist das optoelektronische Bauelement eine weitere elektrisch leitende Schicht auf oder über dem optoelektronischen Schichtenstapel auf. Dabei ist die weitere elektrisch leitende Schicht ausgebildet, sodass in dem ersten Bereich ein erstes optoelektronisches Bauelementsegment und in dem zweiten Bereich ein zweites optoelektronisches Bauelementsegment gebildet sind. Das optoelektronische Bauelement weist ferner eine Verkapselungsstruktur auf oder über der weiteren elektrisch leitenden Schicht auf. Dabei ist die Verkapselungsstruktur derart ausgebildet, dass das erste optoelektronische Bauelementsegment und das zweite optoelektronische Bauelementsegment gemeinsam verkapselt sind.In another aspect, an optoelectronic device is provided. The optoelectronic component has a layer structure. The layer structure includes a substrate having a first side and a second side opposite the first side, an electrically conductive layer on the first side of the substrate, and a plurality of electrically conductive vias through the substrate. The several electrically conductive vias electrically connect the first side to the second side. Furthermore, the plurality of electrically conductive vias are electrically conductively connected to the electrically conductive layer. In this case, the electrically conductive layer has at least a first region and a second region that is electrically insulated from the first region. In each case, the first region and the second region are electrically conductively connected to at least one electrically conductive through contact of the plurality of electrically conductive through contacts. The optoelectronic component further has an optoelectronic layer stack on or over at least the first region and the second region of the electrically conductive layer. In addition, the optoelectronic component has a further electrically conductive layer on or above the optoelectronic layer stack. In this case, the further electrically conductive layer is formed so that a first optoelectronic component segment is formed in the first region and a second optoelectronic component segment is formed in the second region. The optoelectronic component further has an encapsulation structure on or over the further electrically conductive layer. In this case, the encapsulation structure is designed such that the first optoelectronic component segment and the second optoelectronic component segment are encapsulated together.
In einem Ausführungsbeispiel weist das optoelektronische Bauelement eine Leiterstruktur mit mehreren Leiterbahnen zum Bauelement-externen elektrischen Kontaktieren auf. Die Leiterstruktur ist auf der ersten Seite und/oder der zweiten Seite des Substrats angeordnet. Dabei ist ein Bauelementsegment jeweils mittels mindestens einem elektrisch leitenden Durchkontakt mit mindestens einer Leiterbahn der Leiterstruktur elektrisch leitend verbunden ist.In one exemplary embodiment, the optoelectronic component has a conductor structure with a plurality of conductor tracks for component-external electrical contacting. The conductor pattern is arranged on the first side and / or the second side of the substrate. In this case, a component segment is electrically conductively connected in each case by means of at least one electrically conductive through contact with at least one conductor track of the conductor structure.
In einem weiteren Ausführungsbeispiel sind die Leiterbahnen der Leiterstruktur mittels eines anisotrop leitenden Klebstoffes mit den mehreren elektrisch leitenden Durchkontakten elektrisch leitend verbunden.In a further exemplary embodiment, the conductor tracks of the conductor structure are electrically conductively connected to the plurality of electrically conductive through contacts by means of an anisotropically conductive adhesive.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Figuren dargestellt und werden im Folgenden näher erläutert.Embodiments of the invention are illustrated in the figures and are explained in more detail below.
Es zeigen:
-
1 schematische Schnittdarstellungen zu einem Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Bauelements gemäß verschiedenen Ausführungsbeispielen; -
2 schematische Schnittdarstellungen zu einem Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Bauelements gemäß verschiedenen Ausführungsbeispielen; -
3 eine schematische Schnittdarstellung eines optoelektronischen Bauelements gemäß verschiedenen Ausführungsbeispielen; -
4 eine schematische Schnittdarstellung eines optoelektronischen Bauelements gemäß verschiedenen Ausführungsbeispielen; -
5 eine schematische Querschnittsansicht eines optoelektronischen Bauelements gemäß verschiedenen Ausführungsbeispielen; und -
6 ein Ablaufdiagram zu einem Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Bauelements gemäß verschiedenen Ausführungsbeispielen; -
7 schematische Draufsichten eines optoelektronischen Bauelements gemäß verschiedenen Ausführungsbeispielen; -
8 schematische Schnittdarstellungen zu einem Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Bauelements gemäß verschiedenen Ausführungsbeispielen; -
9 schematische Schnittdarstellungen zu einem Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Bauelements gemäß verschiedenen Ausführungsbeispielen; und -
10 schematische Schnittdarstellungen zu einem Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Bauelements gemäß verschiedenen Ausführungsbeispielen.
-
1 schematic sectional views of a method for producing an optoelectronic component according to various embodiments; -
2 schematic sectional views of a method for producing an optoelectronic component according to various embodiments; -
3 a schematic sectional view of an optoelectronic component according to various embodiments; -
4 a schematic sectional view of an optoelectronic component according to various embodiments; -
5 a schematic cross-sectional view of an optoelectronic device according to various embodiments; and -
6 a flow diagram of a method for producing an optoelectronic device according to various embodiments; -
7 schematic plan views of an optoelectronic component according to various embodiments; -
8th schematic sectional views of a method for producing an optoelectronic component according to various embodiments; -
9 schematic sectional views of a method for producing an optoelectronic component according to various embodiments; and -
10 schematic sectional views of a method for producing an optoelectronic component according to various embodiments.
In der folgenden ausführlichen Beschreibung wird auf die beigefügten Zeichnungen Bezug genommen, die Teil dieser Beschreibung bilden und in denen zur Veranschaulichung spezifische Ausführungsbeispiele gezeigt sind, in denen die Erfindung ausgeübt werden kann. Da Komponenten von Ausführungsbeispielen in einer Anzahl verschiedener Orientierungen positioniert werden können, dient die Richtungsterminologie zur Veranschaulichung und ist auf keinerlei Weise einschränkend. Es versteht sich, dass andere Ausführungsbeispiele benutzt und strukturelle oder logische Änderungen vorgenommen werden können, ohne von dem Schutzumfang der vorliegenden Erfindung abzuweichen. Es versteht sich, dass die Merkmale der hierin beschriebenen verschiedenen Ausführungsbeispiele miteinander kombiniert werden können, sofern nicht spezifisch anders angegeben. Die folgende ausführliche Beschreibung ist deshalb nicht in einschränkendem Sinne aufzufassen, und der Schutzumfang der vorliegenden Erfindung wird durch die angefügten Ansprüche definiert. In den Figuren sind identische oder ähnliche Elemente mit identischen Bezugszeichen versehen, soweit dies zweckmäßig ist.In the following detailed description, reference is made to the accompanying drawings, which form a part of this specification, and in which is shown by way of illustration specific embodiments in which the invention may be practiced. Because components of embodiments may be positioned in a number of different orientations, the directional terminology is illustrative and is in no way limiting. It is understood that other embodiments may be utilized and structural or logical changes may be made without departing from To deviate scope of the present invention. It should be understood that the features of the various embodiments described herein may be combined with each other unless specifically stated otherwise. The following detailed description is therefore not to be taken in a limiting sense, and the scope of the present invention is defined by the appended claims. In the figures, identical or similar elements are provided with identical reference numerals, as appropriate.
Im Rahmen dieser Beschreibung werden die Begriffe „verbunden“, „angeschlossen“ sowie „gekoppelt“ verwendet zum Beschreiben sowohl einer direkten als auch einer indirekten Verbindung, eines direkten oder indirekten Anschlusses sowie einer direkten oder indirekten Kopplung. In den Figuren werden identische oder ähnliche Elemente mit identischen Bezugszeichen versehen, soweit dies zweckmäßig ist.As used herein, the terms "connected," "connected," and "coupled" are used to describe both direct and indirect connection, direct or indirect connection, and direct or indirect coupling. In the figures, identical or similar elements are provided with identical reference numerals, as appropriate.
Im Rahmen dieser Beschreibung wird unter einem optoelektronischen Bauelement eine optoelektronische Baugruppe verstanden, die einen optoelektronischen Schichtenstapel, eine Trägerstruktur und eine Verkapselungsstruktur aufweist. Das optoelektronische Bauelement kann beispielsweise als ein Display oder ein Leuchtmodul ausgebildet sein.In the context of this description, an optoelectronic component is understood to mean an optoelectronic assembly which has an optoelectronic layer stack, a carrier structure and an encapsulation structure. The optoelectronic component can be designed, for example, as a display or a lighting module.
Das optoelektronische Bauelement kann mittels eines Halbleiterbauelementes elektromagnetische Strahlung emittieren oder absorbieren.The optoelectronic component can emit or absorb electromagnetic radiation by means of a semiconductor component.
Ein optoelektronisches Bauelement kann ein elektromagnetische Strahlung emittierendes Bauelement oder ein elektromagnetische Strahlung absorbierendes Bauelement sein. Ein elektromagnetische Strahlung absorbierendes Bauelement kann beispielsweise eine Solarzelle oder ein Fotodetektor sein. Ein elektromagnetische Strahlung emittierendes Bauelement kann in verschiedenen Ausführungsbeispielen ein elektromagnetische Strahlung emittierendes Halbleiter-Bauelement sein und/oder als eine elektromagnetische Strahlung emittierende Diode, als eine organische, elektromagnetische Strahlung emittierende Diode, als ein elektromagnetische Strahlung emittierender Transistor oder als ein organischer, elektromagnetische Strahlung emittierender Transistor ausgebildet sein. Die Strahlung kann beispielsweise Licht im sichtbaren Bereich, UV-Licht und/oder Infrarot-Licht sein. In diesem Zusammenhang kann das elektromagnetische Strahlung emittierende Bauelement beispielsweise als lichtemittierende Diode (light emitting diode, LED), als organische, lichtemittierende Diode (organic light emitting diode, OLED), als lichtemittierender Transistor oder als organischer, lichtemittierender Transistor ausgebildet sein. Das lichtemittierende Bauelement kann in verschiedenen Ausführungsbeispielen Teil einer integrierten Schaltung sein.An optoelectronic component may be an electromagnetic radiation emitting component or an electromagnetic radiation absorbing component. An electromagnetic radiation absorbing component may be, for example, a solar cell or a photodetector. In various embodiments, a component emitting electromagnetic radiation can be a semiconductor device emitting electromagnetic radiation and / or as an electromagnetic radiation emitting diode, as an organic, electromagnetic radiation emitting diode, as a transistor emitting electromagnetic radiation, or as an organic, electromagnetic radiation emitting device Transistor be formed. The radiation may, for example, be light in the visible range, UV light and / or infrared light. In this context, the electromagnetic radiation emitting device may be formed, for example, as a light emitting diode (LED), as an organic, light emitting diode (OLED), as a light emitting transistor or as an organic, light emitting transistor. The light emitting device may be part of an integrated circuit in various embodiments.
Das optoelektronische Bauelement kann ein organisches, optoelektronisches Bauelement sein. Das organische, optoelektronische Bauelement weist einen organischen, funktionellen Schichtenstapel auf, welcher synonym auch als organische, funktionelle Schichtenstruktur bezeichnet wird. Die organische, funktionelle Schichtenstruktur weist einen organischen Stoff oder ein organisches Stoffgemisch auf oder ist daraus gebildet, der/das beispielsweise zum Bereitstellen einer elektromagnetischer Strahlung aus einem bereitgestellten elektrische Strom oder zum Bereitstellen eines elektrischen Stromes aus einer bereitgestellten elektromagnetischen Strahlung eingerichtet ist. Eine organische, Leuchtdiode ist als ein sogenannter Top-Emitter und/oder ein sogenannter Bottom-Emitter ausgebildet. Bei einem Bottom-Emitter wird elektromagnetische Strahlung aus dem elektrisch aktiven Bereich durch das Substrat emittiert. Bei einem Top-Emitter wird elektromagnetische Strahlung aus der Oberseite des elektrisch aktiven Bereichs emittiert und nicht durch den Substrat.The optoelectronic component may be an organic, optoelectronic component. The organic, optoelectronic component has an organic, functional layer stack, which is synonymously also referred to as an organic, functional layer structure. The organic functional layer structure comprises or is formed from an organic substance or mixture of organic substances, for example, configured to provide electromagnetic radiation from a supplied electrical current or to provide an electrical current from a provided electromagnetic radiation. An organic, light-emitting diode is designed as a so-called top emitter and / or a so-called bottom emitter. In a bottom emitter, electromagnetic radiation is emitted from the electrically active region through the substrate. In a top emitter, electromagnetic radiation is emitted from the top of the electrically active region and not through the substrate.
Ein optoelektronisches Bauelement kann ein, zwei oder mehr optoelektronische Bauelementsegmente, beispielsweise untergebracht in einem gemeinsamen Gehäuse aufweisen. Jedes optoelektronische Bauelementsegment ist von den anderen optoelektronischen Bauelementsegmenten elektrisch leitend isoliert und unabhängig ansteuerbar. Die optoelektronischen Bauelementsegmente können gemeinsame Bestandteile des optoelektronischen Bauelements aufweisen, beispielsweise eine gemeinsame Elektrode. Die optoelektronischen Bauelementsegmente bilden beispielsweise große Pixel oder Bildpunkte, die beispielsweise deutlich größer sind als Pixel oder Bildpunkte eines Displays, e.g. Smartphone oder Fernseher.An optoelectronic component may have one, two or more optoelectronic component segments, for example housed in a common housing. Each optoelectronic component segment is electrically insulated from the other optoelectronic component segments and can be controlled independently. The optoelectronic component segments may have common components of the optoelectronic component, for example a common electrode. The optoelectronic component segments form, for example, large pixels or pixels, for example, which are significantly larger than pixels or pixels of a display, e.g. Smartphone or TV.
Im Rahmen dieser Beschreibung kann eine hermetisch dichte Schicht, beispielsweise bezüglich Wasser und/oder Sauerstoff, als eine im Wesentlichen hermetisch dichte Schicht verstanden werden.In the context of this description, a hermetically sealed layer, for example with respect to water and / or oxygen, can be understood as a substantially hermetically sealed layer.
De Begriff „hermetisch dicht“ bezüglich der Durchkontakte wird im Rahmen dieser Beschreibung als im Wesentlichen hermetisch dicht verstanden. Die hermetisch dichten Durchkontakte, beispielsweise aus Metall können beispielsweise mit dem Substrat, beispielsweise aus Glas, Keramik, eine Diffusionsrate bezüglich Wasser und/oder Sauerstoff von kleiner ungefähr 10-1 g/(m2d) aufweisen. Die hermetisch dichten Durchkontakte mit dem Substrat beispielsweise aus Glas, Keramik oder Polymer können beispielsweise eine Diffusionsrate bezüglich Wasser und/oder Sauerstoff von kleiner ungefähr 10-4 g/(m2d) aufweisen, beispielsweise in einem Bereich von ungefähr 10-4 g/(m2d) bis ungefähr 10-10 g/(m2d), beispielsweise in einem Bereich von ungefähr 10-4 g/(m2d) bis ungefähr 10-6 g/(m2d), beispielsweise von kleiner als 10-6 g/(m2d) .The term "hermetically sealed" with respect to the vias is understood in the context of this description as substantially hermetically sealed. The hermetically sealed vias, for example of metal, for example, with the substrate, such as glass, ceramic, a diffusion rate with respect to water and / or oxygen of less than about 10 -1 g / (m 2 d) have. The hermetically sealed For example, vias to the substrate, such as glass, ceramic or polymer, may have a diffusion rate relative to water and / or oxygen of less than about 10 -4 g / (m 2 d), for example, in a range of about 10 -4 g / (m 2 d) to about 10 -10 g / (m 2 d), for example in a range from about 10 -4 g / (m 2 d) to about 10 -6 g / (m 2 d), for example less than 10 - 6 g / (m 2 d).
In verschiedenen Ausgestaltungen kann ein bezüglich Wasser hermetisch dichter Stoff oder ein hermetisch dichtes Stoffgemisch eine Keramik, ein Metall und/oder ein Metalloxid aufweisen oder daraus gebildet sein.In various embodiments, a hermetically sealed substance or a hermetically sealed mixture of substances may comprise or be formed from a ceramic, a metal and / or a metal oxide.
In verschiedenen Ausführungsbeispielen wird ein Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Bauelements
Das Verfahren ermöglicht das Herstellen eines optoelektronischen Bauelements, das mehrere optoelektronische Bauelementsegmente aufweist. Die mehreren optoelektronischen Bauelementsegmente können mittels der Durchkontakte ohne Passiv- oder Aktivmatrix angesteuert werden, wodurch Herstellungskosten reduziert werden können. Die mehreren optoelektronischen Bauelementsegmente können mit der Ansteuerungselektronik zum Bauelement-externen elektrischen Kontaktieren nach ihrem Ausbilden kontaktiert werden. Dies ermöglicht, dass die Ansteuerungselektronik, d.h. der Treiber oder die Treiberschaltung, der mehreren optoelektronischen Bauelementsegmente getrennt von dem optoelektronischen Bauelement herstellbar ist. Die Ansteuerungselektronik ist ferner im Großteil in der optisch nicht-aktiven Fläche des optoelektronischen Bauelements angeordnet und ermöglicht eine maximierte optisch aktive Fläche. Durch die hermetisch dichten, elektrisch leitenden Durchkontakte wird vermieden, die Verkapselungsstruktur, beispielsweise die Dünnfilmverkapselung, nachträglich in einem Kontaktbereich zu öffnen. Dies ermöglicht ein gegenüber Wasser- und Sauerstoffdiffusion hermetisch dichtes, optoelektronisches Bauelement.The method makes it possible to produce an optoelectronic component which has a plurality of optoelectronic component segments. The plurality of optoelectronic component segments can be controlled by means of the through contacts without passive or active matrix, whereby manufacturing costs can be reduced. The plurality of optoelectronic component segments can be contacted with the control electronics for component-external electrical contacting after their formation. This allows the drive electronics, i. the driver or the driver circuit, the plurality of optoelectronic component segments separately from the optoelectronic component can be produced. The drive electronics are also arranged in the majority in the optically non-active surface of the optoelectronic device and allows a maximized optically active surface. The hermetically sealed, electrically conductive vias avoid the encapsulation structure, for example the thin-film encapsulation, being subsequently opened in a contact region. This allows a hermetically sealed, optoelectronic component in relation to water and oxygen diffusion.
Der Begriff „Substrat“ wird hierin mit der Bedeutung verstanden, dass es sich um eine Trägerstruktur handelt, die das optoelektronische Bauelement mechanisch trägt und zusammenhält. Die optoelektronischen Bauelementsegemente werden auf dem Substrat abgeschieden.The term "substrate" is understood herein to mean that it is a support structure that mechanically supports and holds together the optoelectronic device. The optoelectronic component segments are deposited on the substrate.
Der Begriff „Verkapselungsstruktur“ wird hierin mit der Bedeutung verstanden, dass es sich um eine Abdeckungsstruktur handelt, die zum Schutz des optoelektronischen Bauelements vor externen Verunreinigungen auf oder über den abgeschiedenen Schichten des optoelektronischen Bauelements angeordnet ist. The term "encapsulation structure" is understood here to mean that it is a cover structure which is arranged to protect the optoelectronic component from external impurities on or above the deposited layers of the optoelectronic component.
Ein Substrat auf dem das optoelektronische Bauelement abgeschieden wird, wird nicht als Verkapselungsstruktur im Sinne der Erfindung angesehen.A substrate on which the optoelectronic component is deposited is not considered as an encapsulation structure in the sense of the invention.
In verschiedenen Ausführungsbeispielen weist das Verfahren ein Bereitstellen einer Schichtenstruktur auf (wie in den
Dies ermöglicht, dass die mehreren elektrisch leitenden Durchkontakte
Das Verfahren weist ferner ein Ausbilden eines optoelektronischen Schichtenstapels
In verschiedenen Ausführungsbeispielen kann das Substrat
Das Substrat
Das Substrat
In verschiedenen Ausführungsbeispielen werden die mehreren elektrisch leitenden Durchkontakte
In verschiedenen Ausführungsbeispielen weisen die mehreren elektrisch leitenden Durchkontakte
Das Substrat kann beispielsweise mittels Stanzens, Mikrosandstrahlens und/oder Laserschneidens an bestimmten Stellen perforiert werden, um die Löcher zu bilden, in denen Anschließend die Durchkontakte ausgebildet werden. Alternativ oder zusätzlich, wenn das Substrat aus einem fotosensitiven Glas ausgebildet ist, können die Löcher mittels Lithographie gefolgt von einem Ätz-Prozess gebildet werden. Alternativ oder zusätzlich, wenn das Substrat aus einer Keramik ausgebildet ist, kann das Stanzen des Substrats bei einem ungesinterten Zustand des Substrats durchgeführt werden und das Substrat wird anschließend gesintert werden. Die Löcher können eine beliebige Form aufweisen, beispielsweise rund, oval, rechteckig, mehreckig, quadratisch etc..The substrate may for example be perforated at certain points by means of punching, micro-sand blasting and / or laser cutting in order to form the holes in which the through contacts are subsequently formed. Alternatively or additionally, if the substrate is formed of a photosensitive glass, the holes may be formed by lithography followed by an etching process. Alternatively or additionally, if the substrate is formed of a ceramic, the stamping of the substrate may be carried out in an unsintered state of the substrate and the substrate is then sintered. The holes may have any shape, for example, round, oval, rectangular, polygonal, square, etc ..
Die Löcher bzw. Durchkontakte
Weiterhin können die Löcher bzw. Durchkontakte
Der Abstand zwischen zwei Durchkontakten
Das elektrisch leitfähige Material weist beispielsweise ein Metall, eine Metalllegierung, ein Halbleitermaterial auf oder ist daraus gebildet. Beispiele von Metallen sind Kupfer, Wolfram, Nickel, Eisen, Gold, Platin oder Mischungen davon. Das elektrisch leitfähige Material kann als Paste, beispielsweise Metallpaste auf das Substrat oder als Galvanik aufgebracht werden. Für den Fall Galvanik verwendet wird, kann eine Keimschicht (Seed Layer) vor dem Aufbringen der Galvanik mittels Sputterns auf das Substrat aufgebracht werden. Dies ermöglicht eine verbesserte Haftung der Galvanik auf dem Substrat und ein besseres Aufwachsverhalten der Galvanik. Alternativ oder zusätzlich kann eine Keimschicht flächig mittels Sputterns auf das Substrat aufgebracht werden und galvanisch verstärkt werden.The electrically conductive material comprises, for example, a metal, a metal alloy, a semiconductor material or is formed therefrom. Examples of metals are copper, tungsten, nickel, iron, gold, platinum or mixtures thereof. The electrically conductive material can be applied to the substrate as a paste, for example metal paste or as electroplating. In the case of electroplating, a seed layer may be applied to the substrate by sputtering prior to application of the electroplating. This allows improved adhesion of the electroplating on the substrate and a better growth behavior of the electroplating. Alternatively or additionally, a seed layer can be applied to the substrate in a planar manner by sputtering and galvanically reinforced.
Das Substrat
In der Tabelle sind Beispiele von geeigneten Substrat-Herstellungsmethoden zusammengefasst:
In verschiedenen Ausführungsbeispielen weist das Bereitstellen der Schichtenstruktur ferner ein Aufbringen der elektrisch leitenden Schicht
In verschiedenen Ausführungsbeispielen weist das Bereitstellen der Schichtenstruktur ferner ein Rückstrukturieren
Nach dem Ausbilden des optoelektronischen Schichtenstapels
Wie in
Das optoelektronische Bauelement
Das optoelektronische Bauelement
Das optoelektronische Bauelement
In verschiedenen Ausführungsbeispielen ist das optoelektronische Bauelement
Im Folgenden werden verschiedene Modifikationen und Konfigurationen des optoelektronischen Bauelements beschrieben, wobei sich die vorangehend beschriebenen, grundlegenden Merkmale und Funktionsweisen des optoelektronischen Bauelements gemäß einem der oben beschriebenen Ausführungsbeispiele analog einbeziehbar sind. Ferner können die nachfolgend beschriebenen Merkmale und Funktionsweisen analog auf das in der
In verschiedenen Ausführungsbeispielen weist das Bereitstellen der Schichtenstruktur ein Bereitstellen mehrerer elektrisch leitender Strukturen
In verschiedenen Ausführungsbeispielen wird die elektrisch leitende Schicht
In einem Ausführungsbeispiel, wie in
Im Folgenden werden verschiedene Modifikationen und Konfigurationen des optoelektronischen Bauelements beschrieben, wobei sich die vorangehend beschriebenen grundlegenden Merkmale und Funktionsweisen des optoelektronischen Bauelements gemäß einem der oben beschriebenen Ausführungsbeispiele analog einbeziehen lassen. Ferner können die nachfolgend beschriebenen Merkmale und Funktionsweisen analog auf das in den
In verschiedenen Ausführungsbeispielen ist das Verfahren zum Herstellen des optoelektronischen Bauelements
Das Verfahren ermöglicht ein einfaches externes elektrisches Kontaktieren der jeweiligen optoelektronischen Bauelementsegmente
In verschiedenen Ausführungsbeispielen erfolgt der Schritt des externen elektrischen Kontaktierens vor oder nach dem Ausbilden des optoelektronischen Schichtenstapels
Wie in
Das optoelektronische Bauelement
Die Leiterstruktur
In verschiedenen Ausführungsbeispielen wird die Leiterstruktur
Der Abstand der Durchkontakte
In verschiedenen Ausführungsbeispielen sind die elektrisch leitenden Durchkontakte
Der anisotrop leitende Klebstoff
Im Folgenden werden verschiedene Modifikationen und Konfigurationen des optoelektronischen Bauelements beschrieben, wobei sich die vorangehend beschriebenen grundlegenden Merkmale und Funktionsweisen des optoelektronischen Bauelements gemäß einem der oben beschriebenen Ausführungsbeispiele analog einbeziehen lassen. Ferner können die nachfolgend beschriebenen Merkmale und Funktionsweisen analog auf das in den
In verschiedenen Ausführungsbeispielen ist das Verfahren zum Herstellen des optoelektronischen Bauelements
Wie in
In verschiedenen Ausführungsbeispielen ist mindestens ein Teil der Leiterstruktur
In verschiedenen Ausführungsbeispielen ist das optoelektronische Bauelement
Das Substrat
Auf dem Substrat
Über der ersten Elektrode
Über der optoelektronischen Schichtenstruktur
Die optoelektronische Schichtenstruktur
Über der zweiten Elektrode
Die Verkapselungsschicht
Über der Verkapselungsschicht
Über der Haftmittelschicht
Das Verfahren
Das Verfahren
In
Das optoelektronische Bauelement
Dies ermöglicht ein optoelektronisches Bauelement, welches eine feine Segmentierung, beispielsweise für den Einsatz in nahtlosen Wischblinkern, aufweist.This makes possible an optoelectronic component which has a fine segmentation, for example for use in seamless wiper blinkers.
Wie in
In
Im Folgenden werden verschiedene Modifikationen und Konfigurationen des optoelektronischen Bauelements beschrieben, wobei sich die vorangehend beschriebenen, grundlegenden Merkmale und Funktionsweisen des optoelektronischen Bauelements gemäß einem der oben beschriebenen Ausführungsbeispiele analog einbeziehen lassen. Ferner können die nachfolgend beschriebenen Merkmale und Funktionsweisen analog auf das in den
Das Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Bauelements
In verschiedenen Ausführungsbeispielen weist das Substrat
Wie in
Die Isolierschicht
Wie in
In
Im Folgenden werden verschiedene Modifikationen und Konfigurationen des optoelektronischen Bauelements beschrieben, wobei sich die vorangehend beschriebenen, grundlegenden Merkmale und Funktionsweisen des optoelektronischen Bauelements gemäß einem der oben beschriebenen Ausführungsbeispiele analog einbeziehen lassen. Ferner können die nachfolgend beschriebenen Merkmale und Funktionsweisen analog auf das in den
Das in der
Im Folgenden werden verschiedene Modifikationen und Konfigurationen des optoelektronischen Bauelements beschrieben, wobei sich die vorangehend beschriebenen, grundlegenden Merkmale und Funktionsweisen des optoelektronischen Bauelements gemäß einem der oben beschriebenen Ausführungsbeispiele analog einbeziehen lassen. Ferner können die nachfolgend beschriebenen Merkmale und Funktionsweisen analog auf das in den
In the following, various modifications and configurations of the optoelectronic component will be described, wherein the above-described, basic features and functions of the optoelectronic component according to one of the embodiments described above can be incorporated analogously. Furthermore, the features and functions described below can be analogous to that in the
Das in der
In der
Gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel weist ein Verfahren
- Ausbilden auf einer ersten Seite
103a ,203a ,303a ,403a ,803a ,903a , 1003a eines gemeinsamen Substrats102 ,202 ,302 ,402 ,802 ,902 ,1002 und mit einer gemeinsamen Verkapselungsstruktur114 ,214 ,314 ,414 ,814 ,914 ,1014 mindestens eines ersten optoelektronischen Bauelementsegments118a ,218a ,318a ,418a ,818a ,918a ,1018a und eines neben dem ersten optoelektronischen Bauelementsegment118a ,218a ,318a ,418a ,818a ,918a ,1018a angeordneten, zweiten optoelektronischen Bauelementsegments118b ,118c ,118d ,218b ,218c ,218d ,318b ,318c ,318d ,418b ,418c ,818b ,818c ,818d ,918b ,918c ,918d ,1018b ,1018c ,1018d , wobei das Substrat102 ,202 ,302 ,402 ,802 ,902 ,1002 eine der ersten Seite gegenüberliegende, zweite Seite103b ,203b ,303b ,403b ,803b ,903b , 1003b aufweist, wobei das Substrat mehrere hermetisch dichte, elektrisch leitende Durchkontakte104 ,204 ,304 ,404 ,804 ,904 ,1004 aufweist, welche jeweils die erste Seite103a ,203a ,303a ,403a ,803a ,903a , 1003a mit der zweiten Seite103b ,203b ,303b ,403b ,803b ,903b , 1003b elektrisch leitend verbinden, wobei das erste optoelektronische Bauelementsegment, das zweite optoelektronische Bauelementsegment und die Durchkontakte derart ausgebildet werden, dass das erste optoelektronische Bauelementsegment und das zweite optoelektronische Bauelementsegment unabhängig voneinander durch das Substrat102 ,202 ,302 ,402 ,802 ,902 ,1002 mittels der Durchkontakte104 ,204 ,304 ,404 ,804 ,904 ,1004 von der zweiten Seite103b ,203b ,303b ,403b ,803b ,903b , 1003b des Substrats102 ,202 ,302 ,402 ,802 ,902 ,1002 elektrisch kontaktierbar sind.
- Training on a
first page 103a .203a .303a .403a .803a .903a , 1003a of acommon substrate 102 .202 .302 .402 .802 .902 .1002 and with acommon encapsulation structure 114 .214 .314 .414 .814 .914 .1014 at least one firstoptoelectronic component segment 118a .218a .318a .418a .818a .918a .1018a and one next to the firstoptoelectronic component segment 118a .218a .318a .418a .818a .918a .1018a arranged, secondoptoelectronic component segment 118b .118c .118d .218b .218c .218d .318b .318c .318d .418b .418c .818b .818c .818d .918b .918c .918d .1018b .1018C .1018d where thesubstrate 102 .202 .302 .402 .802 .902 .1002 one of the first page opposite,second page 103b .203b .303b .403b .803b .903b , 1003b, wherein the substrate has a plurality of hermetically sealed, electricallyconductive vias 104 .204 .304 .404 .804 .904 .1004 each having thefirst side 103a .203a .303a .403a .803a .903a , 1003a with thesecond page 103b .203b .303b .403b .803b .903b , 1003b electrically conductively connect, wherein the first optoelectronic component segment, the second optoelectronic component segment and the vias are formed such that the first optoelectronic component segment and the second optoelectronic component segment independently by thesubstrate 102 .202 .302 .402 .802 .902 .1002 by means of thevias 104 .204 .304 .404 .804 .904 .1004 from thesecond page 103b .203b .303b .403b .803b .903b , 1003b of thesubstrate 102 .202 .302 .402 .802 .902 .1002 are electrically contacted.
Gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel kann das Verfahren
- -
Bereitstellen 620 einer Schichtenstruktur, wobei die Schichtenstruktur aufweist:das Substrat 102 ,202 ,302 ,402 ,802 ,902 ,1002 mit der ersten Seite103a ,203a ,303a ,403a ,803a ,903a , 1003a und der der ersten Seite gegenüberliegenden,zweiten Seite 103b ,203b ,303b ,403b ,803b ,903b , 1003b,- eine elektrisch leitende Schicht
106 ,206 ,306 ,406 ,806 ,906 ,1006 auf der ersten Seite103a ,203a ,303a ,403a ,803a ,903a , 1003a desSubstrats 102 ,202 ,302 ,402 ,802 ,902 ,1002 und - mehrere elektrisch leitende Durchkontakte
104 ,204 ,304 ,404 ,804 ,904 ,1004 durch das Substrat 102 ,202 ,302 ,402 ,802 ,902 ,1002 , welche die erste Seite103a ,203a ,303a ,403a ,803a ,903a , 1003a mit der zweiten Seite103b ,203b ,303b ,403b ,803b ,903b , 1003b elektrisch leitend verbinden, und mit der elektrisch leitenden Schicht106 ,206 ,306 ,406 ,806 ,906 ,1006 elektrisch leitend verbunden sind, - wobei die elektrisch leitende Schicht
106 ,206 ,306 ,406 ,806 ,906 ,1006 mindestens einen ersten Bereich108a ,208a ,308a ,408a ,808a ,908a ,1008a und einen von dem ersten Bereich elektrisch isolierten zweiten Bereich108b ,108c ,108d ,108e ,208b ,208c ,208d ,208e ,308b ,308c ,308d ,408b ,408c ,408d ,808b ,808c ,808d ,808e ,908b ,908c ,908d ,908e ,1008b ,1008c ,1008d ,1008e aufweist, wobei jeweils der erste Bereich108a ,208a ,308a ,408a ,808a ,908a ,1008a und der zweite Bereich108b ,108c ,108d ,108e ,208b ,208c ,208d ,208e ,308b ,308c ,308d ,408b ,408c ,408d ,808b ,808c ,808d ,808e ,908b ,908c ,908d ,908e ,1008b ,1008c ,1008d ,1008e mit mindestens einem elektrisch leitenden Durchkontakt104 ,204 ,304 ,404 ,804 ,904 ,1004 der mehreren elektrisch leitenden Durchkontakte elektrisch leitend verbunden sind;
- -
Ausbilden 640 eines optoelektronischen Schichtenstapels110 ,210 ,310 ,410 ,810 ,910 ,1010 auf oder über mindestens dem ersten Bereich108a ,208a ,308a ,408a ,808a ,908a ,1008a und dem zweiten Bereich108b ,108c ,108d ,108e ,208b ,208c ,208d ,208e ,308b ,308c ,308d ,408b ,408c ,408d ,808b ,808c ,808d ,808e ,908b ,908c ,908d ,908e ,1008b ,1008c ,1008d ,1008e der elektrisch leitenden Schicht106 ,206 ,306 ,406 ,806 ,906 ,1006 ; - -
Ausbilden 660 einer weiteren elektrisch leitenden Schicht112 ,212 ,312 ,412 ,812 ,912 ,1012 auf oder überdem optoelektronischen Schichtenstapel 110 ,210 ,310 ,410 ,810 ,910 ,1010 , sodass in dem ersten Bereich108a ,208a ,308a ,408a ,808a ,908a ,1008a ein erstes optoelektronisches Bauelementsegment und indem zweiten Bereich 108b ,108c ,108d ,108e ,208b ,208c ,208d ,208e ,308b ,308c ,308d ,408b ,408c ,408d ,808b ,808c ,808d ,808e ,908b ,908c ,908d ,908e ,1008b ,1008c ,1008d ,1008e ein zweites optoelektronisches Bauelementsegment gebildet werden; - -
Ausbilden 680 der Verkapselungsstruktur 114 ,214 ,314 ,414 ,814 ,914 ,1014 auf oder über der weiteren elektrisch leitenden Schicht112 ,212 ,312 ,412 ,812 ,912 ,1012 derart, dass das erste optoelektronische Bauelementsegment und das zweite optoelektronische Bauelementsegment gemeinsam verkapselt werden.
- - Provide
620 a layered structure, the layered structure comprising:- the
substrate 102 .202 .302 .402 .802 .902 .1002 with thefirst page 103a .203a .303a .403a .803a .903a , 1003a and the second page opposite thefirst page 103b .203b .303b .403b .803b .903b , 1003b, - an electrically
conductive layer 106 .206 .306 .406 .806 .906 .1006 on thefirst page 103a .203a .303a .403a .803a .903a , 1003a of thesubstrate 102 .202 .302 .402 .802 .902 .1002 and - several electrically
conductive vias 104 .204 .304 .404 .804 .904 .1004 through thesubstrate 102 .202 .302 .402 .802 .902 .1002 which is thefirst page 103a .203a .303a .403a .803a .903a , 1003a with thesecond page 103b .203b .303b .403b .803b .903b , 1003b electrically conductively connect, and with the electricallyconductive layer 106 .206 .306 .406 .806 .906 .1006 are electrically connected, - wherein the electrically
conductive layer 106 .206 .306 .406 .806 .906 .1006 at least afirst area 108a .208a .308a .408a .808a .908a .1008a and a second region electrically isolated from thefirst region 108b .108c .108 d .108e .208b .208c .208d .208e .308b .308c .308d .408b .408c .408d .808b .808c .808d .808e .908b .908c .908D .908e .1008b .1008c .1008D .1008E each having thefirst area 108a .208a .308a .408a .808a .908a .1008a and thesecond area 108b .108c .108 d .108e .208b .208c .208d .208e .308b .308c .308d .408b .408c .408d .808b .808c .808d .808e .908b .908c .908D .908e .1008b .1008c .1008D .1008E with at least one electrically conductive throughcontact 104 .204 .304 .404 .804 .904 .1004 the plurality of electrically conductive vias are electrically connected;
- the
- -
Training 640 anoptoelectronic layer stack 110 .210 .310 .410 .810 .910 .1010 on or over at least thefirst area 108a .208a .308a .408a .808a .908a .1008a and thesecond area 108b .108c .108 d .108e .208b .208c .208d .208e .308b .308c .308d .408b .408c .408d .808b .808c .808d .808e .908b .908c .908D .908e .1008b .1008c .1008D .1008E the electricallyconductive layer 106 .206 .306 .406 .806 .906 .1006 ; - -
Training 660 another electricallyconductive layer 112 .212 .312 .412 .812 .912 .1012 on or above theoptoelectronic layer stack 110 .210 .310 .410 .810 .910 .1010 so in thefirst area 108a .208a .308a .408a .808a .908a .1008a a first opto-electronic device segment and in thesecond region 108b .108c .108 d .108e .208b .208c .208d .208e .308b .308c .308d .408b .408c .408d .808b .808c .808d .808e .908b .908c .908D .908e .1008b .1008c .1008D .1008E a second optoelectronic component segment are formed; - -
Training 680 theencapsulation structure 114 .214 .314 .414 .814 .914 .1014 on or over the further electricallyconductive layer 112 .212 .312 .412 .812 .912 .1012 such that the first optoelectronic component segment and the second optoelectronic component segment are encapsulated together.
Gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel kann das Verfahren
Gemäß einem vierten Ausführungsbeispiel kann das Verfahren
Gemäß einem fünften Ausführungsbeispiel kann das Verfahren
- - Bereitstellen
622 mehrerer elektrisch leitender Strukturen203 , - - Vergießen 624 der mehreren elektrisch leitenden Strukturen
203 mit einem organischen Material,um das Substrat 102 ,202 ,302 ,402 ,802 ,902 ,1002 mit den dadurch durchdringenden mehreren elektrisch leitenden Durchkontakte104 ,204 ,304 ,404 ,804 ,904 ,1004 zu bilden.
- - Provide
622 several electrically conductive structures203 . - - Potting 624 of the plurality of electrically conductive structures
203 with an organic material to thesubstrate 102 .202 .302 .402 .802 .902 .1002 with the thus penetrating a plurality of electricallyconductive vias 104 .204 .304 .404 .804 .904 .1004 to build.
Gemäß einem sechsten Ausführungsbeispiel kann das Verfahren
- - Aufbringen
626 der elektrisch leitenden Schicht106 ,206 ,306 ,406 ,806 ,906 ,1006 auf die erste Seite desSubstrats 102 ,202 ,302 ,402 ,802 ,902 ,1002 , - - Rückstrukturieren
628 der elektrisch leitenden Schicht106 ,206 ,306 ,406 ,806 ,906 ,1006 derart, dass mindestens der erste Bereich108a ,208a ,308a ,408a ,808a ,908a ,1008a und der zweite Bereich108b ,108c ,108d ,108e ,208b ,208c ,208d ,208e ,308b ,308c ,308d ,408b ,408c ,408d ,808b ,808c ,808d ,808e ,908b ,908c ,908d ,908e ,1008b ,1008c ,1008d ,1008e der elektrisch leitenden Schicht106 ,206 ,306 ,406 ,806 ,906 ,1006 elektrisch isoliert voneinander gebildet werden.
- - apply
626 the electricallyconductive layer 106 .206 .306 .406 .806 .906 .1006 on the first side of thesubstrate 102 .202 .302 .402 .802 .902 .1002 . - - restructure
628 the electricallyconductive layer 106 .206 .306 .406 .806 .906 .1006 such that at least thefirst area 108a .208a .308a .408a .808a .908a .1008a and thesecond area 108b .108c .108 d .108e .208b .208c .208d .208e .308b .308c .308d .408b .408c .408d .808b .808c .808d .808e .908b .908c .908D .908e .1008b .1008c .1008D .1008E the electricallyconductive layer 106 .206 .306 .406 .806 .906 .1006 be formed electrically isolated from each other.
Gemäß einem siebten Ausführungsbeispiel kann das Verfahren
- ein strukturiertes Aufbringen
627 der elektrisch leitenden Schicht106 ,206 ,306 ,406 ,806 ,906 ,1006 auf die erste Seite des Substrats derart, dass mindestens der erste Bereich108a ,208a ,308a ,408a ,808a ,908a ,1008a und der zweite Bereich108b ,108c ,108d ,108e ,208b ,208c ,208d ,208e ,308b ,308c ,308d ,408b ,408c ,408d ,808b ,808c ,808d ,808e ,908b ,908c ,908d ,908e ,1008b ,1008c ,1008d ,1008e der elektrisch leitenden Schicht106 ,206 ,306 ,406 ,806 ,906 ,1006 elektrisch isoliert voneinander gebildet werden.
- a structured application
627 the electricallyconductive layer 106 .206 .306 .406 .806 .906 .1006 on the first side of the substrate such that at least thefirst area 108a .208a .308a .408a .808a .908a .1008a and thesecond area 108b .108c .108 d .108e .208b .208c .208d .208e .308b .308c .308d .408b .408c .408d .808b .808c .808d .808e .908b .908c .908D .908e .1008b .1008c .1008D .1008E the electricallyconductive layer 106 .206 .306 .406 .806 .906 .1006 be formed electrically isolated from each other.
Gemäß einem achten Ausführungsbeispiel das Verfahren
Gemäß einem neunten Ausführungsbeispiel kann das Verfahren
Gemäß einem zehnten Ausführungsbeispiel kann das Verfahren
das Verfahren ferner aufweist:
- - externes elektrisches Kontaktieren
650 der mindestens einen ersten Bauelementsegment und einen zweiten Bauelementsegment mittels eines Aufbringens derLeiterstruktur 322 ,422 auf oder über die erste Seite103a ,203a ,303a ,403a ,803a ,903a , 1003a und/oder die zweite Seite103b ,203b ,303b ,403b ,803b ,903b , 1003b desSubstrats 102 ,202 ,302 ,402 ,802 ,902 ,1002 , wobei ein Bauelementsegment jeweils mittels mindestens eines elektrisch leitenden Durchkontakts104 ,204 ,304 ,404 ,804 ,904 ,1004 mit mindestens einer Leiterbahn320 ,420 der Leiterstruktur 322 ,422 elektrisch leitend verbunden wird.
the method further comprises:
- - external electrical contact
650 the at least one first component segment and a second component segment by means of an application of theconductor structure 322 .422 on or over thefirst page 103a .203a .303a .403a .803a .903a , 1003a and / or thesecond page 103b .203b .303b .403b .803b .903b , 1003b of thesubstrate 102 .202 .302 .402 .802 .902 .1002 , wherein a component segment in each case by means of at least one electrically conductive throughcontact 104 .204 .304 .404 .804 .904 .1004 with at least one track320 .420 theladder structure 322 .422 electrically connected.
Gemäß einem elften Ausführungsbeispiel kann das Verfahren
Gemäß einem zwölften Ausführungsbeispiel kann das Verfahren
Gemäß einem dreizehnten Ausführungsbeispiel kann das Verfahren
Gemäß einem
- - eine Schichtenstruktur aufweisend:
ein Substrat 102 ,202 ,302 ,402 ,802 ,902 ,1002 mit einer ersten Seite103a ,203a ,303a ,403a ,803a ,903a , 1003a und einer der ersten Seite gegenüberliegenden,zweiten Seite 103b ,203b ,303b ,403b ,803b ,903b , 1003b, eine elektrisch leitende Schicht106 ,206 ,306 ,406 ,806 ,906 ,1006 auf der ersten Seite103a ,203a ,303a ,403a ,803a ,903a , 1003a desSubstrats 102 ,202 ,302 ,402 ,802 ,902 ,1002 , und- mehrere elektrisch leitende Durchkontakte
104 ,204 ,304 ,404 ,804 ,904 ,1004 durch das Substrat 102 ,202 ,302 ,402 ,802 ,902 ,1002 , welche die erste Seite103a ,203a ,303a ,403a ,803a ,903a , 1003a mit der zweiten Seite103b ,203b ,303b ,403b ,803b ,903b , 1003b elektrisch leitend verbinden, und mit der elektrisch leitenden Schicht106 ,206 ,306 ,406 ,806 ,906 ,1006 elektrisch leitend verbunden sind, - wobei die elektrisch leitende Schicht
106 ,206 ,306 ,406 ,806 ,906 ,1006 mindestens einen ersten Bereich108a ,208a ,308a ,408a ,808a ,908a ,1008a und einen von dem ersten Bereich elektrisch isolierten zweiten Bereich108b ,108c ,108d ,108e ,208b ,208c ,208d ,208e ,308b ,308c ,308d ,408b ,408c ,408d ,808b ,808c ,808d ,808e ,908b ,908c ,908d ,908e ,1008b ,1008c ,1008d ,1008e aufweist, wobei jeweils der erste Bereich108a ,208a ,308a ,408a ,808a ,908a ,1008a und der zweite Bereich108b ,108c ,108d ,108e ,208b ,208c ,208d ,208e ,308b ,308c ,308d ,408b ,408c ,408d ,808b ,808c ,808d ,808e ,908b ,908c ,908d ,908e ,1008b ,1008c ,1008d ,1008e mit mindestens einem elektrisch leitenden Durchkontakt104 ,204 ,304 ,404 ,804 ,904 ,1004 der mehreren elektrisch leitenden Durchkontakte elektrisch leitend verbunden sind;
- - einen optoelektronischen Schichtenstapel
110 ,210 ,310 ,410 ,810 ,910 ,1010 auf oder über mindestens dem ersten Bereich108a ,208a ,308a ,408a ,808a ,908a ,1008a und dem zweiten Bereich108b ,108c ,108d ,108e ,208b ,208c ,208d ,208e ,308b ,308c ,308d ,408b ,408c ,408d ,808b ,808c ,808d ,808e ,908b ,908c ,908d ,908e ,1008b ,1008c ,1008d ,1008e der elektrisch leitenden Schicht106 ,206 ,306 ,406 ,806 ,906 ,1006 ; - - eine weitere elektrisch leitende Schicht
112 ,212 ,312 ,412 ,812 ,912 ,1012 auf oder überdem optoelektronischen Schichtenstapel 110 ,210 ,310 ,410 ,810 ,910 ,1010 , wobei die weitere elektrisch leitende Schicht112 ,212 ,312 ,412 ,812 ,912 ,1012 ausgebildet ist, sodass in dem ersten Bereich108a ,208a ,308a ,408a ,808a ,908a ,1008a ein erstes optoelektronisches Bauelementsegment und indem zweiten Bereich 108b ,108c ,108d ,108e ,208b ,208c ,208d ,208e ,308b ,308c ,308d ,408b ,408c ,408d ,808b ,808c ,808d ,808e ,908b ,908c ,908d ,908e ,1008b ,1008c ,1008d ,1008e ein zweites optoelektronisches Bauelementsegment gebildet sind; - -
eine Verkapselungsstruktur 114 ,214 ,314 ,414 ,814 ,914 ,1014 auf oder über der weiteren elektrisch leitenden Schicht112 ,212 ,312 ,412 ,812 ,912 ,1012 ,wobei die Verkapselungsstruktur 114 ,214 ,314 ,414 ,814 ,914 ,1014 derart ausgebildet ist, dass das erste optoelektronische Bauelementsegment und das zweite optoelektronische Bauelementsegment gemeinsam verkapselt sind.
- - a layered structure comprising:
- a
substrate 102 .202 .302 .402 .802 .902 .1002 with afirst page 103a .203a .303a .403a .803a .903a , 1003a and a second side opposite thefirst side 103b .203b .303b .403b .803b .903b , 1003b, an electricallyconductive layer 106 .206 .306 .406 .806 .906 .1006 on thefirst page 103a .203a .303a .403a .803a .903a , 1003a of thesubstrate 102 .202 .302 .402 .802 .902 .1002 , and - several electrically
conductive vias 104 .204 .304 .404 .804 .904 .1004 through thesubstrate 102 .202 .302 .402 .802 .902 .1002 which is thefirst page 103a .203a .303a .403a .803a .903a , 1003a with thesecond page 103b .203b .303b .403b .803b .903b , 1003b electrically conductively connect, and with the electricallyconductive layer 106 .206 .306 .406 .806 .906 .1006 are electrically connected, - wherein the electrically
conductive layer 106 .206 .306 .406 .806 .906 .1006 at least afirst area 108a .208a .308a .408a .808a .908a .1008a and a second region electrically isolated from thefirst region 108b .108c .108 d .108e .208b .208c .208d .208e .308b .308c .308d .408b .408c .408d .808b .808c .808d .808e .908b .908c .908D .908e .1008b .1008c .1008D .1008E each having thefirst area 108a .208a .308a .408a .808a .908a .1008a and thesecond area 108b .108c .108 d .108e .208b .208c .208d .208e .308b .308c .308d .408b .408c .408d .808b .808c .808d .808e .908b .908c .908D .908e .1008b .1008c .1008D .1008E with at least one electrically conductive throughcontact 104 .204 .304 .404 .804 .904 .1004 the plurality of electrically conductive vias are electrically connected;
- a
- - An
optoelectronic layer stack 110 .210 .310 .410 .810 .910 .1010 on or over at least thefirst area 108a .208a .308a .408a .808a .908a .1008a and thesecond area 108b .108c .108 d .108e .208b .208c .208d .208e .308b .308c .308d .408b .408c .408d .808b .808c .808d .808e .908b .908c .908D .908e .1008b .1008c .1008D .1008E the electricallyconductive layer 106 .206 .306 .406 .806 .906 .1006 ; - - Another electrically
conductive layer 112 .212 .312 .412 .812 .912 .1012 on or above theoptoelectronic layer stack 110 .210 .310 .410 .810 .910 .1010 , wherein the further electricallyconductive layer 112 .212 .312 .412 .812 .912 .1012 is formed so that in thefirst area 108a .208a .308a .408a .808a .908a .1008a a first opto-electronic device segment and in thesecond region 108b .108c .108 d .108e .208b .208c .208d .208e .308b .308c .308d .408b .408c .408d .808b .808c .808d .808e .908b .908c .908D .908e .1008b .1008c .1008D .1008E a second optoelectronic component segment are formed; - - An
encapsulation structure 114 .214 .314 .414 .814 .914 .1014 on or over the further electricallyconductive layer 112 .212 .312 .412 .812 .912 .1012 , wherein theencapsulation structure 114 .214 .314 .414 .814 .914 .1014 is formed such that the first optoelectronic component segment and the second optoelectronic component segment are encapsulated together.
Gemäß einem
Gemäß einem
Gemäß einem
Gemäß einem
Gemäß einem
Die Erfindung ist nicht auf die angegebenen Ausführungsbeispiele beschränkt. Beispielsweise können mehrere unterschiedliche nebeneinander oder übereinander angeordnete optoelektronische Bauelemente in Form eines Displays verwendet werden.The invention is not limited to the specified embodiments. For example, a plurality of different juxtaposed or stacked optoelectronic components can be used in the form of a display.
Referenzenreferences
-
[1].
J. Y. Lee, S. K. Lee, and J. H. Park, „Fabrication of void-free copper filled through-glass-via for waferlevel RF MEMS packaging,“ Electronics Letters, vol. 48, pp. 1076-1077, 2012 JY Lee, SK Lee, and JH Park, "Fabrication of void-free copper filled through-glass-via for wafer level RF MEMS packaging," Electronics Letters, vol. 48, pp. 1076-1077, 2012 -
[2].
I. SCHOTT North America. (2014, 01/20/2014). Ultra-Thin Glass. Available: http://www.us.schott.com/advanced optics/english/products/wafers-and-thin- glass/glasswafer-and-substrates/ultra-thin-glass/index.htmlS. Saeki. (2012) I. SCHOTT North America. (2014, 01/20/2014). Ultra-thin glass. Available at: http://www.us.schott.com/advanced optics / english / products / wafers-and-thin-glass / glasswafer-and-substrates / ultra-thin-glass / index.html. Saeki. (2012) - [3]. H. C. USA. Glass Circuit Board (GCB) with Photosensitive Glass [Online]. Available: http://www.hoyaoptics.com/pdf/photosensitive glass circuit board.pdf[3]. H.C. USA. Glass Circuit Board (GCB) with Photosensitive Glass [Online]. available: http://www.hoyaoptics.com/pdf/photosensitive glass circuit board.pdf
- [4]. Asahi Glass Makes It Easy to Handle 0.1mm-thick Glass Substrate.Available: http://techon.nikkeibp.co.ip/english/NEWS EN/20120602/221251/[4]. Asahi Glass Makes It Easy to Handle 0.1mm-thick Glass Substrate.Available: http: //techon.nikkeibp.co.ip/english/NEWS EN / 20120602/221251 /
-
[5].
T. Akashi, Y. Yoshimura, and S. Higashiyama, „Deep reactive ion etching of pyrex glass using a bonded silicon wafer as an etching mask,“ in Micro Electro Mechanical Systems, 2005. MEMS 2005. 18th IEEE International Conference on, 2005, pp. 520-523 T. Akashi, Y. Yoshimura, and S. Higashiyama, "Deep reactive ion etching of pyrex glass using a bonded silicon wafer as an etching mask," in Micro Electro Mechanical Systems, 2005. MEMS 2005. 18th IEEE International Conference on, 2005 , pp. 520-523 -
[6].
L. Li, T. Abe, and M. Esashi, „Smooth surface glass etching by deep reactive ion etching with SF6 and Xe gases,“ Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, vol. 21, pp. 2545¬2549, 2003 Li, T. Abe, and M. Esashi, "Smooth Surface Glass Etching with SF6 and Xe gases," Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, vol. 21, pp. 2545-2549, 2003 -
[7].
X. Li, T. Abe, and M. Esashi, „Deep reactive ion etching of Pyrex glass using SF6 plasma,“ Sensors and Actuators A: Physical, vol. 87, pp. 139-145, 1/5/ 2001 X. Li, T. Abe, and M. Esashi, "Deep reactive ion etching of Pyrex glass using SF6 plasma," Sensors and Actuators A: Physical, vol. 87, pp. 139-145, 1/5/2001 -
[8].
A. Ben-Yarkar, „Morphology of femtosecond-laser-ablated borosilicate glass surfaces“ Applied Physics Letters, vol. 83, 2003 A. Ben-Yarkar, "Morphology of femtosecond-laser ablated borosilicates glass surfaces" Applied Physics Letters, vol. 83, 2003 -
[9].
A. Ben-Yarkar, „Femtosecond laser ablation properties of borosilicate glass,“ Journal of Applied Physics, vol. 96, 2004 A. Ben-Yarkar, "Femtosecond laser properties of borosilicate glass," Journal of Applied Physics, vol. 96, 2004 -
[10].
Y.-T. Chen, „Excimer laser ablation of glass-based arrayed microstructures for biomedical, mechanical, and optical applications“ Journal of Laser Applications, vol. 17, 2005 Y.-T. Chen, "Excimer laser ablation of glass-based arrayed microstructures for biomedical, mechanical, and optical applications" Journal of Laser Applications, vol. 17, 2005 -
[11].
D. Bhatt, K. Williams, D. A. Hutt, and P. P. Conway, „Process Optimisation and Characterization of Excimer Laser Drilling of Microvias in Glass,“ in Electronics Packaging Technology Conference, 2007. EPTC 2007. 9th, 2007, pp. 196-201 D. Bhatt, K. Williams, DA Hutt, and PP Conway, "Process Optimization and Characterization of Excimer Laser Drilling of Microvias in Glass," in Electronics Packaging Technology Conference, 2007. EPTC 2007. 9th, 2007, pp. 196-201 -
[12].
K. Bernd, „Drilling of glass by excimer laser mask projection technique,“ Journal of Laser Applications, vol. 12, pp. 189-193, 2000 K. Bernd, "Drilling of glass by excimer laser mask projection technique," Journal of Laser Applications, vol. 12, pp. 189-193, 2000 -
[13].
A. A. Tseng, Y.-T. Chen, and K.J. Ma, „Fabrication of high-aspect-ratio microstructures using excimer laser,“ Optics and Lasers in Engineering, vol. 41, pp. 827-847, 6// 2004 AA Tseng, Y.-T. Chen, and KJ Ma, "Fabrication of high aspect ratio microstructures using excimer lasers," Optics and Lasers in Engineering, vol. 41, pp. 827-847, 6 // 2004 -
[14].
L. Brusberg, M. Queisser, C. Gentsch, H. Schröder, and K.-D. Lang, „Advances in CO2-Laser Drilling of Glass Substrates,“ Physics Procedia, vol. 39, pp. 548-555, // 2012 Brusberg, M. Queisser, C. Gentsch, H. Schröder, and K.-D. Lang, Advances in CO2 Laser Drilling of Glass Substrates, Physics Procedia, vol. 39, pp. 548-555, // 2012 -
[15].
C. K. Chung, H. C. Chang, T. R. Shih, S. L. Lin, E. J. Hsiao, Y. S. Chen, et al., „Water-assisted CO2 laser ablated glass and modified thermal bonding for capillary-driven bio-fluidic application,“ Biomedical Microdevices, vol. 12, pp. 107-114, 2010/02/01 2010 CK Chung, HC Chang, TR Shih, SL Lin, EJ Hsiao, YS Chen, et al., "Water-assisted CO2 laser ablated glass and modified thermal bonding for capillary-driven bio-fluidic application," Biomedical Microdevices, vol. 12, pp. 107-114, 2010/02/01 2010 -
[16].
S. Yu, Y. Daquan, H. Ran, D. Fengwei, S. Xiaofeng, and W. Lixi, „The development of low cost Through Glass Via (TGV) interposer using additive method for via filling,“ in Electronic Packaging Technology and High Density Packaging (ICEPT-HDP), 2012 13th International Conference on, 2012, pp. 49-51 S. Yu, Y. Daquan, H. Ran, D. Fengwei, S. Xiaofeng, and W. Lixi, "The Development of Low Cost Through Glass Via (TGV) Interposer using Additive Method for via Filling," in Electronic Packaging Technology and High Density Packaging (ICEPT-HDP), 2012 13th International Conference on, 2012, pp. 49-51 -
[17].
O. Nukaga, T. Shioiri, S. Yamamoto, and T. Suemasu, „Glass interposer with high-density three-dimensional structured TGV for 3D system integration,“ in 3D Systems Integration Conference (3DIC), 2013 IEEE International, 2013, pp. 1-4 O. Nukaga, T. Shioiri, S. Yamamoto, and T. Suemasu, "Glass Interposer with High-density Three-dimensional Structured TGV for 3D System Integration," in 3D Systems Integration Conference (3DIC), 2013 IEEE International, 2013, pp. 1-4 -
[18].
S. Garner. Ultra-slim Flexible Glass Substrates for Display Applications [Online]. Available: www.corning.com/WorkArea/downloadasset.aspx?id=50407 S. Garner. Ultra-slim Flexible Glass Substrate for Display Applications [Online]. Available at: www.corning.com/WorkArea/downloadasset.aspx?id=50407
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- 1, 150, 250, 350, 450, 850, 950, 10501, 150, 250, 350, 450, 850, 950, 1050
- optoelektronisches Bauelementoptoelectronic component
- 12, 102, 202, 302, 402, 802, 902, 100212, 102, 202, 302, 402, 802, 902, 1002
- Substratsubstratum
- 1414
- Elektrodenschichtelectrode layer
- 16, 1816, 18
- KontaktabschnittContact section
- 20, 2320, 23
- Elektrodeelectrode
- 2121
- elektrische Isolierungsbarriereelectrical insulation barrier
- 2222
- optoelektronische Schichtenstrukturoptoelectronic layer structure
- 2424
- Verkapselungsschichtencapsulation
- 32, 3432, 34
- Kontaktbereichcontact area
- 3636
- HaftmittelschichtAdhesive layer
- 3838
- Abdeckkörpercovering
- 103a, 103b, 203a, 203b, 303a, 303b, 403a, 403b, 803a, 903a, 1003a, 803b, 903b, 1003b103a, 103b, 203a, 203b, 303a, 303b, 403a, 403b, 803a, 903a, 1003a, 803b, 903b, 1003b
- Substratsseitesubstrate side
- 104, 104a, 104b, 104c, 104d, 104e, 204a, 204b, 204c, 204d, 204e, 304a, 304b, 304c, 304d, 304e, 404a, 404b, 404c, 404d, , 804, 904, 1004104, 104a, 104b, 104c, 104d, 104e, 204a, 204b, 204c, 204d, 204e, 304a, 304b, 304c, 304d, 304e, 404a, 404b, 404c, 404d,, 804, 904, 1004
- elektrisch leitender Durchkontaktelectrically conductive through contact
- 106, 206, 306, 406, 806, 906, 1006106, 206, 306, 406, 806, 906, 1006
- elektrisch leitende Schichtelectrically conductive layer
- 108a, 108b, 108c, 108d, 108e, 208a, 208b, 208c, 208d, 208e, 308a, 308b, 308c, 308d, 308e, 408a, 408b, 408c, 408d, 408d, 808a, 908a, 1008a, 808b, 808c, 808d, 808e, 908b, 908c, 908d, 908e, 1008b, 1008c, 1008d, 1008e108a, 108b, 108c, 108d, 108e, 208a, 208b, 208c, 208d, 208e, 308a, 308b, 308c, 308d, 308e, 408a, 408b, 408c, 408d, 408d, 808a, 908a, 1008a, 808b, 808c, 808d, 808e, 908b, 908c, 908d, 908e, 1008b, 1008c, 1008d, 1008e
- BereichArea
- 110, 210, 310, 410, 810, 910, 1010110, 210, 310, 410, 810, 910, 1010
- optoelektronischer SchichtenstapelOptoelectronic layer stack
- 112, 212, 312, 412, 812, 912, 1012112, 212, 312, 412, 812, 912, 1012
- weitere elektrisch leitende Schichtanother electrically conductive layer
- 114, 214, 314, 414, 814, 914, 1014114, 214, 314, 414, 814, 914, 1014
- VerkapselungsstrukturEncapsulation
- 118a, 118b, 118c, 118d, 218a, 218b, 218c, 218d, 318a, 318b, 318c, 318d, 418a, 418b, 418c, 818a, 918a, 1018a, 818b, 818c, 818d, 918b, 918c, 918d, 1018b, 1018c, 1018d118a, 118b, 118c, 118d, 218a, 218b, 218c, 218d, 318a, 318b, 318c, 318d, 418a, 418b, 418c, 818a, 918a, 1018a, 818b, 818c, 818d, 918b, 918c, 918d, 1018b, 1018c, 1018d
- optoelektronisches Bauelementsegmentoptoelectronic component segment
- 203203
- elektrisch leitende Strukturelectrically conductive structure
- 316316
- anisotrop leitender Klebstoffanisotropically conductive adhesive
- 320a, 320b, 320c, 320d, 320e, 422b320a, 320b, 320c, 320d, 320e, 422b
- Leiterbahnconductor path
- 322, 422322, 422
- Leiterstrukturconductor structure
- 422a422a
- Leiterplattecircuit board
- 600600
- Verfahrenmethod
- 620, 640, 660, 680620, 640, 660, 680
- Verfahrensschrittstep
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.This list of the documents listed by the applicant has been generated automatically and is included solely for the better information of the reader. The list is not part of the German patent or utility model application. The DPMA assumes no liability for any errors or omissions.
Zitierte Nicht-PatentliteraturCited non-patent literature
- J. Y. Lee, S. K. Lee, and J. H. Park, „Fabrication of void-free copper filled through-glass-via for waferlevel RF MEMS packaging,“ Electronics Letters, vol. 48, pp. 1076-1077, 2012 [0151]J. Y. Lee, S.K. Lee, and J.H. Park, "Fabrication of void-free copper-filled-through-glass-via-for-wafer-level RF MEMS packaging," Electronics Letters, vol. 48, pp. 1076-1077, 2012 [0151]
- I. SCHOTT North America. (2014, 01/20/2014). Ultra-Thin Glass. Available: http://www.us.schott.com/advanced optics/english/products/wafers-and-thin- glass/glasswafer-and-substrates/ultra-thin-glass/index.htmlS. Saeki. (2012) [0151]I. SCHOTT North America. (2014, 01/20/2014). Ultra-thin glass. Available at: http://www.us.schott.com/advanced optics / english / products / wafers-and-thin-glass / glasswafer-and-substrates / ultra-thin-glass / index.html. Saeki. (2012) [0151]
- T. Akashi, Y. Yoshimura, and S. Higashiyama, „Deep reactive ion etching of pyrex glass using a bonded silicon wafer as an etching mask,“ in Micro Electro Mechanical Systems, 2005. MEMS 2005. 18th IEEE International Conference on, 2005, pp. 520-523 [0151]T. Akashi, Y. Yoshimura, and S. Higashiyama, "Deep reactive ion etching of pyrex glass using a bonded silicon wafer as an etching mask," in Micro Electro Mechanical Systems, 2005. MEMS 2005. 18th IEEE International Conference on, 2005 , pp. 520-523 [0151]
- L. Li, T. Abe, and M. Esashi, „Smooth surface glass etching by deep reactive ion etching with SF6 and Xe gases,“ Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, vol. 21, pp. 2545¬2549, 2003 [0151]Li, T. Abe, and M. Esashi, "Smooth Surface Glass Etching with SF6 and Xe gases," Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, vol. 21, pp. 2545 2525, 2003 [0151]
- X. Li, T. Abe, and M. Esashi, „Deep reactive ion etching of Pyrex glass using SF6 plasma,“ Sensors and Actuators A: Physical, vol. 87, pp. 139-145, 1/5/ 2001 [0151]X. Li, T. Abe, and M. Esashi, "Deep reactive ion etching of Pyrex glass using SF6 plasma," Sensors and Actuators A: Physical, vol. 87, pp. 139-145, 1/5/2001 [0151]
- A. Ben-Yarkar, „Morphology of femtosecond-laser-ablated borosilicate glass surfaces“ Applied Physics Letters, vol. 83, 2003 [0151]A. Ben-Yarkar, "Morphology of femtosecond-laser ablated borosilicates glass surfaces" Applied Physics Letters, vol. 83, 2003 [0151]
- A. Ben-Yarkar, „Femtosecond laser ablation properties of borosilicate glass,“ Journal of Applied Physics, vol. 96, 2004 [0151]A. Ben-Yarkar, "Femtosecond laser properties of borosilicate glass," Journal of Applied Physics, vol. 96, 2004 [0151]
- Y.-T. Chen, „Excimer laser ablation of glass-based arrayed microstructures for biomedical, mechanical, and optical applications“ Journal of Laser Applications, vol. 17, 2005 [0151]Y.-T. Chen, "Excimer laser ablation of glass-based arrayed microstructures for biomedical, mechanical, and optical applications" Journal of Laser Applications, vol. 17, 2005 [0151]
- D. Bhatt, K. Williams, D. A. Hutt, and P. P. Conway, „Process Optimisation and Characterization of Excimer Laser Drilling of Microvias in Glass,“ in Electronics Packaging Technology Conference, 2007. EPTC 2007. 9th, 2007, pp. 196-201 [0151]D. Bhatt, K. Williams, D.A. Hutt, and P. P. Conway, "Process Optimization and Characterization of Excimer Laser Drilling of Microvias in Glass," in Electronics Packaging Technology Conference, 2007. EPTC 2007. 9th, 2007, pp. 196-201 [0151]
- K. Bernd, „Drilling of glass by excimer laser mask projection technique,“ Journal of Laser Applications, vol. 12, pp. 189-193, 2000 [0151]K. Bernd, "Drilling of glass by excimer laser mask projection technique," Journal of Laser Applications, vol. 12, pp. 189-193, 2000 [0151]
- A. A. Tseng, Y.-T. Chen, and K.J. Ma, „Fabrication of high-aspect-ratio microstructures using excimer laser,“ Optics and Lasers in Engineering, vol. 41, pp. 827-847, 6// 2004 [0151]A.A. Tseng, Y.-T. Chen, and K.J. Ma, "Fabrication of high aspect ratio microstructures using excimer lasers," Optics and Lasers in Engineering, vol. 41, pp. 827-847, 6 // 2004 [0151]
- L. Brusberg, M. Queisser, C. Gentsch, H. Schröder, and K.-D. Lang, „Advances in CO2-Laser Drilling of Glass Substrates,“ Physics Procedia, vol. 39, pp. 548-555, // 2012 [0151]Brusberg, M. Queisser, C. Gentsch, H. Schröder, and K.-D. Lang, Advances in CO2 Laser Drilling of Glass Substrates, Physics Procedia, vol. 39, pp. 548-555, // 2012 [0151]
- C. K. Chung, H. C. Chang, T. R. Shih, S. L. Lin, E. J. Hsiao, Y. S. Chen, et al., „Water-assisted CO2 laser ablated glass and modified thermal bonding for capillary-driven bio-fluidic application,“ Biomedical Microdevices, vol. 12, pp. 107-114, 2010/02/01 2010 [0151]C.K. Chung, H.C. Chang, T.R. Shih, S.L. Lin, E.J. Hsiao, Y.S.Chen, et al., "Water-assisted CO2 laser ablated glass and modified thermal bonding for capillary-driven bio-fluidic application," Biomedical Microdevices, vol. 12, pp. 107-114, 2010/02/01 2010 [0151]
- S. Yu, Y. Daquan, H. Ran, D. Fengwei, S. Xiaofeng, and W. Lixi, „The development of low cost Through Glass Via (TGV) interposer using additive method for via filling,“ in Electronic Packaging Technology and High Density Packaging (ICEPT-HDP), 2012 13th International Conference on, 2012, pp. 49-51 [0151]S. Yu, Y. Daquan, H. Ran, D. Fengwei, S. Xiaofeng, and W. Lixi, "The Development of Low Cost Through Glass Via (TGV) Interposer using Additive Method for via Filling," in Electronic Packaging Technology and High Density Packaging (ICEPT-HDP), 2012 13th International Conference on, 2012, pp. 49-51 [0151]
- O. Nukaga, T. Shioiri, S. Yamamoto, and T. Suemasu, „Glass interposer with high-density three-dimensional structured TGV for 3D system integration,“ in 3D Systems Integration Conference (3DIC), 2013 IEEE International, 2013, pp. 1-4 [0151]O. Nukaga, T. Shioiri, S. Yamamoto, and T. Suemasu, "Glass Interposer with High-density Three-dimensional Structured TGV for 3D System Integration," in 3D Systems Integration Conference (3DIC), 2013 IEEE International, 2013, pp. 1-4 [0151]
- S. Garner. Ultra-slim Flexible Glass Substrates for Display Applications [Online]. Available: www.corning.com/WorkArea/downloadasset.aspx?id=50407 [0151]S. Garner. Ultra-slim Flexible Glass Substrate for Display Applications [Online]. Available at: www.corning.com/WorkArea/downloadasset.aspx?id=50407 [0151]
Claims (16)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102017113924.9A DE102017113924A1 (en) | 2017-06-23 | 2017-06-23 | Method for producing an optoelectronic component and optoelectronic component |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102017113924.9A DE102017113924A1 (en) | 2017-06-23 | 2017-06-23 | Method for producing an optoelectronic component and optoelectronic component |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102017113924A1 true DE102017113924A1 (en) | 2018-12-27 |
Family
ID=64567568
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102017113924.9A Withdrawn DE102017113924A1 (en) | 2017-06-23 | 2017-06-23 | Method for producing an optoelectronic component and optoelectronic component |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102017113924A1 (en) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008021402A1 (en) * | 2008-04-29 | 2009-11-05 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Surface-mountable light-emitting diode module and method for producing a surface-mountable light-emitting diode module |
DE102008049777A1 (en) * | 2008-05-23 | 2009-11-26 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelectronic module |
DE102010045783A1 (en) * | 2010-09-17 | 2012-03-22 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Carrier substrate for an optoelectronic component, method for its production and optoelectronic component |
KR20160038959A (en) * | 2014-09-30 | 2016-04-08 | 엘지디스플레이 주식회사 | Flexible display apparatus and method for manufacturing thereof |
DE102015101531A1 (en) * | 2015-02-03 | 2016-08-04 | Osram Oled Gmbh | Organic light emitting device and light emitting device |
-
2017
- 2017-06-23 DE DE102017113924.9A patent/DE102017113924A1/en not_active Withdrawn
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008021402A1 (en) * | 2008-04-29 | 2009-11-05 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Surface-mountable light-emitting diode module and method for producing a surface-mountable light-emitting diode module |
DE102008049777A1 (en) * | 2008-05-23 | 2009-11-26 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelectronic module |
DE102010045783A1 (en) * | 2010-09-17 | 2012-03-22 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Carrier substrate for an optoelectronic component, method for its production and optoelectronic component |
KR20160038959A (en) * | 2014-09-30 | 2016-04-08 | 엘지디스플레이 주식회사 | Flexible display apparatus and method for manufacturing thereof |
DE102015101531A1 (en) * | 2015-02-03 | 2016-08-04 | Osram Oled Gmbh | Organic light emitting device and light emitting device |
Non-Patent Citations (16)
Title |
---|
A. A. Tseng, Y.-T. Chen, and K.J. Ma, „Fabrication of high-aspect-ratio microstructures using excimer laser," Optics and Lasers in Engineering, vol. 41, pp. 827-847, 6// 2004 |
A. Ben-Yarkar, „Femtosecond laser ablation properties of borosilicate glass," Journal of Applied Physics, vol. 96, 2004 |
A. Ben-Yarkar, „Morphology of femtosecond-laser-ablated borosilicate glass surfaces" Applied Physics Letters, vol. 83, 2003 |
C. K. Chung, H. C. Chang, T. R. Shih, S. L. Lin, E. J. Hsiao, Y. S. Chen, et al., „Water-assisted CO2 laser ablated glass and modified thermal bonding for capillary-driven bio-fluidic application," Biomedical Microdevices, vol. 12, pp. 107-114, 2010/02/01 2010 |
D. Bhatt, K. Williams, D. A. Hutt, and P. P. Conway, „Process Optimisation and Characterization of Excimer Laser Drilling of Microvias in Glass," in Electronics Packaging Technology Conference, 2007. EPTC 2007. 9th, 2007, pp. 196-201 |
I. SCHOTT North America. (2014, 01/20/2014). Ultra-Thin Glass. Available: http://www.us.schott.com/advanced optics/english/products/wafers-and-thin- glass/glasswafer-and-substrates/ultra-thin-glass/index.htmlS. Saeki. (2012) |
J. Y. Lee, S. K. Lee, and J. H. Park, „Fabrication of void-free copper filled through-glass-via for waferlevel RF MEMS packaging," Electronics Letters, vol. 48, pp. 1076-1077, 2012 |
K. Bernd, „Drilling of glass by excimer laser mask projection technique," Journal of Laser Applications, vol. 12, pp. 189-193, 2000 |
L. Brusberg, M. Queisser, C. Gentsch, H. Schröder, and K.-D. Lang, „Advances in CO2-Laser Drilling of Glass Substrates," Physics Procedia, vol. 39, pp. 548-555, // 2012 |
L. Li, T. Abe, and M. Esashi, „Smooth surface glass etching by deep reactive ion etching with SF6 and Xe gases," Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, vol. 21, pp. 2545¬2549, 2003 |
O. Nukaga, T. Shioiri, S. Yamamoto, and T. Suemasu, „Glass interposer with high-density three-dimensional structured TGV for 3D system integration," in 3D Systems Integration Conference (3DIC), 2013 IEEE International, 2013, pp. 1-4 |
S. Garner. Ultra-slim Flexible Glass Substrates for Display Applications [Online]. Available: www.corning.com/WorkArea/downloadasset.aspx?id=50407 |
S. Yu, Y. Daquan, H. Ran, D. Fengwei, S. Xiaofeng, and W. Lixi, „The development of low cost Through Glass Via (TGV) interposer using additive method for via filling," in Electronic Packaging Technology and High Density Packaging (ICEPT-HDP), 2012 13th International Conference on, 2012, pp. 49-51 |
T. Akashi, Y. Yoshimura, and S. Higashiyama, „Deep reactive ion etching of pyrex glass using a bonded silicon wafer as an etching mask," in Micro Electro Mechanical Systems, 2005. MEMS 2005. 18th IEEE International Conference on, 2005, pp. 520-523 |
X. Li, T. Abe, and M. Esashi, „Deep reactive ion etching of Pyrex glass using SF6 plasma," Sensors and Actuators A: Physical, vol. 87, pp. 139-145, 1/5/ 2001 |
Y.-T. Chen, „Excimer laser ablation of glass-based arrayed microstructures for biomedical, mechanical, and optical applications" Journal of Laser Applications, vol. 17, 2005 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102010032834B4 (en) | Optoelectronic device and method for its manufacture | |
DE102008020816B4 (en) | Organic light-emitting diode, planar, optically active element with a contact arrangement and method for producing an organic light-emitting diode | |
DE102012109140B4 (en) | Optoelectronic component and method for producing an optoelectronic component | |
EP2294642B1 (en) | Method for producing an organic electronic component | |
DE102012214325B4 (en) | Method for producing an optoelectronic component and method for structuring an organic, optoelectronic component | |
DE102016125938A1 (en) | Flexible, optoelectronic component and method for producing the flexible, optoelectronic component | |
DE102006059168B4 (en) | Optoelectronic device and method of manufacturing an optoelectronic device | |
DE102017113924A1 (en) | Method for producing an optoelectronic component and optoelectronic component | |
WO2016146439A1 (en) | Organic optoelectronic component and method for producing an organic optoelectronic component | |
WO2017071948A1 (en) | Optoelectronic component and method for producing an optoelectronic component | |
DE102016109490A1 (en) | METHOD FOR PRODUCING AN ORGANIC OPTOELECTRONIC COMPONENT AND ORGANIC OPTOELECTRONIC COMPONENT | |
DE102015116055B4 (en) | Flat light-emitting component and method for producing a flat light-emitting component | |
WO2015110417A1 (en) | Light-emitting component and method for producing a light-emitting component | |
DE112015001312B4 (en) | Organic radiation-emitting device and method | |
EP3075017B1 (en) | Electronic component | |
DE102015100099B4 (en) | Method for producing an organic light-emitting component | |
WO2016146438A1 (en) | Method for producing an optoelectronic component | |
DE112015003561B4 (en) | organic component | |
WO2008083671A1 (en) | Optoelectronic device, and method for the production thereof | |
DE102020123553A1 (en) | Organic light emitting diode module | |
WO2014049046A1 (en) | Method for ascertaining the permeability of a dielectric layer of an optoelectronic component; apparatus for ascertaining the permeability of a dielectric layer of an optoelectronic component; optoelectronic component and method for producing an optoelectronic component | |
WO2014048917A1 (en) | Optoelectronic component and method for producing an optoelectronic component | |
DE102015103041A1 (en) | Optoelectronic component and method for producing an optoelectronic component | |
WO2017118574A1 (en) | Method for producing organic light-emitting diodes, and organic light-emitting diodes | |
DE102017119481A1 (en) | OPTOELECTRONIC COMPONENT AND METHOD FOR MANUFACTURING AN OPTOELECTRONIC COMPONENT |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R163 | Identified publications notified | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |