DE102013108148A1 - Elektrische Vorrichtungspackung mit einem Laminat und Verfahren zur Herstellung einer elektrischen Vorrichtungspackung mit einem Laminat - Google Patents
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- H01L2224/29298—Fillers
- H01L2224/29299—Base material
- H01L2224/293—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/29338—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/29339—Silver [Ag] as principal constituent
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- H01L2224/29198—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
- H01L2224/29298—Fillers
- H01L2224/29299—Base material
- H01L2224/293—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/29338—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/29344—Gold [Au] as principal constituent
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- H01L2224/29198—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
- H01L2224/29298—Fillers
- H01L2224/29299—Base material
- H01L2224/293—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/29338—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/29347—Copper [Cu] as principal constituent
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- H01L2224/29099—Material
- H01L2224/29198—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
- H01L2224/29298—Fillers
- H01L2224/29299—Base material
- H01L2224/293—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/29338—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/29355—Nickel [Ni] as principal constituent
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- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32135—Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
- H01L2224/32145—Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being stacked
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- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
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- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/33—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of a plurality of layer connectors
- H01L2224/331—Disposition
- H01L2224/3318—Disposition being disposed on at least two different sides of the body, e.g. dual array
- H01L2224/33181—On opposite sides of the body
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- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L2224/40—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
- H01L2224/4005—Shape
- H01L2224/4009—Loop shape
- H01L2224/40095—Kinked
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- H01L2224/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L2224/40—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
- H01L2224/401—Disposition
- H01L2224/40151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/40221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/40245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
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- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L2224/40—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
- H01L2224/401—Disposition
- H01L2224/40151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/40221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/40245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/40247—Connecting the strap to a bond pad of the item
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- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L2224/40—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
- H01L2224/401—Disposition
- H01L2224/40151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/40221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/40245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/40247—Connecting the strap to a bond pad of the item
- H01L2224/40249—Connecting the strap to a bond pad of the item the bond pad protruding from the surface of the item
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- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L2224/41—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of a plurality of strap connectors
- H01L2224/4101—Structure
- H01L2224/4103—Connectors having different sizes
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- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/4501—Shape
- H01L2224/45012—Cross-sectional shape
- H01L2224/45014—Ribbon connectors, e.g. rectangular cross-section
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- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
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- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
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- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
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- H01L24/02—Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L24/06—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
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Abstract
Es werden ein System und ein Verfahren zur Herstellung einer elektrischen Vorrichtungspackung offenbart. Eine Ausführungsform weist einen ersten Trägerkontakt, eine erste elektrische Komponente, wobei die erste elektrische Komponente eine erste Deckfläche und eine erste Bodenfläche hat, wobei die erste elektrische Komponente einen ersten Komponentenkontakt aufweist, der auf der ersten Deckfläche angeordnet ist, wobei die erste Bodenfläche mit dem Träger verbunden ist, und ein eingebettetes System auf, das eine zweite elektrische Komponente und ein Verbindungselement aufweist, wobei das eingebettete System eine Systemdeckfläche und eine Systembodenfläche hat, wobei die Systembodenfläche einen ersten Systemkontakt und einen zweiten Systemkontakt aufweist und wobei der erste Systemkontakt an den ersten Komponentenkontakt angeschlossen ist und der zweite Systemkontakt an den ersten Trägerkontakt angeschlossen ist. Die gepackte Vorrichtung weist des Weiteren ein Einkapselungsmittel auf, das die erste elektrische Komponente einkapselt.
Description
- Die vorliegende Erfindung betrifft im Allgemeinen eine gepackte (engl. packaged) elektrische Vorrichtung, und insbesondere eine gepackte Leistungshalbleitervorrichtung, die eine laminierte Packung als Verbindungsklemme (oder Verbindungsclip) aufweist.
- Der Bedarf an kleineren, dünneren, leichteren, billigeren elektronischen Systemen mit verringertem Stromverbrauch, mannigfaltigerer Funktionalität und erhöhter Zuverlässigkeit hat in allen beteiligten technischen Gebieten eine Flut an technologischen Innovationen ausgelöst. Dies gilt sicher auch für Montage(engl. assembly)- und Verpackungs(engl. packaging)bereiche, die eine Schutzhülle gegen mechanische und thermische äußere Einflüsse, wie auch gegen chemische oder durch Strahlung ausgelöste Angriffe, bereitstellen.
- Gemäß einer Ausführungsform weist eine gepackte Vorrichtung einen Träger auf, der einen ersten Trägerkontakt aufweist, sowie eine erste elektrische Komponente, wobei die erste elektrische Komponente eine erste Deckfläche und eine erste Bodenfläche hat, wobei die erste elektrische Komponente einen ersten Komponentenkontakt aufweist, der auf der ersten Deckfläche angeordnet ist, wobei die erste Bodenfläche mit dem Träger verbunden ist, und ein eingebettetes System, das eine zweite elektrische Komponente und ein Verbindungselement aufweist, wobei das eingebettete System eine Systemdeckfläche und eine Systembodenfläche hat, wobei die Systembodenfläche einen ersten Systemkontakt und einen zweiten Systemkontakt aufweist und wobei der erste Systemkontakt an den ersten Komponentenkontakt angeschlossen ist und der zweite Systemkontakt an den ersten Trägerkontakt angeschlossen ist. Die gepackte Vorrichtung weist ferner ein Einkapselungsmittel auf, das die erste elektrische Komponente einkapselt.
- Gemäß einer Ausführungsform weist eine gepackte Halbleitervorrichtung einen Leadframe auf, der einen ersten Lead, einen zweiten Lead, einen dritten Lead und einen vierten Lead aufweist. Die gepackte Halbleitervorrichtung weist ferner eine erste Halbleitervorrichtung auf, die eine erste Deckfläche und eine erste Bodenfläche aufweist, wobei die erste Halbleitervorrichtung einen ersten Vorrichtungskontakt und einen zweiten Vorrichtungskontakt auf der ersten Deckfläche und einen dritten Vorrichtungskontakt auf der ersten Bodenfläche aufweist, sowie eine laminierte Packung, die ein Verbindungselement und eine zweite Halbleitervorrichtung aufweist, wobei die laminierte Packung eine Packungsdeckfläche und eine Packungsbodenfläche hat, wobei ein erster Packungskontakt und ein zweiter Packungskontakt auf der Packungsbodenfläche angeordnet sind und wobei ein dritter Packungskontakt und ein vierter Packungskontakt auf der Packungsdeckfläche angeordnet sind, wobei der erste Packungskontakt und der zweite Pakkungskontakt durch das Verbindungselement verbunden sind. Die gepackte Halbleitervorrichtung weist schließlich einen ersten Draht oder eine erste leitende Klemme (oder Clip), einen zweiten Draht oder eine zweite leitende Klemme, einen dritten Draht oder eine dritte leitende Klemme und ein Einkapselungsmaterial auf, das die erste Halbleitervorrichtung einkapselt, wobei der erste Packungskontakt an den ersten Lead angeschlossen ist, wobei der zweite Packungskontakt an den ersten Vorrichtungskontakt angeschlossen ist, wobei der dritte Pakkungskontakt über den ersten Draht oder die erste leitende Klemme an den dritten Lead angeschlossen ist, wobei der vierte Packungskontakt über den zweiten Draht oder die zweite leitende Klemme an den vierten Lead angeschlossen ist und wobei der zweite Vorrichtungskontakt über den dritten Draht oder die dritte leitende Klemme an den zweiten Lead angeschlossen ist.
- Gemäß einer Ausführungsform weist eine gepackte Halbleitervorrichtung einen Leadframe auf, der einen ersten Lead, einen zweiten Lead und einen dritten Lead aufweist, und eine erste Halbleitervorrichtung, die eine erste Deckfläche und eine erste Bodenfläche aufweist, wobei die erste Halbleitervorrichtung des Weiteren einen ersten Vorrichtungskontakt und einen zweiten Vorrichtungskontakt aufweist, die auf der ersten Deckfläche angeordnet sind, und einen dritten Vorrichtungskontakt, der auf der ersten Bodenfläche angeordnet ist. Die gepackte Halbleitervorrichtung weist des Weiteren eine laminierte Packung auf, die ein Verbindungselement und eine zweite Halbleitervorrichtung aufweist, wobei die laminierte Pakkung eine Packungsdeckfläche und eine Packungsbodenfläche hat, wobei ein erster Packungskontakt, ein zweiter Packungskontakt und ein dritter Packungskontakt auf der Packungsbodenfläche angeordnet sind. Die gepackte Halbleitervorrichtung weist schließlich einen ersten Draht oder eine erste leitende Klemme und einen zweiten Draht oder eine zweite leitende Klemme auf, wobei der erste Packungskontakt an den ersten Lead angeschlossen ist, wobei der zweite Packungskontakt an den ersten Vorrichtungskontakt angeschlossen ist, wobei der dritte Packungskontakt über den ersten Draht oder die erste leitende Klemme an den zweiten Lead angeschlossen ist, und wobei der zweite Vorrichtungskontakt über den zweiten Draht oder die zweite leitende Klemme an den dritten Lead angeschlossen ist.
- Gemäß einer Ausführungsform weist ein Herstellungsverfahren für eine gepackte elektrische Komponente das Anordnen einer ersten elektrischen Komponente mit einer ersten Bodenfläche auf einem Träger auf, wobei die erste Bodenfläche einer ersten Deckfläche gegenüberliegt, wobei die erste elektrische Komponente einen ersten Komponentenkontakt auf der ersten Deckfläche hat. Das Verfahren weist des Weiteren das elektrische Anschließen eines ersten Trägerkontakts des Trägers an den ersten Komponentenkontakt der ersten elektrischen Komponente durch einen ersten Packungskontakt und einen zweiten Packungskontakt auf, die an einer Bodenseite einer laminierten Packung angeordnet sind, die eine zweite elektrische Komponente aufweist, und das Einkapseln der ersten elektrischen Komponente.
- Für ein vollständigeres Verständnis der vorliegenden Erfindung und ihrer Vorteile wird nun auf die folgenden Beschreibungen in Verbindung mit den beiliegenden Zeichnungen Bezug genommen, von welchen:
-
1 ein Schema einer Halbbrückenschaltung zeigt; -
2 ein herkömmliches System von zwei Leistungshalbleitervorrichtungen zeigt, die zu einer Halbbrückenschaltung verbunden sind; -
3a und3b ein anderes herkömmliches System von zwei Leistungshalbleitervorrichtungen zeigen, die zu einer Halbbrückenschaltung verbunden sind; -
4 eine Querschnittsansicht einer Ausführungsform zeigt, wie eine gepackte elektrische Vorrichtung, die eine erste Vorrichtung aufweist, an eine laminierte Packungsklemme, in der eine zweite elektrische Vorrichtung eingebettet ist, angeschlossen wird; -
5a und5b eine Querschnittsansicht und eine Draufsicht einer Ausführungsform einer gepackten elektrischen Vorrichtung, die eine erste Vorrichtung aufweist, und einer laminierten Packungsklemme, in der eine zweite elektrische Vorrichtung eingebettet ist, zeigen; -
6a und6b eine Querschnittsansicht und eine Draufsicht einer anderen Ausführungsform einer gepackten elektrischen Vorrichtung, die eine erste Vorrichtung aufweist, und einer laminierten Packungsklemme, in der eine zweite elektrische Vorrichtung eingebettet ist, zeigen; -
7a und7b eine Querschnittsansicht und eine Draufsicht einer weiteren Ausführungsform einer gepackten elektrischen Vorrichtung, die eine erste Vorrichtung aufweist, und einer laminierten Packungsklemme, in der eine zweite elektrische Vorrichtung eingebettet ist, zeigen; -
8a und8b eine Querschnittsansicht und eine Draufsicht einer weiteren Ausführungsform einer gepackten elektrischen Vorrichtung, die eine erste Vorrichtung aufweist, und einer laminierten Packungsklemme, in der eine zweite elektrische Vorrichtung eingebettet ist, zeigen; -
8c eine Querschnittsansicht einer Ausführungsform einer gepackten elektrischen Vorrichtung, die eine erste Vorrichtung aufweist, und einer laminierten Packungsklemme, in der eine zweite elektrische Vorrichtung eingebettet ist, zeigen, wobei die erste Vorrichtung in einer laminierten Packung eingekapselt ist; und -
9 eine Ausführungsform eines Herstellungsverfahrens einer gepackten elektrischen Vorrichtung zeigt, welche die laminierte Packungsklemme aufweist. - Die Herstellung und Verwendung der gegenwärtig bevorzugten Ausführungsformen ist in der Folge ausführlich beschrieben. Es sollte jedoch klar sein, dass die vorliegende Erfindung viele anwendbare, erfindungsgemäße Konzepte vorsieht, die in einer Vielzahl spezifischer Kontexte verkörpert sein können. Die besprochenen spezifischen Ausführungsformen sind nur für spezifische Möglichkeiten, die Erfindung herzustellen und zu verwenden, veranschaulichend und schränken das Konzept der Erfindung nicht ein.
- Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung werden in einem spezifischen Kontext beschrieben, nämlich als eine gepackte Halbbrückenschaltung, die zwei Leistungshalbleitertransistoren aufweist. Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung können jedoch bei anderen Vorrichtungsarten von Schaltungen und Vorrichtungen wie logischen oder Speichervorrichtungen, opto-elektronischen Vorrichtungen, MEMS, Sensoren oder integrierten Schaltungen angewendet werden.
-
1 –3 zeigen herkömmliche Halbbrückenschaltungsanordnungen unter Verwendung von Leistungshalbleitertransistoren.1 zeigt eine beispielhafte schematische Halbbrückenschaltung, die einen Serienanschluss einer ersten Halbleitervorrichtung101 mit einem High-Side Leistungsschalter (HSS)103 und einer zweiten Halbleitervorrichtung102 mit einem Low-Side Leistungsschalter (LSS)104 aufweist. Die Halbbrükkenschaltung weist Anschlusskontakte132 ,134 ,142 ,144 ,152 ,154 auf, die an Source-, Gate- und Drain-Kontakte der Leistungsschalter103 ,104 angeschlossen sind. Das Umschalten in den Leistungsschaltern103 ,104 wird durch die Spannungen gesteuert, die an Gate-Kontakte142 ,144 angelegt werden. - Für gewöhnlich ist eine Halbbrückenschaltung nicht in einem Substrat integriert, da der entsprechende Fußabdruck (engl. footprint) zu groß wäre. Vielmehr sind die einzelnen Leistungsschalter der Halbbrückenschaltung allein stehende Vorrichtungen, die gemeinsam in eine einzige Packung gepackt sind.
2 zeigt eine Querschnittsansicht einer solchen herkömmlichen Halbbrückenschaltung. Die Halbbrücke200 weist einen ersten Leistungsschalter201 auf, der auf einem Leadframe212 angeordnet ist, an den der Schalter201 mechanisch und elektrisch angeschlossen ist. Der Leadframe212 weist Leads214 ,216 ,218 ,219 auf. Die Halbbrückenschaltung weist des Weiteren einen zweiten Leistungsschalter202 auf, der auf dem ersten Leistungsschalter201 angeordnet ist. Eine Verbindungsschicht240 stellt eine mechanische und elektrische Verbindung zwischen dem ersten Leistungsschalter201 und dem zweiten Leistungsschalter202 bereit. Der erste Leistungsschalter201 und der zweite Leistungsschalter202 sind durch Drähte282 ,284 ,286 ,288 elektrisch an die Leads214 ,216 ,218 ,219 angeschlossen. -
3a und3b zeigen eine andere herkömmliche Halbbrükkenschaltung. Die zwei Leistungsschalter301 ,302 sind in Serie geschaltet. Die zwei Schalter301 ,302 sind an die Leads durch eine Kombination aus Drähten und Klemmen angeschlossen. Die Klemmen382 ,392 verbinden die Leistungsvorrichtungen301 ,302 mit Leads316 ,318 und die Drähte384 ,394 verbinden die Leistungsvorrichtungen301 ,302 mit Leads314 ,319 . Durch Verwendung der Klemmen282 ,292 anstelle von Drahtbonds wird die Empfindlichkeit des System aufgrund der signifikant größeren Querschnitte der Klemmen im Vergleich zu Drahtbonds verringert. - Ein allgemeines Problem bei den herkömmlichen gepackten elektrischen Vorrichtungen ist die Größe der Packung (engl. package).
- Eine Ausführungsform der Erfindung sieht eine laminierte Pakkung als elektrisches Verbindungselement zwischen einem Komponentenkontakt einer ersten elektrischen Komponente und einem Trägerkontakt eines Trägers vor. Eine zweite Komponente kann in der laminierten Packung eingebettet sein. Ein Pakkungskontakt der laminierten Packung kann über ein Verbindungselement an einen weiteren Trägerkontakt angeschlossen sein. In einer Ausführungsform weist die laminierte Packung ein Prepreg-Material auf. Ein Vorteil von Ausführungsformen der Erfindung sieht eine weitere Verringerung in der Pakkungs- und Fußabdruckgröße vor. Ein weiterer Vorteil ist eine weitere Verringerung in den gesamten elektrischen Pfadlängen von Zwischenverbindungen, da längere Zwischenverbindungen kapazitive Verluste, induktive Verluste, höheren Stromverbrauch und Signallatenzen verursachen können.
-
4 zeigt eine Ausführungsform der Erfindung in einer Stufe, bevor das Verbindungselement (die Packungskomponente450 ) an der Vorrichtungskomponente420 befestigt wird. Es gibt eine erste Option und eine zweite Option zur Befestigung der Packungskomponente450 an der Vorrichtungskomponente420 . Das zusammengebaute System, die gepackte elektrische Vorrichtung weist die Vorrichtungskomponente420 , die Packungskomponente450 und ein Einkapselungsmaterial auf, das die Vorrichtungskomponente420 einkapselt. Ausführungsformen solcher zusammengebauter Systeme werden unter Bezugnahme auf5 –9 besprochen. - Die Vorrichtungskomponente
420 weist einen Träger und eine erste Komponente430 wie einen Chip (oder Die) auf. Die erste Komponente430 weist ein Substrat auf. Das Substrat kann ein Halbleitersubstrat wie Silizium oder Germanium, oder ein Verbindungssubstrat wie SiGe, GaAs, InP, GaN oder SiC, oder aber ein anders Material sein. Das Halbleitersubstrat kann ein Einzelkristallsilizium oder ein Silizium-auf-Isolator (SOI) sein. Eine oder mehrere Zwischenverbindungsmetallisierungsschichten können auf dem Substrat angeordnet sein. Eine Passivierungsschicht ist auf der Deckfläche der Zwischenverbindungsmetallisierungsschichten zu elektrischen Isolierungsund strukturierten Komponentenkontakten angeordnet. Die Passivierungsschicht kann zum Beispiel SiN aufweisen. Die erste Komponente430 weist eine Deckfläche oder erste Hauptfläche431 und Bodenfläche oder zweite Hauptfläche432 auf. Die Komponente430 kann ein System auf einem Chip (SoC) sein. - Der erste Chip
430 kann eine diskrete Vorrichtung wie eine einzelne Halbleitervorrichtung oder eine integrierte Schaltung (IC) aufweisen. Zum Beispiel kann der erste Chip430 eine Leistungshalbleitervorrichtung wie einen bipolaren Transistor, einen Bipolartransistor mit isolierter Gate-Elektrode (IGBT), einen Leistungs-MOSFET, einen Thyristor oder eine Diode aufweisen. Als Alternative kann der erste Chip430 eine Komponente wie zum Beispiel ein Widerstand, eine Schutzvorrichtung, ein Kondensator, ein Sensor oder ein Detektor sein. - Die erste Komponente
430 hat einen ersten Komponentenkontakt oder eine erste Komponentenkontaktstelle, der bzw. die auf der ersten Hauptfläche431 angeordnet ist. Die erste Komponente430 kann des Weiteren einen zweiten Komponentenkontakt oder eine zweite Komponentenkontaktstelle auf der ersten Hauptfläche431 aufweisen. Die erste Komponente430 kann schließlich einen dritten Komponentenkontakt oder eine dritte Komponentenkontaktstelle auf der ersten Hauptfläche431 oder der zweiten Hauptfläche432 aufweisen. Als Alternative kann die erste Komponente430 andere Kontaktstellenanordnungen auf ihrer ersten und zweiten Hauptfläche431 ,432 haben. - In einer Ausführungsform ist der Träger
410 ein Leadframe. Der Leadframe410 kann Leadframekontaktstellen oder Leads414 und416 und eine Chip-Befestigungsregion412 aufweisen. Die Leadframekontaktstellen414 ,416 sind so gestaltet, dass sie elektrisch an die Komponentenkontaktstellen angeschlossen sind, und die Chip-Befestigungsregion412 ist so gestaltet, dass sie die erste Komponente430 aufnimmt. Der Leadframe410 kann ein leitendes Material wie ein Metall aufweisen. Zum Beispiel kann der Leadframe410 Kupfer und/oder Nickel aufweisen. - In anderen Ausführungsformen ist der Träger
410 ein Substrat oder eine gedruckte Leiterplatte (PCB). Der Träger410 kann Trägerkontaktstellen414 ,416 und eine Komponentenanordnungsfläche412 aufweisen. - Die erste Komponente
430 ist am Träger410 an der Komponentenanordnungsfläche412 befestigt. Zum Beispiel ist die zweite Hauptfläche432 der ersten Komponente430 an der Deckfläche des Trägers410 befestigt. Die erste Komponente430 ist mit einer Chip-Befestigungsverbindung425 befestigt. Zum Beispiel ist die zweite Hauptfläche432 an die Deckfläche des Trägers410 unter Verwendung eines eutektischen Bondings oder eines Epoxy-Bondings gebondet. Als Alternative ist die zweite Hauptfläche432 an die Deckfläche des Trägers410 unter Verwendung eines Klebebandes, einer Lötmittelpaste oder eines Lötmittels gebondet oder geklebt. Abhängig von der spezifischen Gestaltung kann die Chip-Befestigungsverbindung425 eine elektrische Verbindung oder eine isolierende Barriere sein. - Der Kontakt (die Kontaktstelle) oder die Kontakte (Kontaktstellen) auf der ersten Hauptfläche
431 der ersten Komponente430 sind an eine Trägerkontaktstelle oder Trägerkontaktstellen414 ,416 durch Verwendung der Packungskomponente (oder Komponentenpackung) (des eingebetteten Systems)450 angeschlossen. - Die Packungskomponente
450 weist eine Packungsdeckfläche oder eine erste Packungshauptfläche451 und eine Packungsbodenfläche oder eine zweite Packungshauptfläche452 auf. Die Pakkungskomponente450 kann einer gewünschten Gestaltung entsprechend an der Vorrichtungskomponente420 mit der ersten Hauptfläche451 oder der zweiten Hauptfläche452 befestigt sein. - In einer Ausführungsform weist die Packungskomponente
450 ein Laminat470 als Einkapselungsmaterial auf. Das Laminat470 kann abwechselnde Schichten aus leitenden und nicht leitenden (isolierenden) Materialien aufweisen. Das isolierende Material kann Prepreg aufweisen, das ein poröser Glasfaserfilm ist. Das Prepreg kann mit Bisphenol-A Harz und Härtungskomponenten imprägniert sein. Die leitenden Materialien können Metalle oder Metalllegierungen aufweisen. Zum Beispiel können die leitenden Materialien Kupfer (Cu) oder Aluminium (Al) sein. - Das Laminat
470 weist mehrere Materialschichten auf. Zum Beispiel ist ein Laminat, das leitende (leitenden Pfad und Spuren enthaltend) und nicht leitende Schichten aufweist, jenes, das Polymermaterial(ien), verstärkt mit Glas- oder Kohlenstofffasern, und manchmal zusätzlich mit anorganischen Partikeln wie SiO2, Al2O3 oder ähnlichen Materialien, aufweist. Jede Schicht weist eine Dicke von etwa 10 µm (Mikrometer) bis etwa 1000 µm (Mikrometer) auf. Als Alternative kann die Pakkungskomponente450 andere Einkapselungsmaterialien aufweisen. - Die Packungskomponente
450 kann eine zweite Komponente455 aufweisen, die zum Beispiel ein Chip (oder Die) ist. Die zweite Komponente455 weist ein Substrat auf. Das Substrat kann ein Halbleitersubstrat wie Silizium oder Germanium oder ein Verbindungssubstrat wie SiGe, GaAs, InP oder GaN, SiC, oder aber ein anders Material sein. Das Halbleitersubstrat kann ein Einkristall-Silizium oder ein Silizium-auf Isolator (SOI) sein. Es können eine oder mehrere Zwischenverbindungsmetallisierungsschichten auf dem Substrat angeordnet sein. Eine Passivierungsschicht ist auf der Deckfläche der Metallisierungsschichten angeordnet, die Komponentenkontakte oder Komponentenkontaktstellen definieren. Die Passivierungsschicht kann zum Beispiel SiN aufweisen. Die zweite Komponente455 weist eine zweite Deckfläche456 und eine zweite Bodenfläche457 auf. Die zweite Komponente455 kann ein System auf einem Chip (SoC) sein. - Der zweite Chip
455 kann eine separate Vorrichtung wie eine einzelne Halbleitervorrichtung oder eine integrierte Schaltung (IC) aufweisen. Zum Beispiel kann der zweite Chip455 eine Leistungshalbleitervorrichtung wie einen Bipolartransistor, einen Bipolartransistor mit isolierter Gate-Elektrode (IGBT), einen Leistungs-MOSFET, einen Thyristor oder eine Diode aufweisen. Als Alternative kann der zweite Chip455 eine Komponente wie zum Beispiel ein Widerstand, eine Schutzvorrichtung, ein Kondensator, ein Sensor oder ein Detektor sein. - Die zweite Komponente
455 hat einen ersten Komponentenkontakt oder eine erste Komponentenkontaktstelle, der bzw. die auf der zweiten Deckfläche456 angeordnet ist. Die zweite Komponente455 kann des Weiteren einen zweiten Komponentenkontakt oder eine zweite Komponentenkontaktstelle auf der zweiten Deckfläche456 aufweisen. Die zweite Komponente455 kann schließlich einen dritten Komponentenkontakt oder eine dritte Komponentenkontaktstelle auf der zweiten Deckfläche456 oder der zweiten Bodenfläche457 aufweisen. Als Alternative kann die erste Komponente430 andere Kontaktstellenanordnungen auf ihrer zweiten Deck- und Bodenfläche456 ,457 aufweisen. - Die Packungskomponente
450 kann ein Verbindungselement462 aufweisen. Das Verbindungselement kann eine leitende Zwischenverbindung, eine leitende Bahn, eine leitende Umverteilungsschicht oder ein zweiter Träger sein. Die Packungskomponente450 kann zweite Packungskomponentenkontakte464 ,466 ,468 aufweisen, die an die Komponentenkontakte der zweiten Komponente455 angeschlossen sind. - In einer Ausführungsform ist das Verbindungselement
462 ein Leadframe. Der Leadframe462 kann Leadframekontaktstellen oder Leads und eine Komponentenbefestigungsregion463 aufweisen. Der Leadframe462 kann ein leitendes Material wie ein Metall aufweisen. Zum Beispiel kann der Leadframe462 Kupfer und/oder Nickel aufweisen. - Die zweite Komponente
455 ist am zweiten Leadframe462 an der Chip-Befestigungsfläche463 befestigt. Zum Beispiel ist die zweite Bodenfläche457 der zweiten Komponente455 an der Deckfläche des Leadframe462 befestigt. Die zweite Komponente455 ist mit einer Chip-Befestigungsverbindung befestigt. Zum Beispiel ist die zweite Hauptfläche457 an die Deckfläche des Leadframe462 unter Verwendung eines eutektischen Bondings oder eines Epoxy-Bondings gebondet. Als Alternative ist die zweite Hauptfläche457 gebondet, geklebt, durch Diffusionslöten gelötet oder durch eine Nanopaste mit der Deckfläche des Leadframe462 unter Verwendung eines Klebebandes, einer Lötmittelpaste oder eines Lötmittels verbunden. Abhängig von der spezifischen Gestaltung der Komponentenbefestigungsverbindung kann sie eine elektrische Verbindung oder eine isolierende Barriere sein. - In einer Ausführungsform ist die zweite Komponente
455 ein Leistungshalbleiterschalter oder ein Transistor mit einem Source-Kontakt und einem Gate-Kontakt an der zweiten Deckfläche456 und dem Drain-Kontakt an der zweiten Bodenfläche457 . Der Gate-Kontakt des Leistungshalbleiterschalters ist an den Packungskomponentenkontakt466 über eine Bahn im Laminat470 angeschlossen, der Source-Kontakt des Leistungshalbleiterschalters ist an den Packungskomponentenkontakt464 über eine Bahn im Laminat470 angeschlossen und der Drain-Kontakt des Leistungshalbleiterschalters ist an den Packungskomponentenkontakt468 über den Leadframe462 und eine Durchgangslochverbindung durch das Laminat470 angeschlossen. - Wie in
4 durch Pfeile dargestellt, kann die Packungskomponente450 an der Vorrichtung420 mit der oberen oder ersten Packungshauptfläche451 oder mit der unteren oder zweiten Packungshauptfläche452 befestigt sein. In einer Ausführungsform kann die Packungskomponente zwei Komponentenkontakte der Vorrichtungskomponente420 an zwei Trägerkontakte416 ,414 des Trägers410 anschließen. -
5a und5b zeigen eine Ausführungsform einer gepackten elektrischen Vorrichtung500 . Die gepackte elektrische Vorrichtung kann eine Halbbrückenschaltung sein. Die gepackte elektrische Vorrichtung weist eine erste Komponente wie einen Leistungstransistor-Chip530 und ein eingebettetes System550 auf, das eine zweite Komponente wie einen zweiten Leistungstransistor-Chip555 aufweist. Die erste Komponente530 ist mechanisch und elektrisch durch das eingebettete System550 an einen Trägerkontakt516 angeschlossen. -
5a und5b zeigen eine Ausführungsform einer elektrischen Packungskomponente500 (z.B. einer Halbbrückenschaltung). Die erste Komponente530 der elektrischen Packungskomponente weist einen ersten Kontakt532 wie einen Source-Kontakt und einen zweiten Kontakt539 wie einen Gate-Kontakt auf der oberen oder ersten Hauptfläche531 und einen dritten Komponentenkontakt536 wie den Drain-Kontakt auf der unteren oder zweiten Hauptfläche533 auf. Der dritte Komponentenkontakt (z.B. Drain-Kontakt)536 ist mechanisch und elektrisch an eine Chip-Befestigungsregion512 des Trägers510 wie einen metallischen Leadframe über eine rückseitige Metallisierungs-(BSM)Schicht525 angeschlossen. Die BSM-Schicht525 kann Barriereschichten wie Cr-, Ti- oder Ta-Schichten, welche die erste Komponente530 vor einer unerwünschten Metallatomdiffusion in die Komponente schützen, und eine Schicht (oder einen Stapel von Schichten) aus Metallen, wie Au-, Ag- oder Cu-Schichten, aufweisen, die einen hohen Diffusionskoeffizienten in den metallischen Leadframe510 haben kann. Der zweite Kontakt539 ist an den Trägerkontakt519 (z.B. Lead) durch einen Draht oder eine leitende Klemme (z.B. metallische Klemme)584 angeschlossen. In einem besonderen Beispiel ist der zweite Kontakt539 an den Lead519 durch einen Draht584 angeschlossen. Der Draht584 kann an den zweiten Kontakt539 und den Lead519 über einen Kugel-Bonding-Prozess, einen Keil-Bonding-Prozess, einen Streifen-Bonding-Prozess, einen Band-Bonding-Prozess oder eine Kombination davon angeschlossen sein. - Der erste Komponentenkontakt
532 der Komponente530 ist durch das Verbindungselement550 (eingebettete System) an den Trägerkontakt516 angeschlossen. Das Verbindungselement550 weist eine zweite Komponente555 wie einen zweiten Leistungstransistor-Chip, ein Verbindungselement562 wie eine leitende Zwischenverbindung, leitende Bahn, Umverteilungsschicht oder einen Leadframe, und ein Einkapselungsmaterial (z.B. Laminat) auf. Die zweite Komponente weist einen ersten Kontakt561 wie den Drain-Kontakt und einen zweiten Kontakt563 wie den Gate-Kontakt auf der zweiten Deckfläche556 der zweiten Komponente555 und einen dritten Kontakt565 wie den Source-Kontakt auf der zweiten Bodenfläche557 der zweiten Komponente555 auf. Das Verbindungselement562 des eingebetteten Systems550 stellt eine mehrfache Funktionalität bereit. - Das Verbindungselement
562 ist elektrisch an den ersten Komponentenkontakt532 (z.B. Source-Kontakt) der ersten Komponente530 und den dritten Kontakt565 (z.B. Source-Kontakt) der zweiten Komponente555 angeschlossen. Ferner stellt das Verbindungselement562 eine leitende Verbindung zwischen den Komponentenkontakten532 ,565 und dem Trägerkontakt (z.B. Lead)516 bereit (dient als eine interne oder eingebettete Klemme). Schließlich errichtet das Verbindungselement562 gemeinsam mit dem Durchgangsloch568 einen leitenden Pfad zum Packungskontakt569 , der sich auf der Packungsdeckfläche oder Packungshauptfläche551 des eingebetteten Systems550 befindet, wodurch eine Zwischenverbindungsroute zu externen Schaltungen bereitgestellt wird. - Der erste Komponentenkontakt
561 der zweiten Komponente555 ist elektrisch durch den Packungskomponentenkontakt564 an den Trägerkontakt (z.B. Lead)514 angeschlossen und der zweite Komponentenkontakt563 der zweiten Komponente555 ist elektrisch durch den Packungskomponentenkontakt566 an den Trägerkontakt (z.B. Lead)518 angeschlossen. Der erste und zweite Komponentenkontakt561 ,563 sind durch Verbindungselemente (z.B. Drähte oder leitende Klemmen)592 ,594 an Trägerkontakte514 ,518 angeschlossen. In einem Beispiel können die Drähte592 ,594 zwischen den Kontakten561 ,563 und den Leads514 ,518 unter Verwendung eines Kugel-Bonding-Prozesses, eines Keil-Bonding-Prozesses, eines Streifen-Bonding-Prozesses, eines Band-Bonding-Prozesses oder einer Kombination davon oder zum Beispiel eine leitende Klemme angeschlossen sein. In einem besonderen Beispiel weist das Verbindungselement594 einen Draht auf und das Verbindungselement592 weist eine Klemme auf. - Die elektrische Packungskomponente
500 kann des Weiteren ein Einkapselungsmittel (nicht dargestellt) aufweisen. Das Einkapselungsmittel kapselt die erste Komponente530 mit einem Einkapselungsmaterial ein. Das Einkapselungsmittel kann des Weiteren das Verbindungselement550 (eingebettete System), die Verbindungselemente584 ,592 ,594 und den Träger510 einkapseln (oder teilweise einkapseln). - Das Einkapselungsmaterial des Einkapselungsmittels kann eine Vergussmasse oder ein Laminat sein. In einer Ausführungsform kann das Einkapselungsmaterial ein anderes Material als das Einkapselungsmaterial des eingebetteten Systems
550 sein. Zum Beispiel kann das Einkapselungsmaterial des eingebetteten Systems570 ein Laminat sein und die Einkapselung des Einkapselungsmittels kann eine Vergussmasse sein. - Das Einkapselungsmaterial des Einkapselungsmittels kann wärmehärtende Materialien wie eine Epoxy-, Polyurethan- oder Polyacrylatverbindung aufweisen. Als Alternative kann das Einkapselungsmaterial thermoplastische Materialien wie Polysulfone, Polyphenylensulfide oder Polyetherimide aufweisen. In einem Beispiel kann die Einkapselung
210 ein Polyimid wie ein Si-modifiziertes Polyimid aufweisen. - Da die elektrische Packungskomponente
500 modulare Eigenschaften bereitstellen kann, sind mehrere erweitere Gestaltungen möglich. Zum Beispiel kann eine dritte Komponente auf der elektrischen Packungskomponente500 durch Befestigung der dritten Komponente an einer flachen Region des Verbindungselements592 angeordnet werden. In einem anderen Beispiel kann eine Wärmesenke auf der Deckfläche der eingebetteten Packung550 angeordnet werden, was ein effektives und verbessertes Wärmemanagement verspricht. -
6a und6b zeigen eine weitere Ausführungsform einer gepackten elektrischen Vorrichtung600 (z.B. einer Halbbrükkenschaltung). Die gepackte elektrische Vorrichtung600 weist eine erste Komponente (z.B. einen Leistungstransistor-Chip)630 und ein Verbindungselement650 (eingebettetes System) auf, das eine zweite Komponente (z.B. Leistungstransistor-Chip)655 enthält. Die Elemente von6a und6b sind dieselben oder gleichen wie die Elemente von5a und5b , mit Ausnahme der ersten Stelle in der Zahl. Auch hier sind der erste Komponentenkontakt632 , wie der Source-Kontakt der ersten Komponente630 , und der dritte Kontakt665 , wie der Source-Kontakt der zweiten Komponente (z.B. Leistungstransistor-Chip)655 , in elektrischem Kontakt mit dem Verbindungselement662 des Verbindungselements650 . - Ferner stellt das Verbindungselement
662 eine elektrische Verbindung zwischen den Komponentenkontakten632 /665 und dem Trägerkontakt616 bereit. In dieser Ausführungsform ist die Größe des eingebetteten Systems (der laminierten Packung)650 vergleichsweise kleiner als das eingebettete System550 in der Ausführungsform von5a /5b . Dies ermöglicht die Anordnung eines zweiten Komponentenkontakts wie eines Gate-Kontakts639 neben einer kurzen Seite des eingebetteten Systems650 , während der entsprechende zweite Kontakt539 der Ausführungsform in5b hinter oder neben einer langen Seite des eingebetteten Systems550 positioniert ist. Infolgedessen sind Verbindungselemente684 ,692 im Vergleich zu den Verbindungselementen584 ,592 anders angeordnet. Insbesondere schließt das Verbindungselement692 den Komponentenkontakt, wie den Drain-Kontakt der zweiten Komponente655 , an den Trägerkontakt619 an, während das Verbindungselement684 den zweiten Komponentenkontakt639 , wie den Gate-Kontakt, an den Trägerkontakt614 anschließt. Daher stellen die eingebetteten Systeme550 ,650 flexible Lösungen hinsichtlich des Designs der Architektur der integrierten Systeme500 ,600 bereit. Zum Beispiel können die Systeme500 ,600 optimiert werden, um die kapazitiven und/oder induktiven Verluste zu minimieren. Ferner sind die Systeme500 ,600 nicht auf Halbbrükkenschaltungen begrenzt und können für verschiedene Anwendungen gestaltet werden. -
7a und7b zeigen eine Ausführungsform einer gepackten elektrischen Vorrichtung700 . Die gepackte elektrische Vorrichtung kann eine Halbbrückenschaltung sein. Die gepackte elektrische Vorrichtung weist eine erste Komponente wie einen Leistungstransistor-Chip730 und ein Verbindungselement (eingebettetes System)750 auf, das eine zweite Komponente wie einen zweiten Leistungstransistor-Chip755 aufweist. Die erste Komponente730 ist mechanisch und elektrisch durch das Verbindungselement750 an einen Trägerkontakt716 angeschlossen. -
7a und7b zeigen des Weiteren, dass die erste Komponente730 einen ersten Komponentenkontakt732 wie einen Drain-Kontakt und einen zweiten Komponentenkontakt739 wie einen Gate-Kontakt auf der Deckfläche731 des Chips730 und einen dritten Komponentenkontakt736 wie den Source-Kontakt auf der Bodenfläche733 des Chips730 aufweist, während die zweite Komponente755 einen ersten Komponentenkontakt761 wie den Source-Kontakt und einen zweiten Komponentenkontakt763 wie den Gate-Kontakt auf der zweiten Bodenfläche756 und einen dritten Komponentenkontakt765 wie den Drain-Kontakt auf der zweiten Deckfläche757 aufweist. - Der dritte Komponentenkontakt (z.B. Source-Kontakt)
736 der ersten Komponente730 ist mechanisch und elektrisch an die Deckfläche des Trägers710 angeschlossen. Der zweite Komponentenkontakt739 ist durch ein Verbindungselement784 an den Trägerkontakt719 angeschlossen, wobei das Verbindungselement784 einen Draht oder eine leitende Klemme aufweist. In einem besonderen Beispiel ist der zweite Komponentenkontakt739 durch einen Draht784 an den Trägerkontakt719 angeschlossen. Der Draht784 kann an den zweiten Komponentenkontakt739 und den Trägerkontakt719 durch einen Kugel-Bonding-Prozess, einen Keil-Bonding-Prozess oder eine Kombination davon angeschlossen werden. - Das Verbindungselement
762 des eingebetteten Systems750 ist elektrisch an den ersten Komponentenkontakt732 (z.B. Drain-Kontakt) der ersten Komponente730 und den dritten Komponentenkontakt765 (z.B. Drain-Kontakt) der zweiten Komponente755 angeschlossen. Ferner stellt das Verbindungselement762 eine leitende Verbindung (dient als interne oder eingebettete Klemme) zwischen dem ersten Komponentenkontakt732 (z.B. Drain-Kontakt) der ersten Komponente730 und dem Trägerkontakt716 bereit. Schließlich ist das Verbindungselement762 über das Durchgangsloch768 an den ersten Komponentenkontakt (z.B. Drain-Kontakt)732 der ersten Komponente730 angeschlossen. Das Verbindungselement762 ist auf einer Deckfläche701 des eingebetteten Systems750 angeordnet. - Der erste Komponentenkontakt (z.B. Source-Kontakt)
761 der zweiten Komponente755 ist elektrisch an den Trägerkontakt716 angeschlossen und der zweite Komponentenkontakt763 (z.B. Gate-Kontakt) ist elektrisch über das Verbindungselement794 an den Trägerkontakt718 angeschlossen. Der zweite Komponentenkontakt (z.B. Gate-Kontakt)763 wird über die Zwischenverbindung766 aus dem eingebetteten System750 geleitet. Die Zwischenverbindung766 kann auf der ersten Komponente730 angeordnet sein. Das Verbindungselement794 weist einen Draht oder eine leitende Klemme auf. In einem besonderen Beispiel wird der zweite Komponentenkontakt (z.B. Gate-Kontakt)763 über eine Zwischenverbindung766 der ersten Komponente730 und durch den Draht794 zum Lead718 geleitet. Der Draht794 kann an den zweiten Komponentenkontakt739 und den Lead789 über einen Kugel Bonding-Prozess, einen Keil-Bonding-Prozess oder eine Kombination davon angeschlossen werden. In dieser Ausführungsform sind nur drei Trägerkontakte716 ,718 und719 elektrisch angeschlossen. Ferner stellt die gepackte elektrische Vorrichtung700 eine relativ große zugängliche Deckfläche701 bereit, die für den Aufbau von zusätzlichen Vorrichtungen und/oder die Befestigung einer Wärmesenke verwendet werden kann. - Die elektrische Packungskomponente
700 kann des Weiteren ein Einkapselungsmittel (nicht dargestellt) aufweisen. Das Einkapselungsmittel kapselt die erste Komponente730 mit einem Einkapselungsmaterial ein. Das Einkapselungsmittel kann des Weiteren das eingebettete System750 , die Verbindungselemente784 ,794 und den Träger710 einkapseln (oder teilweise einkapseln). -
8a und8b zeigen eine Ausführungsform einer gepackten elektrischen Vorrichtung800 . Die gepackte elektrische Vorrichtung kann eine Halbbrückenschaltung sein. Die gepackte elektrische Vorrichtung weist eine erste Komponente wie einen Leistungstransistor-Chip830 und ein Verbindungselement (eingebettetes System)850 auf, das eine zweite Komponente wie einen zweiten Leistungstransistor-Chip855 aufweist. Die erste Komponente830 ist mechanisch und elektrisch durch das Verbindungselement850 an einen Trägerkontakt816 angeschlossen. -
8a und8b zeigen des Weiteren, dass die Komponente830 einen ersten Komponentenkontakt832 wie einen Source-Kontakt und einen zweiten Komponentenkontakt839 wie einen Gate-Kontakt auf der Deckfläche831 der ersten Komponente830 und einen dritten Komponentenkontakt836 wie den Drain-Kontakt auf der Bodenfläche833 der ersten Komponente830 aufweist, während die zweite Komponente855 einen ersten Komponentenkontakt861 wie den Source-Kontakt und einen zweiten Komponentenkontakt863 wie den Gate-Kontakt auf der Bodenfläche856 der zweiten Komponente855 und einen dritten Komponentenkontakt865 wie den Drain-Kontakt auf der Deckfläche857 der zweiten Komponente855 aufweist. - Der dritte Komponentenkontakt (z.B. Drain-Kontakt)
836 des ersten Chips830 ist mechanisch und elektrisch an den Träger810 angeschlossen. Der zweite Komponentenkontakt839 ist durch ein Verbindungselement884 an den Trägerkontakt819 angeschlossen, wobei das Verbindungselement884 einen Draht oder eine leitende Klemme aufweist. In einem besonderen Beispiel ist der zweite Komponentenkontakt839 durch einen Draht884 an den Trägerkontakt819 angeschlossen. Der Draht884 kann den zweiten Komponentenkontakt839 und den Trägerkontakt819 durch einen Kugel-Bonding-Prozess, eine Keil-Bonding-Prozess oder eine Kombination davon verbinden. - Das Verbindungselement
862 des Verbindungselements (eingebetteten Systems)850 schließt den dritten Komponentenkontakt865 (z.B. Drain-Kontakt) der zweiten Komponente855 elektrisch über eine Durchgangsloch868 an den Trägerkontakt816 an. - Der erste Komponentenkontakt (z.B. Source-Kontakt)
861 der zweiten Komponente855 ist über die Zwischenverbindung866 elektrisch an den ersten Kontakt (z.B. Source-Kontakt)832 der ersten Komponente830 angeschlossen. Der zweite Komponentenkontakt863 (z.B. Gate-Kontakt) der zweiten Komponente855 ist elektrisch über die Zwischenverbindung864 und das Verbindungselement894 an den Trägerkontakt814 angeschlossen. Das Verbindungselement894 kann einen Draht oder eine leitende Klemme aufweisen. In einem Beispiel wird der zweite Komponentenkontakt (z.B. Gate-Kontakt)863 über die Zwischenverbindung864 der ersten Komponente830 und den Draht894 zum Trägerkontakt814 geleitet. Der Draht894 kann an den zweiten Komponentenkontakt863 und den Trägerkontakt814 durch einen Kugel-Bonding-Prozess, eine Keil-Bonding-Prozess oder eine Kombination davon angeschlossen werden. In dieser Ausführungsform sind nur drei Trägerkontakte814 ,816 und819 elektrisch angeschlossen. Ferner stellt die Ausführungsform der gepackten elektrischen Vorrichtung800 eine relativ große zugängliche Deckfläche801 bereit, die für den Aufbau zusätzlicher Vorrichtungen und/oder für die Befestigung einer Wärmesenke verwendet werden kann. - Die elektrische Packungskomponente
800 weist des Weiteren ein Einkapselungsmittel auf. In der Ausführungsform von8c ist das Einkapselungsmittel802 ein Laminat. Das Laminat802 und Laminat870 können dieselben oder unterschiedlich sein. Als Alternative ist das Einkapselungsmaterial802 eine Vergussmasse. -
8c zeigt eine spezifische Ausführungsform zum Einkapseln der elektrischen Komponente von8 . Die elektrische Komponente kann jedoch anders einkapselt werden. Zum Beispiel kann das Einkapselungsmaterial802 das Verbindungselement862 bedecken. -
8c kann ein Beispiel bereitstellen, wie die Ausführungsformen von5 –7 einkapselt sind. - Für die verschiedenen Ausführungsformen der gepackten elektrischen Vorrichtungen, die in
5 –8 dargestellt sind, kann die mechanische Verbindung das Bonden von Metall an Metallflächen beinhalten. Es gibt mehrere Verfahren zum Verbinden metallischer Grenzflächen. In einer Ausführungsform wird ein leitender Klebstoff aufgetragen. Der leitende Klebstoff kann Thermokunststoffe oder wärmehärtende Harze (z.B. Epoxy-Harzverbindungen, Polyimide, modifizierte Silikone) aufweisen, die ein großes Volumen (bis zu 80%) hoch leitender Flocken aus Ag, Ag-plattiertem Cu, Ni oder Au enthalten. Die Länge der leitenden Flocken kann einige zehn µm (Mikrometer) sein. Leitende Klebstoffe können siebgedruckt, schablonengedruckt, als Punkte gesetzt oder auf der zu verbindenden Grenzfläche verteilt werden. Nach dem Auftragen des leitenden Klebstoffs werden die Schichten für einige wenige Minuten bei Temperaturen im Bereich von 100°C bis 250°C gehärtet. - In einer anderen Ausführungsform werden Nanopastenprodukte verwendet. Nanopastenprodukte weisen metallische Druckfarben mit Ag- oder Au-Partikeln auf, die einige zehn nm groß sind. Nanopasten können auf ein Substrat mit einem Tintenstrahldrucker aufgetragen werden. Die Bindungsbildung zwischen den Kontaktgrenzflächen erfolgt durch Sintern der Nanopasten (zum Beispiel bei 220°C–250°C, unter einem Druck von 1–5 MPa, über 1–2 min).
- In einer weiteren Ausführungsform werden Löttechniken angewendet. Lötmaterialien wie Pb/Sn und Au/Sn können verwendet werden. Löttechniken können Diffusionslöten, auch bekannt als Solid-Liquid Inter-Diffusion Bonding enthalten. Beim Diffusionsbonden wird eine metallische Dünnfilmzwischenschicht verwendet, die bei niederen Temperaturen schmilzt und rasch mit den Metallen höher schmelzender Grenzflächenschichten zur Bildung einer oder mehrerer intermetallischer Phasen reagiert. Diese intermetallischen Verbindungen (IMCs) haben unterschiedlich höhere Schmelzpunkte als die ursprünglich nieder schmelzende Grenzfläche. Somit wird die Verbindung nicht wieder geschmolzen, wenn sie nicht auf eine höhere Temperatur erwärmt wird, bei der eine der intermetallischen Phasen schmilzt. AuSn, AgSn, CuSn und AgIn werden häufig für das Diffusionslöten verwendet. Weichlöten und Hartlöten können bei Temperaturen von 300–400°C oder bei Temperaturen unter 350°C ausgeführt werden. In einigen Ausführungsformen sind niedrigere Bearbeitungstemperaturen wünschenswert, um die Integrität der Laminatarchitektur besser garantieren zu können. Die Bildung von Lötverbindungen bei einer Temperatur unter 250°C wird durch Anwenden eines Batch-Lötens/Härtens unter Druck in einem Ofen möglich.
- In einer Ausführungsform kann ein Reaktives Nanotechnologie (RNT)-Bonding zur Verbindung von zwei metallischen Grenzflächen mit oder ohne Lötmaterial angewendet werden. RNT-Bonding beruht auf dem Vorhandensein von 1–30 nm dicken reaktionsfähigen Doppelschichten im Nanomaßstab aus abwechselnden Elementen wie Ni/Al, Al/Ti oder Ti/a-Si. Ein selbst voran schreitender exothermer Vermischungsprozess zwischen den verschiedenen Metallen im Nanostapel kann am Umfang der reaktionsfähigen Schicht durch einen lokalen Wärmeimpuls, einen Laserimpuls oder einen elektrischen Impuls gezündet werden. Die in der exothermen Reaktion freigesetzte Wärme löst Inter-Diffusionsprozesse zwischen den zu verbindenden metallischen Flächen aus. Bei Anwenden eines Bonding-Drucks von einigen MPa kann ein Bonding von Kontaktflächen innerhalb von Millisekunden eintreten. Die Wärme, die durch die selbst voran schreitende Reaktion erzeugt wird, bleibt nahe der Kontaktgrenzfläche lokalisiert und dringt nicht zu sehr in das Volumen der zu verbindenden metallischen Gegenflächen ein.
- In einer Ausführungsform kann die Nanovelcro-Technologie zum Binden metallischer Grenzflächen ohne Anwendung eines Lötmittels verwendet werden. Bei dieser Bonding-Technik werden Dünnschichten, die leitende Kohlenstoffnanoröhrchen aufweisen, bei den zu verbindenden Kontaktgrenzflächen angewendet. Die zwei Kontaktschichten werden unter Druck verstrickt und bilden elektrische und mechanische Kontakte ohne Anwendung eines Lötmittels.
-
9 zeigt eine Ausführungsform eines Verfahrens zur Herstellung einer gepackten elektrischen Vorrichtung900 . In einem ersten Schritt902 wird eine Komponente auf einem Träger angebracht. Die Komponente kann ein Halbleiter-Chip sein. Zum Beispiel kann der Halbleiter-Chip eine Leistungshalbleitervorrichtung wie ein Bipolartransistor, ein Bipolartransistor mit isolierter Gate-Elektrode (IGBT), ein Leistungs-MOSFET, eine Thyristor oder eine Diode sein. Als Alternative kann die Komponente zum Beispiel ein Widerstand, eine Schutzvorrichtung, ein Kondensator, ein Sensor oder eine Detektor sein. Der Träger kann ein Leadframe, ein Substrat oder eine gedruckte Leiterplatte sein. Zum Beispiel kann der Leadframe Kupfer und/oder Nickel aufweisen. - Die Komponente kann elektrisch unter Verwendung eines Lötmittels, einer Lötpaste eines leitenden Harzes oder eines leitenden Bandes an den Träger gebondet werden. Als Alternative wird die Komponente an den Träger durch isolierendes Bonding gebondet. Das isolierende Bonding kann ein Epoxy- oder Harz-Bonding oder ein Klebstoffband aufweisen. Die Komponentenbefestigungsverbindung kann eine isolierende Barriere sein.
- In Schritt
904 wird ein Verbindungselement (ein eingebettetes System oder eine laminierte Packung) auf der Komponente angeordnet, wodurch ein erster Komponentenkontakt auf einer Deckfläche der Komponente mit einem ersten Trägerkontakt verbunden wird. Das Verbindungselement kann eine weitere Komponente wie einen Halbleiter-Chip aufweisen. Zum Beispiel kann der Halbleiter-Chip eine Leistungshalbleitervorrichtung wie ein Bipolartransistor, ein Bipolartransistor mit isolierter Gate-Elektrode (IGBT), ein Leistungs-MOSFET, ein Thyristor oder eine Diode sein. Als Alternative kann die Komponente zum Beispiel ein Widerstand, eine Schutzvorrichtung, ein Kondensator, ein Sensor oder ein Detektor sein. Die Komponente kann in die laminierte Packung eingebettet sein. - Das Verbindungselement kann mehrere Kontakte aufweisen. Das Verbindungselement kann Zwischenverbindungen, leitende Bahnen und Durchgangslöcher zur Verbindung des ersten Komponentenkontakts mit dem ersten Trägerkontakt und der weiteren Komponente, die in der laminierten Packung eingebettet ist, aufweisen. Der erste Komponentenkontakt und der erste Trägerkontakt können unter Verwendung eines Lötmittels, einer Lötmittelpaste, eines leitenden Harzes oder eines leitenden Bandes elektrisch an die laminierte Packung gebondet werden.
- In einer Ausführungsform kann das Verbindungselement (eingebettete System oder laminierte Packung) einen ersten Komponentenkontakt an einen ersten Trägerkontakt und einen zweiten Trägerkontakt anschließen. Ferner kann das Verbindungselement einen ersten Komponentenkontakt an einen ersten Trägerkontakt und einen zweiten Komponentenkontakt an einen zweiten Trägerkontakt anschließen.
- In Schritt
906 wird ein zweiter Komponentenkontakt und/oder ein optionaler dritter Komponentenkontakt an einen zweiten Trägerkontakt und/oder einen optionalen dritten Trägerkontakt unter Verwendung von Verbindungselementen angeschlossen. Das Verbindungselement kann einen Draht oder eine metallische Klemme aufweisen. In einem besonderen Beispiel sind der zweite Komponentenkontakt und/oder der dritte Komponentenkontakt an ihre entsprechenden Trägerkontakte durch einen Draht oder Drähte angeschlossen. Die Drähte werden unter Verwendung eines Kugel-Bonding-Prozesses, eines Keil-Bonding-Prozesses, eines Streifen-Bonding-Prozesses, eines Band-Bonding-Prozesses oder einer Kombination davon gebondet. - Im letzten Schritt
908 wird die Komponente versiegelt oder mit einem Einkapselungsmaterial einkapselt. Das Einkapselungsmaterial kann eine Vergussmasse, ein Laminat oder ein Gehäuse umfassen. Das Einkapselungsmaterial kann den Träger teilweise einkapseln und die Komponente vollständig einkapseln. Das Einkapselungsmaterial kann die Verbindungselemente vollständig oder teilweise einkapseln. Ferner kann das Einkapselungsmaterial das Verbindungselement (eingebettete System oder laminierte Packung) vollständig oder teilweise einkapseln. Zum Beispiel wird eine Bodenhauptfläche des Verbindungselements mit dem Einkapselungsmaterial einkapselt, während eine Deckhauptfläche nicht einkapselt wird. In einer Ausführungsform sind das Einkapselungsmaterial und das Laminatmaterial des Verbindungselements verschieden. Als Alternative sind das Einkapselungsmaterial und das Laminatmaterial des Verbindungselements dasselbe. - Obwohl die vorliegende Erfindung und ihre Vorteile ausführlich beschrieben wurden, sollte klar sein, dass verschiedene Änderungen, Substitutionen und Abänderungen hierin vorgenommen werden können, ohne vom Wesen und Konzept der Erfindung abzuweichen, wie durch die beiliegenden Ansprüche definiert.
- Ferner soll das Konzept der vorliegenden Erfindung nicht auf die besonderen Ausführungsformen des Prozesses, der Maschine, der Herstellung, der Substanzzusammensetzung, der Mittel, Verfahren und Schritte, die in der Beschreibung dargelegt sind, beschränkt sein. Wie für einen Fachmann aus der Offenbarung der vorliegenden Erfindung hervorgeht, können Prozesse, Maschinen, Herstellung, Substanzzusammensetzung, Mittel, Verfahren oder Schritte, die gegenwärtig existieren oder später entwickelt werden, die im Wesentlichen dieselbe Funktion erfüllen oder im Wesentlichen dasselbe Ergebnis wie die entsprechenden hierin beschriebenen Ausführungsformen liefern, gemäß der vorliegenden Erfindung verwendet werden. Daher sollen die beiliegenden Ansprüche diese Prozesse, Maschinen, Herstellung, Substanzzusammensetzung, Mittel, Verfahren oder Schritte in ihrem Konzept enthalten.
Claims (26)
- Gepackte Vorrichtung, umfassend: einen Träger, der einen ersten Trägerkontakt umfasst; eine erste elektrische Komponente, wobei die erste elektrische Komponente eine erste Deckfläche und eine erste Bodenfläche umfasst, wobei die erste elektrische Komponente einen ersten Komponentenkontakt, der auf der ersten Deckfläche angeordnet ist, umfasst, wobei die erste Bodenfläche mit dem Träger verbunden ist; ein eingebettetes System, das eine zweite elektrische Komponente und ein Verbindungselement umfasst, wobei das eingebettete System eine Systemdeckfläche und eine Systembodenfläche umfasst, wobei die Systembodenfläche einen ersten Systemkontakt und einen zweiten Systemkontakt umfasst, und wobei der erste Systemkontakt an den ersten Komponentenkontakt angeschlossen ist und der zweite Systemkontakt an den ersten Trägerkontakt angeschlossen ist; und ein Einkapselungsmittel, das die erste elektrische Komponente einkapselt.
- Gepackte Vorrichtung nach Anspruch 1, ferner umfassend: den Träger umfassend einen zweiten Trägerkontakt; die erste elektrische Komponente umfassend einen zweiten Komponentenkontakt auf der ersten Deckfläche; und ein erstes Verbindungselement, das den zweiten Komponentenkontakt mit dem zweiten Trägerkontakt verbindet.
- Gepackte Vorrichtung nach Anspruch 2, ferner umfassend den Träger, der eine Komponentenbefestigungsregion und die erste elektrische Komponente umfassend einen dritten Komponentenkontakt auf der ersten Bodenfläche umfasst, wobei der dritte Komponentenkontakt elektrisch an die Komponentenbefestigungsregion des Trägers angeschlossen ist.
- Gepackte Vorrichtung nach Anspruch 3, wobei die erste elektrische Komponente ein erster Transistor ist, wobei der erste Komponentenkontakt ein erster Source-Kontakt des ersten Transistors ist, wobei der zweite Komponentenkontakt ein erster Gate-Kontakt des ersten Transistors ist und wobei der dritte Komponentenkontakt ein erster Drain-Kontakt des ersten Transistors ist.
- Gepackte Vorrichtung nach Anspruch 4, wobei die zweite elektrische Komponente ein zweiter Transistor ist, wobei der zweite Transistor eine zweite Deckfläche und eine zweite Bodenfläche umfasst, wobei ein zweiter Source-Kontakt auf der zweiten Bodenfläche angeordnet ist und wobei ein zweiter Drain-Kontakt und ein zweiter Gate-Kontakt auf der zweiten Deckfläche angeordnet ist.
- Gepackte Vorrichtung nach Anspruch 5, wobei der erste Source-Kontakt und der zweite Source-Kontakt elektrisch verbunden sind.
- Gepackte Vorrichtung nach Anspruch 6, ferner umfassend: den Träger umfassend einen dritten Trägerkontakt und einen vierten Trägerkontakt; ein zweites Verbindungselement; und ein drittes Verbindungselement, wobei das zweite Verbindungselement den zweiten Gate-Kontakt an den dritten Trägerkontakt anschließt und wobei das dritte Verbindungselement den zweiten Drain-Kontakt an den vierten Trägerkontakt anschließt.
- Gepackte Vorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 7, wobei die erste elektrische Komponente ein erster Transistor ist, wobei der erste Komponentenkontakt ein erster Drain-Kontakt des ersten Transistors ist, wobei der zweite Komponentenkontakt ein erster Gate-Kontakt des ersten Transistors ist und wobei der dritte Komponentenkontakt ein erster Source-Kontakt des ersten Transistors ist.
- Gepackte Vorrichtung nach Anspruch 8, wobei die zweite elektrische Komponente ein zweiter Transistor ist, wobei der zweite Transistor eine zweite Deckfläche und eine zweite Bodenfläche umfasst, wobei ein zweiter Source-Kontakt und ein zweiter Gate-Kontakt auf der zweiten Bodenfläche angeordnet sind und wobei ein zweiter Drain-Kontakt auf der zweiten Deckfläche angeordnet ist.
- Gepackte Vorrichtung nach Anspruch 9, wobei der erste Drain-Kontakt und der zweite Drain-Kontakt elektrisch verbunden sind.
- Gepackte Vorrichtung nach Anspruch 10, ferner umfassend den Träger umfassend einen dritten Trägerkontakt und ferner umfassend ein zweites Verbindungselement, wobei das zweite Verbindungselement den zweiten Gate-Kontakt an den dritten Trägerkontakt anschließt.
- Gepackte Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das eingebettete System eine zweite Komponente umfasst, die in ein Laminatmaterial eingebettet ist.
- Gepackte Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Träger ferner einen zweiten Trägerkontakt umfasst, wobei die erste elektrische Komponente einen zweiten Komponentenkontakt auf der ersten Deckfläche umfasst, wobei das eingebettete System einen zweiten Systemkontakt auf der Systembodenfläche aufweist und wobei der zweite Systemkontakt elektrisch an den zweiten Komponentenkontakt angeschlossen ist und der zweite Systemkontakt elektrisch an den zweiten Trägerkontakt angeschlossen ist.
- Gepackte Halbleitervorrichtung, umfassend: einen Leadframe, der einen ersten Lead, einen zweiten Lead, einen dritten Lead und einen vierten Lead umfasst; eine erste Halbleitervorrichtung, die eine erste Deckfläche und eine erste Bodenfläche umfasst, wobei die erste Halbleitervorrichtung einen ersten Vorrichtungskontakt und einen zweiten Vorrichtungskontakt, die auf der ersten Deckfläche angeordnet sind, und einen dritten Vorrichtungskontakt, der auf der ersten Bodenfläche angeordnet ist, umfasst; eine laminierte Packung, die ein Verbindungselement und eine zweite Halbleitervorrichtung umfasst, wobei die laminierte Packung eine Packungsdeckfläche und eine Packungsbodenfläche hat, wobei ein erster Packungskontakt und ein zweiter Packungskontakt auf der Packungsbodenfläche angeordnet sind und wobei ein dritter Packungskontakt und ein vierter Packungskontakt auf der Packungsdeckfläche angeordnet sind, wobei der erste Packungskontakt und der zweite Packungskontakt durch das Verbindungselement verbunden sind; einen ersten Draht oder eine erste leitende Klemme; einen zweiten Draht oder eine zweite leitende Klemme; einen dritten Draht oder eine dritte leitende Klemme; und ein Einkapselungsmaterial, das die erste Halbleitervorrichtung einkapselt, wobei der erste Packungskontakt an den ersten Lead angeschlossen ist, wobei der zweite Packungskontakt an den ersten Vorrichtungskontakt angeschlossen ist, wobei der dritte Pakkungskontakt über den ersten Draht oder die erste leitende Klemme an den dritten Lead angeschlossen ist, wobei der vierte Packungskontakt über den zweiten Draht oder die zweite leitende Klemme an den vierten Lead angeschlossen ist, und wobei der zweite Vorrichtungskontakt über den dritten Draht oder die dritte leitende Klemme an den zweiten Lead angeschlossen ist.
- Vorrichtung nach Anspruch 14, wobei der erste Vorrichtungskontakt ein erster Source-Kontakt ist, wobei der zweite Vorrichtungskontakt ein erster Gate-Kontakt ist, wobei der dritte Vorrichtungskontakt ein Drain-Kontakt ist, wobei die zweite Halbleitervorrichtung einen zweiten Source-Kontakt, einen zweiten Gate-Kontakt und einen zweiten Drain-Kontakt umfasst, wobei der zweite Source-Kontakt an den ersten Pakkungskontakt und den zweiten Packungskontakt angeschlossen ist, wobei der zweite Gate-Kontakt an den dritten Packungskontakt angeschlossen ist und wobei der zweite Drain-Kontakt an den vierten Packungskontakt angeschlossen ist.
- Vorrichtung nach Anspruch 14 oder 15, wobei die erste Halbleitervorrichtung und die zweite Halbleitervorrichtung Leistungstransistoren sind.
- Vorrichtung nach einem der Ansprüche 14 bis 16, wobei das Einkapselungsmaterial und die laminierte Packung ein Prepreg-Material umfassen.
- Gepackte Halbleitervorrichtung, umfassend: einen Leadframe, der einen ersten Lead, einen zweiten Lead und einen dritten Lead umfasst; eine erste Halbleitervorrichtung, die eine erste Deckfläche und eine erste Bodenfläche umfasst, wobei die erste Halbleitervorrichtung ferner einen ersten Vorrichtungskontakt und einen zweiten Vorrichtungskontakt umfasst, die auf der ersten Deckfläche angeordnet sind, und einen dritten Vorrichtungskontakt, der auf der ersten Bodenfläche angeordnet ist; eine laminierte Packung, die ein Verbindungselement und eine zweite Halbleitervorrichtung umfasst, wobei die laminierte Packung eine Packungsdeckfläche und eine Packungsbodenfläche hat, wobei ein erster Packungskontakt, ein zweiter Packungskontakt und ein dritter Packungskontakt auf der Pakkungsbodenfläche angeordnet sind; einen ersten Draht oder eine erste leitende Klemme; und einen zweiten Draht oder eine zweite leitende Klemme, wobei der erste Packungskontakt an den ersten Lead angeschlossen ist, wobei der zweite Packungskontakt an den ersten Vorrichtungskontakt angeschlossen ist, wobei der dritte Pakkungskontakt über den ersten Draht oder die erste leitende Klemme an den zweiten Lead angeschlossen ist, und wobei der zweite Vorrichtungskontakt über den zweiten Draht oder die zweite leitende Klemme an den dritten Lead angeschlossen ist.
- Vorrichtung nach Anspruch 18, wobei der erste Vorrichtungskontakt ein erster Drain-Kontakt ist, wobei der zweite Vorrichtungskontakt ein erster Gate-Kontakt ist, wobei der dritte Vorrichtungskontakt ein Source-Kontakt ist, wobei die zweite Halbleitervorrichtung einen zweiten Source-Kontakt, einen zweiten Gate-Kontakt und einen zweiten Drain-Kontakt umfasst, wobei der zweite Source-Kontakt an den ersten Pakkungskontakt angeschlossen ist, wobei der zweite Drain-Kontakt an den zweiten Packungskontakt angeschlossen ist und wobei der zweite Gate-Kontakt an den dritten Packungskontakt angeschlossen ist.
- Vorrichtung nach Anspruch 18, wobei der erste Vorrichtungskontakt ein erster Source-Kontakt ist, wobei der zweite Vorrichtungskontakt ein erster Gate-Kontakt ist, wobei der dritte Vorrichtungskontakt ein Drain-Kontakt ist, wobei die zweite Halbleitervorrichtung einen zweiten Source-Kontakt, einen zweiten Gate-Kontakt und einen zweiten Drain-Kontakt aufweist, wobei der zweite Drain-Kontakt an den ersten Pakkungskontakt angeschlossen ist, wobei der zweite Source-Kontakt an den zweiten Packungskontakt angeschlossen ist und wobei der zweite Gate-Kontakt an den dritten Packungskontakt angeschlossen ist.
- Vorrichtung nach einem der Ansprüche 18 bis 20, wobei die erste Halbleitervorrichtung und die zweite Halbleitervorrichtung Leistungstransistoren sind.
- Vorrichtung nach einem der Ansprüche 18 bis 21, ferner umfassend ein Einkapselungsmaterial, wobei das Einkapselungsmaterial und die laminierte Packung ein Prepreg-Material umfassen.
- Verfahren zum Herstellen einer gepackten Komponente, wobei das Verfahren umfasst: Anordnen einer ersten elektrischen Komponente mit einer ersten Bodenfläche auf einem Träger, wobei die erste Bodenfläche einer ersten Deckfläche gegenüberliegt, wobei die erste elektrische Komponente einen ersten Komponentenkontakt auf der ersten Deckfläche umfasst; elektrisches Verbinden eines ersten Trägerkontakts des Trägers mit dem ersten Komponentenkontakt der ersten elektrischen Komponente durch einen ersten Packungskontakt und einen zweiten Packungskontakt, die an einer Bodenseite einer laminierten Packung angeordnet sind, die eine zweite elektrische Komponente umfasst; und Einkapseln der ersten elektrischen Komponente.
- Verfahren nach Anspruch 23, ferner umfassend das elektrische Verbinden eines zweiten Komponentenkontakts, der auf der ersten Deckfläche der ersten elektrischen Komponente angeordnet ist, mit einem zweiten Trägerkontakt durch einen ersten Draht oder eine erste leitende Klemme.
- Verfahren nach Anspruch 24, ferner umfassend das elektrische Verbinden eines dritten Packungskontakts, der auf einer Deckseite der laminierten Packung angeordnet ist, mit einem dritten Trägerkontakt des Trägers durch einen zweiten Draht oder eine zweite leitende Klemme.
- Verfahren nach Anspruch 25, ferner umfassend das elektrische Verbinden eines vierten Packungskontakts, der auf der Deckseite der laminierten Packung angeordnet ist, mit einem vierten Trägerkontakt des Trägers durch einen dritten Draht oder eine dritte leitende Klemme.
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