DE102013013624A1 - Mikroskopsystem - Google Patents

Mikroskopsystem Download PDF

Info

Publication number
DE102013013624A1
DE102013013624A1 DE201310013624 DE102013013624A DE102013013624A1 DE 102013013624 A1 DE102013013624 A1 DE 102013013624A1 DE 201310013624 DE201310013624 DE 201310013624 DE 102013013624 A DE102013013624 A DE 102013013624A DE 102013013624 A1 DE102013013624 A1 DE 102013013624A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
insert plate
insert
microscope system
orientation
plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE201310013624
Other languages
English (en)
Inventor
Detlef Hein
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss Microscopy GmbH filed Critical Carl Zeiss Microscopy GmbH
Priority to DE201310013624 priority Critical patent/DE102013013624A1/de
Publication of DE102013013624A1 publication Critical patent/DE102013013624A1/de
Ceased legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure
    • G02B21/26Stages; Adjusting means therefor

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Mikroskopsystem mit einem Tisch (TM) und einer Schnittstelle in einer oberen Tischplatte (OTP) zur Aufnahme von Einlegeplatten (AE) mit verschiedenen Funktionalitäten. Erfindungsgemäß sind die Konturen für die Funktionalitäten zweier Einlegeplatten (AE) auf jeweils einer Seite einer Wendeeinlegeplatte (AW) ausgebildet.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Mikroskopsystem mit einem Tisch und einer Schnittstelle in einer oberen Tischplatte zur Aufnahme von Einlegeplatten für verschiedene mikroskopische Anwendungen.
  • Nachteilig bei den Lösungen gemäß dem Stand der Technik ist, dass zur gewünschten Nutzung von beispielsweise zweier verschiedener Funktionalitäten, wie eine ebene Oberfläche ohne Anschlagwinkel oder eine ebene Oberfläche mit Anschlagwinkel, jeweils eine Einlegeplatte benötigt wird, wobei immer eine der beiden Einlegeplatten entsprechend verstaut werden muss. Erfahrungsgemäß gehen solche einzelnen Komponenten leicht verloren. Neben der kostenintensiven Fertigung der verschiedenartig gestalteten Einlegeplatten ist das Wechseln der Einlegeplatten sehr zeitaufwendig.
  • Die Lösungen nach dem Stand der Technik werden in den Ausführungsbeispielen näher beschrieben.
  • Ausgehend von diesen Nachteilen liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Mikroskopsystem dahingehend weiter zu entwickeln, dass eine vereinfachte Verwendung von den Funktionalitäten (Konturen) zweier Einlegeplatten bei Reduzierung des Kostenaufwandes zur Herstellung dieser Einlegeplatten möglich wird.
  • Diese Aufgabe wird durch ein Mikroskop der eingangs beschriebenen Art mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind in den Unteransprüchen 2 bis 9 angegeben.
  • Erfindungsgemäß sind die Konturen für die Funktionalitäten zweier Einlegeplatten (AE) auf jeweils einer Seite einer Wendeeinlegeplatte, die sowohl als Auflicht-Wendeeinlegeplatte, als auch als Durchlicht-Wendeeinlegeplatte gestaltet sein kann, ausgebildet.
  • Für den Fall der Ausbildung als Durchlicht-Wendeeinlegeplatte, besitzt diese ein lichtdurchlässiges plattenförmiges Element, wobei die der ebenen Form abweichenden Konturen einer Orientierung außerhalb des lichtdurchlässigen Elementes angeordnet sind.
  • Vorteilhafterweise enthält eine obere Tischplatte des Tischs Freimachungen für vorhandene erhabene Aufbauten auf den zur Objektauflage genutzten Oberflächen in den beiden möglichen Orientierungen der vorgesehenen Wendeeinlegeplatte. Die Wendeeinlegeplatte liegt dabei über von oben unter Anwendungsbedingungen zugänglichen Gewindestiften auf erhabenen Auflagebolzen auf, wobei für jede der beiden möglichen Orientierungen jeweils ein Satz Gewindestifte vorhanden ist. Das Bohrbild der Gewindestifte ist dabei über einen Versatz so angepasst, dass jeweils nur die vorgesehenen Gewindestifte für eine Orientierung auf den Auflagebolzen aufliegen, wobei die Gewindestifte komplett innerhalb der Auflicht-Wendeeinlegeplatte ohne Überstand nach außen angeordnet sind.
  • Anstelle der Auflagebolzen ist auch die Anordnung von fest eingeklebten Gewindestiften oder gefrästen Auflagedomen denkbar.
  • In einer vorteilhaften Ausführungsform sind in der ersten Orientierung auf der ersten Oberfläche der Wendeeinlegeplatte zur Gewährleistung einer reproduzierbaren Objektanlage Anschlagleisten fest montiert, wobei der Tisch zur Aufnahme der Anschlagleisten in der zweiten Orientierung der Einlegeplatte entsprechende Freimachungen mindestens in der oberen Tischplatte besitzt.
  • Ferner ist es von Vorteil, dass die Wendeeinlegeplatte über eine Entnahmenut im Tisch werkzeuglos wechselbar ist.
  • Der Tisch ist dabei so gestaltet, dass die konventionellen Einlegeplatten weiterhin verwendet werden können, da das Bohrbild für die Gewindestifte in der Wendeeinlegeplatte an das Bohrbild für die Auflagebolzen für die konventionellen Einlegeplatten angepasst ist.
  • Zweckmäßigerweise sind der Tisch und die Wendeeinlegeplatte Bestandteil eines Digitalmikroskops.
  • Mit Hilfe der Erfindung ist es möglich, die Funktionen von zwei verschiedenen Einlegeplatten in einer einzigen Einlegeplatte durch eine kostengünstig ausgeführte Wendeeinlegeplatte zu vereinen, wobei die Wendeeinlegeplatte sowohl in der normalen, als auch in der inversen Orientierung werksseitig kippelfrei justierbar ist, ohne dass störende Aufbauten zur Gewährleistung einer kippelfreien Justierung eine vollflächige Anlage von größeren ebenen Objekten verhindern. Dabei ist es sehr vorteilhaft, dass die Entnahme der Einlegeplatte sowie der Wechsel zwischen den beiden Orientierungen der Einlegeplatte schnell und intuitiv erkennbar ohne Werkzeug erfolgen kann und im Betrieb kein einziges separates zum aktuellen Betrieb nicht erforderliches Bauteil anfällt, beziehungsweise verstaut werden muss. Da zudem die Kippelfreiheit in beiden Orientierungen durch die werksseitige Vorjustierung bereits sichergestellt ist, kann auf die zusätzliche Lieferung eines Werkzeugs verzichtet werden. Da im Betrieb auch kein einziges zum aktuellen Betrieb nicht erforderliches Bauteil verstaut werden muss, gibt es somit keine losen Teile, die praktisch häufig verlegt werden und dann gegebenenfalls beim Hersteller nachbestellt werden müssen. Außerdem ist die Lösung relativ kostengünstig.
  • Die besonderen Nachteile der Lösungen zum Stand der Technik mit einer Auflicht-Einlegeplatte und die erfindungsgemäße Lösung mit einer Auflicht-Wendeeinlegeplatte sollen nachstehend anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert werden. Dazu zeigen:
  • 1: Darstellungen eines Digitalmikroskopie-Systems mit einem Schwenkstativ gemäß dem Stand der Technik,
  • 2: Darstellungen einer in einem Tisch angeordneten Auflicht-Einlegeplatte mit ebener Oberfläche gemäß dem Stand der Technik,
  • 3: Darstellungen einer in einem Tisch angeordneten Auflicht-Einlegeplatte mit Anschlagwinkel gemäß dem Stand der Technik,
  • 4: Darstellung eines erfindungsgemäß vorbereiteten Tischs,
  • 5: Darstellungen einer erfindungsgemäß in einem gemäß 4 vorbereiteten Tisch angeordneten Auflicht-Wendeeinlegeplatte mit ebener Oberfläche und Anschlagwinkel, wobei eine erste Oberfläche OF1 mit einem darauf montierten Anschlagwinkel wirksam ist,
  • 6: Darstellungen einer erfindungsgemäß in einem gemäß 4 vorbereiteten Tisch angeordneten Auflicht-Wendeeinlegeplatte mit ebener Oberfläche und Anschlagwinkel, wobei eine zweite ebene Oberfläche OF2 wirksam ist und
  • 7: Schnittdarstellungen zu den 5 und 6.
  • Die 1a und 1b zeigen ein Digitalmikroskopie-System mit einem Schwenkstativ SST gemäß dem Stand der Technik. Die 1a enthält eine Darstellung der vom Benutzer aus gesehenen Vorderansicht des Digitalmikroskopie-Systems inclusive Schwenkstativ SST, einer Bedieneinheit BE, sowie einer Bedien- und Anzeigeeinheit BA, während die 1b nur die Seitenansicht von links zum Schwenkstativ SST darstellt.
  • Das Schwenkstativ SST enthält einen Stativfuß SF, auf dem ein Lagerbock LB montiert ist, in dem eine Lagerung für einen um eine Drehachse DA schwenkbaren Gelenkteil GT mit daran fest angeordnetem Schwenkarm SA integriert ist. Am Schwenkarm ist eine motorisierte obere Z-Führung ZMO angeordnet, über die ein Träger TR zur Adaption eines Zoomkörpers ZK hinsichtlich der Z-Position variiert werden kann.
  • In den 1a und 1b ist beispielhaft eine erste Z-Position ZO1 für die über eine motorisierte obere Z-Führung ZMO relativ zur Drehachse DA bewegbaren Teile dargestellt, wozu neben dem Träger TR und dem Zoomkörper ZK auch die im Zoomkörper ZK integrierten Beleuchtung und Kamera, sowie das Objektiv OB gehören. Die erste Z-Position ZO1 ist dadurch gekennzeichnet, dass das im Schnittpunkt der optischen Achse OA des abbildenden Systems mit der Oberseite OSO eines Objektes OBT angeordnete Objektdetail OD in der Senkrechtstellung des Schwenkarms SA scharf in der Bildmitte abgebildet wird, denn die Oberseite OSO des Objektes OBT liegt in der Objektebene OE des abbildenden Systems.
  • Am Stativfuß SF ist eine motorisierte untere Z-Führung ZMU angebracht, wobei die motorisierte untere Z-Führung ZMU auch alternativ am Lagerbock LB angebracht sein könnte. Die Rückseite des Schwenkstativs SST wird durch eine Abdeckhaube AH abgedeckt.
  • An der hinsichtlich der Z-Position relativ zur Drehachse DA variierbaren motorisierten unteren Z-Führung ZMU lässt sich ein motorisierter XY-Tisch TM adaptieren, der eine obere Tischplatte OTP beinhaltet, in die eine Auflicht-Einlegeplatte AE (in den 1 nicht sichtbar), deren Oberfläche OF als Objektauflage dient, integriert ist.
  • Gemäß der 1a und 1b ist an der motorisierten unteren Z-Führung ZMU eine erste Z-Position ZU1 < 0 relativ zur Drehachse DA eingestellt, in der die Oberseite OSO des Objektes OBT in der angenommenen Drehachse DA liegt. Außerdem befindet sich der motorisierte XY-Tisch TM in der Mittenstellung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass sich der Tisch in entgegengesetzten X- bzw. Y-Verfahrrichtungen jeweils um denselben Verfahrweg im Rahmen der üblichen Toleranzen bewegen lässt, bevor er sich jeweils in den Endstellungen befindet.
  • Die Bewegung des Schwenkarms SA wird durch eine hier nicht weiter dargestellte um die Drehachse DA angeordnete High Torque-Magnetbremse blockiert. Die Blockierung kann für die Dauer des Tastendrucks eines Tasters TS gemäß 1a über das Lösen der High Torque-Magnetbremse aufgehoben werden. Durch einen ergonomisch geformten Bereich EB mit der Griffoberfläche GO am oberen Ende des Schwenkarms SA lässt sich der Schwenkwinkel somit schnell einstellen, wobei sich die am häufigsten benutzte senkrechte Ausrichtung des Schwenkarms SA über eine beim Schwenkvorgang deutlich spürbare Rastanordnung leicht sicherstellen beziehungsweise mit hinreichend guter Genauigkeit reproduzieren lässt.
  • Die 2 zeigen Darstellungen der in einem Tisch TM angeordneten Auflicht-Einlegeplatte AE mit ebener Oberfläche OF gemäß dem Stand der Technik. Die Bezeichnungen entsprechen den Bezeichnungen aus den 1. Die an der X-Achse des motorisierten XY-Tischs TM gemäß 1a eingestellte Mittenposition in der X-Richtung ist durch einen Verfahrweg XM relativ zu einer Referenzposition, in der sich ein Nullpunkt NP für die X-Achse befindet, gekennzeichnet. Ausgehend vom Nullpunkt NP lässt sich der motorisierte XY-Tisch TM in der X-Richtung um einen maximalen Verfahrweg XE bewegen. Die an der Y-Achse des motorisierten XY-Tischs TM gemäß 1b eingestellte Mittenposition in der Y-Richtung ist durch einen Verfahrweg YM relativ zu einer Referenzposition, in der sich ein Nullpunkt NP für die Y-Achse befindet, gekennzeichnet. Ausgehend vom Nullpunkt NP lässt sich der motorisierte XY-Tisch TM in der Y-Richtung um einen maximalen Verfahrweg YE bewegen.
  • Der motorisierte XY-Tisch TM enthält in der oberen Tischplatte OTP eine Schnittstelle für optional in den Tisch einlegbares Zubehör. Dort lässt sich beispielsweise die Auflicht-Einlegeplatte AE einlegen. Jede Auflicht-Einlegeplatte, die in der vorgesehenen Schnittstelle in den Tisch eingelegt werden kann, liegt in der Regel nicht vollflächig oder umlaufend am vollen Umfang auf, da die bei vertretbaren Kosten fertigungsbedingt zwangsläufig auftretenden Unebenheiten sonst zu einer nicht kippelfreien Auflage führen würden. Stattdessen werden in der Auflicht-Einlegeplatte AE in der Regel vier Gewindestifte GSE zur Einstellung einer kippelfreien Auflage vorgesehen. Diese befinden sich normalerweise so dicht wie möglich an den Rändern der Auflicht-Einlegeplatte AE, beispielsweise in einem Abstand RX zum Rand in der X-Richtung und in einem Abstand RY zum Rand in der Y-Richtung. Dabei sind die Gewindestifte so angeordnet, dass sie mit einem geeigneten Werkzeug von oben justiert werden können, was eine Justierung unter Anwendungsbedingungen erlaubt. Dies ist besonders vorteilhaft, da bei der Justierung über die Gewindestifte GSE weitere Bedingungen eingehalten werden müssen, die sich praktisch nur unter Anwendungsbedingungen mit vertretbarem Aufwand sicherstellen lassen. Die wirksame Z-Position der Oberfläche OF zur Objektauflage auf dem Tisch TM darf sich beim Verfahren des Tischs TM in einer oder in beiden Tischachsen nicht so ändern, dass das Bild eines ebenen Objektes dabei unscharf wird. Außerdem ist sicherzustellen, dass die Oberfläche OF zur Objektauflage des Tischs TM senkrecht zur optischen Achse OA des abbildenden Systems ausgerichtet ist. Praktisch stehen die Gewindestifte nach der Justierung nach unten um wenige Zehntel Millimeter über die Auflicht-Einlegeplatte AE hinaus, so dass die Auflage sicher aus den vier Gewindestiften GSE gebildet wird, die direkt an der oberen Tischplatte OTP anliegen.
  • Über einen Markierungspunkt MPO in der oberen Tischplatte OTP und einen in der korrekten Einbaulage direkt in der Auflicht-Einlegeplatte AE benachbart angeordneten Markierungspunkt MPE lässt sich leicht erkennen, in welcher Einbaulage die Auflicht-Einlegeplatte AE in die obere Tischplatte OTP eingesetzt werden muss. Nur in dieser korrekten Einbaulage wurde die vorab erfolgte Justierung der Gewindestifte GSE durchgeführt, das heißt in einer anderen Einbaulage ist die Anordnung gegebenenfalls nicht mehr kippelfrei und/oder die anderen Bedingungen werden nicht mehr erfüllt.
  • Für die Nutzung der Oberfläche OF als Objektauflage ist es wichtig, dass oberhalb der Oberfläche OF an keiner Stelle etwas nach oben übersteht, da der Benutzer sonst das Objekt nicht über die gesamte Oberfläche OF schieben könnte, ohne daran hängen zu bleiben. Deshalb dürfen auch die Gewindestifte GSE nach der Justierung nicht nach oben überstehen, d. h. sie sind entsprechend kurz zu dimensionieren.
  • Zur Schnittstelle gehört auch eine Entnahmenut EN, in die der Benutzer mit einem Finger eingreifen kann, um die Auflicht-Einlegeplatte AE, die über eine Andruckfeder AF in die gegenüberliegende Ecke gedrückt wird, gegen die Federkraft entnehmen zu können.
  • Die 3 zeigen Darstellungen einer in einem Tisch TM angeordneten Auflicht-Einlegeplatte AE mit einem Anschlagwinkel gemäß dem Stand der Technik. Die Bezeichnungen entsprechen den Bezeichnungen aus den 1 und 2. Die Funktion des Anschlagwinkels wird über eine Anschlagleiste ALX für die X-Richtung und eine Anschlagleiste ALY für die Y-Richtung gebildet. Hiermit ist es möglich, ein geeignetes Objekt, beispielsweise Leiterplatten, reproduzierbar gegen den Anschlagwinkel zu schieben, so dass sich gleichartige Objekte schnell in eine bereits ermittelte geeignete Arbeitsposition bringen lassen und reproduzierbare Messungen und Vergleiche bei minimiertem Arbeitsaufwand für den Benutzer möglich sind.
  • Für die Nutzung der Oberfläche OF als Objektauflage ist es auch hier wichtig, dass oberhalb der Oberfläche OF an keiner Stelle etwas nach oben übersteht, da der Benutzer sonst das Objekt nicht über die gesamte Oberfläche OF schieben könnte, ohne daran hängen zu bleiben. Deshalb dürfen die Gewindestifte GSE nach der Justierung auch hier nicht nach oben überstehen, das heißt, sie sind entsprechend kurz zu dimensionieren. In diesem Sinn erzeugen die Anschlagleisten ALX und ALY keinen störenden Überstand nach oben, denn diese werden zum bestimmungsgemäßen Gebrauch benötigt. Vielmehr muss sichergestellt sein, dass sich in Richtung des Anschlagwinkels vor dem Anschlagwinkel keine überstehenden Hindernisse befinden.
  • Der Anschlagwinkel wird so angeordnet, dass die Federkraft der Andruckfeder AF in der korrekten Ausrichtung der Auflicht-Einlegeplatte AE zusätzlich in die Richtung drückt, in der auch die Objekte gegen den Anschlagwinkel geschoben werden. Dadurch ist sichergestellt, dass beim Schieben der Objekte gegen den Anschlagwinkel nicht gegen die Federkraft gearbeitet werden kann, sondern gegen einen durch die obere Tischplatte OTP gebildeten und hinsichtlich einer guten Reproduzierbarkeit vorteilhaften harten Anschlag.
  • Aufgrund der für Digitalmikroskope besonders wichtigen einfachen Bedienung und schnellen Einsatzbereitschaft ist das Mitliefern von Werkzeug grundsätzlich nicht erwünscht, das heißt, es sind zwei komplette Auflicht-Einlegeplatten an den Benutzer auszuliefern, die bereits werksseitig vorjustiert sein sollen.
  • Nachteilig bei diesen Lösungen gemäß dem Stand der Technik ist, dass zur gewünschten Nutzung der beiden Funktionalitäten (ebene Oberfläche OF und ebene Oberfläche OF mit zusätzlichem Anschlagwinkel) zwei Auflicht-Einlegeplatten AE benötigt werden, wobei immer eine der beiden Auflicht-Einlegeplatten nicht benutzt werden kann und entsprechend verstaut werden muss. Erfahrungsgemäß gehen solche einzelnen Komponenten leicht verloren. Außerdem sind zwei Auflicht-Einlegeplatten AE zusammen recht teuer, was im preiskritischen Markt für Digitalmikroskope besonders nachteilig ist.
  • Aus den vorstehenden Ausführungen resultiert die Aufgabenstellung eine erfindungsgemäße Lösung zu finden, mit der beide Funktionalitäten (ebene Oberfläche OF und ebene Oberfläche OF mit zusätzlichem Anschlagwinkel) in einer einzigen kostengünstigeren Anordnung ohne zusätzlich erforderliche Teile und ohne Justieraufwand für den Benutzer realisiert werden können, wobei ein schneller Wechsel zwischen beiden Funktionalitäten möglich sein soll, die Kippelfreiheit unter Einhaltung aller geometrischen Randbedingungen jeweils für die Oberfläche der Objektauflage sicherzustellen ist und über die Oberfläche der Objektauflage hinaus kein störender Überstand nach oben vorhanden sein darf.
  • Zur erfindungsgemäßen Lösung des Problems werden die bisher auf zwei Auflicht-Einlegeplatten verteilten Funktionalitäten in einer einzigen kostengünstigeren Auflicht-Wendeeinlegeplatte AW zusammengefasst, wobei der Tisch so umgestaltet wird, dass die Anschlagleisten ALX und ALY in der oberen Tischplatte OTP ohne Änderung der Tischhöhe und ohne Einschränkungen der Bewegungsmöglichkeiten aufgenommen werden können und die Justiermöglichkeiten so modifiziert werden, dass eine werksseitige Justierung in beiden zulässigen Einbaulagen der Auflicht-Wendeeinlegeplatte jeweils in Anwendung von oben möglich ist.
  • Hierzu zeigt 4 die Darstellung eines erfindungsgemäß vorbereiteten Tischs. Die Bezeichnungen entsprechen den Bezeichnungen aus den 1 und 2. In der oberen Tischplatte OTP befindet sich eine Freimachung FAL für die Anschlagleisten, denn wenn eine ebene Oberfläche ohne Anschlagleisten benutzt werden soll, müssen die Anschlagleisten in die Freimachung FAL eintauchen können, wobei die Funktion der Andruckfeder AF durch eine hinreichend große Dimensionierung der Freimachung FAL nicht beeinträchtigt wird. Aus fertigungstechnischen Gründen kann es vorteilhaft sein, die Freimachung FAL mit der Entnahmenut EN zu vereinen. Die Funktion der Auflagebolzen ABa, ABb, ABc, ABd sowie deren Anordnung wird anhand der 5 erläutert.
  • 5 zeigt Darstellungen einer erfindungsgemäß in einem gemäß 4 vorbereiteten Tisch angeordneten Auflicht-Wendeeinlegeplatte AW mit einer als Objektauflage wirksamen ebenen Oberfläche OF1 und einem darauf angeordneten Anschlagwinkel aus zwei Anschlagleisten ALX und ALY. Die Bezeichnungen entsprechen sonst den Bezeichnungen aus den 1, 2 und 4.
  • Über einen Markierungspunkt MPO in der oberen Tischplatte OTP und einen in der korrekten Einbaulage direkt in der Auflicht-Wendeeinlegeplatte AW benachbart angeordneten Markierungspunkt MP1 lässt sich leicht erkennen, in welcher Einbaulage die Auflicht-Wendeeinlegeplatte AW in die obere Tischplatte OTP eingesetzt werden muss. Nur in dieser korrekten ersten Einbaulage ist die Funktionalität einer als Objektauflage wirksamen ebenen Oberfläche OF1 und einem darauf angeordneten Anschlagwinkel aus zwei Anschlagleisten ALX und ALY bestimmungsgemäß nutzbar.
  • In 5a ist erkennbar, dass der Abstand RX der Gewindestifte vom Rand der Auflicht-Wendeeinlegeplatte AW gegenüber der Anordnung in den 2 und 3 nicht verändert worden ist. Auch im Abstand RY vom Rand der Auflicht-Wendeeinlegeplatte AW befinden sich noch immer relevante Gewindestifte zur Justierung, allerdings hat sich die Orientierung der Gewindestifte grundsätzlich geändert. Da die Auflicht-Wendeeinlegeplatte AW in beiden korrekten Einbaulagen (mit und ohne Anschlagwinkel-Funktionalität) von oben werksseitig justierbar sein soll, wird ein zusätzlicher Versatz VY des Bohrbildes für die Gewindestifte eingeführt. Dieser bewirkt, dass in der Anordnung gemäß 5 nur die Gewindestifte GS1a, GS1b, GS1c, GS1d auf den Auflagebolzen ABa, ABb, ABc, ABd aufliegen, die von oben für eine werksseitige Justierung zugänglich sind. Die Gewindestifte GS2a, GS2b, GS2c, GS2d werden in dieser Einbaulage gemäß 5 nicht benötigt, sie sind ja auch nur für die entsprechende Anwendung in der zweiten korrekten Einbaulage der Auflicht-Wendeeinlegeplatte gemäß 6 vorgesehen. Damit sich kein störender Überstand durch die gerade nicht benötigten Gewindestifte GS2a, GS2b, GS2c, GS2d nach oben über die als Objektauflage wirksame Oberfläche OF1 hinaus ergibt, wurden die Auflagebolzen ABa, ABb, ABc, ABd so in der oberen Tischplatte OTP angeordnet, dass sie dort um wenige Zehntel Millimeter nach oben überstehen, weshalb sich die gerade gemäß 5 wirksamen Gewindestifte GS1a, GS1b, GS1c, GS1d komplett innerhalb der Auflicht-Wendeeinlegeplatte AW befinden können und um diese Gewindestifte jeweils eine entsprechende Freimachung für die Auflagebolzen ABa, ABb, ABc, ABd vorhanden ist. Die Freimachungen dienen zur Sicherstellung einer definierten Auflage der gerade wirksamen Gewindestifte auf den Auflagebolzen unabhängig von den wirkenden Fertigungstoleranzen. Die Funktion der Auflagebolzen ABa, ABb, ABc, ABd lässt sich auch über entsprechend eingestellte Gewindestifte realisieren, die wenige Zehntel Millimeter nach oben überstehen und eine entsprechende Auflagefläche bereitstellen. Diese und ähnlich wirkende Alternativen, wie beispielsweise gefräste Auflagedome, befinden sich selbstverständlich im Schutzbereich dieser Erfindung.
  • 6 zeigt Darstellungen einer erfindungsgemäß in einem gemäß 4 vorbereiteten Tisch angeordneten Auflicht-Wendeeinlegeplatte AW mit einer als Objektauflage wirksamen ebenen Oberfläche OF2. Die Bezeichnungen entsprechen den Bezeichnungen aus den 5. Die Einbaulage hat sich gegenüber 5 geändert, die Auflicht-Wendeeinlegeplatte AW ist gegenüber 5 um 180° um die X-Achse gedreht in der Schnittstelle angeordnet. Über einen Markierungspunkt MPO in der oberen Tischplatte OTP und einen in der korrekten Einbaulage direkt in der Auflicht-Wendeeinlegeplatte AW benachbart angeordneten Markierungspunkt MP2 lässt sich leicht erkennen, in welcher Einbaulage die Auflicht-Wendeeinlegeplatte AW in die obere Tischplatte OTP eingesetzt werden muss. Nur in dieser korrekten zweiten Einbaulage ist die Funktionalität einer als Objektauflage wirksamen ebenen Oberfläche OF2 bestimmungsgemäß nutzbar.
  • Durch diese invertierte Anordnung sind gemäß 6 nun die Gewindestifte GS2a, GS2b, GS2c, GS2d aktiv und liegen auf den Auflagebolzen ABa, ABb, ABc, ABd auf. Die Gewindestifte GS1a, GS1b, GS1c, GS1d werden in dieser Einbaulage gemäß 6 nicht benötigt, sie sind ja auch nur für die entsprechende Anwendung in der ersten korrekten Einbaulage der Auflicht-Wendeeinlegeplatte gemäß 5 vorgesehen.
  • Die 7 zeigen zur Verdeutlichung Schnittdarstellungen zu den 5 und 6. Die Bezeichnungen entsprechen den Bezeichnungen aus den 5 und 6.
  • Bezugszeichenliste
    • ABa
      Auflagebolzen a
      ABb
      Auflagebolzen b
      ABc
      Auflagebolzen c
      ABd
      Auflagebolzen d
      AE
      Auflicht-Einlegeplatte
      AF
      Andruckfeder
      AH
      Abdeckhaube
      ALX
      Anschlagleiste für X-Richtung
      ALY
      Anschlagleiste für Y-Richtung
      AW
      Auflicht-Wendeeinlegeplatte
      BA
      Bedien- und Anzeigeeinheit
      BE
      Bedieneinheit
      DA
      Drehachse des Schwenkarms
      EN
      Entnahmenut in oberer Tischplatte
      FAL
      Freimachung für Anschlagleisten in oberer Tischplatte
      GO
      Griffoberfläche am oberen Ende des Schwenkarms
      GS1a
      Gewindestift a zur Justierung der Auflicht-Wendeeinlegeplatte in der ersten Orientierung
      GS1b
      Gewindestift b zur Justierung der Auflicht-Wendeeinlegeplatte in der ersten Orientierung
      GS1c
      Gewindestift c zur Justierung der Auflicht-Wendeeinlegeplatte in der ersten Orientierung
      GS1d
      Gewindestift d zur Justierung der Auflicht-Wendeeinlegeplatte in der ersten Orientierung
      GS2a
      Gewindestift a zur Justierung der Auflicht-Wendeeinlegeplatte in der zweiten Orientierung
      GS2b
      Gewindestift b zur Justierung der Auflicht-Wendeeinlegeplatte in der zweiten Orientierung
      GS2c
      Gewindestift c zur Justierung der Auflicht-Wendeeinlegeplatte in der zweiten Orientierung
      GS2d
      Gewindestift d zur Justierung der Auflicht-Wendeeinlegeplatte in der zweiten Orientierung
      GSE
      Gewindestift zur Justierung der Auflicht-Einlegeplatte in einer einzigen Orientierung
      GT
      Gelenkteil
      LB
      Lagerbock
      MPE
      Markierungspunkt in Auflicht-Einlegeplatte für eine einzige Orientierung
      MPO
      Markierungspunkt in oberer Tischplatte
      MP1
      Markierungspunkt in Auflicht-Wendeeinlegeplatte für die erste Orientierung
      MP2
      Markierungspunkt in Auflicht-Wendeeinlegeplatte für die zweite Orientierung
      NP
      Nullpunkt des XY-Koordinatensystems
      OA
      Optische Achse
      OB
      Objektiv
      OBT
      Objekt
      OD
      Objektdetail
      OE
      Objektebene
      OF
      Oberfläche der Auflicht-Einlegeplatte, die als Objektauflage dient
      OF1
      erste Oberfläche der Auflicht-Wendeeinlegeplatte
      OF2
      zweite Oberfläche der Auflicht-Wendeeinlegeplatte
      OSO
      Oberseite des Objektes OBT
      OTP
      obere Tischplatte
      RX
      normaler symmetrischer Abstand der Gewindestifte vom Rand der Auflicht-Einlegeplatte in der X-Richtung
      RY
      normaler symmetrischer Abstand der Gewindestifte vom Rand der Auflicht-Einlegeplatte in der Y-Richtung
      SA
      Schwenkarm
      SF
      Stativfuß
      SST
      Schwenkstativ
      TM
      XY-Tisch, vorzugsweise motorisiert
      TR
      Träger zur Adaption des Zoomkörpers an die motorisierte obere Z-Führung
      TS
      Taster zum Lösen des Schwenkarms
      VY
      Versatz des Bohrbildes für die Gewindestifte gegenüber der normalen symmetrischen Anordnung in der Y-Richtung
      XE
      Positionsdifferenz zwischen Nullpunkt NP und Endstellung in X-Richtung
      XM
      Positionsdifferenz zwischen Nullpunkt NP und Mittenstellung in X-Richtung
      YE
      Positionsdifferenz zwischen Nullpunkt NP und Endstellung in Y-Richtung
      YM
      Positionsdifferenz zwischen Nullpunkt NP und Mittenstellung in Y-Richtung
      ZK
      Zoomkörper mit integrierter Beleuchtung und integrierter Kamera
      ZMO
      motorisierte obere Z-Führung
      ZMU
      motorisierte untere Z-Führung
      ZO1
      erste Z-Position der oberen Z-Führung relativ zur Drehachse DA des Schwenkarms
      ZU1
      erste Z-Position der unteren Z-Führung relativ zur Drehachse DA des Schwenkarms

Claims (9)

  1. Mikroskopsystem mit einem Tisch (TM) und einer Schnittstelle in einer oberen Tischplatte (OTP) zur Aufnahme von Einlegeplatten (AE) mit verschiedenen Funktionalitäten, dadurch gekennzeichnet, dass die Konturen für die Funktionalitäten zweier Einlegeplatten (AE) auf jeweils einer Seite einer Wendeeinlegeplatte ausgebildet sind.
  2. Mikroskopsystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Wendeeinlegeplatte als Auflicht-Wendeeinlegeplatte (AW) ausgebildet ist.
  3. Mikroskopsystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Wendeeinlegeplatte als Durchlicht-Wendeeinlegeplatte ausgebildet ist, wobei die Durchlicht-Wendeeinlegeplatte ein lichtdurchlässiges plattenförmiges Element aufweist und von der ebenen Form abweichende Konturen einer Orientierung außerhalb des lichtdurchlässigen Elementes angeordnet sind.
  4. Mikroskopsystem nach den Ansprüchen Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass eine obere Tischplatte (OTP) des Tischs (TM) Freimachungen (FAL) für vorhandene erhabene Aufbauten auf den zur Objektauflage genutzten Oberflächen (OF1) und (OF2) in den beiden möglichen Orientierungen der vorgesehenen Wendeeinlegeplatte (AW) enthält, die Wendeeinlegeplatte (AW) über von oben unter Anwendungsbedingungen zugänglichen Gewindestiften (GS1a), (GS1b), (GS1c), (GS1d) und (GS2a), (GS2b), (GS2c), (GS2d) auf erhabenen Auflagebolzen (ABa), (ABb), (ABc), (ABd) aufliegt, für jede der beiden möglichen Orientierungen jeweils ein Satz Gewindestifte (GS1a), (GS1b), (GS1c), (GS1d) und (GS2a), (GS2b), (GS2c), (GS2d) vorhanden ist, das Bohrbild der Gewindestifte (GS1a), (GS1b), (GS1c), (GS1d) und (GS2a), (GS2b), (GS2c), (GS2d) über einen Versatz (VY) so angepasst ist, dass jeweils nur die für die erste Orientierung vorgesehenen Gewindestifte (GS1a), (GS1b), (GS1c), (GS1d) oder die für die zweite Orientierung vorgesehenen Gewindestifte (GS2a), (GS2b), (GS2c), (GS2d) auf den Auflagebolzen (ABa), (ABb), (ABc), (ABd) aufliegen und die Gewindestifte (GS1a), (GS1b), (GS1c), (GS1d) und (GS2a), (GS2b), (GS2c), (GS2d) komplett innerhalb der Wendeeinlegeplatte (AW) ohne Überstand nach außen angeordnet sind.
  5. Mikroskopsystem nach den Ansprüchen 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass in der ersten Orientierung auf der ersten Oberfläche (OF1) der Wendeeinlegeplatte (AW) zur Gewährleistung einer reproduzierbaren Objektanlage Anschlagleisten (ALX) und (ALY) fest montiert sind, wobei der Tisch (TM) zur Aufnahme der Anschlagleisten (ALX) und (ALY) in der zweiten Orientierung der Wendeeinlegeplatte (AW) entsprechende Freimachungen (FAL) mindestens in der oberen Tischplatte (OTP) besitzt.
  6. Mikroskopsystem nach mindestens einen der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Wendeeinlegeplatte (AW) über eine Entnahmenut (EN) im Tisch (TM) werkzeuglos wechselbar ist.
  7. Mikroskopsystem nach mindestens einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Wendeeinlegeplatte (AW) justiert im Tisch (TM) angeordnet ist.
  8. Mikroskopsystem nach mindestens einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Tisch (TM) mit konventionellen Einlegeplatten (AE) weiterhin benutzbar ist, wobei das Bohrbild für die vier Gewindestifte (GSE) in der konventionellen Einlegeplatte (AE) an das Bohrbild für die Auflagebolzen (ABa), (ABb), (ABc), (ABd) angepasst ist.
  9. Mikroskopsystem nach mindestens einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Tisch (TM) und die Wendeeinlegeplatte (AW) Bestandteile eines Digitalmikroskop-Systems sind.
DE201310013624 2013-08-16 2013-08-16 Mikroskopsystem Ceased DE102013013624A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE201310013624 DE102013013624A1 (de) 2013-08-16 2013-08-16 Mikroskopsystem

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE201310013624 DE102013013624A1 (de) 2013-08-16 2013-08-16 Mikroskopsystem

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102013013624A1 true DE102013013624A1 (de) 2015-02-19

Family

ID=52430019

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE201310013624 Ceased DE102013013624A1 (de) 2013-08-16 2013-08-16 Mikroskopsystem

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102013013624A1 (de)

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1839555U (de) * 1961-07-15 1961-10-19 Werner Dipl Ing Tschiesche Gestell mit einlegbaren wendeplatten.
DE7232969U (de) * 1973-03-15 Leitz E Gmbh Objekttisch für optische Geräte
DE20015711U1 (de) * 2000-09-11 2001-02-22 Janus Daniel Veränderbares Tisch-Möbelstück
DE10030559A1 (de) * 2000-06-21 2002-01-03 Volkswagen Ag Kofferraum-, Laderaumeinsatz
US20050225852A1 (en) * 2004-04-12 2005-10-13 Rondeau Gary D Stage assembly and method for optical microscope including Z-axis stage and piezoelectric actuator for rectilinear translation of Z stage
DE102004059529A1 (de) * 2003-12-11 2005-11-17 Leica Microsystems Inc. Mikroskoptisch mit einer Einrichtung zur Verbesserung des Kontrasts zwischen Objektträger und Mikroskoptisch
DE102004057451A1 (de) * 2004-11-24 2006-06-01 Carl Zeiss Jena Gmbh Objektiv-Tisch-System für Mikroskope
DE102005009756A1 (de) * 2005-03-03 2006-09-07 Leica Microsystems (Schweiz) Ag Objekthalter für mikroskopische Untersuchungen
EP2570559A1 (de) * 2011-09-14 2013-03-20 Kessel AG Ablaufrinne

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE7232969U (de) * 1973-03-15 Leitz E Gmbh Objekttisch für optische Geräte
DE1839555U (de) * 1961-07-15 1961-10-19 Werner Dipl Ing Tschiesche Gestell mit einlegbaren wendeplatten.
DE10030559A1 (de) * 2000-06-21 2002-01-03 Volkswagen Ag Kofferraum-, Laderaumeinsatz
DE20015711U1 (de) * 2000-09-11 2001-02-22 Janus Daniel Veränderbares Tisch-Möbelstück
DE102004059529A1 (de) * 2003-12-11 2005-11-17 Leica Microsystems Inc. Mikroskoptisch mit einer Einrichtung zur Verbesserung des Kontrasts zwischen Objektträger und Mikroskoptisch
US20050225852A1 (en) * 2004-04-12 2005-10-13 Rondeau Gary D Stage assembly and method for optical microscope including Z-axis stage and piezoelectric actuator for rectilinear translation of Z stage
DE102004057451A1 (de) * 2004-11-24 2006-06-01 Carl Zeiss Jena Gmbh Objektiv-Tisch-System für Mikroskope
DE102005009756A1 (de) * 2005-03-03 2006-09-07 Leica Microsystems (Schweiz) Ag Objekthalter für mikroskopische Untersuchungen
EP2570559A1 (de) * 2011-09-14 2013-03-20 Kessel AG Ablaufrinne

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Carl Zeiss Microscopy GmbH: PentaFluar S - Begehrte Lichtpunkte - Koaxiale Fluoreszenzeinrichtung für Stereomikroskope SteREO Discovery. Jena, 12/2005 (46-0006 d). - Firmenschrift. http://www.zeiss.de/C125792900358A3F/0/ABF954862366235BC12579E9002477DF/FILE/46-0006_d.pdf [abgerufen am 19.11.2013] *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3829022C2 (de)
EP2803895B1 (de) Schwenkarmstativ für Digitalmikroskope
DE102010015995B4 (de) Multifunktionale Schwalbenschwanzplattform vom Vorschubspindel-Typ
DE102013222295A1 (de) Digitalmikroskop, Verfahren zur Kalibrierung und Verfahren zur automatischen Fokus- und Bildmittennachführung für ein solches Digitalmikroskop
EP1276586A1 (de) Laser-mikro-dissektionsgerät
DE202005004068U1 (de) Gegenlichtblende für eine Filmkamera
DE10336104A1 (de) Photoelektrischer Sensor
DE102007030579B4 (de) Lateral verstellbare Fassung für optische Elemente
EP3561364A1 (de) Einrichtung zur justierung eines kamerawinkels sowie verwendung einer derartigen einrichtung
DE102004057776A1 (de) Lagekorrektureinrichtung zur Korrektur der Position eines Bauelementehalters für elektronische Bauelemente
EP3519890B1 (de) Adaptereinrichtung und kameraobjektiv
DE102013013624A1 (de) Mikroskopsystem
DE10212547A1 (de) Vorrichtung zur Manipulation der Winkellage eines Gegenstands gegenüber einer festen Struktur
DE19947174A1 (de) Halteeinrichtung für eine Maske
DE102019006189A1 (de) Winkelanschlag und ausrichthilfe
WO2002097509A2 (de) Mikroskop
EP3607374B1 (de) Kartesische positioniervorrichtung und laserbearbeitungskopf mit derselben
DE102020121652A1 (de) Hauptkörper eines Bildaufnahmegeräts mit austauschbarem Objektiv, Montagegerät für diesen und Auflagemaßeinstellelement
EP1710819B1 (de) Einrichtung zum Überwachen des geschlossenen Zustands von zwei relativ zueinander beweglichen Teilen
DE3443847A1 (de) Mikroskop
DE202015103064U1 (de) Kappenfräser zum Befräsen von Punktschweißelektroden mit einer Fräseinheit und mit einer Vorschubeinheit
DE102004048296B4 (de) Vorrichtung zum Umschalten der Betriebsarten eines Mikroskoptubus
EP2943832B1 (de) Optisches system zur abbildung eines objekts und verfahren zum betrieb des optischen systems
DE202017007381U1 (de) Winkeleinstellvorrichtung zum Ausrichten von Werkstücken in Spannvorrichtungen und Set
WO2016042044A1 (de) Objektführung mit variabler bewegungsbahn

Legal Events

Date Code Title Description
R163 Identified publications notified
R012 Request for examination validly filed
R002 Refusal decision in examination/registration proceedings
R016 Response to examination communication
R003 Refusal decision now final