DE102012024597A1 - Zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem - Google Patents

Zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem Download PDF

Info

Publication number
DE102012024597A1
DE102012024597A1 DE201210024597 DE102012024597A DE102012024597A1 DE 102012024597 A1 DE102012024597 A1 DE 102012024597A1 DE 201210024597 DE201210024597 DE 201210024597 DE 102012024597 A DE102012024597 A DE 102012024597A DE 102012024597 A1 DE102012024597 A1 DE 102012024597A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
signal
compensation
transmitter
time slot
signals
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE201210024597
Other languages
English (en)
Other versions
DE102012024597B4 (de
Inventor
Bernd Burchard
Jürgen Larm
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Elmos Semiconductor SE
Original Assignee
Elmos Semiconductor SE
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Elmos Semiconductor SE filed Critical Elmos Semiconductor SE
Priority to DE102012024597.1A priority Critical patent/DE102012024597B4/de
Publication of DE102012024597A1 publication Critical patent/DE102012024597A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102012024597B4 publication Critical patent/DE102012024597B4/de
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/483Details of pulse systems
    • G01S7/484Transmitters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/483Details of pulse systems
    • G01S7/486Receivers
    • G01S7/4865Time delay measurement, e.g. time-of-flight measurement, time of arrival measurement or determining the exact position of a peak

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)

Abstract

Die Erfindung stellt sich die Aufgabe, in mehr als einem vorbestimmten Zeitschlitz Zi eine phasen- und amplitudengenaue Kompensation gemittelt bezogen auf den jeweiligen Zeitschlitz Zi zu ermöglichen. Diese Aufgabe wird gelöst durch ein zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem bestehend einem Signalgenerator G1, der ein Sendesignal S5 erzeugt, und einem Sender H1, der von dem Signal S5 gesteuert wird, gelöst. Weiter besteht das System aus einem Empfänger D1, der das Signal nach Durchgang durch die Übertragungsstrecke detektiert und einem Regler CTi zur Erzeugung eines Kompensationssignals S3 das den Kompensationssender K1 speist. Die Signale des Senders H1 und des Kompensationssenders K1 überlagern sich im detektierten Signal S1. Die Regelcharakteristik dieses Reglers CTi ist so gewählt, dass die Amplitude des Empfängerausgangssignals S1 als konstant angesehen werden kann. In einem festen Bezug zu Flanken des Sendesignals S5 werden n Zeitschlitzsignale S5_0_i für n Zeitschlitze Zi erzeugt. Korreliert zum Sendesignal S5 werden n – 1 Basissignale S5_0_i, S5_s_i und S5_c_i für n – 1 verschiedene Zeitschlitze Zi erzeugt, die dem Zeitschlitz Zn vorausgehen. Bezogen auf den Zeitschlitz Zi werden die zugehörigen Basissignale S5_0_i, S5_s_i und S5_c_i im Regler CTi über eine Linearform mit dem Empfängerausgangssignal S1 verknüpft. Das Ergebnis dieser Linearform wird zumindest in einen Anfangsamplitudenwert S6_a_i, einen Endamplitudenwert S5_b_i und einen Phasenlagenwerts S5_φ_i umgewandelt. Diese Werte werden zur Erzeugung eines Kompensationssignals S3 zur Speisung des Kompensationssenders K1 verwendet.

Description

  • Einleitung
  • In vielen Anwendungsfällen werden für verschiedenste Anwendungen Proximity-Sensoren für die Erkennung von Annäherungen und Bewegungen eingesetzt. Die derzeitigen optischen Lösungen einer Proximity-Steuerung für die beispielhaften Anwendungsbereiche der Displays oder Abstandsmessung sind nicht in der Lage, kleinere Strukturen aufzulösen. Für Bildschirme ist beispielsweise ein Arbeitsabstand von 1 bis 80 cm notwendig. Weitere Abstände können heute bereits durch Mehrkamerasysteme abgedeckt werden. Proximity-Sensoren werden aber nicht nur bei der Bildschirmsteuerung sondern auch in vielen anderen Anwendungsgebieten wie beispielsweise bei Einparkhilfen eingesetzt.
  • Bei einer bestimmten Klasse von Sensorsystemen wird das modulierte Signal eines Senders von einem Empfänger aufgefangen. Ein Regelkreis erzeugt aus dem aufgefangenen Signal ein Kompensationssignal, das einen Kompensationssender speist, der ebenfalls so in den Empfänger einstrahlt, dass sich aufgrund der gewählten Regelparameter ein nahezu konstantes Empfängerausgangssignal ergibt. Das interne Regelungssignal ist dann die eigentliche Messgröße, die die Eigenschaft der Übertragungsstrecke widergibt. Dieses System der DE 4411773 C2 kann dann so erweitert werden, dass Phasenverschiebungen oder Verzögerungen in der Übertragungsstrecke erfasst werden. Dies ist beispielsweise in der DE 10 2005 045 993 B4 beschrieben.
  • So hat beispielsweise das in der Anmeldung EP 12156720.0 beschriebene System den Nachteil, dass das von einer Empfangsdiode empfangene Signal im Falle einer Lichtlaufzeitmessung nicht präzise auf null gestellt werden kann.
  • Die in DE 10 2005 045 993 B4 beschriebene Methode hat den Nachteil, dass nur eine mittelnde Lichtlaufzeitmessung durchgeführt werden kann.
  • Das Problem wird anhand von 1 veranschaulicht. Signal S5 stellt den zeitlichen Verlauf des Sendesignals dar. Signal S1 soll ein mögliches, auf Reflektionen zurückzuführendes Empfangssignal darstellen. Dieses soll hier beispielhaft zur Verdeutlichung nur zwei verschmierte Reflektionen besitzen, die um eine gewisse Zeit Δt gegeneinander versetzt sind. Die Reflektionen im Abstand A1 und A2 erzeugen zwei Anstiege (1, 2) im Empfangssignal S1.
  • Ein System zur Messung der Lichtlaufzeit, wie im Stand der Technik beispielsweise in DE 10 2005 045 993 B4 beschrieben, erzeugt aus einem Empfangssignal S1 ein Kompensationssignal S3_sa1, dessen Flanke (3) sich genau im Mittelwert (A3) zwischen den beiden Anstiegen (1, 2) des Signals S1 bzw. den Laufzeiten A1 und A2 befindet. Für eine Einparkhilfe würde dies bedeuten, dass das Auto, dessen Einparkhilfe mit diesem System arbeitet, den Pfahl vor einer Wand rammen würde, da ein derartiges Abstandsmesssystem der Einparkhilfe den Mittelwert A3 zwischen Pfahl (A1) und Wand (A2), also genau die Flankenposition des Signals S3_sa1, dem Fahrer als Abstand A3 anzeigen würde. Dieser Abstand wäre größer als der Abstand A1, weshalb es zur Kollision kommen würde. Ein solches System ist daher nur mit bestimmten zusätzlichen, insbesondere optischen Maßnahmen und einschränkenden Annahmen überhaupt einsatzfähig.
  • Ein System entsprechend der Anmeldung EP 12156720.0 erzeugt hingegen ein Kompensationssignal S3_sa2, das zwar mehrere Stufen (4, 5) aufweist, deren Phasenlage und Anzahl wird aber durch den orthogonalen Basisfunktionensatz bestimmt, der für die Skalar-Produkte zur Bestimmung der Sprunghöhe des Signals S3_s_a3 verwendet wird. In einem System, wie in der Anmeldung EP 12156720.0 beschrieben, sind die Sprungpositionen somit fest vorgegeben.
  • Ein besseres Signal wäre das Signal S3_erf der 1. Bei diesem Signal liegen die Flanken in der Mitte der Anstiege. Hierdurch werden die beschriebenen Fehler vermindert.
  • 2 stellt eine Überlagerung der reflektierten Signale und der durch die jeweiligen Verfahren angenäherten, abzuziehenden Kompensationssignale (S3_sa1, S3_sa2, S3_erf) dar. Das reflektierte, empfangene und aufbereitete Signal (S2_o) ist zu den anderen Signalen (S3_sa1, S3_sa2, S3_erf) gestrichelt hinzugezeichnet, um die Unterschiede deutlich zu machen. Das Signal S2 (nicht eingezeichnet) bildet dabei das aufbereitete Signal des Empfangsausgangssignals S1 dar. Der Signalanteil S2_0 stellt dabei den Anteil im Signal S2 dar, der unmittelbar ohne die beschrieben Rückkopplung auf das Sendesignal S5 zurückgeht.
  • Wird von dem reflektierten Signal S1 das jeweilige Kompensationssignal (S3_sa1, S3_sa2, oder S3_erf) an einem Empfänger D1 abgezogen, so ergeben sich die in 3 gezeigten S1-Signale, die dem jeweiligen Fehler für die Verwendung der jeweiligen Kompensationssignale (S3_sa1, S3_sa2, S3_erf) entsprechen. Diese Signale (S1_sa1, S1_sa2, S1_erf) der 3 ergeben sich, wenn eines der Kompensationssignale (S3_sa1, S3_sa2, S3_erf) mit einem Offset B versehen über einen Kompensationssender K1 zusammen mit dem Messender H1 in den Empfänger D1 einstahlt und sich dort mit dem durch die Übertragungstrecke I11 und I12 modifizierten Signal S5 linear überlagert. Ein möglicherweise eingehender Offset ist in 3 zur Vereinfachung nicht eingezeichnet.
  • Es ist offensichtlich, dass das Betragsquadrat der jeweiligen Fehlersignale beim Fehlersignal, dass dem Signal S1_erf zuzuordnen ist, am geringsten wäre.
  • Aufgabe der Erfindung
  • Die Erfindung stellt sich die Aufgabe, eine Mischung der beiden zuvor beschriebenen Systeme zu ermöglichen und in mehr als einem vorbestimmten Zeitschlitz eine phasen- und amplitudengenaue Kompensation gemittelt bezogen auf den jeweiligen Zeitschlitz zu ermöglichen.
  • Diese Aufgabe wird durch eine Vorrichtung nach dem Anspruch 1 und einem Verfahren gemäß dem Anspruch 2 gelöst.
  • Beschreibung des Grundgedankens der Erfindung
  • Der Grundgedanke der Erfindung wird anhand der 4 und der darauf folgenden Figuren erläutert.
  • Die Aufgabe wird gelöst, indem das Verfahren aus DE 10 2005 045 993 B4 und das Verfahren der Anmeldung EP 12156720.0 gemischt werden. Diese Mischung kann jedoch auch für einen Fachmann nicht unmittelbar vorgenommen werden, sondern ist nur mit besonderen Maßnahmen möglich, die hier offenbart werden.
  • 4 zeigt eine beispielhafte Vorrichtung, die eine erfindungsgemäße Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens ermöglicht und eine beispielhafte Nutzungssituation darstellt.
  • Ein Signalgenerator G1 erzeugt das Sendesignal S5. Mit diesem wird der Sender H1 angesteuert, der das Signal S5 in die zu vermessende Übertragungsstrecke bestehend aus mehreren Einzelübertragungsstrecken (I11, I12, I21, I22) einspeist. Das Signal wird hierbei in diesem Beispiel an den beiden Objekten O1 und O2, die die beiden Reflektionen im Signal S2_0 verursachen, reflektiert und zwar nach dem Durchlaufen der Übertragungsstrecke I11 am Objekt O1 in die Übertragungsstrecke I12 hinein und nach dem Durchlaufen der Übertragungsstrecke I21 am Objekt O2 in die Übertragungsstrecke I22 hinein.
  • Der Detektor (Empfänger) D1 empfängt die Signale der beiden Übertragungsstrecken I12 und I22 sowie der ebenfalls am Empfänger D1 endenden Kompensationsübertragungsstrecke I3 vorzugsweise linear überlagernd und zwar vorzugsweise addierend.
  • In dem Beispiel der 4 handelt es sich bei dem Empfänger D1 um eine Fotodiode, deren Arbeitspunkt durch einen Widerstand R1 eingestellt wird. Die Arbeitspunkteinstellung kann auch durch einen Regler erfolgen, beispielsweise durch einen Gyrator, was eine hohe Fremdlichtrobustheit ergibt.
  • Am Widerstand R1 fällt dann der Fotostrom des Empfängers D1 typischer Weise als Spannungssignal ab, das durch einen optionalen Verstärker V1, der einen geeigneten Frequenzgang aufweisen sollte, für die folgenden Stufen aufbereitet wird.
  • Das Signal wird in eine Regler-Bank bestehend aus n Reglern CTi mit 1 ≤ i ≤ n. Diese Regler errechnen auf analogem oder digitalem Weg das Kompensationssignal S7_n. Dieses wird mit dem Offset B versehen zum Signal S3 umgesetzt. Dieses Kompensationssignal S3 steuert den Kompensationssender K1 an, der in die besagte Übertragungstrecke I3 einspeist und damit in den Empfänger D1. Hierbei sollte diese Übertragungsstrecke I3 möglichst bekannt sein.
  • Zum Verständnis der Regler CTi ist es sinnvoll, zunächst die grundlegende Funktion dieser Regler zu beschreiben.
  • In einem ersten Schritt wird das Sensorsignal S1 auf einen orthogonalen Signalsatz S5i entsprechend dem in der der Anmeldung EP 12156720.0 offenbarten Verfahren jeweils durch ein Skalarprodukt S4i = <S1, S5i> abgebildet. Dabei ist das Signal S4i das Ergebnis dieses Skalar-Produkts. Im weitesten Sinne braucht es sich bei der Verknüpfung der beiden Signale S1 und S5i mathematisch gesehen sogar nur um eine Linearform zu handeln. Ein Skalar-Produkt ist nur eine Spezialform eines solchen Verfahrens.
  • Hierbei sei nun S5_0_n das S5i-Signal, das einen Puls außerhalb des Phasenmessbereiches darstellen soll.
  • Mittels des S5i-Signals S5_0_n wird letztendlich die Gesamtamplitude des späteren Paketes wie in der Schrift DE 10 2005 045 993 B4 beschrieben geregelt. Allerdings geschieht dies im Gegensatz zur DE 10 2005 045 993 B4 nicht durch Multiplikation sondern durch Rekursion. Erst hierdurch wird die erfindungsgemäße Aufgabe lösbar. Dies wird im folgenden Abschnitt weiter beschrieben.
  • Die Annahme ist, dass der Bereich der Laufzeitmessung eines S5-Pulses in n – 1 Zeitschlitze Zi unterteilt wird. Diese werden durch die n 55i-Basissignale S5_0_i definiert. Vorzugsweise handelt es sich bei den S5_0_i um Pulse, die außerhalb des jeweiligen Zeitschlitzes 0 sind und innerhalb des Zeitschlitzes Zi einen von Null verschiedenen, konstanten Wert annehmen. Die Summe aller S5_0_i-Signale sollte wieder das S5-Signal ergeben. Für jeden der durch die Basissignale S5_0_i (ohne S5_0_n) definierten Zeitschlitzes Zi muss die Anfangsamplitude ai, die Endamplitude (ai + bi) und die mittlere Phasenlage φi des Sprungs um bi von der Anfangsamplitude ai auf die Endamplitude (ai + bi) erfasst werden. Dabei sollten die Endamplitude (ai-1 + bi-1) eines vorausgehenden Zeitschlitzes Z(i-1) und die Anfangsamplitude ai des aktuellen Zeitschlitzes Zi übereinstimmen. 5 zeigt ein Beispiel mit n = 3.
  • Daher sind für die Charakterisierung jedes Zeitschlitzes Zi mindestens zwei, besser drei Parameter und nicht nur ein Parameter, wie beispielsweise beim der Anmeldung EP 12156720.0 oder bei der DE 10 2005 045 993 B4 zu ermitteln. (6)
  • Aus diesen lassen sich geeignete Kompensationspulse generieren (6 & 7). Damit ergibt sich als weitere Aufgabe der Erfindung diese drei Parameter für jeden Zeitschlitz Zi, der durch den orthogonalen Puls eines Basissignals S5_0_i definiert ist, die drei Parameter anfängliche Höhe ai, Höhe der Stufe bi und Lage der Stufe innerhalb des Zeitschlitzes φi zu bestimmen.
  • Bei (n – 1) Zeitschlitzen Zi (1 ≤ i < n) ergeben sich somit 3·(n – 1) Messwerte, wobei nur 2·(n – 1) Messwerte linear unabhängig sein müssen. Es ist jedoch von Vorteil die ai und die bi getrennt voneinander zu bestimmen und zu regeln. Hierdurch wird neben einer Stufung mit variabler Stufenlage einer Stufung des Kompensationssignals an den Zeitschlitzgrenzen zusätzlich ermöglicht, was den resultierenden Fehler weiter senkt.
  • Die erfinderische Grundidee zur Lösung dieser indirekten Aufgabe ist nun, dass durch einen Wavelet-Generator G2 aus dem Sendesignal S5 für jedes Fenster Zi drei orthogonale Wavelets (S5_0_i, S5_s_i, S5_c_i) erzeugt werden, mit denen das zum Signal S2 aufbereitete Empfängerausgangssignal S1 skalar-multipliziert bzw. durch die gewählte Linearform verknüpft wird. Zur Vereinfachung beschreiben wir im Folgenden nur die Variante unter Verwendung eines Skalar-Produkts. Hierdurch können je Zeitschlitz drei Werte bestimmt werden. (7) Die beispielhaften Wavelets S5_o_i, S5_s_i S5_c_i in 7, die nur innerhalb ihres Zeitschlitzes Zi von Null verschieden sind, haben unterschiedliche Funktionen: Das obere Wavelet S5_o_i bildet ein Signal, dass nur in dem betrachteten Zeitfenster Zi von Null verschieden ist und innerhalb des Zeitfensters konstant ist. Das Signal S5_0_i definiert dadurch dieses Zeitfenster Zi. Es liefert bei Skalar-Multiplikation mit dem Empfangssignal S2 somit einen Messwert, der proportional zur mittleren Amplitude innerhalb des Zeitfensters Zi ist. Das mittlere Wavelet S5_s_i entspricht quasi der digitalisierten Form eines Sinus-Zuges, während das untere Wavelet S5_c_i quasi einem Cosinus-Zug entspricht. Es ist leicht zu erkennen, dass die Mittelung des Produkts jedes dieser Wavelets S5_0_i, S5_s_i, S5_c_i mit einem der anderen beiden Wavelets über einen Zeitschlitz hinweg Null ergibt.
  • Eine solche Multiplikation gefolgt von einer mittelnden Filterung ist einen beispielhafte Form eines Skalar-Produkts. Dieses Skalar-Produkt zweier beliebiger Signale M und N im Folgenden bezeichnet mit <M, N> bezeichnet ist in der Anmeldung EP 12156720.0 beschrieben.
  • Die oben beschriebenen Bedingungen entsprechen den Skalar-Produkt-Gleichungen 〈S5_s_i, S5_0_i〉 = 0 〈S5_s_i, S5_c_i〉 = 0 〈S5_c_i, S5_0_i〉 = 0
  • Zwei Signale, deren Skalar-Produkt oder Linearform null ergibt, werden im Folgenden als orthogonal bezeichnet.
  • Des Weiteren ist es zweckmäßig, wenn die S5_0_i, S5_s_i und S5_c_i-Signale bezüglich der verwendeten Linearform normiert sind: 〈S5_s_i, S5_s_i〉 = 1 〈S5_c_i, S5_c_i〉 = 1 〈S5_0_i, S5_0_i〉 = 1
  • Die Skalar-Multiplikation des aufbereiteten Empfängersignals S2 mit dem „konstanten” Wavelet S5_0_i ergibt: <S2, S5_0_i> = ai + φi·bi/360°
  • Die Ergebnisse der Skalar-Multiplikationen von S2 mit S5_s_i und S5_c_i sind in 9 dargestellt. Diese Ergebnisse lassen sich auch in einem zweidimensionalen Phasenraum (10) darstellen. Es ist leicht zu erkennen, dass eine eindeutige Zuordnung der Zeitschlitz Zi spezifischen Phasenverschiebung φi (Phasenwinkel) über den gesamten Phasenwinkelbereich von 0° bis 360° bei Beachtung der Quadranten möglich ist.
  • Für kleine Winkel φi ergibt sich ein relativ großer Fehler, da es sich bei den Wavelets S5_s_i und S5_c_i bei dem Beispiel nicht um ideale Sinuszüge einer Schwingungsperiode handelt, sondern um rechteckförmig strukturierte Wavelets. Um den Winkel φi ermitteln zu können, wird als erstes anhand der Vorzeichen und Beträge festgestellt, in welchem Quadranten sich das System befindet. Sodann kann anhand des Verhältnisses der beiden Skalar-Produkte der Phasenwinkel φi festgestellt werden.
  • Ist so der Phasenwinkel φi erkannt, so kann hieraus ai und bi ermittelt werden. Dies geschieht auf folgendem Wege:
    Aus dem bekannten Phasenwinkel φi kann mit Hilfe der beiden bekannten Skalar-Produkt-Werte für S5_s_i und S5_c_i der Wert von bi ermittelt werden. Hierfür wird festgestellt, auf welcher der vier Strecken (10) sich der Punkt befindet. Zur Berechnung der Werte ai, bi und φi kann von den folgenden Gleichungen ausgegangen werden:
    Figure DE102012024597A1_0002
  • Figure DE102012024597A1_0003
  • 9 zeigt diese Funktionen für ein modellhaftes Signal S2, das zu Verdeutlichung der Eigenschaften bestimmte besondere Parameter aufweist, die in der Realität natürlich abweichen. Unterhalb des Diagramms der Funktionen ist dieses vorausgesetzte modellhafte Signal S2 gezeichnet. Ausschließlich zur Vereinfachung und Verdeutlichung ist hier angenommen, dass für des Diagramm der 9 bi = 1 und ai = 0 angenommen wird. φi beschreibt die Position des Sprungs von S2 von 0 auf 1. Nur unter diesen Voraussetzungen ergibt sich das Diagramm der 9. Gleiches gilt später auch für die 10.
  • Für den letzten Zeitschlitz Zn wird angenommen, dass dort keine relevante Reflektion das Empfangssignal mehr beeinflusst. Daher kann dort angenommen werden, dass 〈S2, S5_0_n〉 = an = bn-1
  • Somit kann dieser Wert zur Trennung der Phase φi und der Endamplitude bi herangezogen werden.
  • Wir erhalten dann für den Zeitschlitz Zi:
    Figure DE102012024597A1_0004
  • Entsprechend 10 ergeben sich in den vier Quadranten folgende Werte:
  • Quadrant I (Fig. 10):
  • Der Quadrant wird charakterisiert durch:
    Figure DE102012024597A1_0005
  • Hier gilt
  • Figure DE102012024597A1_0006
  • Hieraus folgt:
    Figure DE102012024597A1_0007
    und damit 〈S2, S5_0_i〉 – 1 / 2〈S2, S5_s_i〉 = ai = bi-1
  • Quadrant II (Fig. 10):
  • Der Quadrant wird charakterisiert durch:
    Figure DE102012024597A1_0008
  • Hier gilt:
    Figure DE102012024597A1_0009
  • Hieraus folgt:
    Figure DE102012024597A1_0010
    und damit 〈S2, S5_0_i〉 – 1 / 2〈S2, S5_s_1〉 = ai = bi-1
  • Quadrant III (Fig. 10):
  • Der Quadrant wird charakterisiert durch:
    Figure DE102012024597A1_0011
  • Hier gilt:
    Figure DE102012024597A1_0012
  • Hieraus folgt:
    Figure DE102012024597A1_0013
    und damit 〈S2, S5_0_i〉 + 〈S2, S5_c_i〉 1 / 2 – 1 / 2ai+1 = ai
  • Quadrant IV (Fig. 10):
  • Der Quadrant wird charakterisiert durch:
    Figure DE102012024597A1_0014
  • Hier gilt:
    Figure DE102012024597A1_0015
  • Hieraus folgt:
    Figure DE102012024597A1_0016
    und damit 〈S2, S5_0_i〉 – ai+1 – 〈S2, S5_c_i〉 1 / 2 = ai
  • Hierbei muss natürlich ai+1 jeweils von Null verschieden sein. Wie leicht zu erkennen ist, kann anhand der Vorzeichen und der Wertebereiche der jeweilige Quadrant identifiziert werden.
  • Somit sind nun für alle Zeitschlitze Zi die Werte ai, bi und φi bekannt.
  • Jedem Zeitschlitz Zi kann nun ein Puls zugeordnet werden, der die Höhe bi hat, beim Winkel φi anfängt, und mit allen anderen Pulsen am Ende des Messfensters aufhört. (11)
  • Jeder der dann noch freien Parameter bi und φi der so definierten Pulse wird nun bei Messbarkeit so nachgeregelt, dass er durch die geeignete Veränderung des Kompensationssignals S3 verschwindet.
  • Für jeden der Zeitschlitze Zi wird ein Regler CTi vorgesehen, der in dem Beispiel der 4 die drei Werte ai, bi, φi ermittelt und in ein Kompensationssignal einspeist.
  • 4 zeigt einen solchen beispielhaften Regler CTi. Der Waveletgenerator G2 erzeugt für jeden der n – 1 Regler CT1 bis CT(n-1) je drei Wavelets. Für den i-ten Regler CTi sind dies die Wavelet-Signale S5_0_i, S5_s_i und S5_c_i. Hierbei kann i eine Zahl zwischen 1 und n – 1 einschließlich sein.
  • Die drei Multiplizierer M1_0_i, M1_s_i und M1_c_i bilden das jeweilige Skalarprodukt aus dem jeweiligen Wavelet-Signalen S5_0_i, S5_0_i, und S5_c_i auf der einen und S2 auf der anderen Seite. Es ergeben sich die Signale S4_0_i, S4_s_i und S4_c_i.
  • Diese Signale S4_0_i, S4_s_i und S4_c_i werden, wie in der Anmeldung EP 12156720.0 beschrieben, in den jeweiligen Verstärkern V2_0_i, V2_s_i und V2_c_i zu den Signalen S6_0_i, S6_s_i und S6_c_i verstärkt.
  • Der Transformationsschaltkreis Ti formt die Rohsignale S6_0_i, S6_s_i und S6_c_i unter Zuhilfenahme des Zielsignals S6_a_i+1 des vorausgehenden Transformationsschaltkreises Ti+1 des Reglers CTi+1 in die Zielsignale ai, bi und φi um. Diese sind hier mit S6_a_i, S6_b_i und S6_φ_i bezeichnet.
  • Das Zeitschlitzsignal S5_0_i wird durch den regelbaren Phasenschieber (oder die regelbare Verzögerungseinheit) Δt gesteuert. Die Verzögerung Δt wird hierbei mit dem Signal S6_φ_i geregelt verzögert. Hierdurch kommt die steigende Flanke des Signals S5_0_i später. Die Amplitude des so verzögerten Pulses wird mit dem Signal S6_b_i mittels des Multiplizierers M3_i geregelt. Das so erstellte Signal wird nun noch so begrenzt, dass es nicht in den nächsten Zeitschlitz Zi+1 hineinreichen kann. Dies geschieht in diesem Beispiel durch nochmalige Multiplikation des wie zuvor beschrieben modifizierten Signals mit S5_0_i. Voraussetzung für dieses Beispiel ist, dass die beispielhaften Wavelets S5_0_i, S5_s_i und S5_c_i nur die Werte –1, 0 und 1 annehmen können.
  • Zu diesem Signal wird nun das Ausgangssignal des vorausgehenden Controllers CT(i-1) und das mit S5_0_i multiplizierte Signal_S6_a_i hinzuaddiert.
  • Das letzte Wavelet S5_0_n beginnt mit dem Ende des Regelfensters und endet synchron zum Ende eines S5 Pulses.
  • Im letzten der n Zeitschlitze Zi, dem Zeitschlitz Zn, wird der zugehörige Pegel an in Form des Signals S6_0_n bestimmt und unter anderem an die vorausgehenden Regler CTi übergeben.
  • Hier ist die Systemannahme an = bn-1 + an-1. Des Weiteren gelte bn = 0. Ist dies nicht gegeben, liefert das System möglicherweise fehlerhafte Werte.
  • Der Regler CTn verfügt daher weder über die Eingänge S6_a_(n+1) noch S7(n+1). Der Transformationsschaltkreis Tn braucht nicht ausgeführt zu werden, da S6_c_n und S6_s_n und S8_i mit null angenommen werden. S6_0n und S6_a_n und S7n werden daher direkt verbunden. M4_n und M3_n kann entfallen Das zugehörige Regler-Signal S7n dieses letzten Reglers CTn wird durch Multiplikation mit –1 negiert und mit einem systemspezifischen Offset B versehen zum Kompensationssendesignal S3 transformiert. Dieses wird vom Kompensationssender K1 wiederum gesendet und durch den Empfänger D1 überlagert mit dem Signal des Senders H1 empfangen. Hierdurch wird die Regelschleife geschlossen.
  • 12 zeigt beispielhaft die Wavelets eines Systems mit drei Zeitschlitzen Z1, Z2 und Z3. n ist hierbei n = 4. Die steigende Flanke des ersten Wavelets S5_0_1 ist synchron zur steigenden Flanke des S5-Pulses.
  • Das Wavelet S5_0_4 beginnt mit der fallenden Flanke des letzten Wavelets S5_0_3 und endet mit der fallenden Flanke des S5-Pulses.
  • Die Wavelets der Signal S5_s_4 und S5_c_4 sind konstant 0. Daher sind die entsprechenden Schaltungsteile des Reglers CT4 nicht notwendig. (M1_s_4, M1_c_4, V2_s_i, V2_c_i, T4, Δt4, M3_4, M4_4)
  • Das Signal S6_0_4 wird direkt mit S6_a_4 verbunden.
  • Durch die oben beschriebene Rekursion können hieraus alle Signale S6_a_i, S6_b_i und S6_0_i ermittelt werden. Wie oben bereits beschrieben ist dabei die Annahme, dass die Skalar-Produkte <S2, S5_s4> und <S2, S5_c_4> jeweils null wären.
  • Von besonderer Wichtigkeit ist, dass, wenn die Zeitschlitze Zi unterschiedlich lang sein solle, ein Phasenschieber als Block Δti nicht ausreicht. In dem Fall sollte ein Verzögerungsglied benutzt werden.
  • Aus den Offenbarungen EP 12156720.0 ist bekannt, dass das hierbeschriebene Verfahren nicht auf die Verwendung von LEDs beschränkt sein muss, sondern für jede beliebige Art von Sendung und Empfang angewandt werden kann.
  • Dies trifft insbesondere auf ein induktives, kapazitives und akustisches System zu.
  • Figuren
  • 1: Signaldarstellung zum Stand der Technik und zur Erläuterung der Aufgabe der Erfindung. Dargestellt ist das Sendesignal S5, das Empfängerausgangssignal S1 als Signal S1_o ohne Rückkopplung und die verschiedenen Signalformen des Kompensationssendersignals S3 wobei zwei Signale zwei anderen Offenlegungen entsprechen und das Signal S3_erf dem gewünschten erfindungsgemäßen verlauf entspricht.
  • 2 zeigt die gleiche Information wie 1 mit dem Unterschied, dass das aufbereitete Empfängerausgangssignal S2, das aus dem Signal S1 erzeugt wird, als Signal S2_o ohne Rückkopplung dargestellt ist.
  • 3 zeigt das Empfängerausgangssignal einmal ohne Rückkopplung (S1_o) und sodann mit Rückkopplung für den Fall der Benutzung der DE 10 2005 045 993 B3 (S1_sa1) und der Anmeldung EP 121156720.0 (S1_sa2) sowie für den erfindungsgemäßen Fall (S1_erf)
  • 4 zeigt einen Vorrichtung gemäß Anspruch 1. Es ist nur der i-Te Regler CTi strukturiert dargestellt. Die Verbindungen zwischen den n Regler CT1 bis CTn sind nicht komplett eingezeichnet, um die Darstellung verständlich zu halten. Hier sei auf den Text verwiesen. Die Generatoren G1 und G2 werden mit einem gemeinsamen Takt clk des Taktgenerators Clk versorgt.
  • 5 zeigt das zum Sendesignal S5 gehörende Empfängerausgangssignal S1 und das daraus generierte Ausgangssignal S7_n des Reglers CTn. In dem Beispiel verfügt das System über drei Zeitschlitze Z1, Z2 und Z3. Die Stufenhöhen b1 und b2, a2 und a3 sowie die Phasen φ1 und φ2 sind eingezeichnet.
  • 6 und 7 zeigen die Zerlegung des Empfängerausgangssignals in die orthogonalen Komponenten S8_1 + S6_a-i, S8_2 + S6_a_2, und S6_a_3 für das beispielhafte System mit drei Zeitschlitzen aus 5.
  • 8 zeigt die zum i-ten Zeitschlitz Zi gehörenden beispielhaften Wavelets S5_0_i, S5_s_i und S5_c_i sowie das anteilige Ausgangssignal S8_i + S6_a_i
  • 9 Ergebnisse der Skalar-Multiplikation mit den orthogonalen Basissignalen S5_0_i, S5_s_i und S5_c_i für das Modellsignal S2 auf er gleichen Seite.
  • 10 Phasendarstellung der Multiplikationsergebnisse aus 9.
  • 11 Basissignalsätze
    S5_0_i, S5_s_i und S5_c_1 für den Zeitschlitz Z1 und
    S5_0_2, S5_s_2 und S5_c_2 für den Zeitschlitz Z2 und
    S5_0_3, S5_s_3 und S5_c_3 für den Zeitschlitz Z3 und
    S5_0_4 für den Zeitschlitz Z4 und
    Sendesignal S5 für ein System mit n = 4
    (vier Zeitschlitzen Z1, Z2, Z3, Z4) Liste der Bezeichnungen
    Nr. Bezeichnung
    1 Beispielhafter Anstieg des Empfangssignals S1 aufgrund einer ersten Reflektion beispielsweise durch ein erstes Objekt O1.
    2 Weiterer beispielhafter Anstieg des Empfangssignals S1 aufgrund einer zweiten Reflektion beispielsweise durch ein zweites Objekt O2.
    3 Anstiegsflanke eines Kompensationssignals, das entsprechend DE 10 2005 045 993 B4 erzeugt wird.
    4 Erste Anstiegsflanke eines Kompensationssignals S3 entsprechend einem System gemäß der Anmeldung EP 12156720.0 . Die zeitliche Position der Flanke ist durch das System fest vorgegeben.
    5 Zweite Anstiegsflanke eines Kompensationssignals S3_sa2 entsprechend einem System gemäß der Anmeldung EP 12156720.0 . Die zeitliche Position der Flanke ist durch das System fest vorgegeben.
    ai Anfangsamplitude des Signals S7_n zu Beginn des Zeitschlitzes Zi
    bi Sprungamplitude des Signals S7_n innerhalb des Zeitschlitzes Zi
    ai+1 Anfangsamplitude des Signals S7_n zu Beginn des Zeitschlitzes Zi+1
    bi+1 Sprungamplitude des Signals S7_n innerhalb des Zeitschlitzes Zi+1
    ai-1 Anfangsamplitude des Signals S7_n zu Beginn des Zeitschlitzes Zi-1
    bi-1 Sprungamplitude des Signals S7_n innerhalb des Zeitschlitzes Zi-1
    a1 Anfangsamplitude des Signals S7_n zu Beginn des Zeitschlitzes Z1
    b1 Sprungamplitude des Signals S7_n innerhalb des Zeitschlitzes Z1
    a2 Anfangsamplitude des Signals S7_n zu Beginn des Zeitschlitzes Z2
    b2 Sprungamplitude des Signals S7_n innerhalb des Zeitschlitzes Z2
    a3 Anfangsamplitude des Signals S7_n zu Beginn des Zeitschlitzes Z3
    b3 Sprungamplitude des Signals S7_n innerhalb des Zeitschlitzes Z3
    Δti Vorrichtung des Reglers CTi zur Verzögerung des Signals S5_a_i proortional zum Signal S6_φ_i (Es kann sich ggf. auch um einen Phasenschieber handeln.)
    n Anzahl der Zeitschlitze Zi
    B Optionaler Offset zur Ansteuerung des Kompensationssenders K1. Dieser ist beispielsweise bei der Verwendung von LEDs notwendig, da die Abstrahlung einer negativen Lichtintensität nicht möglich ist.
    Clk Taktgenerator für den Systemtakt
    clk Systemtakt
    CT1 Erster Regler zur Erzeugung eines Regelsignals S7_1 aus dem aufbereiteten Empfängerausgangssignal S2 und den zugehörigen Wavelet-Signalen S5_0_1, S5_s_i und S5_c_i.
    CT2 Zweiter Regler zur Erzeugung eines Regelsignals S7_2 aus dem aufbereiteten Empfängerausgangssignal S2 und den zugehörigen Wavelet-Signalen S5_0_2, S5_s_2 und S5_c_2. Darüber hinaus wird das Pegelsignal S6_a_2 für den nächsten Regler erzeugt.
    CT3 Dritter Regler zur Erzeugung eines Regelsignals S7_3 aus dem aufbereiteten Empfängerausgangssignal S2 und den zugehörigen Wavelet-Signalen S5_0_3, S5_s_3 und S5_c_3. Darüber hinaus wird das Pegelsignal S6_a_3 für den nächsten Regler erzeugt.
    CTi-1 (i – 1)-ter Regler zur Erzeugung eines Regelsignals S7_i_1 aus dem aufbereiteten Empfängerausgangssignal S2 und den zugehörigen Wavelet-Signalen S5_0_i-1, S5_s_i-1 und S5_c_i-1. Darüber hinaus wird das Pegelsignal S6_a_i-1 für den nächsten Regler erzeugt.
    CTi i-ter Regler zur Erzeugung eines Regelsignals S7_i aus dem aufbereiteten Empfängerausgangssignal S2 und den zugehörigen Wavelet-Signalen S5_0_i, S5_s_i und S5_c_i. Darüber hinaus wird das Pegelsignal S6_a_i für den nächsten Regler erzeugt.
    G1 Generator für das Sendesignal S5
    H1 Sender
    I11 Übertragungsstrecke zwischen dem ersten Sender H1 und dem beispielhaften reflektierenden Objekt O1
    I12 Übertragungsstrecke zwischen dem beispielhaften reflektierenden Objekt O1 und dem Empfänger D1
    I21 Übertragungsstrecke zwischen dem ersten Sender H1 und dem beispielhaften reflektierenden Objekt O2
    I22 Übertragungsstrecke zwischen dem beispielhaften reflektierenden Objekt O2 und dem Empfänger D1
    I3 Übertragungsstrecke zwischen dem Kompensationssender K1 und dem Empfänger D1
    K1 Kompensationssender
    M Beliebiges erstes Signal zur Definition der Schreibweise eines Skalar-Produktes in diesem Dokument
    M1_0_i i-ter Multipizierer für die Skalar-Multiplikation des Signals S5_0_i mit dem Signal S2 i-ter Multipizierer für die Skalar-Multiplikation des Signals S5_s_i mit dem Signal S2
    M1_c_i i-ter Multipizierer für die Skalar-Multiplikation des Signals S5_c_i mit dem Signal S2
    M2_i Multiplizierer des Reglers CTi zur Aufprägung der Amplitude ai (dargestellt durch das Signal S6_a_i) auf den Puls S5_a_i
    M3_i Multiplizierer des Reglers CTi zur Aufprägung der Amplitude bi (dargestellt durch das Signal S6_b_i) auf den um Δt verzögerten Puls S5_a_i
    M4_i Multiplizierer des Reglers CTi zur Verhinderung des Überstrahlens des verzögerten Signals in den Zeitschlitz Zi+1
    N Beliebiges zweites Signal zur Definition der Schreibweise eines Skalar-Produktes in diesem Dokument
    O1 Erstes beispielhaftes Objekt
    O2 Zweites beispielhaftes Objekt
    R1 Vorrichtung zur Arbeitspunkteinstellung (hier ein beispielhafter Widerstand)
    S1 Empfängerausgangssignal
    S1_o Anteil des Empfängerausgangssignals S1, der ausschließlich auf das Sendesignal S5 zurückzuführen ist und keinen Anteil enthält, der auf das Kompensationssignal S3 zurückzuführen ist. (Dies entspricht einer offenen Regelschleife.)
    S1_sa1 Empfängerausgangssignal entsprechend DE 10 2005 045 993 B4
    S1_sa2 Empfängerausgangssignal entsprechend der Anmeldung EP 12156720.0
    S1_erf Empfängerausgangssignal einer erfindungsgemäßen Vorrichtung.
    S2_0 Anteil des aufbereiteten Empfängerausgangssignals S2, der ausschließlich auf das Sendesignal S5 zurückzuführen ist und keinen Anteil enthält, der auf das Kompensationssignal S3 zurückzuführen ist. (Dies entspricht einer offenen Regelschleife.)
    S3_sa1 Kompensationssignal entsprechend DE 10 2005 045 993 B4
    S3_sa2 Kompensationssignal entsprechend der Anmeldung EP 12156720.0
    S3_erf Kompensationssignal einer erfindungsgemäßen Vorrichtung.
    S3 Kompensationssendesignal
    S4i Skalarprodukt aus S1 und einem Signal S5i
    S4_0_i i-tes Multiplikationsergebnis des Skalar-Multiplizierers M1_0_i, der das Signal S2 mit dem Signal S5_0_i skalar-multipliziert.
    S4_s_i i-tes Multiplikationsergebnis des Skalar-Multiplizierers der das Signal S2 mit dem Signal S5_s_i skalar-multipliziert.
    S4_c_i i-tes Multiplikationsergebnis des Skalar-Multiplizierers der das Signal S2 mit dem Signal S5_c_i skalar-multipliziert.
    S5 Sendesignal
    S5_bus Zusammenfassender Bus aller Wavelet-Signale S5_0_i, S5_s_i, S5_c_i wobei alle Signal-Trippel mit 1 ≤ i ≤ (n – 1) und das Signal S5_0_n enthalten sind.
    S5i Ein Signal des Signalbusses S5_bus
    S5_0_i Für den i-ten Zeitschlitz Zi quasi „konstantes” Wavelet-Signal. Dieses markiert gleichzeitig den Zeitschlitz Zi.
    S5_s_i Für den i-ten Zeitschlitz Zi quasi „sinusähnliches” Wavelet-Signal.
    S5_c_i Für den i-ten Zeitschlitz Zi quasi „cosinusähnliches” Wavelet-Signal.
    S5_0_1 Für den ersten Zeitschlitz Z1 quasi „konstantes” Wavelet-Signal. Dieses markiert gleichzeitig den ersten Zeitschlitz Z1.
    S5_s_i Für den ersten Zeitschlitz Z1 quasi „sinus-ähnliches” Wavelet-Signal.
    S5_c_1 Für den ersten Zeitschlitz Z1 quasi „cosinus-ähnliches” Wavelet-Signal.
    S5_0_2 Für den zweiten Zeitschlitz Z2 quasi „konstantes” Wavelet-Signal. Dieses markiert gleichzeitig den ersten Zeitschlitz Z2.
    S5_s_2 Für den zweiten Zeitschlitz Z2 quasi „sinus-ähnliches” Wavelet-Signal.
    S5_c_2 Für den zweiten Zeitschlitz Z2 quasi „cosinus-ähnliches” Wavelet-Signal.
    S5_0_3 Für den dritten Zeitschlitz Z3 quasi „konstantes” Wavelet-Signal. Dieses markiert gleichzeitig den ersten Zeitschlitz Z3.
    S5_s_3 Für den dritten Zeitschlitz Z3 quasi „sinus-ähnliches” Wavelet-Signal.
    S5_c_3 Für den dritten Zeitschlitz Z3 quasi „cosinus-ähnliches” Wavelet-Signal.
    S5_0_4 Für den vierten Zeitschlitz Z3 quasi „konstantes” Wavelet-Signal. Dieses markiert gleichzeitig den ersten Zeitschlitz Z4. In dem Beispiel von Figur 11 ist Z4 = Zn. Daher beginnt S5_0_4 synchron mit dem Ende von S5_0_3 und endet synchron mit S5.
    S6_0_i Verstärkerausgangssignal des Verstärkers V2_0_i
    S6_s_i Verstärkerausgangssignal des Verstärkers V2_s_i
    S6_c_i Verstärkerausgangssignal des Verstärkers V2_c_i
    S6_a_i Signal Signal proportional zur Eingangsamplitude ai innerhalb des Zeitschlitzes Zi
    S6_b_i Signal proportional zur Sprunghöhe bi innerhalb des Zeitschlitzes Zi
    S6_φ_i Signal proportional zur Phasenlage des Sprunges von ai auf bi innerhalb des Zeitschlitzes Zi
    S7i Ausgangssignal des i-ten Reglers CTi
    S7(i-1) Ausgangssignal des (i – 1)-ten Reglers CTi-1
    S7n Ausgangssignal des n-ten Reglers CTn
    S8_i Ausgangssignal des Multiplizierers M4_i. Dieses Signal ergibt zusammen mit dem Ausgangssignal S7(i+1) des nachfolgenden Reglers CTi+1 und dem amplitudenangepassten Signal S5_0_i das Ausgangssignal S7i des Reglers CTi
    V1 Verstärker bzw. Signalaufbereitung. Hiermit wird das Empfängerausgangssignal S1 zum aufbereiteten Empfängerausgangssignal S2 aufbereitet.
    V2_0_i Verstärker/Signalaufbereitung. Der Verstärker verstärkt das Signal S4_0_i zum Signal S6_0_i
    V2_s_i Verstärker/Signalaufbereitung. Der Verstärker verstärkt das Signal S4_s_i zum Signal S6_s_i
    V2_c_i Verstärker / Signalaufbereitung. Der Verstärker verstärkt das Signal S4_c_i zum Signal S6_c_i
    Ti i-ter Transformationsschaltkreis. Der Transformationsschaltkreis führt eine Koordinatentransformation durch. Hierbei werden aus den Signalen S6_n_i, S6_s_i, S6_c_i und S6_a_i+1 die Signale S6_a_i, S6_b_i und S6_φ_i ermittelt. Selbstverständlich kann es sich beispielsweise auch um eine digitale Signalverarbeitungsstufe handeln.
    Ti+1 (i+1)-ter Transformationsschaltkreis. Der Transformationsschaltkreis führt eine Koordinatentransformation durch. Hierbei werden aus den Signalen S6_0_i+1, S6_s_i+1, S6_c_i+1 und S6_a_i+2 die Signale S6_a_i+1, S6_b_i+1 und S6_φ_i+1 ermittelt. Selbstverständlich kann es sich beispielsweise auch um eine digitale Signalverarbeitungsstufe handeln.
    A1 Zeitlicher mittlerer Abstand bis zum Eintreffen der ersten Reflektion auf dem Empfangssignal S1 infolge des beispielhaften ersten Objekts O1
    A2 Zeitlicher mittlerer Abstand bis zum Eintreffen der zweiten Reflektion auf dem Empfangssignal S1 infolge des beispielhaften zweiten Objekts O2
    A3 Mittelwert zwischen A1 und A3. Auf diesen Wert stellt sich ein System entsprechend DE 10 2005 045 993 B4 ein.
    A4 Abstand der ersten Reflektion den ein System entsprechend EP 12156720.0 anzeigt. Der Abstand wird durch die Basissignale eines solchen Systems vorgegeben.
    A5 Abstand der zweiten Reflektion den ein System entsprechend EP 12156720.0 anzeigt. Der Abstand wird durch die Basissignale eines solchen Systems vorgegeben.
    Z1 Erster Zeitschlitz. Der Beginn dieses Zeitschlitzes ist typischerweise mit dem Beginn eines Pulses des S5 Sendesignals synchron.
    Z2 Zweiter Zeitschlitz. Der Beginn dieses Zeitschlitzes ist typischerweise mit dem Ende des Zeitschlitzes Z1 synchron.
    Z3 Dritter Zeitschlitz. Der Beginn dieses Zeitschlitzes ist typischerweise mit dem Ende des Zeitschlitzes Z2 synchron.
    Z4 Vierter Zeitschlitz. Der Beginn dieses Zeitschlitzes ist typischerweise mit dem Ende des Zeitschlitzes Z3 synchron. Im Beispiel von Figur 11 mit n = 4 ist Z4 = Zn. In diesem Fall ist das Ende des Zeitschlitzes Z4 synchron mit dem Ende des Signal-Pulses des Signals S5.
    Zn n-ter Zeitschlitz. Der Beginn dieses Zeitschlitzes ist typischerweise mit dem Ende des Zeitschlitzes Zn-1 synchron. Das Ende des Zeitschlitzes Zn ist synchron mit dem Ende des Signal-Pulses des Signals S5.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • DE 4411773 C2 [0002]
    • DE 102005045993 B4 [0002, 0004, 0006, 0015, 0025, 0025, 0027, 0088, 0088, 0088, 0088]
    • EP 12156720 [0003, 0007, 0007, 0015, 0023, 0027, 0031, 0063, 0077, 0088, 0088, 0088, 0088, 0088, 0088]
    • DE 102005045993 B3 [0081]
    • EP 121156720 [0081]

Claims (7)

  1. Zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem bestehend – aus mindestens einem Signalgenerator G1, der ein Sendesignal S5 erzeugt, und – aus mindestens einem Sender H1, der von dem Signal S5 gesteuert wird, – wobei der Sender H1 mindestens in eine erste Übertragungsstrecke I11, I12 hineinsendet, und weiter bestehend aus – mindestens einem Empfänger D1, – der das Signal des Senders H1 mindestens nach Durchgang durch die erste Übertragungsstrecke I11, I12 detektiert, – mindestens einem Regler CTi zur Erzeugung mindestens eines Kompensationssignals S3 wobei – mit diesem Kompensationssendesignal S3 mindestens ein Kompensationssender K1 gespeist wird, der linear überlagernd in den Empfänger D1 einstrahlt – wobei sich mindestens die Signale eines Senders H1 und mindestens eines Kompensationssenders K1 im detektierten Signal S1 überlagern und – die Regelcharakteristik mindestens dieses einen Reglers CTi so gewählt ist, dass die Amplitude des Empfängerausgangssignals S1 für den Anwendungsfall bei Abwesenheit von Störungen bis auf den durch den Regler CTi und parasitäre Elemente des Systems verursachten Regelfehler als konstant angesehen werden kann dadurch charakterisiert, – dass in einem festen Bezug zu Flanken des Sendesignals S5 n Zeitschlitzsignale S5_0_i für n Zeitschlitze Zi erzeugt werden wobei i eine ganze Zahl zwischen 1 und n ist und – dass n mindesten 3 beträgt und – dass korreliert zum Sendesignal S5 mindestens n – 1 Basissignale S5_0_i, S5_s_i und S5_c_i für mindestens n – 1 verschiedene Zeitschlitze Zi erzeugt werden, die dem Zeitschlitz Zn vorausgehen, und – dass bezogen auf den Zeitschlitz Zi die zugehörigen Basissignale S5_0_i, S5_s_i und S5_c_i im Regler CTi über mindestens eine Linearform mit dem Empfängerausgangssignal S1 verknüpft werden und – dass das Ergebnis dieser Linearform zumindest in zwei Werte eines Anfangsamplitudenwerts S6_a_i, eines Endamplitudenwert S5_b_i oder einen Phasenlagenwerts S5_φ_i umgewandelt werden und – dass mindestens diese zwei dieser Werte zur Erzeugung mindestens eines Kompensationssignals S3 zur Speisung mindestens eines Kompensationssenders K1 verwendet werden.
  2. Verfahren zum Betreiben eines Verzögerungsmesssystems dadurch charakterisiert, dass – ein Sendesignal S5 erzeugt wird und – mit diesem Sendesignal S5 mindestens ein Sender H1, gesteuert wird, – wobei der Sender H1 mindestens in eine erste Übertragungsstrecke I11, I12 hineinsendet, und – mindestens ein Empfänger D1 das Signal des Senders H1 nach Durchgang durch mindestens die erste Übertragungsstrecke I11, I12 detektiert und hieraus das Empfängerausgangssignal S1 erzeugt, – und mindestens ein Regler CTi aus mindestens einem Empfängerausgangssignal S1 mindestens ein Kompensationssignal S3 erzeugt wobei – mit diesem Kompensationssendesignal S3 mindestens ein Kompensationssender K1 gesteuert wird, der linear überlagernd in den Empfänger D1 einstrahlt – wobei sich mindestens die Signale eines Senders H1 und mindestens eines Kompensationssenders K1 zumindest für kleine Signale linear im im detektierten Signal S1 linear überlagern und – die Regelcharakteristik mindestens dieses einen Reglers CTi so gewählt ist, dass die Amplitude des Empfängerausgangssignals S1 für den Anwendungsfall bei Abwesenheit von Störungen bis auf den durch den Regler CTi und parasitäre Elemente des Systems verursachten Regelfehler als konstant angesehen werden kann dadurch charakterisiert, – dass in einem festen Bezug zu Flanken des Sendesignals S5 n Zeitschlitzsignale S5_0_i für die n Zeitschlitze Zi erzeugt werden wobei i eine ganze Zahl zwischen 1 und n ist und – dass n mindesten 3 beträgt und – dass korreliert zum Sendesignal S5 mindestens n – 1 Basissignale S5_0_i, S5_s_i und S5_c_i erzeugt werden und – dass bezogen auf den Zeitschlitz Zi die zugehörigen Basissignale S5_0_i, S5_s_i und S5_c_i im Regler CTi über mindestens eine Linearform mit dem Empfängerausgangssignal S1 verknüpft werden und – dass das Ergebnis dieser Linearform zumindest in zwei Werte eines Anfangsamplitudenwerts S6_a_i, eines Endamplitudenwert S5_b_i oder einen Phasenlagenwerts S5_φ_i umgewandelt werden und – dass mindestens diese zwei dieser Werte zur Erzeugung mindestens eines Kompensationssignals S3 zur Speisung mindestens eines Kompensationssenders K1 verwendet werden.
  3. Abstandsmesssystem, das ein Verfahren nach Anspruch 2 durchführt, dadurch charakterisiert, dass zumindest Teile des Verfahrens durch eine Datenverarbeitungsanlage durchgeführt werden und/oder zumindest ein Signal ein Datum in einer Datenverarbeitungsanlage ist.
  4. Verfahren nach Anspruch 2 oder Vorrichtung nach Anspruch 1 dadurch charakterisiert, das mindesten zwei der Basissignale S5_0_i, S5_s_i und S5_c_i zueinander orthogonal bezüglich einer Verknüpfung durch die Linearform entsprechend Anspruch 1 oder Anspruch 2 sind.
  5. Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche dadurch gekennzeichnet, dass die Linearform ein Skalar-Produkt, insbesondere eine Multiplikation gefolgt von einer Integration oder integrierenden Filterung ist.
  6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche 2 bis 5 oder Verzögerungsmesssystem nach mindestens einem Anspruch 1 oder 3 bis 5 dadurch charakterisiert, dass auf einen Abstand oder eine Relaxationszeit geschlossen wird.
  7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche 2 bis 6 oder Verzögerungsmesssystem nach mindestens einem Anspruch 1 oder 3 bis 7 oder dadurch charakterisiert, dass auf einen Abstand oder eine Relaxationszeit geschlossen wird.
DE102012024597.1A 2012-12-13 2012-12-13 Zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem Active DE102012024597B4 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102012024597.1A DE102012024597B4 (de) 2012-12-13 2012-12-13 Zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102012024597.1A DE102012024597B4 (de) 2012-12-13 2012-12-13 Zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102012024597A1 true DE102012024597A1 (de) 2014-06-18
DE102012024597B4 DE102012024597B4 (de) 2014-07-24

Family

ID=50821099

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102012024597.1A Active DE102012024597B4 (de) 2012-12-13 2012-12-13 Zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102012024597B4 (de)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2924463A1 (de) 2014-03-25 2015-09-30 ELMOS Semiconductor AG Sensorsystem zur Erkennung der Eigenschaften einer Übertragungsstrecke
DE102015002283A1 (de) 2014-05-09 2015-11-12 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zum insbesondere dreidimensionalen optischen Scannen und Vermessen von Objekten und zur Objekterkennung mittels Lichtlaufzeitmessung und objektabhängiger Ortsauflösung mehrerer verschiedener Einzelscanner
DE102015004458B4 (de) * 2014-06-26 2016-05-12 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren für einen klassifizierenden, rauchkammerlosen Luftzustandssensor zur Prognostizierung eines folgenden Betriebszustands
DE102014017237A1 (de) 2014-11-21 2016-05-25 Mechaless Systems Gmbh Messsystem zur energiesparenden optischen Abstandsmessung
DE102014019773A1 (de) 2014-12-17 2016-06-23 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung von festen Objekten, Kochdunst und Rauch mittels des Displays eines Mobiltelefons
DE102014019172A1 (de) 2014-12-17 2016-06-23 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung von festen Objekten, Kochdunst und Rauch mit einem kompensierenden optischen Messsystem

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3036561B1 (de) 2013-08-22 2018-01-31 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Störkompensierte vorrichtung zur vermessung einer optischen signalübertragungsstrecke
DE102015015244A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015246A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015390A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Ag Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015245A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015389A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Ag Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015248A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Einfache Gestenerkennungsvorrichtung

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4411773C2 (de) 1993-07-02 1997-08-07 Gerd Reime Einrichtung zur Steuerung einer Scheibenwischanlage
DE10300223B3 (de) * 2003-01-03 2004-06-24 Gerd Reime Optoelektronische Messanordnung mit Fremdlichtkompensation sowie Verfahren zur phasenkorrekten Kompensation eines Signals der Messanordnung
DE102005045993B4 (de) 2005-07-29 2008-11-13 Gerd Reime Verfahren zur Lichtlaufzeitmessung
EP2418512A1 (de) * 2010-07-30 2012-02-15 Mechaless Systems GmbH Optoelektronische Messanordnung mit Fremdlichtkompensation
EP2631674A1 (de) 2012-02-23 2013-08-28 ELMOS Semiconductor AG Verfahren und Sensorsystem zur Vermessung der Eigenschaften einer Übertragungsstrecke eines Messsystems zwischen Sender und Empfänger

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4411773C2 (de) 1993-07-02 1997-08-07 Gerd Reime Einrichtung zur Steuerung einer Scheibenwischanlage
DE10300223B3 (de) * 2003-01-03 2004-06-24 Gerd Reime Optoelektronische Messanordnung mit Fremdlichtkompensation sowie Verfahren zur phasenkorrekten Kompensation eines Signals der Messanordnung
DE102005045993B4 (de) 2005-07-29 2008-11-13 Gerd Reime Verfahren zur Lichtlaufzeitmessung
EP2418512A1 (de) * 2010-07-30 2012-02-15 Mechaless Systems GmbH Optoelektronische Messanordnung mit Fremdlichtkompensation
EP2631674A1 (de) 2012-02-23 2013-08-28 ELMOS Semiconductor AG Verfahren und Sensorsystem zur Vermessung der Eigenschaften einer Übertragungsstrecke eines Messsystems zwischen Sender und Empfänger

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2924463A1 (de) 2014-03-25 2015-09-30 ELMOS Semiconductor AG Sensorsystem zur Erkennung der Eigenschaften einer Übertragungsstrecke
EP2924462A1 (de) 2014-03-25 2015-09-30 ELMOS Semiconductor AG Sensorsystem zur Erkennung der Eigenschaften einer Übertragungsstrecke
DE102015002283A1 (de) 2014-05-09 2015-11-12 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zum insbesondere dreidimensionalen optischen Scannen und Vermessen von Objekten und zur Objekterkennung mittels Lichtlaufzeitmessung und objektabhängiger Ortsauflösung mehrerer verschiedener Einzelscanner
DE102015002282A1 (de) 2014-05-09 2015-11-12 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zum insbesondere dreidimensionalen optischen Scannen und Vermessen von Objekten und zur Objekterkennung mittels Lichtlaufzeitmessung
DE102015002271A1 (de) 2014-05-09 2015-11-26 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zum insbesondere dreidimensionalen optischen Scannen und Vermessen von Objekten und zur Objekterkennung mittels Lichtlaufzeitmessung
DE102015002270A1 (de) 2014-05-09 2015-11-26 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zum insbesondere dreidimensionalen optischen Scannen, Vermessen und Klassifizieren von Objekten und zur Objekterkennung mittels Lichtlaufzeitmessung
DE102015004458B4 (de) * 2014-06-26 2016-05-12 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren für einen klassifizierenden, rauchkammerlosen Luftzustandssensor zur Prognostizierung eines folgenden Betriebszustands
DE102014017237A1 (de) 2014-11-21 2016-05-25 Mechaless Systems Gmbh Messsystem zur energiesparenden optischen Abstandsmessung
DE102014019773A1 (de) 2014-12-17 2016-06-23 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung von festen Objekten, Kochdunst und Rauch mittels des Displays eines Mobiltelefons
DE102014019172A1 (de) 2014-12-17 2016-06-23 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung von festen Objekten, Kochdunst und Rauch mit einem kompensierenden optischen Messsystem

Also Published As

Publication number Publication date
DE102012024597B4 (de) 2014-07-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102012024597B4 (de) Zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem
DE102013013664B3 (de) Zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem
EP1913420B1 (de) Verfahren zur lichtlaufzeitmessung
EP2783232B1 (de) Verfahren und messsystem zur abstandsmessung mittels der laufzeit von kompensierten impulsen
EP2817657B1 (de) Verfahren und sensorsystem zur vermessung der eigenschaften einer übertragungsstrecke eines messsystems zwischen sender und empfänger
EP2924466B1 (de) Sensorsystem zur Erkennung mindestens eines Objekts in einer Übertragungsstrecke
EP0742450B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Lichtlaufzeit über eine zwischen einer Messvorrichtung und einem reflektierenden Objekt angeordnete Messstrecke
EP3690488B1 (de) Sensorsystem zur erkennung mindestens eines objekts in einer übertragungsstrecke
EP2924460A1 (de) Sensorsystem zur Erkennung mindestens eines Objekts in einer Übertragungsstrecke mittels einer Diode
EP0499952A1 (de) FMCW-Radarsystem mit linearer Frequenzmodulation
EP2626676A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Korrigieren eines Offsets
EP1185881A1 (de) Entfernungsme einrichtung und verfahren zum kalibrieren einer entfernungsmesseinrichtung
DE102014010671A1 (de) Verfahren zur Ermittlung wenigstens eines physikalischen Parameters mittels einer Sensoreinheit
WO2014001259A1 (de) Distanzmessverfahren und distanzmesser
DE102013002676B4 (de) Kompensiertes Sensorsystem mit einem in der Sensitivität regelbaren Empfänger als kompensierendes Element
DE10153742A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Aufnahme eines dreidimensionalen Abstandsbildes
DE102019131460B3 (de) Verzögerungsregelung für Lichtlaufzeitmessvorrichtungen
DE1259582B (de) Echo-Entfernungsmesssystem
DE102010056526B4 (de) Verfahren zum Bestimmen einer oder mehrerer relativer Richtungen als Zielpeilung oder Zielpeilungen sowie Vorrichtung zur Ausführung des Verfahrens
DE102005058114A1 (de) Verfahren und Schaltung zur Abstandsmessung nach dem Radarprinzip
DE102008020035B4 (de) Verfahren und Schaltung zur Abstandsmessung nach dem Radarprinzip
DE102020119396B4 (de) Störarme optische Messvorrichtung
EP2551697B1 (de) Verfahren zum detektieren einer änderung innerhalb eines einem präsenz- oder bewegungssensor zugeordneten überwachungsbereiches
DE102020209065B4 (de) Optischer Abstandssensor mit Belichtungsregelung sowie entsprechendes Verfahren
WO2019242794A1 (de) Radaranordnung und verfahren zum betreiben einer radaranordnung

Legal Events

Date Code Title Description
R079 Amendment of ipc main class

Free format text: PREVIOUS MAIN CLASS: G01S0017100000

Ipc: G01S0007292000

R163 Identified publications notified
R012 Request for examination validly filed
R016 Response to examination communication
R016 Response to examination communication
R018 Grant decision by examination section/examining division
R081 Change of applicant/patentee

Owner name: ELMOS SEMICONDUCTOR AKTIENGESELLSCHAFT, DE

Free format text: FORMER OWNER: ELMOS SEMICONDUCTOR AG, 44227 DORTMUND, DE

Effective date: 20150108

R020 Patent grant now final
R081 Change of applicant/patentee

Owner name: ELMOS SEMICONDUCTOR SE, DE

Free format text: FORMER OWNER: ELMOS SEMICONDUCTOR AKTIENGESELLSCHAFT, 44227 DORTMUND, DE