DE102011056541A1 - Schaltkreise und Testverfahren - Google Patents
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Abstract
Es ist ein Schaltkreis (1) für den Anschluss an einen Verbraucher und an eine Spannungsquelle (2) offenbart, der ein oder mehrere Schaltelemente (6,7, ..., n) zum An-und Abschalten des Stroms zum Verbraucher, eine Pulldown-Einrichtung (4) zum Kurzschließen des Verbrauchers und dadurch Trennen desselben von der Spannungsquelle, und eine Steuerung (3) umfasst, die einsatzfähig ist, während die Quelle vom Verbraucher getrennt ist, um mindestens eins der Schaltelemente zu einem gegebenen Zeitpunkt zu aktivieren, wobei ein Strom durch das oder jedes aktivierte Schaltelement fließt und messbar ist, um zu prüfen, ob das oder jedes aktivierte Schaltelement richtig funktioniert.
Description
- Die vorliegende Erfindung betrifft Schaltkreise und Prüfverfahren dafür.
- Schaltkreise umfassen häufig verschiedene Schaltelemente, die parallel zueinander geschaltet sind, wodurch die Strombelastbarkeit des Schaltkreises die Summe der Belastbarkeit jedes Schaltelements ist. Dies ist besonders bei Anwendungen von Nutzen, bei denen die Leistung, die von dem Verbraucher benötigt wird, die Belastbarkeit eines einzelnen Schaltelements übersteigt. Ein Beispiel für derartige Schaltkreise ist in Stromverteilungssystemen in Flugzeugen zu finden, in denen beispielsweise acht Halbleiterschaltelemente parallel vorgesehen sein können. Die Schaltelemente können ganz allgemein bei einem Ausfall öffnen oder schließen. Jedes Schaltelement weist einen Treiber auf, der die Ursache für den Ausfall sein kann. Wenn eins oder mehrere der Schaltelemente bei einem Ausfall öffnen, können die anderen als Reserveschalter dienen, können jedoch möglicherweise überlastet werden. Wenn eins oder mehrere der Schaltelemente bei einem Ausfall schließen, wäre es nicht möglich, den Schaltkreis abzuschalten und es wäre ohne Weiteres ersichtlich, dass ein derartiger Ausfall aufgetreten ist. Führt ein Ausfall zum Öffnen, kann es sein, dass der Ausfall nicht erkannt wird. Halbleiterschaltelemente werden in der Herstellungsphase eingehend geprüft, jedoch ist es wünschenswert, sie im Einsatz prüfen zu können, um sicherzustellen, dass sie voll einsatzfähig bleiben. Dies ist auch als Selbsttest (Built-in-Test, BIT) bekannt.
- Die vorliegende Erfindung stellt einen Schaltkreis für den Anschluss an einen Verbraucher und an eine Spannungsquelle bereit, der ein oder mehrere Schaltelemente zum An- und Abschalten des Stroms zum Verbraucher, eine Pulldown-Einrichtung zum Kurzschließen des Verbrauchers und dadurch Trennen desselben von der Spannungsquelle, und eine Steuerung umfasst, die einsatzfähig ist, während der Verbraucher kurzgeschlossen ist, um mindestens eins der Schaltelemente zu einem gegebenen Zeitpunkt zu aktivieren, wobei ein Strom durch das oder jedes aktivierte Schaltelement fließt und messbar ist, um zu prüfen, ob das oder jedes aktivierte Schaltelement richtig funktioniert.
- Die Pulldown-Einrichtung ermöglicht vorteilhafterweise, dass die Schaltelemente ohne den Verbraucher geprüft werden, sodass die Prüfung vor oder nach der Einrichtung des Schaltkreises durchgeführt werden kann.
- Die vorliegende Erfindung stellt ferner ein Verfahren zum Prüfen eines Schaltkreises bereit, der einen Verbraucher mit einer Spannungsquelle verbindet, wobei der Schaltkreis ein oder mehrere Schaltelemente aufweist, wobei das Verfahren das Kurzschließen des Verbrauchers durch Aktivieren einer Pulldown-Einrichtung, das Aktivieren von einem oder mehreren der Schaltelemente, das Messen des Stroms durch das oder jedes aktivierte Schaltelement und anhand des gemessenen Stromsignals das Ermitteln, ob das bzw. die aktivierte(n) Schaltelement(e) richtig funktioniert bzw. funktionieren, umfasst.
- Es werden nun lediglich beispielhaft Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung unter Bezug auf die zugehörigen Zeichnungen beschrieben, in denen:
-
1 vereinfacht eine Schaltung zeigt, die einen Schaltkreis enthält, der als Beispiel für die vorliegende Erfindung dient, und -
2 eine Kurvendarstellung Strom gegen Zeit während eines Prüfverfahrens ist, das an der Schaltung von1 durchgeführt wird. -
1 veranschaulicht ein Beispiel für eine Schaltung, die einen Schaltkreis1 umfasst, der mit einer Spannungsquelle2 verbunden ist. Die Schaltung weist einen Ausgang5 auf, der mit einem Verbraucher15 verbunden ist. Die Schaltung kann beispielsweise derart an einem Flugzeug vorgesehen sein, dass die Spannungsquelle2 von einem Stromgenerator bereitgestellt werden kann und der Verbraucher15 kann ein Bauteil an dem Flugzeug sein, um beispielsweise eine Fahrwerkklappe oder das Fahrwerk zu betätigen, oder ein Bauteil in dem Flugzeug, beispielsweise Geräte oder die Bordunterhaltung. Der Schaltkreis1 kann ein einzelnes Schaltelement6 oder eine Vielzahl von Schaltelementen6 ,7 , ..., n umfassen. Die Schaltelemente sind parallel geschaltet. Die Schaltelemente können jeweils ein geeignetes Halbleiterschaltelement wie einen Feldeffekttransistor umfassen. Der Schaltkreis1 wird verwendet, um die Stromquelle2 mit dem Verbraucher15 zu verbinden. Die Spannungsquelle2 und ihre zugehörige Verkabelung oder Verdrahtung weisen eine Eigeninduktivität11 auf. Ebenso weisen der Verbraucher und seine zugehörige Verkabelung und Verdrahtung eine Eigeninduktivität14 auf. - Der Schaltkreis weist ferner eine Steuerung
3 auf, die mit jedem der Schaltelement6 ,7 , ..., n über die jeweiligen Steuerleitungen8 ,9 ,10 verbunden ist. Die Steuerung3 ist über eine Pulldown-Steuerleitung12 auch mit einer Pulldown-Einrichtung4 verbunden. Die Pulldown-Einrichtung4 ist ferner mit dem Verbraucherausgang5 und der Stromrückleitung13 verbunden. Wenn der Pulldown4 geschlossen ist, trennt er den Verbraucher von dem Schaltkreis und leitet den Strom durch den Pulldown4 um. Die Pulldown-Einrichtung, die auch als Pulldown-Schaltung oder einfach als Pulldown bezeichnet wird, kann jeden geeigneten Schalter aufweisen, einschließlich elektronische, elektromechanische und mechanische Schalter. - Der Schaltkreis
1 kann einen Halbleiter-Leistungsregler (SSPC) umfassen, der ein oder eine Vielzahl von verbundenen Halbleiterbauelement(en) umfassen kann. Wenn er eine Vielzahl parallelgeschalteter Halbleiterbauelemente umfasst, kann jedes Bauelement nacheinander ein- und ausgeschaltet werden, sodass jedes aus der Vielzahl von Bauelementen einzeln geprüft werden kann. Es können andere Prüfabläufe in Erwägung gezogen werden, beispielsweise die Aktivierung von mehr als einem Schaltelement gleichzeitig. Die einzelne Aktivierung der Schaltelemente ermöglicht die Fehlereingrenzung auf einen einzelnen Schalter. Der Prüfablauf kann zu jedem geeigneten Zeitpunkt durchgeführt werden, beispielsweise zwischen Flügen. Der Prüfablauf könnte auch während des Flugs zu Zeiten, wenn der Verbraucher15 nicht benötigt wird, durchgeführt werden. - Jedes der Schaltelemente
6 ,7 , ..., n weist einen entsprechenden Strombegrenzer61 ,71 , ..., n1 auf. Die Strombegrenzer begrenzen den Strom, der durch die Schaltelemente fließt, auf die Größenordnung des Fünf- bis Zehnfachen des normalen maximalen Betriebsstroms, um eine Beschädigung der Schaltelemente zu verhindern. Alternativ könnte ein einzelner Strombegrenzer für alle Schaltelemente vorgesehen sein. Bei einer weiteren Alternative könnte ein Schnellauslöser vorgesehen sein, um die Schaltelemente abzuschalten, wenn die Auslösegrenze überschritten wird. - Die Pulldown-Schaltung wird immer dann aktiviert, wenn eins der Schaltelemente für die BIT-Prüfroutine aktiviert wird. Jedes Schaltelement und seine Treiberschaltung können vollständig geprüft werden, indem die Steuerung
3 zur Aktivierung eines Elements nach dem anderen verwendet wird, während gleichzeitig überprüft wird, dass der Strom, der dadurch und durch die Pulldown-Einrichtung fließt, innerhalb der richtigen Grenzen liegt. Die Strommessschaltung ist in1 nicht dargestellt. In einer besonderen Ausführungsform wird die Mindestdauer, während der jedes Schaltelement aktiviert ist, so gewählt, dass sie mindestens die Dauer ist, die dafür erforderlich ist, dass der Strom relativ konstant wird, um reproduzierbare Messungen dieses Stroms mit der vom BIT-System erforderlichen Genauigkeit zu ermöglichen. Die Dauer, während der jedes Schaltelement aktiviert ist, hängt im Allgemeinen von der maximalen Gesamtinduktivität11 im Stromquellen-Eingangskabel ab. Das System kann jedoch auf Wunsch innerhalb eines kürzeren zeitlichen Rahmens betrieben werden. - Die Pulldown-Einrichtung ist so ausgelegt, dass, wenn sie während der BIT-Prüfung von einem einzelnen Hauptschaltelement Strom ableitet, die Spannung, die am Ausgang
5 zum Verbraucher entsteht, im Vergleich zur normalen Ausgangsspannung, wenn das System eingeschaltet ist, vernachlässigbar ist. Damit ist sichergestellt, dass am Verbraucher keine wesentliche Spannung anliegt, wenn das System ausgeschaltet sein soll. Dies wird erreicht, indem eine Pulldown-Einrichtung4 verwendet wird, die eine geringere, vorzugsweise viel geringere, Impedanz als jedes Schaltelement aufweist. In der Praxis weisen, wenn die Strombegrenzer61 ,71 , ..., n1 in Betrieb sind, die Schaltelemente6 ,7 , ..., n eine höhere effektive Impedanz auf als die Pulldown-Einrichtung1 . Während des normalen Systembetriebs würde im Allgemeinen davon ausgegangen werden, dass die Steuerung3 , die die Schaltelemente6 ,7 , ..., n aktiviert, sämtliche Schaltelemente gleichzeitig ein- und ausschaltet. - Ausführungsformen der Erfindung finden nicht nur bei Gleichstromsystemen, sondern auch bei Wechselstromsystemen Anwendung. In diesem Fall wäre die Spannungsquelle
2 eine Wechselspannung. Die Schaltelemente wären Wechselstromschalter (optional mit Wechselstrombegrenzern) und die Pulldown-Einrichtung wäre in der Lage, Wechselströme abzuleiten. Bei einer Gleichstrom-Ausführungsform umfasst die Pulldown-Einrichtung einen Feldeffekttransistor (FET) oder einen Bipolartransistor oder beispielsweise einen Bipolartransistor mit isolierter Gate-Elektrode. Es können andere Arten von Schaltelementen verwendet werden. Bei einer Wechselstrom-Ausführungsform kann die Pulldown-Einrichtung beispielsweise einen Triac oder ein Festkörperrelais umfassen. -
2 veranschaulicht den Ausgangsstrom durch ein Schaltelement, wenn ein Prüfverfahren durchgeführt wird. Es ist nur ein Maximum dargestellt, jedoch sind in einem Ausführungsbeispiel acht Schaltelemente vorgesehen, sodass die Prüfung einen Gesamteingangsstrom von der Spannungsquelle2 ergeben würde, der acht aufeinanderfolgende Impulse wie den einzelnen, der in2 dargestellt ist, aufweist. Die korrekte Funktion jedes Schaltelements6 ,7 , ..., n kann ermittelt werden, indem überprüft wird, ob die Amplitude jedes einzelnen Stromimpulses innerhalb der richtigen Grenzen liegt. - Das Prüfverfahren beginnt mit dem Kurzschließen des Verbrauchers durch Aktivieren der Pulldown-Einrichtung
4 . Die Pulldown-Einrichtung bleibt im Allgemeinen während der Dauer der BIT-Prüfung an. Das erste Schaltelement6 wird bei dem dargestellten Beispiel bei ungefähr 250 μs geschlossen und der Strom durch das Schaltelement6 steigt schnell auf den von der Quelle2 bereitgestellten Strom an, in diesem Beispiel ungefähr 100 Ampere. Anschließend wird das erste Schaltelement6 geöffnet und kurze Zeit später wird das zweite Schaltelement7 geschlossen und der Strom durch das zweite Schaltelement7 wird gemessen. Dieses Verfahren wird nacheinander wiederholt, bis sämtliche Schaltelemente geprüft wurden. Unterschiede in den Stromprofilen zu denen, die in2 dargestellt sind, können auf einen Fehler bei dem entsprechenden Schaltelement hinweisen. - Ausführungsformen der Erfindung können vorteilhafterweise die Einzelbeurteilung der Funktion der Schaltelemente ermöglichen. Eine einfache BIT-Prüfung, die lediglich die Funktion des Halbleiter-Leistungsreglers insgesamt überprüft, wäre normalerweise nicht in der Lage, ein defektes Element zu ermitteln, das im unterbrochenen Zustand geblieben ist. Ein technischer Vorteil dieser Erfindung ist, dass sie nicht nur Fehler einzelner Elemente erkennt, sondern auch die Strombegrenzungseigenschaften jedes Elements einzeln prüfen kann. Die Erfindung kann deshalb für einen vollständigen Selbsttest während des Servicebetriebs sorgen.
- Bei einer alternativen Ausführungsform weisen die Schaltelemente keine Strombegrenzungssteuerung auf. In diesem Fall kann darauf vertraut werden, dass die Induktivität der Stromquelle
2 und die Leitungsinduktivität11 in Verbindung mit einer Schnellauslöseschaltung verhindern, dass der Strom während des Prüfimpulses auf einen gefährlichen Wert ansteigt. Mit anderen Worten würde die Steuerung3 in dieser Ausführungsform so funktionieren, dass sie die Abfolge aus Öffnen und Schließen der Schaltelemente ausreichend schnell aktiviert, um eine Überlastung zu verhindern. - Es ist ein Schaltkreis
1 für den Anschluss an einen Verbraucher und an eine Spannungsquelle2 offenbart, der ein oder mehrere Schaltelemente6 ,7 , ..., n zum An- und Abschalten des Stroms zum Verbraucher, eine Pulldown-Einrichtung4 zum Kurzschließen des Verbrauchers und dadurch Trennen desselben von der Spannungsquelle, und eine Steuerung3 umfasst, die einsatzfähig ist, während die Quelle vom Verbraucher getrennt ist, um mindestens eins der Schaltelemente zu einem gegebenen Zeitpunkt zu aktivieren, wobei ein Strom durch das oder jedes aktivierte Schaltelement fließt und messbar ist, um zu prüfen, ob das oder jedes aktivierte Schaltelement richtig funktioniert.
Claims (17)
- Schaltkreis für den Anschluss an einen Verbraucher und an eine Spannungsquelle, der ein oder mehrere Schaltelemente zum An- und Abschalten des Stroms zum Verbraucher, eine Pulldown-Einrichtung zum Kurzschließen des Verbrauchers und dadurch Trennen desselben von der Spannungsquelle, und eine Steuerung umfasst, die einsatzfähig ist, während der Verbraucher kurzgeschlossen ist, um mindestens eins der Schaltelemente zu einem gegebenen Zeitpunkt zu aktivieren, wobei ein Strom durch das oder jedes aktivierte Schaltelement fließt und messbar ist, um zu prüfen, ob das oder jedes aktivierte Schaltelement richtig funktioniert.
- Schaltkreis nach Anspruch 1, wobei die Pulldown-Einrichtung einen Schalter aufweist, der parallel zum Verbraucher angeordnet ist, und das Schließen des Schalters den Verbraucher kurzschließt.
- Schaltkreis nach Anspruch 2, wobei die Pulldown-Einrichtung einen elektronischen, elektromechanischen und/oder mechanischen Schalter aufweist, einschließlich eines Feldeffekttransistors, eines Bipolartransistors, eines Bipolartransistors mit isolierter Gate-Elektrode, eines Triac und/oder eines Festkörperrelais.
- Schaltkreis nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das oder jedes Schaltelement einzeln aktiviert wird.
- Schaltkreis nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ferner umfassend einen Strombegrenzer zum Begrenzen des Stroms durch das oder jedes Schaltelement.
- Schaltkreis nach Anspruch 5, wobei das oder jedes Schaltelement einen Strombegrenzer aufweist, der darin angeordnet ist.
- Schaltkreis nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei die Systeminduktivität verwendet wird, um den Strom durch das oder jedes Schaltelement zu begrenzen.
- Schaltkreis nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Impedanz der Pulldown-Einrichtung geringer ist als die Impedanz des oder jedes Schaltelements.
- Schaltkreis nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei eine Ausgangsspannung des Schaltkreises unter Prüfbedingungen im Vergleich zur Ausgangsspannung unter normalen Betriebsbedingungen vernachlässigbar ist.
- Schaltkreis nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Schaltkreis mit einer Wechsel- oder Gleichspannungsquelle verbunden werden kann.
- Schaltkreis nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das oder jedes Schaltelement ein Halbleiterschaltelement umfasst.
- Verfahren zum Prüfen eines Schaltkreises, der einen Verbraucher mit einer Spannungsquelle verbindet, wobei der Schaltkreis ein oder mehrere Schaltelemente aufweist, wobei das Verfahren das Kurzschließen des Verbrauchers durch Aktivieren einer Pulldown-Einrichtung, das Aktivieren von einem oder mehreren der Schaltelemente, das Messen des Stroms durch das oder jedes Schaltelement, das aktiviert ist, und anhand des gemessenen Stromsignals das Ermitteln, ob das bzw. die aktivierte(n) Schaltelement(e) richtig funktioniert bzw. funktionieren, umfasst.
- Verfahren nach Anspruch 12, wobei die Schaltelemente nacheinander eins nach dem anderen aktiviert werden.
- Verfahren nach Anspruch 12, wobei das eine oder die mehreren Schaltelemente für eine Dauer aktiviert werden, die ausreicht, dass der Strom, der hindurchfließt, im Wesentlichen konstant wird.
- Verfahren nach einem der Ansprüche 12 bis 14, ferner umfassend das Begrenzen des Stroms, der durch jedes Schaltelement fließt.
- Schaltkreis, im Wesentlichen wie er hier unter Bezug auf die zugehörigen Zeichnungen beschrieben ist.
- Verfahren zum Prüfen eines Schaltkreises, im Wesentlichen wie er hier unter Bezug auf die zugehörigen Zeichnungen beschrieben ist.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB1021453.4 | 2010-12-17 | ||
GB1021453.4A GB2486493B (en) | 2010-12-17 | 2010-12-17 | Switching circuits and methods of testing |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102011056541A1 true DE102011056541A1 (de) | 2012-06-21 |
DE102011056541B4 DE102011056541B4 (de) | 2022-07-21 |
Family
ID=43598572
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102011056541.8A Active DE102011056541B4 (de) | 2010-12-17 | 2011-12-16 | Schaltkreise und Testverfahren |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6018377B2 (de) |
CN (1) | CN102608526B (de) |
BR (1) | BRPI1105402A2 (de) |
CA (1) | CA2762475C (de) |
DE (1) | DE102011056541B4 (de) |
FR (1) | FR2969427B1 (de) |
GB (1) | GB2486493B (de) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5983171B2 (ja) * | 2012-08-10 | 2016-08-31 | 株式会社Gsユアサ | スイッチ故障診断装置、蓄電装置 |
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CN103310853B (zh) * | 2013-05-24 | 2016-02-24 | 南京航空航天大学 | 一种带内建自测试的电源开关电路 |
CN108369879B (zh) | 2015-12-18 | 2020-04-17 | 佩佩尔+富克斯有限公司 | 用于监视冗余互连触点的功能的方法和装置 |
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CN110187269B (zh) * | 2019-06-21 | 2024-03-29 | 江苏伊施德创新科技有限公司 | 一种继电器全负载试验降低能耗的方法及装置 |
EP3767316B1 (de) * | 2019-07-19 | 2022-03-30 | Yazaki Corporation | Vorrichtung zur detektion von schaltfehlern |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS6291587U (de) * | 1985-11-28 | 1987-06-11 | ||
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-
2010
- 2010-12-17 GB GB1021453.4A patent/GB2486493B/en active Active
-
2011
- 2011-12-15 FR FR1161734A patent/FR2969427B1/fr active Active
- 2011-12-15 CA CA2762475A patent/CA2762475C/en not_active Expired - Fee Related
- 2011-12-16 BR BRPI1105402-6A patent/BRPI1105402A2/pt active Search and Examination
- 2011-12-16 CN CN201110463075.XA patent/CN102608526B/zh active Active
- 2011-12-16 DE DE102011056541.8A patent/DE102011056541B4/de active Active
- 2011-12-16 JP JP2011275229A patent/JP6018377B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2486493A (en) | 2012-06-20 |
GB201021453D0 (en) | 2011-02-02 |
FR2969427B1 (fr) | 2020-02-28 |
CA2762475C (en) | 2019-01-08 |
JP2012147655A (ja) | 2012-08-02 |
DE102011056541B4 (de) | 2022-07-21 |
FR2969427A1 (fr) | 2012-06-22 |
CN102608526A (zh) | 2012-07-25 |
CN102608526B (zh) | 2016-05-11 |
BRPI1105402A2 (pt) | 2019-03-26 |
GB2486493B (en) | 2016-06-15 |
CA2762475A1 (en) | 2012-06-17 |
JP6018377B2 (ja) | 2016-11-02 |
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