DE102009009813A1 - Lötverfahren und Schaltung - Google Patents

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Abstract

Vorgeschlagen wird ein Lötverfahren zum Verbinden eines Halbleiterchips (1) mit einer Leiterplatte (2) über wenigstens einen Lötkontakt (7) und zum Herstellen einer Schaltung (14), wobei der Halbleiterchip wenigstens ein elektrisch leitendes Pad (5) aufweist und die Leiterplatte wenigstens einen Leiterbahnabschnitt (9) zur Kontaktierung mit wenigstens einem der Pads des Halbleiterchips umfasst, umfassend: eine Auftragung von Lötpaste (10) auf den wenigstens einen Leiterbahnabschnitt, einen Bondingprozess, bei dem ein Höcker (7) auf wenigstens einem Materialabschnitt (6) auf wenigstens eines der Pads gebondet wird, einen Bestückungsvorgang, bei dem die Leiterplatte so mit wenigstens einem der Halbleiterchips bestückt wird, dass wenigstens einer der Lötkontakte mit der Lötpaste in Berührung kommt, einen Heizprozess, bei dem eine elektrisch leitende Verbindung zwischen dem Leiterbahnabschnitt und dem Pad hergestellt wird. Zur Verbesserung des Lötverfahrens wird als Lötkontakt ausschließlich der Höcker verwendet, wobei dieser aus einem homogenen Metall oder einer homogenen Metalllegierung besteht. Ferner wird eine nach dem Lötverfahren hergestellte Schaltung (14) vorgeschlagen.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Lötverfahren zum Verbinden eines Halbleiterchips mit einer Leiterplatte nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 sowie eine Schaltung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 8.
  • Aus dem Stand der Technik ist die so genannte „Flip-Chip”-Kontaktierung bekannt, wie sie beispielsweise auch in der Druckschrift EP 1 365 453 A1 beschrieben ist. Dieses Kontaktierungsverfahren erfordert ein vorgefertigtes, gespiegelt zur Pad-Anordnung des Halbleiterchips angeordnetes Anschlussraster auf der entsprechenden Leiterplatte, welche als Systemträger dient. Die einzelnen, zu kontaktierenden Leiterbahnabschnitte der Leiterplatte sind regelmäßig bereits mit Lötpaste, bestehend aus Flussmittel und Lötmetallpulver versehen. Die Pads des Halbleiterchips werden mit Lötkontakten versehen. Dazu werden beispielsweise Golddrahtabschnitte aufgebondet. Grundsätzlich werden derartige Lötkontakte üblicherweise in der Technik auch mit dem englischen Begriff ”stud bumps” bezeichnet. Abschließend wird bei der Herstellung des Lötkontaktes dieses im Bonding-Verfahren aufgebrachte Material mit einer Schicht aus Lötzinn überzogen. Der so gebildete Lötkontakt wird in die Lötpaste getaucht und anschließend durch Erhitzen verlötet. Eine weitere Methode des so genannten Flip-Chip-Verfahrens besteht darin, ein Ultraschallschweißverfahren zur Kontaktierung zu nutzen.
  • Aufgabe der Erfindung ist es, ein verbessertes Lötverfahren zum Verbinden eines Halbleiterchips mittels Leiterplatten sowie eine durch dieses Lötverfahren kontaktierte Schaltung vorzuschlagen.
  • Die Aufgabe wird, ausgehend von einem Lötverfahren bzw. einer Schaltung der eingangs genannten Art durch die kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs 1 bzw. des Anspruchs 8 gelöst.
  • Durch die in den abhängigen Ansprüchen genannten Maßnahmen sind vorteilhafte Ausführungen und Weiterbildungen der Erfindung möglich.
  • Dementsprechend zeichnet sich ein erfindungsgemäßes Lötverfahren zum Verbinden eines Halbleiterchips mit einer Leiterplatte dadurch aus, dass als Lötkontakt ausschließlich der Höcker verwendet wird und dieser aus einem homogenen Metall oder einer homogenen Metalllegierung besteht. Die Anwendung eines derartigen Verfahrens erfordert, dass die Padanordnung des Chips dem Anschlussraster der als Systemträger ausgebildeten Leiterplatte entspricht. In der Regel soll durch die Kontaktierung eine Schaltung hergestellt werden. Auf den entsprechenden Halbleiterchips befindet sich regelmäßig eine integrierte Schaltung. Unter einem ”Pad” versteht man eine Leiterfläche, die zur Kontaktierung im bzw. am integrierten Schaltkreis angebracht ist. Derartige Pads werden vielfach aus Aluminium gefertigt, da dieses nicht ins Halbleitermaterial wandert.
  • Die elektrisch leitende Verbindung soll dementsprechend zwischen dem Pad und dem Leiterbahnabschnitt der Leiterplatte hergestellt werden. Im Allgemeinen wird eine Leiterplatte so gefertigt, dass die entsprechenden zu kontaktierenden Leiterbahnabschnitte so angeordnet sind, dass ein direktes Bestücken mit Halbleiterchips möglich ist und die Pads dabei direkt über den entsprechenden Leiterbahnabschnitten liegen.
  • In einem ersten Verfahrensschritt wird dabei Lötpaste auf wenigstens einen der Leiterbahnabschnitte aufgebracht. Die Lötpaste muss jeweils auf solche Leiterbahnabschnitte aufgebracht werden, welche an diesen Stellen mit Pads verbunden werden sollen.
  • In vielen Fällen eignen sich die Pads, insbesondere dann, wenn diese aus Aluminium gefertigt sind, nicht dazu, auf direkte Weise angelötet zu werden. Aus diesem Grunde werden so genannte „Bonds” auf die Pads aufgebracht. Bei einem Bonding-Prozess handelt es sich um ein Einzeldrahtkontaktierungsverfahren, wie beispielsweise das Thermokompressionsverfahren, das Ultraschall- oder Wedge-Bonden und das Thermosonicverfahren. Die einzelnen Bonds, also die Materialabschnitte, die auf dem Pad durch Bonden angebracht wurden, werden im Sinne der Erfindung auch als Höcker bezeichnet.
  • Ferner wird die Leiterplatte mit den entsprechenden Halbleiterchips entsprechend bestückt. Dabei tauchen die Lötkontakte in die Lötpaste, welche auf den entsprechenden Leiterbahnabschnitten aufgebracht ist, ein.
  • Die Kontaktierung selbst endet mit einem Heizprozess, bei dem eine elektrisch leitende Verbindung zwischen dem Leiterbahnabschnitt und dem Pad hergestellt wird.
  • Bei einem erfindungsgemäßen Lötverfahren wird als Lötkontakt ausschließlich der Höcker verwendet, wobei dieser aus einem homogenen Metall oder einer homogenen Metalllegierung besteht. Dies bedeutet, dass lediglich einzelne Materialabschnitte auf die Pads gebondet werden und dieser Höcker gleichzeitig den Lötkontakt bildet. Eine zusätzliche Beschichtung oder Ähnliches ist nicht vorgesehen. Vorteilhaft ist an dem erfindungsgemäßen Lötverfahren, dass die entsprechenden Halbleiterschaltungen wesentlich billiger gefertigt werden können. Muss der aufgebondete Höcker noch beispielsweise mit einer Schicht aus Lötzinn überzogen werden, so ist dies ein zusätzliches Verfahren, bei dem erhöhte Kosten entstehen können. Dennoch ist es möglich, dieses Lötverfahren beispielsweise auch mit gängiger Flip-Chip-Technik zusammen einzusetzen. Wird eine entsprechende Halbleiterplatte mit Halbleiterchips verschiedener Hersteller bestückt, so spielt es keine Rolle, ob ein Lötkontakt im Sinne des erfindungsgemäßen Lötverfahrens auf dem Halbleiterchip vorgesehen ist oder ob der Lötkontakt einen entsprechenden Lötzinnüberzug über einem der Höcker aufweist.
  • Vorzugsweise werden bei dem Verfahren vergleichsweise große Höcker aufgebondet. Kommt beim Erhitzen Lötpaste direkt mit dem Aluminiumpad in Kontakt, so besteht die Gefahr, dass hier keine stabile elektrisch leitende Verbindung entsteht. Dieses Risiko besteht insbesondere auch bei gängiger Flip-Chip-Kontaktierung gemäß dem Stand der Technik, da, sobald das Lötzinn, welches als Schicht den aufgebondeten Höcker umgibt, aufgeschmolzen ist, auch beim Lötvorgang der aufgebondete Höcker abgetragen werden kann. Dieses Risiko kann zumindest verringert werden bzw. ganz entfallen, wenn der Höcker ausreichend groß ausgebildet ist. Insgesamt umfasst der Lötkontakt beim erfindungsgemäßen Lötverfahren nicht mehrere verschiedene Schichten, sondern besteht nur aus dem homogenen, aufgebondeten Metall bzw. der entsprechenden Metalllegierung.
  • Wie bereits oben erwähnt, werden die genannten Kontaktierungsverfahren im Allgemeinen bei einer so genannten „Face-down”-Kontaktierung eingesetzt. Dies bedeutet, dass beim Bestückungsvorgang der Halbleiterchip ohne weiteres Gehäuse mit der Schaltungsseite zur Leiterplatte hin aufgebracht wird. Der Halbleiterchip selbst weist dabei wenigstens ein Pad auf der Schaltungsseite auf. Besonders vorteilhaft ist hieran, dass diese Montage die kürzeste Verbindung zwischen den Chip-Anschlüssen und dem Substrat darstellt. Je Anschluss wird nur eine Lötverbindung benötigt und somit auch die entsprechende Kontaktfläche minimiert.
  • Vorzugsweise wird zum Bonden ein Material verwendet, welches sich für den entsprechenden Lötvorgang eignet. In der Regel eignen sich hier Kupfer, vorzugsweise jedoch Gold.
  • Es wurde bereits angesprochen, dass bei einem erfindungsgemäßen Lötverfahren bzw. einer Ausführungsform der Erfindung es besonders wichtig ist, dass die aufgebondeten Höcker ausreichend Material enthalten, so dass dieses beim Heizprozess des Lötvorganges nicht vollständig oder zu stark wegschmelzen können. Bei einer besonders bevorzugten Weiterbildung der Erfindung umfasst daher der Bonding-Prozess ein wenigstens zweimaliges turmartiges Aufeinanderbonden von Materialabschnitten. Ferner ist es auch möglich, lediglich einen Bonding-Vorgang durchzuführen und somit nur einen Materialabschnitt aufzubonden, diesen aber in Bezug auf das entsprechende Pad ausreichend groß auszubilden, damit beim Heizvorgang genügend Material zur Verfügung steht, welches nicht vollständig weggeschmolzen wird.
  • Vorteilhafterweise enthält die Lötpaste Lotmetallpulver und Flussmittel. Über das Lotmetall aus der Lötpaste kann ein guter elektrischer Kontakt zwischen dem Lötkontakt, welcher nur das aufgebondete Material enthält und dem Leiterbahnabschnitt hergestellt werden.
  • Der mit der Schaltungsseite auf der Leiterplatte montierte Halbleiterchip weist im Allgemeinen kein Gehäuse auf.
  • Bei einer Ausführungsform einer nach diesem erfindungsgemäßen Lötverfahren hergestellten Schaltung kann ferner eine Passivierungsschicht als Schutz vor mechanischer Beschädigung, als Korrosionsschutz für die Metallisierungsebene und auch als Diffusionsbarriere für Alkaliionen zur Verbesserung der Langzeitstabilität der Schaltung vorgesehen sein. Ferner ist es möglich, Glasdämme insbesondere auf der Leiterplatte aufzubringen, um die Lötfläche möglichst gezielt zu begrenzen, so dass kein aufgeschmolzenes und mit Flussmittel in Kontakt stehendes Lötzinn seitlich wegfließen kann.
  • Ausführungsbeispiel:
  • Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und wird nachstehend unter Angabe weiterer Einzelheiten und Vorteile näher erläutert. Im Einzelnen zeigen:
  • 1 eine Momentaufnahme aus einem Lötverfahren gemäß der Erfindung, welches einen schematischen Schnitt durch die Leiterplatte und den Halbleiterchip zeigt.
  • 2 eine Momentaufnahme, bei der die Lötkontakte in die Lötpaste eingetaucht werden sowie
  • 3 eine Momentaufnahme nach dem Heizprozess.
  • 1 zeigt einen schematischen Schnitt durch einen Halbleiterchip 1 und eine Leiterplatte 2. Die integrierte Schaltung auf dem Halbleiterchip 1 ist in das so genannte Halbleiterbulkmaterial 3 eingearbeitet. Auf der Schaltungsseite weist der Halbleiterchip eine Passivierungsschicht 4 auf, welche aus einer Oxidschicht besteht. Als Kontaktierung sind auf der Schaltungsseite des Halbleiterchips Pads 5 vorgesehen. Diese bestehen aus Aluminium (Al). Auf diese Pads 5 sind einzelne Goldabschnitte (Au) 6 aufgebondet. In diesem Fall wurden drei Bonds jeweils auf einen Pad aufgebracht, so dass möglichst viel Goldmaterial zur Verfügung steht, damit dieses nicht bei dem späteren Heizvorgang vollständig aufgebraucht wird. Die auf einem Pad 5 aufgebrachten Bonds 6 bilden einen Höcker, der in dieser Form als Lötkontakt 7 zur Verfügung steht.
  • Die Leiterplatte 2 umfasst ein Substrat 8. Auf diesem Substrat befinden sich entsprechende Leiterbahnen mit zu kontaktierenden Leiterbahnabschnitten 9. Die Leiterbahnen bzw. die Leiterbahnabschnitte bestehen aus Kupfer (Cu). Auf den zu kontaktierenden Leiterbahnabschnitten 9 befindet sich Lötpaste 10. Diese besteht aus Flussmittel 11 sowie Lötmetallpulver 12. Um die Lötflächen möglichst gering zu halten und damit kein Lötzinn seitlich wegfließen kann, sind Glasdämme 13 neben den Leiterbahnabschnitten angebracht.
  • 2 zeigt wie die entsprechenden aufgebondeten Lötkontakte 7 in die aufgebrachte Lötpaste 10 eintauchen. Die Lötkontakte werden dabei nicht bzw. nur kaum deformiert.
  • 3 zeigt die Schaltung 14 nach dem Heizprozess, bei dem also elektrisch leitende Kontakte zwischen dem Pad 5 des Halbleiterchips 1 und den entsprechenden Leiterbahnabschnitten 9 der Leiterplatte 2 ausgebildet sind. Die aufgebondeten, aus Gold bestehenden Höcker/Lötkontakte 7 sind dabei, wenn überhaupt, nur kaum infolge des Heizvorganges abgetragen worden. Zwischen den Höckern 7 und dem Leiterbahnabschnitt 9 befinden sich Kontakte aus Lötzinn, die durch den Lötvorgang während des Heizens aus dem Lötmetallpulver entstanden sind.
  • Allen Ausführungen und Weiterbildungen der Erfindung ist gemeinsam, dass als Lötkontakt ausschließlich der Höcker verwendet wird und dieser aus einem homogenen Metall oder einer homogenen Metalllegierung besteht.
  • 1
    Halbleiterchip
    2
    Leiterplatte
    3
    Halbleiter-Bulk
    4
    Passivierungsschicht
    5
    Pad
    6
    Gold-Bond
    7
    Lötkontakt
    8
    Substrat
    9
    Kupfer-Leiterbahnabschnitt
    10
    Lötpaste
    11
    Flussmittel
    12
    Lötmetallpulver
    13
    Glasdamm
    14
    Schaltung
    15
    Lötzinnkontakt
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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  • Zitierte Patentliteratur
    • - EP 1365453 A1 [0002]

Claims (9)

  1. Lötverfahren zum Verbinden eines Halbleiterchips (1) mit einer Leiterplatte (2) über wenigstens einen Lötkontakt (7) und zum Herstellen einer Schaltung (14), wobei der Halbleiterchip wenigstens ein elektrisch leitendes Pad (5) aufweist und die Leiterplatte wenigstens einen Leiterbahnabschnitt (9) zur Kontaktierung mit wenigstens einem der Pads des Halbleiterchips umfasst, umfassend eine Auftragung von Lötpaste (10) auf den wenigstens einen Leiterbahnabschnitt, einen Bondingprozess, bei dem ein Höcker (7) aus wenigstens einem Materialabschnitt (6) auf wenigstens eines der Pads gebondet wird, einen Bestückungsvorgang, bei dem die Leiterplatte so mit wenigstens einem der Halbleiterchips bestückt wird, dass wenigstens einer der Lötkontakte mit der Lötpaste in Berührung kommt, einen Heizprozess, bei dem eine elektrisch leitende Verbindung zwischen dem Leiterbahnabschnitt und dem Pad hergestellt wird, dadurch gekennzeichnet, dass als Lötkontakt ausschließlich der Höcker verwendet wird und dieser aus einem homogenen Metall oder einer homogenen Metalllegierung besteht.
  2. Lötverfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass beim Bestückungsvorgang der Halbleiterchip ohne weiteres Gehäuse mit der Schaltungsseite zur Leiterplatte hin aufgebracht wird, wobei der Halbleiterchip wenigstens eines der Pads auf der Schaltungsseite aufweist.
  3. Lötverfahren nach einem der vorgenannten Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Höcker aus Materialabschnitten aus Kupfer oder vorzugsweise aus Gold gebondet wird.
  4. Lötverfahren nach einem der vorgenannten Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Bondingprozess ein wenigstens zweimaliges Bonden von Drahtabschnitten umfasst.
  5. Lötverfahren nach einem der vorgenannten Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lötpaste (10) Lotmetallpulver (12) und Flussmittel (11) beinhaltet.
  6. Lötverfahren nach einem der vorgenannten Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Heizprozess mittels eines Durchlaufofens durchgeführt wird.
  7. Lötverfahren nach einem der vorgenannten Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass sich ein Vergussprozess zum Vergießen der aus Leiterplatte und Halbleiterchip hergestellten Schaltung anschließt.
  8. Schaltung (14) mit wenigstens einem auf eine Leiterplatte (2) gelöteten Halbleiterchip (1), dadurch gekennzeichnet, dass der Halbleiterchip durch ein Lötverfahren nach einem der vorgenannten Ansprüche auf die Leiterplatte montiert ist.
  9. Schaltung (14) nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass eine Passivierungsschicht (14) als Schutz vor Beschädigungen, wie z. B. mechanischer Beschädigung, vor Korrosion, als Diffusionsbarriere für Alkaliionen oder dergleichen, und/oder wenigstens ein Glasdamm (13) zur Begrenzung der Lötfläche vorhanden sind/ist.
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