DE102009000885A1 - Halbleitermodul - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Halbleitermodul, insbesondere Leistungshalbleitermodul, bei dem zumindest ein mit einem Substrat (1) verbundenes halbleitendes Bauelement (2) von einem aus einem Polymermaterial hergestellten Gehäuse (3) umgeben ist. Zur Verbesserung der Wärmeableitung wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, dass das Polymermaterial eine aus einem präkeramischen Polymer gebildete duroplastische Matrix aufweist.
Description
- Die Erfindung betrifft ein Halbleitermodul nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
- Ein solches Halbleitermodul ist beispielsweise aus der
DE 10 2004 021 927 A1 bekannt. Dabei sind auf einem Substrat aufgenommene Leistungshalbleiter von einem aus einem Polymermaterial hergestellten Gehäuse umgeben. Die herkömmlicherweise zur Herstellung solcher Gehäuse verwendeten Polymermaterialien weisen eine geringe Wärmeleitfähigkeit und Temperaturbeständigkeit auf. Sie sind überdies mit flammenhemmenden Zusätzen versehen, welche insbesondere bei Einwirkung von Feuchtigkeit zu einem Ausfall des Halbleitermoduls führen können. - Das Gehäuse ist üblicherweise zumindest teilweise mit einer elektrisch isolierenden Vergussmasse gefüllt. Die Vergussmasse dient – abgesehen von der elektrischen Isolierung der halbleitenden Bauelemente – einerseits der Befestigung des Gehäuses am Substrat und andererseits zur Ableitung der von den halbleitenden Bauelementen im Betrieb erzeugten Wärme auf das Gehäuse und von da an die Umgebung. Bei dem herkömmlichen Halbleitermodul ist die Wärmeableitung durch die Vergussmasse und das Gehäuse nicht besonders hoch.
- Aufgabe der Erfindung ist es, die Nachteile nach dem Stand der Technik zu beseitigen. Es soll insbesondere ein Halbleitermodul mit verbesserter Wärmeableitung angegeben werden. Nach einem weiteren Ziel der Erfindung soll die Leistung des Halbleitermoduls erhöht werden.
- Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruchs 1 gelöst. Zweckmäßige Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den Merkmalen der Ansprüche 2 bis 7.
- Nach Maßgabe der Erfindung ist vorgesehen, dass das Polymermaterial eine aus einem präkeramischen Polymer gebildete duroplastische Matrix aufweist. – Das erfindungsgemäß vorgeschlagene Polymermaterial zeichnet sich durch eine erheblich verbesserte Wärmeleitfähigkeit λ aus. Es ist überdies äußerst temperaturstabil. Das vorgeschlagene Halbleitermodul kann mit einer Temperatur von bis zu 300°C betrieben werden. Bei dem vorgeschlagenen Polymermaterial kann auf flammhemmende Zusätze verzichtet werden. Die durch solche Zusätze sich ergebenden Nachteile nach dem Stand der Technik werden vermieden.
- Im Sinne der vorliegenden Erfindung wird unter dem Begriff ”Substrat” ein z. B. in Form einer Platte vorliegendes elektrisch isolierendes Material verstanden, welches mit Leiterbahnen versehen ist. Darauf kann zumindest ein halbleitendes Bauelement beispielsweise mittels eines Lots, eines Klebstoffs oder dgl. montiert sein. Zum Schutz des so auf dem Substrat aufgenommenen Bauelements wird dieses mit einem ”Gehäuse” umgeben. Dabei kann z. B. das Substrat den Boden des Gehäuses bilden, d. h. das Gehäuse muss das halbleitende Bauelement also nicht allseitig umgeben.
- Unter dem Begriff ”präkeramisches Polymer” wird ein Polymer verstanden, welches z. B. mit zunehmender Temperatur zunächst in einen gelartigen und nachfolgend in einen duroplastischen Zustand übergeht. Im duroplastischen Zustand weist ein präkeramisches Polymer in der Regel eine Temperaturbeständigkeit von bis zu 300°C auf. Bei einer weiteren Temperaturerhöhung können aus präkeramischen Polymeren keramische Werkstoffe hergestellt werden. Zu präkeramischen Polymeren gehören beispielsweise Polysilane, Polycarbosilane und Polyorganosilizane.
- Nach einer vorteilhaften Ausgestaltung ist ein Zwischenraum zwischen dem halbleitenden Bauelement und dem das halbleitende Bauelement umgebenden Gehäuse zumindest teilweise mit einer Vergussmasse gefüllt, welche eine aus einem weiteren präkeramischen Polymer gebildete Matrix aufweist. Dabei kann das weitere präkeramische Polymer in gelartiger oder duroplastischer Form vorliegen. Indem anstelle herkömmlicher Vergussmassen nunmehr eine Vergussmasse mit einem weiteren präkeramischen Polymer verwendet wird, kann eine besonders effiziente Wärmeableitung vom halbleitenden Bauelement zum Gehäuse und von da an die Umgebung erfolgen. Das weitere präkeramische Polymer kann nach dem Vergießen beispielsweise durch eine Temperaturbehandlung in einen gelartigen oder auch einen duroplastischen Zustand versetzt werden. Damit kann das Gehäuse fest mit dem Substrat und dem halbleitenden Bauelement verbunden werden.
- Nach einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist vorgesehen, dass das präkeramische Polymer und/oder das weitere präkeramische Polymer mit einem Füllgrad von bis zu 80 Vol.% mit einem Füllstoff gefüllt ist. Damit können die Wärmeleitfähigkeit und die Viskosität erhöht werden.
- Zweckmäßigerweise handelt es sich bei dem Füllstoff um ein aus einem keramischen Material gebildetes Pulver mit einer mittleren Korngröße im Bereich von 0,5 bis 500 μm. Das vorgeschlagene keramische Material ist weitgehend inert. Dessen Zusatz führt nicht zu unerwünschten chemischen Reaktionen. Die vorgeschlagene mittlere Korngröße ermöglicht eine Herstellung des Gehäuses mittels herkömmlicher Gießtechnik, beispielsweise Spritzguss in eine beheizte Form.
- Die Wärmeleitfähigkeit λ des keramischen Materials ist zweckmäßigerweise bei Raumtemperatur größer als 10 W/mK, vorzugsweise größer als 20 W/mK. Je nach Füllgrad gelingt es damit, die Wärmeleitfähigkeit des mit dem keramischen Material gefüllten präkeramischen Polymers bzw. weiteren präkeramischen Polymers auf Werte oberhalb 2 W/mK zu steigern. Damit eignet sich das vorgeschlagene Material insbesondere zur Herstellung eines im Betrieb eine relativ große Wärme freisetzenden Leistungshalbleitermoduls.
- Das keramische Material ist zweckmäßigerweise aus der folgenden Gruppe ausgewählt: BN, SiC, Si3N4, Steatit, Cordierit. Die vorgeschlagenen keramischen Materialien zeichnen sich durch eine hohe Wärmeleitfähigkeit aus.
- Weiterhin hat es sich als zweckmäßig erwiesen, dass das präkeramische Polymer und/oder das weitere präkeramische Polymer aus der folgenden Gruppe ausgewählt ist: Polysiloxan, Polysilazan, Polycarbosilan. Vorteilhafterweise handelt es sich bei dem präkeramischen Material und dem weiteren präkeramischen Material um dasselbe Material. Das vereinfacht die Herstellung. Außerdem kann damit eine besonders gute Verbindung zwischen dem Gehäuse und der Vergussmasse hergestellt werden.
- Nachfolgend wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand der einzigen Figur näher erläutert.
- Die Figur zeigt eine schematische Querschnittsansicht durch ein Halbleitermodul. Auf einem elektrisch isolierenden Substrat
1 , beispielsweise einem DCB-Substrat, sind mehrere halbleitende Bauelemente2 , beispielsweise Leistungshalbleiter, wie die Dioden, Thyristoren, IGBTs, MOSFETs oder Sensorbauelemente, mittels einer Lötverbindung montiert. Die halbleitende Bauelemente2 sind von einem Gehäuse3 umgeben. Mit dem Bezugszeichen4 ist eine Vergussmasse bezeichnet, welche die halbleitenden Bauelemente2 und das Substrat1 überdeckt und randlich an eine umlaufende Gehäusewand anschließt. Das so be schaffene Halbleitermodul H ist unter Zwischenschaltung einer Wärmeleitpaste5 auf einen Kühlkörper6 montiert. - Das Gehäuse
3 ist hier aus einem präkeramischen Polymer, beispielsweise Polysiloxan, gebildet, welches zu etwa 50 bis 75 Vol.% mit einem Füllstoff gefüllt ist. Bei dem Füllstoff handelt es sich zweckmäßigerweise um ein SiC-Pulver mit einer mittleren Korngröße im Bereich von 1 bis 10 μm. Der Füllstoff ist in das in duroplastischer Form vorliegende präkeramische Polymer eingebettet und verleiht diesem eine hervorragende Wärmeleitfähigkeit von mehr als 10 W/mK. - Die Vergussmasse
4 ist vorteilhafterweise aus einem weiteren präkeramischen Polymer hergestellt. Auch dabei kann es sich um Polysiloxan handeln, welches mit einem Füllgrad von vorzugsweise 50 bis 60 Vol.% mit einem Füllstoff gefüllt ist. Bei dem Füllstoff kann es sich wiederum um ein SiC-Pulver handeln, dessen mittlere Korngröße beispielsweise im Bereich von 1 bis 5 μm liegt. Um eine möglichst niedrige Viskosität der Vergussmasse4 während des Vergießens zu gewährleisten, ist der Füllgrad und/oder die mittlere Korngröße des Füllstoffs im Allgemeinen kleiner gewählt als bei dem zur Herstellung des Gehäuses3 verwendeten präkeramischen Polymersystem. Die Vergussmasse4 wird nach dem Vergießen zweckmäßigerweise z. B. durch Zufuhr thermischer Energie in einen duroplastischen Zustand versetzt. Damit wird das Gehäuse3 fest mit dem Substrat1 verklebt. Abgesehen davon wird damit eine hervorragende Wärmeableitung von den halbleitenden Bauelementen2 über die Vergussmasse4 auf das Gehäuse3 und von da in die Umgebung gewährleistet. -
- 1
- Substrat
- 2
- halbleitendes Bauelement
- 3
- Gehäuse
- 4
- Vergussmasse
- 5
- Wärmeleitpaste
- 6
- Kühlkörper
- H
- Halbleitermodul
- ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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- Zitierte Patentliteratur
-
- - DE 102004021927 A1 [0002]
Claims (8)
- Halbleitermodul, insbesondere Leistungshalbleitermodul, bei dem zumindest ein mit einem Substrat (
1 ) verbundenes halbleitendes Bauelement (2 ) von einem aus einem Polymermaterial hergestellten Gehäuse (3 ) umgeben ist, dadurch gekennzeichnet, dass das Polymermaterial eine aus einem präkeramischen Polymer gebildete duroplastische Matrix aufweist. - Halbleitermodul nach Anspruch 1, wobei ein Zwischenraum zwischen dem halbleitenden Bauelement (
2 ) und dem das halbleitende Bauelement (2 ) umgebenden Gehäuse (3 ) zumindest teilweise mit einer Vergussmasse (4 ) gefüllt ist, welche eine aus einem weiteren präkeramischen Polymer gebildete Matrix aufweist. - Halbleitermodul nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das weitere präkeramische Polymer in gelartiger oder duroplastischer Form vorliegt.
- Halbleitermodul nach einem der vorgehergehenden Ansprüche, wobei das präkeramische Polymer und/oder das weitere präkeramische Polymer mit einem Füllgrad von bis zu 80 Vol.% mit einem Füllstoff gefüllt ist.
- Halbleitermodul nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Füllstoff ein aus einem keramischen Material gebildetes Pulver mit einer mittleren Korngröße im Bereich von 0,5 bis 500 μm ist.
- Halbleitermodul nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Wärmeleitfähigkeit γ des keramischen Materials bei Raumtemperatur größer als 10 W/mK, vorzugsweise größer als 20 W/mK, ist.
- Halbleitermodul nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das keramische Material aus der folgenden Gruppe ausgewählt ist: BN, SiC, Si3N4, AlN, Steatit, Cordierit.
- Halbleitermodul nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das präkeramische Polymer und/oder das weitere präkeramische Polymer aus der folgenden Gruppe ausgewählt ist: Polysiloxan, Polysilazan, Polycarbosilan.
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2278616A2 (de) | 2009-07-22 | 2011-01-26 | SEMIKRON Elektronik GmbH & Co. KG | Leistungshalbleitermodul mit einem Sandwich mit einem Leistungshalbleiterbauelement |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6827404B2 (ja) * | 2017-11-30 | 2021-02-10 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置および電力変換装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE68902261T2 (de) * | 1988-04-07 | 1993-01-07 | Dow Corning | Keramische ueberzuege durch pyrolyse von gemischen von kieselsaeureestern und anderen metalloxidischen edukten. |
US5834840A (en) * | 1995-05-25 | 1998-11-10 | Massachusetts Institute Of Technology | Net-shape ceramic processing for electronic devices and packages |
DE102004021927A1 (de) | 2004-05-04 | 2005-12-01 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur inneren elektrischen Isolation eines Substrats für ein Leistungshalbleitermodul |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02229858A (ja) * | 1988-11-12 | 1990-09-12 | Kureha Chem Ind Co Ltd | 電子部品封止用樹脂組成物および封止電子部品 |
US5436083A (en) * | 1994-04-01 | 1995-07-25 | Dow Corning Corporation | Protective electronic coatings using filled polysilazanes |
US5436084A (en) * | 1994-04-05 | 1995-07-25 | Dow Corning Corporation | Electronic coatings using filled borosilazanes |
US5635240A (en) * | 1995-06-19 | 1997-06-03 | Dow Corning Corporation | Electronic coating materials using mixed polymers |
US6319740B1 (en) * | 1995-10-27 | 2001-11-20 | Honeywell International Inc. | Multilayer protective coating for integrated circuits and multichip modules and method of applying same |
JP2006206721A (ja) * | 2005-01-27 | 2006-08-10 | Kansai Electric Power Co Inc:The | 高耐熱合成高分子化合物及びこれで被覆した高耐電圧半導体装置 |
-
2009
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- 2009-12-24 AT AT09016024T patent/ATE545953T1/de active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE68902261T2 (de) * | 1988-04-07 | 1993-01-07 | Dow Corning | Keramische ueberzuege durch pyrolyse von gemischen von kieselsaeureestern und anderen metalloxidischen edukten. |
US5834840A (en) * | 1995-05-25 | 1998-11-10 | Massachusetts Institute Of Technology | Net-shape ceramic processing for electronic devices and packages |
DE102004021927A1 (de) | 2004-05-04 | 2005-12-01 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur inneren elektrischen Isolation eines Substrats für ein Leistungshalbleitermodul |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2278616A2 (de) | 2009-07-22 | 2011-01-26 | SEMIKRON Elektronik GmbH & Co. KG | Leistungshalbleitermodul mit einem Sandwich mit einem Leistungshalbleiterbauelement |
DE102009034138A1 (de) | 2009-07-22 | 2011-01-27 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Leistungshalbleitermodul mit einem Sandwich mit einem Leistungshalbleitermodul |
DE102009034138B4 (de) * | 2009-07-22 | 2011-06-01 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Leistungshalbleitermodul mit einem Sandwich mit einem Leistungshalbleiterbauelement |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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