DE102008049159A1 - Verfahren und Vorrichtung zur optischen Messung langer Krümmungsradien optischer Funktionsflächen - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur optischen Messung langer Krümmungsradien optischer Funktionsflächen Download PDF

Info

Publication number
DE102008049159A1
DE102008049159A1 DE102008049159A DE102008049159A DE102008049159A1 DE 102008049159 A1 DE102008049159 A1 DE 102008049159A1 DE 102008049159 A DE102008049159 A DE 102008049159A DE 102008049159 A DE102008049159 A DE 102008049159A DE 102008049159 A1 DE102008049159 A1 DE 102008049159A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
test
curvature
focus
focal plane
dual
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE102008049159A
Other languages
English (en)
Other versions
DE102008049159B4 (de
Inventor
Stefan Dr. Franz
Roland Dr. Schreiner
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jenoptik Optical Systems GmbH
Original Assignee
Jenoptik Optical Systems GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jenoptik Optical Systems GmbH filed Critical Jenoptik Optical Systems GmbH
Priority to DE102008049159A priority Critical patent/DE102008049159B4/de
Priority to US12/566,344 priority patent/US8154733B2/en
Publication of DE102008049159A1 publication Critical patent/DE102008049159A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102008049159B4 publication Critical patent/DE102008049159B4/de
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/005Testing of reflective surfaces, e.g. mirrors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/2441Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures using interferometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/255Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures for measuring radius of curvature
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02034Interferometers characterised by particularly shaped beams or wavefronts
    • G01B9/02038Shaping the wavefront, e.g. generating a spherical wavefront
    • G01B9/02039Shaping the wavefront, e.g. generating a spherical wavefront by matching the wavefront with a particular object surface shape
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0242Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
    • G01M11/025Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by determining the shape of the object to be tested
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0242Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
    • G01M11/0271Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by using interferometric methods

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Die Vorrichtung und das Verfahren zeichnen sich gegenüber dem Stand der Technik dadurch aus, dass beliebig lange Krümmungsradien von sphärischen und zylindrischen Prüfflächen (5) optisch gemessen werden können, wobei außer einem Interferometer (1) oder einem Autokollimationsfernrohr nur ein Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv (3) benötigt wird. Das Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv (3) weist eine erste Brennebene auf, in die der Flächenscheitelpunkt der Prüffläche (5) positioniert wird, womit die Cat-Eye-Position (P(cat)) bestimmt ist, und eine zweite Brennebene, in die der Krümmungsmittelpunkt (C) der Prüffläche (5) geschoben wird und somit die Autokollimations-Position (P(aut)) für die Prüffläche (5) bestimmt ist. Aus dem Abstand der Brennebene (D(fok)) und dem Verschiebeweg (V), der zu Null werden kann, wird der Krümmungsradius (R) der Prüffläche (5) ermittelt.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung, wie sie gattungsgemäß aus dem Artikel „Interferometrische Vermessung sphärischer Spiegeloberflächen mit großen Krümmungsradien", publiziert in der Fachzeitschrift Photonik 2/2007, S. 84–85, bekannt sind.
  • Interferometrische Vermessungen von Radien optischer Funktionsflächen (Prüfflächen) beruhen bevorzugt auf dem Fizeau-Prinzip. Kohärentes, kollimiertes Licht einer Quelle wird an einer im Strahlengang gelegenen Amplitudenteilerfläche aufgespalten. Die Referenzwelle läuft in sich zurück. Die Prüfwelle wird durch die Amplitudenteilerfläche transmittiert und gelangt auf den Prüfling. Mit einem Messobjektiv kann die Form der Welle an verschiedene Prüflinge angepasst werden. Die Amplitudenteilerfläche bildet üblicherweise die letzte Glas-Luft-Grenzfläche des Objektivs für sphärische Prüflinge. Die Prüfwelle ist allgemein dann an den Prüfling angepasst, wenn alle Strahlen der Prüfwelle senkrecht auf den Prüfling treffen. Bei einem sphärischen Prüfling wird ein fokussierendes Messobjektiv verwendet. Der Prüfling wird dann zur Passemessung in den Abstand zum Messobjektiv gestellt, an dem der Krümmungsmittelpunkt des Prüflings mit dem Brennpunkt des Messobjektivs zusammenfällt. Nach rückwärtigem Durchlaufen des Messobjektives interferiert die Prüfwelle mit der Referenzwelle. Diese Art Prüfung wird als interferometrischer Nulltest bezeichnet und ein so wirkendes Messobjektiv stellt eine sogenannte Null-Optik dar.
  • Die optischen Gangunterschiede zwischen Referenzwelle und Prüfwelle führen zu einer Intensitätsmodulation im Messbild (Interferenzstreifen). Diese Interferenzstreifen sind nur innerhalb eines Gangunterschiedes von einer Wellenlänge des verwendeten Lichtes eindeutig. Der eingestellte Abstand zwischen dem Messobjektiv und dem Prüfling kann so nicht ohne Weiteres bestimmt werden. In einem Interferogramm kann man den Krümmungsunterschied der Prüfwelle am Ort des Prüflings bestimmen, aber nicht den Abstand des Prüflings von der Referenzfläche. Deshalb kann der absolute Radius nicht aus einem Interferogramm berechnet werden.
  • Um auf Basis des Fizeau-Prinzips den Krümmungsradius einer gekrümmten reflektierenden Oberfläche (Prüffläche) zu bestimmen, wird üblicherweise der Flächenscheitelpunkt der Prüffläche zum einen im Brennpunkt des Messobjektivs (Cat-Eye-Position) und zum anderen in einem Abstand zum Brennpunkt gleich dem Krümmungsradius der Prüffläche (Autokollimations-Position) positioniert. Diese beiden ausgezeichneten Positionen lassen sich mit Hilfe des Interferometers sehr genau bestimmen, da in diesen beiden Positionen auswertbare Interferogramme entstehen (siehe hierzu 1). Die Cat-Eye-Position ist hier mit P(cat), die Autokollimations-Position mit P(aut) und der Krümmungsradius mit R angegeben.
  • Der Verfahrweg zwischen den beiden Positionen entspricht dem Krümmungsradius der Prüffläche. Da ein möglicher Verfahrweg durch die örtlichen Gegebenheiten begrenzt ist, kann ein derartiger Messaufbau nur bedingt zur Messung größerer Krümmungsradien verwendet werden. Eine häufige technische Grenze liegt bei etwa 2 m. Bezüglich der messbaren Krümmungsradien kann er mit nur einem Messobjektiv für einen Bereich von Radien verwendet werden, wenn die Prüffläche eine sphärische Fläche ist.
  • Für die Prüfung asphärischer Prüfflächen muss das Messobjektiv individuell an die Asphäre der Prüffläche angepasst werden. Asphärische Messobjektive, die eine Strahlformung durch Refraktion der Welle bewirken, lassen sich wesentlich aufwändiger herstellen als sphärische refraktive Messobjektive. Deshalb werden für den genannten Einsatzfall computergenerierte Hologramme verwendet, die oft zusammen mit einem Fizeau-Objektiv eingesetzt werden.
  • Die Verwendung derartiger Messaufbauten ist demnach auf Prüfflächen mit kleinen bis mittleren Krümmungsradien beschränkt und praktisch auch nur für sphärische und zylindrische Prüfflächen sinnvoll.
  • Der einzustellende maximale Abstand zwischen dem Messobjektiv und der Prüffläche, welcher die Länge des Messaufbaus im Wesentlichen bestimmt, ist in jedem Fall größer dem Krümmungsradius der Prüffläche.
  • Im Falle konkaver zu prüfender Prüfflächen ergibt sich dieser Abstand aus der Summe der Brennweite des Messobjektives und dem Krümmungsradius der Prüffläche.
  • Im Falle konvexer zu prüfender Prüfflächen entspricht dieser Abstand der Brennweite des Messobjektives, die größer dem Krümmungsradius der Prüffläche sein muss.
  • Theoretisch könnte die Länge des Messaufbaus verkürzt werden, indem ein Messobjektiv mit negativer Brennweite verwendet wird. Praktisch entsteht jedoch dadurch eine virtuelle Brennebene, in der keine Anordnung der Prüffläche möglich ist und damit auch kein Verschiebeweg bestimmt werden kann, um daraus den Krümmungsradius abzuleiten.
  • Wie bereits erwähnt, ist eine gleiche Begrenzung bezüglich des messbaren Krümmungsradius wie für sphärische Prüfflächen auch für asphärische Prüfflächen gegeben, wobei hier noch hinzukommt, dass für jede zu prüfende asphärische Prüffläche individuell ein Messobjektiv geschaffen werden muss, welches eine entsprechende asphärische Wellentransformation realisiert.
  • Anstelle von refraktiven Messobjektiven ist es üblich, zur Prüfung asphärischer Prüfflächen diffraktive optische Elemente zu verwenden.
  • Diese können insbesondere Substratplatten sein, auf deren bildseitige Oberfläche ein computergeneriertes Hologramm (CGH) aufgebracht wird. Das CGH dient hier als Null-Optik und beugt die Prüfwelle derart ab, dass diese senkrecht auf der zu prüfenden asphärischen Prüffläche auftrifft, an dieser rückreflektiert und vom CGH wieder rücktransformiert wird. Der Testwelle wird dann eine separat geführte Referenzwelle überlagert.
  • Bei derartigen Messaufbauten limitiert unter anderem die Substratqualität des CGH und die Qualität der im Interferometer eingesetzten weiteren optischen Elemente die Messgenauigkeit.
  • Aus der DE 102 23 581 A1 ist ein System nach dem Fizeau-Prinzip, mit einem diffraktiven optischen Element zur interferometrischen Prüfung des Formfehlers einer gekrümmten reflektierenden Oberfläche, bekannt. Im Unterschied zum vorgenannten Stand der Technik dient das diffraktive optische Element zugleich in Reflexion als Strahlteiler und Referenzspiegel und in Transmission als Null-Optik.
  • Durch den Aufbau als Fizeau-Interferometer ist das System vergleichsweise unempfindlich hinsichtlich Abweichungen der Phasenfront der auf das diffraktiv optische Element einfallenden Welle, wie sie etwa durch Toleranzen der Qualität des Substrates des diffraktiven optischen Elementes entstehen können.
  • Ein diffraktives optisches Element gemäß der DE 102 23 581 A1 zeichnet sich durch eine diffraktive Struktur aus, welche einen Teil der Welle reflektiert (Referenzwelle) und einen transformierten Teil transmittiert (Prüfwelle).
  • Neben diesen beiden Funktionen können weitere Transformationsfunktionen in das diffraktive optische Element integriert werden. Das können z. B. Justagehologramme oder statt einer, mehrere Null-Optiken sein, um auf diese Weise mehrere verschieden gekrümmte Prüfflächen, hier sind asphärische Prüfflächen gemeint, prüfen zu können.
  • Mit einem System gemäß der DE 102 23 581 A1 sollen Passemessungen durchgeführt werden, das heißt es werden die Oberflächenabweichungen der Prüffläche von ihrer Sollform erfasst. Um den Radius einer Prüffläche zu ermitteln, was hier allerdings nicht offenbart ist, müssten, wie eingangs in der Beschreibung des Standes der Technik erläutert, die Prüffläche in die beiden ausgezeichneten Positionen, Cat-Eye-Position und Autokollimations-Position, gebracht werden und der Verschiebeweg bestimmt werden. Das heißt, bezüglich der Anwendbarkeit für eine Messung größerer Krümmungsradien ist das hier beschriebene System ebenso wenig geeignet, wie ein eingangs beschriebener Messaufbau mit einem refraktiven Messobjektiv. Die Nutzung von diffraktiven Hilfsstrukturen zu diesem Zweck ist in der DE 102 23 581 A1 nicht enthalten.
  • In dem Artikel „Interferometrische Vermessung sphärischer Spiegeloberflächen mit großen Krümmungsradien", publiziert in der Fachzeitschrift Photonik 2/2007, S. 84–85, wird ein Messsystem beschrieben, das unter Nutzung eines diffraktiven optischen Elementes, hier Diffraktive-Fizeau-Null-Linse (DFNL) genannt, wie in der DE 102 23 581 A1 beschrieben, auch die Messung großer Radien sphärischer konvexer und konkaver Prüfflächen erlaubt.
  • Dazu wird eine DFNL verwendet, die eine leicht divergente Prüfwelle erzeugt, und ein verschiebbarer Achromat in Strahlungsrichtung nachgeordnet. Durch Variation des Abstandes zwischen der DFNL und dem Achromaten ist die Divergenz der Prüfwelle in einem kleinen Bereich durchstimmbar, womit über einen Messbereich für Krümmungsradien mit einem Absolutbetrag von größer einem Meter ein Nulltest durchgeführt werden kann. Für einen gegebenen fixierten Prüfling wird der Abstand des Achromaten zur DFNL eingestellt, bei der die mittlere Krümmung im Interferogramm minimal ist. Aus den Kennwerten der DFNL, des Achromaten und deren eingestellten Abstand zueinander lässt sich der zugehörige Krümmungsradius der Prüffläche berechnen. Das Interferogramm zeigt zusätzlich die Abweichungen des Prüflings von der idealen sphärischen Form.
  • Wie der Autor selber schreibt, entspricht das hier beschriebene Messsystem nicht dem Fizeau-Prinzip, denn der Achromat wird nur von der Prüfwelle durchlaufen und nicht von der Referenzwelle. Sowohl die optischen Fehler des Achromaten als auch dessen Justagefehler beeinflussen direkt die Oberflächenprüfung.
  • Darüber hinaus ist dieses Messsystem beschränkt auf große Krümmungsradien und bedarf mit dem Achromaten eines zusätzlichen optischen Bauteils.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zu Grunde, ein Verfahren und eine Vorrichtung zu schaffen, mit dem Krümmungsradien beliebiger Länge, mit nur einem wellenfronttransformierenden Bauteil gemessen werden können.
  • Diese Aufgabe wird durch eine Vorrichtung mit den Merkmalen des Anspruches 1 und für ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruches 9 gelöst.
  • Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen beschrieben.
  • Es ist erfindungswesentlich, dass aus dem kollimierten Licht einer Quelle, das in Verbindung mit einem Interferometer auch kohärent ist, im Unterschied zum Stand der Technik anstelle eines zwei transmittierte Prüfstrahlengänge (in Verbindung mit einem Interferometer als Prüfwellen bezeichnet) gebildet werden, die auf der optischen Achse eines Dual-Fokus-Vorsatzobjektives in zwei Brennebenen fokussiert werden, die in einem festgelegten Abstand zueinander liegen.
  • Der Abstand der Brennebenen wird in Abhängigkeit der Krümmungsradien sphärischer Prüfflächen, deren Krümmungsradius ermittelt werden soll, gewählt.
  • Sollen z. B. Krümmungsradien von sphärischen Prüfflächen im Bereich von 2–4 m geprüft werden, so wird der Abstand der Brennebenen vorteilhaft mit 3 m vorgegeben, womit sich eine maximal notwenige Verschiebung des Prüflings von +/–1 m ergibt. Für konvexe Prüfflächen werden zwei reale Brennebenen erzeugt. Für konkave Prüfflächen, insbesondere für solche mit kleiner Krümmung, wird eine Brennebene virtuell sein.
  • Es können auch der Krümmungsradius einer zylinderförmigen Prüffläche oder die beiden Krümmungsradien einer torischen Prüffläche bestimmt werden.
  • Die Messung des Krümmungsradius einer Prüffläche durch Verschieben des Prüflings zwischen den zwei ausgezeichneten Positionen P(cat) und P(aut) wird nach dem Stand der Technik nicht nur mit Interferometern, sondern auch mit Autokollimationsfernrohren (AKF) durchgeführt, da es sowohl mit einem Interferometer als auch mit einem Kollimator möglich ist, die Fokuslage eines vorgeordneten Objektives (Vorsatzobjektiv) über reflektierte Strahlung zu bestimmen.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren, bei dem der Verschiebeweg verkürzt wird bzw. sich ganz erübrigt, lässt sich deshalb auch mit einem AKF realisieren. Es ändert sich lediglich die Art des Indikators für den Zustand, dass der Prüfling in den Positionen P(cat) oder P(aut) steht. Im Interferogramm wird aus dem Streifenmuster der Restkrümmungsfehler bestimmt und im AKF wird ein Schärfekriterium aus einem Markenbild berechnet.
  • In Verbindung mit dem AKF teilt das Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv das auftreffende kollimierte Licht durch Aperturteilung oder Amplitudenteilung in zwei Prüfstrahlengänge mit zwei unterschiedlichen Brennebenen auf. In identischer Weise zur nachfolgend beschriebenen interferometrischen Variante werden die Brennebenen so gelegt, dass sie jeweils in oder nahe dem Flächenscheitelpunkt bzw. dem Krümmungsmittelpunkt der Prüffläche liegen, sodass der notwendige Verschiebeweg verschwindet oder zumindest deutlich kleiner wird als der Krümmungsradius.
  • In Verbindung mit einem Interferometer wird das auf das Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv auftreffende kohärente, kollimierte Licht ebenfalls in zwei Prüfstrahlengänge, hier als Prüfwellen bezeichnet, aufgeteilt, von denen eine so transformiert wird, dass ihre Wellenfront an die Flächenform der Prüffläche angepasst ist. Die Brennebene dieser Prüfwelle, die nachfolgend als zweite Prüfwelle bezeichnet wird, soll in der Fokus-Position P(fok) gebildet werden und die zweite Brennebene darstellen.
  • Die andere Prüfwelle, die nachfolgend erste Prüfwelle genannt wird, wird in eine erste Brennebene fokussiert, in welcher der Prüfling so angeordnet wird, dass der Flächenscheitel der Prüffläche in der ersten Brennebene liegt und die Cate-Eye-Position P(cat) bestimmt.
  • Bei günstiger Wahl des Abstandes der beiden Brennebenen D(fok) fällt die Fokus-Position P(fok) mit dem Krümmungsmittelpunkt einer in der Cat-Eye-Position P(cat) angeordneten Prüffläche zusammen, sodass die Autokollimations-Position P(aut) mit der Cat-Eye-Position zusammenfällt. Ansonsten muss der Prüfling mittels seiner verschiebbaren Aufnahme solange entlang der optischen Achse verschoben werden, bis dessen Krümmungsmittelpunkt C mit der Fokus-Position P(fok) zusammenfällt.
  • Der Krümmungsradius R wird dann aus der Kenntnis des Abstandes der Brennebenen D(fok) und dem Verschiebeweg V ermittelt. Der Abstand der Brennebenen D(fok) kann aus den konstruktiven Merkmalen des Dual-Fokus-Vorsatzobjektives gewonnen werden, welches die Wellenfronten bzw. Strahlengänge trennt, oder er kann experimentell ermittelt werden.
  • Anhand der Zeichnung wird die Vorrichtung im Folgenden beispielhaft näher erläutert. Es zeigen:
  • 1 Prinzipskizze für eine Vorrichtung gemäß dem Stand der Technik
  • 2 Prinzipskizze für eine Vorrichtung für eine konvexe sphärische Prüffläche
  • 3 Prinzipskizze für eine Vorrichtung für eine konkave sphärische Prüffläche
  • 4 Vorrichtung mit einem Vorsatzobjektiv aus zwei refraktiven Bauelementen
  • 6a Vorrichtung mit einem Vorsatzobjektiv aus einem refraktiven und einem diffraktiven Bauelement in Seitenansicht
  • 6a Vorrichtung mit einem Vorsatzobjektiv aus einem refraktiven und einem diffraktiven Bauelement in Draufsicht
  • Eine erfindungsgemäße Vorrichtung besteht entweder aus einem Interferometer 1 oder einem Autokollimationsfernrohr, das jeweils gemeinsam mit einem in Strahlungsrichtung nachgeordneten Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv 3 auf einer gemeinsamen optischen Achse 4 angeordnet ist.
  • Das Dual-Fokus-Objektiv kann durch zwei refraktive Bauteile, zwei diffraktive Bauteile oder Kombinationen hiervon gebildet werden.
  • Abhängig von der Krümmung der Prüffläche 5 (bei sphärischen Prüfflächen bzw. zylinderförmigen Prüfflächen ist diese durch den Krümmungsradius R bestimmt) werden die Brennebenen des Dual-Fokus-Objektives vorteilhaft so vorgegeben, dass deren Abstand D(fok) dem Krümmungsradius R entspricht. Sollen mit der Vorrichtung Prüflinge mit einem unterschiedlichen Krümmungsradius R geprüft werden, die innerhalb eines Krümmungsradiusbereiches liegen, so wird der Abstand der Brennebenen D(fok), vorteilhaft gleich dem Mittelwert des Krümmungsradiusbereiches bestimmt, durch alle Prüflinge gewählt.
  • Für alle Ausführungen von Dual-Fokus-Vorsatzobjektiven 3, unabhängig von der Krümmung der Prüffläche 5, wird das Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv 3 im Interesse einer kurzen Baulänge der Vorrichtung so ausgeführt, dass es eine erste Brennebene, nahe seiner Lichtaustrittsfläche, aufweist. In dieser ersten Brennebene wird zur Durchführung der Messung der Flächenscheitelpunkt der Prüffläche 5 des Prüflings in einer dafür vorgesehenen Aufnahme positioniert und damit die Cat-Eye-Position P(cat) bestimmt. Geht man vereinfachend davon aus, dass die Vorrichtung für Prüflinge nur eines Sollradius ausgelegt werden soll, kann die Fokus-Position P(fok) der zweiten Brennebene vorteilhaft in die Ebene gelegt werden, in der sich der Krümmungsmittelpunkt C einer in der Cat-Eye-Position P(cat) angeordneten sphärischen Prüffläche 5 befindet. Die Prüffläche 5 befindet sich dann auch in der Autokollimations-Position P(aut), wie in 4 gezeigt.
  • In den 2 und 3 sind die Fokus-Positionen P(fok) für entgegengesetzt gekrümmte sphärische Prüfflächen 5 gezeigt, in denen der jeweilige Krümmungsmittelpunkt C mit der Fokus-Position P(fok) zusammenfällt.
  • Sofern der Krümmungsradius R der Prüffläche 5 dem vorgegebenen Sollkrümmungsradius entspricht, ist keine Verschiebung des Prüflings nötig, was in Verbindung mit einem Interferometer 1 anhand der auswertbaren gleichzeitig entstehenden Interferogramme und in Verbindung mit einem Autokollimationsfernrohr anhand der Schärfe der Abbildung einer Strichmarke oder eines Tests festgestellt wird. Eine dennoch notwendige Verschiebung ist dann ein Maß für die Abweichung des tatsächlichen Krümmungsradius R der Prüffläche 5 (Istkrümmungsradius) vom Sollkrümmungsradius.
  • 5 zeigt in der Cat-Eye-Position P(cat) drei konkave Prüfflächen 5.1, 5.2, 5.3 mit einem unterschiedlichen Krümmungsradius R1, R2, R3, die alternativ in dieser Position zur Prüfung angeordnet sein sollen.
  • Ihre Krümmungsmittelpunkte C1, C2, C3 befinden sich entsprechend der unterschiedlichen Krümmung unterschiedlich weit entfernt von der Cat-Eye-Position P(cat) auf der optischen Achse 4.
  • Das Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv 3 wurde nun vorteilhaft so konfiguriert, dass dessen zweite Brennebene mittig der beiden, den gebildeten Krümmungsradiusbereich begrenzenden Krümmungsradien R1 und R3 liegt und die Fokus-Position P(fok) bestimmt.
  • Um für den gewünschten Messzweck die jeweilige Prüffläche 5 in die Autokollimations-Position P(aut) zu bringen, müssen die Prüflinge und damit die Prüfflächen 5 in Richtung der optischen Achse 4 um einen Verschiebeweg V1, V2 oder V3 verschoben werden, sodass der jeweilige Krümmungsmittelpunkt C1, C2 oder C3 mit der Fokus-Position P(fok) zusammenfällt.
  • Die Feststellung, ob sich der Flächenscheitelpunkt der Prüffläche 5 bzw. der Krümmungsmittelpunkt C der Prüffläche 5 in der ausgezeichneten Position P(cat) bzw. P(aut) befindet, erfolgt in gleicher Weise, wie anhand des Standes der Technik beschrieben wurde.
  • Grundsätzlich kann, wie bereits erwähnt, das Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv 3 eine refraktive, eine diffraktive oder eine gemischte Form solcher Optikbauteile sein.
  • In 4 ist das Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv 3 aus zwei refraktiven Bauteilen gebildet.
  • Eine Zerstreuungslinse bzw. eine zerstreuende Linsengruppe bilden eine divergente zweite Prüfwelle, welche im Randbereich auf eine hier sphärische konkave Prüffläche 5 trifft und in deren Brennpunkt, der den zweiten Brennpunkt des Dual-Fokus-Vorsatzobjektives 3 bildet, fokussiert wird. Der Prüfling steht so im Strahlengang der zweiten Prüfwelle, dass der Brennpunkt mit dem Krümmungsmittelpunkt C der Prüffläche 5 zusammenfällt.
  • Der Zerstreuungslinse in Strahlungsrichtung nachgeordnet ist eine Sammellinse bzw. eine sammelnde Linsengruppe, welche die achsnahe Strahlung im ersten Brennpunkt des Dual-Fokus-Vorsatzobjektives 3 auf den Flächenscheitelpunkt der Prüffläche 5 fokussiert.
  • Ein Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv 3 mit nur refraktiven Bauteilen ist vorteilhaft für die Kombination mit einem Autokollimationsfernrohr und erlaubt durch Verschiebung der Bauteile zueinander eine Veränderung des Abstandes der Brennpunkte zueinander.
  • Hiermit oder auch mit einem Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv 3 gemischter Form, wie in den 6a und 6b gezeigt, bei dem vorteilhaft der erste Brennpunkt mit einem refraktiven Bauteil gebildet wird, lässt sich die Vorrichtung nicht nur für Prüfflächen 5 eines begrenzten Krümmungsmittelpunktbereiches verwenden, sondern sie lässt sich individuell an verschiedene Krümmungsradien anpassen, um den Verschiebeweg V zu minimieren oder ganz zu Null werden zu lassen.
  • Es ist dem Fachmann bekannt, dass in dem Ausführungsbeispiel, gezeigt in den 6a und 6b, welches für eine zylinderförmige Prüffläche 5 vorgesehen ist, anstelle der Brennpunkte Brennlinien erzeugt werden.
  • In 7 ist ein Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv 3 bestehend aus nur einem diffraktiven Bauteil dargestellt. Es handelt sich hier um eine Substratplatte, auf deren eine Oberfläche computergenerierte Hologramme (CGHs) eingebracht bzw. aufgebracht sind.
  • Das zentrale, zusammenhängende CGH 6 transformiert das auftreffende Licht in eine zweite transmittierte Prüfwelle so, dass deren Wellenfront eine Zylinderform annimmt und in der zweiten Brennebene des Dual-Fokus-Vorsatzobjektives 3 in eine Linie fokussiert wird. Durch Änderung des Vorzeichens des CGH-Winkels, unter dem dieses CGH 6 beleuchtet wird, kann die Zylinderform von konkav in konvex geändert werden und umgekehrt.
  • Je nachdem ob die Wellenfrontransformation in eine konkave oder konvexe Zylinderform erfolgt, soll die Brennebene der ersten Prüfwelle real oder virtuell sein, weshalb das diffraktive Bauteil für beide Möglichkeiten eine Wellentransformation vorsieht. Dazu sind jeweils paarweise außermittig Hologrammsegmente 2 vorgesehen. Jeweils zwei benachbarte zueinander spiegelsymmetrische Hologrammsegmente 2, bevorzugt die jeweils übereinander angeordneten Hologrammsegmente 2, sind für die Strahlführung einer Prüfwelle zuständig.
  • Zwischen den Hologrammsegmenten 2 sind zusätzliche Prüfstrukturen vorgesehen, die Justierzwecken dienen.
  • Vorteilhaft für die Verwendung von rein diffraktiven Bauteilen ist, dass man durch Vorzeichenwechsel des CGH-Winkels von divergenter Prüfung zu konvergenter Prüfung umschalten kann. Außerdem kann man den Abstand zwischen den Brennebenen D(fok) frei vorgeben, da deren Lage computergesteuert generiert, also stufenlos, oder mehrere Brennebenen auch in einer Fläche kodiert werden können.
  • Der Abstand der Brennebenen D(fok) bleibt fest, auch wenn das CGH 6 einem anderen Interferometer 1 vorgesetzt wird.
  • 1
    Interferometer
    2
    Hologrammsegment
    3
    Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv
    4
    Optische Achse
    5
    Prüffläche
    6
    Zentrales CGH
    R
    Krümmungsradius
    C
    Krümmungsmittelpunkt
    P(fok)
    Fokus-Position
    P(cat)
    Cat-Eye-Position
    P(aut)
    Autokollimations-Position
    V
    Verschiebeweg
    D(fok)
    Abstand der Brennebene
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • - DE 10223581 A1 [0016, 0018, 0020, 0020, 0021]
  • Zitierte Nicht-Patentliteratur
    • - „Interferometrische Vermessung sphärischer Spiegeloberflächen mit großen Krümmungsradien”, publiziert in der Fachzeitschrift Photonik 2/2007, S. 84–85 [0001]
    • - „Interferometrische Vermessung sphärischer Spiegeloberflächen mit großen Krümmungsradien”, publiziert in der Fachzeitschrift Photonik 2/2007, S. 84–85 [0021]

Claims (13)

  1. Vorrichtung zur optischen Messung langer Krümmungsradien optischer Funktionsflächen (Prüfflächen (5)) mit einem Interferometer (1) und einem in Strahlungsrichtung nachgeordneten Vorsatzobjektiv zur Anpassung der ebenen Wellenfront einer vom Interferometer (1) ausgesandten Prüfwelle an eine vorgegebene Krümmung der Sollfläche für eine Prüffläche (5), sowie einer Aufnahme für einen Prüfling, einer Verschiebeeinrichtung zum Verschieben der Aufnahme entlang der optischen Achse (4) des Vorsatzobjektives und einem Wegmesssystem zur Erfassung des Verschiebeweges (V), dadurch gekennzeichnet, dass das Vorsatzobjektiv ein Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv (3) ist, das eine zweite Brennebene in einer Fokus-Position (P(fok)) in einem Abstand (D(fok)) zur ersten Brennebene aufweist, und die Aufnahme so positioniert ist, dass der Flächenscheitelpunkt einer Prüffläche (5) eines in ihr gehaltenen Prüflings in der ersten Brennebene liegt, womit die Cat-Eye-Position (P(cat)) festgelegt ist, und die Aufnahme um einen Verschiebeweg (V) verschiebbar ist, um den Krümmungsmittelpunkt (C) der Prüffläche (5) in die Fokus-Position (P(fok)) zu schieben, womit die Autokollimations-Position (P(aut)) festgelegt ist.
  2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Interferometer (1) durch ein Autokollimationsfernrohr ersetzt ist.
  3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv (3) durch refraktive optische Bauteile gebildet ist.
  4. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv (3) durch diffraktive optische Bauteile gebildet ist.
  5. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv (3) eine Kombination von refraktiven und diffraktiven Bauteilen ist.
  6. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Abstand (D(fok)) gleich dem Krümmungsradius (R) der Sollfläche für eine Prüffläche (5) ist.
  7. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv (3) in den Brennebenen Brennpunkte aufweist, um sphärische Prüfflächen (5) vermessen zu können.
  8. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Dual-Fokus-Vorsatzobjektiv (3) in den Brennebenen Brennlinien aufweist, um zylindrische Prüfflächen (5) vermessen zu können.
  9. Verfahren zur optischen Messung langer Krümmungsradien optischer Funktionsflächen (Prüfflächen (5)), bei dem kollimiertes Licht einer Quelle über ein Vorsatzobjektiv in eine Prüfwelle transformiert wird, die transformierte Prüfwelle am Prüfling in sich selbst reflektiert wird, indem zum einen der Scheitelpunkt der Prüffläche (5) in der Brennebene des Vorsatzobjektives positioniert wird und zum anderen der Krümmungsmittelpunkt (C) der Prüffläche (5) mit der Brennebene in Übereinstimmung gebracht wird, und der Verschiebeweg (V) zwischen den beiden Positionen der Prüffläche (5) bestimmt wird, dadurch gekennzeichnet, dass zwei Prüfwellen gebildet werden, die jeweils eine Brennebene aufweisen mit einem vorgegebenen Abstand (D(fok)) zueinander, dass der Scheitelpunkt der Prüffläche (5) in der ersten Brennebene angeordnet wird, wodurch die Cat-Eye-Position (P(cat)) bestimmt ist und anschließend der Krümmungsmittelpunkt (C) in den zweiten Brennpunkt geschoben wird, wodurch die Prüffläche (5) in die Autokollimations-Position (P(aut)) geschoben wird sowie der Krümmungsradius (R) der Prüffläche (5) aus dem Verschiebeweg (V) und dem Abstand (D(fok)) berechnet wird.
  10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass zuerst der Krümmungsmittelpunkt (C) der Prüffläche (5) in der zweiten Brennebene und dann der Scheitelpunkt der Prüffläche (5) in der ersten Brennebene angeordnet wird.
  11. Verfahren nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, dass das kollimierte Licht von einem Interferometer (1) in eine Prüfwelle mit einer gekrümmten Wellenfront transformiert wird, deren Krümmung der Sollfläche der Prüffläche (5) entspricht und die beiden in sich reflektierten Prüfwellen jeweils mit einer Referenzwelle überlagert werden, um jeweils ein Interferogramm zu generieren.
  12. Verfahren nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, dass das kollimierte Licht von einem Autokollimationsfernrohr abgestrahlt wird und die beiden in sich reflektierten Prüfwellen die Abbildungsschärfe der Strichmarke des Autokollimationsfernrohres auswertbar beeinflussen.
  13. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die beiden Prüfwellen in einem Abstand (D(fok)) gleich dem Sollkrümmungsradius der Prüffläche (5) eines Prüflings fokussiert werden, womit sich eine Verschiebung auf die Abweichung des Istkrümmungsradius der Prüffläche (5) vom Sollkrümmungsradius reduziert oder ganz zu Null wird.
DE102008049159A 2008-09-25 2008-09-25 Verfahren und Vorrichtung zur optischen Messung langer Krümmungsradien optischer Prüfflächen Expired - Fee Related DE102008049159B4 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102008049159A DE102008049159B4 (de) 2008-09-25 2008-09-25 Verfahren und Vorrichtung zur optischen Messung langer Krümmungsradien optischer Prüfflächen
US12/566,344 US8154733B2 (en) 2008-09-25 2009-09-24 Method and system for the optical measurement of large radii of curvature of optical functional surfaces

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102008049159A DE102008049159B4 (de) 2008-09-25 2008-09-25 Verfahren und Vorrichtung zur optischen Messung langer Krümmungsradien optischer Prüfflächen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102008049159A1 true DE102008049159A1 (de) 2010-04-08
DE102008049159B4 DE102008049159B4 (de) 2010-09-09

Family

ID=41794905

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102008049159A Expired - Fee Related DE102008049159B4 (de) 2008-09-25 2008-09-25 Verfahren und Vorrichtung zur optischen Messung langer Krümmungsradien optischer Prüfflächen

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8154733B2 (de)
DE (1) DE102008049159B4 (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102221348A (zh) * 2011-04-02 2011-10-19 中国科学院光电技术研究所 基于多特征匹配和平均法的球面绝对测量方法
CN113806678A (zh) * 2021-09-07 2021-12-17 江苏科技大学 一种基于相关系数匹配的曲率半径测量方法
CN116884872A (zh) * 2023-09-04 2023-10-13 无锡卓海科技股份有限公司 晶圆表面曲率半径检测装置、方法及薄膜应力检测方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102155926A (zh) * 2011-03-09 2011-08-17 浙江大学 一种非球面顶点球曲率半径的测量系统及方法
CN104034262B (zh) * 2014-06-25 2017-02-15 中国科学院光电技术研究所 一种非球面镜二次常数测量方法
CN105823625B (zh) * 2016-04-27 2019-01-04 北京航天发射技术研究所 自准直测角光管光电轴稳定性的检测方法
CN106856414B (zh) * 2016-12-15 2019-03-01 长春理工大学 大视场逆向调制回复自由空间激光通信系统
CN114993206A (zh) * 2022-06-10 2022-09-02 北京创思工贸有限公司 大口径凸面面形检测系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5355210A (en) * 1991-12-20 1994-10-11 Rotlex Optics Ltd. Method and apparatus for measuring optical properties of optical devices
DE10223581A1 (de) 2002-05-28 2003-12-18 Dioptic Gmbh System zur interferometrischen Prüfung gekrümmter Oberflächen
DE102007021953A1 (de) * 2007-05-10 2008-11-13 Carl Zeiss Smt Ag Interferometrische Messvorrichtung zum Vermessen einer Oberfläche eines Prüflings

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6018393A (en) * 1996-07-26 2000-01-25 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Evaluating system for a dual focus lens
US6909509B2 (en) * 2001-02-20 2005-06-21 Zygo Corporation Optical surface profiling systems

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5355210A (en) * 1991-12-20 1994-10-11 Rotlex Optics Ltd. Method and apparatus for measuring optical properties of optical devices
DE10223581A1 (de) 2002-05-28 2003-12-18 Dioptic Gmbh System zur interferometrischen Prüfung gekrümmter Oberflächen
DE102007021953A1 (de) * 2007-05-10 2008-11-13 Carl Zeiss Smt Ag Interferometrische Messvorrichtung zum Vermessen einer Oberfläche eines Prüflings

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
"Interferometrische Vermessung sphärischer Spiegeloberflächen mit großen Krümmungsradien", publiziert in der Fachzeitschrift Photonik 2/2007, S. 84-85
Ch. Han et al.: "Interferometric testing for large optical elements". In. Proc. of SPIE, Vol. 4231 (2000), S. 269-276 *
Ch. Han et al.: "Interferometric testing for large optical elements". In. Proc. of SPIE, Vol. 4231 (2000), S. 269-276 S. Schneider [u.a.]: Interferometrische Vermessung sphärischer Spiegeloberflächen mit großen Krümmungsradien. In: Photonik 2/2007, S. 84-85
S. Schneider [u.a.]: Interferometrische Vermessung sphärischer Spiegeloberflächen mit großen Krümmungsradien. In: Photonik 2/2007, S. 84-85 *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102221348A (zh) * 2011-04-02 2011-10-19 中国科学院光电技术研究所 基于多特征匹配和平均法的球面绝对测量方法
CN102221348B (zh) * 2011-04-02 2012-12-19 中国科学院光电技术研究所 基于多特征匹配和平均法的球面绝对测量方法
CN113806678A (zh) * 2021-09-07 2021-12-17 江苏科技大学 一种基于相关系数匹配的曲率半径测量方法
CN116884872A (zh) * 2023-09-04 2023-10-13 无锡卓海科技股份有限公司 晶圆表面曲率半径检测装置、方法及薄膜应力检测方法
CN116884872B (zh) * 2023-09-04 2023-11-10 无锡卓海科技股份有限公司 晶圆表面曲率半径检测装置、方法及薄膜应力检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20100091298A1 (en) 2010-04-15
US8154733B2 (en) 2012-04-10
DE102008049159B4 (de) 2010-09-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102008049159B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur optischen Messung langer Krümmungsradien optischer Prüfflächen
EP0370229B1 (de) Interferometrisches Verfahren zur Prüfung von asphärische Wellenfronten erzeugenden optischen Elementen
DE19782060B4 (de) Interferometer mit katadioptrischem Abbildungssystem mit erweitertem numerischem Aperturbereich
EP3084344B1 (de) Verfahren zum vermessen einer sphärisch-astigmatischen optischen fläche mit fizeau interferometrie
WO2008012091A2 (de) Verfahren und vorrichtung zum bestimmen einer abweichung einer tatsächlichen form von einer sollform einer optischen oberfläche
DE4018004C2 (de) Optische Prüfvorrichtung mit einem Ronchi-Gitter oder Wollaston-Prisma zur Überprüfung eines optischen Systems
DE102015001421A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Strahldiagnose an Laserbearbeitungs-Optiken (PRl-2015-001)
EP0628159B1 (de) Beobachtung von prüflingsoberflächen nach dem speckle-shearing-verfahren
DE4018005C2 (de) Optische Prüfvorrichtung zum Prüfen eines optischen Systems
DE60132551T2 (de) Verfahren und apparat zur messung der geometrischen struktur eines optischen bauteils durch lichtübertragung
DE102011004376B3 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen einer Form einer optischen Testfläche
DE102006055070B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zum interferometrischen Vermessen einer Form eines Testobjekts
DE102006057606B4 (de) Verfahren und Messvorrichtung zur Vermessung einer optisch glatten Oberfläche
EP2600099B1 (de) Optisch korrigierende Mikrosonde zur Weißlicht-Interferometrie
EP2745158B1 (de) Messverfahren für höhenprofile von oberflächen
DE102007021953B4 (de) Interferometrische Messvorrichtung zum Vermessen einer Oberfläche eines Prüflings
DE10325601B3 (de) Schaltbares Punktlichtquellen-Array und dessen Verwendung in der Interferometrie
DE102022209651A1 (de) Verfahren zum Bearbeiten eines Referenzelements für ein Interferometer
DE102006023887B3 (de) Anordnung und Verfahren zur konfokalen Durchlicht-Mikroskopie, insbesondere auch zur Vermessung von bewegten Phasenobjekten
DE102018111466A1 (de) Verfahren zur justage einer messvorrichtung mittels eines justagekörpers, justagekörper und verfahren zur justage eines justagekörpers
WO2009040162A1 (de) Sonde und vorrichtung zum optischen prüfen von messobjekten
DE102018109649A1 (de) Verfahren sowie Vorrichtung zur Prüfung geometrischer Eigenschaften optischer Komponenten
DE102020205891A1 (de) Verfahren und Messvorrichtung zum interferometrischen Vermessen einer Form einer Oberfläche
DE4242882C2 (de) Verfahren zum Prüfen asphärisch gekrümmter Oberflächen und Interferometer-Anordnung hierfür
DE102011077982B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur optischen Analyse eines Prüflings

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8364 No opposition during term of opposition
R081 Change of applicant/patentee

Owner name: JENOPTIK OPTICAL SYSTEMS GMBH, DE

Free format text: FORMER OWNER: JENOPTIK LASER, OPTIK, SYSTEME GMBH, 07745 JENA, DE

Effective date: 20110504

R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee