DE102008036710A1 - Messsystem und Verfahren zum dreidimensionalen optischen Vermessen von Objekten - Google Patents

Messsystem und Verfahren zum dreidimensionalen optischen Vermessen von Objekten Download PDF

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Abstract

Ein Verfahren und ein Messsystem zum dreidimensionalen Vermessen von Objekten (2) mit einem topometrischen Messverfahren werden beschrieben, bei dem Bilder eines Objektes (2) mitsamt eines von einem Projektor (3) auf das Objekt (2) projizierten Projektionsmusters mit einer Bildaufnahmeeinheit (4) aufgenommen und mit einer Bildauswerteeinheit (5) ausgewertet werden. Bei dem Verfahren erfolgt ein Auswählen von Teilbereichen (Ti) des Objektes (2) so, dass Reflexionen des Projektionsmusters an der Oberfläche des Objektes (2) das Projektionsmuster in diesem Teilbereich (Ti) nicht beeinflussen und ein Projizieren des Projektionsmusters nacheinander, beschränkt auf die ausgewählten Teilbereiche (Ti) des Objektes (2), durch entsprechende Ansteuerung einer Bildprojektionseinheit des Projektors (3) und Aufnahmen des Objektes (2) mitsamt des dort aufprojizierten Projektionsmusters mindestens in dem jeweils ausgewählten Teilbereich (Ti) möglich ist.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum dreidimensionalen optischen Vermessen von Objekten mit einem topometrischen Messverfahren, bei dem Bilder eines Objektes mitsamt eines von einem Projektor auf das Objekt projizierten Projektionsmusters mit einer Bildaufnahmeeinheit aufgenommen und mit einer Bildauswerteeinheit ausgewertet werden.
  • Die Erfindung betrifft weiterhin ein Messsystem zum dreidimensionalen optischen Vermessen von Objekten mit einem topometrischen Messverfahren mit einem programmierbaren Projektor und mit einer Bildaufnahmeeinheit.
  • Die dreidimensionale optische Erfassung von Objektoberflächen mittels optischer Triangulationssensoren nach dem Prinzip der Topometrie, auch Streifenprojektion genannt, ist hinreichend bekannt. Hierbei werden unterschiedliche Streifenmuster auf das zu vermessende Objekt projiziert, von einer oder mehreren Kameras beobachtet und anschließend rechnergestützt ausgewertet.
  • Zur vollständigen Rundumerfassung wird das Objekt dazu in der Regel aus mehreren Sensorpositionen relativ zum Objekt erfasst und die Einzelmessungen werden zu einem Gesamtdatensatz zusammengefasst.
  • In Reinhard W. Malz: „Codierte Lichtstrukturen für die 3-D-Meßtechnik und Inspektion", Berichte aus dem Institut für Technische Optik der Universität Stuttgart, Januar 1992, werden verschiedene Vorrichtungen beschrieben, mit denen derartige Messaufbauten realisiert werden können.
  • Grundlage der beschriebenen topometrischen Messverfahren ist dabei die Beobachtung und Auswertung der projizierten Streifenmuster. Dabei wird ein diffuses Reflexionsverhalten der Messobjekt-Oberfläche vorausgesetzt, so dass das aufprojizierte Muster aus verschiedenen Richtungen beobachtet werden kann.
  • Im Falle von zum Spiegeln neigenden Messobjekten kann es zu Reflexionen kommen, die Probleme bei der Beobachtung und Auswertung der Streifenmuster verursachen.
  • Für spiegelnde Flächen gibt es Lösungsansätze, wie die Mehrfachmessung mit unterschiedlichen Belichtungszeiten nach dem Projektionsverfahren oder das zum Beispiel in der DE 101 27 304 C5 beschriebene Rasterreflexionsverfahren.
  • Beim Rasterreflexionsverfahren wird kein Muster auf das Objekt aufprojiziert, sondern beispielsweise ein Muster auf einem Schirm von einer Beobachtungseinheit nicht direkt, sondern über die als Spiegel dienende Oberfläche des Messobjekts beobachtet. DE 101 27 304 C5 beschreibt ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung der dreidimensionalen Kontur einer spiegelnden Oberfläche eines Objektes, wobei eine Reflexion eines bekannten Rasters an der spiegelnden Oberfläche des Objektes auf einem Empfänger abgebildet und ausgewertet wird.
  • Problematisch bleibt es aber weiterhin konkave oder bereichsweise konkave spiegelnde Objektoberflächen mit den bekannten Projektionsverfahren zu vermessen.
  • Bei solchen Oberflächen kommt es dann dazu, dass sich auf einem Oberflächenbereich die auf diesen Bereich projizierte Lichtstruktur mit dem von mindestens einem anderen Oberflächenbereich auf diesen Bereich reflektierten Muster überlagert.
  • Außerdem kommt der beim Rasterreflexionsverfahren gewünschte, hier aber störende Effekt zum Tragen, dass die zu prüfende Oberfläche selbst als Spiegel im Strahlengang der Beobachtungseinheit wirkt und diese dadurch zusätzlich zum eigentlich beobachteten Muster auch das auf eine andere Fläche projizierte Lichtmuster als Überlagerung beobachtet.
  • Diese beiden Effekte werden im Folgenden als Doppelreflexion bezeichnet. Dabei ist mit Doppelreflexion sowohl das Vorliegen nur eines der beiden beschriebenen als auch das gleichzeitige Vorliegen beider Effekte gemeint.
  • Als Folge dieser Doppelreflexion kann es bei der Auswertung zu nicht-auswertbaren Bereichen oder fehlerhaften Daten kommen.
  • Die Projektion der für topometrische Messverfahren verwendeten Lichtstrukturen erfolgt auf vielfältige Weise. Eine Möglichkeit bieten programmierbare Lichtquellen, wie zum Beispiel Liquid-Crystal-On-Silicon (LCOS), Digital Micromirror Device (DMD) oder Liquid-Crystal-Display(LCD)-Projektoren sowie alle anderen und zukünftigen Geräte, die eine Projektion von Mustern erlauben. Der Einsatz programmierbarer Lichtquellen eröffnet die Möglichkeit unterschiedliche Lichtstrukturen computergestützt zu erzeugen.
  • DE 196 33 686 C2 beschreibt ein Element zur Erzeugung von Lichtmustern, das aus mehreren in einem zweidimensionalen Array angeordneten Spiegeln besteht.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und ein Messsystem anzugeben, das es ermöglicht mit topometrischen Messverfahren, wie zum Beispiel der Streifenprojektion, Objektoberflächen dreidimensional zu vermessen, die bisher aufgrund von Doppelreflexionen nicht messbar waren.
  • Herkömmlicherweise wird ein Objekt bei der Streifenprojektion vollständig beleuchtet, das heißt auf alle Bereiche, die der Projektor sieht, wird ein Muster projiziert. Es können daher viele Doppelreflexionen entstehen.
  • Die Aufgabe wird mit dem Verfahren der eingangs genannten Art gelöst durch
    • – Auswählen von Teilbereichen des Objektes so, dass Reflexionen des Projektionsmusters an der Oberfläche des Objektes das Projektionsmuster in diesem Teilbereich nicht beeinflussen, d. h. dass keine Doppelreflexionen auftreten,
    • – Projizieren des Projektionsmusters nacheinander beschränkt auf die ausgewählten Teilbereiche des Objektes durch entsprechende Ansteuerung einer Bildprojektionseinheit des Projektors und
    • – Aufnehmen des jeweils ausgewählten Teilbereiches des Objektes mitsamt des dort aufprojizierten Projektionsmusters.
  • Auf diese Weise können zum Spiegeln neigende Objekte vermessen werden. Hierzu wird gemäß der Lehre der vorliegenden Erfindung das zu vermessende Objekt in einer Sensorposition nicht auf einmal komplett, sondern sequenziell vermessen. Dabei wird bei jeder Teilmessung die Lichtstruktur nur auf Teilbereiche des Objektes projiziert. Diese Teilbereiche werden so gewählt, dass es zu keinen Doppelreflexionen kommt. Die Definition der Teilbereiche ist dabei an die Position des Projektors und der mindestens einen Kamera gekoppelt. Wird ein Objekt also zur vollständigen Rundumerfassung aus verschiedenen Richtungen vermessen, so müssen für jede dieser Messungen die Teilbereiche der sequenziellen Messung neu bestimmt werden.
  • Das Auswählen der Teilbereiche des Objektes, in denen keine Doppelreflexion auftritt, erfolgt vorzugsweise durch Identifizieren von ersten Störbereichen des Objektes, in denen bei einer ausgewählten (fixen) Projektionsrichtung und einer ausgewählten (fixen) Aufnahmerichtung, das heißt für eine festgelegte Projektor- und Kameraposition, eine Reflexion eines Projektionsstrahles des Projektors auf die von der Bildauswerteeinheit erfasste Aufnahme des Objektes treffen würde, und von zweiten Störbereichen des Objektes, wobei die zweiten Störbereiche des Objektes auch die Berei che umfassen, in denen durch Spiegelung (Reflexion des Beobachtungsstrahls) auf andere Bereiche des Objektes aufprojizierte Muster beobachtet werden können.
  • Das Auswählen der Folge von Teilbereichen erfolgt so, dass es zu keinen ersten und zweiten Störbereichen kommt.
  • Unter Reflexion des Projektionsmusters wird somit nicht nur eine Reflexion des Projektionsstrahles selbst an einer spiegelnden Objektoberfläche, sondern auch die Reflexion des Beobachtungssrahls an einer Oberfläche und damit die Beobachtung des Musters eines anderen Objektbereichs verstanden.
  • Das Identifizieren der ersten und zweiten Störbereiche kann vorzugsweise automatisch rechnergestützt durch rechnergestützte Analysen von dreidimensionalen CAD-Daten (Computer-Aided-Design) des Objektes erfolgen. Vor der topometrischen Messung können somit die oftmals vorhandenen computergestützten Konstruktionsdaten des Objektes ausgewertet werden, um bei einer festen Position des Projektors und der mindestens einen Kamera der Bildaufnahmeeinheit die Störbereiche rechnerisch zu ermitteln.
  • Die rechnergestützte Auswertung der mit der Bildaufnahmeeinheit aufgenommenen Streifenmuster zur Erfassung der dreidimensionalen Kontur des Messobjektes bedarf keiner weiteren Erläuterung. Diese Auswerteverfahren für die 3D-Streifenprojektions-Messtechnik sind hinreichend bekannt und kommerziell verfügbar.
  • Denkbar ist auch, wenn eine manuelle Auswahl der Teilbereiche mit Hilfe eines auf das Objekt projizierten Markierungssymbols erfolgt. Dann erfolgt ein Auswählen der Teilbereiche und/oder Störbereiche mit Hilfe des Markierungssymbols durch computergestützes Verfahren des Markierungssymbols auf dem Objekt und Erfassen der vom Markierungssymbol markierten Positionen auf dem Objekt als Randbegrenzungen der ausgewählten Teilbereiche. Die Auswahl der Teilbereiche kann aufgrund der Projektion des zur Auswahl genutzten Markierungssymbols (z. B. eines Mauszeigers) direkt auf dem Objekt erfolgen.
  • Die Aufgabe wird weiterhin durch ein Messsystem der eingangs genannten Art gelöst, das mit einer Steuerungseinheit zum Auswählen von Teilbereichen des Objektes so, dass Reflexionen des Projektionsmusters an der Oberfläche des Objektes – einschließlich der durch Spiegelung wahrnehmbare Reflexionen – das Projektionsmuster in diesem Teilbereich nicht beeinflussen, zum Projizieren des Projektionsmusters nacheinander beschränkt auf die ausgewählten Teilbereiche des Objektes durch entsprechende Ansteuerung einer Bildprojektionseinheit des Projektors und zum Aufnehmen des Objektes mitsamt des dort aufprojizierten Projektionsmusters mindestens in dem jeweils ausgewählten Teilbereich eingerichtet ist.
  • Vorzugsweise hat die Steuerungseinheit Programmcodemittel, um bei einer ausgewählten (fixen) Projektionsrichtung und einer ausgewählten (fixen) Aufnahmerichtung erste Störbereiche zu identifizieren, in denen eine Reflexion eines Projektionsstrahls des Projektors auf die von der Bildauswerteeinheit erfasste Aufnahmefläche des Objektes treffen würde, und zweite Störbereiche des Objektes zu identifizieren, in denen beispielsweise Muster durch Spiegelung von auf andere Bereiche des Objektes aufprojizierten Mustern beobachtbar sind, wenn die Programmcodemittel auf einem Computer ausgeführt werden. Die Programmcodemittel können beispielsweise als Computerprogramm ausgeführt sein, das auf Basis von CAD-Daten des Objektes mittels Stahlenrückverfolgung (Raytracing) rechnergestützt die Störbereiche identifiziert. Die Folge von Teilbereichen wird dann in Abhängigkeit der identifizierten ersten und zweiten Störbereiche automatisch definiert.
  • Die Steuerungseinheit ist in einer bevorzugten Ausführungsform zum Projizieren eines Markierungssymbols, wie z. B. eines mittels einer Computermaus virtuell bewegbaren Mauszeigers, eingerichtet, wobei dann in einer an sich aus der Computertechnik bekannten Weise ein computergestützes Verfahren des Markierungssymbols auf dem Objekt ermöglicht wird. Die Steuerungseinheit ist zudem zur Auswahl der Teilbereiche und/oder Störbereiche mit Hilfe des Markierungssymbols durch Erfassen der vom Markierungssymbol markierten Positionen auf dem Objekt als Randbegrenzungen der ausgewählten Teilbereiche eingerichtet. Die Markierung der Positionen auf dem Objekt kann beispielsweise mit Hilfe eines mit Hilfe des Mauszeigers veränderbaren Selektionslassos erfolgen, das auf das Objekt projiziert wird.
  • Die Erfindung wird nachfolgend anhand von zwei Ausführungsbeispielen mit den beigefügten Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
  • 1 – Skizze einer Einrichtung zum dreidimensionalen optischen Vermessen von Objekten;
  • 2 – Skizze einer beispielhaften Doppelreflexion durch den Projektionsstrahl;
  • 3 – Skizze einer beispielhaften Doppelreflexion durch den Beobachtungsstrahl;
  • 4a + b – Skizze eines konkaven Objektes mit teilbereichsweiser Projektion auf das konkave Bauteil zur Vermeidung von Doppelreflexionen.
  • 1 lässt eine schematische Darstellung einer Einrichtung 1 zur dreidimensionalen optischen Vermessung von Objekten 2 mit einem topometrischen Messverfahren erkennen. Die Einrichtung 1 hat einen Projektor 3 zur Projektion von ausgewählten Projektionsmustern auf das Objekt 2.
  • Weiterhin ist in an sich bekannter Weise eine Bildaufnahmeeinheit 4 in Form mindestens einer Kamera vorgesehen, die auf das Objekt 2 ausgerichtet und zur Aufnahme von Bildern des Objektes 2 mit aufprojizierten Projektionsmustern eingerichtet ist.
  • Die Bildaufnahmeeinheit 4 ist mit einer Bildauswerteeinheit 5 verbunden, um die aufgenommenen Bilder zur topometrischen Vermessung des Objektes 2 auszuwerten. Die Bildauswerteeinheit 5 kann beispielsweise ein geeignet programmierter Computer sein. Die Verfahren zur topometrischen Bildauswertung sind hinreichend bekannt und werden nicht weiter erläutert.
  • Der Projektor 3 ist mit einer Projektorsteuerungseinheit 6 zur rechnergestützten Steuerung des Projektionsbildes verbunden. Die Projektorsteuerungseinheit 6 kann beispielsweise ein geeignet programmierter Computer sein.
  • Die Projektorsteuerungseinheit 6 des Projektors 3 und die Bildauswerteeinheit 5 können auch in einem einzelnen geeigneten Computer 7 vereinigt sein.
  • Mit Hilfe eines solchen Messsystems in Verbindung mit dem programmierbaren Projektor 3 wird nunmehr das Objekt 2 sequentiell beschränkt auf einzelne ausgewählte Teilbereiche vermessen. Dabei wird bei jeder Teilmessung die Lichtstruktur nur auf Teilbereiche des Objektes 2 projiziert. Diese Bereiche werden so gewählt, dass es zu keinen Doppelreflexionen kommt.
  • Voraussetzung hierzu ist eine grobe Kenntnis der Objektform zur Bestimmung der einzelnen Teilbereiche für die Beleuchtung und Bildaufnahme. Die Auswahl der Teilbereiche kann zum Beispiel visuell durch den Operator oder automatisch durch rechnergestützte Analysen vorhandener CAD-Daten des Objektes 2 erfolgen. Weiterhin ist die Möglichkeit der Programmierbarkeit der verwendeten Lichtquelle zur Projektion des Projektionsmusters erforderlich, da ausgenutzt wird, dass eine programmierbare Lichtquelle rechnergestützt verschiedenste Strukturen projizieren kann und auch bestimmte Bereiche bei der Projektion dunkel bleiben können. Die für die Auswertung der Messdaten vorhandene Rechnereinheit kann dabei auch zur Ansteuerung der Lichtquelle dienen.
  • In einer ersten beispielhaften Ausführung wird auf das zu vermessende Objekt 2 ein Markierungssymbol (zum Beispiel Mauszeiger) projiziert. Mit Hilfe des Markierungssymbols kann der Anwender manuell zum Beispiel durch ein Selektionslasso die gewünschten Beleuchtungsbereiche einer Teilmessung als Teilbereiche auswählen. Dafür wird beim Anwender eine gewisse Erfahrung im Spiegelverhalten der Objektflächen vorausgesetzt. Bei einfachen geometrischen Formen des Messobjektes ist dieses möglich.
  • Es erfolgt für die gewählten Teilbereiche eine Teilmessung, wobei das Projektionsmuster dank der programmierbaren Lichtquelle rechnergestützt genau auf den gewünschten Teilbereich aufprojiziert werden kann. In einer möglichen zweiten Messung für diese Position des Projektors und der Beobachtungseinheit kann dann beispielsweise als Projektionsbereich genau der Bereich gewählt werden, der zunächst von einer Projektion ausgeschlossen wurde.
  • Auf diese Weise kann eine Beeinträchtigung der Messung durch Doppelreflexion vermieden werden.
  • Das Problem der Doppelreflexion wird anhand der 2 und 3 erläutert.
  • 2 zeigt beispielhaft den Verlauf eines Projektionsstrahls eines Projektors 3 auf ein Messobjekt 2 mit Doppelreflexion. Dabei vermischt sich in Punkt A das auf diesen Punkt A projizierte Lichtmuster mit dem von Punkt B reflektierten Muster.
  • 3 zeigt beispielhaft den Verlauf eines Beobachtungsstrahls einer Kamera der Bildaufnahmeeinheit 4 auf ein Messobjekt 2 mit Doppelreflexion. Dabei beobachtet die Bildaufnahmeeinheit 4 in Punkt C das auf diesen Punkt C projizierte Lichtmuster und das auf den Punkt D projizierte Muster aufgrund der im Bereich C spiegelnden Oberfläche des Objektes 2. Im weitesten Sinne stellt auch diese Spiegelung eine Reflexion des auf den Punkt D projizierten Musters dar mit der Besonderheit, dass das Muster durch Reflexion im spiegelnden Teilbereich des Punktes C über den Beobachtungsstrahl sichtbar wird.
  • 4a und b zeigen Skizzen eines beispielhaften Messobjektes 2, in dem Doppelreflexionen auftreten können. Es wird anhand der beiden Figuren deutlich, dass zur Vermeidung dieser Doppelreflexionen zum Beispiel zwei Teilmessungen vorgenommen werden.
  • 4a lässt die in der ersten Teilmessung vorgenommene Projektion eines Musters nur auf den Bereich T1 erkennen. Der Bereich T1 wird somit als erster Teilbereich des Objektes 2 ausgewählt, um das Projektionsmuster auf diesen ersten Teil bereich T1 zu projizieren. Bei der ausgewählten, fixen Projektionsrichtung des Projektors 3 und der ausgewählten fixen Aufnahmerichtung der Bildaufnahmeeinheit 4 wird das Projektionsmuster auf den oberen Teilbereich T1 begrenzt. Zur Vermeidung von Störungen durch Spiegelungen kann zudem der Teilbereich des von der Bildaufnahmeeinheit 4 aufgenommenen Bildes ebenfalls auf den Teilbereich T1 beschränkt werden.
  • Entsprechend ist bei der zweiten Teilmessung, die in der 4b skizziert ist, die Projektion und ggf. auch die Bildauswertung auf den zweiten Teilbereich T2 beschränkt. Die Beschränkung der Bildauswertung ist zumeist jedoch nicht erforderlich, da die nicht ausgewählten und angeleuchteten Teilbereiche dunkel sind und keinen auswertbaren Informationsgehalt haben.
  • Für komplexere Geometrien wird die Auswahl der sich nicht beeinflussenden Teilbereiche T1, T2, ...,Tn immer komplizierter. Für diesen Fall bietet sich die zweite beispielhafte Ausführungsform der Erfindung an, bei der die Beleuchtungsbereiche der einzelnen Teilmessungen bei einer Position des Projektors 3 und der mindestens einen Kamera der Bildaufnahmeeinheit 4 anhand von CAD-Daten des Objektes 2 bzw. der Soll-Form des Objektes 2 computergestützt berechnet werden. Die für diese Berechnung benötigte aktuelle Position des Projektors 3 und der mindestens einen Kamera der Bildaufnahmeeinheit in Bezug auf das Messobjekt 2 kann zum Beispiel durch Rückwärtsberechnung zu im Voraus eingemessenen Passmarken bestimmt werden. Befindet sich der Projektor 3 und/oder die Bildaufnahmeeinheit 4 auf einem Handhabungssystem, so können dessen Positionsdaten verwendet werden.
  • Bei der CAD-gestützten Auswahl der Teilbereiche kann es zwar durch Abweichung der zu vermessenden Form des Objektes von der als CAD-Daten abgelegten Soll-Form immer noch zu Doppelreflexionen kommen, in diesem Falle könnte dann in den verbleibenden Störbereichen eine manuelle Auswahl der Teilbereiche erfolgen.
  • Häufig ist dies jedoch nicht der Fall, da die Abweichung der Ist-Form von der Soll-Form zum Beispiel bei der Vermessung von Automobilkarosserien meistens sehr gering ist.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • - DE 10127304 C5 [0008, 0009]
    • - DE 19633686 C2 [0016]
  • Zitierte Nicht-Patentliteratur
    • - Reinhard W. Malz: „Codierte Lichtstrukturen für die 3-D-Meßtechnik und Inspektion”, Berichte aus dem Institut für Technische Optik der Universität Stuttgart, Januar 1992 [0005]

Claims (6)

  1. Verfahren zum dreidimensionalen optischen Vermessen von Objekten (2) mit einem topometrischen Messverfahren, bei dem Bilder eines Objektes (2) mitsamt eines von einem Projektor (3) auf das Objekt (2) projizierten Projektionsmusters mit einer Bildaufnahmeeinheit (4) aufgenommen und mit einer Bildauswerteeinheit (5) ausgewertet werden, gekennzeichnet durch Auswählen von Teilbereichen des Objektes (2) so, dass Reflexionen des Projektionsmusters an der Oberfläche des Objektes (2) das Projektionsmuster in diesem Teilbereich nicht beeinflussen und – Projizieren des Projektionsmusters nacheinander beschränkt auf die ausgewählten Teilbereiche des Objektes (2) durch entsprechende Ansteuerung einer Bildprojektionseinheit des Projektors (3) und – Aufnehmen des Objektes (2) mitsamt des dort aufprojizierten Projektionsmusters mindestens in dem jeweils ausgewählten Teilbereich.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch Identifizieren von ersten Störbereichen des Objektes (2), in denen bei einer ausgewählten Projektionsrichtung und einer ausgewählten Aufnahmerichtung eine Reflexion eines Projektionsstrahles des Projektors (3) auf die von der Bildauswerteeinheit (5) erfasste Aufnahmefläche des Objektes (2) treffen würde und von zweiten Störbereichen des Objektes (2), in denen durch Reflexion des Beobachtungsstrahls ein Projektionsmuster eines anderen Objektbereichs beobachtbar ist, und Auswählen der Folge von Teilbereichen in Abhängigkeit der identifizierten ersten und zweiten Störbereiche.
  3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Identifizieren der ersten und zweiten Störbereiche automatisch durch rechnergestützte Analyse von dreidimensionalen CAD-Daten des Objektes (2) erfolgt.
  4. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch Projizieren eines Markierungssymbols auf das Objekt und manuelles Auswählen der Teilbereiche und/oder Störbereiche mit Hilfe des Markierungssymbols durch computergestützes Verfahren des Markierungssymbols auf dem Objekt und Erfassen der vom Markierungssymbol markierten Objektpositionen als Randbegrenzungen der ausgewählten Teilbereiche.
  5. Messsystem zum dreidimensionalen optischen Vermessen von Objekten (2) mit einem topometrischen Messverfahren mit einem programmierbaren Projektor (3), mit einer bereichsselektiv ansteuerbaren Projektionseinheit, und mit einer Bildaufnahmeeinheit (4), gekennzeichnet durch eine Steuerungseinheit, die zum Auswählen von Teilbereichen des Objektes (2) so, dass Reflexionen des Projektionsmusters an der Oberfläche des Objektes (2) das Projektionsmuster in diesem Teilbereich nicht beeinflussen, und Projizieren des Projektionsmusters nacheinander beschränkt auf die ausgewählten Teilbereiche des Objektes (2) durch entsprechende Ansteuerung der Projektionseinheit des Projektors (3) eingerichtet ist, und dass die Bildaufnahmeeinheit (4) zum Aufnehmen des ausgewählten Teilbereiches des Objektes (2) mitsamt des dort aufprojizierten Projektionsmusters eingerichtet ist.
  6. Messsystem nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Steuerungseinheit Programmcodemittel zur Durchführung der Verfahrensschritte gemäß einem der Ansprüche 2 bis 4 hat, wenn die Programmcodemittel auf einem Computer ausgeführt werden.
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